JPS60252243A - 原子吸光分析装置 - Google Patents
原子吸光分析装置Info
- Publication number
- JPS60252243A JPS60252243A JP11059384A JP11059384A JPS60252243A JP S60252243 A JPS60252243 A JP S60252243A JP 11059384 A JP11059384 A JP 11059384A JP 11059384 A JP11059384 A JP 11059384A JP S60252243 A JPS60252243 A JP S60252243A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- signal
- blank
- output
- absorbance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
- G01N21/276—Calibration, base line adjustment, drift correction with alternation of sample and standard in optical path
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ・産業上の利用分野
本発明は単光束方式の原子吸光分析装置に関する。
口・従来技術
原子吸光分析では光源として中空陰極放電管とか無電極
放電管を用いるが、こわ、らの光源の発光強度は時間的
に変化するだめ、測定時にベースラインが変動すると云
う問題があった。
放電管を用いるが、こわ、らの光源の発光強度は時間的
に変化するだめ、測定時にベースラインが変動すると云
う問題があった。
単光束方式で原子吸光分析を行う場合、手動操作で゛ま
ずブランク試料の測定を行ってベースラインレベルをめ
ておき、次に被測定試別の測定を行ってベースラインレ
ベルを引算すると云う方法が採られるが、多数の試料を
次々に測定する場合、−々測定値を記録して引算すると
云う作業は面倒であるから、測定出力を記録計で記録し
て後で整理する。このようにすると記録計の記録は第２
図Ａのようになり変動するベースラインの上に測定出力
が乗った形となる。この図でＳは被測定試料の測定出力
、Ｒがブランク試料の測定出力である。
ずブランク試料の測定を行ってベースラインレベルをめ
ておき、次に被測定試別の測定を行ってベースラインレ
ベルを引算すると云う方法が採られるが、多数の試料を
次々に測定する場合、−々測定値を記録して引算すると
云う作業は面倒であるから、測定出力を記録計で記録し
て後で整理する。このようにすると記録計の記録は第２
図Ａのようになり変動するベースラインの上に測定出力
が乗った形となる。この図でＳは被測定試料の測定出力
、Ｒがブランク試料の測定出力である。
このようにすると被測定試別の吸光度ばＨとしてするが
、測定記録が全部紀録紙のフルスケールの範囲に納まる
ようにするため、予め記録計のレンジを低い方に設定し
ておく必要があり、個々の試別の吸光度のスケールは圧
縮されて読取り誤差が大きくなる。
、測定記録が全部紀録紙のフルスケールの範囲に納まる
ようにするため、予め記録計のレンジを低い方に設定し
ておく必要があり、個々の試別の吸光度のスケールは圧
縮されて読取り誤差が大きくなる。
単光束方式は装置構成自体は簡単安価であるが、上述し
たように分析操作が繁雑であるとか、記録計の高感度レ
ンジが使えないと云った問題がある。
たように分析操作が繁雑であるとか、記録計の高感度レ
ンジが使えないと云った問題がある。
三光束方式によれば上述した量販ばなくなるのであるが
、装置構成が複雑となり、装置は高価である。
、装置構成が複雑となり、装置は高価である。
・・、目 的
本発明は単光束方式の装置であってしかも上述した問題
点が解消された原子吸光分析装置を提供しようどするも
のである。
点が解消された原子吸光分析装置を提供しようどするも
のである。
二、構成
試料原子化部に被測定試料とブランク試料とを交互に供
給する試料供給装置と、同装置と連動してブランク試料
供給期間中ブランク信号を発生する手段と、ブランク信
号が発せられている間は吸光度信号をその１＼出力し、
ブランク信号が途絶えた後は途絶える瞬間の吸光度信号
を保持１７て出力する信号記憶回路と、吸光度信号その
ものから」二記信号記憶回路の出力を差引く引算回路と
よりなり、光源の光強度の時間的変化によるベースライ
ン変動を除去するようにした原子吸光分析装置である。
給する試料供給装置と、同装置と連動してブランク試料
供給期間中ブランク信号を発生する手段と、ブランク信
号が発せられている間は吸光度信号をその１＼出力し、
ブランク信号が途絶えた後は途絶える瞬間の吸光度信号
を保持１７て出力する信号記憶回路と、吸光度信号その
ものから」二記信号記憶回路の出力を差引く引算回路と
よりなり、光源の光強度の時間的変化によるベースライ
ン変動を除去するようにした原子吸光分析装置である。
ホ・実施例
第１図は本発明の一実施例を示す。１は検出しようとす
る元素の輝線を出す中空陰極放電管である。２は試料原
子化部のバーナでアセチレン又は水素等の燃料ガスと空
気又は亜酸化窒素等の助燃ガスが供給され火炎Ｆを形成
している。光源］の光はこの炎Ｆを透過して分光器３に
入射するようになっている。試料Ｓは溶媒に溶解されて
おり、霧化器４で霧吹きの原理で霧化され上記火炎Ｆ中
に送られる。ブランク試料Ｂは試料を溶解させてない溶
媒だけの液で、試料溶液と同様にして炎Ｆ中に導入され
る。この試料導入部の説明は後にして測定系の概要を先
に説明しておく。
る元素の輝線を出す中空陰極放電管である。２は試料原
子化部のバーナでアセチレン又は水素等の燃料ガスと空
気又は亜酸化窒素等の助燃ガスが供給され火炎Ｆを形成
している。光源］の光はこの炎Ｆを透過して分光器３に
入射するようになっている。試料Ｓは溶媒に溶解されて
おり、霧化器４で霧吹きの原理で霧化され上記火炎Ｆ中
に送られる。ブランク試料Ｂは試料を溶解させてない溶
媒だけの液で、試料溶液と同様にして炎Ｆ中に導入され
る。この試料導入部の説明は後にして測定系の概要を先
に説明しておく。
分光器３の出射光は光検出器によって電気信号に変換さ
れ、プリアンプ６を経て対数変換器７により吸光度信号
に変換される。この吸゛元度信号はそのま＼引算器８に
被引数どして入力される。９は信号記憶回路（サンプル
ホールド回路）でコンデンサＣとリレーＬとで構成され
ており、対数変換器７の出力である吸光度信号が入力さ
れている４つリレーＬの接点がＯＮである間は、信号記
憶回路９は入力された吸光度信号をそのま＼直ちに出力
している。リレーＬは試料供給装置と連動しているブラ
ンク信号発生手段」Ｏがブランク試料を炎Ｆに供給され
ている間発生させているブランク信号によってＯＮとな
り、ブランク信号が途絶えるとＯｖＦとなって、ＯＦＦ
直前の吸光度信号が信号記憶回路９にホールドされる。
れ、プリアンプ６を経て対数変換器７により吸光度信号
に変換される。この吸゛元度信号はそのま＼引算器８に
被引数どして入力される。９は信号記憶回路（サンプル
ホールド回路）でコンデンサＣとリレーＬとで構成され
ており、対数変換器７の出力である吸光度信号が入力さ
れている４つリレーＬの接点がＯＮである間は、信号記
憶回路９は入力された吸光度信号をそのま＼直ちに出力
している。リレーＬは試料供給装置と連動しているブラ
ンク信号発生手段」Ｏがブランク試料を炎Ｆに供給され
ている間発生させているブランク信号によってＯＮとな
り、ブランク信号が途絶えるとＯｖＦとなって、ＯＦＦ
直前の吸光度信号が信号記憶回路９にホールドされる。
つ丑り、炎Ｆに供給される試料がブランク試料から被測
定試料に切換わると、その切換りの直前のブランク試料
の吸光度信号が信号記憶回路９にホールドされるのであ
る。信号記憶回路９の出力は引算器８に引数として入力
され、引算器８の出力が記録計］１によって記録される
と共に、濃度表示器］−２によって濃度値に変換されて
表示される〇 第２図Ｂは上述実施例における記録計１１．の記録の一
例である。第２図Ａと比較すると、ｔｊ一時点のブラン
ク試料の吸光度即ちベースラインレベルＶ ］、が信号
記憶回路９にホールドされて、次の被測定試料測定期間
ｔｌ、ｔ２図は試料の吸光度信号出力からこの■１のレ
ベルが引算されたもの即ちベースラインを引いた正味の
試料の吸光度値が記録され、ブランク試料測定中は、ブ
ランク試料の吸光度信号から同じ信号を引算することに
なるので、この間の引算滞日の出力ばＯであり、第２図
Ｂのようにベースライン変動が除去された記録がなされ
る。
定試料に切換わると、その切換りの直前のブランク試料
の吸光度信号が信号記憶回路９にホールドされるのであ
る。信号記憶回路９の出力は引算器８に引数として入力
され、引算器８の出力が記録計］１によって記録される
と共に、濃度表示器］−２によって濃度値に変換されて
表示される〇 第２図Ｂは上述実施例における記録計１１．の記録の一
例である。第２図Ａと比較すると、ｔｊ一時点のブラン
ク試料の吸光度即ちベースラインレベルＶ ］、が信号
記憶回路９にホールドされて、次の被測定試料測定期間
ｔｌ、ｔ２図は試料の吸光度信号出力からこの■１のレ
ベルが引算されたもの即ちベースラインを引いた正味の
試料の吸光度値が記録され、ブランク試料測定中は、ブ
ランク試料の吸光度信号から同じ信号を引算することに
なるので、この間の引算滞日の出力ばＯであり、第２図
Ｂのようにベースライン変動が除去された記録がなされ
る。
にブランク試料Ｂを入れた容器をセットされたターンテ
ーブルＴと、試料溶液とかブランク溶液を吸い上げて霧
化器４に導く吸引管ＳＴとＳＴの吸ＳＴの吸込み端を上
下させる上下機構ＵＤとＳＴをターンテーブルＴの中心
と周縁の試料溶液容器の通過軌跡との間で水平に往復揺
動させる正逆転可能なモータＭ１とよりなっている。Ｍ
２はタ−ンテーブルＴを回転させるモータである。この
構成で吸引管ＳＴはブランク試料Ｂ中に挿入されてブラ
ンク試料を試料霧化器４に送り、次に外周部に移動して
測定試料溶液に挿入されて被測定試料を炎Ｆに供給する
。この−動作後ターンテーブルＴは試料容器−個分回転
せしめられる。この動作を交互に繰返［−１次々と試別
測定を行って行く。
ーブルＴと、試料溶液とかブランク溶液を吸い上げて霧
化器４に導く吸引管ＳＴとＳＴの吸ＳＴの吸込み端を上
下させる上下機構ＵＤとＳＴをターンテーブルＴの中心
と周縁の試料溶液容器の通過軌跡との間で水平に往復揺
動させる正逆転可能なモータＭ１とよりなっている。Ｍ
２はタ−ンテーブルＴを回転させるモータである。この
構成で吸引管ＳＴはブランク試料Ｂ中に挿入されてブラ
ンク試料を試料霧化器４に送り、次に外周部に移動して
測定試料溶液に挿入されて被測定試料を炎Ｆに供給する
。この−動作後ターンテーブルＴは試料容器−個分回転
せしめられる。この動作を交互に繰返［−１次々と試別
測定を行って行く。
へ、効果
本発明によれば被測定試料とブランク試料とを交互に測
定ｊ〜、ブランク試料の測定でまったベースライン変動
タを引算して記録するので、ベースライン変動を除去（
〜だ記録がなされるので、正確な吸光度の読取りができ
、ベースライン変動を見込む必要がないから記録計のレ
ンジを充分活用して高感度の記録ができ、しかも三光束
方式に化し光学系も電気系も筒中、であり従って安価な
装置を構成することができる。
定ｊ〜、ブランク試料の測定でまったベースライン変動
タを引算して記録するので、ベースライン変動を除去（
〜だ記録がなされるので、正確な吸光度の読取りができ
、ベースライン変動を見込む必要がないから記録計のレ
ンジを充分活用して高感度の記録ができ、しかも三光束
方式に化し光学系も電気系も筒中、であり従って安価な
装置を構成することができる。
なお上述実施例では、ブランク試料の吸光度信号の記憶
及び引算器等大々−個独立の装置を用いる構成になって
いるが、こわ２らはコンピュータ内のメモリ及びコンピ
ュータの機能によって実現するととももちろん可能であ
る。
及び引算器等大々−個独立の装置を用いる構成になって
いるが、こわ２らはコンピュータ内のメモリ及びコンピ
ュータの機能によって実現するととももちろん可能であ
る。
第１図は本発明の一実施例装置の構成を示すブロック図
、第２図は測定記録であって、Ａは従来例、Ｂは本発明
による記録である。 ］、・・・光源、２・・・バーナ、Ｆ・・・炎、３・・
・分光器、４・・・試料霧化器、５・・・光検出器、７
・・・対数変換器、８・・・引算器、９・・・信号記憶
回路、］０・・・ブランク信号発振手段、Ｓ・・・被測
定試料、Ｂ・・・ブランク試ネ」、Ｔ・・・ターンテー
ブル、ＳＴ・・・吸引管、ＵＤ・・・敷引管上下機構、
Ｍｌ、、Ｍ２・・・モータ〇代理人 弁理士 昧 浩
介
、第２図は測定記録であって、Ａは従来例、Ｂは本発明
による記録である。 ］、・・・光源、２・・・バーナ、Ｆ・・・炎、３・・
・分光器、４・・・試料霧化器、５・・・光検出器、７
・・・対数変換器、８・・・引算器、９・・・信号記憶
回路、］０・・・ブランク信号発振手段、Ｓ・・・被測
定試料、Ｂ・・・ブランク試ネ」、Ｔ・・・ターンテー
ブル、ＳＴ・・・吸引管、ＵＤ・・・敷引管上下機構、
Ｍｌ、、Ｍ２・・・モータ〇代理人 弁理士 昧 浩
介
Claims (1)
- 試別原子化部に被測定試別とブランク試料とを奏＃将供
給する試料供給装置と、同装置と連動してブランク試料
供給期間中ブランク信号を発生する手段と、ブランク信
号が発せられている間は吸光度信号をその１＼出力し、
ブランク信号がない光度信号そのものから上記信号記憶
回路の出力を差引く引算回路とよりなり、引算回路の出
力を測定出力とすることを特徴とする原子吸光分析装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11059384A JPS60252243A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | 原子吸光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11059384A JPS60252243A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | 原子吸光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60252243A true JPS60252243A (ja) | 1985-12-12 |
Family
ID=14539786
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11059384A Pending JPS60252243A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | 原子吸光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60252243A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63165732A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-09 | Shimadzu Corp | 原子吸光分析装置 |
| JPH0843304A (ja) * | 1994-07-29 | 1996-02-16 | Ando Electric Co Ltd | ガスの光吸収周波数検出装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5383785A (en) * | 1976-12-29 | 1978-07-24 | Shimadzu Corp | Atomic absorption analyzer |
| JPS5550295A (en) * | 1978-10-06 | 1980-04-11 | Sony Corp | Driving voltageeformation circuit for liquid crystal display element |
| JPS55112546A (en) * | 1979-02-23 | 1980-08-30 | Hitachi Ltd | Atomic extinction analysis meter |
-
1984
- 1984-05-29 JP JP11059384A patent/JPS60252243A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5383785A (en) * | 1976-12-29 | 1978-07-24 | Shimadzu Corp | Atomic absorption analyzer |
| JPS5550295A (en) * | 1978-10-06 | 1980-04-11 | Sony Corp | Driving voltageeformation circuit for liquid crystal display element |
| JPS55112546A (en) * | 1979-02-23 | 1980-08-30 | Hitachi Ltd | Atomic extinction analysis meter |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63165732A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-09 | Shimadzu Corp | 原子吸光分析装置 |
| JPH0843304A (ja) * | 1994-07-29 | 1996-02-16 | Ando Electric Co Ltd | ガスの光吸収周波数検出装置 |
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