JPS6014167A - Ultrasonic examination device - Google Patents
Ultrasonic examination deviceInfo
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- JPS6014167A JPS6014167A JP12260583A JP12260583A JPS6014167A JP S6014167 A JPS6014167 A JP S6014167A JP 12260583 A JP12260583 A JP 12260583A JP 12260583 A JP12260583 A JP 12260583A JP S6014167 A JPS6014167 A JP S6014167A
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N29/36—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/40—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by amplitude filtering, e.g. by applying a threshold or by gain control
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
この発l」弔J、超音波ビームを走査して検査、篩断を
行なう装置に関する。近年超音波による人体の診断9診
察装置がufj発され身体の断層像をBスコープ等で表
革して診察に供されている、。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION This invention relates to a device that performs inspection and sieving by scanning an ultrasonic beam. In recent years, ultrasonic diagnostic equipment for the human body has been developed, and tomographic images of the body are displayed using a B-scope and the like for examination.
一方、超音波により鉄銅製品、加工品などの非破法検介
しこおい−CもBスコープ表示の断層像表示が活用され
つつある。On the other hand, B-scope tomographic image display is also being utilized for non-destructive inspection of iron and copper products, processed products, etc. using ultrasonic waves.
2’; 1 t’2<1は一般的1よ超音波計1i/1
装置の系統図である。2'; 1 t'2<1 is general 1, ultrasonic meter 1i/1
It is a system diagram of a device.
図において(1)は超音波を送受する複数個の超音波4
辰動子を組み込んだ超音波探触子であり、超音波振動子
(1a)〜(1n)は超音波を走査するためアレイ状に
配列されている。(2a)〜(2n)は送信回路。In the figure, (1) indicates multiple ultrasonic waves 4 that transmit and receive ultrasonic waves.
This is an ultrasonic probe incorporating a radial element, and the ultrasonic transducers (1a) to (1n) are arranged in an array for scanning ultrasonic waves. (2a) to (2n) are transmitting circuits.
(5a)〜(6n)は送信遅延回路、 (4a)〜(4
n)は受信回路、 (5a)〜(5n)は受信遅延fR
J路、(6)は遅延時間制御回路、(7)は主制御回路
、(8)は加算回路、(9)は信号処理回路、 01は
表示回路である。(5a) to (6n) are transmission delay circuits, (4a) to (4
n) is the receiving circuit, (5a) to (5n) are the receiving delays fR
J path, (6) is a delay time control circuit, (7) is a main control circuit, (8) is an addition circuit, (9) is a signal processing circuit, and 01 is a display circuit.
図において、走査する方向あるいは焦点距離に対して定
まる送信遅延量が遅延時間ity制御回路(6)により
決定され、送信遅延回路(3a)〜(6n)を経て送信
回路(2a)〜(2n)に与えられ、超音波振動子(1
a)〜(In)が励振して超音波ビームを発生ずる。超
音波ビームは被検材物(11示ぜず)の内部等で反射し
、再び超音波振動子(1a)〜(1n)で電気信号とな
り、受信回路(4a)〜(4n)で受信されて、一般に
対応する送信遅延時間と同量の遅延を受信遅延回路(5
a)〜(5n)で与えられた後に加算回路−(8)で加
算される。加算された信号は最後に表示1+、l、4動
回路oolの入力信号となり増幅、処理されて表示回路
oI)に表示される。In the figure, the amount of transmission delay determined with respect to the scanning direction or focal length is determined by the delay time ity control circuit (6), and then sent to the transmission circuits (2a) to (2n) via the transmission delay circuits (3a) to (6n). is given to the ultrasonic transducer (1
a) to (In) are excited to generate an ultrasonic beam. The ultrasonic beam is reflected by the inside of the material to be inspected (11 not shown), becomes an electric signal again by the ultrasonic transducers (1a) to (1n), and is received by the receiving circuits (4a) to (4n). Generally, the same amount of delay as the corresponding transmission delay time is applied to the reception delay circuit (5
After being given in a) to (5n), they are added in an adder circuit (8). The added signals finally become input signals for the display 1+, l, and 4 motion circuits ool, are amplified and processed, and are displayed on the display circuit oI).
断層像は上記送信、受信の遅延量を組法変えて超音波ビ
ームを平面内で走査して、その平面内のBスコープとし
て表示される。The tomographic image is displayed as a B scope within the plane by scanning the ultrasonic beam within the plane by changing the delay amount of the above-mentioned transmission and reception.
このような超音波診断装置は人間の体内の断層像を高度
ブよ専門知識をもった医師が目視にて観察して診断を行
なうものであり、自動的に検査を行なう目的には構成さ
れ−こいなかった。Such ultrasonic diagnostic equipment allows doctors with highly specialized knowledge to visually observe and diagnose tomographic images of the inside of the human body, and is not designed to automatically perform examinations. It wasn't there.
即ち、自動的な検査のためには装置の各動作が正常であ
ることの点検校正機能が必要であり、再現性を保持する
ものでなければならない。That is, automatic inspection requires an inspection and calibration function to ensure that each operation of the device is normal, and must maintain reproducibility.
特に人間の判断機能を機拡におきかえるため。In particular, to replace human decision-making functions with expanded capabilities.
受イa信号のレベルと時間軸上の位置の再現団、安定性
は第1条件である。さらに診i’l;Ir装はの場合。The first condition is the level of the received A signal, the reproduction group and stability of the position on the time axis. Further examination is required.
人間の局体内の各部の1地器の位置は大略判り]してお
り、その位置、大きさを医師がBスコープから判断して
#断を下すものであり2機械的iよ判11ノ1や診1υ
tば不役であり、むしろ不uf能に近いと考えら上しる
。The position of each part of the human body is roughly known], and the doctor judges the position and size from the B scope and makes a diagnosis. Ya diagnosis 1υ
It is thought that it is useless, and in fact, it is close to incompetence.
従って、自動化した場合に対する動作チェック機能の欠
除1校正機能の欠除などの面で問題があった。Therefore, there have been problems in terms of the lack of an operation check function and the lack of a calibration function in the case of automation.
一方、超音波による従来の鉄姶製品の自動検査装置の例
を第2図に示す。On the other hand, FIG. 2 shows an example of a conventional automatic inspection device for iron products using ultrasonic waves.
図において、(1)は超音波探触子、(2)ば送信回路
。In the figure, (1) is an ultrasonic probe, and (2) is a transmission circuit.
(4)は受信回路、(7)は主制御回路、(2はゲート
回路。(4) is a receiving circuit, (7) is a main control circuit, and (2 is a gate circuit).
α鼾ま受信レベル検出回路、0引ま受信信号の時間計測
回路、a9は受信レベルと発生時間とから欠陥を判定す
る判定回路、 QIGは判定結果の出力回路、0ηは校
正時に得た信号レベルから受信回路(4)の増幅度を制
御するゲイン制御回路、0υは校正時に得た信号の時間
からゲート時間を制御するゲート制御回路、 (19a
、) 、 (19b)は連動で動作する切換スイッチで
検査の場合および実際の被わ1査物に超音波を発して校
正する場合は接点S1の方へ倒れ9点検時は接点S2の
方へ倒れる。α snoring reception level detection circuit, zero-subtraction reception signal time measurement circuit, a9 is a judgment circuit that judges defects from the reception level and occurrence time, QIG is a judgment result output circuit, 0η is the signal level obtained during calibration 0υ is a gain control circuit that controls the amplification degree of the receiving circuit (4), and 0υ is a gate control circuit that controls the gate time from the time of the signal obtained during calibration. (19a
, ) , (19b) is a changeover switch that operates in conjunction with the switch.When inspecting or calibrating by emitting ultrasonic waves to the actual covered object, it will fall towards contact S1, and when inspecting, it will move towards contact S2. Fall down.
従来の自動検査装置においては個々の探触子(1)毎に
送信回路(2)と受信[呻路(4)を含む1組のイs号
処理回路が備えられているのか通當であり1個々の探触
子毎に点検1校正が行なわれ−(いる。In conventional automatic inspection equipment, each probe (1) is equipped with a set of signal processing circuits including a transmitting circuit (2) and a receiving circuit (4). 1 Inspection and calibration are performed for each individual probe.
次に@動作について詳述する。Next, the @ operation will be explained in detail.
(イ)回路動作の点検
切換スイッチ(19a)、 (19b)かそれぞれ接点
s2に倒れ送信信号は直接受信回路(4)に入力し検出
され、全体の動作が点検される。(a) Inspection of circuit operation The changeover switches (19a) and (19b) each fall to contact s2, and the transmitted signal is directly input to the receiving circuit (4) and detected, and the overall operation is inspected.
(ロ)校正
切換スイッチ(19a)、 (19L+)がそれぞれ接
点S1に倒れ送信信号は探触子(1)に加えられる。探
触子(りにはあらかじめ大きさと位1611などの性状
の11」明している欠陥をもった校正用テストピース(
図示せず)IJζ超音波を伝播する接触媒質(図示ぜず
)を経て当接されており、上記欠陥からの反射波から得
られる受信信号の大きさと時間軸上の位置とでゲイン制
御回路(17)とゲート制御回路Hが動作して増幅度、
ゲート位置を正しく設定する。(b) The calibration changeover switches (19a) and (19L+) each fall to contact S1, and the transmission signal is applied to the probe (1). A test piece (for calibration) with a defect that has been determined in advance, such as size and position 1611, is used for the probe.
IJζ (not shown) is brought into contact with the IJζ via a couplant material (not shown) that propagates the ultrasonic waves, and a gain control circuit ( 17) and gate control circuit H operate to adjust the amplification degree,
Set the gate position correctly.
Cつ 検査
上記(イ)点検と(ロ)校iEが行なわれた後に切換ス
ツチ(19a)、 (19b)が接点s1へ倒れた状態
で検査が行なわれる。C. Inspection After the above (a) inspection and (b) iE are performed, an inspection is performed with the switching switches (19a) and (19b) falling to the contact point s1.
以上述べた超音波検査装置の各部(幾能をそのままアレ
イ状に配された複数個の超音波振動子からなる探触子を
用いた装置に適用した場合、上記各超音波振動子の送信
効率あるいは受信効率のバラツキ及び受信回路、受信遅
延回路のバラツキに起因して次の欠点があった。When each part of the ultrasonic inspection device described above (the geometry is applied as it is to a device using a probe consisting of a plurality of ultrasonic transducers arranged in an array), the transmission efficiency of each ultrasonic transducer described above is Alternatively, the following drawbacks arise due to variations in reception efficiency and variations in reception circuits and reception delay circuits.
(イ)上記のバラツキを調整しないで使用すると。(b) If the above variations are used without adjustment.
各超音波振動子によって受信された超音波信号が受信回
路、受信遅延回路を経て、加算回路にて合成されたとき
焦点ボケなどが生じ性能が低下する。When the ultrasonic signals received by each ultrasonic transducer pass through a receiving circuit, a receiving delay circuit, and are combined in an adding circuit, defocusing occurs and performance deteriorates.
(ロ)受信回路、受信遅延回路のバラツキを調整できる
回路を付加したとしても、その調整がたいへんである。(b) Even if a circuit that can adjust variations in the receiving circuit and the receiving delay circuit is added, the adjustment is difficult.
0う 受信回路、受信遅延回路のバラツキを無くしたと
しても、超音波振動子を使用目的に応じて取り換えて使
用したとき、超音波振動子のバラツキを吸収するため各
々の受信回路のゲインをこれに合わせて調整する必要が
ある。Even if variations in the receiving circuit and reception delay circuit are eliminated, when the ultrasonic transducer is replaced and used depending on the purpose of use, the gain of each receiving circuit will be changed to absorb the variation in the ultrasonic transducer. need to be adjusted accordingly.
に)超音波ビームを走査する際に送信遅延時間に合わせ
て受信遅延時間も変える必要があるが。2) When scanning an ultrasound beam, it is necessary to change the reception delay time to match the transmission delay time.
遅延回路に使う遅延素子によっては遅延時間に応じて通
過利得が異なる場合があり、これが上記(イ)と同様、
焦点ボケなどの性能低下を招く。これに加えて、超音波
振動子に指向特性があるため走査角度に応じて超音波送
受の総合感度を補正する必要があるが、これを受信回路
で補正する場合、その補正量の決定と補正量の是非の判
定が困難であるという欠点もあった。Depending on the delay element used in the delay circuit, the passing gain may differ depending on the delay time, and this is similar to (a) above.
This results in performance deterioration such as defocusing. In addition, since the ultrasonic transducer has directional characteristics, it is necessary to correct the overall sensitivity of ultrasonic transmission and reception according to the scanning angle, but when this is corrected in the receiving circuit, the amount of correction must be determined and corrected. There was also a drawback that it was difficult to judge the appropriateness of the amount.
この発明はこれらの欠点を解決し、精度の良い超音波検
査装置を提供するためになされたものである。The present invention has been made in order to solve these drawbacks and provide a highly accurate ultrasonic testing device.
以下第3図に示すこの発明の一実施例について詳述する
。An embodiment of the present invention shown in FIG. 3 will be described in detail below.
第3図(a)は、この発明の一実施例を示す超音波検査
装置の構成1!/:1であり1図において、(1)は超
音波探触子、 (1a)〜(1n)は個々の超音波振動
子(2a)〜(2n)は送信回路、(3a)〜(”+n
)は送信遅延回路。FIG. 3(a) shows the configuration 1 of an ultrasonic inspection apparatus showing an embodiment of the present invention! /:1, and in Figure 1, (1) is an ultrasound probe, (1a) to (1n) are individual ultrasound transducers (2a) to (2n) are transmission circuits, and (3a) to (" +n
) is the transmission delay circuit.
(4a)〜(4n)は受信回路、 (5a)〜(5n)
は受信遅延回路、(6)は遅延時間制御回路、(7)は
主制御回路、(8)は加算回路、0りはゲート回路、住
騰は受信レベル検出回路、(国は判定回路、(1Gは出
力回路、(lηはゲイン制御回路、α沙はゲート制御回
路である。(4a) to (4n) are receiving circuits, (5a) to (5n)
is a reception delay circuit, (6) is a delay time control circuit, (7) is a main control circuit, (8) is an addition circuit, 0 is a gate circuit, Sumitomo is a reception level detection circuit, (Kuni is a judgment circuit, ( 1G is an output circuit, (lη is a gain control circuit, and αsha is a gate control circuit.
第3図(b)は、この発明の他の実施例を示す超音波検
査装置の構成図である。この図では第3図(a)に対し
、出力選択回路21が追加されている。FIG. 3(b) is a block diagram of an ultrasonic inspection apparatus showing another embodiment of the present invention. In this figure, an output selection circuit 21 is added compared to FIG. 3(a).
第3図(C)は、この発明の他の実施例を示す超音波検
査装置の構成図である。この図では第3図(籾に対し、
入力切換回路c2υが追加されている。FIG. 3(C) is a configuration diagram of an ultrasonic inspection apparatus showing another embodiment of the present invention. In this figure, Figure 3 (for paddy,
An input switching circuit c2υ is added.
第3図(d)は、この発明の他の実施例を示す超音波検
査装置の構成図である。この図では第3図(b)に対し
、変形回路c!渇が追加されている。FIG. 3(d) is a configuration diagram of an ultrasonic inspection apparatus showing another embodiment of the present invention. In this figure, in contrast to FIG. 3(b), the modified circuit c! Thirst has been added.
第3図(θ)は、この発明の他の実施例を示す超音波検
査装置の構成図である。この図では第3図(b)に対し
2校正信号発生回路翰が追加されている。FIG. 3 (θ) is a configuration diagram of an ultrasonic inspection apparatus showing another embodiment of the present invention. In this figure, two calibration signal generation circuits are added compared to FIG. 3(b).
第3図(f)は、この発明の他の実施例を示す超音波検
査装置の構成図である。この図では第3図(d)に対し
、出力選択回路■が追加されている。FIG. 3(f) is a configuration diagram of an ultrasonic inspection apparatus showing another embodiment of the present invention. In this figure, an output selection circuit (2) is added compared to FIG. 3(d).
第3図(ωは、この発明の他の実施例を示す超音波検査
装置の構成図である。この図では第3図(f>に対し、
距離振幅補正回路(2)が追加されている。FIG. 3 (ω is a configuration diagram of an ultrasonic inspection apparatus showing another embodiment of the present invention. In this figure, in contrast to FIG. 3 (f>),
A distance amplitude correction circuit (2) is added.
次に、この発ゆ」を構成する各回路の動作を説明する−
まず全体の動作と信号の関係を第3図(a)に基づいて
説明する。主制御回路(7)の信号梃より遅延時間制御
回路(6)を1駆動して、送信遅延量を決定し。Next, the operation of each circuit constituting this generator will be explained. First, the overall operation and the relationship between signals will be explained based on FIG. 3(a). The delay time control circuit (6) is driven by 1 from the signal lever of the main control circuit (7) to determine the amount of transmission delay.
かつその遅延量をもって送信遅延回路(3a)〜(3n
)で遅延された励振パルスを送信回路(2a)〜(2n
)から発生し、超音波探触子(1)の超音波振動子(1
a)〜(1n)に加えられて超音波パルスが発生する。And with the amount of delay, the transmission delay circuits (3a) to (3n
) transmitting circuits (2a) to (2n
), and the ultrasonic transducer (1) of the ultrasonic probe (1)
Ultrasonic pulses are generated in addition to a) to (1n).
超音波振動子(1a)〜(1n)にて発生した超石波パ
ルスは、互いに干渉により合成波として図示していない
被検査材内を伝搬し1反射源にて反射され再び超音波振
動子(1a)〜(1n)に入力し電気信号に変換される
。この電気信号は、受信回路(4a)(4n)に入力さ
れ 受信回路(4a)〜(4n)の出力は受信遅延回路
(5a)〜(5n)にて時間遅延を与えられ、加算回路
(8)に入力され加算されろ。受信回路(4a)〜(4
n)のゲインはゲイン制御回路(1ηにて制御され、受
信遅延回路(5a)〜(5n)の遅延量は、遅延時間制
御回路(6)にて制御される。The ultrasonic wave pulses generated by the ultrasonic transducers (1a) to (1n) propagate in the inspected material (not shown) as a composite wave due to interference with each other, are reflected by one reflection source, and are returned to the ultrasonic transducers. The signals are input to (1a) to (1n) and converted into electrical signals. This electrical signal is input to the receiving circuits (4a) (4n), and the outputs of the receiving circuits (4a) to (4n) are given a time delay by the receiving delay circuits (5a) to (5n), and the adder circuits (8 ) and add it. Receiving circuits (4a) to (4
The gain of n) is controlled by a gain control circuit (1η), and the delay amount of reception delay circuits (5a) to (5n) is controlled by a delay time control circuit (6).
さて、上記加算回路(8)で加勢、された信号はゲート
制御回路α沙で制御されるゲート回路α2に入力され、
設定されたゲート内の受信信号が受信レベル検出回路α
騰に出力される。受信レベル検出回路03は、上記設定
されたゲート内の受信信号から受信レベルを検出し、検
出された受信レベル値は判定回路組りで判定され、出力
回路0eにて出力されると共に主制御回路(7)にも入
力される。ゲート回路(Izは本実施例では一回路のみ
設けられたが検査方式や目的に応じて複数個設けろこと
が可能であることは言うまでもない。又、受信レベル検
出回路α罎は通常ゲート内の受信信号の最大振幅値を検
出するが、これ以外の情報を検出しても良い。Now, the signal added by the adder circuit (8) is input to the gate circuit α2 controlled by the gate control circuit αS,
The received signal within the set gate is detected by the received level detection circuit α.
output to the screen. The reception level detection circuit 03 detects the reception level from the reception signal within the set gate, and the detected reception level value is determined by a determination circuit set, outputted from the output circuit 0e, and sent to the main control circuit. (7) is also input. Although only one gate circuit (Iz) is provided in this embodiment, it goes without saying that it is possible to provide multiple gate circuits depending on the inspection method and purpose.Also, the reception level detection circuit Although the maximum amplitude value of the signal is detected, other information may also be detected.
さて本発明の第一の特徴はゲイン制御回路(171を有
することにより、従来とは異なり、送信回路(2a)〜
(2n)、超音波探触子(1)、受信回路(4a)〜(
4n)及び受信遅延回路(5a)〜(5n)のゲインの
バラツキを主制御回路(7)の制御によって自動的に行
なうことができるという点である。次にその動作を第4
図に従って説明する。Now, the first feature of the present invention is that by having a gain control circuit (171), unlike the conventional one, the transmitting circuit (2a) to
(2n), ultrasonic probe (1), receiving circuit (4a) ~ (
4n) and the reception delay circuits (5a) to (5n) can be automatically controlled by the main control circuit (7). Next, repeat that action in the fourth step.
This will be explained according to the diagram.
今、直方体の形状をしたブロックに)を用意し7゜この
ブロックの−・面に超音波探触子(1)を置けば。Now, prepare a rectangular parallelepiped block () and place the ultrasonic probe (1) on the - face of this block at an angle of 7 degrees.
超音波を伝搬する接触媒質(イ)を経て、このブロック
(ホ)内に上記−而に垂直に超音波パルス(27a)〜
(27n)カ入射され、この超音波パルスかこのブロッ
ク(ハ)の他面で反射され、再び超音波探触子(])に
入力されるようになる。この時、送信遅延回路(6a)
〜(ろn)及び受イif :if:3+)!;回路(5
a )〜(5n )の両方又はいずれかの遅延ffケ各
系統別に変えておけば超音波振動子(18)〜(in)
に対応する受信遅延回路(5a)〜(5n)の出力が(
28a)〜(2On)に示すようになる。(2)の部分
が送信パルスのもれこみ波形、0@の部分が受信信号波
形である。図のように 超ぢ一波振動子(1a)〜(1
n)のそれぞれに対応する受(8化号波形の受信時刻が
異なるため、これらが加算回路(8)によって加算され
た似号(61)は、それぞれの信号が分離された形とし
て得られる。従って、ゲート回路α2によって一つ一つ
の受信信号波形を個々に取り出し、受信l/ベル検出回
路(IEによって各々の受も信号波形の受信レベルを検
出す桧)ことか可能と1よる。検出された受信レベル値
は主f’jf制御回路1’71を経由しゲイン制御回路
(Inに入力され、ゲイン制御回路aηは受信信号の受
信レベルが均一になるようゲイン制御することが可能と
なる。以上に述べた方法では、送信遅延回路(6a)〜
(6n)及び受信遅延回路(5a)〜(5n)の遅延量
を変えて、超音波振動子(1a)〜(1n)に対応する
各々の系統の受信信号波形を分離したが、もちろん他の
方法例えばゲイン制御回路(17)によって、特定の受
信回路以外のゲインを抑制する方法等を代わりに使用し
たり、あるいは併用したりすることも可能である。また
ブロック(ハ)は、超音波が入射する面あるいは反射す
る面の表面が十分になめらかであり、かつブロック(ハ
)自身の材質が十分に均一であり、かつ超音波探触子(
1)と接触媒質(ハ)とブロック(ハ)の超音波が入射
する面の音響結合状態が超音波振動子(1a)〜(1n
)に対して十分均一であることが条件となる。そうでな
ければこれらの要素によるバラツキまでもが受信信号に
含まれてしまい、超音波探触子(1)と検査装置だけの
バラツキを補正をすることができなくなるからである。The ultrasonic pulses (27a)~ perpendicular to the above-mentioned block (e) are transmitted through the couplant (a) that propagates the ultrasonic waves into this block (e).
(27n) is incident, this ultrasonic pulse is reflected by the other surface of this block (c), and is again input to the ultrasonic probe (]). At this time, the transmission delay circuit (6a)
~(ron) and Ukei if :if:3+)! ;Circuit (5
If the delay ff of both or either of a) to (5n) is changed for each system, the ultrasonic transducer (18) to (in)
The outputs of the reception delay circuits (5a) to (5n) corresponding to (
28a) to (2On). The part (2) is the leakage waveform of the transmitted pulse, and the part 0@ is the received signal waveform. As shown in the figure, super-one-wave oscillators (1a) to (1
Since the reception times of the reception (8) signal waveforms corresponding to the respective signals (n) are different, a similar signal (61) obtained by adding these signals by the adder circuit (8) is obtained as a form in which the respective signals are separated. Therefore, it is possible to extract each received signal waveform one by one using the gate circuit α2 and use a reception l/bell detection circuit (the IE detects the reception level of each signal waveform). The received level value is input to the gain control circuit (In) via the main f'jf control circuit 1'71, and the gain control circuit aη can perform gain control so that the received level of the received signal becomes uniform. In the method described above, the transmission delay circuits (6a) to
(6n) and the receiving delay circuits (5a) to (5n) to separate the received signal waveforms of each system corresponding to the ultrasonic transducers (1a) to (1n). For example, a method of suppressing the gain of a circuit other than a specific receiving circuit using a gain control circuit (17) may be used instead or in combination. In addition, the block (c) has a sufficiently smooth surface on which ultrasonic waves are incident or a surface on which it reflects, and the material of the block (c) itself is sufficiently uniform, and the ultrasonic probe (
1), the acoustic coupling state of the ultrasonic incident surfaces of the couplant (c) and the block (c) is the ultrasonic transducer (1a) to (1n).
) is required to be sufficiently uniform. Otherwise, variations due to these factors would be included in the received signal, making it impossible to correct variations only between the ultrasonic probe (1) and the inspection device.
さて、超音波振動子(1a)〜(1n)の送受信した個
々の受信信号を分離する方法として1以上に述べたよう
に、送信遅延回路(6a)〜(6n)や受信遅延回路(
5a)〜(5n)の遅延量を変えたり、ゲイン制御回路
(IT)によって受信回路(4a)〜(4n)のゲイン
を変えたすせずども簡便にこの効果を得る方法がある。Now, as mentioned above, as a method for separating the individual reception signals transmitted and received by the ultrasonic transducers (1a) to (1n), there are two ways to separate the individual reception signals transmitted and received by the ultrasonic transducers (1a) to (1n).
There is a way to easily obtain this effect without changing the delay amount of 5a) to 5n or changing the gain of receiving circuits 4a to 4n using a gain control circuit (IT).
第3図(b)は、その一実施例を示す図である。第3図
(b)は、第3図(a)の構成に出力選択回路■を追加
しただけの構成となっているが、この出力選択回路(イ
)は主制御回路(7)からの指令で7この回路に入力さ
れている受信遅延回路(5a)〜(5n)からの受信信
号のうち任意のものが加算回路(8)に出力されるよう
になっているので、各々の受信信号を一つ一つ選択して
行くことによって1個々の系統の受信レベル値を検出す
ることが可能となり、系統間のバラツキを測定すること
がでさるので、第3図(a)に示した実施例と同様、こ
れらのバラツキをゲイン制御回路(Inの制御による受
信回路(4a)〜(4n)のゲイン調整により補正する
ことができる。出力選択回路(4)は受信信号を受信回
路(4a)〜(4n)によって、十分に増幅あるいはイ
ンピーダンス変換したあとに設けられているので、この
種の回路によくありがちなi/Nの悪化やクロストーク
等の問題に悩まされることなく、極く簡単に実現するこ
とが可能である。FIG. 3(b) is a diagram showing an example thereof. Figure 3(b) has a configuration in which an output selection circuit ■ is simply added to the configuration of Figure 3(a), but this output selection circuit (a) receives commands from the main control circuit (7). 7 Since any of the received signals from the reception delay circuits (5a) to (5n) that are input to this circuit are output to the adder circuit (8), each received signal is By selecting each one one by one, it becomes possible to detect the reception level value of each individual system, and it is possible to measure the dispersion between the systems. Similarly, these variations can be corrected by adjusting the gains of the receiving circuits (4a) to (4n) by controlling the gain control circuit (In).The output selection circuit (4) transfers the received signal to the receiving circuits (4a) to (4n). Since it is provided after sufficient amplification or impedance conversion by (4n), it can be realized extremely easily without suffering from problems such as I/N deterioration and crosstalk that are common in this type of circuit. It is possible to do so.
さて、第3図(、)および第3図(b)に示した本発明
の実施例では、前述したように、ブロック(ハ)の形状
、材質及び音響結合状態に起因するバラツキが補正しよ
うとするバラツキの中に含まれることが欠点であった。Now, in the embodiments of the present invention shown in FIGS. 3(a) and 3(b), as mentioned above, variations due to the shape, material, and acoustic coupling state of the block (c) are attempted to be corrected. The disadvantage was that it was included in the variation.
ところが、この問題は第3図(C)に示すように、出力
選択回路−の代わりに、入力切換回路Qυを設けること
により解消することができる。この入力切換回路Gll
は、超音波振動子(1a)〜(In)#・らの受信信号
を入力し、任意のものが受信回路(5a)〜(5n)に
出力されるようになっており。However, this problem can be solved by providing an input switching circuit Qυ instead of the output selection circuit, as shown in FIG. 3(C). This input switching circuit Gll
inputs the received signals of the ultrasonic transducers (1a) to (In)#, etc., and outputs arbitrary signals to the receiving circuits (5a) to (5n).
特にこの入力切換回路C!υは9例えば超音波振動子(
1a)#・らの受信信号を入力し、これを受信回路(4
b)に出力するなど一異なる系統間で受信信号を切り換
えろことができるようにしである。従って、この入力切
換回路3υを用いれば1次のような手順にてブロック(
ハ)の形状、材質及び音響結合状態とは無関係に受信回
路(4a)〜(4n)及び受信遅延回路(5a)〜(5
n)のバラツキを補正することが可能である。Especially this input switching circuit C! υ is 9For example, an ultrasonic transducer (
1a) Input the received signals of # and others, and send this to the receiving circuit (4
b) It is possible to switch the received signal between different systems, such as outputting it to the system. Therefore, if this input switching circuit 3υ is used, the block (
c) Receiving circuits (4a) to (4n) and receiving delay circuits (5a) to (5) regardless of the shape, material, and acoustic coupling state.
It is possible to correct variations in n).
つまり、超音波振動子(1a)〜(1n)からの受信信
号入力のうち、いずれか一つを選びこれをIIに受信回
路(4a)〜(4n)のうち一つづつに切り換えて出力
して行くという方法である。このようにすれば。In other words, one of the received signal inputs from the ultrasonic transducers (1a) to (1n) is selected, and it is switched to II and outputted to one of the receiving circuits (4a) to (4n) one by one. The way to go is to go. If you do it like this.
元となる信号は同一のものを使用しているから。Because the source signals are the same.
受信回路(4a)〜(4n)及び受信遅延回路(5a)
〜(5n)のもつバラツキを完全に補正することが可能
である。但しこの方法では、送信回路(2a)〜(2n
)及び超音波振動子(1a)〜(1n)のバラツキは、
補正されないのでこれについては他の方法で補正あるい
は調整しておく必要がある。なおこの実施例では。Receiving circuits (4a) to (4n) and receiving delay circuit (5a)
It is possible to completely correct the variations in ~(5n). However, in this method, the transmitting circuits (2a) to (2n
) and the variations in ultrasonic transducers (1a) to (1n) are:
Since this is not corrected, it is necessary to correct or adjust this using another method. Note that in this example.
補正に使用する受信信号として超音波振動子(1a)〜
(1n)のいずれか一つを選んだが、これらを順に選ん
で行きその結果を平均するなどして補正精度を上げるこ
と等の他の方法を採用することも可能である。なお、第
3図(a)、第3図(b)、第3図(c)に示した実施
例が持つ共通の欠点であるブロック(ハ)の材質、形状
と音響結合状態のバラツキの問題は超音波探触子(1)
のブロック(ハ)に対する位置を変え。Ultrasonic transducer (1a) ~ as a received signal used for correction
Although one of (1n) is selected, it is also possible to adopt other methods such as selecting these in order and averaging the results to improve the correction accuracy. Furthermore, a common drawback of the embodiments shown in FIG. 3(a), FIG. 3(b), and FIG. 3(c) is the problem of variations in the material, shape, and acoustic coupling state of the block (c). is an ultrasonic probe (1)
Change its position relative to the block (c).
複数個の位置での受信レベル値の平均値等を使用して補
正する等すればかなり改善される。If the average value of the received level values at a plurality of positions is used for correction, a considerable improvement can be achieved.
さて9以上に述べた実施例ではいずれもブロック(ハ)
を必要としたが第3図((資)に示すように送信回路(
2a)〜(2n)の出力を入力し、このうちのいずれか
を選択して、必要に応じて波形処理した後、入力切換回
路シυに出力する変形回路(2)を追加すれば。Now, in all of the embodiments described above, the block (c)
However, as shown in Figure 3 ((Source), the transmitter circuit (
A modification circuit (2) is added which inputs the outputs of 2a) to (2n), selects one of them, processes the waveform as necessary, and then outputs it to the input switching circuit υ.
ブロック(ハ)を使用せずとも同じ効果を得ることがで
きる。送信回路(2a)〜(2n)の出力パルスは一般
に電圧が大きく又単一パルスであるため、このままでは
受信信号の代わりに使用できない。そこで本実施例では
抵抗分割にて波形を減衰させ又コンデンサとコイルによ
る共振回路を用いてパルス波形の波数を増やし、受信信
号に似せて使用した。The same effect can be obtained without using blocks (c). Since the output pulses of the transmitting circuits (2a) to (2n) generally have a large voltage and are single pulses, they cannot be used as they are in place of the received signal. Therefore, in this embodiment, the waveform is attenuated by resistor division, and the wave number of the pulse waveform is increased using a resonant circuit consisting of a capacitor and a coil, so that it is used to resemble the received signal.
もちろん共振回路を省略して簡略化したり、あるいはさ
らに複雑な回路を付加したりすることも可能である。さ
て、このような変形回路(2)を設ければ入力切換回路
Qηは第3図(c)の実施例で説明したような入力と出
力の任意の組み合わせかできる機能、例えば超音波振動
子(1a)からの入力が受信回路(4b)に出力される
ような機能は不要で2;)る代わりに変形回路(ハ)か
らの入力を受信回路(4a)−(4n)に対1.別々に
切り換えて出力できる機能が必要である。また送(K
l!、+1路(28)〜(2n)の出力時刻にゲートを
設定できるような機能がゲート回路a邊に必要であるこ
とは言うまで−もない。Of course, it is also possible to simplify the configuration by omitting the resonant circuit, or to add a more complicated circuit. Now, if such a modified circuit (2) is provided, the input switching circuit Qη can have a function that allows any combination of input and output as explained in the embodiment of FIG. 3(c), for example, an ultrasonic transducer ( There is no need for a function in which the input from 1a) is output to the receiving circuit (4b), and instead of 2;), the input from the modified circuit (c) is output to the receiving circuits (4a)-(4n). A function that can be switched and output separately is required. Also sent (K
l! It goes without saying that the gate circuit a needs a function that can set the gate at the output time of the , +1 paths (28) to (2n).
さて、送・前回j!+′r(2a )〜(2n)の出力
パワーが大きくなって米へ・と、励振パルスが出力され
た瞬間に電源回路への突入電流や回路間のり、ロス)−
り等により受前回#’f、i (4a )〜(4n)や
その周辺回路い動作が不安定となり第3図(d)に示す
実施例に示したような変形面16 (4Jでtel、(
i:’j足のいく擬似信号が得られない場合がA−りる
、この場合は&j 3図(θ)に示すように変形面11
!4’!Q’Aの代わりに独立した校正信号発生回路(
2)を設け、送前回L″3(2a)〜(2n)のパルス
出力タイミングとは別のタイミンクで擬似信号を発生す
るようにずれを;1:良い。校正イハ号発生101路(
ハ)は実際の受信波形に似た」;、C他信号を任意のタ
イミングで発生するようになっているので第3図(d)
に示した実施例のようにゲート回路a’aKnしゲート
を実使用時には必要としない送信時刻にまで設定できる
機能を設ける必要ない上、励振パルスの影響で動作が不
安定になったりしないタイミングで使用することができ
る。Well, send it last time j! The output power of +'r (2a) to (2n) increases and the moment the excitation pulse is output, the inrush current to the power supply circuit, the gap between the circuits, the loss) -
Due to such factors, the operation of the receiver #'f, i (4a) to (4n) and its peripheral circuits becomes unstable, resulting in the deformed surface 16 as shown in the embodiment shown in FIG. 3(d). (
i: 'j If a pseudo signal that is adequate is not obtained, A-Ruru, in this case &j. As shown in Figure 3 (θ), the deformed surface 11
! 4'! An independent calibration signal generation circuit (
2), and the deviation is set so that the pseudo signal is generated at a timing different from the pulse output timing of L''3 (2a) to (2n) before sending; 1: Good. Calibration Iha number generation 101 path (
C) is similar to the actual received waveform; C and other signals are generated at arbitrary timings, as shown in Figure 3(d).
It is not necessary to provide a function that allows the gate circuit a'aKn to be set to a transmission time that is not required in actual use as in the embodiment shown in , and it is also possible to set the gate at a timing that does not cause instability due to the influence of excitation pulses. can be used.
さて、第3図(d)や第3図(e)の実施例に対し、さ
らに出力選択回路イ玲を追加するとさらにキメの細かい
補正が可能となる。第3図(f)は第3図(e)の実施
例に対し、出力選択回路舛を追加した実施例である。図
において校正信号発生回路(ハ)が出力した擬似信号は
入力切換回路Qυに入力されると同時に出力選択回路(
7)にも入力されている。そこでまず。Now, if an output selection circuit I is further added to the embodiments shown in FIGS. 3(d) and 3(e), even more fine-grained correction becomes possible. FIG. 3(f) is an embodiment in which an output selection circuit is added to the embodiment of FIG. 3(e). In the figure, the pseudo signal output by the calibration signal generation circuit (c) is simultaneously input to the input switching circuit Qυ and the output selection circuit (
7) is also entered. So first of all.
出力選択回路四においてこの擬似信号のみを選択し、そ
の受信レベル値を受信レベル検出回路0漕にて検出し、
これを主制御回路(7)にて記憶しておいた後に出力選
択回路(4)において受信遅延回路(5a)〜(5n)
かもの入力を選択するようにし、入力切換回路シυにて
擬似信号を順に受信回路(4a)〜(4n)に出力して
その受信レベル値を受信レベル検出回路0→にて検出す
るようにすれば、前述の出力選択回路(4)にて擬似信
号のみを選んだ場合の受信レベル値と比較することによ
り、受信回路(4a)〜(4n)と受信遅延回路(5a
)〜(5n)を通して得られるゲインの絶対値を測定す
ることが可能となる。従って。Output selection circuit 4 selects only this pseudo signal, and its reception level value is detected by reception level detection circuit 0,
After storing this in the main control circuit (7), the output selection circuit (4) outputs the reception delay circuits (5a) to (5n).
The input switching circuit υ outputs the pseudo signals to the receiving circuits (4a) to (4n) in order, and the received level value is detected by the received level detection circuit 0→. Then, by comparing the received level value when only the pseudo signal is selected in the output selection circuit (4) described above, the receiving circuits (4a) to (4n) and the receiving delay circuit (5a)
) to (5n) can be measured. Therefore.
超音波振動子(1a)〜(1n)からの受信信号の絶対
値そのものを測定したりする場合この機能は非常に有効
となってくる。この場合、出力選択回路■以後のゲイン
が既知でなければならないが、これは擬似信号のレベル
が既知であれば容易に知ることができるし、またこのゲ
インは通常1であると考えて差し支えない。また第3図
(d)の実施例に、出力選択回路(4)を追加しても同
様の効果が得られろことは説明するまでもない。This function becomes very effective when measuring the absolute values of the received signals from the ultrasonic transducers (1a) to (1n). In this case, the gain after the output selection circuit ■ must be known, but this can be easily determined if the level of the pseudo signal is known, and it is safe to assume that this gain is usually 1. . It goes without saying that the same effect can be obtained even if an output selection circuit (4) is added to the embodiment shown in FIG. 3(d).
ところで、従来からこの種の装置には超音波パルスが被
検査材の中を伝搬して行くうちに減衰又は拡散したりす
るため、あるいは超音波探触子のもつ構造によるために
生じる反射源の位置による感度の差を補正するための距
離振幅補正回路を付加することかあるが9本発明はこの
ような回路な付加した場合に、この回路の補正曲線を測
定するという効果を生み出すことができる。これが本発
明の第二の特徴である。第3図(ωはその一実施例であ
る。この図では、第3図(f)の実施例に対し距離振幅
補正回路C!4が追加されている。図において。By the way, conventionally, this type of device has been equipped with reflection sources that occur due to the attenuation or diffusion of ultrasonic pulses as they propagate through the inspected material, or due to the structure of the ultrasonic probe. A distance/amplitude correction circuit may be added to correct the difference in sensitivity due to position.9 When such a circuit is added, the present invention can produce the effect of measuring the correction curve of this circuit. . This is the second feature of the present invention. FIG. 3 (ω is one embodiment thereof. In this figure, a distance amplitude correction circuit C!4 is added to the embodiment of FIG. 3(f). In the figure.
入力切換回路シυの入力として校正信号発生回路(ハ)
からの擬似信号を得、これを受信回路(4a)〜(4n
)に出力するようにし、又出力選択回路にて受信遅、1
7\
延回路(5a)〜(5n)を選択するようにしておくと
。Calibration signal generation circuit (c) as input of input switching circuit υ
, and sends it to receiving circuits (4a) to (4n).
), and the output selection circuit selects the reception delay, 1
7\ Make sure to select extension circuits (5a) to (5n).
校正信号発生回路(ハ)信号発生タイミングを変えなが
ら受信レベルを検出していけばただちに距離振幅補正回
路(財)の補正曲線が得られる。従って1判定回路u9
に補正曲線があらかじめ定められた許容範囲内にあるか
判定する機能をもたせることによって、距離振幅補正回
路(財)に異常があった場合にその情報を出力回路ae
により出力したり、あるいは、主制御回路(7)あるい
はゲイン制御回路aηに補正曲線を変えられる機能を持
たせることによって。Calibration signal generation circuit (c) If the reception level is detected while changing the signal generation timing, the correction curve of the distance amplitude correction circuit (goods) can be obtained immediately. Therefore, 1 judgment circuit u9
By providing a function to determine whether the correction curve is within a predetermined tolerance range, if there is an abnormality in the distance amplitude correction circuit, the output circuit ae
or by providing the main control circuit (7) or the gain control circuit aη with a function of changing the correction curve.
補正曲線を許容範囲内に校正することも可能である。本
実施例では後者を採用し1校正したのちにさらにもう一
度補正曲線を測定して、まだ許容範囲内に収まらないと
きには警報を出力回路Oeから出力するとともに、補正
曲線の測定値を表示するようにした。It is also possible to calibrate the correction curve within acceptable limits. In this embodiment, the latter is adopted, and after one calibration, the correction curve is measured again, and if it is still not within the allowable range, an alarm is output from the output circuit Oe, and the measured value of the correction curve is displayed. did.
さて1本実施例では第3図(f)の実施例に対し距離振
幅補正回路C14を付加した場合を示したが、前述した
本発明の第二の特徴による効果は、第3図(a)、第3
図(b) 、第3図(C)、第3図(d)及び第3図(
θ)のいずれの実施1+11に距離振幅補正回路Q4I
を付加しても得ることができる。すなわち、第3図(a
)、第3図(b)、第3図(C)、第3図(d)の実施
例に距離振幅補正回路C!4)を付加した場合では送信
遅延回路(6a)〜(3n)の遅延量を変化させること
により距離振幅補正回路(財)の補正曲線を測定するこ
とかできるし。Now, in this embodiment, a case is shown in which a distance amplitude correction circuit C14 is added to the embodiment shown in FIG. , 3rd
Figure (b), Figure 3 (C), Figure 3 (d) and Figure 3 (
Distance amplitude correction circuit Q4I for any implementation 1+11 of θ)
It can also be obtained by adding . That is, Fig. 3 (a
), distance amplitude correction circuit C! When 4) is added, the correction curve of the distance amplitude correction circuit can be measured by changing the delay amount of the transmission delay circuits (6a) to (3n).
第3図(θ)の実施例に距離振幅補正回路c!4)を付
加した場合は第3図(g)の実施例と同様にして距離振
幅補正回路Q4の補正曲線を測定することができる。The distance amplitude correction circuit c! in the embodiment of FIG. 3 (θ)! When 4) is added, the correction curve of the distance amplitude correction circuit Q4 can be measured in the same manner as the embodiment shown in FIG. 3(g).
さて9本発明の第三の特徴は受信遅延回路(5a)〜(
5n)が遅延量によって通過利得に差が出たとき。Now, the third feature of the present invention is the reception delay circuits (5a) to (
5n) when there is a difference in the passing gain depending on the amount of delay.
この通過利得の差を補正することができるという点であ
る。一般に遅延回路は遅延線を使用したものが使われる
が遅延量を大きくとると遅延線のもつ減衰量が無視でき
なくなる。従って、加算回路(8)にて遅延量の異なる
受信遅延回路(5a)〜(5n)の出力を合成したとき
受信遅延回路(5a)〜(5n)での減衰量が異なって
くるため1合成された受信信号のレベルが遅延量の与え
方で異なってくると℃・う不都合が生じる。本発明の実
施例第3図(a)、第3図(1))、第3図(C)、第
3図(d)、第3図(e)、第3図(f)では本発明の
第一の特徴である。受信回路(4a)〜(4n)と受信
遅延回路(5a)〜(5n)を通したゲインのバラツキ
を補正する動作を行なうときに、遅延時間制御回路(6
)により、受信遅延回路(5a)〜(5n)の遅延量を
変えながら、遅延量の違いによる受信レベル値の差を主
制御回路(7)に記憶しておき、受信遅延回路(5a)
〜(5n)に与える遅延量と対応させ”C受(i回路(
4a)〜(4n)のゲインを設定するような機能をゲイ
ン制御回路にもたせることによって。The point is that this difference in pass gain can be corrected. Generally, a delay circuit using a delay line is used, but if the amount of delay is large, the attenuation amount of the delay line cannot be ignored. Therefore, when the adder circuit (8) combines the outputs of the reception delay circuits (5a) to (5n) with different delay amounts, the attenuation amounts in the reception delay circuits (5a) to (5n) will differ, so one combination If the level of the received signal differs depending on how the amount of delay is applied, an inconvenience occurs. Examples of the present invention Fig. 3(a), Fig. 3(1)), Fig. 3(C), Fig. 3(d), Fig. 3(e), and Fig. 3(f) show the present invention. This is the first characteristic of When performing an operation to correct gain variations through the receiving circuits (4a) to (4n) and the receiving delay circuits (5a) to (5n),
), while changing the delay amount of the reception delay circuits (5a) to (5n), the difference in reception level value due to the difference in delay amount is stored in the main control circuit (7), and the reception delay circuit (5a)
~ (5n) Corresponding to the amount of delay given to ``C receiver (i circuit (
By providing the gain control circuit with a function of setting the gains of 4a) to (4n).
受信遅延回路(5a)〜(5b)に与える遅延量が任意
であっても、受信回路(4a)〜(4n)と受信遅延回
路(5a)〜(5b)を通したゲインが変化しないよう
にすることができた。i、cお第3図(g)に示す実施
例ではここに述べた本発明の第三の特徴に対する動作に
関しては第3財1(f)と同 −である。Even if the amount of delay given to the reception delay circuits (5a) to (5b) is arbitrary, the gain through the reception circuits (4a) to (4n) and the reception delay circuits (5a) to (5b) does not change. We were able to. In the embodiment shown in FIG. 3(g), the operation of the third feature of the present invention described herein is the same as in the third embodiment 1(f).
最後に不発、明の第四の特徴について説明する・超音波
探触子(1)は元来指回折性を持っており1俵数個の超
音波振動子(1a)〜(1n)を同時に励振したときに
生じろ超音波パルスの伝搬方向に対して。Finally, I will explain the fourth feature of the misfire. The ultrasonic probe (1) originally has finger diffractive properties, and several ultrasonic transducers (1a) to (1n) per bale can be used simultaneously. When excitation occurs, the ultrasonic pulse is propagated in the direction of propagation.
超音波振動子(1a)〜(1n)に対する励振パルスに
各々時間差を与えて超音波パルスの伝搬方向にある角度
を持たせたとき、この角度により超音波パルスの強度が
異なってくるといつ性質がある。超音波探触子(1)が
超音波を受信する場合も同様に、超音波パルスの入射し
て(る向きにより受信感1隻が異なって(る。従って、
遅延時間Wtl)嶺)回路(6)によって、送信遅延回
路(3a)〜(6n)の遅延量を変化させて、超音波探
触子(1)の作る超音波パルスの伝搬方向を変えて使用
する場合、超音波探触子(1)から等距離にある同一の
反射源から反射さUtできた受信信号であっても、その
反射源と超音波探触子(1)との角度が異なれば受信レ
ベル値が異なイ)ことになる。これでは受信レベル値の
大きさから反射源の大きさを知る目的にこの装置を使用
した場合不都合である。ところが本発明の実施例、第3
図(a)。When the excitation pulses for the ultrasonic transducers (1a) to (1n) are given a time difference and have a certain angle in the propagation direction of the ultrasonic pulse, when will the intensity of the ultrasonic pulse differ depending on this angle? There is. Similarly, when the ultrasonic probe (1) receives ultrasonic waves, the reception feeling differs depending on the direction in which the ultrasonic pulses are incident.
Use the delay time Wtl) circuit (6) to change the delay amount of the transmission delay circuits (3a) to (6n) to change the propagation direction of the ultrasonic pulse generated by the ultrasonic probe (1). In this case, even if the received signals are reflected from the same reflection source that is equidistant from the ultrasonic probe (1), the angle between the reflection source and the ultrasonic probe (1) is different. In this case, the received level values will be different. This is inconvenient when this device is used for the purpose of determining the size of the reflection source from the size of the received level value. However, the third embodiment of the present invention
Figure (a).
第3図(b)、第3図(C)、第3図(d)、第3図(
θ)、第3図(f)において、第5図及び第6図に示す
校正試験片(32)をこの装置に付加すればこの問題も
解決する。第5図に示すように超音波探触子(1)をこ
の校正試験片(52)に接触媒質を介して置くと、送信
遅延回路(6a)〜(3n)の遅延量を変えて超音波探
触子+11の作る超音波パルスの向きをどの向きに向け
ても校正試験片(62)の円筒面に対し垂直に超音波パ
ルスが入射され、入射方向と同じ向きに超音波パルスが
反射していくため、この校正試験片(32)は −超音
波パルスの伝搬方向に無関係に同一の反射源を作ること
になる。従って、遅延時間制御回路(6)が設定する送
信遅延回路(6a)〜(3n)に対する遅延量のパター
ンに対応して得られた受信レベル値をもとに受信回路(
4a)〜(4n)のゲインの補正量を計算し、ゲイン制
御回路αDによって受信回路(4a)〜(4n)のゲイ
ンな制i、:1するようにすることによって。Figure 3(b), Figure 3(C), Figure 3(d), Figure 3(
θ), FIG. 3(f), this problem can also be solved by adding the calibration test piece (32) shown in FIGS. 5 and 6 to this device. As shown in Figure 5, when the ultrasonic probe (1) is placed on this calibration test piece (52) via a couplant, the amount of delay of the transmission delay circuits (6a) to (3n) is changed and the ultrasonic wave is No matter which direction the ultrasonic pulse generated by probe +11 is directed, the ultrasonic pulse is incident perpendicularly to the cylindrical surface of the calibration test piece (62), and the ultrasonic pulse is reflected in the same direction as the incident direction. Therefore, this calibration test piece (32) - creates the same reflection source regardless of the propagation direction of the ultrasound pulse. Therefore, the receiving circuit (
4a) to (4n), and the gain control circuit αD controls the gains of the receiving circuits (4a) to (4n) by i, :1.
校正試験片(62)から得られる受信信号の受信レベル
値が送信遅延[【j1路(5a)〜(6n)に与える遅
延量を変えて超音波パルスの伝1般方向をどの向きに変
えても一定になるようにすることができる。本実施例で
(゛4−校正試験片(52)として第5図に示すものを
使用したか、第61ν〈1に示すように、超音波探触子
(11の作る超音波パ+1スの校正試験片に入射する位
14、からの駆込1[が等比1\11.となる位置に検
査時の目標反射σ東あるいは対比反射いとして例えば貫
通穴1■を一定のパターンで並べたような実使用状1源
により近い校正試11倹片(32)を使用し2ても効果
は同じである。又第3図(に)に示す実施例にふ八・で
も以上説明した効果を′J、全く同じである。The reception level value of the reception signal obtained from the calibration test piece (62) is determined by the transmission delay [[j1] The amount of delay given to paths (5a) to (6n) is changed to change the general direction of propagation of the ultrasonic pulse. can also be made constant. In this example, the one shown in FIG. For example, through-holes 1 were arranged in a fixed pattern as the target reflection σ east or contrast reflection at the time of inspection at the position where the inlet 1 [from 14, which is incident on the calibration test piece, has a geometric ratio 1\11. The effect is the same even if the calibration sample 11 piece (32), which is closer to the actual source 1, is used.Also, the effect described above can be obtained by using the example shown in FIG. 'J, exactly the same.
さて9以上述べた校正試験片(62)において1反射源
の位1f4.は本装置i’fが検をしよ5どする検査対
象や倹奔目的により決定されなければならないことはい
うまでもなく、又必要に応じて反射源の位置を変えた校
正試験片を二4種類以」−使用し7.cければならない
す)合が有り:i4)るのはもtっろんのことであるが
9反射源の位置を変えた校正試験片を複数個用意すれば
、この発明の実施例第3図(旬のように距離振幅補正−
回路C24を有する場合、この距離振幅補正回路C24
)の補正曲線を校正することができる。Now, in the calibration test piece (62) described above, 1 reflection source is 1f4. Needless to say, this must be determined depending on the object to be tested by this device and the purpose of frugality, and if necessary, two calibration test pieces with different positions of the reflection source may be used. 7. Use 4 or more types. 4) Of course, if a plurality of calibration test pieces with different positions of reflection sources are prepared, the third embodiment of this invention can be achieved. Figure (distance amplitude correction as in season -
If the circuit C24 is included, this distance amplitude correction circuit C24
) correction curve can be calibrated.
この場合は、前述したこの回路(財)の補正曲線の校正
方法とは異なり、あらかじめ正しい補正曲線が既知でな
くても校正できるという利点がある。例えばこれら複数
個の校正試験片(32)の反射源の位置情報をあらかじ
め主制御回路(7)等に入力しておき、あらかじめ決め
られた順番でこれらの校正試験片(62)を取り替えな
がら反射源の受信レベル値を検出してゆけば補正曲線を
得ることができるし。In this case, unlike the above-mentioned method of calibrating the correction curve of this circuit, there is an advantage that the correction curve can be calibrated even if the correct correction curve is not known in advance. For example, the positional information of the reflection sources of these multiple calibration test pieces (32) is input in advance to the main control circuit (7), etc., and the reflection is performed while replacing these calibration test pieces (62) in a predetermined order. By detecting the received level value of the source, a correction curve can be obtained.
反射源の位置を受信信号の受信された時刻から測定でき
る時間計測回路を有していれば校正試験片(62辺反射
源の位置情報や取り替え順序をあらかじめ入力しておく
必要もない。また以上述べた効果は本発明の他の実施例
第3図(a)、第3図(b)、第3図(C)、第3図(
d)、第3図(e)に距離振幅補正回路(241を設け
た場合も全く同様に得られる。If the calibration test piece has a time measurement circuit that can measure the position of the reflection source from the time when the received signal is received, there is no need to input the position information and replacement order of the 62-side reflection source in advance. The described effects can be obtained from other embodiments of the present invention in Fig. 3(a), Fig. 3(b), Fig. 3(C), Fig. 3(
d), the same result can be obtained even when the distance amplitude correction circuit (241) is provided in FIG. 3(e).
以上述べたように、この発明によれば前述l−た従来の
超音波検査装置のもつ欠点がすべて解消し。As described above, according to the present invention, all of the above-mentioned drawbacks of conventional ultrasonic inspection apparatuses are eliminated.
再現性と精度の良い超音波による自動検査装置を提供す
ることが可能となる。It becomes possible to provide an automatic ultrasonic inspection device with good reproducibility and precision.
なおこの発明の実施例としてアレイ状に超音波振動子を
配した探触子に例をとったが円形、放射状など他の形成
の探触子に対しても同じ効果をもつことは明らかである
。Although a probe with ultrasonic transducers arranged in an array was used as an example of the present invention, it is clear that the same effect can be obtained for probes of other shapes such as circular or radial. .
また超音波振動子は送受一体として扱っているが送受を
別々とした分割型探触子でも同じように適用可能である
。Furthermore, although the ultrasonic transducer is treated as an integrated transmitter and receiver, a split-type probe with separate transmitter and receiver can also be applied in the same way.
第1図および第2図は従来の超音波検査装置を示す図、
第3図はこの発明の一実施例を示す超音波検査装置の構
成を表わすブロック図、第4図はこの発明の一実施例に
おいて使用されるブロックとこのとき得られる受信波形
の図、第5図および第6図は校正試験片を示す図である
。図において。
(1)は超音波探触子、(2)は送信回路、(3)は送
信遅延回路口4)は受信回路、(5)は受信遅延回路、
(6)は遅延時間制御回路、(7)は主制御回路、(8
)は加算回路。
H&家ゲート回路、 (13は受信レベル検知回路、0
→は時間計測回路、 Qlは判定回路、住eは出力回路
、αηはゲイン制御回路、aυはゲート制御回路、α珍
は出力選択回路、 C70)は入力切挨回路、 c!a
は変形回路。
翰は校正信号発生回路、Q4)は距耶振幅補正回路。
(至)はブロック、 (32)は校正試験片である・な
お図中同一あるいは相当RIS分には同一符号が付して
示しである。
代理人大岩増雄FIG. 1 and FIG. 2 are diagrams showing a conventional ultrasonic inspection device,
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of an ultrasonic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 4 is a diagram of blocks used in an embodiment of the present invention and received waveforms obtained at this time, and FIG. FIG. 6 is a diagram showing a calibration test piece. In fig. (1) is an ultrasonic probe, (2) is a transmitting circuit, (3) is a transmitting delay circuit port 4) is a receiving circuit, (5) is a receiving delay circuit,
(6) is the delay time control circuit, (7) is the main control circuit, (8
) is an adder circuit. H & house gate circuit, (13 is reception level detection circuit, 0
→ is a time measurement circuit, Ql is a judgment circuit, e is an output circuit, αη is a gain control circuit, aυ is a gate control circuit, αchin is an output selection circuit, C70) is an input cutoff circuit, c! a
is a deformed circuit.翰 is a calibration signal generation circuit, and Q4) is a distance amplitude correction circuit. (to) is a block, and (32) is a calibration test piece. In the figure, the same or equivalent RIS portions are indicated with the same reference numerals. Agent Masuo Oiwa
Claims (1)
動子をアレイ状に配した超音波探触子と。 上記超音波振動子の励振時刻を制御する遅延時間制御回
路と、前記遅延時間制御回路の出力により上記複数個の
超音波振動子を励振する複数個の送信回路と、複数個の
超音波振動子をアレイ状に配した超音波探触子が受波し
た受信信号を増幅する複数個の受信回路と、上記遅延時
間制御回路の出力により上記受信信号を遅延する複数個
の受信遅延回路と、前記受信遅延回路の出力信号を加算
する加算回路と、前記加算回路によって加算された受信
信号をもとに時間ゲート回路により取り出した信号のレ
ベルを検知する受信レベル検知回路と。 前記受信レベル検知回路の検知した信号を検査の判定に
使用する判定回路とを有する超音波検査装置において、
上記受信回路のゲインを制御するゲイン制御回路を付加
したことを特徴とする超音波検査装置、 (2)平板状のバッキング材の一面に複数個の超音波振
動子をアレイ状に配した超音波探触子と。 上記超音波振動子の励振時刻を制御する遅延時間制御回
路と、前記遅延時間制御回路の出力により上記複数個の
超音波振動子を励振する複数個の送信回路と 複数個の
超音波振動子をプレイ状に配した超音波探触子が受波し
た受信信号を増幅する複数個の受信回路と、上記遅延時
間制御回路の出力により上記受信信号を遅延する複数個
の受信遅延回路と、前記受信遅延回路の出力信号を加算
する加算回路と、前記加算回路によって加算された受信
信号をもとに時間ゲート回路により取り出した信号のレ
ベルを検知する受4Mレベル検知回路と。 前記受信レベル検知回路の検知した信号を検査の判定に
使用する判定回路とを有する超音波検査装置において、
上記超音波探触子により接材された校正試験片と、上記
受信回路のゲインを制御するゲイン制御回路を有するこ
とを%−仏とする7T5音波検査装義。 (3)平板上のバッキング材の一面に複数個の超音波振
動子をアレ′イ状に配した超音波探触子と。 上記超音波振動子の励振時刻を制御する遅延時間制御回
路と、前記遅延時間制御回路の出力により上記複数個の
超音波振動子を励振する複数個の送信回路と、複数個の
超音波振動子をアレイ状に配した超音波探触子が受波し
た受信信号を増幅する複数個の受信回路と、上記遅延時
間制御回路の出力により上記受信信号を遅延する複数個
の受信遅延回路と、前記受信遅延回路の出力信号を加算
する加算回路と、前記加算回路によって加算された受4
M信号に対し距離による信号の減衰量を補正する距離振
幅補正回路と、前記距離振幅補正回路によって補正され
た受信信号を時間ゲート回路により取り出した信号のレ
ベルを検知する受信レベル検知回路と、前記受信レベル
検知回路の検知した信号を検査の判定に使用する判定回
路とを有する超音波検査装置において、上記距離振幅補
正回路の補正定数を制御する制御回路を付加したことを
特徴とす゛る超音波検査装置。 (4)平板状のバッキング材の一面に複数個の超音波振
動子をプレイ状に配した超音波探触子と。 上記超音波振動子の励振時刻を制御ずろ遅延時間制御回
路と、前記遅延時間制御回路の出力により上記複数個の
超音波振動子を励振する複数個の送信回路と、複数個の
超音波振動子をアレイ状に配した超音波探触子が受波し
た受信信号を増+1’rWする複数個の受信回路と、上
記遅延時間制御回路の出力により上記受信信号を遅延す
る複数個の受信遅延回路と、前記受信遅延回路の出力信
号を加算する加詩1回路と、前記加算回路によって加算
された受イ=信号をもとに時間ゲート回路により取り出
した信号のレベルを検知する受信レベル検知回路と。 前記受信レベル検知回路の検知した信号を検査の判定に
使用する判定回路とを有する超音波検査装置において、
上記受信遅延回路と上記加算回路の間に上記受信遅延回
路の出力する複数個の出力信号を任意に選択して上記加
算回路に出力する選択回路と、上記受信回路のゲインを
?!IJ 11するゲインを制御するゲイン制御回路と
を有することを特徴とする超音波検査装置。 (51平板状のバッキング材の一面に複数個の超音波振
動子をプレイ状に配した超音波探触子と上記超音波振動
子の励振時刻を制御する遅延時間制御回路と、前記遅延
時間制御回路の出力により上記複数個の超音波振動子を
励振する複数個の送信回路と、″41数個の超音波振動
子をアレイ状に配した超音波探触子が受波した受信信号
を増幅する複数個の受信回路と、上記遅延時間制御回路
の出力により上記受信信号を遅延する複数個の受信遅延
回路と、前記受信遅延回路の出力信号を加算する加算回
路と、前記加算回路によって加算された受信信号をもと
に時間ゲート回路により取り出した信号のレベルを検知
する受信レベル検知回路と。 前記受信レベル検知回路の検知した信号を検査の判定に
使用する判定回路とを有する超音波検査装置において、
上記超音波探触子と上記受信回路との間に上記超音波探
触子が受波した複数個の受信信号を任意の組み合わせで
切り換えて上記受信回路に出力する切替回路と、上記受
信回路のゲインを制御するゲイン制御回路を有すること
を特徴とする超音波検査装置。 (6)平板状のバッキング材の一面に複数個の超音波振
動子なアレイ状に配した超音波探触子と。 上記超音波振動子の励振時刻を制御する遅延時間制御回
路と、前記遅延時間制御回路の出力により上記複数個の
超音波振動子を励振する複数個の送信回路と、複数個の
超音波振動子をアレイ状に配した超音波探触子が受波し
た受信信号を増幅する複数個の受信回路と、上記遅延時
間制御回路の出力により上記受信信号を遅延する複数個
の受信遅延回路と、前記受信遅延回路の出力信号を加算
する加算回路と、前記加算回路によって加算された受信
信号をもとに時間ゲート回路により取り出した信号のレ
ベルを検知する受信レベル検知回路と。 前記受信レベル検知回路の検知した信号を検査の判定に
使用する判定回路とを有する超音波検査装置において、
上記送信回路の出力を入力し、擬似受信信号を出力する
変形回路と、前記変形回路の出力および上記超音波振動
子が受波した受信信号を任意の組み台わせで切り換えて
上記受信回路に出力する切替回路と、上記受信回路のゲ
インを制御するゲイン制御回路を有ずろことを特徴とす
る超音波検査装置。 (7)平板状のバッキング材の一面に拉舷(lrilの
超音波振動子をアレづ状に配l−だ超音波探触子と。 上記超音波振動子の励振時刻をt!i:I御する遅延時
間1b1坏j1回A’iと、前記遅延時間制両回+tN
iの出力により上記袂数11j’、lの超音波振動子を
励振する恒数個の送信回路と、複数個の超音波振動子を
アレイ状に配し7た超音波(ボ触子が受波した受信信号
を増幅する複軟イ:A、:の受信回路と、上記遅延時間
制御回路の出力により上記受信信号を遅延する複数個の
受信遅延回1・者と、前記受(i遅延回路の出力信号を
加算する加算回路と、前記加算回路によって加算された
受信信刊をもとに時間ゲート回路により取り出した信号
θ)レベルを検知する受信lノベル検知回路と。 前記受(8レベル検知回路の検知した信号を検査の判定
に使用する4′11定回路とを有する超音波検査装置に
おいて1校正信号を発生する校正信号発生回路と、前記
校正信号および上記超音波探触子が受波した受信信号を
任意の組み合わせで切り換えて上記受信回路に出方する
切替回路と、上記受信回路のゲインを制御するゲイン制
御回路とを有することを特徴とする超音波検査装置。 (8)平板状のバッキング材の一面に複数個の超音波振
動子をアレイ状に配した超音波探触子と。 上記超音波振動子の励振時刻を制御する遅延時間制御回
路と、前記遅延時間制御回路の出力により上記複数個の
超音波振動子を励振する複数個の送信回路と、複数個の
超音波振動子をアレイ状に配した超音波探触子が受波し
た受信信号を増幅する複数個の受信回路と、上記遅延時
間制御回路の出力により上記受信信号を遅延する複数個
の受信遅延回路と、前記受信遅延回路の出方信号を加算
する加算回路と、前記加算回路によって加算された受信
信号をもとに時間ゲート回路により取り出しり信号のレ
ベルを検知する受信レベル検知回路と。 前記受信レベル検知回路の検知した信号を検査の判定に
使用する判定回路とを有する超音波検査装置に30いて
1校正信号を発生1゛る校正信号発生回路と、前記校正
信号および上記超音波探触子が受波した受信信号を任意
の組み合わせで切り換えて上記受信ft、、jUil/
Sに出力する切替回路と、上記受信遅延回路と上記加算
回路の間に上記受信遅延回路の出力する性φrv、+a
+の出方信号を任意に選択して上記加装1回路に出力す
る選択回路と、上記受信回路のゲインを制(llllす
るゲイン制御回と1とを有することを%徴とする超音波
検査装置。[Scope of Claims] (1) An ultrasonic probe in which a plurality of ultrasonic transducers are arranged in an array on one surface of a backing material on a flat plate. a delay time control circuit that controls the excitation time of the ultrasonic transducer; a plurality of transmission circuits that excites the plurality of ultrasonic transducers using the output of the delay time control circuit; and a plurality of ultrasonic transducers. a plurality of reception circuits that amplify reception signals received by the ultrasound probes arranged in an array; a plurality of reception delay circuits that delay the reception signals according to the output of the delay time control circuit; an addition circuit that adds output signals of the reception delay circuits; and a reception level detection circuit that detects the level of a signal extracted by a time gate circuit based on the reception signals added by the addition circuit. An ultrasonic inspection apparatus including a determination circuit that uses the signal detected by the reception level detection circuit for determination of inspection,
An ultrasonic inspection device characterized in that a gain control circuit is added to control the gain of the receiving circuit, (2) an ultrasonic inspection device in which a plurality of ultrasonic transducers are arranged in an array on one surface of a flat backing material; with a probe. a delay time control circuit that controls the excitation time of the ultrasonic transducer; a plurality of transmission circuits that excites the plurality of ultrasonic transducers using the output of the delay time control circuit; and a plurality of ultrasonic transducers. a plurality of receiving circuits that amplify the received signals received by the ultrasonic probes arranged in a play shape; a plurality of receiving delay circuits that delay the received signals according to the output of the delay time control circuit; an adder circuit that adds output signals of the delay circuit; and a receiver 4M level detection circuit that detects the level of a signal extracted by a time gate circuit based on the received signal added by the adder circuit. An ultrasonic inspection apparatus including a determination circuit that uses the signal detected by the reception level detection circuit for determination of inspection,
A 7T5 sonic inspection device comprising a calibration test piece contacted by the ultrasonic probe and a gain control circuit for controlling the gain of the receiving circuit. (3) An ultrasonic probe in which a plurality of ultrasonic transducers are arranged in an array on one side of a backing material on a flat plate. a delay time control circuit that controls the excitation time of the ultrasonic transducer; a plurality of transmission circuits that excites the plurality of ultrasonic transducers using the output of the delay time control circuit; and a plurality of ultrasonic transducers. a plurality of reception circuits that amplify reception signals received by the ultrasound probes arranged in an array; a plurality of reception delay circuits that delay the reception signals according to the output of the delay time control circuit; an adder circuit that adds the output signals of the reception delay circuit; and a receiver 4 that is added by the adder circuit;
a distance amplitude correction circuit that corrects the amount of signal attenuation due to distance for the M signal; a reception level detection circuit that detects the level of a signal extracted by a time gate circuit from the reception signal corrected by the distance amplitude correction circuit; An ultrasonic inspection apparatus having a determination circuit that uses the signal detected by the reception level detection circuit for inspection determination, characterized in that a control circuit for controlling a correction constant of the distance amplitude correction circuit is added. Device. (4) An ultrasonic probe in which a plurality of ultrasonic transducers are arranged in a play shape on one side of a flat backing material. a delay time control circuit for controlling the excitation time of the ultrasonic transducer; a plurality of transmitting circuits for exciting the plurality of ultrasonic transducers using the output of the delay time control circuit; and a plurality of ultrasonic transducers. a plurality of receiving circuits that increase the reception signal received by the ultrasonic probe arranged in an array by +1'rW, and a plurality of reception delay circuits that delay the reception signal according to the output of the delay time control circuit. , an addition circuit that adds the output signals of the reception delay circuit, and a reception level detection circuit that detects the level of the signal extracted by the time gate circuit based on the reception signal added by the addition circuit. . An ultrasonic inspection apparatus including a determination circuit that uses the signal detected by the reception level detection circuit for determination of inspection,
A selection circuit that arbitrarily selects a plurality of output signals output from the reception delay circuit and outputs them to the addition circuit between the reception delay circuit and the addition circuit, and a gain of the reception circuit? ! 1. An ultrasonic inspection apparatus comprising: a gain control circuit for controlling a gain for IJ11. (51) An ultrasonic probe having a plurality of ultrasonic transducers arranged in a play shape on one surface of a flat backing material, a delay time control circuit for controlling the excitation time of the ultrasonic transducers, and the delay time control circuit. A plurality of transmitting circuits that excite the plurality of ultrasonic transducers with the output of the circuits and an ultrasonic probe having 41 ultrasonic transducers arranged in an array amplify the received signals. a plurality of reception delay circuits that delay the reception signal by the output of the delay time control circuit; an addition circuit that adds the output signals of the reception delay circuit; an ultrasonic inspection apparatus comprising: a reception level detection circuit that detects the level of a signal extracted by a time gate circuit based on the received signal; and a determination circuit that uses the signal detected by the reception level detection circuit for inspection determination. In,
A switching circuit between the ultrasonic probe and the receiving circuit, which switches the plurality of received signals received by the ultrasonic probe in an arbitrary combination and outputs it to the receiving circuit; An ultrasonic inspection device characterized by having a gain control circuit that controls gain. (6) An ultrasonic probe having a plurality of ultrasonic transducers arranged in an array on one side of a flat backing material. a delay time control circuit that controls the excitation time of the ultrasonic transducer; a plurality of transmission circuits that excites the plurality of ultrasonic transducers using the output of the delay time control circuit; and a plurality of ultrasonic transducers. a plurality of reception circuits that amplify reception signals received by the ultrasound probes arranged in an array; a plurality of reception delay circuits that delay the reception signals according to the output of the delay time control circuit; an addition circuit that adds output signals of the reception delay circuits; and a reception level detection circuit that detects the level of a signal extracted by a time gate circuit based on the reception signals added by the addition circuit. An ultrasonic inspection apparatus including a determination circuit that uses the signal detected by the reception level detection circuit for determination of inspection,
A modified circuit inputs the output of the transmitting circuit and outputs a pseudo received signal, and outputs the output of the modified circuit and the received signal received by the ultrasonic transducer to the receiving circuit by switching with an arbitrary combination. An ultrasonic inspection apparatus comprising: a switching circuit for controlling the gain of the receiving circuit; and a gain control circuit for controlling the gain of the receiving circuit. (7) An ultrasonic probe with lril ultrasonic transducers arranged in an array on one side of the flat backing material. The excitation time of the ultrasonic transducers is t!i:I. The delay time to be controlled is 1 b 1 1 time A'i and the delay time control both times + tN
A constant number of transmitting circuits excite the ultrasonic transducers with the number of legs 11j' and l by the output of i, and a plurality of ultrasonic transducers are arranged in an array, a plurality of reception delay circuits 1 and 1 for delaying the reception signal according to the output of the delay time control circuit; an adding circuit for adding the output signals of the receiver, and a receiving novel detecting circuit for detecting the level of the signal θ) extracted by the time gate circuit based on the received newsletters added by the adding circuit. A calibration signal generation circuit that generates one calibration signal in an ultrasonic inspection apparatus having a 4'11 constant circuit that uses the signal detected by the circuit for inspection determination; An ultrasonic inspection apparatus characterized by having a switching circuit that switches received signals in an arbitrary combination and outputs the received signals to the receiving circuit, and a gain control circuit that controls the gain of the receiving circuit. (8) Flat plate shape. an ultrasonic probe having a plurality of ultrasonic transducers arranged in an array on one surface of a backing material; a delay time control circuit for controlling an excitation time of the ultrasonic transducers; and an output of the delay time control circuit. a plurality of transmitting circuits that excite the plurality of ultrasonic transducers, and a plurality of reception circuits that amplify the received signals received by the ultrasonic probe in which the plurality of ultrasonic transducers are arranged in an array. a plurality of reception delay circuits that delay the reception signal by the output of the delay time control circuit; an addition circuit that adds the output signals of the reception delay circuit; and a reception signal added by the addition circuit. An ultrasonic inspection apparatus having a reception level detection circuit that detects the level of a signal taken out by a time gate circuit, and a determination circuit that uses the signal detected by the reception level detection circuit for inspection determination. A calibration signal generation circuit that generates a calibration signal, and an arbitrary combination of the calibration signal and the reception signal received by the ultrasonic probe to switch the reception ft, , jUil/
Between the switching circuit that outputs to S, the reception delay circuit, and the addition circuit, there is a
Ultrasonic inspection characterized by having a selection circuit that arbitrarily selects a + output signal and outputs it to the added circuit 1, and a gain control circuit that controls the gain of the receiving circuit. Device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12260583A JPS6014167A (en) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | Ultrasonic examination device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12260583A JPS6014167A (en) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | Ultrasonic examination device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6014167A true JPS6014167A (en) | 1985-01-24 |
Family
ID=14840075
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12260583A Pending JPS6014167A (en) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | Ultrasonic examination device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6014167A (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1983
- 1983-07-06 JP JP12260583A patent/JPS6014167A/en active Pending
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