JPS60114448A - 物品の検査方法および装置 - Google Patents

物品の検査方法および装置

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JPS60114448A
JPS60114448A JP59192408A JP19240884A JPS60114448A JP S60114448 A JPS60114448 A JP S60114448A JP 59192408 A JP59192408 A JP 59192408A JP 19240884 A JP19240884 A JP 19240884A JP S60114448 A JPS60114448 A JP S60114448A
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アブドウラー・ハシム
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KAANII ANDO TORETSUKAA MAAUIN
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KAANII ANDO TORETSUKAA MAAUIN
KAANII ANDO TORETSUKAA MAAUIN Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ：１（−の１ 本発明は異なる時での物品の状態を比較し検査する方法
および装置に関する。
Ｌ１１ 多くの産業」この適用において、作業に供した後に物品
の状態が変化していないことを知ることが重要である。
−例としてドリルビットまたは複式ヘッドエ貝配列があ
り、そこではドリルまたは他の工具は穴あけ作業中に磨
耗するかもしれない。
損傷を発見し次の操作を行う前に機械を停止することが
重要となる。異なる工具または工具配列を連続して使用
しようとすると問題はさらに大きくなる。
発明が解決しようとする口 本発明はこの問題を解決するために行われたものである
。
発Ｊト列朋」［ 本発明にＪ：る異なる時での物品の状態を比較し５− 検査する方法は、第一の時に物品のイメージを形成し、
第二の詩に物品の別のイメージを形成し、それら２つの
イメージを自動的に比較して有意差を検出することを特
徴としている。
イメージは電子工学的に形成できるし、またビデオ映像
であってもよい。
第一のイメージは、デジタル化し、信号の質を高め関心
のある領域の同一を確認する等の種々の方法で処理する
のが好ましい。イメージの画質向上化は、広範囲の既知
の技術の１つまたは複数を用いて行うことができる。例
えば、ビデオ映像の複数フレームから情報を組み合わせ
て、信号対雑音比を改善することができる。デジチル化
したビデオ映像はヒストグラム修飾技術によって画質向
上化でき、映像の平滑化は低周波雑音を濾去することに
って達成でき、映像は既知の鋭敏化アルゴリズムによっ
て鋭敏化できる。
関心のある領域の同一を確認するための映像分割化は、
点依存法または領域依存法によって行うことができる。
６− 関心のある］−ツジまたは領域は適当なアルゴリズムに
よってビデオ映像中で検出でき、関心のある領域を表示
する確率によって重みを映像の個々のピッケルに割り当
てることができる。このようにして、データベースは、
第一のイメージから形成され、その後、第二のイメージ
が第一のイメージから有意的に異なることのない確率を
割算するのに使用される。
実施に際しては、複式工具配列はビデオカメラによって
イメージ化され、上記したような作業に要求される全部
または多くはそのイメージで得られる。この時に、素材
に要求される機能は何でもでさるように複式１具配列は
使用される。その後、複式１具配列は最初にイメージ化
された位置に戻り、第二のビデオ映像を作る。この第二
のビデオ映像は、工具配列がその作業を行っている間に
評価されたデータベースを用いて第一のイメージと比較
される。この比較は極めて迅速に行うことがひぎ、有意
的変化が検出されな（プれば、機械は次の作業へ進行η
゛る。もちろん、これは第一の作業のくり返しであるか
もしれないし、または一般に、異なる工具配列を用いた
異なる作業であってもよい。前後のイメージ間に有意的
変化が検出されると、機械は停止にするとともに警報が
発せられるかまたは自動的に工具変更操作が行われる。
１Ｅ乱 本発明による異なる時での物品の状態を比較する方法お
よび装置の実施例を添付図面に基づいて以下に詳細に説
明する。
図中、第１図は複式１具配列において破砕した工具を検
出するためのシステムの概略説明図、第２図は第１図に
示したシステムの動作を示す流れ図、第３図はヒストグ
ラｌ＼均等化を示１グラフ、第４図はヒストグラムしき
い値化によるグレイレベル分割化を示すグラフである。
第１図に示したシステムはビデオカメラ１１を備えてい
る。ぞのビデオカメラ１１は、複式１具ヘツド１２が製
造工程にある製品（素材）１４に対する作業を行う直前
の検査位置にある時、複数の異なるドリルビットおよび
タップ１３を有する複式１具へラド１２に向（Ｊるよう
に配置されている。
図示した工員ヘッド１２は、素材に対し連続的な作業を
行うことを必要とする全部が異なるいくつかのヘッドの
１つである。
カメラ１１は、工具のいずれもがカメラの視野から他の
工具を隠すことのないＪ：うに配置される。
もちろん、１つのカメラでカバーしきれない所には、別
のカメラを用いることができる。
操作手順を第２図の流れ図に示す。ステップＯで、装置
の適当な操作モードを選択することで処理手続が開始さ
れる。もちろん、これは、システムをスイッチオンする
ことで簡単に開始できるように、単一の操作モードどし
て組み込むかまたはシステム不履行として予めセラ１〜
しておいてもよい。
ビデオカメラ１１によって形成された８つのイメージフ
レームは、ステップ１で捕獲され、リアルタイムデータ
捕獲装置１５中で平均化される。リアルタイムデータ捕
獲装置１５において、イメージの個々のピッケルのグレ
イレベルは、イメージへ作９− 図するＲＡＭロケーションに記憶される。８つのフレー
ムはステップ２で平均化されて信号対雑音レベルが改善
される。システムの解像度は、適用業務の要求に応じて
選択される。すなわち、多数の精密工具を含む大領域の
観察は、比較的大きい工具を含む小領域の観察よりも良
好な解像度を要求するのは明らかである。同一のシステ
ムにおいて最高の解像度で１０２１Ｘ５１２のイメージ
サイズから低い解像度目的で２５６Ｘ２５６刀イズまで
異なる解像度を形成できるように設定できる。
平均化処理から得られる信号対雑音比の改善されたイメ
ージは、その後、コンビュー夕１６で処理される。
そのコンピュータ中で行われるステップ３は、イメージ
中のグレイレベルのヒストグラムを形成することを含む
。その後、そのヒストグラムはグレイレベル周波数を変
換機能で操作することで均等化し、グレイレベルのより
均一化した分布を有する均等化したヒストグラムを得る
。第３図は、最初のヒストグラム（グラフ（ａ））、変
ｕ％能１０− （グラフ（ｂ））および均等化したヒストグラム〈グラ
フ（Ｃ））を示す。その均等化したヒストグラムから、
２つの別個のグレイレベル領域を有する新たなヒストグ
ラムが形成される。前記２つの中の１つは工具のグレイ
レベルに相当するものであり、他の１つは背景のグレイ
レベルに相当するものである。この新たなヒストグラム
は、イメージの工具と背景領域間の識別を容易にする。
第４図は、そのようにして処理したヒストグラムを示し
ており、さらにヒストグラムしきい値化技術を表わして
いる。そのしきい値化技術では、暗い背景に対し灰色の
対象物のイメージが典型的であるヒストグラムは、しき
い値グレイレベルＴによって対象物レベルＯと背景レベ
ルＢとに分割されＣいる。
個々のピッケルのグレイレベルは前記した変換機能によ
って修飾され何らかのアルゴリズムを使用して均等化し
たヒストグラムに作用する新たなデジタルイメージは、
エツジの位置、すなわちグレイレベルがＯからＢへ変化
する所のイメージ中の位置を探知するように走査される
。ピッケルが対象物レベルの範囲Ｏまたは背蒙レベルの
範囲Ｂに入るに従って各ピッケルのグレイレベルがり。
またはＬ８にあると再定義することによって、２つのグ
レイレベルＬｏおよびＬＢのみが存在Ｊる段階で新たな
イメージが創造される。
グレイレベル分割化イメージは、微分技術によって先鋭
化したエツジを検出し、ステップ４で、工具１３に属す
るイメージのこれらピッケルを確認する。
ステップ５で、ピッケルが工具のエツジにまたは工具内
にあるに従いかつ工具が大きいかまたは小さいかに従っ
て重みをピッケルに割り当てる統計的な大きざが計算さ
れる。大きな工具は小さな工具と比較して比較的まれに
しかこわれないと予測されるので、大きな工具のピッケ
ルは低い重みが与えられる。前後のイメージ間で差異が
検出されると工具が異なる方向に向くかまたは工具が削
りくずを拾い上げたことを意味するので、工具のエツジ
のピッケルに低い重みが与えられる。前のイメージにお
けるこの最後の処理ステップの対象物は、比較段階で取
り扱われるべきデータ間を圧縮される。
その後、操作における次のステップでは、工具ヘッド１
２が索材１４への作業を行った後のイメージを捕獲する
。このために工具ヘッド１２は検査位置に戻される。そ
れで捕獲されたイメージは、ステップ７でステップ５か
らのデータに対してチェックされる。組合せ誤りがなけ
れば、工具はこわれていないものと見なし、次の操作の
ためにステップ１へ戻る。さもなければ、破損が生じた
ものと見なし、機械は停止しおよび／または警告が発せ
られる。
次の操作は同じ工具ヘッドを用いてもよいし、または異
なる工具ヘッドを使用することもできる。
いずれの場合にも、新たなイメージがステップ１で作ら
れる。
上記したイメージ処理技術は、もちろんイメージ処理技
術で知られている他の技術に置き換えたりまたは補足追
加することができる。
１３一 本発明は工具または工具配列の検査にもちろん限定され
るものではない。基本的には、同一または異なっていて
もよい何らかの対象物または対象物の連続体を異なる時
に点検して有意的変化を検出することができ、何が有意
的であるかの判定は、最初に捕獲されたイメージに関心
のあるピッケルへ適当な重みを割り当てることによって
イメージ処理技術に組み込むことができる。
免１悲廟ｉ 本発明では物品の検査を自動的かつ極めて迅速に行うこ
とができる。物品が検査される間に行われるイメージ処
理の大部分は、後操作を必要とするものが何であっても
、例えば穴あけ機の場合には穴あけすることが行われる
。後のイメージの捕獲および圧縮したデータセットとの
比較は現代のコンピュータ技術を用いて極めて迅速に行
うことができ、これはもちろん、素材の自動操作穴あけ
およびねじ切りのごとき作業、あるいは１つの作業と次
の作業間に過度の遅延が許されない場合に極めて重要で
ある。
１４−
【図面の簡単な説明】
第１図は複式１具配列において破砕した工具を検出する
だめのシステムの概略説明図、第２図は第７図に示した
システムの動作を示す流れ図、第３図はヒストグラム均
等化を示すグラフ、第４図はヒストグラムしきい値化に
よるグレイレベル分割化を示すグラフである。 １１・・・ビデオカメラ、１２・・・複式１具ヘツド、
１３・・・ドリルビットおよびタップ、１４・・・製造
工程にある製品（素材）、１５・・・リアルタイムデー
タ捕獲装置、１６・・・コンピュータ、０，１，２，３
，４，５，６．７・・・ステップ、Ｔ・・・しきいグレ
イレベル、０・・・対象物レベル、Ｂ・・・背景レベル
。 特許出願人　カーニー・アンド・１ヘレツカー・マーウ
ィン・リミテッド 代　理　人　弁理士　前出　葆　はか１名１５−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、第一の時に物品のイメージを形成し、第二の時に物
    品の別のイメージを形成し、それら２つのイメージを自
    動的に比較して有意差を検出することを特徴とする、異
    なる時での物品の状態を比較し検査する方法。 ２、イメージを電子工学的に形成する特許請求の範囲第
    １項記載の方法。 ３、イメージはビデオ映像である特許請求の範囲第２項
    記載の方法。 ４、第一イメージはデジタル化されている特許請求の範
    囲第１項記載の方法。 ５、デジタル化したイメージを処理して信号対雑音比を
    改善する特許請求の範囲第４項記載の方法。 ６、ビデオ映像の複数フレームを組み合わせて信号対雑
    音比を改善する特許請求の範囲第５項記載の方法。 ７、デジタル化したビデオ映像を、ヒストグラ　′ム修
    飾技術によって画質向上化する特許請求の範囲第１項記
    載の方法。 ８、近隣平均化によってビデオ映像の平滑化を行う特許
    請求の範囲第１項記載の方法。 ９、低周波雑音を濾去することによってビデオ映像の平
    滑化を行う特許請求の範囲第１項記載の方法。 １０、ビデオ映像の鋭敏化を行う特許請求の範囲第１項
    記載の方法。 １１、点依存法によってビデオ映像の分割化を行う特許
    請求の範囲第１項記載の方法。 １２、領域依存法によってビデオ映像の分割化を行う特
    許請求の範囲第１項記載の方法。 １３、適当なアルゴリズムによってビデオ映像中に関心
    のあるエツジまたは領域を検出し、重みをピッケルに割
    り当てる特許請求の範囲第１項記載の方法。 １４、映像化した対象物に関心のある予め選択された領
    域を表示する第一のイメージからベータベースを形成す
    る特許請求の範囲第１３項記載の方法。 １５、第一のイメージから形成されたデータベースは、
    第二のイメージが第一のイメージから有意的に異なるこ
    とのない確率を計算するのに用いる特許請求の範囲第１
    ４項記載の方法。 １６、工員の累（オに対する作業中に複式１具配列の状
    態を検査するのに使用する特許請求の範囲第１項記載の
    方法。 １７、添付図面に基づいてこの明ｍｓに実質的に開示さ
    れている、異なる時での物品の状態を比較し検査する方
    法。 １８、第一の時に物品の第一のイメージを形成するとと
    も第二の時に物品の第二のイメージを形成りるのに適し
    た映像化手段と、前記第一イメージと第二イメージを自
    動的に比較して有意差を検出するのに適した比較器手段
    とを備えている、異なる時での物品の状態を比較し検査
    する装置。 １９、映像化手段はビデオカメラを備えている特許請求
    の範囲第１８項記載の装置。 ２０、ビデオカメラからイメージをデジタル化するデジ
    タル化手段を備えている特許請求の範囲第１９項記載の
    ｇ置。 ２１、ビデオカメラからイメージに作用するイメージ画
    質向上化手段を備えている特許請求の範囲第１９項記載
    の装置。 ２２、比較器手段は、ビデオ映像に関心のあるエツジま
    たは領域を検出しプログラムして、関心のある領域を表
    示する割り当てｌζ確率によるイメージのピッケルに重
    みを割り当て、映像化した物品に関心のある予め選択さ
    れた領域を表示する前記の第一のイメージからデータベ
    ースを形成するデータ処理手段を備えるとともに、第二
    のイメージが第一のイメージと有意的に異なることのな
    い確率を前記のデータベースおよび第二のイメージから
    計算するようにプログラムされた計算手段を備えている
    特許請求の範囲第１８項記載の装置。 ２３、添付図面に基づいてこの明ｍａに実質的に開示さ
    れている、物品の状態を比較し検査する装置。
JP59192408A 1983-11-23 1984-09-13 物品の検査方法および装置 Pending JPS60114448A (ja)

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EP (1) EP0142990A3 (ja)
JP (1) JPS60114448A (ja)
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015104945A1 (ja) * 2014-01-10 2015-07-16 三菱重工業株式会社 工作機械の工具折損検知装置
WO2015146744A1 (ja) * 2014-03-27 2015-10-01 株式会社タカコ 工具検査方法及び工具検査装置
JP6887070B1 (ja) * 2021-02-26 2021-06-16 Dmg森精機株式会社 工作機械、表示制御方法、および表示制御プログラム

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0268622A1 (de) * 1986-06-12 1988-06-01 Mas Vertriebs Gmbh Für Zerspanungstechnik Verfahren, messgerät, feinverstellbare werkzeughalterung mit kompensationseinrichtung für prozessintegrierte qualitätssicherung in spanenden nc-werkzeugmaschinen
GB2200747B (en) * 1986-12-23 1990-10-17 Kenneth Geoffrey Swift Improvements in tool identification and condition monitoring
JPH0671300B2 (ja) * 1987-03-20 1994-09-07 富士写真フイルム株式会社 放射線画像情報の読取処理条件決定装置
GB2215040A (en) * 1988-02-13 1989-09-13 William George David Ritchie A method and apparatus for monitoring the driver of a vehicle
US5436980A (en) * 1988-05-10 1995-07-25 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method for determining quality of dispersion of glass fibers in a thermoplastic resin preform layer and preform layer characterized thereby
JPH01284743A (ja) * 1988-05-10 1989-11-16 Toshiba Corp 半導体装置の樹脂モールドの外観検査方法とその検査装置
US5031126A (en) * 1988-06-30 1991-07-09 Delta M Corporation Constant power thermal sensor
DE68909606T2 (de) * 1988-08-12 1994-02-10 Hughes Aircraft Co Automatisiertes system zur prüfung eines bildsensors.
US5046111A (en) * 1989-02-09 1991-09-03 Philip Morris Incorporated Methods and apparatus for optically determining the acceptability of products
US5146510A (en) * 1989-02-09 1992-09-08 Philip Morris Incorporated Methods and apparatus for optically determining the acceptability of products
FR2645782B1 (fr) * 1989-04-14 1995-01-27 Aerospatiale Systeme de controle de bris d'outil sur centre d'usinage
US5144566A (en) * 1990-06-14 1992-09-01 Comar, Inc. Method for determining the quality of print using pixel intensity level frequency distributions
RU2025253C1 (ru) * 1991-02-25 1994-12-30 Обабков Анатолий Иванович Устройство для определения момента затупления режущего инструмента
US5204911A (en) * 1991-05-29 1993-04-20 Nira Schwartz Inspection method using unique templates and histogram analysis
US5237621A (en) * 1991-08-08 1993-08-17 Philip Morris Incorporated Product appearance inspection methods and apparatus employing low variance filter
US5335293A (en) * 1992-06-16 1994-08-02 Key Technology, Inc. Product inspection method and apparatus
US5481619A (en) * 1992-07-07 1996-01-02 Schwartz; Nira Inspection method using templates images, unique histogram analysis, and multiple gray levels correlated to addresses of template images
GB9224406D0 (en) * 1992-11-20 1993-01-13 Silsoe Research Inst Examination of milking animals
GB2272971B (en) * 1992-11-20 1997-03-05 British Tech Group Examination of milking animals
IES58755B2 (en) * 1993-05-06 1993-11-03 Sten Johan Hakansson Bjorsell Automatic drill bit quality and position control
JP3640404B2 (ja) * 1993-08-18 2005-04-20 富士通株式会社 画像データ処理装置
US6252980B1 (en) 1993-11-24 2001-06-26 Nira Schwartz Additional dynamic fluid level and bubble inspection for quality and process control
US5414778A (en) * 1993-11-24 1995-05-09 Schwartz; Nira Dynamic fluid level and bubble inspection for quality and process control
DE4410603C1 (de) * 1994-03-26 1995-06-14 Jenoptik Technologie Gmbh Verfahren zur Erkennung von Fehlern bei der Inspektion von strukturierten Oberflächen
KR20000065123A (ko) * 1996-04-30 2000-11-06 안자키 사토루 공작기계의공구이상검출방법및장치
DE19631506A1 (de) * 1996-08-03 1998-02-05 Bayerische Motoren Werke Ag Vorrichtung zur optischen Kontrolle einer mit einem Typenrad in ein Werkstück eingebrachten Prägemarkierung mittels einer Kamera
US5969753A (en) * 1998-04-24 1999-10-19 Medar, Inc. Method and system for detecting errors in a sample image
US20050050942A1 (en) * 2001-09-07 2005-03-10 Schmitt Edward A. Wear test system
GB2403799B (en) * 2003-07-11 2006-04-12 Rolls Royce Plc Image-based measurement
US7732797B2 (en) 2004-09-08 2010-06-08 Renishaw Plc Detection device and method for detecting objects subject to cyclic or repetitive motion
GB0625387D0 (en) 2006-12-21 2007-01-31 Renishaw Plc Object detector and method
US9058522B2 (en) * 2013-03-15 2015-06-16 Arris Technology, Inc. Logo presence detection based on blending characteristics

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5093059A (ja) * 1973-12-17 1975-07-24
JPS5392632A (en) * 1977-01-26 1978-08-14 Hitachi Ltd Pattern decision unit
JPS5835405A (ja) * 1981-08-28 1983-03-02 Nissan Motor Co Ltd 工具形状検査装置

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3590151A (en) * 1966-12-30 1971-06-29 Jackson & Church Electronics C Television surveillance system
JPS502673B1 (ja) * 1968-12-10 1975-01-28
US3662341A (en) * 1970-09-25 1972-05-09 Ibm Video-derived segmentation-gating apparatus for optical character recognition
GB1392448A (en) * 1971-06-22 1975-04-30 Nat Res Dev Optical indpection
US4110736A (en) * 1974-04-24 1978-08-29 Agency Of Industrial Science & Technology Shape recognition system
GB1527600A (en) * 1974-12-13 1978-10-04 Mullard Ltd Video signal analysis
IT1055430B (it) * 1976-02-23 1981-12-21 Tasco Spa Procedimento e apparecchiatura per il riconoscimento in tempo reale di immagini
US4071899A (en) * 1976-07-09 1978-01-31 Hughes Aircraft Company System and method for the measurement of repetitive patterns
ES458478A2 (es) * 1977-05-04 1978-04-16 Aranda Lopez Jose M Mejoras introducidas en clasificadores electronicos de fru- tos.
US4237539A (en) * 1977-11-21 1980-12-02 E. I. Du Pont De Nemours And Company On-line web inspection system
GB2020945B (en) * 1978-05-16 1982-12-01 Wisconsin Alumni Res Found Real-time digital x-ray substraction imaging
DE2962502D1 (en) * 1978-05-30 1982-05-27 British Broadcasting Corp Method of and apparatus for deriving a pal colour television signal corresponding to any desired field in an 8-field pal sequence from one stored field or picture of a pal signal
GB2027538B (en) * 1978-08-10 1983-03-02 Vyzk Ustav 070 Evaluating mechanical deformation characterisitcs
DE2937245A1 (de) * 1978-09-18 1980-03-27 Eastman Kodak Co Vorrichtung zum pruefen von langgestrecktem werkstoff
DE2934038C2 (de) * 1979-08-23 1982-02-25 Deutsche Forschungs- und Versuchsanstalt für Luft- und Raumfahrt e.V., 5000 Köln Rißfortschritts-Meßeinrichtung
IL58119A (en) * 1979-08-27 1983-03-31 Yeda Res & Dev Histogram image enhancement system
JPS5677704A (en) * 1979-11-30 1981-06-26 Hitachi Ltd Inspection system for surface defect of substance
US4351437A (en) * 1980-01-18 1982-09-28 Lockwood Graders (Uk) Limited Method and apparatus for examining objects
US4377238A (en) * 1980-08-27 1983-03-22 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Flaw detection and evaluation
JPS5769480A (en) * 1980-10-15 1982-04-28 Omron Tateisi Electronics Co Seal-impression collation system
DE3043849A1 (de) * 1980-11-21 1982-07-08 Koninklijke Textielfabrieken Nijverdal-Ten Gate N.V., Almelo Verfahren zum beschauen einer reflektierenden und/oder transparenten, sich bewegenden bahn und beschaumaschine zur durchfuehrung des verfahrens
US4493420A (en) * 1981-01-29 1985-01-15 Lockwood Graders (U.K.) Limited Method and apparatus for detecting bounded regions of images, and method and apparatus for sorting articles and detecting flaws
US4414566A (en) * 1981-04-03 1983-11-08 Industrial Automation Corporation Sorting and inspection apparatus and method
GB2107858B (en) * 1981-10-01 1985-10-02 Wool Dev Int Fibre defect detection
EP0083047B1 (de) * 1981-12-24 1987-02-04 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft, Patentabteilung AJ-3 Prüfverfahren für technische Funktionsteile und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US4549205A (en) * 1982-05-10 1985-10-22 Takeda Chemical Industries, Ltd. Ampoule inspecting method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5093059A (ja) * 1973-12-17 1975-07-24
JPS5392632A (en) * 1977-01-26 1978-08-14 Hitachi Ltd Pattern decision unit
JPS5835405A (ja) * 1981-08-28 1983-03-02 Nissan Motor Co Ltd 工具形状検査装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015104945A1 (ja) * 2014-01-10 2015-07-16 三菱重工業株式会社 工作機械の工具折損検知装置
WO2015146744A1 (ja) * 2014-03-27 2015-10-01 株式会社タカコ 工具検査方法及び工具検査装置
JP2015190770A (ja) * 2014-03-27 2015-11-02 株式会社タカコ 工具検査方法及び工具検査装置
JP6887070B1 (ja) * 2021-02-26 2021-06-16 Dmg森精機株式会社 工作機械、表示制御方法、および表示制御プログラム
WO2022180907A1 (ja) * 2021-02-26 2022-09-01 Dmg森精機株式会社 工作機械、表示制御方法、および表示制御プログラム
JP2022131366A (ja) * 2021-02-26 2022-09-07 Dmg森精機株式会社 工作機械、表示制御方法、および表示制御プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
EP0142990A2 (en) 1985-05-29
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GB2150284A (en) 1985-06-26
US4637054A (en) 1987-01-13
GB8418998D0 (en) 1984-08-30

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