JPS5977577A - 枠抽出法 - Google Patents
枠抽出法Info
- Publication number
- JPS5977577A JPS5977577A JP57187826A JP18782682A JPS5977577A JP S5977577 A JPS5977577 A JP S5977577A JP 57187826 A JP57187826 A JP 57187826A JP 18782682 A JP18782682 A JP 18782682A JP S5977577 A JPS5977577 A JP S5977577A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frame
- convolution
- scan
- picture
- processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V30/00—Character recognition; Recognising digital ink; Document-oriented image-based pattern recognition
- G06V30/10—Character recognition
- G06V30/14—Image acquisition
- G06V30/148—Segmentation of character regions
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V30/00—Character recognition; Recognising digital ink; Document-oriented image-based pattern recognition
- G06V30/10—Character recognition
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Character Input (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、ディジタル画像上の枠を抽出する方法に関す
る。
る。
ディジタル画像を走査しながら黒画素を主、副走査方向
に連結して各方向の直線を抽出し、抽出した直線の位置
関係や長さ等の条件な謂べて枠線を判別することＫより
、ディジクル画像上の枠を抽出する方法が提案されてい
る。
に連結して各方向の直線を抽出し、抽出した直線の位置
関係や長さ等の条件な謂べて枠線を判別することＫより
、ディジクル画像上の枠を抽出する方法が提案されてい
る。
この枠抽出法は、手■：きの枠や異・す゛イズの枠も抽
出できる利点がある。しかし、処理手順が相当に複雑で
あるため、単純なハードウェアによる高速処理の実現が
難しいという問題がある。
出できる利点がある。しかし、処理手順が相当に複雑で
あるため、単純なハードウェアによる高速処理の実現が
難しいという問題がある。
本発明の目的は、前記の方法よりも処理手順が単純で、
処理のハードウェア化、高速化を達成しやすい新しい枠
線抽出法を提供するにある。
処理のハードウェア化、高速化を達成しやすい新しい枠
線抽出法を提供するにある。
本発明のもう１つの目的は、定型文書などのディジタル
画像から、一定サイズの比較的小さな枠を抽出するのに
好適な枠抽出方法を提供するにある。
画像から、一定サイズの比較的小さな枠を抽出するのに
好適な枠抽出方法を提供するにある。
以下、一実施例によって本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明による枠抽出処理の手順の−例を示す概
略流れ図である。以下、各処理ステップの内容を順に説
明する。
略流れ図である。以下、各処理ステップの内容を順に説
明する。
ステップ１：
例えば第２図に示ずようなディジタル画像を左」〕角部
より、横（Ｓｃ）方向を主走査方向、縦（ｙ）方向を副
走査方向として、ラスクスキャンする。そして、最初の
黒画素を検出した番地Ｃｘ、ｙ）より所定の微少量だけ
上方で、かつ枠の存在し得る範囲の左端より微少量だけ
左側の番地（”０１３’Ｏ）を、枠抽出のための最初の
スキャン開始番地（ｘＩＩｌ、 ｙｇ）として設定する
。
より、横（Ｓｃ）方向を主走査方向、縦（ｙ）方向を副
走査方向として、ラスクスキャンする。そして、最初の
黒画素を検出した番地Ｃｘ、ｙ）より所定の微少量だけ
上方で、かつ枠の存在し得る範囲の左端より微少量だけ
左側の番地（”０１３’Ｏ）を、枠抽出のための最初の
スキャン開始番地（ｘＩＩｌ、 ｙｇ）として設定する
。
１、Ｃお、スキャン開始番地は予め指定しておくように
してもよく、その場合は前記のラスクスキャンは実行し
なくてよい。
してもよく、その場合は前記のラスクスキャンは実行し
なくてよい。
ステップ２ニ
スキャン開始番地（ｆ８．３’ｔＩ）より、枠（第２図
中の太線で囲まれた短形領域）のｘ、ｙ方向サイズｐ２
Ｉ、ｐ、よりゃ瓦大きいＸＸＹサイズの領域（第２図中
の破線で囲んだ領域）をラスクスキャンする。
中の太線で囲まれた短形領域）のｘ、ｙ方向サイズｐ２
Ｉ、ｐ、よりゃ瓦大きいＸＸＹサイズの領域（第２図中
の破線で囲んだ領域）をラスクスキャンする。
そして、各主走査線上の黒画素の個数を計数することＫ
より、ｙ方向への投影濃度Ｈ（ｙ）を求める。
より、ｙ方向への投影濃度Ｈ（ｙ）を求める。
また、各副走査線上の黒画素の個数を計数することによ
り、Ｘ方向への投影濃度を求める。
り、Ｘ方向への投影濃度を求める。
若し、ラスクスキャン領域に抽出すヘキ粋の全体が入っ
ているならば、第３図に示すような投影濃度Ｈ←） 、
Ｉ−Ｉ （ｙ）の分布が得られる。即ち、縦、横の枠
線の位置で投影濃度分布にピークが生じる。
ているならば、第３図に示すような投影濃度Ｈ←） 、
Ｉ−Ｉ （ｙ）の分布が得られる。即ち、縦、横の枠
線の位置で投影濃度分布にピークが生じる。
このピークの形状は、枠のサイズに比較してスキュー量
が十分に小さければ、枠線の幅に依存する。
が十分に小さければ、枠線の幅に依存する。
しかし、第３図に示すように、枠の内部に文字が記入さ
れていると、枠線以外の位ｆｉにもピークが生じること
、また、この段階ではラスクスキャン領域に枠が含まれ
ているかどう、か不明であり、枠線以外の縦、横の直線
が存在すると、その位置で枠線に匹敵する値のピークが
生じることから、ある値以上のピークを直ちに枠線に対
応するピークとして検出することは該検出の危険がある
。
れていると、枠線以外の位ｆｉにもピークが生じること
、また、この段階ではラスクスキャン領域に枠が含まれ
ているかどう、か不明であり、枠線以外の縦、横の直線
が存在すると、その位置で枠線に匹敵する値のピークが
生じることから、ある値以上のピークを直ちに枠線に対
応するピークとして検出することは該検出の危険がある
。
ステップ３ニ
ステップ２で求めた投影濃度Ｈ（ｘ）、Ｉ−Ｉ （ｙ）
について、式（１）、式（２）にしたがってコンボリュ
ーション処理を施す。
について、式（１）、式（２）にしたがってコンボリュ
ーション処理を施す。
Ｈ（ｘ） ＝Ｊ、、￥Ｉ （ｙニー ｔ ） Ｆ（ｔ）
ｄ ｔ ”’式（１）Ｈ’（ｙ）Ｊ”Ｈ（
ｙ ’）Ｆ（’）ｄｔ
−・ 式（２）−ΔＷ ここで、Ｆ （ｔ）は第４図に示す如きフィルタであり
、ΔＷの幅のピークにのみ強く作用する。したがって、
ΔＷを抽出すべき枠線の幅（太さ）に一致させておけば
、投影濃度Ｈ（ｘ） 、 Ｈ（ｙ）めピークの中で枠線
に対応するピークの位置でのみ、）（’（→、 Ｉ−１
’（３７）が大きな値を持つようになり、枠線と幅の違
う他の直線や文字のス）ｏ−り等に対応する不要なピー
クは抑圧される。
ｄ ｔ ”’式（１）Ｈ’（ｙ）Ｊ”Ｈ（
ｙ ’）Ｆ（’）ｄｔ
−・ 式（２）−ΔＷ ここで、Ｆ （ｔ）は第４図に示す如きフィルタであり
、ΔＷの幅のピークにのみ強く作用する。したがって、
ΔＷを抽出すべき枠線の幅（太さ）に一致させておけば
、投影濃度Ｈ（ｘ） 、 Ｈ（ｙ）めピークの中で枠線
に対応するピークの位置でのみ、）（’（→、 Ｉ−１
’（３７）が大きな値を持つようになり、枠線と幅の違
う他の直線や文字のス）ｏ−り等に対応する不要なピー
クは抑圧される。
ステップ４：
ＩＩ’（→の値が閾値Ｔ Ｈを越えるＸ番地”ｌ、＋’
Ｌ→−Ｐ□と、Ｈ（ｙ）の値が閾値Ｔ ）Ｉを越えるｙ
番地ｙム＋ｙＬ＋Ｐ、を検出する。この４つの番地が゛
すべて検出されるならば、現在のラスクスキャン領域内
に１つの枠が存在するということである。つまり、（ｘ
；、。
Ｌ→−Ｐ□と、Ｈ（ｙ）の値が閾値Ｔ ）Ｉを越えるｙ
番地ｙム＋ｙＬ＋Ｐ、を検出する。この４つの番地が゛
すべて検出されるならば、現在のラスクスキャン領域内
に１つの枠が存在するということである。つまり、（ｘ
；、。
’／Ｌ） ＋ （”Ｌ＋ Ｐｚ＋ 、ＶＬ） ＋ （；
ＴＬ＋ ’／ｂ＋ Ｐｙ） ＋ （−）、”’ｘ、ｙｙ
Ｌ４、１）ρの各番地を頂点とする枠を抽出したという
ことである。このような枠を抽出したならば、例えば（
ｘｂ＋ ｙＬ） ｖ （”Ｌ＋Ｐｇ＋ ｙＬ＋ｐ、）の
２つの番地を枠の位置情報として記録してお（。
ＴＬ＋ ’／ｂ＋ Ｐｙ） ＋ （−）、”’ｘ、ｙｙ
Ｌ４、１）ρの各番地を頂点とする枠を抽出したという
ことである。このような枠を抽出したならば、例えば（
ｘｂ＋ ｙＬ） ｖ （”Ｌ＋Ｐｇ＋ ｙＬ＋ｐ、）の
２つの番地を枠の位置情報として記録してお（。
ステップ５ニ
ステップ４で枠が抽出されたか判定し、抽出されなかっ
たならばステップ６へ処理を進め、抽出されたならばス
テップ７・＼処理を進める。
たならばステップ６へ処理を進め、抽出されたならばス
テップ７・＼処理を進める。
ステップ６：
（ｘ、＋Δ”＋ｙＢ）を新しいスキャン開始番地（、ｚ
ｌｌ。
ｌｌ。
ｙｆｌ）として設定する。若し、３：８の値が所定値、
τ、、＋１（枠の存在し得る範囲の右端位置と枠サイズ
Ｐ２で決まる）を越えるならば、（”０１ｙａ＋Δｙ）
を新しいスキャン開始番地（ｘＩ］、 ｙ８）とＱて設
定する。
τ、、＋１（枠の存在し得る範囲の右端位置と枠サイズ
Ｐ２で決まる）を越えるならば、（”０１ｙａ＋Δｙ）
を新しいスキャン開始番地（ｘＩ］、 ｙ８）とＱて設
定する。
ステップ７：
（ｘ ｓ ＋ ｐ ｚ−δ、ｙ８）を新しいスキャン開
始番地Ｃｘｓ、ｙ、）として設定する。若し、ｘ８の値
が所定値ｘ、、を越えるならば、（’６．３’ｓ” Ｐ
ｙ−δ）を新しいスキャン開始番地＜ｘ８．ｙ８）とし
て設定する。ここで、δは枠のピッチ誤差である。
始番地Ｃｘｓ、ｙ、）として設定する。若し、ｘ８の値
が所定値ｘ、、を越えるならば、（’６．３’ｓ” Ｐ
ｙ−δ）を新しいスキャン開始番地＜ｘ８．ｙ８）とし
て設定する。ここで、δは枠のピッチ誤差である。
ステップ８：
ステップ６または７で設定されたスキャン開始番地Ｃｒ
ｙｌ］、ｙ８）のｙ８の値が所定値３’７）１７（枠の
存在し得る範囲の下端位置と枠サイズＰ、で決まる）を
越えるならば、処理を終了する。ｙ ｎ ＜Ｌｎ＃なら
ば、ステップ２へ処理を戻す。
ｙｌ］、ｙ８）のｙ８の値が所定値３’７）１７（枠の
存在し得る範囲の下端位置と枠サイズＰ、で決まる）を
越えるならば、処理を終了する。ｙ ｎ ＜Ｌｎ＃なら
ば、ステップ２へ処理を戻す。
ＮＩＪち本実施例では、第２図に破線で示すようなＰよ
×Ｐ、サイズのスキャン領域について枠抽出処理を実行
し、枠が抽出されたならば、スキャン領域をほぼ１枠分
に当るＰ２−δまたはＰ、−δだげＸ方向またけｙ方向
ヘシフトし、枠が抽出されないならば、スキャン領域を
ΔＸまたはΔｙだけＸ方向へシントして、枠抽出処理を
行う。このような枠抽出処理は、比較的単純なハードウ
ェアによって高速で実行することができる。その上、ス
テップ３のコンボリューション処理を行うため、文字や
枠線以外の直線等が存在しても、十分な精度で枠を抽出
できる。
×Ｐ、サイズのスキャン領域について枠抽出処理を実行
し、枠が抽出されたならば、スキャン領域をほぼ１枠分
に当るＰ２−δまたはＰ、−δだげＸ方向またけｙ方向
ヘシフトし、枠が抽出されないならば、スキャン領域を
ΔＸまたはΔｙだけＸ方向へシントして、枠抽出処理を
行う。このような枠抽出処理は、比較的単純なハードウ
ェアによって高速で実行することができる。その上、ス
テップ３のコンボリューション処理を行うため、文字や
枠線以外の直線等が存在しても、十分な精度で枠を抽出
できる。
第５図は、前述の枠抽出処理を実行するための装置４の
一例を示す概略ブロック図である。
一例を示す概略ブロック図である。
１００はランダムアクセスの可能な画像メモリであり、
ここに１ページのディジタル画像が格納される。１０１
は前記ステップ１および２のラスクスキャンを行うため
のスキャン回路であり、ここから出るアドレス信号によ
って画像メモリ１００の読出し番地が指定される。
ここに１ページのディジタル画像が格納される。１０１
は前記ステップ１および２のラスクスキャンを行うため
のスキャン回路であり、ここから出るアドレス信号によ
って画像メモリ１００の読出し番地が指定される。
１０２は加算器であり、前記ステソゲ２０投影濃度ＨＧ
Ｚ’） 、 Ｉ−Ｉ （ｙ）の算出を実行する。即ち、
画像メモリ１００から読み出されるディジタル画像の画
素データから、各主走査ライン別および各副走査ライン
別に黒画素数を累積加算する。この際の主、副走査ライ
ンの識別はスキャン回路１０１からのアドレス信号によ
って行う。１０３．１０４はラインメモリであり、加算
器１０２から出力される投影濃度Ｈ（ｘ）。
Ｚ’） 、 Ｉ−Ｉ （ｙ）の算出を実行する。即ち、
画像メモリ１００から読み出されるディジタル画像の画
素データから、各主走査ライン別および各副走査ライン
別に黒画素数を累積加算する。この際の主、副走査ライ
ンの識別はスキャン回路１０１からのアドレス信号によ
って行う。１０３．１０４はラインメモリであり、加算
器１０２から出力される投影濃度Ｈ（ｘ）。
Ｈ（ｙ）を蓄積する。投影濃度Ｈ←） 、 Ｈ＜’／）
の記憶位置は、前記アドレス信号に基いて制御される。
の記憶位置は、前記アドレス信号に基いて制御される。
１０５．１０６は、前記ステップ３のコンボリューショ
ン処理のためのコンボリューション回路であり、ライン
メモリ１０３，１０４に求められた投影濃度Ｈ（、ｚ）
。
ン処理のためのコンボリューション回路であり、ライン
メモリ１０３，１０４に求められた投影濃度Ｈ（、ｚ）
。
Ｈ（ｙ）を用いて式（１）、式（２）の演算を行う。】
０７は比較器であり、コンボリューション回路１０５，
１０６の出力Ｈ’（ｘ） 、 Ｈ’（ｙ）を閾値ＴＨと
比較する。
０７は比較器であり、コンボリューション回路１０５，
１０６の出力Ｈ’（ｘ） 、 Ｈ’（ｙ）を閾値ＴＨと
比較する。
１０８は中央処理装Ｍ（ＣＰＵ）であり、前記各部の制
御、スキャン開始番地の設定、判定等を行う。即ち、こ
のＣＰ Ｕ １０８は１０１〜１０６の各部を一旦リセ
ット後、スキャン回路１０１に対してステップ１のラス
クスキャンを開始させる。画像メモリ１００より最初の
黒画素データが読み出されると、ＣＰ ０１０８はその
黒画素の読出し番地から最初のスキャン開始番地を算出
する。そして、１０１〜１０６を一旦リセット後、スキ
ャン回路１０１に同スキャン開始番地を指定してステッ
プ２のラスクスキャンを開始させる。このスキャンを終
了すると、ＣＰ ０１０８はコンボリューション回路１
０５ 、１０６に起動をかけ、ステップ３を実行させ、
比較器１０７の出力に基いてステップ４．５を実行する
。ついでＣＰ ０１０８はステップ６または７のスキャ
ン開始番地の設定処理を実行し、さらにステップ８を実
行する。ステップ８で終りと判定されなければ、１０１
〜１０６を一旦リセットした後、スキャン回路１０１に
新しいスキャン開始番地を指定してステップ２のラスク
スキャンを開始させる。以下、ステップ２〜８を同様に
実行し、ステップ８で終りと判定すると処理を終了する
。なお、ステップ４で抽出した枠の座標情報はＣＰ ０
１０８内のメモリに記憶される。
御、スキャン開始番地の設定、判定等を行う。即ち、こ
のＣＰ Ｕ １０８は１０１〜１０６の各部を一旦リセ
ット後、スキャン回路１０１に対してステップ１のラス
クスキャンを開始させる。画像メモリ１００より最初の
黒画素データが読み出されると、ＣＰ ０１０８はその
黒画素の読出し番地から最初のスキャン開始番地を算出
する。そして、１０１〜１０６を一旦リセット後、スキ
ャン回路１０１に同スキャン開始番地を指定してステッ
プ２のラスクスキャンを開始させる。このスキャンを終
了すると、ＣＰ ０１０８はコンボリューション回路１
０５ 、１０６に起動をかけ、ステップ３を実行させ、
比較器１０７の出力に基いてステップ４．５を実行する
。ついでＣＰ ０１０８はステップ６または７のスキャ
ン開始番地の設定処理を実行し、さらにステップ８を実
行する。ステップ８で終りと判定されなければ、１０１
〜１０６を一旦リセットした後、スキャン回路１０１に
新しいスキャン開始番地を指定してステップ２のラスク
スキャンを開始させる。以下、ステップ２〜８を同様に
実行し、ステップ８で終りと判定すると処理を終了する
。なお、ステップ４で抽出した枠の座標情報はＣＰ ０
１０８内のメモリに記憶される。
前述のよ５に、本発明による枠抽出法は処理手順が単純
であり、比較的単純な／＞−ドウエアによって高速処理
することができる。特に本発明の枠抽出法は、前記の実
施例説明から明らかなように、定屋文書等の比較的小サ
イズの枠を抽出する用途に最適である。
であり、比較的単純な／＞−ドウエアによって高速処理
することができる。特に本発明の枠抽出法は、前記の実
施例説明から明らかなように、定屋文書等の比較的小サ
イズの枠を抽出する用途に最適である。
第１図は本発明の一実施例を示す概略流れ図、第２図は
ディジタル画像のラスクスキャンを説明するための図、
第３図は投影濃度の説明図、第４図はコンボリューショ
ン処理に用いるフィルタの説明図、第５図は第１図の概
略流れ図に示ず処理を実行するための装置の一例を示す
概略ブロック図である。 １００・・・画面メモＩＪ、１０１・・・スキャン回路
、１０２・・・加算器、 １０３ 、１０４・・・ラ
インメモリ、１０５．１０６・・・コンボリューション
回路、１０７・・・比較器、 １０８・・・中央処理
装置（ＣＰＵ）。
ディジタル画像のラスクスキャンを説明するための図、
第３図は投影濃度の説明図、第４図はコンボリューショ
ン処理に用いるフィルタの説明図、第５図は第１図の概
略流れ図に示ず処理を実行するための装置の一例を示す
概略ブロック図である。 １００・・・画面メモＩＪ、１０１・・・スキャン回路
、１０２・・・加算器、 １０３ 、１０４・・・ラ
インメモリ、１０５．１０６・・・コンボリューション
回路、１０７・・・比較器、 １０８・・・中央処理
装置（ＣＰＵ）。
Claims (2)
- （１） ディジタル画像について、互に直交する２つ
の方向への投影濃度を算出し、それにコンボリューショ
ンＭ 埋を７ｍし、このコンボリューション処理後の各
方向投影濃度の所定閾値を゛越えるピークの位置を検出
することにより、前記ディジタル画像上の前記各方向に
ほぼ平行な直線で囲まれた枠を抽出することを特徴とす
る枠抽出法。 - （２）１つの枠のサイズよりやや大きなサイズの領域毎
に前記のよ５な枠抽出処理を実行することを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載の枠抽出法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57187826A JPS5977577A (ja) | 1982-10-25 | 1982-10-25 | 枠抽出法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57187826A JPS5977577A (ja) | 1982-10-25 | 1982-10-25 | 枠抽出法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5977577A true JPS5977577A (ja) | 1984-05-04 |
Family
ID=16212908
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57187826A Pending JPS5977577A (ja) | 1982-10-25 | 1982-10-25 | 枠抽出法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5977577A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61187086A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-20 | Hitachi Ltd | 光学文字読取装置 |
| EP0314521A2 (en) * | 1987-10-30 | 1989-05-03 | Philip Morris Products Inc. | Methods and apparatus for optical product inspection |
| EP0535610A2 (en) * | 1991-09-30 | 1993-04-07 | Ezel Inc. | Printed matter inspection method |
-
1982
- 1982-10-25 JP JP57187826A patent/JPS5977577A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61187086A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-20 | Hitachi Ltd | 光学文字読取装置 |
| EP0314521A2 (en) * | 1987-10-30 | 1989-05-03 | Philip Morris Products Inc. | Methods and apparatus for optical product inspection |
| EP0535610A2 (en) * | 1991-09-30 | 1993-04-07 | Ezel Inc. | Printed matter inspection method |
| EP0535610A3 (ja) * | 1991-09-30 | 1994-08-31 | Ezel Inc |
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