JPS6023958A - リチウム電極の製造方法 - Google Patents
リチウム電極の製造方法Info
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- JPS6023958A JPS6023958A JP58132247A JP13224783A JPS6023958A JP S6023958 A JPS6023958 A JP S6023958A JP 58132247 A JP58132247 A JP 58132247A JP 13224783 A JP13224783 A JP 13224783A JP S6023958 A JPS6023958 A JP S6023958A
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- Japan
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- lithium
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M4/00—Electrodes
- H01M4/02—Electrodes composed of, or comprising, active material
- H01M4/06—Electrodes for primary cells
- H01M4/08—Processes of manufacture
- H01M4/12—Processes of manufacture of consumable metal or alloy electrodes
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
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- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Battery Electrode And Active Subsutance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
、特定雰囲気中にリチウムをさらし、リチウム表面に保
護皮膜を形成させ、リチウム電極の腐食を防止すること
を目的とする。
護皮膜を形成させ、リチウム電極の腐食を防止すること
を目的とする。
リチウムは非常に腐食しやすい金属であり、たとえば水
、酸素、チン素と反応してＬｉＯＨ，Ｌｉ２０、Ｌｉ３
Ｎなどになる。そのため、リチウム電極やリチウム電池
の製造は一般にアルゴン、ヘリウムなどの不活性ガス雰
囲気中で行なわれ、しかも該雰囲気中に混在する水、酸
素、チン素などはできるだけ少なくすることが望ましい
と考えられていた。
、酸素、チン素と反応してＬｉＯＨ，Ｌｉ２０、Ｌｉ３
Ｎなどになる。そのため、リチウム電極やリチウム電池
の製造は一般にアルゴン、ヘリウムなどの不活性ガス雰
囲気中で行なわれ、しかも該雰囲気中に混在する水、酸
素、チン素などはできるだけ少なくすることが望ましい
と考えられていた。
しかしながら、アルゴン、ヘリウムなどの不活性ガス雰
囲気中から水、酸素などを数ｐｐｍ以下に取り除くこと
ば容易ではなく、また不活性ガス雰囲気中の水、酸素な
どを極力減らしていくと、必ずしもリチウムが安定でな
いことも判明した。
囲気中から水、酸素などを数ｐｐｍ以下に取り除くこと
ば容易ではなく、また不活性ガス雰囲気中の水、酸素な
どを極力減らしていくと、必ずしもリチウムが安定でな
いことも判明した。
本発明者らは、そのような知見に基づき鋭意研究を重ね
た結果、リチウム電極を製造するにあたり、リチウムを
チン素が１，０００ ｐｐｍ以上で、（Ａ）水が０．３
〜２００ ｐｐｍで、かつ酸素がＯ〜５ ｐｐｍ （Ｂ）水が４〜２００ｐｐｍで、かつ 酸素が５ ｐｐｍより多く ５００ ｐｐｍ未満または （Ｃ）水が０〜２００ ｐｐｍで、かつ酸素が５００〜
２２． ＯＯＯｐｐｍ で存在するアルゴンまたはヘリウム雰囲気中にさらすと
きは、リチウム表面に保護皮膜が形成され、それ以後、
比較的容易に得られる雰囲気（たとえば乾燥空気あるい
は乾燥窒素）中で取り扱ってもリチウムの腐食が抑制さ
れることを見出し、本発明を完成するにいたった。
た結果、リチウム電極を製造するにあたり、リチウムを
チン素が１，０００ ｐｐｍ以上で、（Ａ）水が０．３
〜２００ ｐｐｍで、かつ酸素がＯ〜５ ｐｐｍ （Ｂ）水が４〜２００ｐｐｍで、かつ 酸素が５ ｐｐｍより多く ５００ ｐｐｍ未満または （Ｃ）水が０〜２００ ｐｐｍで、かつ酸素が５００〜
２２． ＯＯＯｐｐｍ で存在するアルゴンまたはヘリウム雰囲気中にさらすと
きは、リチウム表面に保護皮膜が形成され、それ以後、
比較的容易に得られる雰囲気（たとえば乾燥空気あるい
は乾燥窒素）中で取り扱ってもリチウムの腐食が抑制さ
れることを見出し、本発明を完成するにいたった。
特に上記アルゴンまたはヘリウム雰囲気において、
（Ｄ）水を４〜２００ ｐｒｌｍで、がっ酸素をＯｐｐ
ｍから１．ＯＱＯｐｐｍ未／Ｉηまたは （Ｅ）水を０〜２００ ｐｐｍ Ｔ：、がっ酸素を１
、０００〜２２．ＯＯＯｐｐｍにするときは、チン素が
１１，０００ｐｐｍ以上であってもリチう広表面に保護
皮膜を形成することができ、チン素量の制御が容易であ
るという利点がある。
ｍから１．ＯＱＯｐｐｍ未／Ｉηまたは （Ｅ）水を０〜２００ ｐｐｍ Ｔ：、がっ酸素を１
、０００〜２２．ＯＯＯｐｐｍにするときは、チン素が
１１，０００ｐｐｍ以上であってもリチう広表面に保護
皮膜を形成することができ、チン素量の制御が容易であ
るという利点がある。
上記のような特定雰囲気中で処理することにより、リチ
ウム表面に保護皮膜が形成され、以後の腐食が抑制でき
るのは、リチウムを上記雰囲気中にさらすことにより、
リチウムと水または酸素との反応が生じ、リチウム表面
に酸化物系の皮膜が形成され、この皮膜がリチウムの腐
食の最大原因であると考えられるリチウムとチン素との
反応を抑制するからであると考えられる。
ウム表面に保護皮膜が形成され、以後の腐食が抑制でき
るのは、リチウムを上記雰囲気中にさらすことにより、
リチウムと水または酸素との反応が生じ、リチウム表面
に酸化物系の皮膜が形成され、この皮膜がリチウムの腐
食の最大原因であると考えられるリチウムとチン素との
反応を抑制するからであると考えられる。
リチウム表面への保護皮膜の形成は瞬間的に行なわれる
ので、リチウムを前記特定雰囲気中にさらすのは極めて
短時間でよい。したがって、上記雰囲気中にさらすとい
っても、特別に曝露のための時間を要せず、リチウム電
極の製造に際し、たとえばリチウムの表面を削るとか、
あるいはリチウム板やリチウム粉末を成型する作業やリ
チウム膜を蒸着により形成して取り出す作業などを上記
特定雰囲気中で行なえばよい。
ので、リチウムを前記特定雰囲気中にさらすのは極めて
短時間でよい。したがって、上記雰囲気中にさらすとい
っても、特別に曝露のための時間を要せず、リチウム電
極の製造に際し、たとえばリチウムの表面を削るとか、
あるいはリチウム板やリチウム粉末を成型する作業やリ
チウム膜を蒸着により形成して取り出す作業などを上記
特定雰囲気中で行なえばよい。
つぎに実験結果に基づいて本発明をさらに説明する。
実験例１
アルゴン雰囲気にチン素を１．００（ｌ ｐｐｍ導入し
、水と酸素の濃度を種々に変え、該雰囲気中でリチウム
板の表面を削り、リチウムの清浄面を露出させ、その変
色の有無を調べた。その結果を第１図に示す。なお第１
図中、口は変色が生じなかったポイントを示し、―ば変
色が生じたポイントを示ず。清浄なリチウム表面は金属
色であり、腐食が生じたものは茶または青色に変色した
。
、水と酸素の濃度を種々に変え、該雰囲気中でリチウム
板の表面を削り、リチウムの清浄面を露出させ、その変
色の有無を調べた。その結果を第１図に示す。なお第１
図中、口は変色が生じなかったポイントを示し、―ば変
色が生じたポイントを示ず。清浄なリチウム表面は金属
色であり、腐食が生じたものは茶または青色に変色した
。
第１図に示すように、水が０．３〜２００ ｐｐｍで、
かつ酸素がＯ〜５ ｐｐｍの領域（領域Ａ）、水が４〜
２００ ｐｐｍで、かつ酸素が５ ｐｐｍより多く５０
０ｐｐｍ未満の領域（領域Ｂ）および水が０〜２００
、ｐｐｍで、か−′ｐ酸素が５００〜２２．０００ｐｐ
ｎ＋の領域（領域Ｃ）では変色が生じず、腐食が認めら
れなかったが、水が４ ｐｐｍ未満で、かつ酸素が５
ｐｐｍ以上で５゜Ｏｐｐｍ未満の領域（領域Ｒ）では著
しい変色が認められた。 なお、水が０．３ ｐｐｍ未
満で、かつ酸素が５ ｐｐｍ未満の領域（領域Ｐ）では
変色が認められなかったが、その後、それを上記領域Ｒ
に移すと変色が生じ、水が０．３ ｐｐｍ未満でがっ酸
素がｓｐｐｍ未満の領域Ｐでは保護皮膜が形成されない
ことが判明した。なお、領域Ａ、Ｂ、Ｃでさらしたもの
は、その後、領域Ｒや水が２００ ｐｐｍを超える雰囲
気中に移しても急速な腐食が生じなかった。
かつ酸素がＯ〜５ ｐｐｍの領域（領域Ａ）、水が４〜
２００ ｐｐｍで、かつ酸素が５ ｐｐｍより多く５０
０ｐｐｍ未満の領域（領域Ｂ）および水が０〜２００
、ｐｐｍで、か−′ｐ酸素が５００〜２２．０００ｐｐ
ｎ＋の領域（領域Ｃ）では変色が生じず、腐食が認めら
れなかったが、水が４ ｐｐｍ未満で、かつ酸素が５
ｐｐｍ以上で５゜Ｏｐｐｍ未満の領域（領域Ｒ）では著
しい変色が認められた。 なお、水が０．３ ｐｐｍ未
満で、かつ酸素が５ ｐｐｍ未満の領域（領域Ｐ）では
変色が認められなかったが、その後、それを上記領域Ｒ
に移すと変色が生じ、水が０．３ ｐｐｍ未満でがっ酸
素がｓｐｐｍ未満の領域Ｐでは保護皮膜が形成されない
ことが判明した。なお、領域Ａ、Ｂ、Ｃでさらしたもの
は、その後、領域Ｒや水が２００ ｐｐｍを超える雰囲
気中に移しても急速な腐食が生じなかった。
実験例２
チン素の導入量を１１，０００ｐｐｍに変えたほかば実
験例１と同様に実験を行なった。その結果を第２図に示
す。第２図中、○は変色が生じなかったポイントを示し
、拳は変色が生じたポイントを示す。
験例１と同様に実験を行なった。その結果を第２図に示
す。第２図中、○は変色が生じなかったポイントを示し
、拳は変色が生じたポイントを示す。
第２図に示すように、水が４〜２００ ｐｐｍで、かつ
酸素がＯｐｐｍから１，０００ ｐｐｍ未満の領域（領
域Ｄ）および水が０〜２００ ｐｐｍで、かつ酸素がＪ
、０００〜２２．０００ｐｐｍの領域（領域Ｅ）では変
色が生じず、腐食が認められなかったが、水が４ ｐｐ
ｍ未満で酸素が１，０００ｐｐｍ未満の領域（領域Ｓ）
では著しい変色が認められた。
酸素がＯｐｐｍから１，０００ ｐｐｍ未満の領域（領
域Ｄ）および水が０〜２００ ｐｐｍで、かつ酸素がＪ
、０００〜２２．０００ｐｐｍの領域（領域Ｅ）では変
色が生じず、腐食が認められなかったが、水が４ ｐｐ
ｍ未満で酸素が１，０００ｐｐｍ未満の領域（領域Ｓ）
では著しい変色が認められた。
上記のように領域り、Ｅでさらしたものは、その後、領
＠Ｓや水が２００ ｐｐｍを超える雰囲気中に移しても
急速な腐食が生しなかった。
＠Ｓや水が２００ ｐｐｍを超える雰囲気中に移しても
急速な腐食が生しなかった。
第１図はチン素が１．ｏｏｏ ｐｐｍ存在し、水と酸素
の存在量が変動するアルゴン雰囲気中に清浄なリヂウム
面をさらしたときの変色の有無を調べた結果を示す図で
あり、第２図はチン素が１１，０００ｐｐｍ存在し、水
と酸素の存在量が変動するアルゴン雰囲気中に清浄なリ
チウム表面をさらしたときの変色の有無を調べた結果を
示す図である。
の存在量が変動するアルゴン雰囲気中に清浄なリヂウム
面をさらしたときの変色の有無を調べた結果を示す図で
あり、第２図はチン素が１１，０００ｐｐｍ存在し、水
と酸素の存在量が変動するアルゴン雰囲気中に清浄なリ
チウム表面をさらしたときの変色の有無を調べた結果を
示す図である。
Claims (2)
- （１） リチウム電極を製造するにあたり、リチウムを
チン素が１，０００ ｐｐｍ以上で、（Ａ）水が０．３
〜２００ ｐｐｍで、かつ酸素が０〜５ ｐｐｍ （Ｂ）水が４〜２００ｐｐｍで、かつ 酸素が５１１１１ｍより多く ５００ｐｐｍ未満または （Ｃ）水が０〜２００ ｐｐｍで、かつ酸素が５００〜
２２．０００ｐｐｍ で存在するアルゴンまたはヘリウム雰囲気中にさらし、
リチウム表面に保護皮膜を形成することを特徴とするリ
チウム電極の製造方法。 - （２）アルゴンまたはヘリウム雰囲気がチン素が１１、
ＯＯＯｐｐｍ以上で、 （Ｉ〕）水が４〜２００ ｐｐｍで、かつ酸素がｏ ｐ
ｐｍから１，０００ ｐｐｍ未満または （Ｅ）水が０〜２００ ｐｐｎ：で、がっ酸素が１，０
００〜２２，０００ｐｐｍで存在する雰囲気である特許
請求の範囲の範囲第１項記載のリチウム電極の製造方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58132247A JPH0766802B2 (ja) | 1983-07-19 | 1983-07-19 | リチウム電極の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58132247A JPH0766802B2 (ja) | 1983-07-19 | 1983-07-19 | リチウム電極の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6023958A true JPS6023958A (ja) | 1985-02-06 |
| JPH0766802B2 JPH0766802B2 (ja) | 1995-07-19 |
Family
ID=15076803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58132247A Expired - Lifetime JPH0766802B2 (ja) | 1983-07-19 | 1983-07-19 | リチウム電極の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0766802B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7047538B2 (en) | 2000-11-17 | 2006-05-16 | Sony Corporation | Recording and/or reproducing device for disk |
| KR20190020018A (ko) * | 2017-04-19 | 2019-02-27 | 가부시키가이샤 아루박 | 막 형성장치 및 막 형성방법 |
-
1983
- 1983-07-19 JP JP58132247A patent/JPH0766802B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7047538B2 (en) | 2000-11-17 | 2006-05-16 | Sony Corporation | Recording and/or reproducing device for disk |
| KR20190020018A (ko) * | 2017-04-19 | 2019-02-27 | 가부시키가이샤 아루박 | 막 형성장치 및 막 형성방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0766802B2 (ja) | 1995-07-19 |
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