JPS5992368A - 核磁気共鳴を利用した磁場検出装置 - Google Patents
核磁気共鳴を利用した磁場検出装置Info
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- JPS5992368A JPS5992368A JP20244782A JP20244782A JPS5992368A JP S5992368 A JPS5992368 A JP S5992368A JP 20244782 A JP20244782 A JP 20244782A JP 20244782 A JP20244782 A JP 20244782A JP S5992368 A JPS5992368 A JP S5992368A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/24—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance for measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は１核磁気共鳴（ｎｕｃｌｅａｒ ｍａｇｎｅｔ
ｉｃｒｅｓｏｎａｎｃｅ ） （以下これ？］ｌ−ＮＭ
Ｒと略称する）現象を利用して磁場強度の測定を行なう
磁束測定装置に関するものである。
ｉｃｒｅｓｏｎａｎｃｅ ） （以下これ？］ｌ−ＮＭ
Ｒと略称する）現象を利用して磁場強度の測定を行なう
磁束測定装置に関するものである。
ＮＭＲ現象は、特定の物質（例えば水、リン。
炭素など）を入れた容器の周囲にコイルを配置６．させ
、このコイルＬ高周波信号を加えると、特定の周波ＩＲ
ｆで物質がエネルギーを吸収し、コイル電圧が微小変化
することで検出できる。ここで、特定物質が置かれた点
の磁界の強さＨと、吸収周波数ｆとは（１）式に示すよ
うな関係がある。
、このコイルＬ高周波信号を加えると、特定の周波ＩＲ
ｆで物質がエネルギーを吸収し、コイル電圧が微小変化
することで検出できる。ここで、特定物質が置かれた点
の磁界の強さＨと、吸収周波数ｆとは（１）式に示すよ
うな関係がある。
ｆ＝ｉ−Ｈ・・・・・・・・・・・・・・・（１）ただ
し、γ：物’Ａ’ （ＪｊＸ子核）固有の比例定数従来
、ＮＭＲ現象を利用した磁束検出装置として、コイルに
生ずる微小変化電圧を正確に検出するために、磁場変調
用のコイルを前記のコイルとは別に設け、磁場Ｉ【を小
さく変動させるようにしたものがある。しかしながら、
このような装置においては、コイルが２以上必要であり
、検出端部分が複雑で、かつ大型になる欠点がある。
し、γ：物’Ａ’ （ＪｊＸ子核）固有の比例定数従来
、ＮＭＲ現象を利用した磁束検出装置として、コイルに
生ずる微小変化電圧を正確に検出するために、磁場変調
用のコイルを前記のコイルとは別に設け、磁場Ｉ【を小
さく変動させるようにしたものがある。しかしながら、
このような装置においては、コイルが２以上必要であり
、検出端部分が複雑で、かつ大型になる欠点がある。
ここにおいて、本発明は、検出端部分から、磁場変調コ
イルを＝＜１〜、構造が簡単で小型な磁場検出装置を実
現しようとするものである。
イルを＝＜１〜、構造が簡単で小型な磁場検出装置を実
現しようとするものである。
本発明に係る装置は、共鳴吸収周波数が磁界依存性を有
する物質と、この物質の共鳴吸収周波数全検出する七ン
ッーオシレータと、このセンサーオシレータの発掘周波
敷金低周波信号ｆｍで変調する変調手段と、センサーオ
シレータの発振周波数を掃引する手段と、センサーオシ
レータからの周波数変調信号と低周波値−＠ｆｍとを入
力しセンサーオシレータの発振周波数を共鳴吸収周波数
に一致するように制御する制御手段を含んで構成した点
に特徴がある。
する物質と、この物質の共鳴吸収周波数全検出する七ン
ッーオシレータと、このセンサーオシレータの発掘周波
敷金低周波信号ｆｍで変調する変調手段と、センサーオ
シレータの発振周波数を掃引する手段と、センサーオシ
レータからの周波数変調信号と低周波値−＠ｆｍとを入
力しセンサーオシレータの発振周波数を共鳴吸収周波数
に一致するように制御する制御手段を含んで構成した点
に特徴がある。
第１図は本発明に係る装置の一例を示す構成ブロック図
、第２図はその動作波形図である。
、第２図はその動作波形図である。
第１図において、１は磁場検出端で、共鳴吸収周波数が
磁場Ｈに依存するような物質、例えば水が収容された容
器１０と、この容器の周囲に巻回されたコイル１１とで
構成されている。なお、物質として水を用いる場合、純
水でなく、０．１〜１チ程度のＦｅＣ１，溶液等を用い
ると感度が向上する。
磁場Ｈに依存するような物質、例えば水が収容された容
器１０と、この容器の周囲に巻回されたコイル１１とで
構成されている。なお、物質として水を用いる場合、純
水でなく、０．１〜１チ程度のＦｅＣ１，溶液等を用い
ると感度が向上する。
２は物質の共鳴吸収周波数を検出するための例えばマー
ジナル発振器のような可変周波数のセンサーオシレータ
である。このセンサーオシレータ２は、可変容量ダイオ
ード２１．２２、コンデンサ２３．２４．２５をもち、
これらはコイル１１とともにタンク回路を形成している
。なお、２６は帰還用コンデンサ、２７は周波数が変化
しても出力をはｙ一定にさせるＡＭ成分除去回路である
。
ジナル発振器のような可変周波数のセンサーオシレータ
である。このセンサーオシレータ２は、可変容量ダイオ
ード２１．２２、コンデンサ２３．２４．２５をもち、
これらはコイル１１とともにタンク回路を形成している
。なお、２６は帰還用コンデンサ、２７は周波数が変化
しても出力をはｙ一定にさせるＡＭ成分除去回路である
。
３は、センサーオシレータ２の発振周波数を低周波信号
で変調する低周波信号ｆｍを出力する低周波発掘器で、
その出力端は可変客月ダイオード２２の一端に接続され
ている。４は例えばランプ関数状に変化する電圧信号を
発生する関数発生器で、その出力端は可変界４：ダイオ
ード２１の一端に接続されており、センサーオシレータ
２の発振周波数を高速掃引する。５１−ｉセンサーオシ
レータ２から得られる周波数変調信号ε。を入力し、こ
の周波数変調信号のピーク位置を検出し、センサーオシ
レータの発振周波数を共鳴吸収周波数（ピーク位置に対
応）に一致するように制御する制御手段で、ここでは、
周波数変調信号ε。と低周波信号ｆｍとの位相検波を行
なう第１の検波回路５１．低周波信号ｆｍの周波をを２
倍にする逓倍回路５２．逓倍回路５２からの低周波信号
２ｆｍと周波数変調信号ε。
で変調する低周波信号ｆｍを出力する低周波発掘器で、
その出力端は可変客月ダイオード２２の一端に接続され
ている。４は例えばランプ関数状に変化する電圧信号を
発生する関数発生器で、その出力端は可変界４：ダイオ
ード２１の一端に接続されており、センサーオシレータ
２の発振周波数を高速掃引する。５１−ｉセンサーオシ
レータ２から得られる周波数変調信号ε。を入力し、こ
の周波数変調信号のピーク位置を検出し、センサーオシ
レータの発振周波数を共鳴吸収周波数（ピーク位置に対
応）に一致するように制御する制御手段で、ここでは、
周波数変調信号ε。と低周波信号ｆｍとの位相検波を行
なう第１の検波回路５１．低周波信号ｆｍの周波をを２
倍にする逓倍回路５２．逓倍回路５２からの低周波信号
２ｆｍと周波数変調信号ε。
との位相検波を行なう第２の検波回路５３、第１の検波
回路５１からの出力信号Ｅｆを入力とするＰＩ調節計、
第１の検波回路５１からの信号を記憶し、この記憶信号
ｉＰＩ調節計に入力させる記憶手段５５．零チェック回
路５６及び、各検波回路５１．５３の出力信号、記憶手
段５５からの信号を入力し、低周波発掘器４の動作及び
ＰＩ調節計５４の出力を可変容量ダイオード２１の一端
に印加するスイッチＳ、及び零チェック回路５６を制御
する制御回路５０とで構成されている。６はセンサーオ
シレータ２からの発振周波数信号νｔを制御回路５０か
らのタイミングで表示する表示回路である。
回路５１からの出力信号Ｅｆを入力とするＰＩ調節計、
第１の検波回路５１からの信号を記憶し、この記憶信号
ｉＰＩ調節計に入力させる記憶手段５５．零チェック回
路５６及び、各検波回路５１．５３の出力信号、記憶手
段５５からの信号を入力し、低周波発掘器４の動作及び
ＰＩ調節計５４の出力を可変容量ダイオード２１の一端
に印加するスイッチＳ、及び零チェック回路５６を制御
する制御回路５０とで構成されている。６はセンサーオ
シレータ２からの発振周波数信号νｔを制御回路５０か
らのタイミングで表示する表示回路である。
このように楢成した装置の動作を次に第２図の各波形図
を参照しながら説明する。第２図（ａ）〜（、）ニオい
て、横軸はセンサーオシレータ２の発振周波数を示すも
ので、（、）〜（ｄ）の各図とも（ｅ）図の横軸を共通
にして使用するものとする。ここで、センサーオシレー
タ２の発振周波数は、コイル１１のインダクタンスＬと
、コンデンサ２３〜２５および可変容量ダイオード２１
．２２の合成容量Ｃ８て、可変容量ダイオード２２には
、低周波発振器３からの低周波信号ｆｍが与えられてい
るので、発振周波数νはｆｍで変調されたものとなる。
を参照しながら説明する。第２図（ａ）〜（、）ニオい
て、横軸はセンサーオシレータ２の発振周波数を示すも
ので、（、）〜（ｄ）の各図とも（ｅ）図の横軸を共通
にして使用するものとする。ここで、センサーオシレー
タ２の発振周波数は、コイル１１のインダクタンスＬと
、コンデンサ２３〜２５および可変容量ダイオード２１
．２２の合成容量Ｃ８て、可変容量ダイオード２２には
、低周波発振器３からの低周波信号ｆｍが与えられてい
るので、発振周波数νはｆｍで変調されたものとなる。
また、可変各相ダイオード２１には、関数発生器４から
の信号が与えられ、発振周波数νが高速掃引される。こ
の発振周波数νの可変範囲（掃引範囲）は、測定磁場に
対応する吸収周波数の範囲よシ十分広く定められている
。
の信号が与えられ、発振周波数νが高速掃引される。こ
の発振周波数νの可変範囲（掃引範囲）は、測定磁場に
対応する吸収周波数の範囲よシ十分広く定められている
。
第２図（ｄ）は、センサーオシレータ２の発振周波数ν
とその発掘振巾との関係を表わす吸収信号を示すもので
ある。発振周波数νが掃引され、その発振周波数が物質
による吸収周波数νｔに一致すると、物質による電磁波
の吸収が行なわれ、■に示すように振巾が低下する。こ
こで、６ｏは低周波信号ｆｍで変調されたセンサーオシ
レータ２からの周波数変調信号を示す。
とその発掘振巾との関係を表わす吸収信号を示すもので
ある。発振周波数νが掃引され、その発振周波数が物質
による吸収周波数νｔに一致すると、物質による電磁波
の吸収が行なわれ、■に示すように振巾が低下する。こ
こで、６ｏは低周波信号ｆｍで変調されたセンサーオシ
レータ２からの周波数変調信号を示す。
第１の検波回路５１は、低周波信号ｆｍを参照信号とし
て周波数変ＲｊＪｉ信号ε。全位相検波し、第２図（ｂ
）に示すような時定数の小さい出力佃°号Ｂｆａと、第
２図（ｃ）に示すような時定数の大きい出力信号Ｂｆ
とを出力するもので、これらは、（ａ）に示す吸収信号
を微分した波形となる。また、第２の検波回路５３は、
低周波信号２ ｆｍ を参照信号として周波数変調信
号６゜を位相検波し、第２図（ｄ）に示すような、（、
）に示す吸収信号を２回微分した信号Ｅ２ｆを出力する
。
て周波数変ＲｊＪｉ信号ε。全位相検波し、第２図（ｂ
）に示すような時定数の小さい出力佃°号Ｂｆａと、第
２図（ｃ）に示すような時定数の大きい出力信号Ｂｆ
とを出力するもので、これらは、（ａ）に示す吸収信号
を微分した波形となる。また、第２の検波回路５３は、
低周波信号２ ｆｍ を参照信号として周波数変調信
号６゜を位相検波し、第２図（ｄ）に示すような、（、
）に示す吸収信号を２回微分した信号Ｅ２ｆを出力する
。
制御回路５０は、（ｂ）に示す時定数の小さい検波信号
Ｅｆａを監視し、その電圧があらかじめ設定した所定値
ＥＣよシ大きくなったら、関数発生器４に高速掃引停止
の信号を送り、関数発生器４はセンサーオシレータの発
振周波数を高速掃引停止時における値νＣに維持させる
。また、この状態で、制御回路５０は、第２の検波回路
５３の出方信号Ｅ２ｆの値が、一定レベルｉ （第２
図（ｄ）参照〕を越えているかどうか判断する。ここで
、”２ｆ＞ｇｓであれば、信号Ｅｆａの振巾変化は物質
の吸収現象によるもの、すなわち、発振周波数νＣは吸
収周波数νｔの近傍にあることが確認され、また、”２
ｆ ＜ Ｅｓ であれば、信号Ｅｆａにノイズが混入
したことによるものとし、この場合、再び高速掃引が続
行される。制御回路５ｏは、このようにＥｆの値によっ
て吸収周波数信号の存在を確認することにより、ノイズ
等の混入による誤動作を防いでいる。
Ｅｆａを監視し、その電圧があらかじめ設定した所定値
ＥＣよシ大きくなったら、関数発生器４に高速掃引停止
の信号を送り、関数発生器４はセンサーオシレータの発
振周波数を高速掃引停止時における値νＣに維持させる
。また、この状態で、制御回路５０は、第２の検波回路
５３の出方信号Ｅ２ｆの値が、一定レベルｉ （第２
図（ｄ）参照〕を越えているかどうか判断する。ここで
、”２ｆ＞ｇｓであれば、信号Ｅｆａの振巾変化は物質
の吸収現象によるもの、すなわち、発振周波数νＣは吸
収周波数νｔの近傍にあることが確認され、また、”２
ｆ ＜ Ｅｓ であれば、信号Ｅｆａにノイズが混入
したことによるものとし、この場合、再び高速掃引が続
行される。制御回路５ｏは、このようにＥｆの値によっ
て吸収周波数信号の存在を確認することにより、ノイズ
等の混入による誤動作を防いでいる。
このような動作が終了彼、制御回路５ｏは、零チェック
回路５６を働かせ、センサーオシレータ２の発振周波数
をνｔを中心として−Δｆ及び＋Δｆたけ変化させ、こ
の時、第１検波回路５工がら得られる電圧Ｅｉ及びｐ２
１１を記憶手段５５で記憶させる。この動作は、第１検
波回路５１からの信号ＥｆのベースラインＩＢが零にあ
るか否かチェックするもので、ｔｎが零であれば必ずし
も必要でない。
回路５６を働かせ、センサーオシレータ２の発振周波数
をνｔを中心として−Δｆ及び＋Δｆたけ変化させ、こ
の時、第１検波回路５工がら得られる電圧Ｅｉ及びｐ２
１１を記憶手段５５で記憶させる。この動作は、第１検
波回路５１からの信号ＥｆのベースラインＩＢが零にあ
るか否かチェックするもので、ｔｎが零であれば必ずし
も必要でない。
続いて、制御回路５０は、スイッチＳ、を閉じて、ＰＩ
調節計５４の出力を、関数発生器４の出方信号に加算さ
せ、可変各州ダイオード２１に加える。これによって、
ＰＩ調節！＋ ５４ 、スイッチＳ、、 センサーオ
シレータ２及び第１の検波回路５１で形成されるループ
は、Ｅｆと−Ｅｌ＋Ｅｌ’ の偏差が琴となるように
、すなわち、センサーオシレータ２の発振周波数が、吸
収周波数νｔに最終的に等しくなるように制御する。そ
して、偏差が零である状態におけるセンサーオシレータ
２の発振周波数νｔは、制量回路５ｏがらの指示によっ
て計数され、とのνｔから検出端における磁場Ｈの大き
さを知ることができる。
調節計５４の出力を、関数発生器４の出方信号に加算さ
せ、可変各州ダイオード２１に加える。これによって、
ＰＩ調節！＋ ５４ 、スイッチＳ、、 センサーオ
シレータ２及び第１の検波回路５１で形成されるループ
は、Ｅｆと−Ｅｌ＋Ｅｌ’ の偏差が琴となるように
、すなわち、センサーオシレータ２の発振周波数が、吸
収周波数νｔに最終的に等しくなるように制御する。そ
して、偏差が零である状態におけるセンサーオシレータ
２の発振周波数νｔは、制量回路５ｏがらの指示によっ
て計数され、とのνｔから検出端における磁場Ｈの大き
さを知ることができる。
以後、磁場Ｈの大きさが少し変っても、前記したＰＩ′
調節計５４を含むループは、これに自動的に追従するよ
うに動作する。
調節計５４を含むループは、これに自動的に追従するよ
うに動作する。
本発明に係る装置によれば、磁場変調でなく、センサー
オシレータ２の発振周波数を低周波信号で周波数変調す
るようにしたもので、検出端の構成を小型にできるとい
う特長がある。また、吸収信号を微分した信号が所定値
より大きいか否かを確認する動作をさせることによって
、ノイズに強く、高精度の磁」易測定を行なわせること
ができる。
オシレータ２の発振周波数を低周波信号で周波数変調す
るようにしたもので、検出端の構成を小型にできるとい
う特長がある。また、吸収信号を微分した信号が所定値
より大きいか否かを確認する動作をさせることによって
、ノイズに強く、高精度の磁」易測定を行なわせること
ができる。
第３図〜第５図は、本発明に係る装置の検出端１付近の
他の構成例を示す要部接続図で、いずれも、掃引できる
周波数範囲を広範囲とし、広い範囲に亘っての磁場測定
が行なえるようにしたものである。
他の構成例を示す要部接続図で、いずれも、掃引できる
周波数範囲を広範囲とし、広い範囲に亘っての磁場測定
が行なえるようにしたものである。
すなわち、第３図は物質の入った容器１０にインダクタ
ンス（Ｌ）の異なった複数個（ここでは３個）のコイル
を巻回させ、これを測定磁場の大きさに応じてスイッチ
Ｓ、で切換え、センサーオシレータ２に接続させるよう
にしたものである。スイッチＳ２はＳ、に連動してＡＭ
成分除去回路２７ａ〜２７ｃ を切換える。
ンス（Ｌ）の異なった複数個（ここでは３個）のコイル
を巻回させ、これを測定磁場の大きさに応じてスイッチ
Ｓ、で切換え、センサーオシレータ２に接続させるよう
にしたものである。スイッチＳ２はＳ、に連動してＡＭ
成分除去回路２７ａ〜２７ｃ を切換える。
第４図は、コイル１１に複数個のタップを設け、このタ
ップをスイッチＳ、によって切換えるようにしたもので
ある。
ップをスイッチＳ、によって切換えるようにしたもので
ある。
第５図ｔまセンサーオシレータ２において、コイル１１
に並列に接続されるコンデンサを、複数個設り、これら
のコンデンサ２３８〜２３ｃをスイッチＳ、によって切
換えて接続させるようにしたものである。
に並列に接続されるコンデンサを、複数個設り、これら
のコンデンサ２３８〜２３ｃをスイッチＳ、によって切
換えて接続させるようにしたものである。
なお、第１図に示した装置、では、ＰＩ調節計５４に第
１の検波回路５１から得られる吸収信号を一次微分した
信号Ｅｆ （この信号はベースラインｔＢが必ずしも
零レベルにない）を入力させるようにしたもので、それ
故に、零チェック回路５６を動作させるとともに、記憶
手段５５からの信号をＰ１調節計５４に人力させ零レベ
ル補正のための動作を行なうものであるが、吸収信号を
三次微分した信号を得（低周波信号ｆｍを３ｆｍしたも
のと８゜と全位相検波して得られる）るようにすれば、
この（ｇ号のベースラインｔＢは零レベルにあるので、
零チェックのだめの動作は不要であり、零チェック回路
５６や、記憶手段５５を設ける必要はない。
１の検波回路５１から得られる吸収信号を一次微分した
信号Ｅｆ （この信号はベースラインｔＢが必ずしも
零レベルにない）を入力させるようにしたもので、それ
故に、零チェック回路５６を動作させるとともに、記憶
手段５５からの信号をＰ１調節計５４に人力させ零レベ
ル補正のための動作を行なうものであるが、吸収信号を
三次微分した信号を得（低周波信号ｆｍを３ｆｍしたも
のと８゜と全位相検波して得られる）るようにすれば、
この（ｇ号のベースラインｔＢは零レベルにあるので、
零チェックのだめの動作は不要であり、零チェック回路
５６や、記憶手段５５を設ける必要はない。
第６し１は第１図装置６．において、第２の検波回路５
３からの二次微分した１８号Ｅ２ｆのみを用いる場合の
他の手法を示す動作波形図である。
３からの二次微分した１８号Ｅ２ｆのみを用いる場合の
他の手法を示す動作波形図である。
この手法は、センサーオシレータ２の発振周波数を高速
掃引し、Ｅ２ｆがはじめに所定電圧ＥＳに達した時、掃
引を停止させその時の発振周波数ν。
掃引し、Ｅ２ｆがはじめに所定電圧ＥＳに達した時、掃
引を停止させその時の発振周波数ν。
を求め、次に、ｙＡ振同周波数同じ方向に掃引し、Ｅ２
ｆがＰ）び所定′ｉ、圧ＥＳ Ｋなったら掃引を停止さ
せ、その時の発振周波数ν２を求める。以後、信号に２
ｆのピーク位置の近傍（ピーク位置を中心として左右）
を検出し、ν、とν２との開を切換え、ｕ１＋’２を演
算することによって、中心周波数（吸収周波截］νを知
るようにしたものである。
ｆがＰ）び所定′ｉ、圧ＥＳ Ｋなったら掃引を停止さ
せ、その時の発振周波数ν２を求める。以後、信号に２
ｆのピーク位置の近傍（ピーク位置を中心として左右）
を検出し、ν、とν２との開を切換え、ｕ１＋’２を演
算することによって、中心周波数（吸収周波截］νを知
るようにしたものである。
以上ｎ足明したように、本発明に係る装置ｉ１１によれ
ば、検出端の構成が簡単で、ノイズの影響を受けず、「
鴇精度の磁場測定ケ行なうことができる。
ば、検出端の構成が簡単で、ノイズの影響を受けず、「
鴇精度の磁場測定ケ行なうことができる。
第１図は本発明に係る装置の一例を示す（１乍成ブロッ
ク図、第２図はその動作波形図、第３図〜第５図は検出
端付近の他の構成例を示す要部接続図、第６図は第１図
装置６において、二次微分信号のみを用いる場合の他の
手法を示す動作波形図である。 １・・・検出端、１（）・・・容器、１１・・・コイル
、２・・・センサーオシレータ、３・・・低周波発振器
、４・・・関数発生器、５・・・制御手段、５０・・・
制御回路、５４・・・ＰＩ調節計。
ク図、第２図はその動作波形図、第３図〜第５図は検出
端付近の他の構成例を示す要部接続図、第６図は第１図
装置６において、二次微分信号のみを用いる場合の他の
手法を示す動作波形図である。 １・・・検出端、１（）・・・容器、１１・・・コイル
、２・・・センサーオシレータ、３・・・低周波発振器
、４・・・関数発生器、５・・・制御手段、５０・・・
制御回路、５４・・・ＰＩ調節計。
Claims (4)
- （１） 共鳴吸収周波数が磁界依存性を有する物質、
この物質の共鳴吸収周波数を検出するセンサーオシレー
タ、このセンサーオシレータの発振周波数を低周波信号
（ｆｍ）で変調する変調手段、前記センサーオシレータ
の発振周波数を掃引する掃引手段、前記センサーオシレ
ータからの周波数変調信号を前記低周波信号ｆｍのｎ倍
調成分（ｎは整数）で位相検波し、得られた信号を利用
して前記センサーオシレータの発振周波数を前記共鳴周
波数に一致するように制御する制御手段とを具備し、前
記センサーオシレータの発振周波数から磁場を検出する
ようにした核磁気共鳴を利用した磁場検出装置。 - （２）制御手段ケ、センサーオシレータからの周波数変
調信号を低周波信号ｆｍで位相検波して得られる信号を
入力する調節計と、センサーオシレータからの周波数変
調信号を低周波信号の２１倍調成分で位相検波して得ら
れる信号を入力し共鳴吸収周波数信号の存在を確認し前
記調節計及び掃引手段とを制御する制御回路とで構成し
た特許請求の範囲第１項記載の核磁気共鳴を利用した磁
場検出装置。 - （３） 制御手段ケ、センサーオシレータからの周波
数変調信号４：低周波信号の３倍調成分で位相検波して
イシＩられる信号を入力する調節計と、センサルオシレ
ータからの周波数変調信号を低周波信号の２倍調成分で
位相検波して得られる信号を入力し共鳴吸収周波数の存
在を確認し前記調節計及び掃引手段とを制御する制御回
路とで構成した特許請求の範囲第１項記載の核磁気共鳴
全利用した磁場検出装置。 - （４） 制御手段金、センサーオシレータからの周波
数質ｌＡ１信号を低周波信号の２倍調成分で位相検波し
て得られる信号を入力し、この信号のピーク位＋Ｗ近傍
でセンサーオシレータの発振周波数を±Δｆ−変化させ
る手段を含んで構成した特許請求の範囲第１項記載の核
磁気共鳴を利用した磁場検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20244782A JPS5992368A (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | 核磁気共鳴を利用した磁場検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20244782A JPS5992368A (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | 核磁気共鳴を利用した磁場検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5992368A true JPS5992368A (ja) | 1984-05-28 |
Family
ID=16457670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20244782A Pending JPS5992368A (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | 核磁気共鳴を利用した磁場検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5992368A (ja) |
-
1982
- 1982-11-18 JP JP20244782A patent/JPS5992368A/ja active Pending
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| JOURNAL OF SCIENTITIC INSTRUMENT=1965 * |
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