JPS598163Y2 - Edge position detection device - Google Patents

Edge position detection device

Info

Publication number
JPS598163Y2
JPS598163Y2 JP14087279U JP14087279U JPS598163Y2 JP S598163 Y2 JPS598163 Y2 JP S598163Y2 JP 14087279 U JP14087279 U JP 14087279U JP 14087279 U JP14087279 U JP 14087279U JP S598163 Y2 JPS598163 Y2 JP S598163Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
edge
signal
flop circuit
flip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP14087279U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5658506U (en
Inventor
康夫 種田
Original Assignee
株式会社東芝
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社東芝 filed Critical 株式会社東芝
Priority to JP14087279U priority Critical patent/JPS598163Y2/en
Publication of JPS5658506U publication Critical patent/JPS5658506U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS598163Y2 publication Critical patent/JPS598163Y2/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は端縁位置検出装置に関し、例えば圧延機の板幅
寸法を光学的に測定する場合に適用し得るものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an edge position detection device, and can be applied, for example, to optically measuring the width of a strip in a rolling mill.

圧延機の板幅を端縁位置に配設した光学的位置検出器に
よって測定する方法として第1図に示す如き構戊のもの
がある。
As a method for measuring the strip width of a rolling mill using an optical position detector disposed at an edge position, there is a method having a structure as shown in FIG.

第1図において、1は8個のスリット2Aをもつスリッ
トドラム2の例えば軸線上に配設された光電子増倍管で
なる測定光センサで、被測定物としての板材3を挾んで
例えば帯状光源4と対向して配され、光源4の光がレン
ズ5を通じ、さらにスリットドラム2のスリット2Aを
介して光センサ1に入力するようになされている。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a measuring optical sensor consisting of a photomultiplier tube arranged, for example, on the axis of a slit drum 2 having eight slits 2A. 4, and the light from the light source 4 passes through the lens 5 and further enters the optical sensor 1 via the slit 2A of the slit drum 2.

これに加えてスリットドラム2内に基準光センサ6が設
けられ、この基準光センサ6と対向するドラム2外位置
に基準光用光源7が配設されている。
In addition, a reference light sensor 6 is provided inside the slit drum 2, and a reference light source 7 is provided outside the drum 2, facing the reference light sensor 6.

第1図の構戒においてスリットドラム2が矢印8の方向
に回転すると、スリツ}2Aが先ず基準充用光源7の位
置に来ることにより基準光センサ6において検出出力が
得られる。
When the slit drum 2 rotates in the direction of the arrow 8 in the configuration shown in FIG. 1, the slit 2A first comes to the position of the reference light source 7, so that a detection output is obtained at the reference light sensor 6.

この基準光検出出力は第2図に示す如く、前置増幅器1
1,主増幅器12を介して波形整形回路13に与えられ
、例えばその立下りによって単安定マルチバイブレーク
14をトリガし、かくして単安定マルチバイブレーク1
4の出力端に第3図Bに示す如くスリットドラム2の回
転に同期した基準検出パルスP1が得られる。
This reference light detection output is output from the preamplifier 1 as shown in FIG.
1. It is applied to the waveform shaping circuit 13 via the main amplifier 12, and for example, its falling edge triggers the monostable multi-bi break 14, thus monostable multi-bi break 1.
At the output end of 4, a reference detection pulse P1 synchronized with the rotation of the slit drum 2 is obtained as shown in FIG. 3B.

このようにスリットドラム2の各スリット2Aが基準光
センサ6位置を通って測定光センサ1の位置に来ると、
先ず板材3が存在しない範囲における光源4からの光が
スリツ)−2Aを通って測定光センサ1に入射し、やが
てスリツ}2Aが板材3が存在する範囲に入ることによ
り測定光センサ1へ光が入射しなくなる。
In this way, when each slit 2A of the slit drum 2 passes through the reference optical sensor 6 position and reaches the measuring optical sensor 1 position,
First, the light from the light source 4 in the area where the plate 3 does not exist passes through the slit 2A and enters the measurement optical sensor 1, and then the slit 2A enters the area where the plate 3 exists, so that the light is transmitted to the measurement optical sensor 1. is no longer incident.

かくして測定光センサ1からは入射した光量に相当する
大きさの検出出力S1が得られ、この検出出力S1が前
置増幅器15、主増幅器16を介して波形整形回路17
に与えられ、波形整形回路17の出力端に第3図Aに示
す如く、板状3が存在しない範囲においてスリット2A
が測定光センサ1の視野に入った時点t1において立上
り、その後スリツ}2Aが板材3の端縁位置を通った時
点t2において立下る光検出出力S1を得ることかで゛
きる。
In this way, a detection output S1 corresponding to the amount of incident light is obtained from the measurement optical sensor 1, and this detection output S1 is sent to the waveform shaping circuit 17 via the preamplifier 15 and the main amplifier 16.
As shown in FIG.
It is possible to obtain a photodetection output S1 which rises at time t1 when the slit 2A enters the field of view of the measurement optical sensor 1, and then falls at time t2 when the slit 2A passes the edge position of the plate 3.

この光検出出力Sエは幅信号回路18に与えられ予定の
シュミットレベルLsを超えた範囲の立上り幅Wl(=
tl〜t2)に相当する論理1の幅信号S2として送出
される。
This photodetection output Se is given to the width signal circuit 18, and the rising width Wl (=
tl to t2) as a logic 1 width signal S2.

この幅信号S2はその立下りによって単安定マルチバイ
ブレータ19をトリガし、これにより第3図Dに示す如
く光検出出力S1の立下りに対応して発生する端縁検出
パルス列P2が得られる。
This width signal S2 triggers the monostable multivibrator 19 when it falls, thereby obtaining an edge detection pulse train P2 generated in response to the fall of the photodetection output S1 as shown in FIG. 3D.

しかるに端縁検出パルス列P2の各パルスは端縁信号出
力用フリツフ゜フロツフ゜回路20にセット入力として
与えられ、これに対して基準検出パルス列P1の各パル
スがリセット入力として与えられる。
However, each pulse of the edge detection pulse train P2 is given as a set input to the edge signal output flip-flop circuit 20, and each pulse of the reference detection pulse train P1 is given as a reset input.

これによりスリット2Aが基準光センサ6位置を通過し
た後、板材3の端縁位置を通過するまで論理Oに立下る
端縁信号S3(第3図E)を得ることができる。
As a result, after the slit 2A passes the position of the reference optical sensor 6, it is possible to obtain the edge signal S3 (FIG. 3E) that falls to logic 0 until the slit 2A passes the edge position of the plate material 3.

従って板材3の板幅が変って端縁位置が変動すればこれ
に応じて端縁信号S3の論理0の区間が変動することに
より、端縁までの幅W。
Therefore, if the width of the plate material 3 changes and the edge position changes, the logical 0 section of the edge signal S3 changes accordingly, resulting in the width W to the edge.

を判知することができる。ところでかかる構或に依れば
、光の通路(例えばレンズ5、スリットドラム2)に、
水、蒸気、ちり、ほこり等が附着すると、光の屈折ない
し散乱などが生じ、第3図A−Eに対応させて第4図A
−Eに示す如く、この分光センサ1の検出出力が低下す
る等の外乱が混入し、低下の程度が大きければ検出出力
がLレベルに立下ったと誤認し、これが検出板幅WOX
の誤差になるおそれがある。
can be determined. By the way, according to such a structure, in the light path (for example, the lens 5, the slit drum 2),
When water, steam, dirt, dust, etc. adhere, light refraction or scattering occurs, and Figure 4A corresponds to Figures 3A-E.
-E, if a disturbance such as a decrease in the detection output of this spectral sensor 1 is mixed in, and the degree of decrease is large, it will be mistakenly recognized that the detection output has fallen to the L level, and this will cause the detection plate width WOX
There is a risk of an error.

?考案は、このような光検出出力に混入した外乱の影響
を除去した出力を得ることができるようにした端縁位置
検出装置を提案しようとするものである。
? The present invention is intended to propose an edge position detection device that can obtain an output from which the influence of disturbance mixed in such a photodetection output is removed.

以下図面について本考案の一例を詳述するに、第5図に
示す如く、検出光センサ1側の波形整形回路17の出力
S.(第6図A)を単安定マルチバイブレータ25に与
えてその立上りによってタイマ26に対するトリガパル
スを得る。
An example of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.As shown in FIG. (FIG. 6A) is applied to the monostable multivibrator 25, and a trigger pulse for the timer 26 is obtained by the rising edge of the signal.

このときタイマ26はその限時動作時間の間論理Oのゲ
ート出力をインバータ27において反転して3人力ナン
ドゲート28に与える。
At this time, the timer 26 inverts the logic O gate output in the inverter 27 and applies it to the three-man NAND gate 28 during the time limit operation time.

また波形整形回路17の出力S1はこのナンドゲート2
8にゲート信号として与えられ、出力S1の立上り区間
W1の間ナンドゲート28を開くようになされている。
Also, the output S1 of the waveform shaping circuit 17 is this NAND gate 2.
8 as a gate signal, and is configured to open the NAND gate 28 during the rising edge W1 of the output S1.

ここでナンドゲート28のゲートレベルは検出出力S1
の欠陥部Xの立下りレベルより低いレベルに設定され、
これにより欠陥部Xがあってもこれに影響されずナンド
ゲート28が開くようになされている。
Here, the gate level of the NAND gate 28 is the detection output S1
is set to a level lower than the falling level of the defective part X,
As a result, even if there is a defective portion X, the NAND gate 28 is opened without being affected by the defective portion X.

かくしてナンドゲート28はタイマ26の限時時間τの
経過した時点t1から波形整形回路17の出力S1が立
下った時点t2までの間開いて、クロツクパルスCPを
第1のカウンタ29に入力する。
Thus, the NAND gate 28 is opened from the time t1 when the time limit τ of the timer 26 has elapsed to the time t2 when the output S1 of the waveform shaping circuit 17 falls, and inputs the clock pulse CP to the first counter 29.

一方カウンタ29は、波形整形回路17の出力S1を受
けるロード信号回路30によって出力S1の立上り時に
発生されるロード信号LD1が与えられてクノアされ、
これにより第6図Dに示す如く時点tll〜t2間の時
間幅に相当する数のクロツクパルスをその立下りによっ
てカウント動作する。
On the other hand, the counter 29 is supplied with a load signal LD1 generated at the rising edge of the output S1 by the load signal circuit 30 receiving the output S1 of the waveform shaping circuit 17, and is quantized.
As a result, as shown in FIG. 6D, a number of clock pulses corresponding to the time width between time points tll and t2 are counted by the falling edge of the clock pulses.

波形整形回路17の出力S1は2人カアンドゲート33
にゲート信号として与えられ、出力S1の立上り時間t
1〜t2の間に到来するクロツクパルスCPを第2のカ
ウンタ34にダウンカウント入力として入力する。
The output S1 of the waveform shaping circuit 17 is a two-person AND gate 33.
is given as a gate signal to the output S1, and the rise time t of the output S1
The clock pulse CP that arrives between 1 and t2 is input to the second counter 34 as a down count input.

しかるにカウンタ34にはロード信号回路30によって
出力S1の立下り時点t2で発生されるロード信号LD
2が与えられ、このとき第6図Eに示す如くカウンタ2
9のカウント内容をカウンタ34にプリセットするよう
になされている。
However, the counter 34 receives the load signal LD generated by the load signal circuit 30 at the falling time t2 of the output S1.
2 is given, and at this time, the counter 2 is given as shown in FIG. 6E.
The count contents of 9 are preset in the counter 34.

かくして波形整形回路17において第6図Aに示す如く
、光検出パルス出力S1が順次到来すると、1つの光検
出パルス出力S1が到来している間(特に時点tll〜
t2の間)に第1のカウンタ29がカウント動作し、そ
のカウント内容をその光検出?ルスS1の立下りで第2
のカウンタ34にロードし(時点t2で)、その後次の
光検出パルスS1が到来すると(時点t3において)、
第1のカウンタ29がカウント動作をすると同時に、第
2のカウンタ34がダウンカウントすることになる。
Thus, as shown in FIG. 6A, in the waveform shaping circuit 17, when the photodetection pulse outputs S1 arrive one after another, while one photodetection pulse output S1 arrives (particularly from time tll to
t2), the first counter 29 performs a counting operation, and the count contents are calculated based on the light detected? At the falling edge of Lus S1, the second
(at time t2), and then when the next photodetection pulse S1 arrives (at time t3),
At the same time as the first counter 29 performs a counting operation, the second counter 34 counts down.

第2のカウンタ34の内容が0を越えて低下するとボロ
ー信号(桁下げ信号)BORが発生さi(第6図F)、
このボロー信号BORが端縁信号出力回路35に与えら
れる。
When the content of the second counter 34 decreases beyond 0, a borrow signal (carry down signal) BOR is generated (FIG. 6F),
This borrow signal BOR is applied to the edge signal output circuit 35.

端縁信号出力回路35は端縁信号出力用フリツプフロツ
プ回路36と、その制御用フリツプフロツフ゜回路37
とを具え、出力用フリツプフロツプ回路36は基準光セ
ンサ6側の波形整形回路13の出力パルスP1(第6図
B)の立上りによってセットされ、その例えば゛Q出力
端から第6図Jに示す如く1に立上る幅信号S1を送出
する。
The edge signal output circuit 35 includes an edge signal output flip-flop circuit 36 and a control flip-flop circuit 37.
The output flip-flop circuit 36 is set by the rising edge of the output pulse P1 (FIG. 6B) of the waveform shaping circuit 13 on the side of the reference optical sensor 6, and for example, as shown in FIG. 6J from the Q output terminal. A width signal S1 rising to 1 is sent out.

制御用フリツプフロツプ回路37は第2のカウンタ34
のボロー信号BORによってセットされ、波形整形回路
13の出力パルスP1の立下りによってリセットされ、
かくしてそのQ出力端から第6図Gに示す如き条件信号
S1を2人カナンド回路38にその第1の条件信号とし
て入力する。
The control flip-flop circuit 37 is connected to the second counter 34.
is set by the borrow signal BOR of the waveform shaping circuit 13, and reset by the fall of the output pulse P1 of the waveform shaping circuit 13,
Thus, a condition signal S1 as shown in FIG. 6G is input from the Q output terminal to the two-person canand circuit 38 as its first condition signal.

このナンド回路38にはその第2の条件信号として第2
図の端縁信号回路18と同様の構或の幅信号回路39の
出力S13(第6図C)が与えられ、出力端に第6図H
に示す如きナンド出力S14を得る。
This NAND circuit 38 has a second condition signal as its second condition signal.
The output S13 (FIG. 6C) of a width signal circuit 39 having the same structure as the edge signal circuit 18 shown in the figure is applied, and the output terminal shown in FIG.
A NAND output S14 as shown in is obtained.

このナンド出力S14はその立下りによって単安定マル
チバイブレータ40を駆動して第6図Iに示す如き制御
パルスSl5を得、この制御パルスB15を出力用フリ
ツフ゜フロツフ゜回路36のリセット端に与える。
This NAND output S14 drives the monostable multivibrator 40 with its falling edge to obtain a control pulse Sl5 as shown in FIG. 6I, and this control pulse B15 is applied to the reset terminal of the output flip-flop circuit 36.

以上の構戊において、1つの測定光検出器1の出力に基
づいて第6図の時点t1において波形整形出力S.(第
6図A)か゛得られると、タイマ26が限時動作を開始
し、その限時時間τが経過した時点tl+から第1のカ
ウンタ29がカウント動作を開始する(第6図D)。
In the above structure, based on the output of one measurement photodetector 1, at time t1 in FIG. (FIG. 6A) Once this is obtained, the timer 26 starts a time-limited operation, and the first counter 29 starts counting from the time tl+ when the time limit τ has elapsed (FIG. 6D).

この第1のカウンタ29のカウント動作は光検出器1か
゛検出出力を送出している限り続き、やがて時点t2に
おいて波形整形出力S1が立下るとゲート28が閉じて
第1のカウンタ29のカウント動作が停止すると共に、
そのカウント内容が第2のカウンタ34ヘロードされる
(第6図D及びE)。
The counting operation of the first counter 29 continues as long as the photodetector 1 is sending out the detection output, and when the waveform shaping output S1 eventually falls at time t2, the gate 28 closes and the counting operation of the first counter 29 starts. stops, and
The count contents are loaded into the second counter 34 (FIG. 6D and E).

この状態は次の波形整形出力S1が到来するま?維持さ
れ、時点t3において波形整形出力S1が立上るとゲー
ト33が開くことにより第2のカウンタ34がダウンカ
ウントを開始する(第6図E)。
This state remains until the next waveform shaping output S1 arrives? When the waveform shaping output S1 rises at time t3, the gate 33 opens and the second counter 34 starts counting down (FIG. 6E).

やがて時点t3において第2のカウンタ34の内容が0
を越えると、ボロー信号BORが送出され(第6図F)
、このボロー信号BORによって制御用フリツプフロツ
プ37をセットする(第6図G)。
Eventually, at time t3, the content of the second counter 34 becomes 0.
When the value exceeds the value, the borrow signal BOR is sent (Fig. 6F).
, the control flip-flop 37 is set by this borrow signal BOR (FIG. 6G).

従ってナンド回路38の出力が生じ(第6図H)、この
ナンド出力が時点t4で立下ることにより出力用フリツ
フ゜フロツフ゜回路36がリセットパルスS1.(第6
図1)によってリセットされる(第6図J)。
Therefore, the output of the NAND circuit 38 is generated (FIG. 6H), and when this NAND output falls at time t4, the output flip-flop circuit 36 receives the reset pulse S1. (6th
1) (FIG. 6J).

一方出力用フリッフ゜フロッフ゜回路36はこれに先立
って時点P1において基準光センサ6の出力によってセ
ットされているので(第6図J)、結局出力用フリツフ
゜フロツフ゜回路36の出力Sllの立下り部分が端縁
位置を表わす端縁信号として送出される。
On the other hand, since the output flip-flop circuit 36 is previously set by the output of the reference optical sensor 6 at time P1 (FIG. 6J), the falling part of the output Sll of the output flip-flop circuit 36 ends up being the edge. It is sent out as an edge signal representing the position.

ここで端縁信号Sllの立下りは基準光センサ6の出力
P1によってスリットドラム2の回転に同期して得られ
るのに対して、端縁信号Soの立上りは測定光センサ1
の出力によって板材3の端縁位置に応した時点で生じる
ことになる。
Here, the falling edge signal Sll is obtained by the output P1 of the reference optical sensor 6 in synchronization with the rotation of the slit drum 2, whereas the rising edge signal So is obtained from the measuring optical sensor 1.
This occurs at a time corresponding to the edge position of the plate material 3 due to the output of .

このように第5図の構或に依れば、端縁位置を判知する
につき、光検出信号のうち端縁に近い比較的狭い信号部
分(換言すればタイマ26によるカウンタ29のカウン
ト値)のみを用い、基準位置がら当該端縁信号部分間の
他の信号部分を用いないようにしたことにより、この他
の信号部分に水、蒸気、ちり、ほこり等による外乱が生
してもその影響を受けることなく端縁の検出を行うこと
ができ、この分測定精度を向上させることができる。
According to the configuration shown in FIG. 5, when determining the edge position, a relatively narrow signal portion of the photodetection signal close to the edge (in other words, the count value of the counter 29 by the timer 26) is used. By using only the reference position and not using other signal parts between the relevant edge signal parts, even if disturbances such as water, steam, dirt, dust, etc. occur in other signal parts, the influence of the disturbances will be minimized. It is possible to detect the edge without being affected, and the measurement accuracy can be improved accordingly.

第7図は本考案の他の実施例を示すもので、第5図にお
いて制御用フリツプフロップ回路37の出力側に設けら
れた単安定マルチバイブレータ40の出力端に、タイマ
51及び単安定マルチバイブレータ52の直列回路を介
拝すると共に、基準光センサ6の出力側に設けられた波
形整回路13の出力側にタイマ53及びインバータ54
の直列回路を設け、この直列回路の出力を2人力ナンド
ゲート55に開制御信号として与える。
FIG. 7 shows another embodiment of the present invention, in which a timer 51 and a monostable multivibrator 52 are connected to the output end of the monostable multivibrator 40 provided on the output side of the control flip-flop circuit 37 in FIG. A timer 53 and an inverter 54 are connected to the output side of the waveform shaping circuit 13 provided on the output side of the reference optical sensor 6.
A series circuit is provided, and the output of this series circuit is given to the two-man NAND gate 55 as an open control signal.

このナンドゲート55は出力用フリッフ゜フロップ回路
36のQ出力の通路に介挿され、このゲート55を介し
て端縁信号S20を送出するようになされ?いる。
This NAND gate 55 is inserted in the path of the Q output of the output flip-flop circuit 36, and the edge signal S20 is sent out through this gate 55. There is.

第7図の構或において、第6図A−Jに対応させて第8
図A−Jに示す如く、第5図の場合と同様にして単安定
マルチバイブレータ40の出力端に出力パルスS15が
得られると、その立上りによってタイマ51を駆動し(
第8図K)て限時時間τ2の後に単安定マルチバイブレ
ータ52の出力端に出力パルスS16を得る(第8図L
)。
In the structure of Fig. 7, the structure shown in Fig. 8 corresponds to Fig. 6 A-J.
As shown in Figures A-J, when an output pulse S15 is obtained at the output end of the monostable multivibrator 40 in the same way as in the case of Figure 5, the timer 51 is driven by the rising edge of the output pulse S15.
(K) in FIG. 8, an output pulse S16 is obtained at the output end of the monostable multivibrator 52 after a time limit τ2 (L in FIG. 8).
).

この出力パルスS16によって出力用フリッフ゜フロッ
フ゜回路36をリセットすることによって制御用フリッ
プフロツプ回路36から第8図Jに示す如き矩形波出力
S1を得ることができる。
By resetting the output flip-flop circuit 36 with this output pulse S16, a rectangular wave output S1 as shown in FIG. 8J can be obtained from the control flip-flop circuit 36.

一方タイマ35は波形整形回路13の出力パルスP1に
よってトリガされ、その限時時間で2の間立下るゲート
信号S17がインバータ54の出力端に得られ(第8図
M)、かくしてナンドゲート55がら第8図Nに示す如
き端縁信号S20が送出される。
On the other hand, the timer 35 is triggered by the output pulse P1 of the waveform shaping circuit 13, and a gate signal S17 that falls for 2 times is obtained at the output end of the inverter 54 (FIG. 8M), and thus the NAND gate 55 An edge signal S20 as shown in FIG. N is sent out.

このようにしても第5図の場合と同様に確実に端縁信号
を得ることができる。
Even in this case, the edge signal can be reliably obtained as in the case of FIG.

以上のように本考案に依れば、光センサ1の出力に切れ
込み状の外乱が混した場合にもその影響を受けることな
く、被測定板材3の端縁位置に確実に相当する端縁信号
を得ることができる。
As described above, according to the present invention, even if the output of the optical sensor 1 is mixed with a notch-like disturbance, the edge signal that reliably corresponds to the edge position of the plate material 3 to be measured can be obtained without being affected by the disturbance. can be obtained.

なお上述においては2つのタイマによってボロー信号B
ORを得るようにしたが、これに代えアップダウンカウ
ンタを用いても良い。
Note that in the above example, the borrow signal B is processed by two timers.
Although OR is obtained, an up/down counter may be used instead.

また上述においては出力用フリッフ゜フロッフ゜回路3
6のQ出力を端縁位置信号として得たが、これに代えQ
出力を端縁位置信号として得るようにしても良い。
In addition, in the above, the output flip-flop circuit 3
6's Q output was obtained as the edge position signal, but instead of this, Q
The output may be obtained as an edge position signal.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図及び第2図は従来の端縁位置検出装置を示す光学
的系統図及びブロック図、第3図A−E及び第4図A−
Eはその動作の説明に供する信号波形図、第5図は本考
案に依る端縁位置検出装置の一例を示すブロック図、第
6図A−Jはその動作の説明に供する信号波形図、第7
図は本考案の他の例を示すブロック図、第8図A−Nは
その動作の説明に供する信号波形図である。 1・・・・・・測定光センサ、2・・・・・・スリット
ドラム、3・・・・・・板材、4・・・・・・光源、6
・・・・・・基準光センサ、11,12,15.16・
・・・・・増幅器、13.17・・・・・・波形整形回
路、14,19,25.40・・・・・・マルチバイブ
レータ、出力用フリッフ゜フロツフ゜回路、26・・・
・・・タイマ、27.54・・・・・・インバータ、2
9.34・・・・・・カウンタ、30・・・・・・ロー
ド信号回路、35・・・・・・端縁信号出力回路、36
・・・・・・出力用フリップフロツプ回路、37・・・
・・・制御用フリップフロップ回路、39・・・・・・
幅信号回路。
1 and 2 are optical system diagrams and block diagrams showing conventional edge position detection devices, and FIGS. 3A-E and 4A-
E is a signal waveform diagram for explaining its operation, FIG. 5 is a block diagram showing an example of the edge position detection device according to the present invention, FIGS. 6A-J are signal waveform diagrams for explaining its operation, 7
The figure is a block diagram showing another example of the present invention, and FIGS. 8A to 8N are signal waveform diagrams for explaining its operation. 1... Measuring optical sensor, 2... Slit drum, 3... Plate material, 4... Light source, 6
・・・・・・Reference light sensor, 11, 12, 15.16・
...Amplifier, 13.17...Waveform shaping circuit, 14,19,25.40...Multivibrator, output flip-flop circuit, 26...
...Timer, 27.54...Inverter, 2
9.34...Counter, 30...Load signal circuit, 35...Edge signal output circuit, 36
...Output flip-flop circuit, 37...
...Control flip-flop circuit, 39...
Width signal circuit.

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] (1)被測定板材から到来する測定光をスリットドラム
のスリットを通じて測定光センサに与えることにより測
定光検出出力を発生すると共に、上記スリットドラムの
回転に同期した基準パルスを基準光センサにて発生させ
、上記基準パルスが発生してから上記測定光検出出力が
得られなくなるまでの期間によって上記被測定板材の端
縁位置を判知するようになされた端縁位置検出装置にお
いて、上記基準パルスが発生した後上記測定光検出出力
が発生したとき、この測定光検出出力の前縁によってト
リガされる第1のタイマと、この第1のタイマの出力に
よってその限時時間の経過後アップカウントを開始し、
その後上記測定検出出力の後縁によってカウントを停止
し、その後到来する次の測定光検出出力の前縁によりダ
ウンカウントを開始し、カウント内容が0を越えたとき
ボロー信号を発生するカウント手段と、上記ボロー信号
によってセットされて第1の条件信号を発生する制御用
フリツプフロツプ回路と、上記基準パルスによってセッ
ト(又はリセット)され上記第1の条件信号が存在する
ことを条件として上記測定検出出力の後縁においてリセ
ット(又はセット)される出力用フリツプフロツプ回路
とを具え、上記出力用フリツプフロツプ回路の出力によ
って端縁位置を判知するようにしたことを特徴とする端
縁位置検出装置。
(1) A measurement light detection output is generated by applying the measurement light coming from the plate material to be measured to the measurement light sensor through the slit of the slit drum, and a reference pulse synchronized with the rotation of the slit drum is generated by the reference light sensor. In the edge position detection device, the edge position of the plate to be measured is determined based on the period from when the reference pulse is generated until the measurement light detection output is no longer obtained. After the measurement light detection output is generated, a first timer is triggered by the leading edge of the measurement light detection output, and the output of the first timer starts counting up after the time limit elapses. ,
Counting means that then stops counting at the trailing edge of the measurement detection output, starts counting down at the leading edge of the next measurement light detection output that arrives thereafter, and generates a borrow signal when the count exceeds 0; a control flip-flop circuit that is set by the borrow signal to generate a first condition signal; and a control flip-flop circuit that is set (or reset) by the reference pulse and generates a first condition signal after the measurement detection output. 1. An edge position detection device comprising: an output flip-flop circuit that is reset (or set) at the edge, and the edge position is determined by the output of the output flip-flop circuit.
(2)上記制御用フリツプフロツプ回路の出力端に設け
られ上記第1の条件信号の発生を遅延させる第1のタイ
マと、上記出力用フリップフロップ回路の出力端に設け
られその出力の発生時点を遅延させる第2のタイマとを
具えてなる実用新案登録請求の範囲第1項に記載の端縁
位置検出装置。
(2) a first timer provided at the output end of the control flip-flop circuit to delay the generation of the first condition signal; and a first timer provided at the output end of the output flip-flop circuit to delay the generation of the output. An edge position detecting device according to claim 1, further comprising a second timer for detecting a second timer.
JP14087279U 1979-10-11 1979-10-11 Edge position detection device Expired JPS598163Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14087279U JPS598163Y2 (en) 1979-10-11 1979-10-11 Edge position detection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14087279U JPS598163Y2 (en) 1979-10-11 1979-10-11 Edge position detection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5658506U JPS5658506U (en) 1981-05-20
JPS598163Y2 true JPS598163Y2 (en) 1984-03-13

Family

ID=29372199

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14087279U Expired JPS598163Y2 (en) 1979-10-11 1979-10-11 Edge position detection device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS598163Y2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5658506U (en) 1981-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4237378A (en) Photoelectric apparatus for document counting and overlap detection
GB1430426A (en) Apparatus and methods for measuring the distance between reflective surfaces eg of transparent material
US3971918A (en) Method and apparatus for measuring the number of stacked corrugated cardboards
JPS598163Y2 (en) Edge position detection device
WO1985003352A1 (en) Apparatus for measuring fluorescence decay characteristics of materials
JPH0311683Y2 (en)
US4297585A (en) System for the detection of splicing defects in film
US4140915A (en) Apparatus and method for sensing the perforations in a perforated strip
US4373796A (en) Film end detector for use in automatic film winding camera
US3645624A (en) Range-measuring method and apparatus
SU1516889A1 (en) Photoelectric method of determining dimensions and concentration of suspended particles and device for effecting same
JPS6336263Y2 (en)
SU1052843A1 (en) Device for automatic gauging of width of rolled material
JPH0212562Y2 (en)
SU1229568A1 (en) Photoimpact diameter gauge
JPS6084012A (en) Contactless switch
JPS6210865Y2 (en)
SU1131837A1 (en) Device for controlling quality of glass forming
JPH0119112Y2 (en)
JPS5839570Y2 (en) Magnetic tape start and end point detection device
SU1165978A1 (en) Digital unit to ultrasonic flaw detector
JPH08247721A (en) Dimension measuring instrument
SU1060943A1 (en) Device for measuring geometrical parameters of moving timber
JPS6243412Y2 (en)
RU2002132863A (en) Method and device for detecting surface defects