JPS60161578A - 放射線場の強さを測定する装置とその方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は原子核放射線測定に関する。

原子核源の強さは単位時間当りの原子の崩壊数として規
定される。代表的にはこれらの崩壊がアルファ（α）、
ベータ（β）、ガンマ（γ）又は中性子放射場を生じさ
せる。これらの場の強さの検出及び測定が放射線測定装
置及び検出器の対象とするものであシ、これらの装置に
よシ、これらの場からのエネルギーの相互作用又は吸収
の影響を、一般的に、受けるこれらの場を検出（センス
）し、測定する。本発明はガイが−・ミューラ−（Ｇ−
Ｍ）管検出装置を用いた装置及び方法について述べるも
のであり、該Ｇ−Ｍ管検比検出装置範囲に場の強さを測
定する一方で、エネルギーの高い場の領域でそのよ５ｉ
装置を使用した場合従来遭遇している制限を除去するも
のである。

〔従来の技術〕

放射線場をセンスする検出装置は、イオ／チャ／ハ、比
例カウンタ、Ｇ−Ｍ’！、シンチレーションクリスタル
及び固溶体半導体を有している。各々は利点と欠点を有
しており、検出装置の選択は特定の用途の影響を受ける
。非常に低い強度から極度に高い強度までの放射線場を
測定する単一の測定装置が強く望まれているのであるが
、対象とする低又は高領域のいずれかにおける種々の検
出装置の物理的現象の制限によシ、実現が難しい。

Ｇ−Ｍ管は、簡単で、堅固で、信頼性のある検出装置と
して供用されている。従来、Ｇ−Ｍ管は高電圧がバイア
スされており、それにより陽極電極と陰極電極との間に
高電界を作シ出す。該電界の強さは自己点火（ｓｅｌｆ
−ｉｇｎｉｔｉｏｎ　）を生ずる低さに選択されるが核
粒子／波との相互作用がＧ−Ｍ管内で放電が生じるに十
分であるように、十分大きいものである。この放電ノ４
ルスがセンスされ、適切な電気装置で計数される。放電
の後、電界は復活され、その後の現象が生じ、同様に計
数される。

放電の比率が測定（計数）され原子核場の強さの測定と
して用いられる。

〔発明が解決しようとする問題点、及び、問題を解決するための手段〕

Ｇ−Ｍ管が放電の直後不動作となったり、又はデッドタ
イムを有するので放射線の高い場において制限が生じて
いる。このデッドタイムによる制限はさらに、その広が
りが場の強さの関数であるという事実によシ複雑にされ
ている。この現象は高い場において機能しＧ−Ｍ管の能
力の完全な喪失を実際に生じさせる。電気的にデッドタ
イムを修正することは、その非直線特性により困難な作
業である。

簡単、堅牢且つ信頼性のゆえにＧ−Ｍ管が放射線検出器
として強く望まれている。Ｇ−Ｍ管の供用寿命は全放電
数（例えば１０１０〜１０１２）で表現される。このこ
とは、高い放射線場における在来の使用方法では、放電
を計数するのであるから短時間の検出器寿命となる。

本発明による方法は、放電間に固定の待機時間を挿入す
ることにより高放射線場における放電数を制限する。放
電時間が短かいにも拘らず、放電間の時間間隔が待機時
間によシ支配されるようになる。このことは検出器の寿
命を延ばすというすぐれた効果をもたらす。

従来知られた使用形態による高放射線場におけるＧ−Ｍ
管の使用に係る他の問題点としては、前回の放電からＧ
−Ｍ検出器の不完全なり帰により生ずる部分的振幅放電
の発生がある。これらのパルスの振幅が変化するから、
放電を計数するために通常用いられている計数装防は誤
りの計数値を表示する。

本発明による装置はこの問題を解消する。

さらに、非常に高い放射線場においてＧ−Ｍ管検出装置
は全体的に飽和状態になり、それゆえ活動不能（ｃｒｉ
ｐｐｌｅ　）とされる。この活動不能は高い放射線場が
存在するにも拘らず低又は零読みという誤差を生じさせ
る。

本発明において用いられた放電間の固定の待機時間の結
果として、Ｇ−Ｍ管検出装置は任意の高放射線場におい
て作動可能となる。

さらに従来知られた形式の装置は、一般的に直線計測ス
ケールを提供せず、十分に制御された狭いパルス幅の高
電圧ノ旬レスの発生を必要とする。

読みの直線性と高電圧パルスの発生の両者を実現させる
と、カウント成分に加えることが必要となシ、全体の装
置が複雑となシ、保証された（　ｃｏｖｅｒｅｄ）　１
０年間ごとのスケール変更が必要となる。

本発明による装置および方法は単に１度のレンジ調整動
作が要求されるだけで何十年にもわたる動作について本
来的に正確な直紳読みを可能とする。

本発明は放射線場の強さを測定する装置および方法に関
するものであり、検出装置（例えばＧ−Ｍ管）を能動化
するパルスを用い、弐Ｒ＝７を基礎とする。但しＲは放
射線場の強さ、ｔは最初のストライクまでの時間、Ｋは
与えられた装置に係る比例定数であるー○−Ｍ管はバイ
アス電圧を検出装置を横切るようにパルス印加すること
によシその能動領域までパルスバイアス（偶奇）シ、最
初のストライクの入射までの経過時間間隔を測定する。

この時間が放射線場の強さに反比例しているので、場の
強さを決定するのに必要な全情報が得られている。各ス
トライクの後一定の待機時間が適用され、Ｇ−Ｍ管が十
分に復活し、それからＧ−Ｍ管が能動化され、処理が反
復されることが確実化される。

原子核現象が本来的にランダムであるから、ストライク
に対する各時限間隔が放射線場の強さを計算するのに必
要な全ての情報を含んでいるにも拘らず、所望の測定値
が真の平均場の強さの正確な表示である信頼度の程度は
低い。それ故多くの測定が行なわれ組合わされて信頼度
の高いファクタ（因子）が得られる。低放射紳場に関し
て、「ストライクの後の待機」を考慮したことによる喪
失時間は全時間に対する割合は小さく、殆んど重要でな
い。高放射線場においては「ストライクの時間」は短か
く多くの測定を行うことができ、やはシ喪失時間は殆ん
ど問題とならない。測定可能時間および測定可能な最小
時間に対する正確さが精度と最大測定可能な放射線場を
制限する。

Ｇ−Ｍ管のデッドタイムの結果として通常遭遇する非直
線性と再現性の不足はもはや存在しない。

従って本発り」の主要な目的は、放射線場を測定する新
規な検出装置および方法を提供することにあシ、その手
法は、放射線粒子又は波との相互作用を記録するための
検出装置を能動化しその後に生ずる第１の実際に相互作
用があるまでに経過する時間を計数するものである。

本発明の他の目的は、上述の新規な放射線場測定装置お
よび方法であって、最初の相互作用が発生した場合検出
装置が所定の時間不動作にされ、再び動作可能とされ、
次の相互作用が生ずるまで計数処理が反復され、上記動
作可能および不動作は連続し、時間計数が平均化されて
放射線場の測定値を提供するもの、を提供することにあ
る。

本発明の他の目的は、上述の新規な本発明の方法にもと
づく装置であって、検出装置内にガイが−・ミューラー
管を用い、検出装置が不動作にされ次に検出装置が動作
可能にされるまでの時間がガイガー・ミューラー管の完
全な復活時間よシ長くされたもの、を提供することにあ
る。

さらに本発明の他の目的は、１度のレンジ変更が要求さ
れるのみで何十年にわたる動作において正確で直線性の
読みを提供し、高精度かつ高安定度で非常に長寿命化さ
れた検出装置として作動し、非常に高い放射線場におい
て正確に機能する能力を有する、新規な放射線測定装置
を提供することにある。

本発明によれば、放射線場の強さを測定する装置であっ
て該装置は下記の組合せ、すなわち、出力回路を有する
偶奇された電位の放射線検出装置であって、該検出装置
が偶奇された場合その出力回路において出力パルスを発
生することによって放射線の射突に応答して有効化し、
偶奇されていない場合放射線による射突かあってもその
出力の発生に有効化しない形式のもの、該放射線検出装
置に作動的に結合された偶奇手段であって前記放射線検
出装置を選択的に偶奇させ放射線の射突に応答した出力
パルスを発生させるもの、時間計数を開始させ、終端さ
せるように作動する時間制御手段を包含する時間計数手
段であって、前記放射線検出装置の出力回路が該時間計
数手段に作動的に結合され、出力パルスの発生により時
間計数を終了させるため前記時間計数手段を有効化する
もの、及び、マスク制御手段であって、前記偶奇手段に
作動的に結合され、それにより該偶奇手段が放射線の射
突に応答して前記放射線検出装置を選択的に偶奇さぜ、
及び、前記時間計数手段に作動的に結合され前記放射線
検出装置の作動的偶奇と同時に時間計数を開始させるよ
うに前記時間計数手段を有効化し、前記マスク制御手段
が前記放射線検出装置が出力パルスを発生した場合に信
号を受け入れるもの、を具備し夷これらの組合せによシ
成る放射線場の強さを測定する装置が提供される。

放射線場の強さを測定する方法であって、下記の諸段階
、すなわち、（イ）放射線場における放射線検出装置を
駆動し、時間を計数する時間計数装置を同時に駆動する
段階、（ロ）放射線検出に応答して標識信号を発生する
□段階、（ハ）該標識信号を前記時間計数装置の動作を
停止させるために用いる段階、及び、に）下記式：Ｒ＝
７．但し、Ｒは放射線場の強さ、ｔは前記時間計数装置
の動作と不動作との間の時間、Ｋは定数、に従って前記
時間計数装置に登録された時間計数を変換する段階、を
具備する、放射線場の強さを測定する方法が提供される
。

さらに本発明によれば、放射線場の強さを測定する方法
であって下記の諸段階、すなわち、（イ）放射線場にお
ける放射線検出装置を駆動し、時間を計数する時間計数
装置を同時に駆動する段階、（ロ）放射線検出に応答し
て標識信号を発生する段階、□（ハ）該標識信号を前記
時間計数装置の動作を停止させるために用いる段階、に
）前記段階イ１ロ、ハを規定された時間間隔で連続的に
反覆する段階、及は規定された時間についての放射線場
の強さ、Σカウントは上記規定された時間内で前記放射
線検出装置が動作した全時間において得られた時間計数
の総和、ΣｔＯＮは前記規定された時間において前記放
射線検出装置が動作した全時間、Ｋは定数、に基づいて
前記時間計数装置に登録された時間計数を変換する段階
、を具備する放射線場の強さを測定する方法が提供され
る。

〔実施例〕

本発明の実施例について添付図面を参皿して下記に述べ
る。

図面は本発明にもとづく一実施例としての装置のブロッ
ク図である。また発明の一実施例としての方法が実現さ
れる装置を示している。

本発明に基づく装置及び方法は前述の如く、式Ｒ＝五に
基づくものである。但し、Ｒは放射線場の強さ、ｔはＧ
−Ｍ管が作動可能にされた後筒１のストライク（射突）
までの時間、Ｋは比例定数である。この式は証明された
数学式から導びかれる。

φ一致（％　ｃｏｉｎｅｌｄｅｎｃｅｇ　）＝　１　−
　ｅ−”几を上記式は、ミリレントゲン単位の放射線場
の強さＲに対するカウント（チ一致）を得る確率、カウ
ント７秒／　（ｍｒ／時間）を単位とする検出装置感度
ｎ１及び秒を単位とする観測時間による、計数率の期待
値に関与している。

若しバッググラウンド放射線が均一で常に１カウント計
数するであろう十分な長さの時間だけ待った場合、得ら
れるカウントの確率が決ったものとなるから、「チ一致
」は定数として書くことができる。従って上記式は下記
の如くなる。

Ｋｌ　＝　１　、−ｎＲｔ ｎはＧ−Ｍ管の感度であり、管の寸法及び構造に依存し
て定まる定数であるから、上式は簡明化できる。

Ｋｌ　”　１−　ｅ−に２Ｒｔ 但し、Ｒ：放射線場の強さく　ｍｒ／ｈｒ　）ｔ：観測
時間Ｃ秒） 上記式の３つの項の２つが定数であるから、第３の項も
定数でなければならず、それ故、以下余白 ８−に２几ｔ　＝　Ｋ３　＝定数 従って、若しｅ−に２Ｒｔが定数であるならば指数ｅも
定数でなければならず、次のように書き表わすことがで
きる。

−に２Ｒｔ　＝　Ｋ４、又は、 ４ Ｒｔ　＝　二■ｒ＝：　Ｋ５　＝　Ｋ　、及び、Ｒ＝□ を 但し、Ｒ：放射線場の強さ、 ｔ　：　Ｉ　Ｇ−Ｍカウントを得る時間又は放射線場の
強さはＩ　Ｇ−Ｍカウントを得るに必要な時間に反比例
する。

この式は、検出装置が入射ガンマフォトン（又はベータ
電子）に対して応答し得る場合、場の強さが、時間ｔ＝
ＱからＩ　Ｇ−Ｍカウントが得られるに要した時間を観
測することにより毎Ｇ−Ｍカウントにより測定されるこ
とを示している。ランダムな単一の現象について、特に
カウントするのに相当長時間かかる低範囲においては、
勿論信頼性は充分ではない。しかしながら、この測定が
規定された時間周期にわたって反復して行なわれた場合
、例えば２秒、そして、Ｇ−Ｍｖがカウントが得られる
連続した時間の全てについて作動した全時間で得られた
カウントの和が得られた場合、放射線場の強さを示すの
に十分な信頼性ある測定が得られる。従って前述の最後
の式は次のように書き改めることができる。

但しＮＲＴ：規定された期間（例えば２秒）についての
放射線強さ、 ｔｏＮ：規定された期間の間、各「ストライク」を登録
するためのＧ−Ｍ管の「オ ン時間」。

この関係が本発明の基礎となっている。

Ｇ−Ｍ管について下記の動作を考える、時間ｔ＝０にお
いてＧ−Ｍ管の電圧は始動電圧である下がら動作電圧範
囲の所定のレベル捷で急激に上昇する。

Ｇ−Ｍ管の電圧の増加が行なわれると同時に、発振器（
クロック）がダートオンされ、クロックパルスの形態に
おける時間が開始し、計数が行なわれる。過程の時間計
数がＩ　Ｇ−Ｍカウントが得られるまで連続し、カウン
トが得られた時点で時間計数が停止し、Ｇ−Ｍ管の電圧
が動作点より下に低下させられる。該電圧は約１．５　
ｍ５ｅｃ　（Ｇ−Ｍ管のデッドタイムより長い時間）低
下状態で維持され、それから過程がくり返される。この
ように、検出装置は選択的に感応し得るように（５ｅｎ
ｓｉｔｉｖｅ　）させられ、「計数時間」情報が所定の
時間間隔にわたって累積される。高放射線場においては
ｌ　Ｇ−Ｍカウントは、数マイクロ秒又はそれ以下の桁
の非常に短時間で得られ、低レベルの放射線場において
は、実際の場のレベル及びＧ−Ｍ管感蜂に依存した１秒
又はそれ以上の広が９を持った時間でｌ　Ｇ−Ｍパルス
が得られる。しかしながら、いかなる期間が要求さｉシ
た場合であっても簡単に時間計数が行なわれ、Ｇ−Ｍ管
はレンジ切換なしで何十年にわたって使用可能であシ、
制限としては極端に短時間の測定に係る信頼性であるこ
とが理解されよう。

また、検出装置がり、Ｃ，動作と同じ比率でカウントす
ることを可能とされるので、１秒当りのカウント数が電
界の増加と共に増加し、Ｇ−Ｍ管のノソルス動作につい
ての従来の使用形態とは顕著であるように、計数比率が
高電圧パルスをＧ−Ｍ管に印加する制御反復率によって
は制限されないことは明らかである。このアゾローチに
おいて、Ｇ−Ｍ管は本質的に「フリーラン」が可能とさ
れる、すなわち可能な限り迅速に計数し、放射線場は各
Ｇ−Ｍパルスを受信後生ずる復帰時間が課せられている
ことを制限とするのみである。従って任意の放射線場の
訪３みに関連づけられた統計が最大化される。

本発明の実施例を示す放射＃測定装置の機部的ブロック
図を参照すると、マイクロプロセッサ１があり、該マイ
クロプロセッサは、ＲＯＭ及びＲＡＭメモリ２、ライト
Ｉ１０デコーダ３、リードＩ１０デコーダ４、ＤＭＡス
テートデコーダ５、及びカウンタゲート６を含む他の構
成要素について装置の全動作を制御する。メモリ（記１
意装置）２への８アドレスラインが多重化され１６ライ
ンとして機能する。ライトＩ１０デコーダ３はデータバ
ス１８からデータを読出すときデテクタラッチ９及びデ
ィスプレイ２４を指示する。リードＩ１０デコーダ４が
カウントデータがデータバスに読み出される場合に選択
さね、適切な時間においてカウンタ１７をクリアする。

ＥＰ　ＲＯＭメモリはプログラムを収容し、ＲＡＲ’Ｉ
は過渡データ用として用いられる。水晶発振器７は１ミ
リ秒のタイミングクロックパルスを提供し、該タイミン
グクロックパルスがマイクロプロセッサ１及びカウンタ
ゲート６に印加され、それぞれ装置及び「ストライク（
射突）時間」の動作のタイミングに用いられる。水晶発
振回路はマイクロプロセッサの内部にあるが、水晶は外
部にある。

マイクロプロセッサは、電源１２からキャノ＋シタを通
してＧ−Ｍ管１３又は１４を動作させるための／？ルス
バイアス（パルス偶奇）するため閉じられる高電圧スイ
ッチ１０又は１１のいずれかを、ライトＩ１０デコーダ
３、ライン８、デテクタラッチ９及びデータバス１８を
介して選択する。Ｇ−Ｍ管において検出されたストライ
ク（射突）信号は７０ローブ出力バツフア１５で波形整
形され、デテクタラッチ９のクリア入力に印加されてデ
テクタラッチをクリアし、ＨＩおよびＬＯ比出力低に駆
動し、スイッチ１０又は１１を通して放電することによ
り能動的なＧ−Ｍ管を不動作にする。１対のトランノス
タスイッチが各高電圧スイッチ１０および１１内におい
てバイアス機能及び放電機能を提供する。ＨＩ又はＬＯ
ラッチ出力のいずれかが高い場合信号がＯＲケ”　−ト
１６を通して流れカウンタダート６を開にする。ＨＩ及
びＬＯの両出力が低の場合カウンタダート６が閉にされ
る。従ってストライク信号がカウンタゲート６を閉にし
カウンタ１７における計数を停止させる。カウンタ１７
はカランタケ９−トロが開の場合該カウンタゲート６を
介してタイミングクロックパルスを受け入れ、計数する
。

マイクロプロセッサ１の制御の下でカウンタリードバッ
ファ２０を介して伝送されるとき、８ラインデータバス
１８は「カウント」情報をメモリ２に伝搬し、該カウン
ト情報はまたライン１９を介して直接マイクロプロセッ
サに印加される。さらに上記カウント情報はディスプレ
イ２４、及び、ＨＩ及びＬＯＸ　電圧スイッチ又はいず
れか一方を動作可能又は不動作にするラッチを示すデテ
クタラッチ９に印加される。２５６の１カウントである
カウンタ１７０８ビツトの最有意義ビット（ＭＳＢ　）
のリセットにより、マイクロプロセッサ内のＤＭＡ　（
ダイレクトアクセスメモリ）に信号を印加するため、カ
ウンタ１７がインバータ２１及びオーバーフローフリッ
プフロッゾ２２を介して用いられる。この情報がマイク
ロプロセッサの内部で処理された後、マイクロプロセッ
サからの信号がＤＭＡステートデコーダ５を介してオー
バーフローフリッゾフロッゾ２２をリセットする。この
ことはマイクロプロセッサのプログラミングに割込むこ
となくマイクロプロセッサ内においてカウンタ１７の１
６ビ１１．トの拡張を可能にする。

マイクロプロセッサの制御の下で２種のカウント情報い
わゆる、測定された放射線レベル及び積算（累積）線量
（ｄｏｓｅ　）が表示可能である。線量ディスプレイス
イッチ２３が駆動されている場合、マイクロプロセッサ
がライトＩ１０デコーダ３に信号を送出してディスプレ
イ２４を作動可能とし、データバス１８へメモリ２の読
出しが行なわれたとき積算された線量情報をデコードし
、視認的に表示させるためデコードされた線量データが
ディスプレイ２４に印加される。線量ディスプレイスイ
ッチ２３が駆動されていない場合、現在測定された放射
レベル情報がメモリからデータバスへの経路にあるとき
ライトＩ１０デコーダ３はディスプレイ２４に信号を送
出し現在の測定放射レベルをデコードする。適切な時間
においてスイッチリードバッファ２５がリードＩ１０デ
コーダ４を介したマイクロプロセッサの制御の下で、Ｈ
ＩおよびＬＯレンジに対応するスケールファクタ、及び
回路の遅延時間を修正する修正ファクタをデータバス１
８に送出する。アラーム麩態がアラーム２６で表示され
、スイッチ２７により全装置がオン又はオフされる。

マイクロプロセッサは、例えば２秒で規定された所定の
時間期間で動作し、該２秒の時間としては例えばデータ
処理時間として０．３秒およびこれに続けられた２秒ザ
イクルの残りの部分でデータ収集時間又は約１゜７秒に
分割される。電、源が投入され、システムが初期化され
た後、データ収集が始する。マイクロプロセッサ１はラ
イトＩ１０デコーダ３及びデテクタラッチ９を介してＬ
Ｏ高１１１、圧スイッチ１０にＬＯイネーブル信号を発
し、ＬＯ高電圧スイッチはスイッチを閉じｔｉ、ｖ、か
ら直流５５０ｖを印加する。電源１２が低しンジＧ−Ｍ
デテクタ管１３をパルスバイアスし、該Ｇ−Ｍ管が放射
かを検出する。ＬＯイネーブル（２７号がＯＲゲート１
６及びライン２８を介して印加されてカウンタゲート６
をｐＫしカウンタ１７において計数されるべきクロック
パルスを通過させるが、該カウンタはマイクロプロセッ
サの指令によシリードエ、んデコーダからのクロックに
よりクリアさ力ている。この計数は、入射放射線によシ
発生されるプローブバッファ１５からのｉｅルス、又は
、マイクロプロセッサで規定された２秒の時間が経過し
た後マイクロプロセッサから発せられる信号のいずれか
によってデテクタラッチ９がクリアされるまで連続して
行なわれる。データラッチのクリアは、マイクロプロセ
ッサのＥフラグ入力に信号を送出し、カウンタ１７ヘク
ロツクパルスの伝送を終端させるカウンタゲ−トロを閉
にする、ＬＯイ坏−プル出力を取り除く。

ライン２８を介してマイクロプロセッサのＥフラグ入力
に送出された信号は、「ストライク」が発生し、そハに
よりマイクロプロセッサが、再びＧ−Ｍ管をノクルスバ
イアスする高電圧スイッチに仙、のイネーブル信号を送
出する前であってＧ−Ｍｆｆｌが十分に復活する時間が
経過したことを確実化する１、５ミリ秒待った後、計数
できることを、マイクロプロセッサに指示する。データ
収集サイクル（すなわち１．７秒）の後、マイクロプロ
セッサはライ）　Ｉ１０デコーダ３、デテクタラッチ９
及びＬ　ＯＨ，Ｖ、スイッチを介してＧ−Ｍ管を不動作
にし、メモリ内の２４ビツト力ウンタ時間及びスケール
ファクタ、及びスイッチリードバッファ２５から回路遅
延時間を読み出す。可畦な処理時間（すなわち０．３秒
）の後、ライ）　Ｉ１０デコーダ３、デテクタラッチ９
およびデータバス１８を介して再びＧ−Ｍ管をノＺルス
バイアスさせるため他の信号が送出され、他のデータ収
集サイクルが開始する。

低レンジ管１３を用いて計数するには放射線場の存在が
強すぎる場合、マイクロプロセッサはライ）　Ｉ１０デ
コーダ３及びデータバス１８を介してデテクタラッチ９
にパルスを印加して該デテクタラッチでＨＸイネーブル
信号を発生させて高ｒ１圧スイツチ１１に印加し、該高
ｒ１圧スイツチが閉じられキセノ４シタを介して高レン
ジデテクタ管１４に直流５５０■を印加してパルスバイ
アスさせて放射線検出状態にする。低レンジデテクタ管
１３は不動作の甘まである。マイクロプロセッサは、カ
ウンターリードバッファ２０およびオーバーフローフリ
ッノフロッゾ２２を介してカウンタ１７を監視すること
により放射線場が低レンジの使用では強すぎることを決
定する。またマイクロプロセッサは平均時間・カウント
（平均時間計数）が予め設定さｉ″Ｌだグロダラム時間
、例えば１時間当り５レントダンのレベルに等しい６マ
イクロ秒、未満であることを決定する。また放射線場が
統計的な信頼性のある測定に鑑みて高レンジで測定する
のには弱すぎる場合には自動的に低レンジに切換える。

このことは、時間・カウント（計数）が、例えば１時間
当り３レントゲンに等しい２５．０００マイクロ秒を超
えた場合いっても行なわれる。上述の切換はライトＩ１
０デコーダ３およびデテクタラッチ９を介して行なわれ
る。残っている高レンジ切換手順も低レンジデテクタの
場合と同様である。

計数手続が反復され、重みづけ測定がメモリ２の内部で
行なわれる。放射線の存在に係るこの測定は通常、線預
ディスプレイスイッチ２３カｌ１ｌＸｉＪＪされている
前述の場合を除いて、液晶ディスプレイ２４に表示され
る。表示は代表的には２秒毎に更新される。放射線の存
在がメモリ２にプログラムされているアラームレベルを
超えた場合、マイクロゾロセッサはアラーム２６を介し
てアラーム状態を指示する。このアラームは音声又は視
認によるものである。

前述に示した式及び前述のＧ−Ｍ管セットを用いて平均
時間・カウントを図解したものを下記に示す０ １０．０００　８．３３ １．０００　８３．３３ １００　８３３．３ １０　８．３３３ １　８３．３３３ ０．１　８３３．３３３ ０．０１　８，３３３，３３３ 以下余白 低レンジ（１８５０５Ｇ−Ｍ管） １０　Ｒ／ｈｒ　３．１２５ １　Ｒ／ｈｒ　３１．２５ 、Ｉ　Ｒ／ｈｒ　３１２．５ １０　ｍｒ／ｈｒ　３，１２５ １　ｍｒ／ｈｒ　３１，２５０ ．１　ｍｒ／ｈｒ　３１２，５００ ０．０１　ｍｒ／ｈｒ　３，１２５，０００上記テーブ
ルから、１時間・カウント」パラメータの簡単な測定に
よって、デテクタの切換なしに作動レンジの有意義な拡
張が有効にされていることが判る。若し望まれるならば
、このことは他のアプローチにおいて規定される成る特
徴を有効ならしめる。例えば、１８５ｏ５形Ｇ−Ｍ管と
関連づけて低しンジフリスキンググローブを用いること
はすぐれた直線性および統計的信頼性を維持しテ５０　
Ｒ／ｈｒを超えるガンマ・ベータｎ１ｌｌ　定能カ（ｃ
ａｐａｂｉｌｉｔｙ）を提供する。

一般に、この新しいＧ−Ｍ管動作状態の使用によって、
実現されるべき他のアプローチに比し、種種の利点が存
在する。多分最も重要なことは、但し、長期間に係る精
度、安定度および全体的な正確さを考慮して、新しい方
法がそれ自身全体的なディジタルシステムに適合するこ
とである。アナログ測定は要求されず、全てのデータお
よび信号が「オン」又は「オフ」の形態であり、成る要
求された基準が水晶制御形見振器であシ枦準として最も
信頼性のある形態である。例えばＧ−Ｍ始動゛亀圧変化
、Ｇ−Ｍ管定常状態期間（ｐｌａｔｅａｕ　ｌｅｎｇｔ
ｈ　）、狩いパルス幅の高電圧発生又はパルス当りの電
荷衿・のアナログ変化、イオンチャンバ電流、ＭＯ８Ｆ
ＥＴ漏洩訃流等の項目が「時間・カウント」動作方法に
よシ改善されることに注目されたい。この動作形態は、
デッドタイムが零で簡単な・母ルス計数を行う現想的な
デテクタの動作に類似している。

この形式の動作は、放射線場の強さが増加した場合パル
ス間の間隔の直線性の再現をもたらす一方で、本発明に
よる動作方法は放射線の強さが増加した場合「時間・カ
ウント」の直線性の再現をもたらす。

Ｇ−Ｍ管のデッドタイムに係る実時間の効果は、Ｇ−Ｍ
パルスが得られた場合測定時間を１．５ミリ秒停止させ
ることによシ除去される。従って、通常非イウ形の読み
を生じさせるＧ−Ｍ管のデッドタイムとその効果は本発
明の新動作方法により除去される。上述の如く、放射線
場の強さに比例するノ９ラメータは平均時間・カウント
の逆数である。この測定を得るため、提案した方法は、
全積算「時間・カウント」による積算されたＧ−Ｍ管カ
ウントについて定められた期間、例えば２秒の分割（割
算）を必要とする。この分割の前にはしかしながら、時
間データが回路遅延定数に対応する較正定数により調整
される。この商がＧ−Ｍ管スケールファクタに対応する
較正定数で掛けられ、ディジタル読みに印加され、所定
の時間間隔にわたって平均化された単位をｍｒ／ｈｒ又
はＲ／ｈｒとする放射線場の強さを提供する。

単位をｍｒ／ｈｒレベルとする場の強さ情報が２秒毎に
あられれるディジタル更新値として平滑された平均値の
形態で提供され得る。このことは低レベル領域における
場の強さの読み又は更新を得る前に長期間待機するとい
う必要性を除去する。

Ｒ／ｈｒレベルが２秒毎ディジタルで表示でき、または
ランニング平均が２秒ごとに表示され得る。ランニング
平均を用いた方法は、迅速な場の強さの変化が前の線量
率情報及びすぐ次の更新ディスシレーに提供される新レ
ベルをクリアするのに用いられ得ることを除いて、アナ
ログ測定で用いられている時定数に類似する。全線量情
報が増加する２秒場強さ情報から得られる。２秒毎に線
量率数がｉ　ｓｏｏで割シ算され線量の連続的な記録を
行うため記憶される。

図解のシステムの動作プログラムが、マイクロゾロセッ
サで制御される場合、測定時間期間のデータ収集サイク
ルについて下記の如くなる。

手順 ａ）−マ（クロプロセッサ内のストライクカウントを零
にすることによりデータ収集を初期化する。

一２４ビットハードウェア／ソフトウェアカウンメタイ
マを零にリセットする。

ｂ）データを入手する。

開始（ＢＥＧＩＮ　） イ）適切なデテクタ（高又は低レンジ）を作動可能とす
る。

口）待機し「ガイガーノやルス」が入った場合は下記ロ
ー１）のステップへ移行し、「計算時間経過フラグ」が
立った場合は（マイクロプロセッサにおける期間が経過
した場合は）下記ロー１１）のステップに移行する。

ト＋＞−ｒガイガーパルス」が１だけ増加としてあった
場合マイクロプロセッサ内にストライクカウントが記憶
され、「ガイガー管の完全復帰時間」が経過するまで待
機する。

−もし「計算時間経過フラグ」が立った場合、データ計
算ステップ（ロー１１）に分岐する。

−そうでなければステップ（ｂ−イ）に戻る。

終了（ＥＮＤ　） ローｉｉ）　−ｒ割算時間経過フラグ」が立った場合。

−デテクタラッチを介して能動的なデテクタをターンオ
フさせる（またタイマーを停止させる）。

−力クンタから８ビツトを読み出しマイクロプロセッサ
に入れ、拡張された１６ビツトカウントと混合し、「積
算された時間和」を得る。

２４ビツトのタイムカウント＝Ｔ１（積算された時間１
） −レンジスケール及び回路遅延７アクタを読み出し記憶
する。

ｃ）Ｔ２＝Ｔ１　（ストライクの数×回路遅延修正ファ
クタ） 「場の強さ」及び「更新線量」を４算する。

ｄ）調節された和を割る。

ＲＡＴＥ１＝（イベント和）／（積算された時間和）（
イベントコストライク） ６）高又は低レンジスケールファクタによりＲＡＴＥＩ
をスケーリングする。

ＲＡＴＥ２＝ＲＡＴＥＩ　Ｘスケールファクタ以下全白 ｆ）　ＲＡＴＥ２（場の強さ）に基づいて「積算線量（
ＤＯ８Ｅ　）　Ｊを更新する。

ＤＯ８Ｅ　＝　ＤＯ８Ｅ　＋　（ＲＡＴＥ２　Ｘ　’　
）８００ ｇ）ｒ綿！アラーム」をテストする。

ｈ）表示を円滑にするためディジタルフィルタを用いて
ＲＡＴＥ２をフィルタリングする。

フィルタ ＲＡＴＥ２　？　ＲＡＴＥ３ １）　ＲＡＴＥ（場の強さ）アラームをテストする。

（テストはＲＡＴＥ３を用いる） ｊ）次のデータ収集時間のためｒ　ＲＡＮＧＥフラッグ
」を更新する。

（高又は低レンジを選択する） （更新にはＲＡＴＥ３を用いる） ｋ）ステップａ）に戻り、データ収集を開始する。

ブロック図に図示の構成要素は代表的には下記のもので
ある。

マイクロプロセッサＩ　ＣＤＰ１８０５メモリ２ アドレスラッチ　ＣＤ４０１７４ アドレスデコーダ　ＭＳ１４５５６ ＥＰＲＯＭ　ＮＭＧ２７Ｃ３２ ＲＡＭ　ＣＭＤ６１１６ デテクタラツチ９　ＣＤ４０１７４ ライトレ勺デコーダ３　ＣＤ４０２８ ＤＭＡステートデコーダ５　ＭＧ　１４５５６リードＩ
１０デコーダ４　ＭＭ７４Ｃ４２高電圧スイッチ１０　
、１１　２Ｎ５０９６．２Ｎ５０１１グローブ出力パツ
フア２２　ＣＤ４０４９カウンタゲート６、アラーム６
　ＣＤ４０９３カウンタ１　ｇ　ＣＤ１４５２０ リードバツフア２０　、２５　ＭＭ７４Ｃ２４４オーバ
ーフローフリッゾフロップ２２　ＭＭ７４Ｃ３７４ティ
スプＬ／−２４／’Ａリン（Ｈａｍｌｉｎ）ＬＣＤ。

ＭＧ１４５４３，７４Ｃ３７４ 図解の特定的な実施例に関連づけて本発明について述べ
たが、本発明の変形形態および修正が本発明の本質的な
範囲又は技術的思想を逸脱することなく、かかる分野に
おいて通常の技術を有する者によシ当然に行なわれるの
であムそれ故添付の特許請求の範囲に記載されたものと
同等の広さの権利範囲の請求を意図するものである。

〔発明の効果〕

従って本発明によれば、放射線粒子又は波との相互作用
を記録するだめの検出装置を能動化しその後に生ずる第
１の実際の相互作用があるまでに経過する時間を計数す
る放射線場を測定する新規な検出装置および方法が提供
される。

また本発明によれば、上述の新規な放射線場測定装置お
よび方法であって、最初の相互作用が発生した場合検出
装置が所定の時間不動作にされ、再び動作可能とされ、
次の相互作用が生ずるまで計数処理が反復され、上記動
作可能および不動作は連続し、時間計数が平均化されて
放射線場の測定値を提供するものが得られる。

さらに本発明によれば、上述の新規な本発明の方法にも
とづく装置であって、検出装置内にガイガー・ミ、ｚ−
ラー管を用い、検出装置が不動作にされ次に検出装置が
動作可能にされるまでの時間がガイガー・ミューラー管
の完全な復活時間よシ長くしたものが得られる。

また本発明によれば、１度のレンジ変更が要求されるの
みで何十年にもわたる動作において正確で直線性の読み
を提供し、高精度かつ高安定度で非常に長寿命化された
検出装置として作動し、非常に高い放射線場において正
確に機能する能力を有する、新規な放射線測定装置が得
られる。

すなわち、本発明による方法は、放電間に固定の待機時
間を挿入することによシ高放射線場における放電数を制
限し、放電時間が短かいにも拘らず、放電間の時間間隔
が待機時間により支配されるようになシ、それによシ、
検出装置の寿命を延ばすというすぐれた効果をもたらす
。

また従来知られた使用形態による高放射線場におけるＧ
−Ｍ管の使用に係る他の問題点として挙げた、前回の放
電からＧ−Ｍ検出器の不完全な復帰によシ生ずる部分的
振幅放電の発生があり、これらのパルスの振幅が変化す
るから、放電を計数するために通常用いられている計数
装置は誤りの計数値を表示することも、本発明によれば
解消する。

さらに、従来のものは、非常に高い放射線場においてＧ
−Ｍ管検出装置は全体的に飽和状態にがり、それゆえ活
動不能（ｃｒｉｐｐｌｅ　）とされ、この活動不能は高
い放射線場が存在するにも拘らず低又は零読みという誤
差を生じさせたが、本発明において用いられた放電間の
固定の待機時間の結果として、Ｇ−Ｍ管検出装置は任意
の高放射砂場において作動可能となる。

また従来知られた形式の装置は、一般的に直線計測スケ
ールを提供せず、十分に制御された狭いパルス幅の高電
圧ｔ４ルスの発生を必要とし、読みの直線性と高電圧パ
ルスの発生の両者を実現させると、カウント成分に加え
ることが必要となり、全体の装置が複雑となシ、保証さ
れた１０年間ごとのスケール変更が必要となったが、本
発明による装置および方法は単に１度のレンジ調整動作
が要求されるだけで何十年にもわたる動作について本来
的に正確な直線読みを可能とする。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の一実施例としての放射線場の検出装置の
ブロック図である。 （符号の説明） １・・・マイクｉプロセッサ、２・・・メモリ、３・・
・ライトＩ１０デコーダ、４・・・リードＩ／′０デコ
ーダ、５・・・　ＤＭＡステートデコーダ、６・・・カ
ウンタダート、９・・・デテクタラッチ、１０．１１・
・・スイッチ、１３．１４・・・Ｇ−Ｍ管、１５・・・
プローブ出カッぐツファ、１７・・・カウンタ、２０・
・・カウンタダートノぐツファ、２２・・・オーバーフ
ローフリッグフロツゾ。 特許出願人 ニエークリ了リサーチコー４レイジョン特許出願代理人 弁理士　青　木　朗 弁理士西舘和之 弁理士平岩賢三 弁理士　山　口　昭　之 弁理士　西　山　雅　也 第１頁の続き ＠発明者　ミチオ　フジタ　アメリ ア、オ ０発　明　者　チャールズ　ビクター　アメリッパツク
　セブン 力合衆国、ペンシルバニア１９１２＆、フイラデルフイ
ーラニアストリート４８９ 力合衆国、ニューシャーシー０７６２６．フレスキル。 ス　ストリート１１６ 手続補正書 昭和６０年３月ノ２日 特許庁長官　志　賀　学　殿 １、事件の表示 昭和５９年特許願第２６６５１１号 ２、発明の名称 放射線場の強さを測定する装置とその方法３、補正をす
る者 事件との関係　特許出願人 名称　二：Ｌ−クリア　リサーチ　コーポレイション４
、代理人 住所　〒１０５東京都港区虎ノ門−丁目８番１０号”・
、・　二・１ °・１・−３、“：”）’、−、：、’、、’、７５、
補正の対象 （イ）明細書の「特許請求の範囲」の欄（ロ）明細書の
「発明の詳細な説明」の欄６、補正の内容 （イ）特許請求の範囲を別紙のとおシ補正する。 （ロ）明細書 （１）第８頁第２０行目〜第９頁第１行目の「を界は彷
活され」を「電界が復活し」と補正する。 （２）第９頁第４および第５行目を「〔発明が解決しよ
うとする問題〕」と補正する。 （３）第９頁第１８行目〜第２０行目の「このことは、
・・・どなる。」を「このことは、在来の使用方法では
、高い放射線場における放電を計数するのであるから検
出器寿命が短かくなる。」と補正する。 （４）第１゛０頁第１行目〜第６行目を削除する。 （５）第１０頁第９行目の「放電から」を「放電による
」と補正する。 （６）　第１０頁第１２行目の「誤りの計数値」を「誤
った計数値」と補正する。 （７）第１０頁第１４行目を削除する。 （８）第１０頁第２０行目〜第１１頁第２行目を削除す
る。 （９）第１１頁第１１行目〜第１４行目を削除する。 （１０第１１頁第１４行目と第１５行目の間に「問題を
解決するための手段、および、作用」を加える。 ＜１１１　第１１頁第１８．１９行目の「ストライク」
を「射突（ストライク）」と補正する。 （］、Ｚ　第１２頁第３行目の「ストライクの入射まで
」を「射突かある１で」と補正する。 （１３１第１２頁第６行目、第９．１０行目、第１６行
目、第１８行目の「ストライク」をそれぞれ「射突」と
補正する。 α４　第１４頁第１１〜］２行目の「放射肪審の強さ・
・・すなわち、」を削除する。 ０５）第１５頁第１６行目の「成る」を「成る」と補正
する。 （１６１第１６頁第１３行目の「放射線検出」の後ａη
　第１６頁第１７行目の式を下記の如く補正（１８）　
第１０頁第１４．１６行目の「ストライク」を「射突」
と補正する。 （１■　第２７頁第１２行目（ＤｒＨ，Ｖ、Ｊを「高電
圧源（Ｈ，Ｖ、）ｊと補正する。 （２０）第２８頁第１２行目の「ストライク」を「射突
」と補正する。 （ハ）第３３頁第１７行目の「理想的」を「理想的」と
補正する。 翰　第３５頁第１２行目の「２砂場強さ情報」を「２秒
間ごとの場の強さに関する情報」と補正する。 リ　第３５頁第１９行目、第３６頁第１４行目、第２７
頁第１２目および第１６行目の「ストライク」をそれぞ
れ「射突」と補正する。 ７、　添付書類の目録 補正特許請求の範囲　１通 ２、特許請求の範囲 １、放射線場の強さを測定する装置であって、出力回路
を有する偏奇された電位の放射線検出装置であって、該
検出装置が偏奇された場合その出力回路如おいて出力パ
ルスを発生することによって放射線の射突に応答して有
効化せ、偏奇されて（・ない場合放射線による射突があ
ってもその出力の発生によっては有効化されない形式の
もの。 該放射線検出装置（作動的に結合された偏寄手段であっ
て前記放射線検出装置を選択的に偏奇させ放射線の射突
に応答した出力パルスを発生させるもの、 時間割数を開始させ、終端させるように作動する時間制
御手段を包含する時間計数手段であって、前記放射線検
出装置の出力回路が該時間計数手段に作動的に結合され
、出力パルスの発生によシ時間計数を終了させる【１葺
前記時間計数手段を有効化するもの、及び。 マスク制御手段であって、前記偏寄手段に作動的に結合
されそれによ！ｌｌ該偏奇偏寄が放射線の射突に応答し
て前記放射線検出装置を選択的に偏奇させ、及び、前記
時間計数手段に作動的に結合され前記放射線検出装置の
作動的偏寄と同時に時間計数を開始させるように前記時
間計数手段を有効化し、前記放射線検出装置が出力パル
スを発生した場合に信号を受け入わるもの、 を具（１ｉｉ　ｊ々放射線場の強さを測定する装置。 に記載の装置。 せる、特許請求の範囲第１項に記載の装置。 に作動的に結合された記憶手段を具備し、前記マスク制
御手段が前記時間計数手段における時間計量計数情報が
、下記式、 −一 を 但しＲは放射線場の強さ。 ｔは時間計数が行なわれた時間、 Ｋは定数、 に基づいて放射線場の強さの情報Ｒに変換され、該放射
線場の強さの情報が累積線量情報として前記記憶手段に
おいて累積される、特許請求の範囲第１項に記載の装置
。 ７、前記マスク制御手段が時間計数を開始させる前記時
間割数手段の一部である前記時間制御手段に作動的に結
合され、前記マスク制御手段が前記時間計数手段の一部
ｐ前記時間制御手段を通して前記放射線検出装置の出力
回路からの信号を受け入れ、前記マスタ制御手段は前記
時間計数手段を時間計数を開始するようにすると同時に
、前記マスク制御手段が前記放射線検出装置によシ出力
パルスの発生に応答する信号を受け入れた後所定の時間
が経過した場合放射に応答させるため前記偏寄手段を前
記放射線検出装置を偏奇させるようにした特許請求の範
囲第１項に記載の装置。 Ｒ＝− 【 ｔけ時間計数が行なわれた時間。 Ｋは定数。 １０、第１の期間経過後前記マスク制御手段が第Ｕ、前
記マスク制御手段及び前記時間計数手段に作動的に結合
された記憶手段を具備し、前記マスク制御手段が前記時
間計数手段における時間計数を前記記憶手段に伝送する
ように作動し、該時間計数情報が、下記式、 但し、Ｒ７け規定された時間についての放射線場の強さ
。 Σカウントは上記規定された時間内で前記放射線検出装
置が動作した全時間にお（・て得られた時間計数の総和
、 ΣｔｏＮは前記規定された時間において前記放射線検出
装置が動作した全時間、 Ｋは定数、 Ｋ基づ（・て放射線場の強さ情報５に変換され、該放射
線場の強さが累積線分情報として前記記憶装置内で累積
される、特許請求の範囲第１項に記載の装置。 昆、放射線場の強さを測定する方法であって、下記の諸
段階、すなわち イ、放射線場における放射線検出装置を駆動し、時間を
計数する時間計数装置を同時に駆動する段階、 口、放射線検出久Ｂに応答して標識信号を発生する段階
、 −・、該標識信号を前記時間計数装置の動作を停止ざぜ
るために用いる段階、及び、 二、下記式 但し、Ｒは放射線場の強さ、 ｔは前記時間計数装置の動作と不動 作との間の時間。 Ｋは定数、 に従って前記時間計数装置によシ登録された時間計数を
変換する段階、 を具備する、放射線場の強さを測定する方法。 び。 法。 備する特許請求の範囲第１２項に記載の方法。 １６　下記の諸段階、すなわち る＆階、 口、放射線検出装置に応答して標識信号を発生する段階
。 二、下記式 但し、Ｒは放射線場の強さ、 ｔＦｉ前記時間計数装置の動作と不 動作との間の時間。 Ｋは定数、 に従って前記時間計数装置によシ登録された時間計数を
変換する段階、を連続的に反佼する段階を具備し、 上記各段階が、所定の固定した期間にわたって放射線場
の強さを得るため時間計数データを処理し、上記得られ
た放射線場の強さのデータを処理る段階、 生する段階、 二、下記式 には定数。 を連続的に反株する段階を具備し、 上記各段階が、所定の固定した期間にわたって放射線場
の強さを得るため時間言−１数データを処理し、上記４
ｐ、られた放射線場の強さの値を予め記憶された累積線
量情報に加算し、 上記得られた放射線場の強さのデータを処理して表示装
着用のデータの変動を低下させる。特許請求の範囲第１
２項に記載の方法。 巧放躬線場の強さを測定する方法であって下記の諸段階
、すなわち、 イ、放射線場における放射線検出装置を駆動し、時間を
計数する時間計数装置を同時に駆動する段階、 口、放射線検出装置に応答して標識信号を発生する段階
、 ・・、該標識信号を前記時間計数装置の動作を停止させ
るために用いる段階。 二、前記段階イ２２ロ、ハ規定された時間間隔で連続的
に反覆する段階、及び ホ、下ｉ１コ式 但し、Ｒ７は規定された時間につ℃・ての放射線場の強
さ。 Σカウントは上記規定された時間内で 前記放射線検出装置が動作した全時間 において得られた時間計数の総和、 ΣｔＯＮは前記規定された時間において前記放射線検出
装置が動作した全時間、Ｋは定数。 に基づいて前記時間言」数装置によシ登録された時間計
数を変換する段階、 を具備する放射線場の強さを測定する方法。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、放射線場の強さを測定する装置であって該装置は下
   記の組合せ、すなわち、 出力回路を有する偏奇された電位の放射線検出装置であ
   って、該検出装置が偏奇された場合その出力回路におい
   て出力パルスを発生することによって放射線の射突に応
   答して有効化し、偏奇されていない場合放射線による射
   突かあってもその出力の発生に有効化しない形式のもの
   、 該放射線検出装置の作動的に結合された偶奇手段であっ
   て前記放射線検出装置を選択的に偏奇させ放射線の射突
   に応答した出力パルスを発生させるもの、 時間計数を開始させ、終端させるように作動する時間制
   御手段を包含する時間計数手段であって、前記放射線検
   出装置の出力回路が該時間計数手段に作動的に結合され
   、出カッ４ルスの発生によυ時間計数を終了させるため
   前記時間計数手段を有効化するもの、及び、 マスク制御手段であって、前記偶奇手段に作動的に結合
   されそれによシ該偏奇手段が放射線の射突に応答して前
   記放射線検出装置を選択的に偏奇させ、及び、前記時間
   計数手段に作動的に結合され前記放射線検出装置の作動
   的偏寄と同時に時間計数を開始させるように前記時間計
   数手段を有効化し、前記マスク制御手段が前記放射線検
   出装置が出力パルスを発生した場合に信号を受け入れる
   もの、 を具備し、これらの組合せによシ成る放射線場の強さを
   測定する装置。 ２、前記マスク制御手段に及び前記時間計数手段作動的
   に結合された記憶手段をさらに具備し、前記マスク制御
   手段が前記記憶手段に前記時間計数手段における時間計
   数を伝送するように作動し、該時間計数情報が下記式、 以下余白 Ｋ ｌ＝− を 但しＲは放射線場の強さ、 ｔは時間計数が行なわれた時間、 Ｋは定数、 に基づいて放射線場の強さの情報に変換され、該放射線
   場の強さの情報が累積線量情報として前記記憶手段にお
   いて累積される、特許請求の範囲第１項に記載の装置。 ３、前記マスク制御手段が時間計数を開始させる前記時
   間計数手段の一部である前記時間制御手段に作動的に結
   合され、前記マスク制御手段が前記時間計数手段の一部
   を成す前記時間制御手段を通して前記放射線検出装置の
   出力回路からの信号を受け入れ、前記マスク制御手段は
   前記時間計数手段を時間計数を開始するようにすると同
   時に、前記マスク制御手段が前記放射線検出装置により
   出力パルスの発生に応答する信号を受け入れた後所定の
   時間が経過した場合放射線に応答するため前記偏寄手段
   を前記放射線検出装置を偏寄させるようにした特許請求
   の範囲第１項に記載の装置。 ４、前記マスク制御手段及び前記時間計数手段に作動的
   に結合された記憶手段をさらに具備し、前記マスク制御
   手段が前記記憶手段に前記時間計数手段における時間計
   数を伝送するように作動し、該時間計数情報が、下記式
   、 但し、ＲＴは規定された時間についての放射線場の強さ
   、 Σカウントは上記規定された時間内で前記放射線検出装
   置が動作した全時間において得られた時間計数の総和、 ΣｔＯＮは前記規定された時間において前記放射線検出
   装置が動作した全時間、 Ｋは定数、 に基づいて放射線場の強さ情報に変換され、該放射線場
   の強さが累積線量情報として前記記憶装置内で累積され
   る、特許請求の範囲第１項に記載の装置。 ５、放射線場の強さを測定する方法であって、下記の諸
   段階、すなわち イ、放射線場における放射線検出装置を駆動し、時間を
   計数する時間計数装置を同時に駆動する段階、 口、放射線検出に応答して標識信号を発生する段階、 八　該標識信号を前記時間計数装置の動作を停止される
   ために用いる段階、及び、 二、下記式 但し、Ｒは放射線場の強さ、 ｔは前記時間計数装置の動作と不動作との間の時間、 Ｋは定数、 に従りて前記時間計数装置に登録された時間計数を変換
   する段階、 を具備する、放射線場の強さを測定する方法。 ６、放射線場の強さを測定する方法であって下記の諸段
   階、すなわち、 イ、放射綜場における放射線検出装置を駆動し、時間を
   計数する時間計数装置を同時に駆動する段階、 ロ６放射線検出に対答して標識信号を発生する段階、 ハ、該標識信号を前記時間計数装置の動作を停止させる
   ために用いる段階、 二、前記段階イ１１ロ、ハ規定された時間間隔で連続的
   に反覆する段階、及び ホ、下記式 但し、ＲＴは規定された時間についての放射線場の強さ
   、 Σカウントは上記規定された時間内で前記放射線検出装
   置が動作した全時間において得られた時間計数の総和、 ΣｔＯＮは前記規定された時間において前記放射線検出
   装置が動作した全時間、 には定数、 に基づいて前記時間計数装置に登録された時間計数を変
   換する段階、 を具備する放射線場の強さを測定する方法。