JPS60219545A - 電子式水分計 - Google Patents
電子式水分計Info
- Publication number
- JPS60219545A JPS60219545A JP7708084A JP7708084A JPS60219545A JP S60219545 A JPS60219545 A JP S60219545A JP 7708084 A JP7708084 A JP 7708084A JP 7708084 A JP7708084 A JP 7708084A JP S60219545 A JPS60219545 A JP S60219545A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heating
- sample
- weighing
- specimen
- inputted
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N5/00—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid
- G01N5/04—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid by removing a component, e.g. by evaporation, and weighing the remainder
- G01N5/045—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid by removing a component, e.g. by evaporation, and weighing the remainder for determining moisture content
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）浬業上の利用分野
本発明は、粉体、繊維９紙〜の試料に含まれる付着水分
を、試料の加熱乾燥時の１量減少量によって測定する、
乾燥減量方式の水分計に関する。
を、試料の加熱乾燥時の１量減少量によって測定する、
乾燥減量方式の水分計に関する。
（ロ）従来技術
一般に、乾燥減量方式の水分計においては、加熱前の試
料１貴と加熱乾燥後の試料亜シを天びんで測定すること
により、試料の水分率が算出される。また、通常、試料
の乾燥が完了したか否かを判定する為Ｋ、試料は天びん
の皿上に載せられた状態で加熱される。ところが、加熱
することによって、皿周辺の温度上昇により対流が発生
し、乾燥完了時にはこの対流によって皿に浮力が作用し
ており、天びんの秤量値には誤差が包含されている。こ
の誤差の太きさは通常、加熱温腿によって変化する。
料１貴と加熱乾燥後の試料亜シを天びんで測定すること
により、試料の水分率が算出される。また、通常、試料
の乾燥が完了したか否かを判定する為Ｋ、試料は天びん
の皿上に載せられた状態で加熱される。ところが、加熱
することによって、皿周辺の温度上昇により対流が発生
し、乾燥完了時にはこの対流によって皿に浮力が作用し
ており、天びんの秤量値には誤差が包含されている。こ
の誤差の太きさは通常、加熱温腿によって変化する。
従来のこの種の水分計においては、この誤差を無視して
水分率が算、出されていたから、その測定値は自と正確
ではない。水分率の小さい試料等、誤差を無視し得ない
試料については、加熱温度どとにブランクテストを行い
、測定値に対して補正計算を行う必要があった。
水分率が算、出されていたから、その測定値は自と正確
ではない。水分率の小さい試料等、誤差を無視し得ない
試料については、加熱温度どとにブランクテストを行い
、測定値に対して補正計算を行う必要があった。
（ハ） 目的
本発明の目的は、上述した対流に基づく秤量誤差を自動
的に補正して、常に正確な水分率を測定することのでき
る水分計を提供することにある。
的に補正して、常に正確な水分率を測定することのでき
る水分計を提供することにある。
に）構成
本発明の特徴とするところは、天びんの皿を収容する加
熱室内の所定位置に温度センサを配設し、加熱時に加熱
室内に発生する対流によって皿に作用する浮力に基づく
天びんの秤量誤差と加熱温度との関係を、あらかじめ測
定してメモリに記憶しておき、温度センサの出力とその
メモリの内容とから、加熱乾燥時の試料重量検出値を補
正演算して水分率を算出するよう構成したことにある。
熱室内の所定位置に温度センサを配設し、加熱時に加熱
室内に発生する対流によって皿に作用する浮力に基づく
天びんの秤量誤差と加熱温度との関係を、あらかじめ測
定してメモリに記憶しておき、温度センサの出力とその
メモリの内容とから、加熱乾燥時の試料重量検出値を補
正演算して水分率を算出するよう構成したことにある。
（ホ）実施例
本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第１図は本発明実施例の桓成図である。
電子天びん１は試料皿２に作用する荷重を検出し、その
検出値を重量検出部１ａから電気信号で出力する。その
出力はＡ−Ｄ変換器３を介して演算制御部４に取り込ま
れる。
検出値を重量検出部１ａから電気信号で出力する。その
出力はＡ−Ｄ変換器３を介して演算制御部４に取り込ま
れる。
試料皿２はに防５によってその周りを囲まれており、そ
の上方には試料を加熱乾燥する為のヒータ６が配設され
ている。ヒータ６の周りはヒータカバー７で囲まれてお
り、このヒータカバー７と風防５によって加熱室を形成
している。ヒータ６に近接して温度センサ８が配設され
ており、その出力は温度検出器９に入力され、温度に比
例した電気信号として出力される。温度検出器９の出力
はＡ−Ｄ変換器１０を介して演算制御部４に取り込まれ
るとともに、ヒータ６に電源を供給するヒータ制御部１
１に供給され、ヒータ６による加熱温度の制御に供され
る。
の上方には試料を加熱乾燥する為のヒータ６が配設され
ている。ヒータ６の周りはヒータカバー７で囲まれてお
り、このヒータカバー７と風防５によって加熱室を形成
している。ヒータ６に近接して温度センサ８が配設され
ており、その出力は温度検出器９に入力され、温度に比
例した電気信号として出力される。温度検出器９の出力
はＡ−Ｄ変換器１０を介して演算制御部４に取り込まれ
るとともに、ヒータ６に電源を供給するヒータ制御部１
１に供給され、ヒータ６による加熱温度の制御に供され
る。
演算制御部４はマイクロコンピュータで構成され、測定
プログラムや各種演算の実行、および各周辺装置の制御
を行うＣＰＵ４１、後述する加熱温度と電子天びん１の
秤量誤差の関係や測定プログラム等が書き込まれたＲＯ
Ｍ４２、各種演算結果や重量検出値、温度検出値等を記
憶するエリアを備えたＲＡＭ４３、および外部機器から
の信号を入力する為の入力ポート４４を備えており、こ
れらは互いにパスラインで接続されている。入力ポート
４４には上述したＡ−Ｄ変換器３および１０の出力の他
に、加熱開始から乾燥光子までの時間を計測するタイマ
１２の出力が入力される。演算制御部４には、また、Ｃ
ＰＵ４１の指令によって算出された水分率の表示を行う
表示器１３、およびＣＰＵ４１に指示を与える為のキー
ボード１４が接続されている。
プログラムや各種演算の実行、および各周辺装置の制御
を行うＣＰＵ４１、後述する加熱温度と電子天びん１の
秤量誤差の関係や測定プログラム等が書き込まれたＲＯ
Ｍ４２、各種演算結果や重量検出値、温度検出値等を記
憶するエリアを備えたＲＡＭ４３、および外部機器から
の信号を入力する為の入力ポート４４を備えており、こ
れらは互いにパスラインで接続されている。入力ポート
４４には上述したＡ−Ｄ変換器３および１０の出力の他
に、加熱開始から乾燥光子までの時間を計測するタイマ
１２の出力が入力される。演算制御部４には、また、Ｃ
ＰＵ４１の指令によって算出された水分率の表示を行う
表示器１３、およびＣＰＵ４１に指示を与える為のキー
ボード１４が接続されている。
次に作用を述べる。試料Ｓを試料皿２上に載せ、キーボ
ード１４から測定開始の指令を与えると、タイマ１２が
計時を開始するとともに、測定当初の試料重量Ｗ１が読
み取られ、ＲＡＭ４３内に格納される。次に、ヒータ６
が駆動されて、所定の設定温度によって試料Ｓの加熱を
開始する。試料Ｓの加熱乾燥が完了すると、試料重量は
変化しなくなるから、これを検知してタイマ１２をスト
ップし、このときの試料重量Ｗ２と温度センサ８によっ
て検出された温度ＴとをＲＡＭ４３内に格納する。
ード１４から測定開始の指令を与えると、タイマ１２が
計時を開始するとともに、測定当初の試料重量Ｗ１が読
み取られ、ＲＡＭ４３内に格納される。次に、ヒータ６
が駆動されて、所定の設定温度によって試料Ｓの加熱を
開始する。試料Ｓの加熱乾燥が完了すると、試料重量は
変化しなくなるから、これを検知してタイマ１２をスト
ップし、このときの試料重量Ｗ２と温度センサ８によっ
て検出された温度ＴとをＲＡＭ４３内に格納する。
水分率Ｍは、加熱前後の試料重量Ｗ１とＷ２、およびＷ
２検出時の温度Ｔとによって、次の式で９出され、表示
器１３に表示される。
２検出時の温度Ｔとによって、次の式で９出され、表示
器１３に表示される。
式において、ｆ（１°）は温度Ｔの関数で、温度Ｔにお
ける加熱室内の対流の発生による電子天びんのゼロ点変
化量である。この温度Ｔとｆ （Ｔ）との関係は、実験
的にあらかじめめられており、ＲＯＭ４２内に関数式又
は関数表として記憶されており、以下にこの関係を説明
する。
ける加熱室内の対流の発生による電子天びんのゼロ点変
化量である。この温度Ｔとｆ （Ｔ）との関係は、実験
的にあらかじめめられており、ＲＯＭ４２内に関数式又
は関数表として記憶されており、以下にこの関係を説明
する。
第２図に加熱温度（Ｔ０ｎ Ｔ２ｎ Ｔ３）をパラメー
タとした加熱時間ｔと対流によるゼロ点変化量Ｗとの一
般的な関係を示す。Ｗは第１図の矢印で示すような上昇
気流による試料皿２の持ち上げ効果により、マイナスの
値を採る。また、Ｗの値は試料Ｉｍ２の形状や加熱室内
の形状、＆造が決まれば、実験的に第２図に示す如く加
熱温度と加熱時間の関数としてめることができる。この
第２図に示す如く、ある時間ｔｃが経過した後には、気
流は定常状態となる関係上、Ｗは一定の値を採る。通常
、ｔｏＦｉ約５分以内で、乾燥時間は１０分以上である
ので、実用的には時ｊｕ」ｚの効果を無視することがで
き、従って温度（Ｔ）の関数としてＷをＪくめることが
できる。
タとした加熱時間ｔと対流によるゼロ点変化量Ｗとの一
般的な関係を示す。Ｗは第１図の矢印で示すような上昇
気流による試料皿２の持ち上げ効果により、マイナスの
値を採る。また、Ｗの値は試料Ｉｍ２の形状や加熱室内
の形状、＆造が決まれば、実験的に第２図に示す如く加
熱温度と加熱時間の関数としてめることができる。この
第２図に示す如く、ある時間ｔｃが経過した後には、気
流は定常状態となる関係上、Ｗは一定の値を採る。通常
、ｔｏＦｉ約５分以内で、乾燥時間は１０分以上である
ので、実用的には時ｊｕ」ｚの効果を無視することがで
き、従って温度（Ｔ）の関数としてＷをＪくめることが
できる。
第３図に時間ｔｃ以上経過した時点での温度（Ｔ）と対
流によるゼロ点変化量（−Ｗ）の関係を示す。
流によるゼロ点変化量（−Ｗ）の関係を示す。
この関係をＲＯＭ４２に配憶しておき、タイマ１２の出
力がｆ、 Ｑ ｆ＋ｊ４．えていることを確認して、Ｒ
ＡＭ４３内Ｔ値から−Ｗ（＝ｆ（ｔ））をめ、上述の式
を用いて水分率Ｍを算出ラーればよい。
力がｆ、 Ｑ ｆ＋ｊ４．えていることを確認して、Ｒ
ＡＭ４３内Ｔ値から−Ｗ（＝ｆ（ｔ））をめ、上述の式
を用いて水分率Ｍを算出ラーればよい。
なお、タイマ１２の出力がｔｃ以下において乾燥が完了
したときには、加熱時間ｔをも塙１ばに入れた関数をＲ
ＯＭ４２内に格納しておき、これによってゼロ点変化量
をめることも可能である。
したときには、加熱時間ｔをも塙１ばに入れた関数をＲ
ＯＭ４２内に格納しておき、これによってゼロ点変化量
をめることも可能である。
以上の実施例では、温度セッサ８をヒータ６に近接して
配設し、実質的にヒータ６の温度によってゼロ点変化量
をめたが、これはヒータ６と試料皿２の距離が固定され
ている場合にのみ有効である。この距離が可変なるよう
構成されている場合や、熱源が赤外線ランプのように温
度制御が困難な場合においては、温度センサ８をより試
料皿２に近付けて配設することが好捷しい。
配設し、実質的にヒータ６の温度によってゼロ点変化量
をめたが、これはヒータ６と試料皿２の距離が固定され
ている場合にのみ有効である。この距離が可変なるよう
構成されている場合や、熱源が赤外線ランプのように温
度制御が困難な場合においては、温度センサ８をより試
料皿２に近付けて配設することが好捷しい。
（へ）効果
以上説明したように、本発明によれ、・ず、加熱時に発
生する対流によって試料皿に作用する浮力によって生ず
る天びんの秤量誤差を、自動的に面上して水分率を算出
するから、従来装置のよう（・てブランクテストや累雑
な補正計算を行うまでもなく、常に正確な水分率を測定
することができる。
生する対流によって試料皿に作用する浮力によって生ず
る天びんの秤量誤差を、自動的に面上して水分率を算出
するから、従来装置のよう（・てブランクテストや累雑
な補正計算を行うまでもなく、常に正確な水分率を測定
することができる。
第１図は本発明実施例の桁成図、第２図は加熱温度をパ
ラメータとして加熱時間とゼロ点変化量の関係を示すグ
ラフ、第３図は加熱温度とゼロ点変化量の関係を示すグ
ラフである。 １・・電子天びん、 ２・・試料＋１１１ 。 ４・・演算制御部、 ５・・風防、 ６・・ヒータ、 ７・・ヒータカバー、８・・温度セン
サ、 ９・・温度検出器、１１・・ヒータ制御部、１２
・・タイマ、１３・・表示器。 特許出願人 株式会社島津製作ｎ「
ラメータとして加熱時間とゼロ点変化量の関係を示すグ
ラフ、第３図は加熱温度とゼロ点変化量の関係を示すグ
ラフである。 １・・電子天びん、 ２・・試料＋１１１ 。 ４・・演算制御部、 ５・・風防、 ６・・ヒータ、 ７・・ヒータカバー、８・・温度セン
サ、 ９・・温度検出器、１１・・ヒータ制御部、１２
・・タイマ、１３・・表示器。 特許出願人 株式会社島津製作ｎ「
Claims (1)
- 試料皿上の試料重量：を検出して電気イｇ号で出力する
天ぴんと、°上記試料皿を内部に収容する加熱室内に配
設され、試料を加熱して乾燥させる為の熱源を有し、加
熱前の試料重量と加熱乾燥後の試料″に量とから、試料
の水分率をめ得るよう札成された装置において、上記加
熱室内のＰＪｒ定位置に配設された温度センサと、加熱
時に上Ｈピ加熱室内に発生′１−る対流により、上記試
料皿に作用する浮力に基つく上記天びんの杵ｉ誤差七加
熱＠鼠の関係を記憶するメモリと、上記温度センサの出
力と上記メモリの内容とから、乾燥時における試料電量
検出値を補正する演ｎ都を備えたことを特徴とする電子
式水分計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7708084A JPS60219545A (ja) | 1984-04-16 | 1984-04-16 | 電子式水分計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7708084A JPS60219545A (ja) | 1984-04-16 | 1984-04-16 | 電子式水分計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60219545A true JPS60219545A (ja) | 1985-11-02 |
| JPH0565817B2 JPH0565817B2 (ja) | 1993-09-20 |
Family
ID=13623796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7708084A Granted JPS60219545A (ja) | 1984-04-16 | 1984-04-16 | 電子式水分計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60219545A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0344465A2 (en) * | 1988-05-10 | 1989-12-06 | Mitsubishi Jukogyo Kabushiki Kaisha | Moisture content measuring system |
| JPH07270298A (ja) * | 1994-03-29 | 1995-10-20 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 工業分析方法 |
| JPH11326172A (ja) * | 1998-05-19 | 1999-11-26 | Yanagawa Giken:Kk | 水分計 |
| WO2002001212A3 (en) * | 2000-06-28 | 2002-06-20 | Cem Corp | Microwave assisted content analyzer |
| US7941937B2 (en) * | 2002-11-26 | 2011-05-17 | Lg Electronics Inc. | Laundry dryer control method |
| JP2014066726A (ja) * | 2006-04-25 | 2014-04-17 | Mettler-Toledo Ag | 水分重量測定のための測定装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6268570B1 (en) * | 1999-09-17 | 2001-07-31 | Cem Corporation | Method for correcting weight measurement errors during microwave heating |
-
1984
- 1984-04-16 JP JP7708084A patent/JPS60219545A/ja active Granted
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0344465A2 (en) * | 1988-05-10 | 1989-12-06 | Mitsubishi Jukogyo Kabushiki Kaisha | Moisture content measuring system |
| JPH07270298A (ja) * | 1994-03-29 | 1995-10-20 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 工業分析方法 |
| JPH11326172A (ja) * | 1998-05-19 | 1999-11-26 | Yanagawa Giken:Kk | 水分計 |
| WO2002001212A3 (en) * | 2000-06-28 | 2002-06-20 | Cem Corp | Microwave assisted content analyzer |
| US6462321B2 (en) | 2000-06-28 | 2002-10-08 | Cem Corporation | Microwave assisted content analyzer |
| US6566637B1 (en) | 2000-06-28 | 2003-05-20 | Cem Corporation | Microwave assisted content analyzer |
| US7941937B2 (en) * | 2002-11-26 | 2011-05-17 | Lg Electronics Inc. | Laundry dryer control method |
| JP2014066726A (ja) * | 2006-04-25 | 2014-04-17 | Mettler-Toledo Ag | 水分重量測定のための測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0565817B2 (ja) | 1993-09-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4165633A (en) | System for measuring moisture content | |
| US7661876B2 (en) | Infrared target temperature correction system and method | |
| JP2752406B2 (ja) | 乾燥秤 | |
| CN109932271B (zh) | 一种用于测量物体体积和体膨胀系数的装置及方法 | |
| CN110196201B (zh) | 高精度称重系统和称重方法，热重分析仪及存储介质 | |
| JPS60219545A (ja) | 電子式水分計 | |
| CN107144681A (zh) | 一种土壤基本物理性质指标试验装置及其试验方法 | |
| CN104199488A (zh) | 一种全自动生化分析仪的比色杯反应液恒温控制装置及方法 | |
| CN104452227B (zh) | 一种干衣机内织物烘干程度双重自动测控平台及其方法 | |
| CN203178156U (zh) | 水分快速测定仪 | |
| JPS63302326A (ja) | 温度調整機能付き乾燥秤及び乾燥秤の較正方法 | |
| CN204203025U (zh) | 一种固体含量检测仪 | |
| JPS55142244A (en) | Inspecting device for moisture meter for grain | |
| CN108225970A (zh) | 高浓液体内固形物含量的检测装置及检测方法 | |
| CN2358450Y (zh) | 烘干法智能水分测定仪 | |
| CN206523373U (zh) | 一种带温控的马歇尔试验仪 | |
| JP2667021B2 (ja) | 赤外線水分計における水分測定方法および装置 | |
| CN210465194U (zh) | 一种微波快速测量物料水分的装置 | |
| US3463000A (en) | Method for testing moisture content of a product | |
| CN201837572U (zh) | 一种快速水分测定仪 | |
| JPS61278750A (ja) | 電池式ガス検知器 | |
| JPH0810185B2 (ja) | 赤外線水分計における予測水分率測定方法および装置 | |
| US20230251173A1 (en) | Moisture meter | |
| CN207937301U (zh) | 高浓液体内固形物含量的检测装置 | |
| JPS5818155A (ja) | 水分計 |