JPS6022633A - フ−リエ分光器の高速ミラ−走査機構 - Google Patents

フ−リエ分光器の高速ミラ−走査機構

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JPS6022633A
JPS6022633A JP13067883A JP13067883A JPS6022633A JP S6022633 A JPS6022633 A JP S6022633A JP 13067883 A JP13067883 A JP 13067883A JP 13067883 A JP13067883 A JP 13067883A JP S6022633 A JPS6022633 A JP S6022633A
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JP
Japan
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scanning
mirror
scanning mechanism
moving body
driving
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JP13067883A
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Kiyoshi Nagatani
永谷 清志
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NEC Corp
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NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/18Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors
    • G02B7/182Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors
    • G02B7/1821Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors for rotating or oscillating mirrors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • G01J3/453Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
    • G01J3/4535Devices with moving mirror

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は高速ミラー走査機構に関し、さらに詳しくはフ
ーリエ分光器に用いる三光束干渉計の高速ミジー走査機
構に関する。
〔共通的技術〕
フーリエ分光器は広い波長領域を一度に、しかも高い8
7N比で短時間で画定でき87N比を落とすことなく分
解能を高くすることができるという優れた特性を備えて
いるため固体物理学、化学、生物学、天文学さらにはプ
ラズマ計611jの分野で広く利用されている。とくに
プラズマ計測の分野においては、現在、世界各国の主要
なトーラス装置のほとんどにとシつけられ、プラズマの
標準的診断法としての地位を確立している。
フーリエ分光器は周知の通シ、基本的には三光束干渉計
の干渉信号であるインターフェログラムをフーリエ変換
してスペクトルをめるものであ↓ る。このフーリエ分光器に用いられる二光束渉計として (1)マイケルンン型干渉計 (2)テメラー格子型干渉計 (3)マーチン・パブレット型干渉計 がよく知られている。
第1図は本発明および従来のフーリエ分光器の高速ミラ
ー機構を含むマーチン・パブレット型干渉計の光学系の
構成を示す概略構成図で、図において、Aはミラー機構
、11は固定鏡、2は走査鏡、3は直線偏光器、4はビ
ームスプリッタ−15は干渉信号であるインターフェロ
グラムを測定する検知器、6は走査鏡2の移動距離を検
知するモニターである。
査鏡2で反射される光束との二元束間に光路差を与える
だめに、干渉計を構成する一方の鋭又は格子を走査させ
なければならない。現在、これらの鋭又は格子を走査す
る方法として低速で走査する方法と高速で走査する方法
の二辿シがある。一般的に1)1工者は走査距離を長く
することができることから高分解測光の場合に用いられ
、高性能のネジとシンクロナスモータの組合せで連続駆
動する場合、あるいは高性能のネジとパルスモータの組
合せでストップ状に駆動する場合があることは周知であ
る。高速走査の場合は低速走査の場合に比べて走査距離
を長くとれず短くなるため分解能が上がらないが、短時
間に何回も繰返し走査し、それらをコヒーレン)K加え
合わせて平均をとることによ#)S/N比を上げて高速
現象の測定ができるという利点があることが周知である
近年高速走査による測定において、よp高速現象の測定
が可能で、できるだけ分解能を高くしてS/N比のよい
測定ができるということから高速ミラー走畳機構の走査
距離と走査周波数の向上が望まれている。
〔従来技術〕
従来のフーリエ分光器の高速ミラー機構は、高速走査の
場合に使用されている尚速ミラー走査機構として走査鏡
を含む移動体を駆動走査機構によって直接す動するもの
である。この駆動走査機構の一例として電磁走査型の機
構を用いたものは電磁コイルのボビンに直接駆動負荷で
ある走査鏡を取りつけたものである。ちなみに走査鏡を
電磁コイルによって直接駆動する電磁走査型走査装置で
は走査周波数は33Hz、走査距離は最大20 hti
程度である。
このようなフーリエ分光器の高速ミラー機構を用いて分
解能を^くするために走査距離を太きくした場合、よシ
高速現象の測定をするために走査周波数を向上させた場
合に発生する主要な問題は走有税の1駆動時に大きな駆
動推力を必要とすること、走査時に必要な駆動推力と同
等の大きさを持つ反力1(よって走査機構にづ駆動が発
生することである。す11)ち従来のフーリエ分光器の
高速ミラー走査機構において、創動する走査鏡を含む移
動体の質量なM。、走五距1仙を1)0、走査周波数を
fOとすると、走査鏡の走査を完全な正弦運動と仮定ず
れは:、駆動走査機構の1駆動推力Fは矢のく1)式で
表わされる。
F=Mo(2Lfo)”Do ””(1)このように駆
動推力Fは、走査鏡を含む移動体の質量Moに比例する
ことは勿さ4のこと、分解1止を上けるために走を距離
を上げノヒリ、よp高速の現象の&i11定ン行7!シ
フEめに走査周波数l・−ヒけると、す(6あった。
また駆動推力と空・価、を反力が1り動ル’x <QM
横の1、l定側に作用し、÷舟愉4走査C;zの)V査
1j7にす合な振動を発生するという開店があつ71こ
。こ台、らのj12動の発生によって二光宋干渉計ン措
を戊する光学系のアライメントが動いたり、フーリエ分
光器と夕(部との間で相対的位置変動が発生するため高
コei :J’lH象を高分解能で測定することができ
f【いという欠点があ−りた。
〔発明の目的〕
ことにある。
すなわち、本発明の目的は上述のような点に逅みてなさ
れたものであり、非nにi’++i Mi tr:、構
成で走査鏡の走査時に発生する振動がきわめて小さく、
しかも7p4鏡の走イf時における駆動走査機構の駆に
:Il推力をきわめて小さくでき、結果的にょシ冒速現
象の測定お篩分解能の測定がH(能なフーリエ分ブC器
の高速ミラー走査機構を提供することにある。
るフーリエ分光器に用いる三光束干渉計の高速ミラー走
査機構においで、前詔炬査鐘を含む移動体と、前記移動
体と弾性体によって連結され前記移動体の走査と同期し
て位相がπラジアンだけずれか一方に揺動駆動力を与え
るだめの駆動走査機構とを含んで構成される。
〔発明の原理〕
本発明のフーリエ分光器の高速ミラー走査機構は、前記
移動体の質量と前記動釣合い質量体の質量および両者を
連結している弾性体によって構成される振動系の第2次
の固有振動型の振動数で揺動走査することVCよシ、従
来のフーリエ分光器の高速ミラー走査機構に見られた問
題点および欠点を除去した。
〔実施例の説明〕
次に、本発明の実施例につぃ゛c1図面を参照し2て詳
細に説明する。
第2図は本発明の一実施例を示す機構概念図で、本発明
によるフーリエ分光器の高速ミラー走査毀構の機構概念
図、第3図は第2図に示すフーリエ分光器の高速ミラー
走査機構の力学的モデルを示す力学モデル図である。
第2図において、7は走査鏡8を固持して左右に揺動す
る移動体、9は走査鏡8を含む移動体7量体9を弾性的
に連結するコイルスプリングである。移動体7および動
釣合い質量体9はコイルスプリングlOで連結された状
態で高速ミラー走査機構の基台11に固定された案内軸
22上を蛇行することなく動くように支持されている。
12は移動体7および動釣合い質量体9を連結するリン
クの装置で、商運ミンー走l似信の基台11に固定され
ている柚13に回転できるように取シつけられている。
このり/り装置12によシU動体7と動釣合い寅長体0
揺動方同は逆相になZ)。14゜15.1(3はそれぞ
れ高速ミラー走査機構のム動走査機構ン構成する要素で
、14は基台11に固定された回転型のモータでモータ
14のシャフト17にクランクピスト/機構のクランク
の4H’OBとして作用する偏心カム15が1−!!2
9つけられている。
16は連接棒で、その一端部は偏心カム15の釉18を
回転できるように枢支され、他端部は走査t′ 鏡8を含T移動体7に固定された軸19て回転学的モデ
ルを示す力学モデル図で、後述する説明の都合で三光束
干渉計を構成する他の主要な要素との関連を同時に示し
ている。
第3図において、7は走査鏡8を含む移動体、9は動釣
合い5iL量体、10は移動体7と動釣合い質量体9を
連結するコイルスプリングを示している。11は高速ミ
ラー走査機構の基台、20.21はそれぞれ三光束干渉
計を構成したとき罠基台11に取9つけられるビームス
プリッタおよび固定鏡をそれぞれ示している。
次に、第2図、第3図を用いて本発明の高速ミラー走査
機構の動作について説明する。
走査鏡8を含む移動体7はモータ14の回転によシ、同
モーメ14のシャフト17に取りつけられた偏心カム1
5.および連接棒16によって構成される、いわゆるク
ランクピストン機構で予め設定された走査距離でもって
、基台11に固足芒れた案内軸22上を左右にほぼ厳正
に近い単弦振せることも可能である。クランクピストン
機構は機構的!簡単に単弦振動r(近い揺動を移動体7
に与えることができる。第2図に示す実施例の高速ミラ
ー走査機構において、偏・しカム15の偏心量A Aと遅接偉16の長δLの比■を小さく丁ればするほど
早り大振動に近< fxる。
さて、偏心蓋k(1)偏心カム15を取9つQブた七−
タ14〃・回転h=J数数」で移動体7を変位加振する
と移動悴V災位X蓄は、次の(2)式で示3れる。
X、 = As1n 2rf t −−・(2)ここで
悟ひ負伺、はスジ負荷以外の負荷をか。とフれば、ム4
勤4++−力11’D、に台ζ・仁1「ハ]するi’o
を工移動体7の負負1v月+’j、jlNクヤ)シ:廿
一体ソの買鮒h12.移励体゛lと動釣合い賀i体9ビ
連結するコイルスフリンク10の総会バネ加数にとの出
」洗は矢の(3j 、 (4)式で示される艮、係があ
る。
X Sir+2πft+li’(、−(3)Fo 、、
 ニート’D ・ ・ ・ (4)ここで、移動体7の
負けN1!、動釣合い質量体9の質量Mt、 訃よび両
者を連結するコイルスプリング10の総合バネ定数Kが
(5)式を満足するよう選定する。
総合バネ定数Kを(5)式のように選定してミラー走査
機構を構成すると、言い換えれば、移動体7の質量M、
と動釣合い質量体9の質量M、および両者を連結してい
るコイルスプリング1oの弾性体によって構成される振
動系の第2次の固有振動型の振動数で移動体7を揺動走
査すると、(31、(4)式K (5)式を代入した形
となり FD= F’Or FB−−Foとなる。
これによシ、高速ミラー走査機構の駆動走査機構に必要
な駆動推力FDは摩擦および粘性等による損失を補うだ
けでよく、また高速ミラー走査機構したがって、高速ミ
ラー走査機構の走査鏡8を含む移動体7の走査時におけ
る振動力がきわめて小さくなる。さらに、前述した駆動
推力FDおよび基台11に作用する反力−Foは走査周
波数fにほとんど無関係なので、フーリエ分光を高速で
測定するため、走査周波数fを上げても走査機構の駆動
推力、基台11に作用する力は変わらない。
従って、本発明の高速ミラー走査機構によれば、測定の
分解能を上げるために走査距離を大きくしても、また、
関連測定をおこなうために走査周波数を大きくしても、
走査時の振動が極めて小さく、しかも走査時の駆動推力
が極めて小さいフーリエ分光器の高速ミラー走査機構が
実現できる。
すなわち、第3図に示しだように走査鏡を含む移動体7
の走査によって発生する振動が極めて小さいので基台1
1に取シつけたビームスプリンタ20、固定鏡21等の
光学的アライメントをずらすことがない。ひいては基台
11の振動がないのでフーリエ分光器を構成する他の機
器との相対的走査機構の起動、停止の際にこの点を通過
すると異常振動をするが、移動体7と動釣合い質量体9
を連結するリンク装置12があるので防市できる。
定常の走査時にはこのリンク装@は必ずしも巷要でない
ことは言うまでもない。
の なお、本発明は以上説明した実施何稿造に限定されず、
本発明の主旨を逸脱しない範囲で柚々変形が可能である
。たとえば、第2図に示した実施例は走査鏡な含む移動
体を駆動機構で変位加振する例であるが、動釣合い質量
体を直接、変位加振するようにしてもよい。
また、駆動走査機構として回転型の1E気モータによる
クランクピストン(穴僕を用いた7Ji基本的には移動
体あるいは動釣合い質量体に単弦振fjtuを与える駆
動走置機構ならどんなものでも利用できる。
たとえばリニアモータを使った躯動走を機構やエンジン
を使った駆動足i機構も利用できる。
さ1つに、第2図に示す実施例では移動体と動釣合い質
量体を連結する弾性体と17でコイルスプリングを使用
した例を示したが板バネ等の弾性体の使用も可能である
。移動体と動釣合い質量体を連結する弾性体の種類、連
結の仕方によシ第2図に示した実施例の高速ミラー走査
機構の構成において種々の変形が考えられる。
〔発明の効果〕
本発明の7一リエ分光器の高速ミラー走査機構は、走査
鏡な含む移動体と動釣合い質量体を弾性体で連結し、ミ
ラー走査機構の基台に固定された案内軸上揺動できるよ
うに構成し、基台に取シつけられた駆動走査截構で、移
動体および動釣合い質量体とこれらの両者を連結する弾
性体とで構成される振動系をこの振動系の第2次の固有
振動周波数で移動体ないしは動釣合い質量体を揺動させ
ることによシ、両者を互いにπラジアンだけ位相をずら
ししかも振幅がそれぞれの質量に反比例する振動をおこ
させて、走査鏡を含む移動体の走査によって発生するミ
ラー走査機構の振動を吸視させることができ、非常に簡
単な構成で振動を極めで小さくし、しかも走査時の、駆
動推力を小さくでき、結果的により高速現象の測定や高
分解能の測定が可能なフーリエ分光器の高速ミラー走査
機構を実現でき、本発明の目的を達成できるという効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明および従来のフーリエ分光器の高速ミラ
ー機構を含むマーチンパブレット型干渉計の光学系の構
成を示す概略構成図、第2図は本発明の一芙施例である
フーリエ分光器の高速ミラー走査機構の機構概念図、第
3図は第2図に示すフーリエ分光器の高速ミラー走査機
構の力学的モデルを示す力学モデル図である。 A・・・・・・ミラー機構、1・・・・・・固定鏡、2
・・・・・・走査鏡、3・・・・・・直線偏光器、4・
・・・・・ビームスプリッタ−15−・・・・・検知器
、6・・・・・・モニター、7・・・・・・移動体、8
・−・・・・走を鋭、9・・・−・・動釣合いν(量体
、10・−・・・・コイルスプリング、11・・・・・
・基台、12・・・・・・リンク装置、13・・・・・
・軸、14・・・・・・モータ、15・・・・・・偏心
カム、16・・・・・・連接棒、17・・・・・・シャ
ツ1−,18・・・・・・軸、19・・・・−・軸、2
0・・・・・・ビームスプリンター、21・・・・・・
固定鏡、22・・・・・・案内軸、P・・・・・・光。  /)二′ 代理!(弁用1l−j)く I市’ Jl岳 乙 ゛ゝ
−第1図 躊2図 22 +0 9 10 11 ノt9iフ 第3図 121

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 走査鏡と基台に固定された固定鏡とを具備し前記走査鏡
    を左右に揺動させて二元束間に光路差を与えるフーリエ
    分光器に用る三光束干渉計の高速ミラー走査機構におい
    て、前記走査鏡を含む移動体と、前記移動体と弾性体に
    よって連結され前記移動体の走査と同期して位相がπラ
    ジアンだけずれて揺動する動釣合い質量体と、前記基台
    に固定され前記移動体および前記動的シ合い質量体のい
    A=一方に揺動駆動力を与えるだめの駆動走査機構を含
    むことを%徴とするフーリエ分光器の高速ミラー走査機
    構。
JP13067883A 1983-07-18 1983-07-18 フ−リエ分光器の高速ミラ−走査機構 Granted JPS6022633A (ja)

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JPH0369058B2 JPH0369058B2 (ja) 1991-10-30

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62254023A (ja) * 1986-04-25 1987-11-05 Santetsuku Kk 波長分散測定方法及びその装置
EP1030205A2 (en) * 1999-02-15 2000-08-23 S.T. Japan Inc. Apparatus for reflecting light and changing the length of optical path
JP2013160612A (ja) * 2012-02-03 2013-08-19 Takaoka Electric Mfg Co Ltd 立体形状計測装置

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EP1030205A3 (en) * 1999-02-15 2003-11-19 S.T. Japan Inc. Apparatus for reflecting light and changing the length of optical path
JP2013160612A (ja) * 2012-02-03 2013-08-19 Takaoka Electric Mfg Co Ltd 立体形状計測装置

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