JPS5987734A - 開閉器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は開閉器の容器内の圧力の抑制に関するもので
ある。なおこの発明でいう開閉器とは、とくに回路しゃ
断器、限流器、電磁開閉器などの容器、通常は小型容器
内でアークを生じるものを示している。

以下においては、回路しゃ断器を例に説明する。

第１図〜第６図は従来の回路しゃ断器金示す断面図で・
それぞれ異なった動作状態を示している。

（１）はカバー、（２）はベースで、カバー（１）とベ
ース（２）とで容器（３）を構成している。（４）は固
定接触子で−その固定導体（５）の一端に固定接点＋６
）’ｔ　４ｒ　Ｌ、他端は外部導体（図示せず）に接続
されるように端子部になっている。（７）は可動接触子
で、その可動導体（８）の一端に固定接点（６）に対向
した可！ｌ１７１接点＋９１を有している。（ｌＯ）は
可！１１／Ｉ接触子装置、（１１）は町！ｌＩ＃子腕で
クロスバー０２２に固定され各極間時に開閉されるよう
＆、−構成されている。す３）は消弧室で消弧板Ｕ揚が
側板す５）により保持されているａ　Ｕａ）はトグルリ
ンク機構で、上リンク（１７）と下リンク（至））より
構成されている。上リンク（１７）の一端はフレドル（
至）に、また他端はドリンクμｓ）の一端にそれぞれ軸
−１ｅ０により連結されているうなお下リンク（ホ）の
他端は上記可動接触子装置ｉｉ　ｔｌｏｌのｉ」動子腕
（１１）に連結されている。

ｌ１２棒は起倒形操作ハンドル、（ハ）は作動はねで〜
　トグルリンク機構（１６）の軸＠υと上記操作ハンド
ルに）との間に架張されている。　１．ｄ！　、（ハ）
は、それぞれ熱１１カおよび゛１１モ磁引きはずし機構
で、作動時には、それぞれバイメタルンΦおよび可動鉄
心Ｖ）によりトリップバー（ハ）を反時計方向に回動さ
せるようになっている。に）は一端が上記トリップバー
−に係止され他端はクレドＩＶ（（２）と係止している
ランチである。

クレドｌレリ初がラッチに）に係止した状態で操作ハン
ド／’ｔ２ｓ９を閉路位置に倒せばトグルリンク機４Ｎ
　（１６）が伸長して軸（２）がクレド／Ｌ／（ロ）に
係止され可動接点（９）は固定接点（６）に接合される
。この状態が第１図である。ついで操作ハンド／Ｌ’に
）を開路位置に倒せば、トグルリンク機構（１６）は屈
曲して可動接点（９）を固定接点（６）より開離させ、
司動子腕（１１）がフレドル軸−に係止される。この状
態が第２図である。また前記第１図に示す閉路状態で回
路に過′電流が流れると、熱動引きはずし機構裟◆ある
いは電磁引きはずし機構に）が作動してクレドｗ　（＋
ｎ）とラッチ裟ｏ）の係合が解除され、フレドル軸０１
を中心に時計方向七牛萌し疼ト去噛（フレドル（１９）
が回転しストッパー軸０Ｉ）に係止される。クレド７Ｌ
／　（ｚと上リンク（１７）の連結点が上記作動ばねに
）の作用線を越えるため・作動ばね（ハ）のばね力によ
ってトグルリンク機構（＋６）が屈曲してクロスバ−県
）により各極連動して目動しゃ断を行なう。この状態が
第６図である。

つぎに回路しゃ断器が゛電流しゃ断時に発生するアーク
の撮舞いについて説明する。

いま、可動接点（９）と固定接点（６）とが接触してい
る場合においては、その磁力はｉｌｆ、源側より固定導
体（５）、固定接点（６）、可動接点Ｆ９）および可動
導体（８）を順次経由して負荷側へ供給される。この状
態において、短絡電流等の大電流がこの回路に流れると
、前述したように、可動接点（９）が固定接点ｔ（＋）
から開離される。この際、上記固定およびｉｉＪ動接点
（６）　、　＋９）間にはアーク０１が発生し、固定お
よび可動接点＋ａ）　＋　＋９）聞にはアーク電圧が発
生する。このアーク市１圧幻１、固定接点（６）からの
可動接点（９）の開離距離が増大するに従って上昇し、
また、同時にアーク０棒が消弧板Ｕ引の方向へ磁気力に
よって引き付けられ伸長するｔめに・更に上昇する。こ
のよう（こして、アーク′市流は電流零点東進えてアー
クを消弧し、しゃ断が完結する。しかし、口の注入され
た美大なアークエネルギーは最終的には熱エネルギーの
形になり完全に容器外に逃げ去るが、過渡的（こは限ら
れた容器内のガスの温度を上昇させ、延いてはガス圧力
を急激に上昇させることになる。

これにより回路じゃ１す「器内部の絶縁劣化、回路しゃ
断器外部への放出火花量の増大による電源短絡事故や回
路しやＶＪｒｋｓ？ｓ本体の破壊等？招くおそれがあっ
た。

つぎＧここの発明を創作する基になった了−りのエネル
ギー消費のメカニズムＱこ関して述ヘル。

第４図は一接触子（４１、（７１間にアークＡが生じた
図である。図中ＴＵアークＡから接触子に伝導して逃げ
る熱エネルギーの流れ、ｍ汀アーク空間から逃げる金属
粒子のエネ７レギーの流れ、Ｒはアーク空間から逃げる
光によるエネルギーの流れをそれぞれ示している。第４
図においで、アークＡに注入されたエネルギーは、上記
の三つのエネルギーの流れ、’Ｆ、ｍ、、Ｒ１こよって
概ね消費されてしまう。このうち、電極への熱の逃げＴ
は微小であり、大半のエネルギーはｍとＲにて持ち去ら
れてしまう、、さて−従来、アークＡのエネルギーの消
費のメカニズムにおいては、図中のｍが圧倒的テあり、
Ｒのエネルギーｔ」、はとんど無を見されてし）たが−
発明者時の最近の研究により−Ｒのエネルギー、すなわ
ち、光によるエネルギーのγ１４賀が了−りＡに注入さ
れたエネルギーの約７０％にも達する程美大であること
が解明されるに至った。

すなわちアークに注入されたエネルギーの消費はつきの
ように解析できる。

Ｐｖｉ＝’ＩＪ−工＝　Ｐ　ｋ−＋−Ｐ　ｔ　ｈ　＋　
Ｐ　Ｒ但し、 ＰＷ：瞬時注入エネルギー Ｖ　：アーク電圧 工　：′電流 Ｖ・工：アークに注入される瞬時電気エネルギーＰｋ：
金属粒子が持ち去る瞬時エネルギー消費量 ↓ｍｖ’：ｍｖの金属粒子が速度Ｖで飛ひ去る時持ち去
る瞬時エネルギー消費量 ｍ−Ｕｐ−Ｔ：定圧比熱Ｕｐのガス（金属粒子のガス）
が温度Ｔにて逃げた時に持ち去る瞬時エネルギー消費量 ｐｔｈ　：アーク空間から、接触子へ熱伝導にて逃げ去
る瞬時エネルギー消費量 ＰＲ：光により、アークから直接放射される瞬時エネル
ギーＩ１１費量 上記の消費量は接触子形状やアーク長によって変化する
が一１０〜２０＋ｎｓ＋の了−りに対してはそれぞれｐ
ｋ＝１０〜２０％、　ｐｔｈ　＝　５％、ＰＲ＝７５〜
８５％である。

つきに了−りＡを容器（３）に閉じ込めた時の状況を第
５図に示す。アークＡを容器（３）に閉じ込めると、容
器（８）内空間は、金属粒子が充満しかつ高温の状態と
なる。とくに、アーク陽光柱Ａの周辺ガス空間Ｑ（図中
斜線で示した空間Ｑ）は、上記の一状態が強い。さて・
アークＡを発した光は・アーク陽光柱Ａから放出され、
容器（３）の壁に照射され反射する。反射された光は散
乱され、再度、金属粒子の充満した高温空間を通過し、
再度、壁面に照射される、このような過程を光量が零に
なるまで繰り返すのである。この間の、光の経路を図中
Ｒａ　−４Ｒｂ　４　Ｒａ　＋Ｒ６にて示している。

上記の過程Ｇこおいて、アークＡから発した光のｆｔ’
４黄はつぎの２点である。

（１）壁面での吸収 （２）アーク空間および周辺（高温）ガス空間による吸
収、すなわちガス空間による吸収 またアークＡから発する光は、２０ＤＯＸ以下の遠紫外
から、１μｍ以上の遠赤外までのすべての波長領域にわ
たり、連続スペクトルおよび線スペクトルからなる。一
般の容器壁面は、たとえ表面が黒色をしている場合ξも
、４ｏｏｏＫ〜５５００λ程度の範囲においてのみ、光
の吸収能カケ有するのみで、その他の範囲においては、
一部を吸収するにとどまりほとんど反射してしまうもの
である。

ところか、アーク空間および周辺ｉ＆温力゛ス空曲での
１吸収はつぎのようになる。

長さＬの一様な組成・温度を有するガス空間に波長λの
光を照射した時ガス空間による光の吸収ｊｔｌＪま一つ
ぎのように算定できる。

工ａ＝Ａｅ　−ｎ−ＬＩｉｎ　　　　　　　　−＋１）
工ａ　：ガス（こよる吸収エネルギー Ａ：１吸収確率 工１ｎ：照射する光エネルギー ｎ　：粒子密度 ＩＪ：光が通過する光路長 但し、（１）式ｔま特定波長λに対する吸収エネルギー
友を示す。Ａｓは特定波長λに対する吸収錦率であり、
波長λ、ガス温度、粒子の種類の関数であ机 （１）式について、量子力学の教えに従えば、吸収係数
Ａｓは、連続・線スペクトルともに一光を発する光源ガ
スと同一状態のガス（すなわち、粒子の捕類−渇度が同
一）が最も大きな値を有することれるわけである。

（１）式において、光の吸収エネルギー蓋工ａは、光路
長ｎに比例する。第５図に示すように、７一タ空間から
の光が壁面にて反射されると、（１）式中のＬは、その
反射回数倍だけ増大することになり、アーク空間の高温
部で吸収される光エネルギー量が増大することになる。

これは、すなわち、アークＡのｉ−する光のエネルギー
が結局、容器（８）内のガスに吸収され−これによって
ガスの温度が上昇し−ガスの圧力が上昇することを意味
している。

そこでこの発明の前提としては、アークに注入されたエ
ネルギーの約７０％にも達する光のエネルギーを効果Ｉ
ＩＪに吸収するために、特定の材料を使用するものＣ５
開閉器の容器内で、アークの光のエネルギーを受ける特
定位置に、アークの発する光を効果的に吸収する繊維、
網および見掛は気孔率６５％以上の高多孔質材料のうら
の１糠もしくは２種以上の複合材を配置することによっ
て、容器内の光を多足に吸収させて、ガス空間の温度を
低下させ、それにより圧力を低下させるものである。

上記繊維としては、無機系、金属、複合材、織材および
不織布などのうちから選択されるが、高温アークにさら
される空間に設置きれる関係上、いずれのものでも熱的
強度を有している必要がある。

また、網としては、無機糸、金属および複合材などのは
か一細線金網を多層に重ねたものや編素線などもその選
択の対象となり得るものである。

この網の場合も、熱的強度を有しているものを選択する
必要がある。

上記繊維および網の材料のうち、無機系ではセラミック
、カーボン、゛ｒガスストなどが好適であり、金属では
Ｆｅ、Ｏｕが最適であり、Ｚｎ、Ｎｉなどにそれぞれメ
ッキを施こしたものも適用可能である。

多孔質素材は、一般には固体構造内シこ多数の細孔を持
つ材料で、全４．無機系、有機質などの多くの範囲にお
ける材料に存在するもので・材質と細孔どの関係におい
て、一つは固体粒子相互の接点で焼結固化したもの、他
の一つは孔が主体で孔を形成する隔壁が固体物質である
ものに区別されている。なおここでの素材とは、形状に
とられれない、形状加工日ｉＩのもとの材料をいう。

さらに細か〈分類すると粒子間の隙間が細孔として存在
するもの、粒子間の隙間と粒子内の孔の細孔を共有する
もの、発泡性の孔を内部に包含するものなどに分けるこ
とができる。また通気性・通水性のあるものと、気孔が
内部に独立し通気性のないものとに大別することもでき
る。

上記の細孔の形状は非常に複雑で大きくは開孔と閉孔に
類別され、その構造は、細孔容積または気孔率、細孔径
および細孔径分布、比表面積などで表示する。

気孔率は多孔質素材に含まれる開孔′と閉孔のすべての
細孔容積の割合を素材の全容積（カサ容積）【こ対する
空隙比すなわち百分率で示したものを真の気孔率とし、
測定方法は液体または気体による置換法および吸収法な
どによるが、簡便法として、Ｊ工５Ｒ２６１４の耐火断
熱レンガの比重および気孔率の測定方法に定義されると
おり、っぎのよう（こ計算される。

また開孔の容積の割合を素材の全容積（カサ容積）に対
する空隙比、すなわち百分率で示したものを見掛けの気
孔率とし−Ｊ工５Ｒ２２０５耐火レンガの見掛気孔率、
吸収率および比重の測定方法に定輯されるとおり、っぎ
のようにして計算される。

なお見掛は気孔率は有効気孔率ともいう。

細孔径は細孔容積および比表面積の測定値より求められ
るが、原子やイオンの大きさに近いものから粒子間の界
面間隙まで数Ｘ（オングストローム）から数叫まで分布
するが、一般に、その分布の平均値として足輪される。

多孔質素材で（よ顕微鏡による方法や水銀圧入法で気孔
の形状、大きさおよびその分布を測定することができる
。一般には複雑な気孔の形状や分布の状態を正確に知る
ためには顕微鏡を用いるのが直接的で好ましい。

比表面積の測定は各種吸着ガス質の各温度における吸着
等温線を利用して求められるＢ’Ｅ　Ｔ　　法が多く用
いられ、とくに窒素ガスが多く用いられる。

つぎにこの発明の１ｉＪ提である、ｉｉＪ述の特定の材
料、たとえば高多孔質材料による光のエネルギーの吸収
とそれによるガスの圧力低下の模様を、無機質高多孔素
材を例に説明する。

第６図は無機質高多孔素材を示した斜視図、第７図は第
６図の部分拡大断面図である。同図において、輪は無機
質高多孔素材、０４は無機物表面に通じる開孔を示して
いる。開孔■の細孔径は数μから数闘まで大小さまざま
な分布を示しているものである。

さて、この多孔素材−に第７図のＲにて示すように、光
が入射した場合に光が開孔０４に入射すると、光は無機
物の壁面に当り、反射され、その細孔の内部で多重反射
され、ついには壁面Ｇこ１００％吸収されてしまう。す
なわち開孔Ｈに入射した光は、無機物表面に直接吸収さ
れ、細札内で熱になるのである。

第８図は無機質高多孔材料をモデル容器内に入れたもの
において、その無機質高多孔材料の見掛けの気孔率を変
化させた時のモデル容器内圧力変化の曲線図を示してい
る。第８図で横軸は見掛けの気孔率、縦軸は容器内壁を
Ｏｕ、Ｆｅ、Ａｌなどの金属で構成した時の圧力を１と
して規格化しである。

実験条件としては、−辺１０ｃｒｎの立方体の密閉容器
内にＡｇＷ接点を１０＋＋ｓの定ギャップに設置しピー
ク１０ＫＡの正弦波電流の了−りを８ｍ５（ミリ秒）発
生させ−この時のエネルギーで生じる容器内圧力を測定
している。

上記実施例に使用した無機質高多孔材料としては、コー
ジライト材質の陶磁器原料を可燃性もしくは発泡剤を加
えるなどの方法で成形し焼結して、多気孔にした多孔質
陶磁器で、平均細孔径範囲１０〜６００μ多孔質素利の
見掛は気孔率２０％。

６０％、６５％、４０％、４５％、５０％、６０％、７
０％、８０％、８５％のもので、５０　ｖｒｍ　Ｘ５　
Ｑ　ｔｔｔｍ　Ｘ　４　ａｍ　　の各種サンプルを使用
しこれを容器壁面に配、置し、容器内面の表面積の５０
％を覆うようにした。

細孔径としては、吸収される光の波長領域を若干越える
程度の平均細孔径とその細孔が表面に占める割合、すな
わち細孔の比表面積の多少が問題となる。また光の細孔
内吸収においては、細孔の深いものが効果があり、連通
気孔が好ましい。開閉器でアークＡから発生する光は数
百Ａ〜１００００Ｘ゛（１μｍ）に分布するので、これ
を若干越える程度、すなわち数千Ａ〜数１０００μｍの
平均細孔径のものが適しており、表面に占め’ｙ（Ｌの
面積が、見掛は気孔率６５％以上となる高多孔質材料が
アークの発する光の吸収に適している。とくに細孔径土
限が１０００μｍ以下の範囲にありに１１１孔の比表面
積が大きい程効果がある。実験では平均細孔径５μ〜１
膿でアークの発する光に対して、良好な吸収特性を示す
ことが錦詔された。また材質がガラスで、平均細孔径が
５μ、２０μのものがアークの発する光に対して良好に
光を吸収することが観測された。

第８図かられかるように、無機質高多孔材料の気孔は光
エネルギーを吸１ｖ　Ｌ、開閉器内ハ１；の圧力を低−
Ｆする効果があり、これは多孔質素材の見掛は気孔率の
増大とともに太きくなり、と（に気孔率が６５％以上か
ら顕著になり、８５％までの範囲で効果が４１１′ｉ詔
された。気孔率がさらに増大すれば、高多孔材料の厚さ
を一層増加させることにより対応させる必要がある。

ただし多孔質素材の見掛は気孔率と機械的強度の関係Ｇ
こおいて、気孔率が大きくなると、もろくなったり熱伝
導性が低下し高熱により溶融し易く、また気孔率が小さ
い場合には、開閉器内減圧の効果が薄い。したがって実
用的には多孔質素材の見掛は気孔率が４０〜７ｏ％の範
囲の高多孔質材料がＲ適である。

第８図の特性傾向は無機質多孔材料全般について言える
ことであって、これは光の吸収に関する以上の説明から
も推察できるところである。

従来の開閉器には無機質材料が使用されているものがあ
る・が、その使用目的は、とくに有１塵物容器のアーク
Ａからの保膜が主であって−その特性は耐アーク性、寿
命、熱伝導、機械的強度、絶縁性、炭化対策が求められ
ており、これらを満す無機質材料は必然的にち密化指向
で構成され一目的を異にするもので、その見掛は気孔率
は２０％前後となっている。

高多孔質素＋４としては無機、金属、有４，１！系など
があるが、中でも無機系は、絶縁物でかつ高融点イオ、
料として特徴ずけられる。この２つの性質は、開閉器の
容器内部に設置する材料としては格好であり、電気的に
絶縁物なので、しゃ断に対し悪影響を及ばすことがなく
、また、高温にさらされても、融けたり、ガスを出した
りしないので、圧力抑制材ｌＦ１としては最適である。

無機多孔物質としては、多孔質の陶磁器、耐火物、ガラ
ス、セメント硬化体などがありいずれも開閉器内のガス
の圧力の低下をさせるために使用できる。

而してこの発明は、前述の特定の相別からなる光吸収体
を容器内に配設し、上記容器を′ｍ源側の排気口を除き
密閉構造とすることにより、内圧の抑制を図るとともに
、しゃ断性の向上を図り得る開閉器を１是供することを
目的としている。

以下、この発明の一実施例を図面にしたがって説明する
。

第９図はこの発明に係る開閉器に適用された回路しゃ断
器の一例を示すもので、第１図〜第５図と同一・部所に
は四−符号を伺して説明を省略する。

同図において、絶縁性の容器（３）には電源側に対応す
る部分に高温ガスを排出させるための排気口（６００）
が形成されており、それ以外の部分は密閉構造となって
いる。この容器（３）内には、第１０図に示すように接
点ｔｏ）、　＋７１の両側方に位置して１対の立壁状の
光吸収体に）、（２）が設けられている。これら光吸収
体（ハ）９輪は前述の特定の材料、つまり繊維、網およ
び見掛は気孔率５５％以上の多孔質材料のうちの１種ま
たは２種以上の複合材で構成されたものｅある。

つぎに−上記構成の動作について説明する。

可動接点（９）と固定接点（６）とを開離することで電
流をしゃ断しようとする際に、接点ｆ６）　、　＋９）
間にはアーク曽が発生する。このアーク■は圧力発生源
であるが、光吸収体−、（ハ）の前述の作用により、ア
ークＱ椴の光エネルギーが吸＋３ｊされて、しゃ断時の
容器（３）の圧力の上昇が抑制される。このため容器（
３）を構成するカバー（１）とベース（２）の機械的強
度について厳密に管理する必要がな゛〈なり、容器構成
素材料を低減できる、また素材量が変わらなくとも機械
的強度の低いグレード材でも構成材料として選択して設
定できるため、低コスト化を推進することができる。

ところで一般に光吸収体■、に）を設置すると、圧力の
低減化が図れるものの、しゃ断性能が低下する傾向にあ
る。これはつぎの理由による。すなわち、アーク（噂は
圧力発生源であり、この圧力の流れにともなってアーク
（２）が駆動力Ｆを得るが、光吸収体（６，７５）、（
６３）の設置でこの流れによる駆動力ｙが弱められる。

このため、アークＩｉは接点（６）。

（９）　間ニ渋？ｆｉ！し、しゃ断が行なわれにくくな
る。

しかるに、この発明の構成では一容器（３）の電源１１
１１のアーク排出［コ（３００）以外の部分を密閉構造
としであるから、負荷側の容器（３）内に圧力貯蓄室６
）が形成される。このためアーク発生時の内圧が上記圧
力貯蓄室−で一時的に保存される。このため、この圧力
ｏ」゛消弧直前の小さくなったアーク電流Ｇこ吹きつけ
作用し−アーク■の長さを伸侵させるから、上記光吸収
体Ｃ１１１の存在に関係なく良好なしゃ断性が発揮され
ることになる。

なお、第１１図のように磁性体からなる複数個の消弧板
Ｕ場を使用することにより、消弧板（１４）が了−り９
＋４を直接駆動冷却するため、上述の効果に加えて電流
零点でのしゃ断が確実になされる利点がある５、 また、上記各実施例において、光吸収体（ハ）、　Ｃ３
１の構成材料に、ジルコニアもしくはマグネシア等を主
成分とする無機多孔物質を使用すると、アーク０→にｉ
σ射されて高温に達した光吸収体←樟、（ハ）の表面が
ガラス化することな（結晶化するから、アーク発生期間
中に光吸１１ｙ体０１　、　ｅｌの絶縁抵抗が低下する
おそれもなくなり、良好なしゃ断性能イｃ得ることがで
きる。

さらに、上記光吸収体卿、−の表１ｒｔｊを熱処理した
り、あるいは光吸収体（４壕＋　ｅ”９を無イ伜多孔質
物質に有機材を適当に複合して構成すると一内圧低下の
作用を妨げることなく、振動・衝撃時に光吸収体０１　
、９１１から粉が析出−Ｊ−るのをイｊ効に防止するこ
とができ、信頼性が向上する。

以上のようにこの発明によれば、容器の電源側の排気口
を除いて密閉構造とし、この容器内Ｇこ特定の材料から
なる光吸収体を設けることにより、内圧の抑制としゃ断
性の向上を図り得る開閉器を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第６図は従来の回路しゃ断器の断面図で、それ
ぞれ異なった動作状態を示す。第４図は接触子間に了−
夕が発生した様子を示す説明図、第５図は容器内の接触
子間にアークが発生した様子を示す説明図、第６図は無
機質高多孔素ｆ４を示す斜視図、第７図は第６図の部分
拡大断面口、第８図はアークを発生させたときの見掛け
の気孔率に対する容器内圧力変化を示す曲線図、第９図
はこの発明に係る開閉器に適用された回路しゃ断器の一
例を示す断面図、第１０図は同回路しゃ断器における光
吸収体の設置部分の斜視図、第１１図ｔよこの発明の１
１１４の実施例を示す断面図である。 （３）・・・容器、（４）・・・固定電気接触子、（５
）・・・固定導体、（６）・・・固定接点、（７）・・
・可動電気接触子、（８）・・・可動導体、（９）・・
・可動接点、（國・・・消弧板、Ｇｌｌ・・・アーク、
０″Ｊ・・光吸収体、（３００）・・・排気口。 なお、図中同一符号は同一もしくは相当部分を示す。 代理人葛野信−（外１名） 第１図 第２ン１ 第　３図 第４図 ・（・、６図　　　　　　　　　第７１λ１１１ ４ 第８図 第９図 第１０図 ３

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （Ｊ、）、　ｄｊ体およびこれに固着された接点により
   溝底されて絶縁性容器内で開閉動作する少なくとも１対
   の電気接触子と、上記電気接触子の開閉動作時に上記接
   点間に生じるアーク金両側方からはさみ込む位置に配設
   された１対の光吸収体とを備え、上記両光吸収体ケ、繊
   維、網および見掛は気孔率５５％以上の多孔質材料のう
   ちの１柚または２１＋＋１以上の俟合材で構成し、さら
   に上記谷器金電源側Ｇこ対応して設けられた排気口を除
   き密閉構造とした開閉器。 ＋２）、上記光吸収体の表面を熱処理によって硬化させ
   てなる特許請求の範囲第１項記載の開閉器。 （３）、上記光吸収体には、その表面が品温時ガラス化
   しないで結晶化されるようをこその組成の１つとしてマ
   グネシアもしくはジルコニアが含有されている特許請求
   の範囲第１項記載の開閉器。 （４）、上記１対の光吸収体の間に−アークを吸引・冷
   却させるための磁性体からなる傾数個の消弧板を配設し
   てなる特許請求の範囲第１項、第２項または第６項記載
   の開閉器。