JPS60217472A - 画像処理におけるエツジ抽出方法 - Google Patents
画像処理におけるエツジ抽出方法Info
- Publication number
- JPS60217472A JPS60217472A JP59072767A JP7276784A JPS60217472A JP S60217472 A JPS60217472 A JP S60217472A JP 59072767 A JP59072767 A JP 59072767A JP 7276784 A JP7276784 A JP 7276784A JP S60217472 A JPS60217472 A JP S60217472A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、画像処理におけるエツジ抽出法に係り、特に
濃淡実画像データの高速処理に好適なエツジ抽出方法に
関する。
濃淡実画像データの高速処理に好適なエツジ抽出方法に
関する。
従来の代表的なエツジ抽出法は、濃淡画像にラプラシア
ンフィルタなどの微分フィルタをかけ、その出力結果に
対しである閾値を定め、その値以上の点をエツジ構成点
とみなしていた。この方法は、単純な画像に対しては閾
値を適当に定めればよい結果を得ることができたが、ノ
イズによる孤立点もエツジ構成点とみなしてしまう、閾
値を多少変化させると結果が大きく変化してしまうなど
の欠点があり、本来のエツジのみを抽出することは困難
であった。
ンフィルタなどの微分フィルタをかけ、その出力結果に
対しである閾値を定め、その値以上の点をエツジ構成点
とみなしていた。この方法は、単純な画像に対しては閾
値を適当に定めればよい結果を得ることができたが、ノ
イズによる孤立点もエツジ構成点とみなしてしまう、閾
値を多少変化させると結果が大きく変化してしまうなど
の欠点があり、本来のエツジのみを抽出することは困難
であった。
本発明の目的は、これら従来技術の欠点を改善し、一般
の濃淡実画像データから本来のエツジのみを高速に抽出
することが可能なエツジ抽出方法を提供することにある
。
の濃淡実画像データから本来のエツジのみを高速に抽出
することが可能なエツジ抽出方法を提供することにある
。
上記目的を達成するため、本発明では、入力した濃淡画
像にラプラシアンフィルタなどのフィルタをかけて得た
各点の出力結果並びにその点の周囲の点の出力結果の情
報を１つの点に関する情報として記憶しておき、その情
報をもとにその点がエツジ構成点であるかどうかを判断
する点に特徴がある。画像メモリにその情報を記憶し１
画像メモリの演算としてその判断を行なえば高速処理が
可能であり、判断条件を変えることである方向のエツジ
のみを抽出することもできる。
像にラプラシアンフィルタなどのフィルタをかけて得た
各点の出力結果並びにその点の周囲の点の出力結果の情
報を１つの点に関する情報として記憶しておき、その情
報をもとにその点がエツジ構成点であるかどうかを判断
する点に特徴がある。画像メモリにその情報を記憶し１
画像メモリの演算としてその判断を行なえば高速処理が
可能であり、判断条件を変えることである方向のエツジ
のみを抽出することもできる。
さらに、２次元上で抽出されたエツジ構成点に注目し、
その点の近傍に他のエツジ構成点が存在せず、孤立して
いる場合には取除くことで、ノイズの影響を減少させる
ことが可能となる。
その点の近傍に他のエツジ構成点が存在せず、孤立して
いる場合には取除くことで、ノイズの影響を減少させる
ことが可能となる。
以下、本発明の一実施例を図を用いて説明する。
簡単のため画像データとして第１図（ａ）のごとく１次
元データを考え、微分フィルタとして第２図のような１
次元のラプラシアンフィルタの例を取り上げる。第１図
（ａ）のデータに第２図に示すフィルタをかけると、第
１図（ｂ）のような出力を得る。これに対し、２つの閾
値Ｔ、およびＴ２をもうけ、第１図（ｃ）のように各点
をプラス、ゼロ。
元データを考え、微分フィルタとして第２図のような１
次元のラプラシアンフィルタの例を取り上げる。第１図
（ａ）のデータに第２図に示すフィルタをかけると、第
１図（ｂ）のような出力を得る。これに対し、２つの閾
値Ｔ、およびＴ２をもうけ、第１図（ｃ）のように各点
をプラス、ゼロ。
およびマイナスの３通りに分類する。このとき、ラプラ
シアンフィルタの性質からエツジ構成点の両隣りの点は
プラスとマイナスの組みになっているはずである。そこ
で第１図（ｃ）およびそれを左右へ１画素シフトさせた
結果（第１図（ｄ）および（ｅ））を記憶しておき、各
点で、エツジ構成点としての条件（第３図）を満たして
いるかどうか調べる（つまり、第１図（ｃ）〜（ｅ）の
縦の組みが第３図（１）〜（１０）のいずれかの組みに
一致しているかどうか調べる）ことで最終結果として、
第４図のように点Ｑのみがエツジ構成点として抽出され
る。第１図（ｃ）〜（ｅ）と第３図による判断は、第１
図（Ｃ）と第５図に示すようなエツジパターンとのマツ
チングをとることに等しい。
シアンフィルタの性質からエツジ構成点の両隣りの点は
プラスとマイナスの組みになっているはずである。そこ
で第１図（ｃ）およびそれを左右へ１画素シフトさせた
結果（第１図（ｄ）および（ｅ））を記憶しておき、各
点で、エツジ構成点としての条件（第３図）を満たして
いるかどうか調べる（つまり、第１図（ｃ）〜（ｅ）の
縦の組みが第３図（１）〜（１０）のいずれかの組みに
一致しているかどうか調べる）ことで最終結果として、
第４図のように点Ｑのみがエツジ構成点として抽出され
る。第１図（ｃ）〜（ｅ）と第３図による判断は、第１
図（Ｃ）と第５図に示すようなエツジパターンとのマツ
チングをとることに等しい。
本実施例によれば、ノイズなどによる孤立点（第１図（
ａ）の点Ｐ、およびＰ２）が除かれ、本来のエツジ構成
点とみなされる点（同点Ｑ）のみが抽出されるという効
果がある。
ａ）の点Ｐ、およびＰ２）が除かれ、本来のエツジ構成
点とみなされる点（同点Ｑ）のみが抽出されるという効
果がある。
（２）上記手法を２次元の濃淡画像データに適用して得
られた結果の一部を第６図に示す。第６図においてｔＬ
Ｉ Ｉ＋と記されている画素がエツジ構成点として抽
出された点である。この結果から孤立点を除くために例
として第７図に示す平滑化フィルタをかけ、その出力が
ある閾値以上の点をエツジ構成点として再抽出する。そ
の閾値を３とした場合の結果を第８図に示す。ここで閾
値を３としたということは、ある注目点を囲む３×３の
マトリックスの中にエツジ構成点が３点以上あった場合
、その注目点をエツジ構成点として再抽出することに等
しい。
られた結果の一部を第６図に示す。第６図においてｔＬ
Ｉ Ｉ＋と記されている画素がエツジ構成点として抽
出された点である。この結果から孤立点を除くために例
として第７図に示す平滑化フィルタをかけ、その出力が
ある閾値以上の点をエツジ構成点として再抽出する。そ
の閾値を３とした場合の結果を第８図に示す。ここで閾
値を３としたということは、ある注目点を囲む３×３の
マトリックスの中にエツジ構成点が３点以上あった場合
、その注目点をエツジ構成点として再抽出することに等
しい。
また、第６図に示される例から、例えば横線のみを抽出
する場合には、第９図に示すようなフィルタを使えばよ
い、閾値を３とした場合の結果の例を第１０図に示す。
する場合には、第９図に示すようなフィルタを使えばよ
い、閾値を３とした場合の結果の例を第１０図に示す。
第１１図は原画像からエツジを抽出するシステムの構成
図である。入力した原画像データは入力画像記憶部１に
記憶される。入力画像記憶部１のデータは演算部４にお
いて微分フィルタがかけられ、その結果は微分画像記憶
部２に送られる。微分画像記憶部２のデータは演算部４
においてプラス側およびマイナス側の２つの閾値によっ
て３値化される。６値化された各画素に対応するデータ
と、その周囲の画素に対応するデータとを演算部４にお
いて比較１判断し、エツジ構成点を抽出する。結果はエ
ツジ抽出画像記憶部３に格納される。
図である。入力した原画像データは入力画像記憶部１に
記憶される。入力画像記憶部１のデータは演算部４にお
いて微分フィルタがかけられ、その結果は微分画像記憶
部２に送られる。微分画像記憶部２のデータは演算部４
においてプラス側およびマイナス側の２つの閾値によっ
て３値化される。６値化された各画素に対応するデータ
と、その周囲の画素に対応するデータとを演算部４にお
いて比較１判断し、エツジ構成点を抽出する。結果はエ
ツジ抽出画像記憶部３に格納される。
本実施例によれば前記（１）の実施例で用いた方法で取
除くことができなかった孤立点を除去し、さらにエツジ
構成点を単に点でなく線に近い形で抽出できるという効
果がある。
除くことができなかった孤立点を除去し、さらにエツジ
構成点を単に点でなく線に近い形で抽出できるという効
果がある。
本発明によれば、濃淡実画像から任意の方向のエツジを
簡単に抽出でき、しかもノイズによる孤立点を除いたエ
ツジを高速に得ることができる。
簡単に抽出でき、しかもノイズによる孤立点を除いたエ
ツジを高速に得ることができる。
等の効果がある。
第１図（ａ）は１次元の入力データの１例を示す図、第
１図（ｂ）は同図（ａ）に第２図に示すラプラシアンフ
ィルタをかけた出力結果を示す図、第１図（ｃ）は同図
（ｂ）を＋、０および−の３つの値に分類した結果を示
す図、第１図（、（）は同図（ｃ）を右へ１画素、また
第１図・（ｅ）は同図（ｃ）を左へ１画素シフトした図
、第２図は実施例で用したラプラシアンフィルタの一例
を示す図、第３図はエツジとみなすことのできる組を示
す図、第４図は最終結果を示す図、第５図はエツジパタ
ーンの例を示す図（（１）〜（１０）は第３図の（１）
〜（１０）に対応している）、第６図は実施例（１）の
手法を２次元に応用して得た結果の例を示す図、第７図
は平滑化フィルタの例を示す図、第８図は第７図のフィ
ルタにより再抽出されたエツジを示す図、第９図は横線
抽出フィルタを示す図、第１０図は第９図に示すフィル
タによって抽出された横線を示す図、第１１図は本発明
によるエツジ抽出装置の全体システム構成図である。 １・・・入力画像記憶部、２・・・微分画像記憶部、３
・・・第 １ 図 第２図 匡ロア Ｚ ３ 図 冨４図 １５図 （Ｑ） （Ｉｏ） 洒７図 罵ざ図 久 第 ９ 図 「口刀Ｍｌ刀刀 可 １１ 図
１図（ｂ）は同図（ａ）に第２図に示すラプラシアンフ
ィルタをかけた出力結果を示す図、第１図（ｃ）は同図
（ｂ）を＋、０および−の３つの値に分類した結果を示
す図、第１図（、（）は同図（ｃ）を右へ１画素、また
第１図・（ｅ）は同図（ｃ）を左へ１画素シフトした図
、第２図は実施例で用したラプラシアンフィルタの一例
を示す図、第３図はエツジとみなすことのできる組を示
す図、第４図は最終結果を示す図、第５図はエツジパタ
ーンの例を示す図（（１）〜（１０）は第３図の（１）
〜（１０）に対応している）、第６図は実施例（１）の
手法を２次元に応用して得た結果の例を示す図、第７図
は平滑化フィルタの例を示す図、第８図は第７図のフィ
ルタにより再抽出されたエツジを示す図、第９図は横線
抽出フィルタを示す図、第１０図は第９図に示すフィル
タによって抽出された横線を示す図、第１１図は本発明
によるエツジ抽出装置の全体システム構成図である。 １・・・入力画像記憶部、２・・・微分画像記憶部、３
・・・第 １ 図 第２図 匡ロア Ｚ ３ 図 冨４図 １５図 （Ｑ） （Ｉｏ） 洒７図 罵ざ図 久 第 ９ 図 「口刀Ｍｌ刀刀 可 １１ 図
Claims (1)
- １、微分フィルタを用いた濃淡実画像からのエツジ抽出
において、画像を小さな画素に分解し、そ九に微分フィ
ルタをかけて得た各画素における出力に対し、その出力
と、その画素の周囲の画素における出力との状況をもっ
て、その画素がエツジ構成点であるかどうかを判定する
判定演算をおこなうことを特徴とする画像処理にお法６
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59072767A JPS60217472A (ja) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | 画像処理におけるエツジ抽出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59072767A JPS60217472A (ja) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | 画像処理におけるエツジ抽出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60217472A true JPS60217472A (ja) | 1985-10-31 |
Family
ID=13498853
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59072767A Pending JPS60217472A (ja) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | 画像処理におけるエツジ抽出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60217472A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6376082A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-06 | Fujitsu Ltd | 画像の輪郭抽出装置 |
| JPS63173183A (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-16 | Nec Corp | 輪郭抽出方式 |
| JPH0315986A (ja) * | 1989-03-28 | 1991-01-24 | Furuno Electric Co Ltd | 面温度表示装置 |
| EP0686942A3 (ja) * | 1994-06-07 | 1996-01-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | |
| EP0738872A2 (en) * | 1995-04-21 | 1996-10-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Stereo matching method and disparity measuring method |
-
1984
- 1984-04-13 JP JP59072767A patent/JPS60217472A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6376082A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-06 | Fujitsu Ltd | 画像の輪郭抽出装置 |
| JPS63173183A (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-16 | Nec Corp | 輪郭抽出方式 |
| JPH0315986A (ja) * | 1989-03-28 | 1991-01-24 | Furuno Electric Co Ltd | 面温度表示装置 |
| EP0686942A3 (ja) * | 1994-06-07 | 1996-01-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | |
| US5719954A (en) * | 1994-06-07 | 1998-02-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Stereo matching method and disparity measuring method |
| EP0738872A2 (en) * | 1995-04-21 | 1996-10-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Stereo matching method and disparity measuring method |
| EP0738872A3 (en) * | 1995-04-21 | 1999-07-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Stereo matching method and disparity measuring method |
| US6125198A (en) * | 1995-04-21 | 2000-09-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of matching stereo images and method of measuring disparity between these items |
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