JPS60185168A - 周波数比較器 - Google Patents

周波数比較器

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JPS60185168A
JPS60185168A JP4015984A JP4015984A JPS60185168A JP S60185168 A JPS60185168 A JP S60185168A JP 4015984 A JP4015984 A JP 4015984A JP 4015984 A JP4015984 A JP 4015984A JP S60185168 A JPS60185168 A JP S60185168A
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JP
Japan
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frequency
pll
conversion circuit
frequency conversion
converter circuit
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JP4015984A
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Toshio Hashi
橋 利雄
Takayuki Okino
沖野 孝之
Akio Morimoto
昭雄 森本
Kazuharu Chiba
千葉 一治
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (5)発明の技術分野 不発明は、周波数比較器、特に位相ロックド・ループ回
路上用いた周波数変換回路とミキサと2M−y″る差周
波数拡大器が複数段カスケードに接続されてs成される
周波数比較器において、初段の周波数変換回路中の位相
ロックド・ループ回路におけるループ帯域を第2段以降
の周波数変換回路におけるループ帯域よりも狭(設定し
、例えば1O−9ないし1 o−12程度の周波数確度
tチェックできるようにした周波数比較器に関するもの
である。
03)技術の背景と問題点 例えば、高安定水晶発振器やルビジウム原子発振器やセ
シウム原子発振器などの超重安定周波数標準器において
は、10=ないし1 g−12程度の周波数確度r保証
することか必要である。このためにそのような極めて微
小な周波数偏差r短時間にかつ正確に測定することが必
要となる。
このような周波数偏差を測定するに当っては、2つの周
波数の差周波数を取出して測定することとなるが、僅か
な周波数の差を拡大した形で検出する手段として第1因
に示す如ぎ構成音もっ差周波数拡大器が知らtている。
m1図において、lは周波数に換回路であって位相ロッ
クド會ループ回路(以下PLLと略丁ン勿有するもの、
2はミキサ、f、+Δfは測定対象周波数、foは基準
周波数、fxlは変換波周波数、fblはミキサ後周波
数に戒わしている。
図において、周波数変換回路1の変換率kNs/N2と
すると、ミキサ後周波数fbtはで衣わされる。今例え
ば f□ = 5 (MHz 〕 Δfミ10(&) Nl / N2 = 249 / 250とすると、ミ
キサ後周波数fb!は となって、測定対象周波数fO+Δfにおける周波数偏
差Δf/foか251倍に拡大さtて検出可能となる。
即ち2 X 10’−”の偏差が略5 X 10−”の
偏差として検出可能となる。
しかし、第1図図示の如き単一の差周波数拡大器のみで
は十分な拡大率會得られないことから、一般には第2図
図示の如く2段接続した構成が用いられる。
第2図において、符号”p 2y fo、fo+Δf。
fxl t fbtは第1図に対応し、3は周波数変換
回路(変換率Ns)であってPLL葡もつもの、4はミ
キサ、fX2は変換波周波数、fbzはミキサ後周波数
?表わしている。この場合におけるミキサ後周波数fb
2は で我わされる。そして例えば 16 = 5 (M Hz 〕 Δf = 10−’ (Hz ] N1/ N2 = 249 / 25ONs = 25
1 とすると、ミキサ後周波数fbzは となって、略6.25X10’倍に拡大されて検出可能
となる。換言すると、2 X 10”−10の偏差が略
1、2 X 1 (1”の偏差に拡大して検出可能とな
る。
上述の如き構成によって周波数偏差を拡大して検出する
ことが可能となるが、実際には上述の周波数変換回路l
や3においてPLL′t−用いており、測定精度は、P
LLの同期性やPL、L円雑背などの影響r受は易い。
即ち、上述の構成の場合には、入力の周波数の差分につ
いて拡大されるが、周波数のランダムな「ゆらぎ」も拡
大されるために、PLL内雑音による周波数ゆらぎr防
止するこ−とが望まわる。
Ic) 発明の目的と構成 本発明は上記の点にM決すること?目的としており、不
発明の周波数比較器は、位相ロックド・ループ回路ヶ用
いた周波数変換回路と当該周波数変換回路の後段にもう
げられるミキサとr有する差周波数拡大器tそなえj該
差周波数拡大器全複数段カスケードに接続して構成した
周波数比較器において、少な(とも初段の周波数変換回
路中の位相ロックド・ループ回路におけるルーグ帝城〃
S第2段以降の周波数変換回路中の位相ロックド・ルー
プ回路におけるループ帯域よりも狭(設定されているこ
と七特徴としている。以下図面?参照しつつ説明する、 ■)発明の実施例 第3囚は不発明の一笑施例構成盆示す。図中の符号1,
2p 3p 4z foj fo+Δf、fxl、fb
lfx2 y fbzは第2図に対応している。また#
−ロ@智會6,7は夫々フィルタ葡表わしている。
なお図において周波数変換回路Iは恒温槽会同に配置さ
n、高安定かつ低雑音のものとなっている。また商示実
施例の場合には、周波数変換回路1中のPLLにおける
ループ帯域が周波数変換回路3中のPLLKおけるルー
プ帯域に(らべ(狭(設定さn、雑音の発生を抑圧する
ようにして〜・る。筐Fフィルタ6は周波数1f)(x
 fo1g分?r抽出L、フィルタ7は周波数1 fx
z fo I R分を抽出するものである。
第3図図示の周波数変換回路1の変換率【lN−1 2N とし、周波数変換回路3の変換率t N3 = N + 1 とすると、第2図に関連して述べた如(、ミキサ後周波
数fb2は となり、周波数偏差は(N−1) (N+1 )倍に拡
大された形で検出可能となる。
そして、このように構成した周波数比較器における測定
精度は、ミキサ後周波数fb2の周波数ノξワー・スペ
クトル密度5ybz(f)あるいは短期安定度りτ1(
Allan分散の平方根)にもとづいて評価可能である
。第3図図示の場合において、H1iωl、H2(ω)
二層波数変換回路1.3の伝達関数Fl(ω]、F←)
:フィルタ6,7の伝達関数5yi(f) :入力の周
波数パワー・スペクトラム密度Syb〆f):出力の周
波数パワー・スペクトラム密度5yxt(f) :周波
数fX1の周波数パワー・スペクトラム密度Sφa 、
[r+、fφajfl :周波数変換回路1,3の付加
位相雑音とするとき、ミキサ後周波数fb2のパワース
ペクトル密度S、bメf)は、 S、bメfl”N2(N+1り(1+(N−]→21H
I(す+2)1x”ifω1I2syi(fl十N”(
N−1)2(N +1) ”(−) 21 H−+(ω
l l 21F+fω112sφal(flO 十N”(N + 1 ) 2(7,) 21 Hg(ω
l I 2Sφa2(f)+(N−1) (N+1 )
”1l−Ht(ω121F1(ωl l 2Syxx 
(f)+N” Syi (fl □(5) で表わされ、また短期安定度σ、(τ)は、で与えられ
る。上記(5)式において、第2項は周波数変換回路1
によって付加される雑音であシ、第3項は周波数変換回
路3によって付加される雑音であって (第2項)コ(N−1) (第3項) の如き関連がある。また周波数変換回路1の伝達関数H
1(ω)のカットオフ周波数をfClとして、f>fc
lのとぎには (第4項)ごN2(第5項) の如き関連がある。
第3図図示実施例構成の場合には、周波数変換回路1が
恒温槽付電圧制御水晶発振器を使ってお式で与えられる
ミキサ後周波数’b2のパワースペクトル密度5ybz
 (flから4L、−らかな如(、主1該パワースペク
ト/し密度に大さい影響忙与え0周波数に換回路1円の
PLLによる何加雑廿が低減さt、周波数比較器自体の
d1υ定う4度を向上させることが可能となっている。
また周波数変換回路l中の1’LLにおける刀ントオフ
周阪数が周波数変換回路2甲のPLLにおけるカントオ
フ周波数に(らべて低(設定さ7tている。このために
上述のパワースペクトル密度Sy+)z (f)からも
明らかな如(、当該パワースペクトル府度に大きい影響
に与える周波数変換回路1内のPLLにおける雑音【抑
圧していり。このために周波数比較器自体の測定精度r
向上させることがoJ能となっている。なお、PLLの
カントオフ周波数を低く設定すると、それに応じてPL
Lのプルイン−レンジが狭くなり、P L L O)起
動時の動作が不安定となる傾向があるが、この問題はP
LL同の電圧制卸水晶発振器として高安定水晶発振器を
用いることによつ″′C解決さnる。
田)発肋の効果 以上説明した如く、不発明によれば、10(1秒向の閉
廷でi X 1 (1−”程度の周波数比較4’rW反
r得ΦことがE、]北どなった。
【図面の簡単な説明】
第1図および第21!*は夫々:4−、発明の前提とさ
れに壬h’J波数拡大器の原理図を示す。 ;43図は不発明の周波数比較器の一実施例を示す。 図中、l、3は夫々周波数変換回路、2,4は夫々ミキ
サ、働喝*a憧警6,7は夫々フィルタ′a−我わ丁、 特許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 森 1) 寛 (外1名ン ブ 2 図 t 3 図 (N+−1)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 位相ロックド・ループを用いた周波数変換回路と当該周
    波数変換回路の後段にもうけられるミキサと1r、7に
    する差周波数拡大器をそなえ、当該差周波数拡大器を複
    数段カスケードに接続して構成した周波数比較器におい
    て、少なくとも初段の周波数変換回路中の位相ロックド
    ・ループ回路におけるループ帯域が第2段以降の周波数
    変換回路中の位相ロックド拳ループ回路におけるループ
    帯域よりも狭(設定さnていること七特徴とする周波数
    比較器。
JP4015984A 1984-03-02 1984-03-02 周波数比較器 Granted JPS60185168A (ja)

Priority Applications (1)

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JP4015984A JPS60185168A (ja) 1984-03-02 1984-03-02 周波数比較器

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JP4015984A JPS60185168A (ja) 1984-03-02 1984-03-02 周波数比較器

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JPS60185168A true JPS60185168A (ja) 1985-09-20
JPH0460225B2 JPH0460225B2 (ja) 1992-09-25

Family

ID=12572980

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013219771A (ja) * 2012-04-11 2013-10-24 Freescale Semiconductor Inc 測定を行う回路及び方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5337472A (en) * 1976-09-18 1978-04-06 Oki Electric Ind Co Ltd Frequency comparator

Patent Citations (1)

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JPS5337472A (en) * 1976-09-18 1978-04-06 Oki Electric Ind Co Ltd Frequency comparator

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JP2013219771A (ja) * 2012-04-11 2013-10-24 Freescale Semiconductor Inc 測定を行う回路及び方法

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JPH0460225B2 (ja) 1992-09-25

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