JPS6014549B2 - Ｉ／ｎ検査方法 - Google Patents
Ｉ／ｎ検査方法Info
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- JPS6014549B2 JPS6014549B2 JP3694480A JP3694480A JPS6014549B2 JP S6014549 B2 JPS6014549 B2 JP S6014549B2 JP 3694480 A JP3694480 A JP 3694480A JP 3694480 A JP3694480 A JP 3694480A JP S6014549 B2 JPS6014549 B2 JP S6014549B2
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- Japan
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- circuit
- drive
- driver
- test
- signal
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04Q—SELECTING
- H04Q1/00—Details of selecting apparatus or arrangements
- H04Q1/18—Electrical details
- H04Q1/20—Testing circuits or apparatus; Circuits or apparatus for detecting, indicating, or signalling faults or troubles
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電子交≠熱機等に使用される磁気保持形継電
器を駆動する駆動回路において、駆動すべき継電器の駆
動線がただ１つ選択されたか否かを検査する１／Ｎ検査
方法に関するものである。
器を駆動する駆動回路において、駆動すべき継電器の駆
動線がただ１つ選択されたか否かを検査する１／Ｎ検査
方法に関するものである。
技術の背景一般に、電子交擬機等に収容される通話路形
成用小形クロスバスィツチやトランク等の信号回路を選
択駆動するために磁気保持形継電器が使用されている。
成用小形クロスバスィツチやトランク等の信号回路を選
択駆動するために磁気保持形継電器が使用されている。
この種の継電器（以下ＤＬと呼ぶ）を選択駆動する場合
、駆動回路を選択する回路の不良あるいは誤動作等によ
り誤って二本以上の駆動線が選択されると通話路等の誤
接続が発生するために、継鰭器駆動回路には通常１／Ｎ
検査回路が設けられている。
、駆動回路を選択する回路の不良あるいは誤動作等によ
り誤って二本以上の駆動線が選択されると通話路等の誤
接続が発生するために、継鰭器駆動回路には通常１／Ｎ
検査回路が設けられている。
従来技術と問題点
第１図は、その従釆の１／Ｎ検査方式に用いられる継電
器駆動回路を、第２図は、第１図の駆動回路に印加され
る信号のタイムチャートを示す。
器駆動回路を、第２図は、第１図の駆動回路に印加され
る信号のタイムチャートを示す。
第１図において、複数の継電器ＤＬ′〜ＤＬｎ′のうち
１個の継電器ＤＬを駆動するため、ＤＬ駆動線を選択す
る双方向性サィリスタＴＲｏ′〜ＴＲｎ′を図示せぎる
ＤＬ駆動線選択回路により選択する。１つの双方向性サ
ィリスタＴＲｉが選択された時に、継電器ＤＬを動作（
ＯＰ）あるいは復旧（ＲＥＬ）するために駆動器ＯＰＤ
Ｌ′およびＯＰＲｒあるいはＲＥＬＲＴ′およびＲＥＬ
ＤＬ′をオンとすることにより１個の継電器ＤＬが駆動
される。
１個の継電器ＤＬを駆動するため、ＤＬ駆動線を選択す
る双方向性サィリスタＴＲｏ′〜ＴＲｎ′を図示せぎる
ＤＬ駆動線選択回路により選択する。１つの双方向性サ
ィリスタＴＲｉが選択された時に、継電器ＤＬを動作（
ＯＰ）あるいは復旧（ＲＥＬ）するために駆動器ＯＰＤ
Ｌ′およびＯＰＲｒあるいはＲＥＬＲＴ′およびＲＥＬ
ＤＬ′をオンとすることにより１個の継電器ＤＬが駆動
される。
この時、ｎ＋１本のＤＬ駆動線中ただ１本選択されたか
どうかをチェックするために、選択騒動される継電器Ｄ
Ｌｏ〜ＤＬ′ｎの入出力側からそれぞれ抵抗ＲＢｏ〜Ｒ
Ｋを介した分離流引込みのための検査線１′ｏ〜１′ｎ
と、共通の駆動線ＣＯＭより抵抗ＲＡｏ〜ＲＡｎとダイ
オードＤん〜ＤＡｎの直列回路地〜Ｍｎとが１／Ｎ検査
回路に′へ引込まれるようにし、１／Ｎ検査が行なわれ
る。１／Ｎ検査回路Ｃ′の検査回路にｏ〜Ｃｎは検査線
および検査引き込み回路の１つに対し１回路設けられて
おり、それらの出力は１／ｎ回路に加えられ、検査回路
Ｃｏ〜Ｃｎおよび１／ｎ回路で１／Ｎ検査回路Ｃ′を構
成する。
どうかをチェックするために、選択騒動される継電器Ｄ
Ｌｏ〜ＤＬ′ｎの入出力側からそれぞれ抵抗ＲＢｏ〜Ｒ
Ｋを介した分離流引込みのための検査線１′ｏ〜１′ｎ
と、共通の駆動線ＣＯＭより抵抗ＲＡｏ〜ＲＡｎとダイ
オードＤん〜ＤＡｎの直列回路地〜Ｍｎとが１／Ｎ検査
回路に′へ引込まれるようにし、１／Ｎ検査が行なわれ
る。１／Ｎ検査回路Ｃ′の検査回路にｏ〜Ｃｎは検査線
および検査引き込み回路の１つに対し１回路設けられて
おり、それらの出力は１／ｎ回路に加えられ、検査回路
Ｃｏ〜Ｃｎおよび１／ｎ回路で１／Ｎ検査回路Ｃ′を構
成する。
今、継電器を動作（ＯＰ）させるとき、駆動器ＯＰＲｒ
，ＯＰＤＬ′をオンとすることにより地気Ｇから駆動器
ＯＰＲＴ′−ダイオードＤ′ｏ−共通線ＣＯＭ′−駆動
すべき継電器ＤＬ′，一選択された双方向性サィリスタ
ＴＲ′，一抵抗Ｒ′ｏ−駆動器ＯＰＤＬ′−−４８Ｖの
電源へとループを形成する。
，ＯＰＤＬ′をオンとすることにより地気Ｇから駆動器
ＯＰＲＴ′−ダイオードＤ′ｏ−共通線ＣＯＭ′−駆動
すべき継電器ＤＬ′，一選択された双方向性サィリスタ
ＴＲ′，一抵抗Ｒ′ｏ−駆動器ＯＰＤＬ′−−４８Ｖの
電源へとループを形成する。
またこれと同時に地気Ｇ−駆動器ＰＰＲＴ′−ダイオー
ドＤ′ｏ−検査引き込み回路Ｍｉ（抵抗ＲＡｉ−ダイオ
ードＤＡｉ）−抵抗ＲＢｉ−引込み線ｌｉ−選択された
双方向性サィリスタＴＲ′，一抵抗Ｒ′。−駆動器ＰＰ
ＤＬ′ーー４８Ｖ電源と分電流のループが形成される。
これにより検査回路Ｃｏ〜Ｃｎは引き込み線の亀圧Ｐｏ
〜Ｐｎをそれぞれ検出し、１／ｎ回路によって検査し、
駆動ルートがただ一つであれば１／Ｎ検査に適格とし、
それ以外ではェラ−とする。復旧（ＲＥＬ）駆動のとき
は、駆動器ＲＥＬＲｒ，ＲＥＬＤＬおよびＴＲ′，〜Ｔ
Ｒ′ｎのうちの選択されたものが動作し、抵抗戊Ｂｏ〜
ＲＢｎのうちの選択されたものを通ってＲＥＬＲｒから
の地気Ｇを検査回路へ引き込むことにより１／Ｎ検査が
行なわれる。第２図において横軸は時間で単位はミリ秒
である。ＤＵ駆動線選択信号ＬＶＳＷ′はＴＲ′ｏ〜Ｔ
Ｒ′ｎに選択的に印加される信号であり、これにより当
該双方向性サィリスタは導適状態とされる。動作／復旧
ＲＴ駆動信号ＯＰ／ＲＥＬＲｒＤＶは第１図の駆動器Ｏ
ＰＲｒまたはＲＥＬＲＴ′に印加される信号で、これに
より当該半導体スイッチが、該信号の期間導適状態とな
る。動作／復旧ＲＴ駆動信号ＯＰ／ＲＥＬＤＬ′ＯＶは
第１図の駆動器ＯＰＤＬまたはＲＥＬＤＬに印加される
信号でこれにより当該半導体スイッチが該信号の期間導
適状態となる。チェックタイミング信号ＣＨＫＴ′は第
１図の論理要素Ｌ′に印加され、検査回路出力と論理演
算を行ない検査出力１０′を得るためのものである。前
述の従来形式の１／Ｎ検査方式においては、ＤＬ駆動器
が感動または復旧することによって始めて引込み線の電
圧Ｐｏ〜Ｐｎが発生するものであり、ＤＬ駆動線の選択
に誤りが生じた場合、すなわち１／Ｎでなく同時に２回
路以上選択されまたは１回路も選択されない事態が生じ
た場合におし、て、ＤＬ駆動器が感動または復旧する前
に誤りを検出するという事前検査ができず、したがって
誤動作が発生してはじめて検出されるため、通話回線の
混線やその他の機器の損傷をまねくことがある。
ドＤ′ｏ−検査引き込み回路Ｍｉ（抵抗ＲＡｉ−ダイオ
ードＤＡｉ）−抵抗ＲＢｉ−引込み線ｌｉ−選択された
双方向性サィリスタＴＲ′，一抵抗Ｒ′。−駆動器ＰＰ
ＤＬ′ーー４８Ｖ電源と分電流のループが形成される。
これにより検査回路Ｃｏ〜Ｃｎは引き込み線の亀圧Ｐｏ
〜Ｐｎをそれぞれ検出し、１／ｎ回路によって検査し、
駆動ルートがただ一つであれば１／Ｎ検査に適格とし、
それ以外ではェラ−とする。復旧（ＲＥＬ）駆動のとき
は、駆動器ＲＥＬＲｒ，ＲＥＬＤＬおよびＴＲ′，〜Ｔ
Ｒ′ｎのうちの選択されたものが動作し、抵抗戊Ｂｏ〜
ＲＢｎのうちの選択されたものを通ってＲＥＬＲｒから
の地気Ｇを検査回路へ引き込むことにより１／Ｎ検査が
行なわれる。第２図において横軸は時間で単位はミリ秒
である。ＤＵ駆動線選択信号ＬＶＳＷ′はＴＲ′ｏ〜Ｔ
Ｒ′ｎに選択的に印加される信号であり、これにより当
該双方向性サィリスタは導適状態とされる。動作／復旧
ＲＴ駆動信号ＯＰ／ＲＥＬＲｒＤＶは第１図の駆動器Ｏ
ＰＲｒまたはＲＥＬＲＴ′に印加される信号で、これに
より当該半導体スイッチが、該信号の期間導適状態とな
る。動作／復旧ＲＴ駆動信号ＯＰ／ＲＥＬＤＬ′ＯＶは
第１図の駆動器ＯＰＤＬまたはＲＥＬＤＬに印加される
信号でこれにより当該半導体スイッチが該信号の期間導
適状態となる。チェックタイミング信号ＣＨＫＴ′は第
１図の論理要素Ｌ′に印加され、検査回路出力と論理演
算を行ない検査出力１０′を得るためのものである。前
述の従来形式の１／Ｎ検査方式においては、ＤＬ駆動器
が感動または復旧することによって始めて引込み線の電
圧Ｐｏ〜Ｐｎが発生するものであり、ＤＬ駆動線の選択
に誤りが生じた場合、すなわち１／Ｎでなく同時に２回
路以上選択されまたは１回路も選択されない事態が生じ
た場合におし、て、ＤＬ駆動器が感動または復旧する前
に誤りを検出するという事前検査ができず、したがって
誤動作が発生してはじめて検出されるため、通話回線の
混線やその他の機器の損傷をまねくことがある。
また各々の引込み線ごとに生じる電圧が異なるため、個
別に検査回路を設ける必要があり、ＤＬ駆動線の数（ｎ
＋１）が大きくなるにつれて検査回路が増大するという
欠点がある。発明の目的 本発明の目的は前述の従来形式における欠点１こかんが
み、ＤＬ駆動を行なう以前にＤＬ駆動器をＤＬが動作し
ない範囲のある短い時間動作させてＤり駆動回路を選択
し、該ＤＬ駆動回路が正常に動作したか杏かを又、ＤＬ
選択回路が１／Ｎで選択されたか否かを１個の１／Ｎ検
査回路により検査し、それによりＤＬ選択回路の１／Ｎ
選択が適正に行なわれたか否かを検出することにある。
別に検査回路を設ける必要があり、ＤＬ駆動線の数（ｎ
＋１）が大きくなるにつれて検査回路が増大するという
欠点がある。発明の目的 本発明の目的は前述の従来形式における欠点１こかんが
み、ＤＬ駆動を行なう以前にＤＬ駆動器をＤＬが動作し
ない範囲のある短い時間動作させてＤり駆動回路を選択
し、該ＤＬ駆動回路が正常に動作したか杏かを又、ＤＬ
選択回路が１／Ｎで選択されたか否かを１個の１／Ｎ検
査回路により検査し、それによりＤＬ選択回路の１／Ｎ
選択が適正に行なわれたか否かを検出することにある。
また併せて検査回路の簡易化を可能ならしめることにあ
る。発明の構成 本発明は、上記目的を達成するために、一方向の電流で
動作し、反対方向の電流で復旧する複数の磁気保持形継
電器と、該複数の磁気保持形継電器をそれぞれ駆動線を
介して動作させるよう駆動する動作用駆動器および復旧
させるよう駆動する復旧用駆動器と、該複数の磁気保持
形継電器の１つを選択して該駆動器により駆動させる選
択回路と、該選択回路により１つの該磁気保持形継電器
が選択されたか否かを該駆動線の電圧レベルにより検査
する１／Ｎ検査回路とを用いた１／Ｎ検査方法において
、あらかじめ該磁気保持形継電器が感動または復旧する
のに要する時間より短い時間、該選択回路およびあらか
じめ定められた該復旧用駆動器または動作用駆動器の一
方を動作させ、該選択回路がただ１つの磁気保持形継電
器を動作させるよう選択したか否かを該１／Ｎ検査回路
により検査することを特徴とする。
る。発明の構成 本発明は、上記目的を達成するために、一方向の電流で
動作し、反対方向の電流で復旧する複数の磁気保持形継
電器と、該複数の磁気保持形継電器をそれぞれ駆動線を
介して動作させるよう駆動する動作用駆動器および復旧
させるよう駆動する復旧用駆動器と、該複数の磁気保持
形継電器の１つを選択して該駆動器により駆動させる選
択回路と、該選択回路により１つの該磁気保持形継電器
が選択されたか否かを該駆動線の電圧レベルにより検査
する１／Ｎ検査回路とを用いた１／Ｎ検査方法において
、あらかじめ該磁気保持形継電器が感動または復旧する
のに要する時間より短い時間、該選択回路およびあらか
じめ定められた該復旧用駆動器または動作用駆動器の一
方を動作させ、該選択回路がただ１つの磁気保持形継電
器を動作させるよう選択したか否かを該１／Ｎ検査回路
により検査することを特徴とする。
発明の実施例
以下本発明の実施例を第３図および第４図を用いて説明
する。
する。
第３図に示すように、ＤＬ駆動線選択回路ＴＲｏ〜ＴＲ
ｎの負荷側すなわちＤＬ側より１／Ｎ検査回路Ｃへ引き
込む検査線ｌｏ〜ｌｎによってＤＬ駆動線１／Ｎの検査
を行なう。該検査回蝋は入力がＮ個中１個が地気のとき
１／Ｎを、２個以上地気のとき２／Ｎ以上を、全て地気
がない場合は０／Ｎを検査出力とする回路である。まず
負荷のＤＬの動作または復旧駆動を行なう前に駆動器Ｒ
ＥＬＲＴとＲＥＬＤＬを負荷のＯＬが感動または復旧し
ないような時間動作させ、この間にＤＵ駆動線のＤＵ駆
動選択回路の１／Ｎ動作の検査を行なう。すなわち駆動
器ＲＥＬＲＴ、駆動器ＲＥＬＤＬおよびＤリ駆動選択信
号ＬＶＳＷによる双方向性サィリスタＴＲｏ〜ＴＲｎの
うち選択されたものを動作させ、検査回路べの引き込み
検査織ｏ〜ｉｎの選択されたものが地気Ｇの電位となる
ようにし１／Ｎ検査回路を動作させる。上述の各駆動信
号のタイムチャートを第４図に示す。
ｎの負荷側すなわちＤＬ側より１／Ｎ検査回路Ｃへ引き
込む検査線ｌｏ〜ｌｎによってＤＬ駆動線１／Ｎの検査
を行なう。該検査回蝋は入力がＮ個中１個が地気のとき
１／Ｎを、２個以上地気のとき２／Ｎ以上を、全て地気
がない場合は０／Ｎを検査出力とする回路である。まず
負荷のＤＬの動作または復旧駆動を行なう前に駆動器Ｒ
ＥＬＲＴとＲＥＬＤＬを負荷のＯＬが感動または復旧し
ないような時間動作させ、この間にＤＵ駆動線のＤＵ駆
動選択回路の１／Ｎ動作の検査を行なう。すなわち駆動
器ＲＥＬＲＴ、駆動器ＲＥＬＤＬおよびＤリ駆動選択信
号ＬＶＳＷによる双方向性サィリスタＴＲｏ〜ＴＲｎの
うち選択されたものを動作させ、検査回路べの引き込み
検査織ｏ〜ｉｎの選択されたものが地気Ｇの電位となる
ようにし１／Ｎ検査回路を動作させる。上述の各駆動信
号のタイムチャートを第４図に示す。
横軸は第２図と同様である。信号４１はＤＬの駆動を行
なう前のＯＬが感動または復旧しないような短い時間選
択された双方向性サイリスタの制御回路に印放される信
号、信号４２は駆動器ＲＥＬＲＴにＤＬの駆動を行なう
前のめＬが感動または復旧しないような短い時間に印加
される信号、信号４３は駆動器ＲＥＬＤＬにＤＬの駆動
を行なう前のＤＬが感動または復旧しないような短い時
間印加される信号、および信号４４はＤＬの駆動を行な
う前の短い時間論理要素Ｌの一入力に印加される信号で
ある。信号４５はＤＬの駆動のために選択された双方向
性サィリスタの制御回路に印加される信号、信号４６は
ＤＬの駆動のために駆動器ＯＰＲＴまたはＲＥＬＲＴに
印加される信号、および信号４７はＤＬの駆動のために
駆動器ＯＰＤＬまたはＲＥＬＤＵこ印加される信号であ
る。前述のように、信号ＬＶＳＷ４１が前記のような短
時間加えられると第３図における双方向性サィリスタＴ
Ｒｏ〜ＴＲｎの選択された１つの双方向性サィリスタＴ
Ｒｉが導適状態となる。
なう前のＯＬが感動または復旧しないような短い時間選
択された双方向性サイリスタの制御回路に印放される信
号、信号４２は駆動器ＲＥＬＲＴにＤＬの駆動を行なう
前のめＬが感動または復旧しないような短い時間に印加
される信号、信号４３は駆動器ＲＥＬＤＬにＤＬの駆動
を行なう前のＤＬが感動または復旧しないような短い時
間印加される信号、および信号４４はＤＬの駆動を行な
う前の短い時間論理要素Ｌの一入力に印加される信号で
ある。信号４５はＤＬの駆動のために選択された双方向
性サィリスタの制御回路に印加される信号、信号４６は
ＤＬの駆動のために駆動器ＯＰＲＴまたはＲＥＬＲＴに
印加される信号、および信号４７はＤＬの駆動のために
駆動器ＯＰＤＬまたはＲＥＬＤＵこ印加される信号であ
る。前述のように、信号ＬＶＳＷ４１が前記のような短
時間加えられると第３図における双方向性サィリスタＴ
Ｒｏ〜ＴＲｎの選択された１つの双方向性サィリスタＴ
Ｒｉが導適状態となる。
また信号４２により駆動器ＲＥＬＲＴが導通状態となり
、信号４３により駆動器ＲＥＬＤＬが導適状態となる。
従って正しく動作すれば１／Ｎ検査のための引き込み線
ｌｏ〜ｌｎは選択されたｌｉのみが地気電位となる。こ
のようにして引き込み線ｌｏ〜ｌｎのうちただ１っのみ
が地気レベルであるかどうかを信号４４のタイミングで
１／Ｎ検査回路Ｃおよび論理要素Ｌで判定すれば第３図
のＤＬ〜ＤＬの回路の１／Ｎ検査をＤＬが実際に動作す
る信号４６および４７の印加時刻より前に行うことがで
きる。信号４６および４７はＤＬを動作または復旧させ
るに十分な時間持続しているので、信号４５で双方向性
サィリスタを導適状態にすることにより、動作駆動の場
合は、地気Ｇ、駆動器ＯＰＲＴ、ダイオードＤｏ、選択
されたＤＬ、双方向性サイリスタ、抵抗Ｒ。
、信号４３により駆動器ＲＥＬＤＬが導適状態となる。
従って正しく動作すれば１／Ｎ検査のための引き込み線
ｌｏ〜ｌｎは選択されたｌｉのみが地気電位となる。こ
のようにして引き込み線ｌｏ〜ｌｎのうちただ１っのみ
が地気レベルであるかどうかを信号４４のタイミングで
１／Ｎ検査回路Ｃおよび論理要素Ｌで判定すれば第３図
のＤＬ〜ＤＬの回路の１／Ｎ検査をＤＬが実際に動作す
る信号４６および４７の印加時刻より前に行うことがで
きる。信号４６および４７はＤＬを動作または復旧させ
るに十分な時間持続しているので、信号４５で双方向性
サィリスタを導適状態にすることにより、動作駆動の場
合は、地気Ｇ、駆動器ＯＰＲＴ、ダイオードＤｏ、選択
されたＤＬ、双方向性サイリスタ、抵抗Ｒ。
および駆動器ＯＰＤＬを通って電池の負端子−４８Ｖへ
達し駆動ルートを作る。復旧駆動の場合は、地気Ｇ、駆
動器ＲＥＬＲＴ、ダイオードＤＲ、双方向性サィリスタ
、選択されたＤＬ、抵抗ＲＲおよび駆動器ＲＥＬＤＬを
通って電池の負端子−４柵へ達し動作駆動時と逆方向の
駆動ルートを作りＤＬを復旧する。なお本発明に直接関
係のないＤＬに直列に挿入されている別の継電器接点、
抵抗、ダイオードの説明は省略する。チェックタイミン
グ信号ＣＨＫＴは検査回路出力と共に論理要素Ｌの入力
に印加され論理演算の結果を出力１０に与える。このよ
うな回路を用いれば、１／Ｎ検査回路Ｃへ引き込む検査
線ｌｏ〜ｌｎの検出すべき電位はＤＬの感動時も復旧時
も常に地気Ｇの電位となるので、従来形におけるように
感動時と復旧時で異なった電圧レベルを検出して１／Ｎ
検査をする必要がなく、ＲＡｉ，ＤＡｉ，ＲＢｉの回路
要素を省略することができ、１／Ｎ検査回路ＣＩ個のみ
で（１十ｎ）個の回路の検査ができる。
達し駆動ルートを作る。復旧駆動の場合は、地気Ｇ、駆
動器ＲＥＬＲＴ、ダイオードＤＲ、双方向性サィリスタ
、選択されたＤＬ、抵抗ＲＲおよび駆動器ＲＥＬＤＬを
通って電池の負端子−４柵へ達し動作駆動時と逆方向の
駆動ルートを作りＤＬを復旧する。なお本発明に直接関
係のないＤＬに直列に挿入されている別の継電器接点、
抵抗、ダイオードの説明は省略する。チェックタイミン
グ信号ＣＨＫＴは検査回路出力と共に論理要素Ｌの入力
に印加され論理演算の結果を出力１０に与える。このよ
うな回路を用いれば、１／Ｎ検査回路Ｃへ引き込む検査
線ｌｏ〜ｌｎの検出すべき電位はＤＬの感動時も復旧時
も常に地気Ｇの電位となるので、従来形におけるように
感動時と復旧時で異なった電圧レベルを検出して１／Ｎ
検査をする必要がなく、ＲＡｉ，ＤＡｉ，ＲＢｉの回路
要素を省略することができ、１／Ｎ検査回路ＣＩ個のみ
で（１十ｎ）個の回路の検査ができる。
なお、本実施例においては、１／Ｎ検査回路は地気電位
がただ１つ存在することを検査する回路として説明し、
検査に当って復旧用駆動器を短時間動作させて行なうと
したが、１／Ｎ検査回路は地気電位の検出に限られるこ
となく、一４８ボルト付近の電位を有する駆動線がただ
１つ存在することを検査する回路を用い、検査に当って
動作用駆動器を短時間動作させて１／Ｎ検査を行なうよ
うにすることもできる。
がただ１つ存在することを検査する回路として説明し、
検査に当って復旧用駆動器を短時間動作させて行なうと
したが、１／Ｎ検査回路は地気電位の検出に限られるこ
となく、一４８ボルト付近の電位を有する駆動線がただ
１つ存在することを検査する回路を用い、検査に当って
動作用駆動器を短時間動作させて１／Ｎ検査を行なうよ
うにすることもできる。
発明の効果
前述のように本発明によれば、ＤＬ駆動を行なう以前に
Ｄ以騒動器をＤＬが動作しない範囲のある短い時間動作
させてＤＬ選択回路を駆動し、該ＤＬ駆動回路が正常に
動作したか否かを又、ＤＬ選択回路が１／Ｎで選択され
たか否かを１個の１／Ｎ検査回路により検査し、それに
よりＤＬ選択回路の１／Ｎ選択が適正に行なわれたか否
かを検査できるため使用中の他の通話回線への混線等を
防止でき、又機器の損失を防ぐことができる。
Ｄ以騒動器をＤＬが動作しない範囲のある短い時間動作
させてＤＬ選択回路を駆動し、該ＤＬ駆動回路が正常に
動作したか否かを又、ＤＬ選択回路が１／Ｎで選択され
たか否かを１個の１／Ｎ検査回路により検査し、それに
よりＤＬ選択回路の１／Ｎ選択が適正に行なわれたか否
かを検査できるため使用中の他の通話回線への混線等を
防止でき、又機器の損失を防ぐことができる。
また併せて１／Ｎ検査回路の簡易化を含め検査引き込み
回路における部品の省略等回路要素を減少することがで
きる。
回路における部品の省略等回路要素を減少することがで
きる。
第１図は従来形の１／Ｎ検査方式に用いられる回路の回
路図、第２図は第１図の回路のおける各信号の時間の関
係を表わすタイムチャート、第３図は本発明の一実施例
としての１／Ｎ検査方法に用いられる回路の回路図、第
４図は第３図の回路における各信号の時間の関係を表わ
すタイムチャートである。 Ｃ，Ｃ′……１／Ｎ検査回路、ＣＨＫＴ，ＣＨＫＴ′・
・・・・・チェックタイミング信号、ＤＬｏ〜ＤＬ，Ｄ
Ｌｏ〜ＤＬ′ｎ・・・・・・磁気保持形織電器、１０，
１０′……検査出力、Ｌ，し……論理要素、ＬＶＳＷ，
ＬＶＳＷ′・・・・・・ＤＬ駆動選択信号、ｌｏ〜ｌｎ
，１′ｏ〜１′ｎ……検査回賂への引き込み検査線、Ｏ
ＰＤＬ，ＯＰＲＴ・・・・・・動作時駆動器、ＯＰ／Ｒ
ＥＬＤＬＤＶ，ＯＰ／ＲＥＬＤＬＤＶ・・・・・・動作
／復旧ＤＬ駆動信号、ＯＰ／ＲＥＬＲＴＤＶ，ＯＰ／Ｒ
ＥＬＲＴ′ＤＶ・・・…動作／復旧ＲＴ駆動信号、ＲＥ
ＬＤＬ，ＲＥＬＲＴ……復旧時駆動器、ＴＲｏ〜ＴＲｍ
ＴＲｏ〜ＴＲｎ…・・・双方向性サィリスタ、４１…
・・・ＤＬ駆動前のＤＬ駆動選択信号、４２…・・・Ｄ
り駆動前の復旧Ｒｈ駆動信号、４３・・・・・・ＤＵ駆
動前の復旧ＲＴ駆動信号、４４・…・・チェックタイミ
ング信号、４５・・・・・・ＤＬ駆動時のＤり騒動選択
信号、４６・・・・・・ＤＬ駆動時の動作／復旧ＲＴ駆
動信号、．４７・・・・・・ＤＬ駆動時の動作／復旧Ｄ
Ｕ駆動信号。 第１図 第２図 第３図 第４図
路図、第２図は第１図の回路のおける各信号の時間の関
係を表わすタイムチャート、第３図は本発明の一実施例
としての１／Ｎ検査方法に用いられる回路の回路図、第
４図は第３図の回路における各信号の時間の関係を表わ
すタイムチャートである。 Ｃ，Ｃ′……１／Ｎ検査回路、ＣＨＫＴ，ＣＨＫＴ′・
・・・・・チェックタイミング信号、ＤＬｏ〜ＤＬ，Ｄ
Ｌｏ〜ＤＬ′ｎ・・・・・・磁気保持形織電器、１０，
１０′……検査出力、Ｌ，し……論理要素、ＬＶＳＷ，
ＬＶＳＷ′・・・・・・ＤＬ駆動選択信号、ｌｏ〜ｌｎ
，１′ｏ〜１′ｎ……検査回賂への引き込み検査線、Ｏ
ＰＤＬ，ＯＰＲＴ・・・・・・動作時駆動器、ＯＰ／Ｒ
ＥＬＤＬＤＶ，ＯＰ／ＲＥＬＤＬＤＶ・・・・・・動作
／復旧ＤＬ駆動信号、ＯＰ／ＲＥＬＲＴＤＶ，ＯＰ／Ｒ
ＥＬＲＴ′ＤＶ・・・…動作／復旧ＲＴ駆動信号、ＲＥ
ＬＤＬ，ＲＥＬＲＴ……復旧時駆動器、ＴＲｏ〜ＴＲｍ
ＴＲｏ〜ＴＲｎ…・・・双方向性サィリスタ、４１…
・・・ＤＬ駆動前のＤＬ駆動選択信号、４２…・・・Ｄ
り駆動前の復旧Ｒｈ駆動信号、４３・・・・・・ＤＵ駆
動前の復旧ＲＴ駆動信号、４４・…・・チェックタイミ
ング信号、４５・・・・・・ＤＬ駆動時のＤり騒動選択
信号、４６・・・・・・ＤＬ駆動時の動作／復旧ＲＴ駆
動信号、．４７・・・・・・ＤＬ駆動時の動作／復旧Ｄ
Ｕ駆動信号。 第１図 第２図 第３図 第４図
Claims (1)
- １ 一方向の電流で動作し、反対方向の電流で復旧する
複数の磁気保持形継電器と、該複数の磁気保持形継電器
をそれぞれ駆動線を介して動作させるよう駆動する動作
用駆動器および復旧させるよう駆動する復旧用駆動器と
、該複数の磁気保持形継電器の１つを選択して該駆動器
により駆動させる選択回路と、該選択回路により１つの
該磁気保持形継電器が選択されたか否かを該駆動線の電
圧レベルにより検査する１／Ｎ検査回路とを用いた１／
Ｎ検査方法において、 あらかじめ該磁気保持形継電器
が感動または復旧するのに要する時間より短い時間、該
選択回路およびあらかじめ定められた該復旧用駆動器ま
たは動作用駆動器の一方を動作させ、該選択回路がただ
１つの磁気保持形継電器を動作させるよう選択したか否
かを該１／Ｎ検査方法により検査することを特徴とする
１／Ｎ検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3694480A JPS6014549B2 (ja) | 1980-03-25 | 1980-03-25 | Ｉ／ｎ検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3694480A JPS6014549B2 (ja) | 1980-03-25 | 1980-03-25 | Ｉ／ｎ検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56134896A JPS56134896A (en) | 1981-10-21 |
| JPS6014549B2 true JPS6014549B2 (ja) | 1985-04-13 |
Family
ID=12483856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3694480A Expired JPS6014549B2 (ja) | 1980-03-25 | 1980-03-25 | Ｉ／ｎ検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6014549B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63123096A (ja) * | 1986-11-13 | 1988-05-26 | 石川 元明 | ポケツトベル サイレンサ |
| JPH025944U (ja) * | 1988-06-27 | 1990-01-16 | ||
| JPH0334732A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-14 | Nec Corp | カード型個別呼出用受信機 |
| JPH0443035U (ja) * | 1990-08-08 | 1992-04-13 | ||
| JPH04116359U (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-16 | カシオ計算機株式会社 | ページング受信機 |
| JPH0517802Y2 (ja) * | 1985-07-04 | 1993-05-12 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60260287A (ja) * | 1984-06-06 | 1985-12-23 | Fujitsu Ltd | １／ｎチエツク方式 |
-
1980
- 1980-03-25 JP JP3694480A patent/JPS6014549B2/ja not_active Expired
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0517802Y2 (ja) * | 1985-07-04 | 1993-05-12 | ||
| JPS63123096A (ja) * | 1986-11-13 | 1988-05-26 | 石川 元明 | ポケツトベル サイレンサ |
| JPH025944U (ja) * | 1988-06-27 | 1990-01-16 | ||
| JPH0334732A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-14 | Nec Corp | カード型個別呼出用受信機 |
| JPH0443035U (ja) * | 1990-08-08 | 1992-04-13 | ||
| JPH04116359U (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-16 | カシオ計算機株式会社 | ページング受信機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56134896A (en) | 1981-10-21 |
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