JPS60178308A - Digital display type length measuring system - Google Patents

Digital display type length measuring system

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Publication number
JPS60178308A
JPS60178308A JP3357784A JP3357784A JPS60178308A JP S60178308 A JPS60178308 A JP S60178308A JP 3357784 A JP3357784 A JP 3357784A JP 3357784 A JP3357784 A JP 3357784A JP S60178308 A JPS60178308 A JP S60178308A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
key
length measurement
control
length
Prior art date
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Pending
Application number
JP3357784A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Nishimura
武司 西村
Hiroshi Koizumi
博 小泉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd filed Critical Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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Priority to US06/702,511 priority patent/US4736313A/en
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Priority to DE19853506306 priority patent/DE3506306A1/en
Publication of JPS60178308A publication Critical patent/JPS60178308A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/18Micrometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

PURPOSE:To avoid computation errors and to improve working efficiency, by directly processing the output data of a length measuring means by a data processing means including a table preparing device. CONSTITUTION:A digital display type length measuring system is composed of micrometers 1A and 1B as two length measuring means and a data processing device 2 as a data processing means, which sequentially receives the measured length data from the micrometers 1A and 1B and obtains the quality control data and the like from the received measured length data. The data processing device 2 obtains the quality control data such as average values and ranges from the output data from the micrometers 1A and 1B. On a printer 33 as a table preparing device, the sets of the data are displayed in the feeding direction of paper and the control data are displayed in the crossing direction with said feeding direction.

Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野J 本発明は、品質管理データ作成機能を備えたデジタル表
示型測長システムに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field J] The present invention relates to a digital display type length measurement system equipped with a quality control data creation function.

[背景技術] 一般に、ノギス、マイクロメータ、ダイヤルゲージ等の
、いわゆる直読型測長器は全ての産業分野で利用され、
また高精度および読取容易の優位性から本体に光学式或
いは静電式等のエンコーダを設け、測長結果をデジタル
表示器やCRT等によってデジタル表示できるようにし
た、いわゆるデジタル表示型測長器も益々普及しつつあ
る。
[Background Art] In general, so-called direct-reading length measuring devices such as calipers, micrometers, and dial gauges are used in all industrial fields.
In addition, there are also so-called digital display type length measuring devices, which have an optical or electrostatic encoder installed in the main body and can display the measurement results digitally on a digital display or CRT. It is becoming more and more popular.

従来、直読型やデジタル表示型のいずれにおいても、検
査員が測定結果をノートに記録するものであるため、こ
れを品質管理データとするためには、電卓を用いて手計
算或いはコンピュータで処理していた。
Traditionally, with both direct reading and digital display types, inspectors record measurement results in notebooks, so in order to use this as quality control data, they must be calculated manually using a calculator or processed on a computer. was.

従って、いずれの場合にも、計算ミスの発生がある程度
避られず計算結果の信頼性が低かった。
Therefore, in either case, the occurrence of calculation errors was inevitable to some extent, and the reliability of the calculation results was low.

また、前者にあっては、計算ミスが生じる上、極めて作
業能率が悪く、特に検査員毎に個人誤差が生じやすい。
Furthermore, in the former case, calculation errors occur, work efficiency is extremely low, and individual errors are particularly likely to occur among inspectors.

一方、後者にあっては、■入力ミスが生じやすい、■他
の処理をも行なう大型コンピュータのため、現物近傍で
結果確認ができず、他の処理が完了するまでまたなけれ
ばならない、■他面、品質管理データ処理中は他の処理
を犠牲にしなければならない、というような多くの問題
があった。
On the other hand, in the latter case, ■ input errors are likely to occur; ■ because it is a large computer that also performs other processes, the results cannot be checked near the actual product, and you have to wait until other processes are completed; ■ etc. On the other hand, there were many problems such as having to sacrifice other processing while processing quality control data.

これを解消するものとして、デジタル表示型測定器に演
算機能やプリンタを一体的に収納させることも考えられ
なくもないが、これでは測定器自体が大型となり被測定
物に対する測長作業が困難となる。また、電源電池寿命
も短く実用性に欠け、更に実働できる機能が制限される
結果、このような測定器は出現していないのが実状であ
る。
As a solution to this problem, it is possible to integrate the calculation function and printer into a digital display measuring instrument, but this would make the measuring instrument itself large and make it difficult to measure the length of the object being measured. Become. In addition, the battery life of the power source is short, which makes it impractical, and furthermore, the functions that can be used are limited, and as a result, such a measuring device has not yet appeared.

[発明の目的] ここにおいて、本発明の目的は、測長値データを転記す
ることなく、測長値データをそのまま入力として品質管
理データを演算できるようにするとともに、この入力デ
ータから管理図を作成する際、データの組およびサンプ
リング数の不定性に鑑み、作表装置の用紙送り方向にデ
ータの組を表示させるようにしたデジタル表示型測長シ
ステムを提供することにある。
[Object of the Invention] Here, the object of the present invention is to be able to calculate quality control data by inputting measurement value data as is without transcribing the measurement value data, and to create a control chart from this input data. It is an object of the present invention to provide a digital display type length measurement system that displays a data set in the sheet feeding direction of a tabulation device, taking into account the uncertainty of the data set and the number of samples when creating the data.

[発明の構成] そのため、本発明では、被測定物に当接されるスピンド
ル等、このスピンドル等の移動変位量を電気信号として
検出するエンコーダおよびこのエンコーダからの出力信
号をデジタル表示するデジタル表示器を含む測長手段と
、この測長手段の出力データから平均値(’5F)や範
囲(RまたはS)等の品質管理データをめる演算回路お
よび管理図の作成機能を有する作表装置を含むデータ処
理手段とからなり、前記作表装置は、用紙の送り方向に
データの組を表示させ、かつこれと直交方向に管理デー
タを表示して管理図を作成するように構成されているこ
とを特徴としている。
[Structure of the Invention] Therefore, the present invention provides an encoder that detects the amount of movement displacement of a spindle or the like that comes into contact with an object to be measured as an electrical signal, and a digital display that digitally displays the output signal from this encoder. A length measuring means including a length measuring means, an arithmetic circuit that records quality control data such as an average value ('5F) and a range (R or S) from the output data of this length measuring means, and a tabulation device having a control chart creation function. the tabulation device is configured to display a set of data in the paper feed direction and display management data in a direction orthogonal thereto to create a control chart; It is characterized by

[実施例] 第1図は本実施例のデジタル表示型測長システムの外観
を示している。同システムは、複数本実施例では2台の
測長手段としてのマイクロメータIA、IBと、この各
マイクロメータIA、IBによって測定された測長値デ
ータを順次取込み、この取込んだ測長値データから品質
管理データ等をめるデータ処理手段としてのデータ処理
装置2とから構成されている。ここで、各マイクロメー
タIA、1Bとデータ処理装置2とは、それぞれ別々の
筐体に収納され、かつ信号伝送ケーブル3を介して互い
に情報交換可能に接続されている。
[Example] FIG. 1 shows the appearance of a digital display type length measuring system according to this example. In this embodiment, the system sequentially imports the length measurement data measured by two micrometers IA and IB as length measuring means and the micrometers IA and IB. It is comprised of a data processing device 2 as a data processing means for generating quality control data and the like from the data. Here, each of the micrometers IA, 1B and the data processing device 2 are housed in separate housings, and are connected to each other via a signal transmission cable 3 so as to be able to exchange information.

前記各マイクロメータIA、IBは、U字状フレーム1
1を有する。U字状フレーム11には、その一端にアン
ビル12が、他端にシンプル13の回動操作によってア
ンビル12に対して進退しその間に被測定物を挟持する
スピンドル14がそれぞれ設けられているとともに、U
字状フレーム11の正面前記スピンドル14偏にスピン
ドル14の移動変位量つまり被測定物の寸法をデジタル
表示するためのデジタル表示器15および各種の操作ス
イッチ16がそれぞれ配設されている。ここでは、操作
スイッチ16として、電源スイッチ16A、零クリアス
イッチ16B、ホールドスイッチ16Cの3種が設けら
れている。
Each of the micrometers IA and IB has a U-shaped frame 1.
1. The U-shaped frame 11 is provided with an anvil 12 at one end and a spindle 14 at the other end that moves forward and backward with respect to the anvil 12 by rotating the simple 13 and holds the object to be measured between them. U
A digital display 15 for digitally displaying the amount of displacement of the spindle 14, that is, the dimensions of the object to be measured, and various operation switches 16 are respectively disposed on the front side of the character-shaped frame 11 toward the spindle 14. Here, three types of operation switches 16 are provided: a power switch 16A, a zero clear switch 16B, and a hold switch 16C.

また、U字状フレーム11の内部には、第2図に示す如
く、前記スピンドル14の移動変位量を電気信号として
検出し、それを前記デジタル表示器15にデジタル表示
させるエンコーダ21と。
Further, inside the U-shaped frame 11, as shown in FIG. 2, there is an encoder 21 that detects the amount of displacement of the spindle 14 as an electric signal and displays it digitally on the digital display 15.

このエンコーダ21からの各種信号をBCDコード化信
号に変換し前記信号伝送ケーブル3を通じて前記データ
処理装置2へ出力する出力回路22と、前記電源スィッ
チ16Aのオンにより前記エンコーダ21に電力を供給
する電池等からなる電llA29とがそれぞれ設けられ
ている。
An output circuit 22 converts various signals from the encoder 21 into BCD coded signals and outputs the signals to the data processing device 2 through the signal transmission cable 3, and a battery supplies power to the encoder 21 when the power switch 16A is turned on. 11A29 and the like are respectively provided.

前記エンコーダ21は、前記スピンドル14の外周長手
方向シこ沿って設けられたメインスケール23と、この
メインスケール23に対向配置されたインデックススケ
ール24と、このインデックススケール24を通じてメ
インスケール23に光を照射する発光素子25と、メイ
ンスケール23からの反射光をインデックススケール2
4を介して受光する受光素子26と、この受光素子26
からの信号を所定処理、例えば受光素子26で受光され
た正弦波の信号を矩形波に成形する波形整形処理、分割
処理、方向判別処理、表示単位換算処理等する信号処理
回路27と、この信号処理回路27からの出力をカウン
トしそのカウント数つまり前記スピンドル14の移動変
位量を前記デジタル表示器15へ表示させるカウンタ2
8とから構成されている。
The encoder 21 includes a main scale 23 provided along the outer periphery of the spindle 14 in the longitudinal direction, an index scale 24 disposed opposite to the main scale 23, and irradiates light onto the main scale 23 through the index scale 24. The reflected light from the light emitting element 25 and the main scale 23 is reflected by the index scale 2.
A light receiving element 26 that receives light through 4, and this light receiving element 26
A signal processing circuit 27 that performs predetermined processing on the signal from the light receiving element 26, such as waveform shaping processing that shapes the sine wave signal received by the light receiving element 26 into a rectangular wave, division processing, direction discrimination processing, display unit conversion processing, etc.; a counter 2 that counts the output from the processing circuit 27 and displays the counted number, that is, the displacement amount of the spindle 14 on the digital display 15;
It consists of 8.

また、前記出力回路22は、前記エンコーダ21や操作
スイッチ16の操作に基づく各種情報。
Further, the output circuit 22 outputs various information based on the operation of the encoder 21 and the operation switch 16.

つまり測長モード情報、測長値情報、符号情報、小数点
位置情報および測長単位情報を、前記データ処理装置2
からのデータ取込指令に従ってBCDコードに変換し、
それをデータ処理装置2からのクロックパルスに同期し
てビア)シリアルで出力させる。前記データは、第3図
に示す如く、lデジット4ビツトの13デジイツトd+
−d’oで構成され、かつd+の2°から順にdoの2
3までビットシリアルで出力される。フォーマット的に
は、d I” d 4に測長値の種別を特定する測長モ
ード識別コードが、d5に測長値の増減方向を特定する
符合コードが、d6〜d 11に測長値が、d12に測
長値に付加される小数点の位置を特定する小数点位置指
定コードが、doに単位および合否判定コードがそれぞ
れセットされる。
That is, length measurement mode information, length measurement value information, code information, decimal point position information, and length measurement unit information are transmitted to the data processing device 2.
Convert to BCD code according to the data import command from
It is output via serial in synchronization with the clock pulse from the data processing device 2. The data is 13 digits d+ of l digit 4 bits, as shown in FIG.
-d'o, and 2 degrees of do in order from 2 degrees of d+.
Up to 3 bits are output in bit serial format. In terms of format, dI" d4 is the length measurement mode identification code that specifies the type of length measurement value, d5 is the code code that specifies the direction of increase/decrease of the length measurement value, and d6 to d11 are the length measurement values. , d12 are set to a decimal point position designation code for specifying the position of the decimal point to be added to the measured length value, and do is set to a unit and pass/fail determination code, respectively.

ここで、前記測長モード識別コードは、前記マイクロメ
ータI A 、 、I Bのような通常測長値の場合“
’ F F F F ”であるが、最大値ホールド機能
がある測長器における最大ホールド値の場合°“6FF
 F ”に、最小値ホールド機能がある測長器における
最小ホールド値の場合” 7 F F F ”に、それ
ぞれセットされる。また、符合コードは、十の場合” 
o ”に、−の場合“8パにそれぞれセットされる。ま
た、小数点位置指定コードは、小数点位置が測長値の最
小桁から上位桁へ移行するに応じて0″〜“5°”にセ
ットされる。更に、単位および合否判定コードは、ミリ
単位、インチ単位、各単位毎の合否判定データに応じて
“0°°〜゛7′°にセットされる。例えば、通常の測
長値−210,768(mm)では第4図(A)のよう
に、通常の測長値2.0199 (インチ)では第4図
(B)のように、それぞれ変換される。
Here, the length measurement mode identification code is "in the case of normal length measurement values such as the micrometers IA, , IB".
'F F F
F" is set to "7" for the minimum hold value of a length measuring instrument with a minimum value hold function. In addition, the code code is set to "7" for the minimum hold value of a length measuring device with a minimum value hold function.
o”, and in the case of -, “8pa”. In addition, the decimal point position designation code is set to 0" to "5°" as the decimal point moves from the smallest digit of the measured length value to the higher digit. Furthermore, the unit and pass/fail judgment code are set in millimeters, It is set in inch units and in accordance with the pass/fail judgment data for each unit from 0°° to 7'°. For example, a normal measurement value of -210,768 (mm) is converted as shown in Figure 4 (A), and a normal measurement value of 2.0199 (inch) is converted as shown in Figure 4 (B). Ru.

一方、前記データ処理装置2は、第5図に示す如く、前
記各マイクロメータIA、IBの出力回路22から信号
伝送ケーブル3を介して伝送されてきた信号を受信する
入力回路31と、この入力回路31で受信されたデータ
を予め定められた手順に従って処理し品質管理データを
める演算回路32と、この演算回路32からのデータを
プリントおよび表示する作表装置としてのプリンタ33
およびデジタル表示器34と、キーボード35と、この
キーボード35からの指令に基づき前記演算回路32を
所定の手順に従って動作させる制御回路36とから構成
されている。
On the other hand, as shown in FIG. 5, the data processing device 2 includes an input circuit 31 that receives signals transmitted via the signal transmission cable 3 from the output circuits 22 of the micrometers IA and IB, and An arithmetic circuit 32 that processes the data received by the circuit 31 according to a predetermined procedure and records quality control data, and a printer 33 as a tabulation device that prints and displays the data from the arithmetic circuit 32.
It also includes a digital display 34, a keyboard 35, and a control circuit 36 that operates the arithmetic circuit 32 according to a predetermined procedure based on commands from the keyboard 35.

前記キーボード35には、第6図に示す如く、前記マイ
クロメータIA、IBのいずれかを選択する測定器選択
スイッチ40、「A」〜rDJまでのプリント選択キー
41、「×」「÷」「+」「−」からなる演算キー42
、「0」〜「9」までのテンキー43、各種のファンク
ションキー44のほかに、前記プリント選択キー41の
各「A」〜rDJキーに対応して4つのプリントデータ
表示ランプ45A〜45Dおよび前記ファンクションキ
ー44のrLIMIT Jキーに対応して限界値設定表
示ランプ46がそれぞれ配設されている。
As shown in FIG. 6, the keyboard 35 includes a measuring device selection switch 40 for selecting either the micrometer IA or IB, print selection keys 41 from "A" to rDJ, "x", "÷", " Arithmetic key 42 consisting of + and -
, a numeric keypad 43 from "0" to "9", and various function keys 44, as well as four print data display lamps 45A to 45D corresponding to each of the "A" to rDJ keys of the print selection key 41 and the Limit value setting display lamps 46 are provided corresponding to the rLIMIT J key of the function keys 44, respectively.

ここで、前記プリント選択キー41のうち、rAJキー
が押されると、プリントデータ表示ランプ45Aが点灯
され、かっ測長値データのプリントが除外されるように
なっている。また、「B」キーが押されると、プリント
データ表示ランプ45Bが点灯され、かつ測長値データ
からめられる統計結果データのプリントが除外されるよ
うになっている。また、rCJキーが押されると、プリ
ントデータ表示ランプ45Cが点灯され、かつ測長値デ
ータから作成されるヒストグラムデータのプリントが除
外されるようになっている。また、「D」キーが押され
ると、プリントデータ表示ランプ45Dが点灯され、か
つ測長値デ−タからめられる不良率FRA 、口や工程
能力指数C1Pデータのプリントが除外されるようにな
っている。一方、前記ファンクションキ〜44としては
、オールクリアキーrAcJ 、プリセットキーr P
SETJ 、イニシャルキーr INITJ 、リミ・
ントキ−rLIMIT J 、フィードキーr FEE
OJ 、作表キーr++c」、データ取込キーrIIA
TAJ 、プリントキーrPRINT J 、キャンセ
ルキーrCEJ 、パスキーr PASSJ 、メモリ
ーセットキーr MSETJ 、ロードキーr LOA
DJ 、小数点設定キー 「φ」 、符合変換キーr 
+ / −」等がそれぞれ配設されている。
Here, when the rAJ key of the print selection keys 41 is pressed, the print data display lamp 45A is lit, and printing of the length measurement value data is excluded. Further, when the "B" key is pressed, the print data display lamp 45B is lit, and printing of statistical result data determined from the length measurement value data is excluded. Furthermore, when the rCJ key is pressed, the print data display lamp 45C is lit, and printing of histogram data created from length measurement value data is excluded. Furthermore, when the "D" key is pressed, the print data display lamp 45D lights up, and the print of the defective rate FRA determined from the length measurement value data, and the process capability index C1P data is excluded. There is. On the other hand, the function keys to 44 include an all clear key rAcJ and a preset key rP.
SETJ, initial key r INITJ, Rimi・
ENT key r LIMIT J, feed key r FEE
OJ, tabulation key r++c'', data import key rIIA
TAJ, print key rPRINT J, cancel key rCEJ, pass key r PASSJ, memory set key r MSETJ, load key r LOA
DJ, decimal point setting key “φ”, sign conversion key r
+/-" etc. are arranged respectively.

また、前記制御回路36は、内部に前記キーボード35
からの設定データや前記各マイクロメータIA、IBか
ら転送されてきた測長値データ等を記憶する記憶部51
を備え、かつキーボード35からの指令に従ってマイク
ロメータlA、IBで測定された測長値データを順法取
込んだ後、予め定められた手順に従ってそれらの測長値
データから品質管理データをめ、その結果をプリンタ3
3へ出力させるようになっている。前記記憶部51には
、第7rI!Jに示す如く、各マイクロメータA、1B
毎に設定データ記憶エリア52A、52B、測長値デー
タ記憶エリア53A、53B、演算データ記憶エリア5
4A、54Bおよび管理図データ記憶エリア55A、5
5Bがそれぞれ割り付けられている。前記各設定データ
記憶エリア52A、52Bには、日付、測定者NO1部
品NO1装置NO、サンプリング数N、第1の上下限値
(通常は許容寸法の上下限値)HH,LL、この第1の
上下限値HH、LLよりも許容寸法内に設定される第2
の上下限値H,L、第1の上下限値HH,LL間の範囲
を等分する分割数Nd、この分割数N−dによって等分
された分割区分Ndj等がそれぞれ任意に設定記憶され
るようになっている。また、各測長値データ記憶エリア
53A、53Bには、各マイクロメータIA、IBから
データ処理装置2内に取込まれる1〜1000までの測
長値データが順次記憶されるようになっている。また、
各演算データ記憶エリア54A、54Bには、データ処
理装置2へ取込まれた測長値データDiのデータ数i、
測長値データDiが属する各分割区分Ndj毎の度数F
jのほかに、前記演算回路32によって演算された結果
、例えば平均値データ天、振れ輻R1標準偏差S、D 
、不良率FR^、D、工程能力指数C0P等がそれぞれ
記憶されるようになっている。更に、各管理図データ記
憶エリア55A、55Bには、前記演算回路32によっ
てめられた平均値デー′りxkおよび振れ幅Rkが組N
oを付されて順次転送記憶されるようになっている。
The control circuit 36 also includes the keyboard 35 inside.
A storage section 51 that stores setting data from the micrometers IA and IB, and length measurement value data transferred from each of the micrometers IA and IB.
, and after legally importing the length measurement data measured by the micrometers IA and IB according to commands from the keyboard 35, obtaining quality control data from the length measurement data according to a predetermined procedure, Print the result to printer 3.
It is configured to output to 3. The storage unit 51 stores the seventh rI! As shown in J, each micrometer A, 1B
Setting data storage area 52A, 52B, measurement value data storage area 53A, 53B, calculation data storage area 5
4A, 54B and control chart data storage areas 55A, 5
5B is allocated to each. Each of the setting data storage areas 52A and 52B contains the date, measurer number, part number, device number, sampling number N, first upper and lower limit values (usually upper and lower limits of allowable dimensions) HH, LL, and this first The second value is set within the allowable dimensions than the upper and lower limits HH and LL.
The upper and lower limits H and L, the number of divisions Nd that equally divides the range between the first upper and lower limits HH and LL, the division division Ndj equally divided by this number of divisions N-d, etc. are arbitrarily set and stored. It has become so. Further, length measurement value data from 1 to 1000 taken into the data processing device 2 from each micrometer IA and IB is sequentially stored in each length measurement value data storage area 53A, 53B. . Also,
Each calculation data storage area 54A, 54B stores the data number i of length measurement value data Di taken into the data processing device 2,
Frequency F for each division Ndj to which the length measurement value data Di belongs
In addition to j, the results calculated by the calculation circuit 32, for example, the average value data, runout R1 standard deviation S, D
, defective rate FR^, D, process capability index C0P, etc. are stored respectively. Further, each control chart data storage area 55A, 55B stores a set N of average value data xk and amplitude Rk determined by the arithmetic circuit 32.
They are marked with o and are transferred and stored sequentially.

次に、本実施例の作用を説明する。測定に当って、はじ
めに設定作業を行なう、設定作業では、まず測定器選択
スイッチ40によりいずれかのマイクロメータIA、I
B、例えばマイクロメータ1−Aを選択した後、第8図
に示す如くファンクションキー44のイニシャルキーr
 INITJ 、ロードキー「LO^D」および小数点
設定キー「・」とテンキー43とにより年、月、日等の
日付データを、テンキー43とロードキーr LOAD
Jとにより測定者NO1部品NO1装置NOおよびサン
プリング数Nを、テンキー43とリミットキーrLIM
rT」およびロードキーr LOADJとにより第1.
2の上下限値HH、LL 、 H、Lおよび第1の上下
限値HH,LL間を等分する分割数Ndを順次入力する
と、それらのデータは、測定器選択スイッチ40により
選択された制御回路36の設定データ記憶エリア52A
に記憶され、かつプリンタ33で順次プリントアウトさ
れる。この際、分割数Ndのプリント後、第1の上下限
値HH,LLnnの範囲を分割数Ndで割った値、つま
り1分割区分Ndjの階級幅がプリントされるとともに
、その各分割区分Ndj毎の範囲が決定される。また、
リミットキーrLIMIT Jの操作により限界値設定
表示ランプ46が点灯される。なお、第1.2の上下限
値HH,LL、H,Lを設定しない場合には、パスキー
r PASSJの操作により次の操作に飛ばすことがで
きる。
Next, the operation of this embodiment will be explained. Before measurement, first perform setting work.In the setting work, first select either micrometer IA or
After selecting B, for example, micrometer 1-A, press the initial key r of the function keys 44 as shown in FIG.
INITJ, use the load key "LO^D", the decimal point setting key "・", and the numeric keypad 43 to input date data such as year, month, day, etc., and the numeric keypad 43 and the load key r LOAD.
Enter the measurer NO.1, part NO.1, device NO., and sampling number N using
rT” and the load key r LOADJ.
When the two upper and lower limit values HH, LL, H, L and the division number Nd for equally dividing the first upper and lower limit values HH, LL are input in sequence, those data are transferred to the control selected by the measuring device selection switch 40. Setting data storage area 52A of circuit 36
, and are sequentially printed out by the printer 33. At this time, after printing the number of divisions Nd, the value obtained by dividing the range of the first upper and lower limits HH, LLnn by the number of divisions Nd, that is, the class width of one division Ndj, is printed, and for each division Ndj. The range of is determined. Also,
By operating the limit key rLIMIT J, the limit value setting display lamp 46 is lit. Note that if the 1.2 upper and lower limit values HH, LL, H, and L are not set, it is possible to skip to the next operation by operating the pass key r PASSJ.

続いて、プリント選択キー41によりプリント不必要な
データの指定を行なう、この場合、測長値データのプリ
ントを省略するにはrAJキーを、統計結果のプリント
を省略するにはrBJキーを、ヒストグラムのプリント
を省略するにはrCJ −1−−ヲ、不良率FRA、D
 ヤニ程能力指数c、pのプリントを省略するにはr[
lJキーを、それぞれ押す。この際、「A」キーが押さ
れるとプリントデータ表示ランプ45Aが、「B」キー
が押されるとプリントデータ表示ランプ45Bが、「C
」キーが押されるとプリントデータ表示ランプ45Cが
、「DJキーが押されるとプリントデータ表示ランプ4
5Dが、それぞれ点灯される。
Next, use the print selection key 41 to specify data that does not need to be printed.In this case, to omit printing of measurement value data, press the rAJ key, to omit printing of statistical results, press the rBJ key, and press the histogram key. To omit the printing of rCJ -1--wo, defective rate FRA, D
To omit printing of the ability index c and p, use r[
Press the lJ key. At this time, when the "A" key is pressed, the print data display lamp 45A is pressed, and when the "B" key is pressed, the print data display lamp 45B is
” key is pressed, the print data display lamp 45C is pressed, and “DJ key is pressed, the print data display lamp 45C is pressed.
5D are lit respectively.

従って、これらのランプの点灯状況により何のデータの
プリントが省略されるかを確認することができる。
Therefore, it is possible to confirm what data will be omitted from printing based on the lighting conditions of these lamps.

さて、このようにして設定作業が終了した後、マイクロ
メータIAの電源スィッチ16Aをオンすると、エンコ
ーダ21からのデータつまりスピドル14の移動変位量
がデジタル表示器15に表示される。ここで、作業者は
、シンプル13の操作によりスピンドル14を所定位置
、例えばアンビル12に当接する位置まで移動させた状
態において、零クリア−スイッチ16Bをオンさせ、こ
れによりカウンタ28のカウント数を零にクリアーさせ
た後、スピンドル14を被測定物に応じて移動させる。
Now, after the setting work is completed in this manner, when the power switch 16A of the micrometer IA is turned on, the data from the encoder 21, that is, the displacement amount of the spindle 14 is displayed on the digital display 15. Here, the operator operates the simple 13 to move the spindle 14 to a predetermined position, for example, to a position where it contacts the anvil 12, and then turns on the zero clear switch 16B, thereby setting the count number of the counter 28 to zero. After the object is cleared, the spindle 14 is moved according to the object to be measured.

スピンドル14が移動すると、メインスケール23とイ
ンデックススケール24との光学的変化に応じて正弦−
の信号が受光素子26で検出される。受光素子26で検
出された信号は、信号処理回路27で所定処理された後
、カウンタ28でカウントされる。カウンタ28のカウ
ント数、っまリアンビル12からのスピンドル14の移
動量は、デジタル表示器15にデジタル表示される一方
、出力回路22へ与えられる。
When the spindle 14 moves, the sine -
The signal is detected by the light receiving element 26. The signal detected by the light receiving element 26 is subjected to predetermined processing by a signal processing circuit 27 and then counted by a counter 28. The count number of the counter 28 and the amount of movement of the spindle 14 from the backrest 12 are digitally displayed on the digital display 15 and are provided to the output circuit 22.

いま、スピンドル14を移動させ、アンビル12とスピ
ンドル14との間に被測定物を挟んだ状態において、デ
ータ処理装置2のデータ取込キーr DATAJを押す
と、制御回路36では第9図に示すフローチャートに従
って処理が行なわれる。即ち、制御回路36からデータ
取込指令がマイクロメータIAの出力回路22へ与えら
れると、出力回路22において、エンコーダ21から与
えられる各種情報つまり測長モード情報、測長値情報、
符号情報、小数点位置情報、測長単位および合否判定情
報がBCDコード化信号に変換された後、データ処理回
路2からのクロックパルスに同期してデータ処理回路2
ヘビツトシリアルで伝送される。すると、データ処理回
路2において、出力回路22から伝送されてきた測長値
データDiが取込まれ、かつデータ数iが+1カウント
アツプされた後、そのデータ数iがサンプリング数Nに
1を加えた数(N+1)に達したか否かが判断される。
Now, when the spindle 14 is moved and the object to be measured is sandwiched between the anvil 12 and the spindle 14, when the data acquisition key rDATAJ of the data processing device 2 is pressed, the control circuit 36 performs the process shown in FIG. Processing is performed according to the flowchart. That is, when a data acquisition command is given from the control circuit 36 to the output circuit 22 of the micrometer IA, the output circuit 22 receives various information given from the encoder 21, that is, length measurement mode information, length measurement value information,
After the code information, decimal point position information, length measurement unit, and pass/fail determination information are converted into BCD coded signals, the data processing circuit 2
Transmitted via heavy serial. Then, in the data processing circuit 2, the length measurement value data Di transmitted from the output circuit 22 is taken in, and the data number i is counted up by +1, and then the data number i is added to the sampling number N by 1. It is determined whether the number (N+1) has been reached.

ここで、データ処理装置2に取込まれた測長値データD
iのデータ数iが(N+1)に達するまでは、測長値デ
ータDiが分割数Ndによって等分された許容寸法のい
ずれかの分割区分Ndjに属するかが判断され、その測
長値データDiが属する分割区分Ndjと対応する度数
Fjが+1カウントアツプされた後、第1の上下限値H
H、LLおよび第2の上下限値H,Lがセットされてい
るか否かが順次判断される。
Here, the length measurement value data D taken into the data processing device 2
Until the data number i of i reaches (N+1), it is determined whether the length measurement value data Di belongs to any division Ndj of the allowable dimensions equally divided by the number of divisions Nd, and the length measurement value data Di After the frequency Fj corresponding to the division section Ndj to which belongs is counted up by +1, the first upper and lower limit value H
It is sequentially determined whether H, LL and second upper and lower limit values H, L are set.

ここで、第1の上下限値HH,LLおよび第2の上下限
値H,Lが共にセットされている場合には、測長値デー
タDiが第1の上限値HHより大きいか?、第1の下限
値LLより小さいか?、第1の上限値HH以下で第2の
上限値Hより大きい範囲内であるか?、第1の下限値L
L以上で第2の下限値しより小さい範囲内であるが?、
が順次判断され、その判断結果に応じて’堂J’寥J「
ム」 「マ」コードが上顎されて測長値データ記憶エリ
ア53Aに順番に記憶された後、プリント処理へ進む、
第1O図(A)は上記判定領域と付加コードとの関係を
示している。また、第1の上下限値HH,LLのみがセ
ットされている場合には、測長値データDiが第1の上
限値HHより大きいか?、第1の下限値LLより小さい
か?、が順次判断され、その判断結果に応じて「ム」「
マ」コードが付加されて測長値データ記憶エリア53A
に順番に記憶された後、プリント処理へ進む。第1O図
CB)は上記判定領域と付加コードとの関係を示してい
る。なお、第1および第2の上下限値HH,LLが共に
セットされていない場合には、これらの判断が行なわれ
ることなく、プリント処理へ進む。
Here, if the first upper and lower limit values HH, LL and the second upper and lower limit values H, L are both set, is the length measurement value data Di greater than the first upper limit value HH? , is smaller than the first lower limit value LL? , is it within a range that is less than or equal to the first upper limit value HH and greater than the second upper limit value H? , first lower limit L
Is the second lower limit value greater than or equal to L and within a smaller range? ,
are judged one after another, and depending on the judgment result, the
After the "ma" code is stored in the length measurement data storage area 53A in order, the process proceeds to print processing.
FIG. 10(A) shows the relationship between the determination area and the additional code. Furthermore, if only the first upper and lower limit values HH and LL are set, is the length measurement value data Di greater than the first upper limit value HH? , is smaller than the first lower limit value LL? , are judged sequentially, and depending on the judgment result, "mu" and "
Measured value data storage area 53A with “ma” code added.
After being stored in order, the process proceeds to print processing. FIG. 1O CB) shows the relationship between the determination area and the additional code. Note that if both the first and second upper and lower limit values HH and LL are not set, the process proceeds to print processing without making these determinations.

プリント処理では、プリント選択キー41の「A」キー
がオンされていないことを条件として測長値データDi
がプリントされる。つまり、プリント選択キー41のr
AJキーが押されていた場合には、測長値データDiは
プリントされない。ちなみに、測長値データDiの表示
については、プリント選択キー41のオン、オフに関係
なく常に表示される。
In the print process, the measurement value data Di is provided on the condition that the "A" key of the print selection key 41 is not turned on.
is printed. In other words, the r of the print selection key 41
If the AJ key is pressed, the length measurement value data Di is not printed. Incidentally, the length measurement value data Di is always displayed regardless of whether the print selection key 41 is on or off.

いま、データ取込キーr OAT^」の操作により測長
値データDiを順次取込んでいく過程において、例えば
測定操作ミス等により一旦取込んだ測長値データDiを
取消し、それに代って新たな測長値データDiを取込み
たい場合には、まずキャンセルキーr CEJを押し、
マイクロメータIAで新たな測長値データDiを測定し
ている状態において、データ取込キーr DATAJを
押す。すると、前に取込まれた測長値データDiの記憶
エリアに次に取込まれた測長値データDiが更新記憶さ
れる。つまり、前の測長値データDiが次に取込まれた
測長値データDiに書換えられる。従って、誤って取込
んだデータを正常なデータに書換えることができる。
Now, in the process of sequentially importing the length measurement value data Di by operating the data import key r If you want to import the measured length data Di, first press the cancel key r CEJ,
While measuring new length measurement data Di with the micrometer IA, press the data capture key rDATAJ. Then, the next captured length measurement value data Di is updated and stored in the storage area of the previously captured length measurement value data Di. That is, the previous length measurement value data Di is rewritten to the next captured length measurement value data Di. Therefore, it is possible to rewrite erroneously captured data to normal data.

このようにして、データ処理装置2に取込まれた測長値
データDiのデータ数iが(N+1)と等しくなると、
i=1からi=Nまでの測長値データDiに基づき品質
管理データがめられる。
In this way, when the data number i of the length measurement value data Di taken into the data processing device 2 becomes equal to (N+1),
Quality control data is determined based on the length measurement data Di from i=1 to i=N.

ここでは、(N+1)番目に取込まれた測長値データD
iを除くN個の測長値データの中から、最大値Dnax
、最小値[1w1n、振れ幅R1平均値デ、標準偏差S
Dのほか、不良率FRA 、口、工程能力C1Pがめら
れる。この際、平均値マおよび振れ幅Rは、Noを順次
付加され管理データ記憶エリア55Aに順番に記憶され
る。
Here, the (N+1)th captured length measurement value data D
The maximum value Dnax from among N length measurement value data excluding i
, minimum value [1w1n, amplitude R1 average value de, standard deviation S
In addition to D, defective rate FRA, capacity, and process capacity C1P are included. At this time, the average value M and the amplitude R are sequentially appended with No. and stored in the management data storage area 55A.

ちなみに、振れ幅Rは、最大値D waxと最小値Dm
inとの差(Dmai −Dmin ) ニよ請求メル
ことができる。また、平均値又は、 によってめることができる。また、標準偏差SDは、 によってめることができる。また、不良率FR^。
By the way, the swing width R is the maximum value D wax and the minimum value Dm
The difference between in and (Dmai - Dmin) can be claimed. It can also be determined by the average value or Moreover, the standard deviation SD can be calculated by: Also, the defective rate FR^.

Dは、第1の上限値H’H,LLから出た測長値データ
のデータ数をサンプリング数Nで割った商からめること
ができる。更に、工程能力C,Pは、 によってめることができる。
D can be calculated from the quotient obtained by dividing the number of length measurement data obtained from the first upper limit values H'H, LL by the number of samplings N. Furthermore, the process capabilities C and P can be determined by:

続いて、前記各分割区分Ndj毎の度数Fjのうち最大
の度数F wamがめられた後、この最大度数F l1
axがプリンタの印字桁数nで割算した商Fsが演算さ
れる。ここで、前記商Fs以上の整数の中から任意の1
つの数からなる重み係数Cnが1つ選択された後、前記
各度数Fjが前記選択された重み係数Cnで割算された
それぞれの商Qjがめられ、更にこれらの商Qjより大
きく最小の整数Njが決定される。
Subsequently, after the maximum frequency F wam is determined among the frequencies Fj for each division Ndj, this maximum frequency F l1 is determined.
A quotient Fs is calculated by dividing ax by the number of printing digits n of the printer. Here, any 1 from among the integers greater than or equal to the quotient Fs
After one weighting coefficient Cn consisting of 2 numbers is selected, a respective quotient Qj is determined by dividing each frequency Fj by the selected weighting coefficient Cn, and the smallest integer Nj larger than these quotients Qj is determined. is determined.

この後、プリント選択キー41のrBJキーがオンされ
ていないことを条件として統計結果データ(ここでは、
データ数i、最大値D■ax 、最小値Dmin、振れ
幅R1平均値又および標準偏差SD)が、「C」キーが
オンされていないことを条件としてヒストグラムデータ
(ここでは、第1の上下限値HH,LL、分割数N、階
級幅、前記各分割区分Ndj毎の整数Njを棒グラフと
して表わしたヒストグラム、各分割区分Ndj毎の度数
Fj)が、「D」キーがオンされていないことを条件と
して不良率FRA、D 、工程能力C9P等のデータが
それぞれプリントされる。換言すれば、rBJキーが押
された場合には統計結果データが、「C」キーが押され
ていた場合にはヒストグラムデータが、「DJ主キー押
されていた場合には不良率FRA、Dや工程能力C1P
が、それぞれプリントされない。この後、測長値データ
記憶エリア53Aがクリアされ(N+1)番目に取込ま
れた測長値データDiが次の工程におけるf=1のデー
タとして測長値データ記憶エリア53Aに記憶され、か
つj=1にセットされた後、プリントされる。
After that, on the condition that the rBJ key of the print selection key 41 is not turned on, statistical result data (here,
The number of data i, the maximum value Dax, the minimum value Dmin, the amplitude R1 average value or the standard deviation SD) is the histogram data (here, the first upper Lower limit values HH, LL, number of divisions N, class width, histogram representing the integer Nj for each division Ndj as a bar graph, frequency Fj for each division Ndj), the "D" key is not turned on. Data such as defective rate FRA, D, process capacity C9P, etc. are printed under the conditions of . In other words, when the rBJ key is pressed, the statistical result data is displayed, when the "C" key is pressed, the histogram data is displayed, and when the "DJ main key is pressed, the defect rate FRA, D and process capability C1P
However, they are not printed. Thereafter, the length measurement data storage area 53A is cleared, and the (N+1)th captured length measurement data Di is stored in the length measurement data storage area 53A as f=1 data for the next step, and After setting j=1, it is printed.

一方、データ処理装置2に取込まれた測長値データのデ
ータ数iがN+1に達する前の任意の時点において、プ
リントキーrPRINT Jを押すと、第9図と同様に
統計処理およびヒストグラム処理が行なわれる。これに
より、データ処理装置2に取込まれた測長値データのデ
ータ数iがN+1に達する前の中間の時点において、統
計処理およびヒストグラム処理を行なうことができる。
On the other hand, if the print key rPRINT J is pressed at any time before the data number i of length measurement data taken into the data processing device 2 reaches N+1, statistical processing and histogram processing are performed as in FIG. It is done. Thereby, statistical processing and histogram processing can be performed at an intermediate point in time before the number i of length measurement value data taken into the data processing device 2 reaches N+1.

ところで、に管理図やR管理図等は1通常数日おきに測
定作業を行ない、その測定データからこれら管理図を作
成するようにしている。この場合、1回の測定時におけ
るサンプリング数Nを4〜6のいずれか、例えば5にセ
ットし、各回毎に測長値データDiを順次取込んでいく
と、管理データ記憶エリア55Aには、各組No毎に順
次に取込まれた5つの測長値データDiの平均値におよ
び振れIIIIRが順次記憶される。一方、測定器選択
スイッチ40によりマイクロメータIBを選択した後、
そのマイクロメータIBにおいて、設定作業および測定
作業を前述した手順と同様にして行っていくと、管理デ
ータ記憶エリア55Bには、各組No毎に予め設定され
たサンプリング数Nの測長値データDiの平均値におよ
び振れ幅Rが順次記憶される。
By the way, control charts such as Ni control charts and R control charts are usually measured every few days, and these control charts are created from the measured data. In this case, if the number of samplings N in one measurement is set to one of 4 to 6, for example 5, and the length measurement value data Di is sequentially imported each time, the management data storage area 55A contains the following data: The average value of the five length measurement value data Di sequentially taken in for each group number and the runout IIIR are sequentially stored. On the other hand, after selecting micrometer IB with the measuring device selection switch 40,
In the micrometer IB, when the setting work and the measuring work are performed in the same manner as described above, the length measurement value data Di of the sampling number N preset for each set number is stored in the management data storage area 55B. The average value of R and the amplitude R are sequentially stored.

ここで、マイクロメータIAで測定された部品の7管理
図、R管理図およびマイクロメータIBで測定された部
品のi管理図、R管理図を連続的に出力させたい場合は
゛O1″コードを、両マイクロメータIA、IBで測定
された部品のに管理図を連続的に出力させたい場合は2
02″コードを、両マイクロメータIA、1Bで測定さ
れた部品のR管理図を連続的に出力させたい場合は゛0
3″コードをそれぞれ入力した後、作表キーrFIG」
を押す。すると、制御回路36では第11図に示すフロ
ーチャートに従って処理が行なわれる。
Here, if you want to continuously output the 7 control chart and R control chart of the parts measured with the micrometer IA, and the i control chart and R control chart of the parts measured with the micrometer IB, enter the "O1" code. If you want to continuously output control charts for parts measured with both micrometers IA and IB, select 2.
If you want to continuously output the R control chart of the parts measured with both micrometers IA and 1B, use the 02" code.
3" After entering each code, press the tabulation key rFIG"
Press. Then, the control circuit 36 performs processing according to the flowchart shown in FIG.

即ち、管理データ記憶エリア55Aに記憶された平均値
i−〜7にの平均値丈、振れIIIIRI〜Rkの平均
値Rがそれぞれめられた後、i管理図の上方管理限界U
CL、下方管理限界LCLおよびR管理図の上方管理限
界UCL、下方管理限界LCLがそれぞれめられる。続
いて、管理データ記憶エリア55Bに記憶された平均値
シ1〜又にの平均値マ、振れ幅R■〜Rkの平均値iが
それぞれめられた後、マ管理図の上方管理限界UCL、
下方管理限界LCLおよびR管理図の上方管理限界UC
L、下方管理限界LCLがそれぞれめられる。ちなみに
、平均値x、Rは9でめることができる。ここで、Σf
は父、〜ワにの和、ΣRはR−〜Rkの和、kは組の数
である。また、i管理図の上方管理限界UCL、下方管
理限界LCLは、 U CL = x + A 2 R L CL= x A 2 R でめることができる。また、R管−理図の上方管理限界
UCL、下方限界限界LCLは、U CL = D 4
 R L CL = D 3π でめることができる。なお、A2 、D3 、D4は組
の大きさくサンプリング数N)によって決まる係数で、
予め設定されている。
That is, after the average value length of the average value i- to 7 and the average value R of the runout IIIRI to Rk stored in the management data storage area 55A are determined, the upper control limit U of the i control chart is determined.
CL, lower control limit LCL, and upper control limit UCL and lower control limit LCL of the R control chart are determined, respectively. Subsequently, after the average values 1 to 1 and the average values i of the amplitudes R and Rk stored in the management data storage area 55B are determined, the upper control limit UCL of the control chart is determined.
Lower control limit LCL and upper control limit UC of R chart
L and lower control limit LCL are respectively determined. Incidentally, the average values x and R can be divided into 9. Here, Σf
is the sum of father and ~wa, ΣR is the sum of R-~Rk, and k is the number of pairs. Further, the upper control limit UCL and lower control limit LCL of the i control chart can be determined by U CL = x + A 2 R L CL = x A 2 R. In addition, the upper control limit UCL and lower control limit LCL of the R chart are UCL = D 4
It can be determined that R L CL = D 3π. Note that A2, D3, and D4 are coefficients determined by the size of the set (number of samples N),
It is set in advance.

次に、作業キーrFIGJの前に入力されたコードデー
タが01 . ’ 02 ” 、 ’ 03 ” (7
) イずれであるかが判断される。ここで、コードデー
タが01″の場合には、設定データ記憶エリア52Aに
記憶されている日付、測定者No等の各種データおよび
前記演算結果(i 、 UCL 、 LCL、R,UC
L)がプリントされた後、その演算結果よび管理データ
記憶エリア55Aの各データに基づいてマイクロメータ
IAで測定された部品のに管理図、B管理図が順次プリ
ントされる。続いて、設定データ記憶エリア52Bに記
憶されている日付、iM定前者Noの各種データおよび
前記演算結果(丈、UCL、LCL、R,UCL、LC
L)がプリントされた後、その演算結果および管理デー
タ記憶エリア55Bの各データに基づいてマイクロメー
タIBで測定された部品のf管理図、R管理図が順次プ
リントされる。この際、これら管理図の作図データは、
用紙の送り方向に組Noが、それと直交する方向つまり
用紙の輻方向に管理データが表示されるよう所定のフォ
ーマットに編集された後、プリンタ33へ出力される。
Next, the code data input before the work key rFIGJ is 01. '02'', '03'' (7
) It is determined whether there is a difference. Here, when the code data is 01'', various data such as the date and measurement person number stored in the setting data storage area 52A and the calculation results (i, UCL, LCL, R, UC) are stored in the setting data storage area 52A.
After L) is printed, a control chart and a control chart B are sequentially printed for the parts measured by the micrometer IA based on the calculation results and each data in the management data storage area 55A. Subsequently, various data of the date, iM former number, and the calculation result (length, UCL, LCL, R, UCL, LC) stored in the setting data storage area 52B are displayed.
After L) is printed, an f control chart and an R control chart of the component measured with the micrometer IB are sequentially printed based on the calculation result and each data in the management data storage area 55B. At this time, the drawing data for these control charts is
After being edited into a predetermined format so that the group number is displayed in the paper feed direction and the management data is displayed in a direction perpendicular to the set number, that is, in the paper radial direction, the data is output to the printer 33.

従って、これらの管理図は第12図に示すフォーマット
で出力される。
Therefore, these control charts are output in the format shown in FIG.

また、コードデータが02″の場合には、設定データ記
憶エリア52A 、52Bに記憶されている各種データ
および前記演算結果(x 、 UCL、LCL)が順次
プリントされた後、その演算結果および管理データ記憶
エリア55Aの平均値又に基づいてマイクロメータIA
で測定された部品の!管理図がプリントされ、続いて管
理データ記憶エリア55Bの平均値kに基づいてマイク
ロメータIBで測定された部品のi管理図がプリントさ
れる。従って、第13図に示すフォーマットで出力され
る。
Further, when the code data is 02'', the various data stored in the setting data storage areas 52A and 52B and the calculation results (x, UCL, LCL) are printed in sequence, and then the calculation results and management data are printed. Micrometer IA based on the average value of storage area 55A
of parts measured in! A control chart is printed, and then an i control chart of the component measured with the micrometer IB is printed based on the average value k in the management data storage area 55B. Therefore, it is output in the format shown in FIG.

更に、コードデータが03″の場合には、設定データ記
憶エリア52A、52Bに記憶されている各種データお
よび前記演算結果(R,UCL、LCL)が順次プリン
トされた後、その演算結果および管理データ記憶エリア
55Aの振れ幅Hに基づいてマイクロメータIAで測定
された部品のR管理図がプリントされ、続いて管理デー
タ記憶エリア55Bの振れ幅Hに基づいてマイクロメー
タ1Bで測定された部品のR管理図がプリントされる。
Further, when the code data is 03'', the various data stored in the setting data storage areas 52A and 52B and the calculation results (R, UCL, LCL) are printed in sequence, and then the calculation results and management data are printed. The R control chart of the component measured with the micrometer IA is printed based on the amplitude H in the storage area 55A, and then the R control chart of the component measured with the micrometer 1B is printed based on the amplitude H in the management data storage area 55B. A control chart is printed.

従って、第14図に示すフォーマットで出力される。Therefore, it is output in the format shown in FIG.

従って、本実施例によれば、データ処理装置I2をマイ
クロメータ1−A 、 l Bとは別体とし、その両者
を信号伝送ケーブル3で互いに情報交換可能に接続する
とともに、各マイクロメータIA、IBにおいて、デー
タ処理装置2からのデータ取込指令に対して、測長モー
ド情報、測長値情報、符号情報、小数点位置情報、測長
単位および合否判定情報をBCDコード化信号に変換し
た後、データ処理装置2からのクロックパルスに同期し
てデータ処理装置2ヘビツトシリアル伝送するようにし
たので、マイクロメータIA、IBをそのまま従来の測
長器として使用できるので、測定作業そのものは格別変
更しなくてもよく、つまり専門的技術の習得を必要とせ
ず、かつ小型、取扱性の特長を維持させることができる
。しかも、このような構成であれば、マイクロメータ単
独で使用することもできる。
Therefore, according to this embodiment, the data processing device I2 is separate from the micrometers 1-A and 1-B, and both are connected to each other by the signal transmission cable 3 so that they can exchange information, and each micrometer IA, In the IB, in response to a data import command from the data processing device 2, after converting length measurement mode information, length measurement value information, code information, decimal point position information, length measurement unit, and pass/fail judgment information into a BCD encoded signal. Since the data processing device 2 is synchronized with the clock pulse from the data processing device 2 and is transmitted in a heavy serial manner, the micrometers IA and IB can be used as conventional length measuring instruments, so the measurement work itself has been significantly changed. In other words, it is not necessary to acquire specialized skills, and the features of small size and ease of handling can be maintained. Moreover, with such a configuration, the micrometer can be used alone.

また、測長値データは直接データ処理装置2へ入力され
るので、転記に伴なうミスがなく、従って正確な品質管
理データを迅速かつ能率的にめ ゛ることができる。こ
れにあたっても、格別の大型コンピュータを必要としな
いので、その稼働率を下げる恐れもない、更に、データ
伝送をBCDコードのクロックパルスシリアル伝送とし
たので、多量のデータを高速で伝送でき、かつ回路的に
も小型かつ簡易にできる。
Furthermore, since the length measurement value data is directly input to the data processing device 2, there are no errors associated with transcription, and therefore accurate quality control data can be obtained quickly and efficiently. This also does not require a particularly large computer, so there is no risk of reducing its operating rate.Furthermore, since the data transmission is BCD code clock pulse serial transmission, large amounts of data can be transmitted at high speed, and the circuit It is also compact and easy to use.

また、測定箇所において、品質管理データを入手できる
ので、生産ラインの工程能力等をも即時に判断でき、特
に工具交換等も直ちに実行できる。しかも、データ処理
装置2偏にデータ取込みキーr DATAJを設けたの
で、測定時の操作ミスによって測長値データが誤って取
込まれる心配がない。
In addition, since quality control data can be obtained at the measurement location, the process capability of the production line can be immediately determined, and in particular, tools can be replaced immediately. Moreover, since a data import key rDATAJ is provided on the data processing device 2, there is no fear that length measurement value data will be erroneously imported due to an operational error during measurement.

また、被測定物の基準寸法に対する許容寸法の上下限値
を第1の上下限値HH,LLとして設定するとともに、
これらの上下限値HH、LLよりも許容寸法内に第2の
上限値Hおよび下限値りを設定し、これらの上下限値に
基づいてマイクロメータIA、1Bから与えられる測長
値データの良否を判別するようにしたので、良品および
不良品の判別、更には良品から不良品推移状況の判定を
容易に行なうことができる。なお、第1の上下限値HH
,LLと第2の上下限値H,Lとの範囲に測長値データ
Diが予め設定された数だけ連続するとき、警報を発す
るようにすれば、不良品を多数加工する前の時点で工具
交換或いは調整を行なうことができる。
In addition, the upper and lower limits of the allowable dimensions for the reference dimensions of the object to be measured are set as first and upper limits HH and LL, and
A second upper limit value H and a lower limit value are set within the allowable dimensions than these upper and lower limit values HH and LL, and the quality of the length measurement data given from micrometers IA and 1B is determined based on these upper and lower limit values. This makes it easy to distinguish between non-defective products and defective products, and also to easily determine the status of transition from non-defective products to defective products. Note that the first upper and lower limit values HH
, LL and the second upper and lower limit values H, L, if a warning is issued when a preset number of measurement value data Di continues, it can be done before processing a large number of defective products. Tools can be replaced or adjusted.

また、データ取込キーr IIATAJが押される毎に
取込まれた測長値データDiが分割数NJによって等分
された許容寸法のいずれかの分割区分Ndjに属するか
を判断し、各分割区分Ndjに属する測長値データDi
の度数Fjをカウントアツプし。
In addition, each time the data import key r IIATAJ is pressed, it is determined whether the imported length measurement value data Di belongs to any division Ndj of the allowable dimensions equally divided by the number of divisions NJ, and each division Length measurement value data Di belonging to Ndj
Count up the frequency Fj.

測長値データDiの数Iが所定の値に達した時点におい
て、これらの≠−夕をプリンタの印字桁内に収まるよう
に所定の演算処理を施した後、その度数に応じたヒスト
グラムとして表示するよう・にしたので、一群の被測定
物の測長値データの精度分布やそれらの変化を一見して
判断できるため、一定の加工製品については測定を省略
したり、或いはサンプリング数を減らすことができ、更
には加工機側の調整の資料として利用することがでる。
When the number I of the length measurement data Di reaches a predetermined value, a predetermined arithmetic processing is performed so that these ≠ - digits fit within the printing digits of the printer, and then displayed as a histogram according to the frequency. Since the accuracy distribution of the length measurement data of a group of objects to be measured and their changes can be judged at a glance, it is possible to omit measurement or reduce the number of samples for certain processed products. It can also be used as reference material for adjustments on the processing machine side.

また、このことは、作業者に高度の判断を要求しない利
点がある。
This also has the advantage of not requiring a high degree of judgment from the operator.

また、取込まれた測長値データDiから平均値f、振れ
幅R1標準偏差S、D等の統計データおよび不良率FR
A、D 、工程能力指数c、p等の品質管理データを自
動的にめるようにしたので、これらデータの作成を容易
にかつ迅速にできる。
In addition, from the imported length measurement value data Di, statistical data such as the average value f, swing width R1 standard deviation S, D, and defective rate FR
Since quality control data such as A, D, process capability index c, p, etc. are automatically entered, these data can be created easily and quickly.

また、測長値データDiの数Iが予め設定されたサンプ
リング数Nに1を加えた数(N+1)になったとき、N
番目までのデータに基づいて上記統計処理やヒストグラ
ム処理を自動的に行うようにしたので、N番目に測定操
作ミス例えば測定対象面の誤認1両者の当接不備、測定
力変化等により誤った測長値データDiが取込まれた場
合でも、その測長値データをキャンセルした後、新たな
測長値データを取込み、次(N+1番目)の測長値デー
タが取込まれた際自動処理されるので、誤った測長値デ
ータを含むこkなく常に正常なデご夕に基づいて品質管
理データをめることができる。しかも、N+1番目のデ
ータは、次の工程の1番目のデータとして記憶、かつプ
リントされるので、新たに測定しなおす必要がない。
Also, when the number I of length measurement value data Di becomes the number (N+1) obtained by adding 1 to the preset sampling number N, N
Since the above-mentioned statistical processing and histogram processing are automatically performed based on the data up to the Nth measurement, the Nth measurement error may occur due to a measurement error such as misidentification of the surface to be measured, insufficient contact between the two, or a change in the measuring force. Even if long value data Di is imported, after canceling that length value data and importing new length value data, automatic processing will be performed when the next (N+1st) length value data is imported. Therefore, quality control data can always be generated based on normal data without including erroneous length measurement value data. Moreover, since the N+1-th data is stored and printed as the first data of the next process, there is no need to perform a new measurement.

一方、プリントキーrPRINT Jを設け、このプリ
ントキーrPRINT Jが操作された際、上記統計処
理およびヒストグラム処理を自動的に行なうようにした
ので、データ数1が任意の時点において上記処理を行な
うことができる。従って、サンプリング数Nが大きい場
合、例えば1000程度のときでも、そのデータ数量が
サンプリング数Nに達するまで待たなくてもよく、中間
時点の統計データやヒストグラムデータを任意時に得る
ことができる。
On the other hand, a print key rPRINT J is provided, and when this print key rPRINT J is operated, the above-mentioned statistical processing and histogram processing are automatically performed, so that the above-mentioned processing can be performed at any time when the number of data is 1. can. Therefore, even when the sampling number N is large, for example about 1000, it is not necessary to wait until the data quantity reaches the sampling number N, and statistical data and histogram data at an intermediate point in time can be obtained at any time.

また、サンプリング数Nの測長値データDiの平均値i
および振れ輻Rを組Noを付加して順次管理データ記憶
エリア55A、55Bへ転送、記憶し、作表キーrFI
GJが押された際、これらの管理データ記憶エリア55
A、55Bに記憶された平均値又および振れ輻Hに基づ
いて又管理図およびR管理図を自動的に出力するように
したので、これら管理図の作成を極めて容易かつ迅速に
行うことができる。しかも、これらの管理図の作成に当
っては、用紙の送り方向にデータの組N。
In addition, the average value i of the length measurement value data Di of the sampling number N
and the runout R are sequentially transferred and stored in the management data storage areas 55A and 55B with set numbers added, and tabulation key rFI is used.
When GJ is pressed, these management data storage areas 55
Since control charts and R control charts are automatically output based on the average value and runout H stored in A and 55B, these control charts can be created extremely easily and quickly. . Moreover, when creating these control charts, N sets of data are created in the paper feeding direction.

を、それと直交する方向つまり用紙の幅方向に管理デー
タをそれぞれ表示するようにしたので、つまり不定性の
組Noを用紙の送り方向に、定性的な管理データを予め
幅が規定されている用紙の輻方向にそれぞれ表示するよ
うにしたので、それらのデータを所定用紙内に納めるた
めの処理を簡素化できる。
The management data is displayed in the direction perpendicular to the width direction of the paper, that is, the indefinite set number is displayed in the paper feed direction, and the qualitative management data is displayed in the paper whose width is predefined. Since the data are displayed in the respective radial directions, it is possible to simplify the processing for storing the data in a predetermined paper.

更に、データ処理装置2に複数のマイクロメータIA、
IBを接続し、各マイクロメータIA。
Furthermore, the data processing device 2 includes a plurality of micrometers IA,
Connect IB and each micrometer IA.

2B毎のx、R管理図、各マイクロメータIA。x, R control chart for each 2B, each micrometer IA.

IBの同種管理図を選択的に出力できるようにしたので
、出力指定すれば必要な管理を最も見やすい態様で出力
させることができる。
Since IB homogeneous control charts can be selectively output, if output is specified, necessary management can be output in the most easily viewable format.

また、測定開始前の設定作業において1日付、測定者N
o、部品No、装置No等を入力すれば、それらが用紙
に印字されるため、これらのプリント内容をもってデー
タの見出しとして利用でき、従ってその後の品質管理デ
ータ作成時或いは保管時に極めて便宜である。一方、プ
リント選択キー41を設け、これらのキーが予めオンさ
れている場合に、その各キーに対応するプリントデータ
を印字させないようにしたので、何らキー操作しなけれ
ば、全ての内容を予め定められた順序でプリントアウト
させることができ、従ってプリン卜したいものを選択的
に組合せるものでないからキー操作が極めて容易、かつ
作業が迅速である。
In addition, during the setup work before starting measurement, on the 1st day, measurer N
0, part number, device number, etc., and these are printed on paper, so these printed contents can be used as data headings, which is extremely convenient when creating or storing quality control data later. On the other hand, print selection keys 41 are provided, and if these keys are turned on in advance, the print data corresponding to each key is not printed, so if no key is operated, all the contents are predetermined. It is possible to print out the items in the specified order, and therefore, it is not necessary to selectively combine the items to be printed, so the key operations are extremely easy and the work is quick.

なお、上記実施例では、測長手段として2つのマイクロ
メータIA、IBを用いた例を示したが、測定手段とし
ては3台以上でもよく、またマイクロメータ以外にノギ
ス、ダイヤルゲージ、ハイドゲージ等の測定器を用い、
それらの測定器からの信号をデータ処理装置2へ直接入
力することもできる。ちなみに、ダイヤルゲージ等はス
ピンドルの移動量を、ノギスおよびハイドゲージ等では
スライダの移動量をそれぞれ電気信号として検出するよ
うにすればよい。しかも、これらの測定器類のうち、最
大値および最小値ホールド機能を備えているものについ
てはその種別を特定するコードを測長モード識別コード
に、また合否判別機能を備えたものについては合否判別
データを含んだ単位コードを単位および合否判定コード
にセットするようにすればよい。
In the above embodiment, two micrometers IA and IB are used as the length measuring means, but three or more may be used as the measuring means, and in addition to the micrometers, calipers, dial gauges, hide gauges, etc. Using measuring equipment,
Signals from those measuring instruments can also be directly input to the data processing device 2. Incidentally, a dial gauge or the like may detect the amount of movement of a spindle, and a caliper, a hide gauge, or the like may detect the amount of movement of a slider as an electric signal. Moreover, among these measuring instruments, for those equipped with a maximum value and minimum value hold function, a code that identifies the type is used as the length measurement mode identification code, and for those equipped with a pass/fail determination function, a code that identifies the type is used as the pass/fail determination code. A unit code containing data may be set in the unit and pass/fail determination code.

また、これらの移動量を検出するエンコーダとしては、
上記実施例で説明したメインスケールとインデックスス
ケールとによる光電式以外に、例えば磁気スケール型、
電気容量型、接点型、抵抗型、レーザ型環各種の形式を
応用することができる。
In addition, as an encoder that detects these movement amounts,
In addition to the photoelectric type using the main scale and index scale explained in the above embodiment, for example, a magnetic scale type,
Various types of rings such as capacitive type, contact type, resistive type, and laser type can be applied.

また、上記実施例では、データ処理装置2偏にのみデー
タ取込キーを設けたが、そのデータ取込キーをデータ処
理装M2とともにマイクロメータ等の測長手段側にも設
けるようにしてもよい。更に、データ取込キーを設ける
代りに、例えばノギスやマイクロメータでは被測定物に
当接されるいずれか一方の当接部材に圧電素子を設け、
この圧電素子に一定の測定力が加わったときの検出信号
により前記各データを取込むようにしてもよい。
Further, in the above embodiment, the data acquisition key is provided only on the data processing device 2, but the data acquisition key may be provided on the length measuring means such as a micrometer as well as the data processing device M2. . Furthermore, instead of providing a data acquisition key, for example, in a caliper or a micrometer, a piezoelectric element is provided on one of the contact members that contact the object to be measured.
Each of the data may be acquired based on a detection signal when a certain measuring force is applied to the piezoelectric element.

この場合、ハイドゲージ等では、圧電素子よりも、むし
ろタッチ信号プローブが好ましい、更に、各データの記
録手段としては、プリンタのほかに、例えばCRT、レ
コーダ等であってもよい。
In this case, a touch signal probe is preferable to a piezoelectric element in a hide gauge or the like.Furthermore, the recording means for each data may be, for example, a CRT, a recorder, etc. in addition to a printer.

また、上記実施例では、測長値データDiのデータ数i
がN+1に達したとき、統計結果等の演算を自動的にス
タートさせるようにしたが、N+1以上であればいずれ
でもよい6更に、日付や測定者等は、キーボード35か
ら入力するほか、例えば磁気カード等に記録させ、それ
をデータ処理装置2へ差し込んで読み取るようにしても
よい。
Further, in the above embodiment, the number of data i of the length measurement value data Di
When the number reaches N+1, calculations such as statistical results etc. are started automatically, but any calculation is possible as long as it is N+1 or more. The information may be recorded on a card or the like and inserted into the data processing device 2 to be read.

更に管理図については、上記実施例で述べた又管理図と
R管理図とのほか、又管理図とS管理図(S:標準偏差
)であってもよい、また、プリンタ33に多色ペンを用
いれば、管理図を色分けしてプリントすることができる
。更に、少なくとも管理データ記憶エリア55A、55
Bのデータについては、停電等によって電源が切れた場
合でも記憶が消えない対策を講じることが好ましいにの
ほか、k管理図やR管理図の上方管理限界UCL、下方
管理限界LCLは、演算によってめるほか、予め定めら
れた値をキーボードから入力するようにしてもよい。
Furthermore, as for control charts, in addition to the control charts and R control charts described in the above embodiments, control charts and S control charts (S: standard deviation) may also be used. You can use this to print control charts in different colors. Furthermore, at least management data storage areas 55A, 55
Regarding data B, it is preferable to take measures to ensure that the memory is not erased even if the power is cut off due to a power outage, etc. In addition, the upper control limit UCL and lower control limit LCL of the k control chart and R control chart can be determined by calculation. In addition to inputting a predetermined value from a keyboard, it is also possible to enter a predetermined value using a keyboard.

[発明の効果] 以上の通り、本発明によれば、測長値データな転記する
ことなく、測長値データをそのまま入力として品質管理
データを演算でき、この入力データから管理図を作成す
る際、データの組数の不定性を考慮しなくてもよいので
、そのための処理を簡素化できるデジタル表示型測長シ
ステムを提供できる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, it is possible to calculate quality control data by directly inputting measurement value data without transcribing the measurement value data, and when creating a control chart from this input data. Since there is no need to take into account the uncertainty of the number of data sets, it is possible to provide a digital display type length measurement system that can simplify the processing for this purpose.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図は本発明の一実施例を示すもので、第1図は全体の外
観を示す斜視図、第2図はマイクロメータの回路を示す
ブロック図、第3図は伝送データのフォーマットを示す
説明図、第4図は同データの一例を示す説明図、第5図
はデータ処理装置の回路を示すブロック図、第6図はキ
ーボードを示す正面図、第7図は記憶部の内容を示す説
明図。 第8図(A)(B)(C)はキー操作例とプリント見本
とを示す図、第9図(A)(B)はデータ取込みキーの
操作に基づくフローチャート、第1O図は限界値を示す
説明図、第11図は作表キーの操作に基づくフローチャ
ート、第12図から第14図はプリントアウトされた管
理図見本である。 IA、IB・・・測長手段としてのマイクロメータ、2
・・・データ処理手段としてのデータ処理装置、14・
・・スピンドル、15・・・デジタル表示器、21・・
・エンコーダ、32・・・演算回路、33・・・作表装
置としてのプリンタ、36・・・制御回路。 代理人 弁理士 木下 実三(ほか1名)第1図 第6図 第7図 第8図(A) 第8図(B) 第8図(C) 第10図 1 食 第1図
The figures show one embodiment of the present invention, in which Fig. 1 is a perspective view showing the overall appearance, Fig. 2 is a block diagram showing the micrometer circuit, and Fig. 3 is an explanatory diagram showing the format of transmission data. , FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of the same data, FIG. 5 is a block diagram showing the circuit of the data processing device, FIG. 6 is a front view showing the keyboard, and FIG. 7 is an explanatory diagram showing the contents of the storage section. . Figures 8 (A), (B), and (C) are diagrams showing key operation examples and print samples, Figures 9 (A) and (B) are flowcharts based on data import key operations, and Figure 1O is a diagram showing limit values. FIG. 11 is a flowchart based on the operation of the tabulation key, and FIGS. 12 to 14 are printed control chart samples. IA, IB...Micrometer as length measuring means, 2
...Data processing device as data processing means, 14.
...Spindle, 15...Digital display, 21...
- Encoder, 32... Arithmetic circuit, 33... Printer as tabulation device, 36... Control circuit. Agent Patent attorney Minoru Kinoshita (and 1 other person) Figure 1 Figure 6 Figure 7 Figure 8 (A) Figure 8 (B) Figure 8 (C) Figure 10 1 Food Figure 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)被測定物に当接されるスピンドル等、このスピン
ドル等の移動変位量を電気信号として検出するエンコー
ダおよびこの工、ンコーダからの出力信号をデジタル表
示するデジタル表示器を含む測長手段と、 この測長手段の出力データから平均値(k)や範囲(R
またはS)等の品質管理データをめる演算回路および管
理図の作成機能を有する作表装置を含むデータ処理手段
とからなり。 前記作表装置は、用紙の送り方向にデータの組を表示さ
せ、かつこれと直交方向に管理データを表示して管理図
を作成するように構成されている ことを特徴とするデジタル表示型測長システム。
(1) A length measuring means including an encoder that detects the amount of displacement of the spindle, etc. that comes into contact with the object to be measured as an electrical signal, and a digital display that digitally displays the output signal from the encoder. , From the output data of this length measuring means, the average value (k) and range (R
or S), etc., and a data processing means including an arithmetic circuit for storing quality control data and a tabulation device having a control chart creation function. The tabulation device is a digital display type measurement device characterized in that it is configured to display a set of data in the paper feeding direction and display control data in a direction perpendicular to this to create a control chart. long system.
JP3357784A 1984-02-24 1984-02-24 Digital display type length measuring system Pending JPS60178308A (en)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3357784A JPS60178308A (en) 1984-02-24 1984-02-24 Digital display type length measuring system
US06/702,511 US4736313A (en) 1984-02-24 1985-02-19 Digital indication type length measuring system
GB08504504A GB2155174B (en) 1984-02-24 1985-02-21 Digital indication length measuring system
DE19853506306 DE3506306A1 (en) 1984-02-24 1985-02-22 DIGITAL LENGTH MEASURING DEVICE

Applications Claiming Priority (1)

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