JPS6013662U - 試料分析位置読取器 - Google Patents

試料分析位置読取器

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Publication number
JPS6013662U
JPS6013662U JP10496683U JP10496683U JPS6013662U JP S6013662 U JPS6013662 U JP S6013662U JP 10496683 U JP10496683 U JP 10496683U JP 10496683 U JP10496683 U JP 10496683U JP S6013662 U JPS6013662 U JP S6013662U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample analysis
analysis position
position reader
sample holder
scale plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10496683U
Other languages
English (en)
Inventor
馬場　靖孝
関口　英彦
Original Assignee
日本電子株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 日本電子株式会社 filed Critical 日本電子株式会社
Priority to JP10496683U priority Critical patent/JPS6013662U/ja
Publication of JPS6013662U publication Critical patent/JPS6013662U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図及び第２図は従来例を示す平面図及び縦断面図、
第３図及び第４図は本考案の一実施例を示す平面図及び
縦断面図である。 １・・・・・・読取器本体、２・・・・・・目盛盤、３
・・曲試料ホルダー、４・・・・・・回転軸、５・・・
・・・ホルダー受、６・・・・・・試料、７・・・・・
・直交座標、８・・・・・・目盛盤、９・・・・・・角
度表示。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 直交座標の目盛られた透明な目盛盤を試料ホルダーに回
    転可能に設け、該目盛盤又は試料ホタダーの一方に角度
    目盛を設け、他方に基準マークを設けたことを特徴とす
    る試料分析位置読取器。
JP10496683U 1983-07-06 1983-07-06 試料分析位置読取器 Pending JPS6013662U (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10496683U JPS6013662U (ja) 1983-07-06 1983-07-06 試料分析位置読取器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10496683U JPS6013662U (ja) 1983-07-06 1983-07-06 試料分析位置読取器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6013662U true JPS6013662U (ja) 1985-01-30

Family

ID=30246245

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10496683U Pending JPS6013662U (ja) 1983-07-06 1983-07-06 試料分析位置読取器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6013662U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007018944A (ja) * 2005-07-11 2007-01-25 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子装置用試料台
JP2009180563A (ja) * 2008-01-29 2009-08-13 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 爆発物検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007018944A (ja) * 2005-07-11 2007-01-25 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子装置用試料台
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