JPS6011158A - プロ−ブコイル式渦流探傷法 - Google Patents

プロ−ブコイル式渦流探傷法

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JPS6011158A
JPS6011158A JP58118182A JP11818283A JPS6011158A JP S6011158 A JPS6011158 A JP S6011158A JP 58118182 A JP58118182 A JP 58118182A JP 11818283 A JP11818283 A JP 11818283A JP S6011158 A JPS6011158 A JP S6011158A
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JP
Japan
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output
probe
flaws
probe coil
coil
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Pending
Application number
JP58118182A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobutada Sugaya
菅谷 暢恭
Seigo Ando
安藤 静吾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Publication date
Application filed by NKK Corp, Nippon Kokan Ltd filed Critical NKK Corp
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Publication of JPS6011158A publication Critical patent/JPS6011158A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9046Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
    • G01N27/9066Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals by measuring the propagation time, or delaying the signals

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、プローブコイル式渦流探書法に関する。
一般に、グローブコイル式渦流探鴎法は、大径パイプの
探傷や、大面積の組板を対象とした探出法として知られ
、SN比及び検出感度の点でも問題が少なく、実用に供
されている〜。特に、SN比及び検出感度の点から、回
転プローブ型渦流探傷法や時分割型渦流探傷法が使用さ
れている。
ところで、本出願人は、先に出M+4にした1プロ一ブ
コイル式渦流探伽法(特願昭56−79号)」において
、時分割渦流探傷法における間JtLi点、すなわち、
プローブコイルと欠陥との相対距離(水平方向)による
欠陥の検出感度差をなくするために、「複数イ1^1の
グローブコイルを′j4.探錫材の形状に応じて配列し
、上記各プローブコイルの探傷信号な相ト:、「接する
プローブコイルからの探倚イa号と加算して、上記被探
傷羽の欠陥とグローブコイルとの相対距離による感バV
差欠補償することを特徴とするプローブコイル式渦流探
傷法。」について提案した。
この探傷法は、1脣接したフローブコイルfi4互間の
方向に対してはその問題点ヲl仔決しているが、例えば
大径パイプ等を探偵するJJM合には、探傷がパイプに
対してスパイラル状に1よるので次のような間;aがあ
る。すなわち、−リーンフ”リングレート時114]に
対して被探傷材の・し重連1iが早くなると、不探傷部
分が発生ずる。顆た、パイプの長手方向の探傷は、同−
疵に刻して)此とプローブコイルとの相対「f直により
、g74.’ 1図に7’<すように、検出感度差が発
生する。
本発明は、上述のよう/、c問題点乞解決ず6/ヒめに
発明されたものでわり、被探1,0材の移動卦1ζ題が
早くなっても不探イニb部分が先生ぜず、かつ、被探傷
材の長手方向に対する拾出范一度差を補償ず6ようにし
たプローブコイル式ii’1’:+電流探偽法t−提供
するものである。
本発明は、さらに、被17に賜材の内部にある疵に対し
ても高いSN比で検知することができるようにしたプロ
ーブコイル式iit’+)扼探1b法を提供するもので
ある。
本発明に係る探L5法は、上記の目的を達成するために
、1次コイルに複数種類の周波数の交流電ilEを印加
1−て被片(Vj材に渦電:υ尾を発生させ、この渦電
流を検知するための複数個のプローブコイルを自装置し
、 該プローブコイルと被片’l’jj月とを相対移動さぜ
な〆)−ら、前記プローブコイルの各出力な時分割で順
V(抽出し、この抽出電圧乞前記周波数に対応したバン
ドパスフィルタで各ル1」波数の信号に分離シ。
た後にそれぞれ検1皮し、この検波出力をサンプリング
周期に相当する時間だけ遅延し7、この遅延出力とr;
iJ記倹波II力どに加コニ了することによシ、相対移
動方向の検出l・3度を補償し、そして、各周波数に対
応した加訂出力を演算することにより、被片傷同E’j
lll”J疵に対するSN比を向上させたことを特徴と
する。
仄に、本発明の実施例乞図面に基づいて説明ずろ。81
12図は本発明の一実施例【こ係る方法を実施するため
の測定装置のブロック1箇である。
同図において、被探傷材(1)の外周側に貫通型コイル
(2)を配置す◇と共【こ、N個のプローブコイル(3
1L(3−2)−・・・、(3−N)を配置する。発振
器(10)及び(10A)から0.) Ifj力1’z
−Fk、、 (fII) + (fL) ’i加;Og
3(11K加えて加シ、後、電力増II・)1i R”
A (12)で増幅して貫通型コイル、すなわち1仄コ
イル(2)に印加する。1次コイル(2)に電流が7ノ
ijれるとイ1:杢界が発生し、被探傷材(1)に渦電
流が発生ずる。名プローブコイル(5−1)。
(3−2) 、・・・、(3−N)は、前記の(18昇
及び渦゛屯流によるも8&界と交差して誘起′中′、圧
ン冗生する。このときの赫起蔦圧は、被片偽旧(1〕の
疵の有無や疵の4呈既によって異1cつたものに1工6
゜ 各プローブコイル(3−1)、(3−2)、・・・、(
3−N)の出力=:i: lEは、マルチプレクサ(1
5)lこよって順次抽出される。このマルチプレクサ(
13)の動作のタイミングは、サンプリングパルス発生
器(14)によ−’) 1lilJ fj:lIされる
。サンプリングパルス発生器(14)からのパルスは、
稟6因に示されろとお、りであり、同図にオイテ、パル
スG11、フローフコイル(3−1) ニ対応スルパル
スで6 D 、パルス(j2iJ フローフコイル(3
−2)に対応すΦパルスである。他のパルスも同様であ
る。各パルス幅はτで示され、サンプリング周期はTで
示されている。
マルチプレクサ(16)の出力は、信号増幅器(15)
によシ所定の増幅度で増幅された俊、バンドパスフィル
タ(16)、(16A)に供給される。バンドパスフィ
ルタ(16)は発振器(10)の周波数に、バンドパス
フィルタ(16A)は発振器(10A)の周波数に対応
するものである。バンドパスフィルタ(16)の出力は
、同ji、i]検波器(17)で同期検波された後、信
号遅延回路(18)でサンプリング周期に相当する時間
だけ遅延される。この信号遅延回路(16)の遅延時間
はm−リングリングパルス発生器(14)から供給され
るサンプリング周相」毎のパルス(図示せず)によって
規t!flJされる。そして、同期上2波器(17)の
出力と信号遅延回路(18)の出力とが加算器(19)
に供給されて加3′(−される。従って、加9器(19
)においては、あるタイミングの例えばグローブコイル
(3−1)の検知’IU号と、1サンプリング周期(刀
後の同じコイル(3−1)の検知信号とが加算されるこ
とになる。
このような加算により得られ比出力信号は、疵とプロー
ブコイルとの相対比r准による検出感度差を補償したも
のになる。第4図は、探傷ピッチを4゜(am)にした
ときの検出感度を示したものであり、検出感度が補償さ
れていることがわかる。
バンドパスフィルタ(16A)、同期検波器(17A)
、信号遅延回路(18A)及び茄子):器(19A)の
動作は、算器(19)の出力は、被探傷材(1)の表面
性状及び表面疵に対応した出力が得られ、加算器(19
A)の出力は、被探傷材(1)の表面及び内部疵に対応
した出力が得られる。そこで、これらの出力信号を差動
増幅器(20)に印加して信号処理することにより、内
部疵を高訳比で検知することができる。
なお、上述の実施例では、周波数が2種類の場合につい
て説明したが、本発明はこの実施例に限定されるもので
はなく、それ以上の種類の周波数を用いてもよいことは
いうまでもない。
以上の説明から明らかなように、本発明に係る探侭法に
よれば、被探傷材の長手方向に対する検出感度を補償す
ることができ、また、パイプ等を探傷ピッチを従来法と
比較して4〜5倍拡大することができ、探傷速度を4〜
5倍高速化することができる。また、このことから、サ
ンフ゛リングレート時間に対して被探偵材の移動速匿が
早くなっても不探傷部分が発生しなくなる。さらに、多
周波の叉流電圧を1次コイルに印加することにより被片
傷拐の内部にある疵に対しても高いSN比で検知するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は疵とプローブコイルとの相対位置によ9倹出感
度が錫なることを示した41性図、第2図は本発明の一
冥漉例に係る謄ぎ場法を実施するための測定装置のブロ
ック図、2!!6図は前記Illij定装置におけるサ
ンプリングパルス発生器の出力パルスを示すタイムチャ
ート、第4図は上記測定装置の測定結果の特性図である
。 (1)・・・被探傷材、(2J・・・貫通型コイル、(
6−1λ(3−2)。 ・・・、(3−N)・・・プローブコイル、(10)#
(10A)・・・発振器、(11)・・・加31:器、
(12)・・・電力増幅z3、(16)・・・マルテフ
”レクザ, (14)・・・サンプリングノくルス発生
S、(15)・・・信号増幅器、(16)、(16A)
・・・ノくンドノくスフィルタ、( 17 ) 、 (
 1 7A)−=同期検波g,7、(IB)、(18A
)−信号遅延回路、(19)、(19A)・・・加算器
, (20)・・・差動増幅器。 代理人 弁理士 木 利 三 朗

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1次コイルに複数種類の周波数の交流電圧を印加して被
    探傷材に補正、流を発生させ、この渦電θ1しを検知す
    るための複数個のプローブコイルを配置し、 該プローブコイルと被探t!I材とを相対移動させなが
    ら、前記プローブコイルの各出力を時分割で順次抽出し
    、この抽出電IE火前記周波数に対応【またバンドパス
    フィルタで各周波数の信号に分j′、1εした後にそれ
    ぞれ検波し、この検波出力なザンブリング周期に相当す
    る時間だけ遅延し、この遅延出力と前記検波出力とを加
    算することによシ、相対移動方向の検出感度を補償し、
    そして、各周波数に対応した加n出力を演具することに
    より、被探傷内部の疵に対する5NIkを向上させたこ
    とな特徴とするプローブコイル式渦jft探藝法。
JP58118182A 1983-07-01 1983-07-01 プロ−ブコイル式渦流探傷法 Pending JPS6011158A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2671187A1 (fr) * 1990-12-28 1992-07-03 Cga Hbs Dispositif de controle non destructif a courants de foucault.

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2671187A1 (fr) * 1990-12-28 1992-07-03 Cga Hbs Dispositif de controle non destructif a courants de foucault.
US5172058A (en) * 1990-12-28 1992-12-15 Compagnie Generale D'automatisme Cga-Hbs Non-destructive eddy current testing device with signal compensation for signal propagation delay

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