JPS5965709A - Method for measuring thickness profile of strip edge part - Google Patents

Method for measuring thickness profile of strip edge part

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JPS5965709A
JPS5965709A JP17669882A JP17669882A JPS5965709A JP S5965709 A JPS5965709 A JP S5965709A JP 17669882 A JP17669882 A JP 17669882A JP 17669882 A JP17669882 A JP 17669882A JP S5965709 A JPS5965709 A JP S5965709A
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JP
Japan
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strip
thickness
radiation
edge
thickness profile
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Pending
Application number
JP17669882A
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Japanese (ja)
Inventor
Shoichi Moriya
守谷 正一
Masami Shimizu
雅美 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Kawasaki Steel Corp
Fuji Electric Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd, Kawasaki Steel Corp, Fuji Electric Manufacturing Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
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Publication of JPS5965709A publication Critical patent/JPS5965709A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

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Abstract

PURPOSE:To measure the thickness distribution of a strip edge part in an on- line system with high accuracy by converting the radiant rays passed through the strip edge part into electric signals and applying an averaging process to these electric signals. CONSTITUTION:The radiant rays passed through a strip 10 and attenuated are converted into beams through a slip-shaped scintillator 16. These beams are condensed by an optical lens 18 to be coincident with the irradiating surface of an image sensor 20 for photoelectric transfer and then amplified by a preamplifier 22 to be converted into video signals. These video signals are transmitted to an arithmetic device 26. Both almost edge part information on both edges and the thickness profile information on the edge part which are calculated by the device 26 receive the necessary processing in response to the applications and are delivered to a display device 28 for monitor of operators. The dense sampling of 500 times per millisecond cycle, for instance, is carried out to the information on a detection system (including the scintillator 16, the lens 18 and the sensor 20) to obtain signal trains. These signal trains are averaged to reduce greatly the effect of short-cycle noises.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ストリップエツジ部の厚さプロフィール測定
方法に係シ、特に、薄板圧延プラントにおけるタンテム
圧延プロセス、又は、コイル捲戻し、検量などの処理ラ
インにおいて、ストリップのエツジ部分(最エツジから
100 mtn、程度まで)の厚さプロフィールを測定
する際に用いるのに好適な、ストリップエツジ部の厚さ
プoフィール測定力法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for measuring the thickness profile of a strip edge, particularly in a tantem rolling process in a thin plate rolling plant or in a processing line such as coil unwinding or weighing. The present invention relates to a force method for measuring the thickness profile of a strip edge, suitable for use in measuring the thickness profile of a section (from the extreme edge to the order of 100 mtn).

一般に、薄銅板のエツジ部の厚さプロフィールは、重要
な品質管理項目の一つである。例えば、エツジドロップ
と呼ばれる、ストリップエツジ部の厚さプロフィールを
示す指標は、一義的な定義はされていAいが、通常、第
1回に示す如(、ストリップ10の最エツジ部10aか
ら鳥羽(例えば10問)の位置の厚さと、同じく最エツ
ジ部10aから!2フnun (例えば50 v、m 
)の厚さとの差6を指している。又、冷延銀板の場合、
最エツジ部からA v、m、 (Aは、銀板の納入先に
より異るが、例えば10朋)の位置の厚さを保証値とし
て出荷するのが通例である。一部の納入先に対しては、
TMW材と称して、エツジ部の特定部位の下限厚さを指
定して、計算重量で取引することも行われている。いず
れにせよ、ストリップエツジ部の厚さプロフィールを精
度良(測定する必要性は非常に高い0 しかしながら従来は、ストリップエツジ部の厚さプロフ
ィールを、オンラインで精度良(測定する方法は確立さ
れていなかった。例えば、熱延鋼板の板幅全面にわたる
厚さプロフィール測定のため、固定型及び走査型の2式
の厚さ測定装置を共に設置し、固定型厚さ測定装置は、
ス) IJツブの中央部の厚さを測定し、一方、走査型
厚さ測定装置は、その厚さ検出部をス) IJツブの板
幅方向に機械的に駆動して、幅方向の厚さプロフィール
を測定する方法や、3個以上の放射線源を用いて、板幅
方向の複数個所の厚さを測定する方法は、既に実用化さ
れているが、これらの方法では、エツジドロップ等のス
トリップエツジ部の厚さ分布を知ることは困雑であった
。これは、次のような理由による。
Generally, the thickness profile of the edge portion of a thin copper plate is one of the important quality control items. For example, an index indicating the thickness profile of the strip edge, called edge drop, is not uniquely defined, but is usually used as shown in the first article (from the edge drop of the strip 10 to the tip of the edge). For example, the thickness at the position of 10 questions) and the thickness at the position of !2 fnun (for example, 50 v, m
) indicates a difference of 6 from the thickness of In addition, in the case of cold-rolled silver plate,
It is customary to ship the silver plate with the thickness at a position A v,m, (A varies depending on the destination of the silver plate, for example, 10 mm) from the edge as a guaranteed value. For some delivery destinations,
It is also called TMW material and is traded by calculated weight by specifying the lower limit thickness of a specific part of the edge part. In any case, there is a very high need to accurately measure the thickness profile of the strip edge. For example, in order to measure the thickness profile over the entire width of a hot-rolled steel plate, two sets of thickness measuring devices, a fixed type and a scanning type, are installed together, and the fixed type thickness measuring device is
S) The thickness of the central part of the IJ knob is measured, while the scanning thickness measuring device mechanically drives its thickness detection part in the width direction of the IJ knob to measure the thickness in the width direction. Methods for measuring thickness profiles and methods for measuring thickness at multiple locations in the sheet width direction using three or more radiation sources have already been put into practical use; It was difficult to know the thickness distribution of the strip edge. This is due to the following reasons.

(1)  前記方法の主目的は、ストリップクラウン等
の板幅方向全体の厚さプロフィールを求めることにあシ
、エツジ部のみに限定した測定方法となっていない。
(1) The main purpose of the above method is to obtain the thickness profile of the entire board in the width direction of strip crowns, etc., and the measurement method is not limited to only the edges.

(2)放射線ビームの径が10〜15mmψ以上と太<
、エツジ部の厚さプロフィール測定に必要となる幅方向
分解能2〜3111m以下という微細な厚さ分布測定に
は対応できない。
(2) The diameter of the radiation beam is 10 to 15 mmψ or thicker.
However, it is not possible to measure the fine thickness distribution with a resolution in the width direction of 2 to 3111 m or less, which is necessary for measuring the thickness profile of the edge portion.

(3)放射線ビームを、幅方向分解能2〜3朋以下が得
られるように細径に迄絞ると、ストリップ通過後の信号
7/雑音比(S/N比と称する)が下がシ、厚さ測定と
して要求される、測定板厚の±0.1%程度の精度が得
られ々い。
(3) When the radiation beam is narrowed down to a small diameter so as to obtain a widthwise resolution of 2 to 3 mm or less, the signal/noise ratio (referred to as S/N ratio) after passing through the strip becomes lower and thicker. It is difficult to obtain an accuracy of approximately ±0.1% of the measured plate thickness, which is required for thickness measurement.

従って、従来、エツジドロップなどのエツジ部の厚さ測
定は、検査員による手動のサンプリング測定に頼らざる
を得す、オンライン測定は実用化されてい々いのが実情
であった。
Therefore, conventionally, the thickness measurement of edge portions such as edge drops has had to rely on manual sampling measurements by inspectors, and the reality is that online measurements have not yet been put into practical use.

よって、例えば、冷延タンデムミルにおける自動板厚制
御装置においては、ストリップの中央部の厚さを測定し
ている厚さ計の信号をもとに制御するようにしていたた
め、エツジ部の厚さプロフィールについては、実績デー
タによる推定値でしか、圧延中には管理することができ
ず、場合によっては、エツジ部の厚さ不足による不良品
や、エツジ部の遇厚による歩留シの低下を来たすことが
少なからずあった。
Therefore, for example, in the automatic plate thickness control device in a cold rolling tandem mill, control is based on the signal from a thickness gauge that measures the thickness at the center of the strip, so the thickness at the edge Regarding the profile, it is only possible to control it during rolling by estimating the value based on actual data, and in some cases, it may cause defective products due to insufficient thickness of the edge part or decrease in yield due to insufficient thickness of the edge part. There were quite a few things that happened.

本発明は、前記従来の欠点を解消するべくなされたもの
で、ストリップエツジ部の厚さ分布を、オンラインで、
精度良(測定することができるストップエツジ部の厚さ
プロフィール測定方法を提供することを目的とする。
The present invention was made to solve the above-mentioned conventional drawbacks, and it is possible to measure the thickness distribution of the strip edge part online.
The purpose of the present invention is to provide a method for measuring the thickness profile of a stop edge portion with high accuracy.

本発明は、ストリップエツジ部の厚さプロフィール測定
に際して、ストリップエツジ部に向けて放射線を照射し
、ストリップエツジ部を透過した放射線を、イメージセ
ンサを含む放射線−電気信号変換手段により、厚さプロ
フィール情報とエツジ位置情報を共に含む電気信号に変
換し、該電気信号に対し、て平均化処理を施すことによ
って得られる情報から、ストリップエツジ部の厚さプロ
フィールを求めるようにして、前記目的を達成したもの
である。
In the present invention, when measuring the thickness profile of a strip edge, radiation is irradiated toward the strip edge, and the radiation transmitted through the strip edge is converted into thickness profile information using a radiation-electrical signal conversion means including an image sensor. The above object was achieved by converting the strip edge into an electrical signal containing both the strip edge position information and the edge position information, and calculating the thickness profile of the strip edge portion from the information obtained by averaging the electrical signal. It is something.

又、前記放射線−電気信号、変換手段を、ストリップエ
ツジ部を透過した放射線を光に変換する短冊型シンチレ
ータと、該短冊型シンチレータから放出される光を集光
する光学1/ンズと、該光学レンズによシ集光された光
を電気信号に変換するイメージセンサとから構成するこ
とによって、単一のイメージセンサを用いて高精度の測
定が行えるようにしたものである。
The radiation-to-electrical signal conversion means may include a strip-shaped scintillator that converts radiation transmitted through the strip edge portion into light, an optical lens that collects light emitted from the strip-shaped scintillator, and an optical lens that collects light emitted from the strip-shaped scintillator. By comprising an image sensor that converts light focused by a lens into an electrical signal, it is possible to perform highly accurate measurements using a single image sensor.

或いは、前記放射線−電気信号変換手段を、放射線感応
型イメージセンサかも構成することによって、放射線−
電気信号変換を1回で行うことができるようにしたもの
である。
Alternatively, by configuring the radiation-electric signal conversion means as a radiation-sensitive image sensor,
This allows electrical signal conversion to be performed in one step.

更に、前記電気信号に対する平均化処理を、密サンプリ
ングを行い、平均値を用いるデジタルフィルタリングに
よって行うようにして、高精度の平均化処理が行われる
ようにしだものである。
Furthermore, the averaging process for the electric signal is performed by performing dense sampling and digital filtering using the average value, so that highly accurate averaging process is performed.

本発明は、 (1)短冊型シンチレータが実用化され、市販されてい
ること、 (2)放射線ビームを絞ったり、短冊型シンチレータを
使用すると、得られる信号のS/N比は低下するが、応
答性を下げて情報量を増やすことによシ、実効的なS/
N比を向上し得ること、(3)  イメージセンサによ
シ、ストリップ幅方向の位置情報が容易に得られること
、 に着目してなされたものである。
The present invention has the following features: (1) strip-shaped scintillators have been put to practical use and are commercially available; (2) if the radiation beam is focused or the strip-shaped scintillators are used, the S/N ratio of the obtained signal decreases; By reducing responsiveness and increasing the amount of information, effective S/
This was done with the focus on the following: (3) the ability to improve the N ratio; and (3) the ability to easily obtain positional information in the width direction of the strip using an image sensor.

以下図面を参照して、本発明に係るストリップエツジ部
の厚さプロフィール測定方法が採用された、冷延鋼板エ
ツジ部の厚さプロフィール測定装置の構成例を詳細に説
明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A configuration example of an apparatus for measuring a thickness profile of a cold-rolled steel plate edge portion, in which a method for measuring a thickness profile of a strip edge portion according to the present invention is adopted, will be described in detail below with reference to the drawings.

本装置は、第2図に示す如(、ストリップ10の両エツ
ジ部に配設され、ストリップ10のエツジ部に向けて、
コリメータ14によシ平面的に均一な強度となるように
された、ストリップ10の厚さ範囲に適合した放射線(
例えばX線又はγ線)を照射する放射線源12と、スト
リップエツジ部を透過した放射線を、厚さプロフィール
情報とエツジ位置情報を共に含む電気信号に変換するた
めの、ストリップエツジ部を透過した放射線を光に変換
する短冊型シンチレータ16、該短冊型シンチレータ1
6かも放出される光を集光する光学レンズ18、該光学
レンズ18によシ集光された光を電気信号に変換する、
単一のイメージセンサ20かもなる放射線−電気信号変
換手段と、前記イメージセンサ20出力の極めて微弱な
電気信号を増幅してビデオ信号とするための前置増幅器
22と、スト921100幅情報を設定するための設定
器24と、該設定器24の出力に応じて、前記放射線源
12及び放射線−電気信号変換手段を、ストリップ10
のエツジ部に位置決めすると共に、前記前置増幅器22
出力のビデオ信号に対して、数百回以上の密サンプリン
グを行い、平均値を用いるデジタルフィルタリングによ
シ平均化処理を施すことによシ得られる情報から、スト
リップの最エツジ部及びストリップエツジ部の厚さプロ
フィールを求めるだめの演算装置26と、前記演算装置
26出力を表示するための、例えばCRTからなる表示
装置28とから構成されている。
This device is arranged at both edges of the strip 10 as shown in FIG.
A collimator 14 emits radiation (
a radiation source 12 for emitting radiation (e.g. a strip-shaped scintillator 16 that converts light into light, and the strip-shaped scintillator 1
6. An optical lens 18 for condensing the emitted light, and converting the light condensed by the optical lens 18 into an electrical signal.
A radiation-to-electrical signal conversion means, which may also be a single image sensor 20, a preamplifier 22 for amplifying the extremely weak electrical signal output from the image sensor 20 into a video signal, and width information of the striker 921100 are set. and a setting device 24 for controlling the radiation source 12 and the radiation-to-electrical signal conversion means according to the output of the setting device 24.
The preamplifier 22 is positioned at the edge of the preamplifier 22.
The edge of the strip and the edge of the strip are determined from the information obtained by densely sampling the output video signal several hundred times or more and applying averaging processing to the digital filtering using the average value. The apparatus is comprised of a calculation device 26 for determining the thickness profile of the calculation device 26, and a display device 28, such as a CRT, for displaying the output of the calculation device 26.

前記放射線源12、コリメータ14、短冊型シンチレー
タ16、光学レンズ18、イメージセンサ20及びプリ
アンプ22は、冷延タンデムミル直後、又は、捲戻し検
査ラインに組込まれる検出ヘッドの中に格納されている
The radiation source 12, collimator 14, strip-shaped scintillator 16, optical lens 18, image sensor 20, and preamplifier 22 are stored in a detection head installed immediately after the cold rolling tandem mill or in an unwinding inspection line.

以下作用を説明する。The action will be explained below.

前記設定器26に予め設定されたストリップ10の幅情
報によシ、前記放射線源12、コリメータ14、短冊壓
シンチレータ16、光学レンズ18、イメージセンサ2
o及び前置増幅器22を含む検出ヘッドは、予めストリ
ップ1oのエツジ部に位置決めされる。ストリップ1o
が検出ヘッドの部分に到達すると、ス) IJツブ1o
を透過して減衰した放射線は、短冊型シンチレータ16
で光に変換され、光学レンズ18でイメージセンサ20
の照射面に合致するように集光され、光電変換が行われ
る。このままでは極めて微弱な信号であるため、前置増
幅器22にょシ増幅されてビデオ信号とされた後、演算
装置26へ伝送される。
According to the width information of the strip 10 preset in the setting device 26, the radiation source 12, the collimator 14, the strip scintillator 16, the optical lens 18, and the image sensor 2
The detection head, including the preamplifier 1o and the preamplifier 22, is previously positioned at the edge of the strip 1o. strip 1o
When it reaches the detection head, the IJ knob 1o
The attenuated radiation transmitted through the strip-shaped scintillator 16
It is converted into light by the optical lens 18 and then sent to the image sensor 20 by the optical lens 18.
The light is focused so as to match the irradiation surface, and photoelectric conversion is performed. Since the signal is extremely weak as it is, it is amplified by the preamplifier 22 and converted into a video signal, which is then transmitted to the arithmetic unit 26.

ここで短冊型シンチレータ16を用いているのは、2〜
3朋以下の分解能を有する厚さプロフィールを得るため
であるが、個々のシンチレータに入射する線量が少ない
ので、通常の放射線厚さ計の場合に比べ、SlN比が悪
(なる。一般に、エツジドロップ等のエツジ部の厚さ分
布に関する情報は、ストリップ中央部の厚さ情報量の迅
速さが要求されないため、この点を考慮して、応答性を
若干犠牲にし、検出器から得られる情報量を増やすこと
によって、実効的なS/N 比の向上を図る。具体的に
は、検出系(短冊型シンチレータ16、光学レンズ18
、イメージセンサ20)の情報を、例えば1ミリ秒周期
で500回の密サンプリングを行い、得られた信号列を
平均化することによシ、短周期ノイズの効果を大幅に低
減できる。この場合、装置としての応答性は、サンプリ
ング時間(積分時間)0.5秒、演算装[26での演算
時間を0.5秒とすると、全体で1秒程度となシ、エツ
ジドロップ測定装置として、十分に機能できる。
Here, the strip-shaped scintillator 16 is used in 2 to 3.
This is to obtain a thickness profile with a resolution of 3 mm or less, but since the dose incident on each scintillator is small, the SIN ratio is worse than that of a normal radiation thickness meter. In order to obtain information on the thickness distribution of the edge part, etc., it is not necessary to quickly obtain the information on the thickness at the center of the strip. The effective S/N ratio is improved by increasing the detection system (strip scintillator 16, optical lens 18).
, image sensor 20), for example, 500 times at a period of 1 millisecond, and by averaging the resulting signal sequence, the effect of short-period noise can be significantly reduced. In this case, if the sampling time (integration time) is 0.5 seconds, and the calculation time in the arithmetic unit [26] is 0.5 seconds, the response time of the device will be approximately 1 second in total. It can function satisfactorily as a.

演算装置26によシ、このようにして演算された両エツ
ジ部の最エツジ部情報及びエツジ部の厚さプロフィール
情報は、用途に応じて必要な加工処理が行われ、操作員
の監視用として、表示装置28に出力される。表示装置
28では、例えば、最エツジ部から10朋の部位の厚さ
の表示、エツジドロップとして最エツジ部からそれぞれ
10u150朋の部位の厚さの差の表示、更に、もし中
央部の厚さが与えられれば、ストリップクラウンの表示
などが可能である。
The edge part information of both edge parts and the edge part thickness profile information calculated in this way are processed by the calculation device 26 as necessary according to the purpose, and are used for monitoring by the operator. , is output to the display device 28. The display device 28 displays, for example, the thickness of a portion 10 mm away from the edge, the difference in thickness between 10 mm and 150 mm from the edge drop, and if the thickness of the central portion is If given, it is possible to display strip crowns, etc.

なお前記構成例においては、放躬糾−電気化号変換手段
として、短冊型シンチレータ16と、光学レンズ18と
、イメージセンサ20とを用いて、放射線を一旦光に変
換した後、再び電気信号に変換するようにしているので
、光学レンズ18によシ集光すること〃・可能であシ、
単一のイメージセンサ20で放射線−電気信号変換手段
を構成することができる。なお、放躬緑−電気信号変換
手段の構成は、これに限定されず、例えば、放射線感応
型イメージセンサ1用いて、放射線−電気信号変換を一
回で行うことも可能である。この場合、光学レンズ等の
光学系を用いることはできないので、イメージセンサを
複数個用いる必要がある場合がある。
In the above configuration example, the strip-shaped scintillator 16, the optical lens 18, and the image sensor 20 are used as the radiation-to-electrification code conversion means to convert the radiation into light once and then convert it into an electrical signal again. Since the light is converted, it is possible to focus the light on the optical lens 18.
A radiation-to-electrical signal conversion means can be configured with a single image sensor 20. Note that the configuration of the Hokuryoku-electrical signal conversion means is not limited to this, and for example, it is also possible to perform the radiation-electrical signal conversion at one time using the radiation-sensitive image sensor 1. In this case, since an optical system such as an optical lens cannot be used, it may be necessary to use a plurality of image sensors.

次に、不発明にかかるストリップエツジ部の厚さプロフ
ィール測定装置が採用さした、冷延タンデムミルにおけ
る自動板厚制御装置の実施例を詳細に説明する。
Next, an embodiment of an automatic plate thickness control device for a cold rolling tandem mill, in which the strip edge thickness profile measuring device according to the invention is employed, will be described in detail.

本実施例は、第3図に示す如く、第1スタンド32−1
〜第5スタンド32−5を有する冷延タンデムミル30
において、ストリップ10の中央部の厚さt。を測定し
ている従来の厚さ計34の他に、本発明にかかるエツジ
部厚さプロフィール測定装置36を併設し、前記厚さ計
34出力のストリップ中央部の厚さte  だけでなく
、前記エツジ部厚さプロフィール測定装置36出力のエ
ツジプロフィール信号t。を自動板厚制御装置(AGC
装置と称する)38に入力して、自動板厚制御が行われ
るようにしたものである。図において、40 ハ、テン
ションリールである。
In this embodiment, as shown in FIG. 3, the first stand 32-1
~Cold rolling tandem mill 30 with fifth stand 32-5
, the thickness t of the central part of the strip 10. In addition to the conventional thickness gage 34 that measures the thickness of the strip, an edge thickness profile measuring device 36 according to the present invention is installed to measure not only the thickness te of the central portion of the strip output from the thickness gage 34 but also the Edge profile signal t output from edge thickness profile measuring device 36. Automatic plate thickness control device (AGC)
(referred to as a device) 38 for automatic plate thickness control. In the figure, 40 cm is a tension reel.

この実施例においては、オンラインで常時エツジ部の厚
さプロフィールte  を監視し、過薄又は過厚が生じ
るような厚さ変動が発生したとき)自動的にAGC装置
38の目標板厚(ストリップ中央部)を変更して、エツ
ジ部の厚さを修正する。
In this embodiment, the thickness profile te of the edge part is constantly monitored online, and when a thickness variation that causes overthinning or overthickness occurs, the target thickness of the AGC device 38 is automatically set (at the center of the strip). ) to correct the thickness of the edge.

即ち、第3図において、AGC装置38に予め与えられ
ている目標板厚り。と、ストリップ中央部の厚さto 
 を測定し7ている従来の厚さ計34からの信号を比較
して、実際の板厚を目標板厚h0  に近づけるだめの
演算を実行し2、第3及び第4スタンド32−3.32
−4の圧延ロール速度v3、v4をそれぞれ△v3、△
v4変更する制御信号を出力する(第5スタンド32−
5がピボットスタンドの場合)。これにより、第3〜第
4スタンド32−3〜32−4間、及び、第4〜第5ス
タンド32−4〜32−5間のストリップ10にかかる
張力を変更し、ストリップ10の厚さの修正を行う。
That is, in FIG. 3, the target plate thickness is given to the AGC device 38 in advance. and the thickness at the center of the strip to
The signals from the conventional thickness gage 34 are compared and calculations are performed to bring the actual thickness closer to the target thickness h0.
-4 rolling roll speeds v3 and v4 are △v3 and △, respectively.
Output a control signal to change v4 (fifth stand 32-
5 is a pivot stand). As a result, the tension applied to the strip 10 between the third and fourth stands 32-3 and 32-4 and between the fourth and fifth stands 32-4 and 32-5 is changed, and the thickness of the strip 10 is changed. Make corrections.

今、エツジ部厚さプロフィール測定装R36からの信号
1e  が、予め与えられているエツジ部の厚さ目標値
を上廻ったとき、AGC装置38は、それまでの厚さ目
標値h0をΔho減らして、(ho−Δha)を新目標
値として制御を開始する。これによシ、エツジ部の厚さ
を正常な範囲に復帰させることができる。逆に、エツジ
部の厚さte  が、予め与えられている目標値を下廻
ったときは、上記と逆の制御を実行する。このようにし
て、中央部の厚さ1、  だけでな(、両エツジ部の厚
さt8  も目標値に維持することができ、ストリップ
10のエツジ部の厚さ不足による不良品の発生を防止し
、又、エツジ部の過厚による歩留シの低下を防止すると
とかできる。
Now, when the signal 1e from the edge thickness profile measuring device R36 exceeds the edge thickness target value given in advance, the AGC device 38 reduces the previous thickness target value h0 by Δho. Then, control is started using (ho-Δha) as the new target value. This allows the thickness of the edge portion to return to a normal range. Conversely, when the thickness te of the edge portion falls below a predetermined target value, the control opposite to the above is executed. In this way, it is possible to maintain not only the thickness 1 at the center (but also the thickness t8 at both edges) to the target value, thereby preventing the occurrence of defective products due to insufficient thickness at the edges of the strip 10. In addition, it is possible to prevent a decrease in yield due to excessive thickness of the edge portion.

なお前記実施例は、本発明に係るエツジ部厚さプロフィ
ール測定装置を、冷延タンデムミルにおける自動板厚制
御装置に組み込んだ例であるが・、この他に、冷延精製
工程におけるコイル捲戻し〜横置ライン等でエツジ部の
厚さを測定し、過薄等による不合格部分を帳表に出力す
る検査装置も可能となる。又、冷延プラントたり°でな
く、熱延薄板プラントの仕上ミル血抜に、本発明にかか
るエツジ部厚さプロフィール測定に&を設置して、エツ
ジドロップの監視等を行うことも可能である。
The above embodiment is an example in which the edge thickness profile measuring device according to the present invention is incorporated into an automatic sheet thickness control device in a cold rolling tandem mill. - An inspection device that measures the thickness of the edge portion using a horizontal line or the like and outputs rejected portions due to excessive thinness etc. on a report sheet is also possible. In addition, it is also possible to monitor edge drops by installing the edge thickness profile measurement device according to the present invention in the finishing mill blood drain of a hot rolling sheet plant, instead of in a cold rolling plant or °. .

更に、本発明によれは微小な分解能で厚さプロフィール
測定を行うことか可能であるので、本発明を用いて、冷
延倍幅圧延材に対するエツジドロップ付加装置の監視を
行うことも可能である。即ち、第4図に示す如く、冷延
タンデムミルで倍幅(異る幅の組合せも可)で圧延しく
第41軌))、その後にスリットして所定幅のコイルを
得る場合(第4図(C))、スリットの前に、第4図(
B)に示す如く、スリット部に圧痕をつけ、エツジドロ
ップに相当する厚さ分布を付加することが、後工程の操
業上必要であり、このため、エツジドロップ付加装[4
2を用いている。この際、本発明に係るストリップエツ
ジ部の厚さプロフィール測定方法を用いて、エツジドロ
ップ付加装置42による圧痕部の厚さ分布を測定し、所
望のプロフィールから外れている際は、手動または自動
でエツジドロップ付加装置42の設定を変更し、修正す
ることによって、所望のエツジプロフィールを得ること
ができる。
Furthermore, since it is possible to measure the thickness profile with minute resolution according to the present invention, it is also possible to use the present invention to monitor an edge drop adding device for cold-rolled double-width rolled material. . That is, as shown in Fig. 4, when the coil is rolled with a double width (a combination of different widths is also possible) in a cold rolling tandem mill (No. 41)) and then slit to obtain a coil of a predetermined width (Fig. (C)), before the slit, Fig. 4 (
As shown in B), it is necessary to make an indentation on the slit part and add a thickness distribution corresponding to the edge drop for the operation of the subsequent process.
2 is used. At this time, the thickness distribution of the indented part by the edge drop adding device 42 is measured using the method for measuring the thickness profile of the strip edge part according to the present invention, and when the thickness distribution deviates from the desired profile, the thickness distribution is measured manually or automatically. By changing and modifying the settings of the edge drop adding device 42, a desired edge profile can be obtained.

以上説明した通シ、本発明によれは、ストリップエツジ
部の厚さ分布を、オンラインで、精度良(測定すること
ができるという優れた効果を有する。
As described above, the present invention has the excellent effect that the thickness distribution of the strip edge portion can be measured online with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、ストリップエツジ部におけるエツジドロップ
を示す断面図、第2図は、本発明に係るストリップエツ
ジ部の厚さプロフィール測定方法が採用された、エツジ
部厚さプロフィール測定装置の構成例を示すブロック線
図、第3図は、前記装置が採用された、冷延タンデムミ
ルの自動板厚制御装置の実施例の構成を示すブロック線
図、第4図は、本発明によるストリップエツジ部の厚さ
プロフィール測定方法が適用可能な、冷延倍幅圧延材の
製造]−程を示す工程図である。 10・・・ストリップ、12・・・放射組源、14・・
・コリメータ、16・・・短冊型シンチレータ、18・
・・光学レンズ、20・・・イメージセンサ、22・・
・前置増幅器、24・・・設定器、26・・・演算装置
、28・・・表示装置、30・・・冷延タンデムミル、
32−1〜32−5・・・第1〜第5スタンド、36・
・・エツジ部厚さプロフィール測定装置、38・・・自
動板厚制御装置。 代理人  高 矢   論 (ほか1名) 第1図
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an edge drop at a strip edge, and FIG. 2 is a configuration example of an edge thickness profile measuring device in which the method for measuring the thickness profile of a strip edge according to the present invention is adopted. FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of an automatic sheet thickness control device for a cold rolling tandem mill in which the above device is adopted, and FIG. FIG. 2 is a process diagram showing the process of manufacturing cold-rolled double-width rolled material to which the thickness profile measurement method can be applied. 10...Strip, 12...Radiation assembly source, 14...
・Collimator, 16...Strip type scintillator, 18・
...Optical lens, 20...Image sensor, 22...
・Preamplifier, 24... Setting device, 26... Arithmetic device, 28... Display device, 30... Cold rolling tandem mill,
32-1 to 32-5...1st to 5th stands, 36.
... Edge thickness profile measuring device, 38... Automatic plate thickness control device. Agent Takaya Ron (and 1 other person) Figure 1

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)  ストリップエツジ部の厚さプロフィール測定
に際して、ス) IJツブエツジ部に向けて放射線を照
射し、ストリップエツジ部を透過した放射線を、イメー
ジセンサを含む放射線−電気信号変換手段によシ、厚さ
プロフィール情報とエツジ位置情報を共に含む電気信号
に変換し、該電気信号に対して平均化処理を施すことに
よって得られる情報から、ストリップエツジ部の厚さプ
ロフィールを求めるようにしたことを特徴とするストリ
ップエツジ部の厚さプロフィール測定方法。
(1) When measuring the thickness profile of the strip edge portion, (S) irradiates radiation toward the IJ strip edge portion, and converts the radiation that has passed through the strip edge portion into a radiation-to-electrical signal converter including an image sensor to measure the thickness. The thickness profile of the strip edge portion is determined from the information obtained by converting the strip profile information and edge position information into an electrical signal and performing averaging processing on the electrical signal. How to measure the thickness profile of a strip edge.
(2)前記放射線−電気信号変換手段が、ス) IJツ
ブエツジ部を透過した放射線を光に変換する短冊なシン
チレータと、該短冊型シンチレータから放出される光を
集光する光学レンズと、該光学レンズによシ集光された
光を電気信号に変換するイメージセンサとからなる%訃
請求の範囲第1項に記載のストリップエツジ部の厚さプ
ロフィール測定方法。
(2) The radiation-to-electrical signal converting means comprises (s) a strip-shaped scintillator that converts radiation transmitted through the IJ edge portion into light, an optical lens that collects light emitted from the strip-shaped scintillator, and the optical The method for measuring the thickness profile of a strip edge portion according to claim 1, comprising an image sensor that converts light focused by a lens into an electrical signal.
(3)前記放射線−電気信号変換手段が、放射線感応型
イメージセンサかもなる特許請求の範囲第1項に記載の
ストリップエツジ部の厚さプロフィール測定方法。
(3) The method for measuring the thickness profile of a strip edge portion according to claim 1, wherein the radiation-electrical signal converting means is a radiation-sensitive image sensor.
(4)前記電気信号に対する平均化処理が、密すy 7
’ IJングを行い、平均値を用いるデジタルフィルタ
リングによって行われている特許請求の範囲第1項に記
載のストリップエツジ部の厚さプロフィール測定方法。
(4) The averaging process for the electrical signal is
' The method for measuring the thickness profile of a strip edge portion according to claim 1, wherein the method is performed by performing IJ and digital filtering using an average value.
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