JPS60202321A - Temperature detecting circuit - Google Patents

Temperature detecting circuit

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JPS60202321A
JPS60202321A JP5910384A JP5910384A JPS60202321A JP S60202321 A JPS60202321 A JP S60202321A JP 5910384 A JP5910384 A JP 5910384A JP 5910384 A JP5910384 A JP 5910384A JP S60202321 A JPS60202321 A JP S60202321A
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JP
Japan
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voltage
temperature
capacitor
constant current
transistor
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JP5910384A
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Japanese (ja)
Inventor
Ichiro Yamada
一郎 山田
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Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/01Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions

Abstract

PURPOSE:To obtain an accurate temperature data signal, whose digital processing is easy, by connecting a constant current power source and a capacitor in series between power sources, comparing the terminal voltage of the capacitor with a reference voltage, thereby omitting externally attached parts utilizing a small number of constituent elements. CONSTITUTION:When a discharge transistor Tr8 is turned OFF, positive electric charge is gradually injected into a capacitor 7 by a constant current transistor Tr6. A terminal voltage 11 is increased. When the voltage 11 becomes larger than a terminal voltage 12, the output of a voltage comparator 13 is inverted. The period up to the time, when the output 14 is inverted, is changed depending on the temperature. At a high temperature, the time period to the inversion is long. Conversely, at a low temperature, the time period to the inversion is short. Therefore, by measuring the time period, the temperature data in digital quantity can be readily obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は集積回路化に適し、温度情報のデジタル処理を
容易に行なうことができる温度検知回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field] The present invention relates to a temperature detection circuit that is suitable for integration into an integrated circuit and can easily perform digital processing of temperature information.

〔従来技術〕[Prior art]

従来集積化された温度検知回路として種々のも □のが
発表されている。これらは、いずれも特定の素子の物理
定数、例えばバイポーラ−トランジスタのペース、エミ
ッタ電圧など、の温度変化なと ゛らえ、A / D 
糺換器等によりデジタル信号として ゛処理するのが一
般的である。
Various types of integrated temperature detection circuits have been announced so far. These are all temperature changes in the physical constants of a specific element, such as the pace of a bipolar transistor, the emitter voltage, etc.
It is common to process it as a digital signal using a converter or the like.

しかし、上記物理定数の編贋に対する変化は、単体では
微弱であるため、通常複数個用いることが多く、また精
密なA / D g換をも必要とする。従って集積化し
た場合、後工程で定数の合わせ込みの必要がある。さら
に精密なA/Dm換のためにパターンiMJ積の増加や
外付部品の必要も出てくる〔目的〕 本発明は以上の問題点を除去するもので、集積化シタ場
合、小パターン面積でデジタル処理が容易な温度情報信
号を得ることができ外付部品が不要で精度のよい温度検
知回路を提供するものである。
However, since the change due to the above-mentioned physical constant conversion is weak when used alone, a plurality of physical constants are usually used, and precise A/D g conversion is also required. Therefore, when integrated, it is necessary to adjust the constants in a subsequent process. For more precise A/Dm conversion, an increase in the pattern iMJ product and the need for external parts will also arise. [Purpose] The present invention is intended to eliminate the above-mentioned problems. The present invention provides a highly accurate temperature detection circuit that can obtain a temperature information signal that is easy to digitally process, does not require external components, and has high accuracy.

〔概要〕〔overview〕

本発明の温度・検1知1回路は伎少ない構成要素で、外
付部品が不要で、調整ケ所も少なく、精度よくデジタル
処理が容易な温度情報信号番得ることができることを特
徴とする。
The temperature/detection/sensing circuit of the present invention is characterized by having a small number of components, requiring no external parts, requiring few adjustment points, and being able to obtain a temperature information signal number with high precision and easy digital processing.

〔実施例〕〔Example〕

以下実施例に基づいて、本発明の詳細な説明する。第1
図は相補型MO8技術(以下0MO8と称す)を用いて
本発明を実現した実施例である。
The present invention will be described in detail below based on Examples. 1st
The figure shows an embodiment in which the present invention is implemented using complementary MO8 technology (hereinafter referred to as 0MO8).

第1図において、Pチャンネルトランジスタ1と3、N
チャンネルトランジスタ2と4、以上の4トランジスタ
群でPチャンネルのしきい値電圧Vtp とNチャンネ
ルのしきい値電圧VtN を発生し、それぞれPチャン
ネルトランジスタ6とNチャンネルトランジスタ10の
ゲートに印加し、トランジスタ6と10を定電流源とし
て動作させている。
In FIG. 1, P-channel transistors 1 and 3, N
Channel transistors 2 and 4, the above four transistor groups, generate a P-channel threshold voltage Vtp and an N-channel threshold voltage VtN, which are applied to the gates of P-channel transistor 6 and N-channel transistor 10, respectively. 6 and 10 are operated as constant current sources.

定電流トランジスタ6は、容量7と電源間に直列に接続
されている。他方定電流トランジスタ10は、2コのダ
イオード9と電源間に直列に接続されている。Nチャン
ネルトランジスタ8は容量7を放電する放電スイッチで
ある。また電圧比較器13の十入力にはダイオード9の
端子電圧12が、−人力には、容量7の端子電圧11が
それぞれ印加されている。以上の構成の回路動作を説明
する。
Constant current transistor 6 is connected in series between capacitor 7 and power supply. On the other hand, the constant current transistor 10 is connected in series between the two diodes 9 and the power supply. N-channel transistor 8 is a discharge switch that discharges capacitor 7. Further, the terminal voltage 12 of the diode 9 is applied to the 10 input of the voltage comparator 13, and the terminal voltage 11 of the capacitor 7 is applied to the - input. The circuit operation of the above configuration will be explained.

今時側1=0で放電トランジスタ8がオフすると、8董
7には、定電流トランジスタ6により、+電荷が除々に
注入され、端子電圧11は次第に上昇する。端子電圧1
1が端子電圧12よりもわずかに大となると電圧比較器
16の出力14は反転する。
When the discharge transistor 8 is turned off when the current side 1=0, a positive charge is gradually injected into the 8-pin 7 by the constant current transistor 6, and the terminal voltage 11 gradually rises. Terminal voltage 1
1 becomes slightly greater than the terminal voltage 12, the output 14 of the voltage comparator 16 is inverted.

この出力14が反転するまでの時間が温度により大幅に
変化する。以下式により説明する。
The time it takes for this output 14 to reverse varies significantly depending on the temperature. This will be explained using the following formula.

定電流トランジスタ6は式(1)で示す定電流よりPを
容量7に供給する。
The constant current transistor 6 supplies P to the capacitor 7 from the constant current shown in equation (1).

より p =Z A 2 ・、・(1)β=μ0°X石 μ:ホールの移動度 QOX:ゲート単位面積当り の容量 り、W:)ランジスタの形状 比 A:バイアス電圧の誤差項 またダイオード9は定電流トランジスターoで鹿動され
る定電圧源として用いられている。
From p = Z A 2 ・,・(1) β = μ0° 9 is used as a constant voltage source driven by a constant current transistor o.

時刻1=0で放電トランジスタ8がオフするので、時刻
t=τでの容量7の端子電圧V(τ)は−1τ v(f)−−H,(工o p d、t −・(2)C:
客足7の容量 今よりPは定電流であるので V(τ)=土よりPτ ・・・(8) となる。さて式(1)においてCOX、/Lは温度に対
して不変であり、μは TO=273°に と表わされる。さらにダイオード1個当りの順方向ドロ
ップ電圧VBは VB(T)=VB(To)−&(T−To) −(5)
k龜2.5常■ と表わされ、バイアス電流の微少な変化に対しては、は
ぼ一定である。また標準的な0MO8工程ではVB値の
バラツキはほとんどない。
Since the discharge transistor 8 is turned off at time 1=0, the terminal voltage V(τ) of the capacitor 7 at time t=τ is −1τ v(f)−−H, (op d, t−・(2 )C:
Since P is a constant current, V(τ) = Pτ (8). Now, in equation (1), COX, /L is unchanged with respect to temperature, and μ is expressed as TO=273°. Furthermore, the forward drop voltage VB per diode is VB (T) = VB (To) - & (T - To) - (5)
It is expressed as k龜2.5normal■, and remains almost constant with respect to minute changes in the bias current. Further, in the standard 0MO8 process, there is almost no variation in VB value.

以上より電圧比較器16の入力電圧11と12とが等し
くなるまでの時間τは、式(3) I (4) I (
5)より=Voa−2VB(T) =VDD−2VB (To)+2&(T−To)・・・
(6) V o o :%源電圧 ・・・(7) となる。式(7)より、温度Tが大きくなるとτは長く
なることがわかる。この様子を図示すると第2図になる
。第2図において、高温では、2vB202は小さくま
た定電流よりr も小さいため、容量の端子電圧203
の立上りは遅<、2VB202を横切るまでの時間が長
く、よって電圧比較器の出力204が反転するまでの時
間が長い。他方低温では、容量の端子電圧206の立上
りは早く、また、2VB205 も大きいため、電圧比
較器の出力207が反転するまでの時間は短い。
From the above, the time τ until the input voltages 11 and 12 of the voltage comparator 16 become equal is expressed by the formula (3) I (4) I (
From 5) = Voa-2VB (T) = VDD-2VB (To) + 2 & (T-To)...
(6) V o o: % source voltage (7). From equation (7), it can be seen that as the temperature T increases, τ becomes longer. This situation is illustrated in Figure 2. In Figure 2, at high temperatures, 2vB202 is small and r is also smaller than the constant current, so the capacitor terminal voltage 203
The rise of <2VB is slow, and it takes a long time to cross 2VB 202, so it takes a long time to invert the output 204 of the voltage comparator. On the other hand, at low temperatures, the terminal voltage 206 of the capacitor rises quickly and 2VB205 is also large, so the time until the output 207 of the voltage comparator is inverted is short.

第6図には、ダイオードの順方向ドロップ電圧VB50
1と定電流よりP2O3の温度特性を示だ。第4図には
、式(γ)で示された時間τ401の温度特性を示した
FIG. 6 shows the forward drop voltage VB50 of the diode.
1 and constant current shows the temperature characteristics of P2O3. FIG. 4 shows the temperature characteristics at time τ401 expressed by equation (γ).

以上述べたように、時間τは温度Tの5/2乗と3/2
乗で変化するため、τの長短が温度の高低を示している
。よって時間τを計測することにより、容易にデジタル
量の温度情報を得ることができる。
As mentioned above, the time τ is the temperature T to the 5/2 power and 3/2
Since it changes by the power of τ, the length of τ indicates the height of the temperature. Therefore, by measuring the time τ, it is possible to easily obtain digital temperature information.

本実施例では、基準電圧VBが温度特性を持っていたが
、温度特性をもたない基準電圧を用いても温度検知は可
能である。この場合時間τは温度Tの372乗で変化す
ることになり、精度は低下する。さて第1図の実施例で
、 In?==I O”A 、 O=10pyとすると、τ
〜10−2秒程度となり、0.1℃程度の温度変化を知
るためには、τをカウントするカウント周波数は数百K
Hz以上が必要となる。
In this embodiment, the reference voltage VB has temperature characteristics, but temperature detection is also possible using a reference voltage that does not have temperature characteristics. In this case, the time τ changes as the temperature T to the 372nd power, and the accuracy decreases. Now, in the example shown in Figure 1, In? ==I O”A, O=10py, τ
~10-2 seconds, and in order to know the temperature change of about 0.1℃, the counting frequency for counting τ is several hundred K.
Hz or higher is required.

システムクロック周波数が数百KH2以上であれば問題
ないが、時計用ICの様に32KHz原振周波数では、
精度的に問題が生ずる。対策として工op をさらに小
さくするか、容量0をさらに大きくすることが考えられ
るが、よりr を10→Aよりもさらに小さくすること
は、集積回路上リークの点や、電流値の合わせ込みの点
で難があり、容量Cを大きくすることはパターン面積の
増大になり採用できない。
There is no problem if the system clock frequency is several hundred KH2 or more, but with a 32KHz original frequency like a clock IC,
A problem arises in terms of accuracy. As a countermeasure, it is possible to further reduce op or to increase the capacitance 0, but making r even smaller than 10→A is important in terms of leakage on the integrated circuit and in adjusting the current value. However, increasing the capacitance C increases the pattern area and cannot be adopted.

以上の問題を廻避するための第2の実施例を第5図に示
す。
A second embodiment for avoiding the above problems is shown in FIG.

第5図において定電流トランジスタ6と10には為バイ
アス発生回路501より各々のしきい値電圧が印加され
ている。第1の実施例との相異は、電圧比較器13の出
力14がインバーター21を通して放電トランジスタ8
のゲートに印加されていることである。
In FIG. 5, respective threshold voltages are applied to constant current transistors 6 and 10 from a bias generating circuit 501. In FIG. The difference from the first embodiment is that the output 14 of the voltage comparator 13 is passed through the inverter 21 to the discharge transistor 8.
is applied to the gate of

今電圧比較器16の出力14がLOWの時放電トランジ
スタ8はオンして、容量7は放電される。
Now, when the output 14 of the voltage comparator 16 is LOW, the discharge transistor 8 is turned on and the capacitor 7 is discharged.

すると出力14はHlghとなり、放電トランジスタ8
はオフし、容量7は定電流トランジスタ6により、除々
に充電され端子電圧12と同電圧になれば、出力14は
反転し、容量7は放電される。以上の動作を繰返し、出
力14には、繰返しパルスが得られる。この繰返しパル
スを計数することにより、温度情報を得ることができる
。出力14の繰返しパルスの周波数fは、式(7)より
f=’/。
Then, the output 14 becomes Hlgh, and the discharge transistor 8
is turned off, and the capacitor 7 is gradually charged by the constant current transistor 6, and when the voltage reaches the same voltage as the terminal voltage 12, the output 14 is inverted and the capacitor 7 is discharged. By repeating the above operation, repeated pulses are obtained at the output 14. By counting these repeated pulses, temperature information can be obtained. The frequency f of the repetitive pulse of the output 14 is f='/ from equation (7).

であり、fは温度Tの−72乗と一3/2乗に比例する
。従って第6図に示す様に、高温では繰返しパルス60
1の周波数fは小さく、低温では繰返しパルス602の
周波数fは大きくなる。
, and f is proportional to the temperature T to the -72nd power and the 13/2th power. Therefore, as shown in FIG.
The frequency f of 1 is small, and the frequency f of the repetitive pulse 602 becomes large at low temperatures.

以上CMOSで本発明を実施した実施例で説明したが、
第7図に示すようにPチャンネルとNチャンネル両トラ
ンジスタを交換しても4;4成可能である。さらに基準
電圧源としてはダイオードに限らず、例えばしきい値電
圧の差を用いてもよいし、その他、温度特性をもつもの
やもたない定電圧源でありでもかまわない。
The above was explained using an example in which the present invention was implemented in CMOS.
As shown in FIG. 7, even if both the P-channel and N-channel transistors are replaced, a 4:4 configuration is possible. Furthermore, the reference voltage source is not limited to a diode; for example, a difference in threshold voltage may be used, or a constant voltage source with or without temperature characteristics may be used.

〔効果〕〔effect〕

以上述べた様に、本発明によれば、小パターン面積で、
デジタル処理が容量な温度↑a報を得ることができる。
As described above, according to the present invention, with a small pattern area,
Digital processing allows you to obtain high-capacity temperature ↑a information.

上記デジタル処理は、電圧比較器の出力が反転するまで
の時間を計時してもよいし、電圧比較器の出力の繰返し
周波数を計測してもよいので、実際の使用に際し自由度
があり、その適用範囲は広い。また定電流値の合わせ込
みが必要ではあるが、定電流トランジスタのサイズ選択
で行なえるので、特別困難ではない。
The above digital processing can be used to measure the time until the output of the voltage comparator is reversed or to measure the repetition frequency of the output of the voltage comparator, so there is a degree of freedom in actual use. The scope of application is wide. Further, although it is necessary to adjust the constant current value, it is not particularly difficult because it can be done by selecting the size of the constant current transistor.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1の実施例を示した図5・・・・・
・バイアス発生回路 16・・・トランジスタ6のバイアス 17・・・トランジスタ10のバイアス15・・・放電
トランジスタ8の電極 第2図(α)、Cb)は第1図の回路の動作タイミング
図 ・ 201・・・放電トランジスタのゲート電位第6図は定
電流、定電圧の温度特性間 第・4図は電圧比較器が反転するまでの時間の温間特性
図 第5図は本発明の第2の実施例を示した図501・・・
バイアス発生回路 第6図(a)、(iは第5図の@鮎の動作タイミング図 第7図は本発明の第3の実施例を示した図701・・・
バイアス発生回路 702・・・容 量 705・・・放電トランジスタ 704・・・定電流トランジスタ 705・・・定電流トランジスタ 706・・・ダイオード群 707・・・電圧比較器 708・・・容量端子電圧 709・・・ダイオード群端子電圧 710−・・放電トランジスタ電極 □711・・・電
圧比較器出力 以上 出願人 株式会社諏訪精工舎 代理人 弁理士 最上 務 第1図 第2図 第3図 1度 第4図 第5図 第6図 第7図
Fig. 1 shows the first embodiment of the present invention. Fig. 5...
・Bias generation circuit 16...bias 17 of transistor 6...bias 15 of transistor 10...electrode of discharge transistor 8 FIG. 2 (α), Cb) is an operation timing diagram of the circuit in FIG. 1 ・201 ...The gate potential of the discharge transistor Fig. 6 shows the temperature characteristics of constant current and constant voltage. Fig. 4 shows the warm characteristics of the time until the voltage comparator is reversed. Fig. 5 shows the temperature characteristics of the second embodiment of the present invention. Diagram 501 showing an example...
Bias generation circuit Fig. 6 (a), (i is the operation timing diagram of @Ayu in Fig. 5) Fig. 7 is a diagram 701 showing the third embodiment of the present invention...
Bias generation circuit 702... Capacitor 705... Discharge transistor 704... Constant current transistor 705... Constant current transistor 706... Diode group 707... Voltage comparator 708... Capacitor terminal voltage 709 ...Diode group terminal voltage 710--Discharge transistor electrode □711...More than voltage comparator output Applicant Suwa Seikosha Co., Ltd. Agent Patent attorney Tsutomu Mogami Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 1 Degree 4 Figure 5 Figure 6 Figure 7

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (リ 定電流源と容量とが電源間に直列に接続され、 前記容量の端子電圧と、基準電圧とを比較する比較器を
有する構成で、 t’+tJ記定電流源は、温度と供にその冗電流値が変
化することを特徴とする温度検知回路。 (2) 基準′1t1.圧の電圧値が温度と供に変化す
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の温度検
知回路。 (3ン 放電スイッチが比較結果により開閉することを
特徴とする特許請求の範囲第1項もピ載の温度検知回路
[Scope of Claims] (Li) A constant current source and a capacitor are connected in series between power supplies, and a current source with a constant current source of t'+tJ is provided, comprising a comparator that compares a terminal voltage of the capacitor with a reference voltage. is a temperature detection circuit characterized in that its redundant current value changes with temperature. (2) Claim 1 characterized in that the voltage value of reference '1t1.pressure changes with temperature. The temperature detection circuit according to claim 1. (3) The temperature detection circuit according to claim 1, characterized in that the discharge switch opens and closes depending on the comparison result.
JP5910384A 1984-03-27 1984-03-27 Temperature detecting circuit Pending JPS60202321A (en)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO1999061873A1 (en) * 1998-05-28 1999-12-02 Microchip Technology Incorporated A precision temperature sensor integrated circuit
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