JPS60246123A - Method and apparatus of analog-digital conversion - Google Patents

Method and apparatus of analog-digital conversion

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JPS60246123A
JPS60246123A JP10205884A JP10205884A JPS60246123A JP S60246123 A JPS60246123 A JP S60246123A JP 10205884 A JP10205884 A JP 10205884A JP 10205884 A JP10205884 A JP 10205884A JP S60246123 A JPS60246123 A JP S60246123A
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JP
Japan
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converter
reference voltage
limit reference
voltage
signal
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Application number
JP10205884A
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Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Yabumoto
薮本 努
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Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To obtain a quantized signal having a fairly high resolution by allowing an A-D converter to execute the A-D conversion divided into plural number of times while narrowering at any time an upper limit reference voltage and a lower limit reference voltage being converting references of the said A-D converter. CONSTITUTION:A D-A converter 4 executes D-A conversion based on digital signals D1-D4 and outputs the 1st voltage A1 corresponding to the quantized level of the said signals D1-D4 and the 2nd voltage A2 corresponding to a level lower by one quantized level than the quantized level of the said signals D1-D4. When the D-A conversion is executed, a sequence control circuit allows a selection circuit 5 to select a voltage at a B input terminal and then the A-D converter 2 uses the 1st and 2nd voltages A1, A2 being the D-A conversion output as the upper limit reference voltage UB and the lower limit reference voltage LB respectively so as to execute the A-D conversion of the said sample-and-hold signal ASH.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、アナログ信号を量子化するA−D変換方法
および装置に関し、特に該量子化に際しての分解能を向
上せしめるに好適な方法および装置に関する。
Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to an A-D conversion method and device for quantizing analog signals, and particularly to a method and device suitable for improving resolution during quantization. .

〔従来の技術〕[Conventional technology]

上述のようなアナログ信号を量子化するA−D変換装置
としては、従来より種々の形式のものが提案され、また
実用されているが、これらは皆、上記量子化にあたって
の所望とする分解能に応じて予め同分解能を有するA−
D変換器を選択して使用するようにしていることから、
何らかの都合でこの分解能を上げることが必要とされた
ような場合には、このA−D変換器も増設する必要が生
じ、スペースコストの面においても、また消費電力の面
においても不利を強いられざるを得なかった。因みに、
上記分解能を1ビツト上げようとする毎に倍の数のA−
D変換器が必要とされる。
Various types of A-D converters for quantizing analog signals such as those described above have been proposed and put into practice, but all of them are limited to the desired resolution for quantization. A- with the same resolution in advance according to the
Since the D converter is selected and used,
If it is necessary to increase this resolution for some reason, it will be necessary to add an A-D converter, which will be disadvantageous in terms of space cost and power consumption. I had no choice. By the way,
Every time you try to increase the above resolution by 1 bit, the number of A-
A D converter is required.

また、上記量子化にあたって、当初から非常に高い分解
能を所望とする装置の場合には、使用するA−D変換器
もこれに応じて高い分解能のものが必要とされることか
ら、同装置としてもおのずと大型で高価なものとなって
しまう。
In addition, in the case of a device that requires extremely high resolution from the beginning for the above quantization, the A-D converter used must also have a correspondingly high resolution. Naturally, it becomes large and expensive.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

この発明は、上述したアナログ信号の量子化にあたって
、同量子化信号の分解能の向上を図る際、あるいは高分
解能の量子化信号が必要とされる際に、その構成が異常
に大型化したり、経済面で大きな不利が生じたりするこ
とを有効に解決しようとするものである。
This invention is aimed at improving the resolution of the quantized signal when quantizing the analog signal mentioned above, or when a high-resolution quantized signal is required. This is an attempt to effectively resolve the situation where large disadvantages arise.

〔問題を解決するための手段及び作用〕この発明では、
上記問題を解決するため、1つのA−D変換器の変換基
準とする上限基準電圧および下限基準電圧を随時狭めな
から同A−D変換器によるA−D変換動作を複数回に分
けて実行させるようにしたものであり、特に2回目以降
のA−り変換動作時にはその前回の量子化信号に基づい
て上記上限基準電圧および下限基準電圧を決定するよう
にし、これによって得られるA−D変換動作毎の量子化
信号を並例に採取することによって、上記所望とする分
解能を有する量子化信号、すなわち所望ゼット数の量子
化信号を得るようにする。これにより、上記A−D変換
器としては、最終的に所望とする分解能の半分あるいは
それ以下の分解能のものを用いることができるようにな
る。
[Means and effects for solving the problem] In this invention,
In order to solve the above problem, the upper limit reference voltage and lower limit reference voltage used as conversion standards for one A-D converter are narrowed as needed, and the A-D conversion operation by the same A-D converter is performed multiple times. In particular, during the second and subsequent A-to-digital conversion operations, the upper limit reference voltage and the lower limit reference voltage are determined based on the previous quantized signal, and the resulting A-to-D conversion By collecting quantized signals for each operation in parallel, a quantized signal having the desired resolution, that is, a quantized signal having the desired number of zets, is obtained. This makes it possible to use an A-D converter with a resolution that is half or less than the final desired resolution.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

このように、この発明にかかるA−D変換方法および装
置によれば、相当に高い分解能を有する量子化信号を得
ようとする場合であっても、これに使用するA−D変換
器自体は低分解能すなわち小型小容量のもので済むこと
から、スペース的および経済的に非常に有利にこれを実
現することができる。
As described above, according to the A-D conversion method and apparatus according to the present invention, even when trying to obtain a quantized signal with considerably high resolution, the A-D converter itself used for this purpose is This can be realized very advantageously in terms of space and economy since it requires only a low resolution device, that is, a small size and small capacity.

〔実施例〕〔Example〕

第1図に、この発明にがかる&−D変換装置の一実施例
を示す。ただしこの実施例では、2回のA−D変換動作
に基づき、入力アナログ信号を8ビツトの分解能で量子
化する装置を例にとって示している。
FIG. 1 shows an embodiment of an &-D conversion device according to the present invention. However, this embodiment shows an example of a device that quantizes an input analog signal with 8-bit resolution based on two A/D conversion operations.

はじめに、この実施例装置を構成する各ブロックの機能
について、簡単に説明しておく。
First, the functions of each block constituting the apparatus of this embodiment will be briefly explained.

サンプルホールド回路1は、図示しないシーケンス制御
回路から加えられる制御信号8Hに基づき、同装置の入
力端子INに入力されるアナログ信号Asを所定のタイ
ミングでサンプリングし、かつこれをホールドする回路
であり、このサンプルホールドされた信号ASHは、該
ホールド期間、当該サンプリングレベルを示す直流電圧
としてA−D変換器2に入力される。なお、この実施例
においては、同サンプルホールド信号ASHは、A−り
変換器2にて後述するA−D変換動作が2回実行される
までこのホールド状態が維持されるとする。
The sample and hold circuit 1 is a circuit that samples an analog signal As input to an input terminal IN of the device at a predetermined timing based on a control signal 8H applied from a sequence control circuit (not shown) and holds it. This sampled and held signal ASH is input to the A-D converter 2 as a DC voltage indicating the sampling level during the hold period. In this embodiment, it is assumed that the sample-and-hold signal ASH is maintained in this hold state until the A-to-digital converter 2 executes an A-to-D conversion operation, which will be described later, twice.

A−D変換器2は、4ビツトの分解能をもって上記入力
されたサンプルホールド信号ASHを量子化する回路で
あり、この動作に際しては、選択回路5から加えられる
上限基準電圧UBおよび下限基準電圧LBに基づいて、
上記サンプルホールド信号ASHの当該サンプリングレ
ベルに対応する4ビツトのディジタル信号り、〜D4を
出力する。なお、このA−D変換器2が4ビツトの分解
能をもつことにより、上記上限基準電圧UBと下限基準
電圧LBとの間の電圧は16段階の量子化レベルに分割
され、したがって上記サンプルホールド信号ASHには
これら分割された量子化レベルのうちのいずれかの符号
が付されて上記ディジタル信号D1〜D4 として出力
されることになるが、この実施例においては、上記サン
プルホールド信号ASHの当該サンプリングレベルに最
も近い量子化レベルのうち、上位のレベルに対応したも
のの符号が上記ディジタル信号り、〜D4として出力さ
れるとする。
The A-D converter 2 is a circuit that quantizes the input sample-and-hold signal ASH with a resolution of 4 bits. based on,
A 4-bit digital signal ~D4 corresponding to the sampling level of the sample hold signal ASH is output. Since the A-D converter 2 has a resolution of 4 bits, the voltage between the upper limit reference voltage UB and the lower limit reference voltage LB is divided into 16 quantization levels, and therefore the sample and hold signal is divided into 16 quantization levels. ASH is given a code of one of these divided quantization levels and output as the digital signals D1 to D4, but in this embodiment, the sampling of the sample hold signal ASH is It is assumed that among the quantization levels closest to the level, the code corresponding to the higher level is outputted as the digital signal ~D4.

ラッチ回路3は、図示しないシーケンス制御回路から加
えられる制御信号LCに基づき、上記入−D変換器2の
当該サンプルホールド信号ASHに対する1回目の量子
化に関して出力されたディジタル信号り、〜D4をラッ
チする回路であり、このラッチされた信号り、−1)、
はD−A変換器4に加えられる。
The latch circuit 3 latches the digital signal ~D4 output from the input-D converter 2 regarding the first quantization of the sample-and-hold signal ASH based on a control signal LC applied from a sequence control circuit (not shown). This latched signal is -1),
is added to the DA converter 4.

D−A変換器4は、上記入力されたディジタル信号D1
〜D4 に基づいて、該信号り、−D、の量子化レベル
に対応するアナログ信号AI(入力アナログ信号との混
同を遮けるため以下これを第1の電圧という)、および
該信号り、〜D4の量子化レベルより1量子化レベル下
のレベルに対応するアナログ信号A4(上記同様の理由
により以下これを第2の電圧という)をそれぞれ形成出
力する回路であり、これら出力された第1の電圧A1お
よび第2の電圧A2は選択回路5のB入力端子に加えら
れる。
The D-A converter 4 receives the input digital signal D1.
〜D4, an analog signal AI (hereinafter referred to as a first voltage to avoid confusion with the input analog signal) corresponding to the quantization level of the signal RI, −D, and the signal RI, 〜 These circuits each form and output an analog signal A4 (hereinafter referred to as a second voltage for the same reason as above) corresponding to a level one quantization level lower than the quantization level of D4. Voltage A1 and second voltage A2 are applied to the B input terminal of selection circuit 5.

そして選択回路5は、図示しないシーケンス制御回路か
ら加えられる制御信号SLに基づき、その人入力端子に
加えられる電源回路6の出力電圧Eおよび接地電圧と、
B入力端子に加えられる上記第1の電圧A、および第2
の電圧A、とのうちのいずれか一方を選択的に出力する
回路であり、この選択出力された電圧が前述した上限基
準電圧UBおよび下限基準電圧LBとしてA−D変換器
2に与えられる。なおこの実施例においては、前記入力
アナログ信号Asは、上記電源回路6の出力電圧Eの値
と接地電圧との間、すなわちE≧アナログ信号Asの値
≧0 といった範囲内で変化するものとする。
Based on a control signal SL applied from a sequence control circuit (not shown), the selection circuit 5 selects the output voltage E of the power supply circuit 6 and the ground voltage applied to the input terminal of the person,
The first voltage A applied to the B input terminal, and the second
This circuit selectively outputs one of the voltages A and , and this selectively output voltage is applied to the A-D converter 2 as the above-mentioned upper limit reference voltage UB and lower limit reference voltage LB. In this embodiment, it is assumed that the input analog signal As changes between the value of the output voltage E of the power supply circuit 6 and the ground voltage, that is, within the range of E≧value of analog signal As≧0. .

次に、第2図を同時に参照してこの装置の動作を詳述す
る。
Next, the operation of this device will be described in detail with reference to FIG.

いま、入力端子INに上述したアナログ信号ASが入力
されたとすると、前記シーケース制御回路(図示せず)
は、サンプルホールド回路1に適宜のタイミングをもっ
て制御信号SHを発するとともに、選択回路5にA入力
端子の電圧を選択させる旨の制御信号SLを発する。こ
れにより、サンプルホールド回路1は上記制御信号SH
の印加タイミングに対応して入力アナログ信号Asをサ
ンプルホールドし、選択回路5はそのへ入力端子に加え
られている電源回路6の出力電圧Eおよび接地電圧をそ
れぞれ上限基準電圧UBおよび下限基準電圧LBとして
A−D変換器2に加える。この時点でA−D変換器2に
加えられるこれらサンプルホールド信号ASHおよび上
限基準電圧UBおよび下限基準電圧LBの各レベルの関
係は、例えば第2図にそれぞれ点P、およびP2および
P。
Now, if the analog signal AS mentioned above is input to the input terminal IN, the sea case control circuit (not shown)
issues a control signal SH to the sample and hold circuit 1 at appropriate timing, and also issues a control signal SL to cause the selection circuit 5 to select the voltage of the A input terminal. As a result, the sample hold circuit 1 receives the control signal SH
The selection circuit 5 samples and holds the input analog signal As corresponding to the application timing of , and selects the output voltage E and the ground voltage of the power supply circuit 6 applied to the input terminal thereof to the upper limit reference voltage UB and lower limit reference voltage LB, respectively. It is added to the A-D converter 2 as a signal. The relationship between the sample and hold signal ASH, the upper limit reference voltage UB, and the lower limit reference voltage LB applied to the A-D converter 2 at this point is, for example, at points P, P2, and P in FIG. 2, respectively.

にて示すようであるとする。Suppose that it is as shown in .

A−D変換器2では、上記各信号の印加に基づき、上限
基準電圧UBとなる電源電圧Eと下限基準電圧LBとな
る接地電圧との間を前述したように16段階のレベルに
分割して、このうちの上記サンプルホールド信号ASH
のレベルに対応した量子化レベルの符号、すなわち第2
図に示した例でいえば点P4の量子化レベルを示す符号
をその変換ディジタル信号D1〜D4として出力する。
In the A-D converter 2, based on the application of the above-mentioned signals, the voltage between the power supply voltage E, which is the upper limit reference voltage UB, and the ground voltage, which is the lower limit reference voltage LB, is divided into 16 levels as described above. , of which the sample hold signal ASH is
The code of the quantization level corresponding to the level of
In the example shown in the figure, the code indicating the quantization level at point P4 is output as the converted digital signals D1 to D4.

この出力されたディジタル信号り、〜D4はシーケンス
制御回路(図示せず)の制御のもとにラッチ回路3にラ
ッチされ、さらにD−A変換器4に入力される。
This output digital signal ~D4 is latched by a latch circuit 3 under the control of a sequence control circuit (not shown), and further inputted to a DA converter 4.

D−A変換器4では、前述したようにこの入力されたデ
ィジタル信号り、〜D4に基づいてD−A変換を行ない
、該信号り、〜D4の量子化レベルに対応する第1の電
圧A1、および同信号り、〜D4の量子化レベルより1
量子化レベルだけ下のレベルに対応する第2の電圧A2
をそれぞれ出力する。これら第1および第2の電圧A、
およびA。
As described above, the D-A converter 4 performs D-A conversion based on the input digital signal ~D4, and converts the input digital signal ~D4 into a first voltage A1 corresponding to the quantization level of ~D4. , and the same signal, ~1 from the quantization level of D4
a second voltage A2 corresponding to a level below the quantization level;
Output each. These first and second voltages A,
and A.

とは、第2図に示した例でいえばそれぞれ点P4および
P、によって示されるレベルを有する電圧に相当する。
In the example shown in FIG. 2, these correspond to voltages having levels indicated by points P4 and P, respectively.

こうしてD−A変換が行なわれると、シーケンス制御回
路は、次に選択回路5にB入力端子の電圧を選択させる
旨の制御信号SLを発する。これによりA−D変換器2
は、今度は上記D−A変換出力である第1および第2の
電圧A1およびA。
When the D-A conversion is performed in this manner, the sequence control circuit then issues a control signal SL to cause the selection circuit 5 to select the voltage at the B input terminal. As a result, the A-D converter 2
are the first and second voltages A1 and A, which are the DA conversion outputs.

をそれぞれ上限基準電圧UBおよび下限基準電圧LBと
して前記サンプルホールド信号ASHのA−D変換を実
行する。すなわち同A−D変換器2は、今度は上記第1
および第2の″電圧A1およびA、の間を16段階のレ
ベルに分割して、このうちの上記サンプルホールド信号
ASHのレベルに対応した骨子化レベルの符号、したが
って第2図に示した例でいえば点P、の量子化レベルを
示す符号をその変換ディジタル信号り、〜D4として出
力する。先の第1回目のA−D変換信号と区別するため
、以下この同サンプルホールド信号ASHについての2
回目のA−D変換信号をディジタル信号D1′〜D4′
とする。
A-to-D conversion is performed on the sample-and-hold signal ASH by setting them as the upper limit reference voltage UB and the lower limit reference voltage LB, respectively. That is, the same A-D converter 2 is now connected to the first
and the second voltages A1 and A are divided into 16 levels, and the code of the skeletonized level corresponding to the level of the sample-and-hold signal ASH is determined according to the example shown in FIG. In other words, the code indicating the quantization level of point P is output as the converted digital signal ~D4.In order to distinguish it from the first A-D converted signal, the following will describe the same sample-and-hold signal ASH. 2
The second A-D conversion signal is converted into digital signals D1' to D4'.
shall be.

図示しない量子化信号処理回路では、第1図に示したよ
うに、第1回目の変換ディジタル信号、すなわちラッチ
回路3にラッチされたディジタル信号D1〜D4を上位
4ピツトとし、また第2回目の変換ディジタル信号D 
、 l〜D4′を下位4ビツトした合計8ビツトの量子
化信号を該実施例A−D変換装置の出力として受入し、
この8ビツトの分解能による童子化信号の内容に基づい
て前記入力アナログ信号A8の当該サンプリングレベル
を把握する。勿論、該実施例装置の上述した動作は、入
力アナログ信号Asがサンプルホールドされる毎に実行
されるものであり、同量子化信号処理回路においても、
該実施例装置の上記2回ずつのA−D変換動作が実行さ
れる毎にその8ビツトからなる量子化信号を受入して入
力アナログ信号の変化を把握する。
In the quantized signal processing circuit (not shown), as shown in FIG. Conversion digital signal D
, 1 to D4' as the lower 4 bits, a total of 8 bits of quantized signal is accepted as the output of the embodiment A-D converter,
The sampling level of the input analog signal A8 is determined based on the content of the doji conversion signal with 8-bit resolution. Of course, the above-described operation of the device of this embodiment is executed every time the input analog signal As is sampled and held, and the same quantization signal processing circuit also performs the following operations:
Each time the A/D conversion operation of the embodiment device is executed twice, the quantized signal consisting of 8 bits is received to grasp the change in the input analog signal.

なお、上述した実施例においては、A−D変換器2が入
力されたサンプルホールド信号ASHのレベルに最も近
い量子化レベルのうち、上位のレベルに対応したものの
符号を上記ディジタル信号り、−D、として出力すると
したことから、D−A変換器4においても、第2の電圧
A、として該ディジタル信号り、〜D4の骨子化レベル
より1量子化レベル下のレベルに対応する電圧を形成出
力するようにし、これをA−D変換器2の前記2回目の
A−D変換時における下限基準電圧LBとしたが、逆に
、同A−D変換器2の構成上の都合から、上記サンプル
ホールド信号A S I−1のレベルに最も近い量子化
レベルのうち、下位のレベルに対応したものの符号が上
記ディジタル信号D1〜D4として出力される場合には
、D−A変換器4においても、上記第2の電圧A2とし
て該ディジタル信号D1〜D4の量子化レベルより1量
子化レベル上のレベルに対応する電圧を形成出力するよ
うにし、これをA−D変換器2の前記2回目のA−D変
換時において上限基準電圧UBとするようにする。
In the above-described embodiment, the A-D converter 2 converts the code of the quantization level closest to the level of the input sample-and-hold signal ASH, corresponding to the higher level, into the digital signal, -D. , the D-A converter 4 also outputs the digital signal as the second voltage A, which corresponds to a level one quantization level lower than the gist level of ~D4. This was set as the lower limit reference voltage LB for the second A-D conversion of the A-D converter 2. However, due to the configuration of the A-D converter 2, If the code corresponding to the lower level among the quantization levels closest to the level of the hold signal ASI-1 is output as the digital signals D1 to D4, the DA converter 4 also outputs the code corresponding to the lower level. A voltage corresponding to a level one quantization level higher than the quantization level of the digital signals D1 to D4 is formed and outputted as the second voltage A2, and this is used as the second voltage A2 of the A-D converter 2. -The upper limit reference voltage UB is set at the time of D conversion.

また、上記実施例では、4゛ビツトの分解能を有するA
−D変換器2の2回に渡るA−D変換動作に基づき、入
力アナログ信号Asを8ビツトの分解能をもって量子化
する場合について示したが、これら使用するA−D変換
器の分解能の設定およびA−D変換回数の設定等は任意
であり、最終的に所望とする分解能、あるいは配設スペ
ースの状況等に応じて自由に設定することができる。
Further, in the above embodiment, A having a resolution of 4 bits
- The case where the input analog signal As is quantized with an 8-bit resolution based on two A-D conversion operations of the D converter 2 has been shown. The setting of the number of A-D conversions is arbitrary and can be freely set depending on the final desired resolution or the situation of the installation space.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明にかかるA−D変換装置の一実施例を
示すブロック図、第2図は第1図に示した実施例装置の
動作例を説明するための線図である。 1・・・サンプルホールド回路、2・A−D変換器、3
・・・ラッチ回路、4・・・D−A変換器、5・選択回
路、6・・電源回路。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an A/D conversion device according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram for explaining an example of the operation of the embodiment device shown in FIG. 1...Sample hold circuit, 2.A-D converter, 3
. . . Latch circuit, 4. DA converter, 5. Selection circuit, 6. Power supply circuit.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)適宜サンプルホールドしたアナログ信号を量子化
するA−D変換方法tこおいて、予め設定した2種の異
なる電圧をそれぞれ上限基準電圧および下限基準電圧と
して前記アナログ信号をA−D変換した後、このA−D
変換により得られる量子化信号に対応した電圧および該
量子化信号の1量子化レベル下または上の信号に対応し
た電圧をそれぞれ上限基準電圧および下限基準電圧、ま
たは下限基準電圧および上限基準電圧とする前記アナロ
グ信号のA−D変換を所定回行なって、所望分解能の量
子化信号を得るようにしたことを特徴とするA−D変換
方法。
(1) An A-D conversion method of quantizing an appropriately sampled and held analog signal.The analog signal was A-D converted using two different voltages set in advance as an upper limit reference voltage and a lower limit reference voltage, respectively. After this A-D
The voltage corresponding to the quantized signal obtained by the conversion and the voltage corresponding to the signal one quantization level below or above the quantized signal are respectively defined as an upper limit reference voltage and a lower limit reference voltage, or a lower limit reference voltage and an upper limit reference voltage. An A/D conversion method, characterized in that the analog signal is A/D converted a predetermined number of times to obtain a quantized signal with a desired resolution.
(2)入力アナログ信号をサンプルホールドするサンプ
ルホールド回路と、該サンプルホールドされた信号をA
−D変換するA−D変換器と、該A−D変換された量子
化信号をラッチするラッチ回路と、該ラッチされた量子
化信号およびこの量子化信号の1量子化レベル下または
上に相当する信号をD−A変換してそれぞれ第1の電圧
および第2の電圧を形成するD−A変換器と、前記A−
D変換器の初回口のA−D変換時に、予め設定された2
種の異なる第3および第4の電圧をそれぞれ上限基準電
圧および下限基準電圧として前記A−り変換器に加え、
同A−D変換器の2回目以降のA−D変換時に、前記第
1の電圧および第2の電圧をそれぞれ上限基準電圧およ
び下限基準電圧または下限基準電圧および上限基準電圧
として同A−り変換器に加える選択回路きを具え、前記
A −D変換器の出力を順次並列に採取して所望分解能
の量子化信号を得るA−D変換装置。
(2) A sample-and-hold circuit that samples and holds the input analog signal, and a sample-and-hold circuit that samples and holds the input analog signal.
- an A-D converter that performs D conversion; a latch circuit that latches the A-D converted quantized signal; and a latch circuit that corresponds to the latched quantized signal and one quantization level below or above the quantized signal. a D-A converter that converts a signal to form a first voltage and a second voltage, respectively;
At the time of A-D conversion at the first entrance of the D converter, the preset 2
applying third and fourth voltages of different types to the A-reverse converter as an upper limit reference voltage and a lower limit reference voltage, respectively;
During the second and subsequent A-D conversions of the same A-D converter, the first voltage and the second voltage are converted into the upper limit reference voltage and the lower limit reference voltage, or the lower limit reference voltage and the upper limit reference voltage, respectively. An A/D converter, comprising a selection circuit added to the A/D converter, and sequentially and parallelly samples outputs of the A/D converter to obtain a quantized signal with a desired resolution.
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JP10205884A Pending JPS60246123A (en) 1984-05-21 1984-05-21 Method and apparatus of analog-digital conversion

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