JPS596015B2 - フレ−ミング装置 - Google Patents
フレ−ミング装置Info
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- JPS596015B2 JPS596015B2 JP12925582A JP12925582A JPS596015B2 JP S596015 B2 JPS596015 B2 JP S596015B2 JP 12925582 A JP12925582 A JP 12925582A JP 12925582 A JP12925582 A JP 12925582A JP S596015 B2 JPS596015 B2 JP S596015B2
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- 238000009432 framing Methods 0.000 title claims description 58
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 26
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 19
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 28
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-ZSJDYOACSA-N Heavy water Chemical compound [2H]O[2H] XLYOFNOQVPJJNP-ZSJDYOACSA-N 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 239000002775 capsule Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000009416 shuttering Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/50—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output
- H01J31/501—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output with an electrostatic electron optic system
- H01J31/502—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output with an electrostatic electron optic system with means to interrupt the beam, e.g. shutter for high speed photography
Landscapes
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電子ビームのシャッタおよびフレーミング作
用をするフレーミング管を用いて極めて短い測定時間と
間隔で画像を得るフレーミング装置に関する。
用をするフレーミング管を用いて極めて短い測定時間と
間隔で画像を得るフレーミング装置に関する。
例えばレーザ・ビームで重水のカプセルを爆縮したとき
に生じる極めて高速で変化する核融合の現象を高い時間
精度で得た連続した画像は核融合炉の開発などの貴重な
資料となる。
に生じる極めて高速で変化する核融合の現象を高い時間
精度で得た連続した画像は核融合炉の開発などの貴重な
資料となる。
このような撮影には極めて短い露光時間と露光間隔が要
求される。
求される。
(以下この発明では画像のサンプリング期間を露光時間
、サンプリング間隔を露光間隔と言うことにする。
、サンプリング間隔を露光間隔と言うことにする。
)フレーミング撮像装置はこのような用途に用いられる
装置で、フレーミング管はフレーミング撮像装置の中枢
に用いられる真空管である。
装置で、フレーミング管はフレーミング撮像装置の中枢
に用いられる真空管である。
従来のフレーミング撮像装置およびフレーミング管は次
に述べるような構造を有し、動作をするものであるが構
造および動作が複雑で、かつ露光時間や露光間隔につい
て十分な精度が得られない。
に述べるような構造を有し、動作をするものであるが構
造および動作が複雑で、かつ露光時間や露光間隔につい
て十分な精度が得られない。
従来のフレーミンク装置の第1例を第1図に示す。
1はフレーミンク管の断面で、円筒状気密容器11の第
1の透明な底面12の内壁に光電面13を形成し、光電
面に平行かつ近接した網状電極14を設け、円筒状気密
容器11の第2の透明な底面19の内壁に蛍光面18を
形成し、網状電極14と蛍光面18の光電子ビームの通
路を挾んで偏向電極16および17を設けて゛ある。
1の透明な底面12の内壁に光電面13を形成し、光電
面に平行かつ近接した網状電極14を設け、円筒状気密
容器11の第2の透明な底面19の内壁に蛍光面18を
形成し、網状電極14と蛍光面18の光電子ビームの通
路を挾んで偏向電極16および17を設けて゛ある。
なお15は集束電極である。
光電面13は直流電源24によって蛍光面18に対して
低電位に維持されているが、網状電極14は直流電源2
3および抵抗26によってさらに低電位に維持されてい
るので、光電面13に光学像Aが投影されても光電子は
網状電極14に遮断されるがパルス電源20から網状電
極14に第2図1に示すような正電圧矩形波パルスがコ
ンデンサ25を介して加えられた瞬間のみ通過し、同時
に偏向電極16と17の間にランプ電圧発生器27から
上記パルスが数個発生する期間に光電子ビームを蛍光面
18の一端から他端まで掃引するような第2図■に示す
ランプ電圧を加えて蛍光面18に上記パルスの時間間隔
ごとに変化した光学像Aを複数の画像Al 、A2゜A
3・・・として再現する。
低電位に維持されているが、網状電極14は直流電源2
3および抵抗26によってさらに低電位に維持されてい
るので、光電面13に光学像Aが投影されても光電子は
網状電極14に遮断されるがパルス電源20から網状電
極14に第2図1に示すような正電圧矩形波パルスがコ
ンデンサ25を介して加えられた瞬間のみ通過し、同時
に偏向電極16と17の間にランプ電圧発生器27から
上記パルスが数個発生する期間に光電子ビームを蛍光面
18の一端から他端まで掃引するような第2図■に示す
ランプ電圧を加えて蛍光面18に上記パルスの時間間隔
ごとに変化した光学像Aを複数の画像Al 、A2゜A
3・・・として再現する。
このようなフレーミング撮像装置ではパルス発生技術上
の問題から10ナノ秒以下の短い露光時間を得ることが
できない。
の問題から10ナノ秒以下の短い露光時間を得ることが
できない。
また露光間隔は、第2の画像A2が第1の画像A1に重
ならないように光電子ビーム偏向するに要する時間で決
まる。
ならないように光電子ビーム偏向するに要する時間で決
まる。
すなわち、ランプ電圧発生器27の送出する電圧の変化
の速度によって決まるが、50ナノ秒が限界である。
の速度によって決まるが、50ナノ秒が限界である。
なお、偏向電極16と17に加える電圧は、ランプ電圧
に代えて第2図■に示すようなパルス電源20から矩形
パルスが送出する期間は定常で矩形パルスが送出しない
ときに変化するような電圧であれば一層鮮明な画像が得
られる。
に代えて第2図■に示すようなパルス電源20から矩形
パルスが送出する期間は定常で矩形パルスが送出しない
ときに変化するような電圧であれば一層鮮明な画像が得
られる。
また網状電極14に正電圧パルスを加える代りに光電面
13に負電圧パルスを加えてもよいが、上記の露光時間
や露光間隔に関する性能の限界は同等である。
13に負電圧パルスを加えてもよいが、上記の露光時間
や露光間隔に関する性能の限界は同等である。
従来のフレーミング撮像装置の第2例を第3図に示す。
3はフレーミング管の断面で円筒状気密容器31の第1
の透明な底面32の内壁に光電面33を形成し、第2の
透明な底面41の内壁に蛍光面40を形成し、光電面3
3と蛍光面40の間に複数の平行なスリット板371,
372,373を有するスリット板37を光電面33と
蛍光面40の間にそれらと平行に設け、さらに光電面3
3とスリット板37の間に光電子の通路を挾んで偏向電
流35および36が対をなすように設けてあり、スリッ
ト板37と蛍光面40の間に光電子の通路を挾んで偏向
電極38および39が設けである。
の透明な底面32の内壁に光電面33を形成し、第2の
透明な底面41の内壁に蛍光面40を形成し、光電面3
3と蛍光面40の間に複数の平行なスリット板371,
372,373を有するスリット板37を光電面33と
蛍光面40の間にそれらと平行に設け、さらに光電面3
3とスリット板37の間に光電子の通路を挾んで偏向電
流35および36が対をなすように設けてあり、スリッ
ト板37と蛍光面40の間に光電子の通路を挾んで偏向
電極38および39が設けである。
なお、34は集束電極である。光電面33は直流電源4
2によってスリット板37に対して低電位に維持されて
いるから光電面33に光学像Bが投影されたとき放出す
る光電子はスリット板37に衝突する。
2によってスリット板37に対して低電位に維持されて
いるから光電面33に光学像Bが投影されたとき放出す
る光電子はスリット板37に衝突する。
このときランプ電圧発生器48から偏向電極35と36
の間にランプ電圧を加えると電子ビームはスリット37
L372゜373に垂直に掃引され、光電子ビームが構
成する像の一端から1@次スリット371を通過し、続
いて掃引速度とスリット間隔で決まる時間遅れてスリッ
ト372.さらにスリット3γ3を光電子ビーム像の一
端から順次通過する。
の間にランプ電圧を加えると電子ビームはスリット37
L372゜373に垂直に掃引され、光電子ビームが構
成する像の一端から1@次スリット371を通過し、続
いて掃引速度とスリット間隔で決まる時間遅れてスリッ
ト372.さらにスリット3γ3を光電子ビーム像の一
端から順次通過する。
さらにスリン)371,372,373を通過した光電
子ビームは、上記掃引速度とスリット間隔で決まる時間
間隔の間に変化した光学像Bを一端から時系列に配列し
たものであるから、ランプ電圧発生器47から偏向電極
38と39の間に逆極性のランプ電圧を加えると、蛍光
面上に上記時間間隔ごとの光学像Bを複数の画像Bl
、B2 、B3 として再現する。
子ビームは、上記掃引速度とスリット間隔で決まる時間
間隔の間に変化した光学像Bを一端から時系列に配列し
たものであるから、ランプ電圧発生器47から偏向電極
38と39の間に逆極性のランプ電圧を加えると、蛍光
面上に上記時間間隔ごとの光学像Bを複数の画像Bl
、B2 、B3 として再現する。
このフレーミング撮像装置によって得られる画像131
、B2.B3はいずれも時刻の異なる光学像Bの各
部分を再構成したものであって同一時刻の像ではない。
、B2.B3はいずれも時刻の異なる光学像Bの各
部分を再構成したものであって同一時刻の像ではない。
まだ、スリット板37で電子ビームの大部分を遮ってい
るので蛍光面40上で像を再現する光電子ビームの利用
率が悪い。
るので蛍光面40上で像を再現する光電子ビームの利用
率が悪い。
また、このようなフレーミング撮像装置ではランプ電圧
発生器47および48の送出する電圧の変化の速度の限
界によって露光時間および露光間隔が決まり、電子ビー
ム像がスリットを横切る時間100ピコ秒以下、蛍光面
40の上で像B1 とB2が重ならないために必要な偏
向時間50ナノ秒以下の露光時間および露光間隔を得る
ことは困難である。
発生器47および48の送出する電圧の変化の速度の限
界によって露光時間および露光間隔が決まり、電子ビー
ム像がスリットを横切る時間100ピコ秒以下、蛍光面
40の上で像B1 とB2が重ならないために必要な偏
向時間50ナノ秒以下の露光時間および露光間隔を得る
ことは困難である。
従来のフレーミング撮像装置の第3例を第4図に示す。
5はフレーミング管の断面で円筒状気密容器51の第1
の透明な底面52の内壁に光電面53を形成し、第2の
透明な底面64の内壁に蛍光面63を形成し、光電面5
3と蛍光面63の間にシャッタ電極56,57.補正電
極59.60、シフト電極61,62を設け、光電面5
3と蛍光面63の間に直流電圧源68を接続し、蛍光面
63に対応して光電面53を低電位に維持している。
の透明な底面52の内壁に光電面53を形成し、第2の
透明な底面64の内壁に蛍光面63を形成し、光電面5
3と蛍光面63の間にシャッタ電極56,57.補正電
極59.60、シフト電極61,62を設け、光電面5
3と蛍光面63の間に直流電圧源68を接続し、蛍光面
63に対応して光電面53を低電位に維持している。
このとき光電面に光学像Cが投撮されたとき、繰返し偏
向電圧発生器65からシャッタ電極56゜5γに第5図
■に示すような繰返し偏向電圧を加えて電子ビームを図
面の下から上へ偏向し、補正電極59,60に上記シャ
ッタ電極56.57とは逆の方向に同位相か僅かに遅延
した上記繰返し偏向電圧と同じ波形の偏向電圧を加える
ことによリ、特定の瞬間における電子ビームを通過させ
、さらに、ランプ電圧発生器66からシフト電極61、
62に上記電子ビームが蛍光面63を掃引するような第
5図Vに示すランプ電圧を加えて、蛍光面63の上に上
記繰返し電圧波形の周期の2分の1の時間間隔ごとに変
化した光学像Cを複数の画像C1、C2、C3として再
現する。
向電圧発生器65からシャッタ電極56゜5γに第5図
■に示すような繰返し偏向電圧を加えて電子ビームを図
面の下から上へ偏向し、補正電極59,60に上記シャ
ッタ電極56.57とは逆の方向に同位相か僅かに遅延
した上記繰返し偏向電圧と同じ波形の偏向電圧を加える
ことによリ、特定の瞬間における電子ビームを通過させ
、さらに、ランプ電圧発生器66からシフト電極61、
62に上記電子ビームが蛍光面63を掃引するような第
5図Vに示すランプ電圧を加えて、蛍光面63の上に上
記繰返し電圧波形の周期の2分の1の時間間隔ごとに変
化した光学像Cを複数の画像C1、C2、C3として再
現する。
なお第4図において54は集束電極、55はアノード電
極、58はアパーチャ板である。
極、58はアパーチャ板である。
このようなフレーミング撮像装置はランプ電圧発生器の
他に繰返し偏向電圧発生器を必要とする。
他に繰返し偏向電圧発生器を必要とする。
また、第1例の場合と同じ理由から露光時間はlOナノ
秒、露光間隔は繰返し偏向電圧の周期で決まり50ナノ
秒が限界である。
秒、露光間隔は繰返し偏向電圧の周期で決まり50ナノ
秒が限界である。
この例においてもシフト電極61と62に加える電圧は
ランプ電圧に代えて第5図■に示すような繰返し偏向電
圧がOボルトとなる前後では定常で、そうでないときに
変化するようノな電圧であれば一層鮮明な画像が得られ
る。
ランプ電圧に代えて第5図■に示すような繰返し偏向電
圧がOボルトとなる前後では定常で、そうでないときに
変化するようノな電圧であれば一層鮮明な画像が得られ
る。
以上3例のフレーミング撮像装置で用いられる偏向電圧
は数キロボルト以上の振幅と1ボルト/ピコ秒程度の高
速の電圧の変化を要するが、このように大きな振幅と高
速の電圧の変化をする電圧の発生は技術的に極めて困難
である。
は数キロボルト以上の振幅と1ボルト/ピコ秒程度の高
速の電圧の変化を要するが、このように大きな振幅と高
速の電圧の変化をする電圧の発生は技術的に極めて困難
である。
本発明は以上に述べたような従来のフレーミング撮像装
置の有する欠点を除去したフレーミング撮像装置を提供
することにある。
置の有する欠点を除去したフレーミング撮像装置を提供
することにある。
本発明によるフレーミング撮像装置は真空気密容器内に
設けた平行かつ対面する光電面と蛍光面の間に電極によ
り分割された複数の電子ビーム通路部分を持つシャツタ
板を有するフレーミング管を使用する。
設けた平行かつ対面する光電面と蛍光面の間に電極によ
り分割された複数の電子ビーム通路部分を持つシャツタ
板を有するフレーミング管を使用する。
被写体からの入射光は前記フレーミング管の複数の電子
ビーム通路部分に到達するように、半透明鏡等を含む光
学装置で、複数個に分割されて前記フレーミング管の光
電面の各部分に入射させられる。
ビーム通路部分に到達するように、半透明鏡等を含む光
学装置で、複数個に分割されて前記フレーミング管の光
電面の各部分に入射させられる。
フレーミング管のシャツタ板の前記電子ビームの通路に
対応する各電極の間にそれぞれ時間のずれたランプ電圧
を加えることにより、電子ビームのシャッタおよびフレ
ーミングが行われる。
対応する各電極の間にそれぞれ時間のずれたランプ電圧
を加えることにより、電子ビームのシャッタおよびフレ
ーミングが行われる。
本発明によるフレーミング撮像装置では露光間隔をきわ
めて短い時間において容易に変化させることができる。
めて短い時間において容易に変化させることができる。
以下、図面等を参照して本発明によるフレーミング撮像
装置を詳しく説明する。
装置を詳しく説明する。
第6図は本発明によるフレーミング撮像装置の実施例を
示す概略図である。
示す概略図である。
第7図は本装置で用いるフレーミング管のランプ電圧発
生回路の実施例を示す回路図である。
生回路の実施例を示す回路図である。
第8図はフレーミング管の動作を説明するための電圧波
形図である。
形図である。
第9図はフレーミング管のシャツタ板の正面図である。
第10図はフレーミング撮像装置により撮像されたフレ
ーミンク管の蛍光面上の像を示す図である。
ーミンク管の蛍光面上の像を示す図である。
第6図において、71は高速で変化する被観測体、72
,73,74,75,76.77および78ば、上記被
観測体71の像を2つに分け、それぞれの像を等しい光
路長で、次に詳細に述べるフレーミング管80の光電面
82の異なる部分に投影する光学装置を構成する。
,73,74,75,76.77および78ば、上記被
観測体71の像を2つに分け、それぞれの像を等しい光
路長で、次に詳細に述べるフレーミング管80の光電面
82の異なる部分に投影する光学装置を構成する。
72はリレーレンズ、77および78は結像レンズ、7
3は半透明鏡、74,75および76は反射鏡である。
3は半透明鏡、74,75および76は反射鏡である。
ここで像を2つに分けるとは像を幾何学的に2つの部分
に分割するのではなく、2つの同一な光学像を得ること
である。
に分割するのではなく、2つの同一な光学像を得ること
である。
線りおよびEは被観測体71から後述するフレーミング
管80の光電面82に結像する被観測体71の光学像ま
での光の径路を示す。
管80の光電面82に結像する被観測体71の光学像ま
での光の径路を示す。
80はフレーミング管の断面で有底円筒状の気密容器8
1の第1の底面内壁に光電面82を第2底面内壁に蛍光
面86を形成してあり、上記光電面82と蛍光面86の
間に順次メツシュ状の電[83,シャンタ板84.マイ
クロチャンネルプレート85を設けである。
1の第1の底面内壁に光電面82を第2底面内壁に蛍光
面86を形成してあり、上記光電面82と蛍光面86の
間に順次メツシュ状の電[83,シャンタ板84.マイ
クロチャンネルプレート85を設けである。
メツシュ状の電極83は後述するようにシャツタ板84
にその面に平行な電圧を加えたときに生ずるその面に沿
った電位勾配にも拘わらす光電面82から放出する光電
子をシャツタ板84の方向へ一様に加速するために設け
である。
にその面に平行な電圧を加えたときに生ずるその面に沿
った電位勾配にも拘わらす光電面82から放出する光電
子をシャツタ板84の方向へ一様に加速するために設け
である。
シャツタ板84は第9図に示したその正面図によって説
明すれば、その面に垂直に直径数十ミクロンの貫通孔が
極めて多数段けられ、それ自体適当な電気抵抗を有する
板状体の一部に導電体からなる層を間隔をおいて形成し
て電極841.843および845とし、上記電極に挾
まれる部分を光電子ビームの通路842および844と
するもので、シャツタ板84の電極841と843との
間の電圧がOボルトまたは十分小さいとき光電子ビーム
の通路842に貫通孔に平行に入射した電子は貫通孔を
通過できるが、所定の電圧より太さいとき貫通孔の内壁
に衝突して吸収される。
明すれば、その面に垂直に直径数十ミクロンの貫通孔が
極めて多数段けられ、それ自体適当な電気抵抗を有する
板状体の一部に導電体からなる層を間隔をおいて形成し
て電極841.843および845とし、上記電極に挾
まれる部分を光電子ビームの通路842および844と
するもので、シャツタ板84の電極841と843との
間の電圧がOボルトまたは十分小さいとき光電子ビーム
の通路842に貫通孔に平行に入射した電子は貫通孔を
通過できるが、所定の電圧より太さいとき貫通孔の内壁
に衝突して吸収される。
従って電極841と843の間に極性が反転するような
ランプ電圧を加えると電圧がOボルトとなる前後の極め
て短い期間のみ光電子ビームが通過するから電子ビーム
のシャッタとして動作する。
ランプ電圧を加えると電圧がOボルトとなる前後の極め
て短い期間のみ光電子ビームが通過するから電子ビーム
のシャッタとして動作する。
通路844も同様の動作を行う。85はマイクロチャン
ネルプレートと呼ばれる電子増倍器で、平板状をなし、
その面に垂直または数度傾けた孔が設けてあり、上記貫
通孔内壁は二次電子放出能を有するもので両面の間に電
圧を加えたとき、低電位の面から入射した電子の数を増
倍して高電位の面から放射するものである。
ネルプレートと呼ばれる電子増倍器で、平板状をなし、
その面に垂直または数度傾けた孔が設けてあり、上記貫
通孔内壁は二次電子放出能を有するもので両面の間に電
圧を加えたとき、低電位の面から入射した電子の数を増
倍して高電位の面から放射するものである。
直流電源91によってメツシュ電極83とシャツタ板8
4の中央の電極843の電位は光電面82より1キロボ
ルト高り保たれており、マイクロチャンネルプレート8
5のシャツタ板84に対面する面は直流電源92によっ
てメツシュ電極83よりさらに1キロボルト高く保たれ
ており、マイクロチャンネルプレート85の蛍光面86
に対面する面は直流電源93によってそのシャツタ板8
4に対面する面より、800ボルト高く保たれており、
蛍光面86は直流電源93によってそのシャツタ板84
に対面する面より、800ボルト高く保たれており、蛍
光面86に対面する面よりさらに3キロボルト高く保た
れている。
4の中央の電極843の電位は光電面82より1キロボ
ルト高り保たれており、マイクロチャンネルプレート8
5のシャツタ板84に対面する面は直流電源92によっ
てメツシュ電極83よりさらに1キロボルト高く保たれ
ており、マイクロチャンネルプレート85の蛍光面86
に対面する面は直流電源93によってそのシャツタ板8
4に対面する面より、800ボルト高く保たれており、
蛍光面86は直流電源93によってそのシャツタ板84
に対面する面より、800ボルト高く保たれており、蛍
光面86に対面する面よりさらに3キロボルト高く保た
れている。
シャツタ板84の電極841はランプ電圧発生器100
の出力端面図111より加える第8図に示す極性の反転
するランプ電圧■によって100ボルトから一100ボ
ルトまで変化する。
の出力端面図111より加える第8図に示す極性の反転
するランプ電圧■によって100ボルトから一100ボ
ルトまで変化する。
上記ランプ電圧は振幅がだかだか200で十分であるか
ら第7図に示すようなトリガパルス発生器108の送出
するトリガパルスによって導通するスイッチングトラン
ジスタ101でキャパシタ121の電荷を放電すること
によって極めて高速で変化するランプ電圧が得られ、従
ってシャッタ時間を極めて短くすることができる。
ら第7図に示すようなトリガパルス発生器108の送出
するトリガパルスによって導通するスイッチングトラン
ジスタ101でキャパシタ121の電荷を放電すること
によって極めて高速で変化するランプ電圧が得られ、従
ってシャッタ時間を極めて短くすることができる。
例えばランプ電圧の変化の速度が5ボルト/ピコ秒であ
り、入射電子のエネルギが1キロボルトであり、貫通孔
の内径25ミクロン、長さ5ミリメートル、電極841
と843との間隔をlOミリメートルとすれば16ピコ
秒の露出時間となる。
り、入射電子のエネルギが1キロボルトであり、貫通孔
の内径25ミクロン、長さ5ミリメートル、電極841
と843との間隔をlOミリメートルとすれば16ピコ
秒の露出時間となる。
同様に、シャツタ板84の電極845に上述のようなラ
ンプ電圧をランプ電圧発生器100の出力端112より
加えることによってシャッタ動作をする。
ンプ電圧をランプ電圧発生器100の出力端112より
加えることによってシャッタ動作をする。
このとき第7図のトリガパルス発生器108からスイッ
チングトランジスタ102のベースまでの伝送線路の長
さL2 をトリガパルス発生器108からスイッチング
トリガ101のベースまでの伝送線路の長さLl よ
り長くすることによって所望の時間だけ遅延させること
ができる。
チングトランジスタ102のベースまでの伝送線路の長
さL2 をトリガパルス発生器108からスイッチング
トリガ101のベースまでの伝送線路の長さLl よ
り長くすることによって所望の時間だけ遅延させること
ができる。
例えばLl よりL2を20ミリメートルだけ長くすす
ることによって約100ピコ秒遅延できる。
ることによって約100ピコ秒遅延できる。
さらに上記伝送線路の一部に第11図に示すような直列
のインダクタンス103と104およびその接続点に可
変キャパシタ105を並列に接続したT型回路網を挿入
し、可変キャパシタ105の容量をかえることによって
遅延時間を調整することができる。
のインダクタンス103と104およびその接続点に可
変キャパシタ105を並列に接続したT型回路網を挿入
し、可変キャパシタ105の容量をかえることによって
遅延時間を調整することができる。
このようにして得られたシャツタ板84の電極841に
加わる電圧の波形を第8図■に電極845に加わる電圧
を■に時間軸を共通にして示しである。
加わる電圧の波形を第8図■に電極845に加わる電圧
を■に時間軸を共通にして示しである。
上述の装置では、トリガパルス発生キャパシタ108は
独立にパルスを発生するが前述の被観測体71の光学像
を光電面82に投影するだめの光路長より短い光路長で
被観測体71の発する光を検知するピンフォトダイオー
ドの出力パルスを用いれば被観測体71の生ずる現象に
同期してフレーミング撮像することができる。
独立にパルスを発生するが前述の被観測体71の光学像
を光電面82に投影するだめの光路長より短い光路長で
被観測体71の発する光を検知するピンフォトダイオー
ドの出力パルスを用いれば被観測体71の生ずる現象に
同期してフレーミング撮像することができる。
また第6図において被観測体71から光電面までの二系
列の光路EとDは等しい光路長であるとして説明しだが
、これらの光路長に差があってもよい。
列の光路EとDは等しい光路長であるとして説明しだが
、これらの光路長に差があってもよい。
このときは前述のトリガパルス発生キャパシタ108か
らトランジスタ101および1020ベースまでの伝送
線路の長さを調整することによって補償することができ
る。
らトランジスタ101および1020ベースまでの伝送
線路の長さを調整することによって補償することができ
る。
上述の装置において被観測体71の像はリレーレンズ7
2を経て半透明鏡73によって透過するものと反射する
ものとの二系列に分岐され、一方は反射鏡74.75を
経て結像レンズによって光電面82のシャツタ板840
通路842に対向する部分に結像する。
2を経て半透明鏡73によって透過するものと反射する
ものとの二系列に分岐され、一方は反射鏡74.75を
経て結像レンズによって光電面82のシャツタ板840
通路842に対向する部分に結像する。
同様に他方は反射鏡76を経て光電面82のシャツタ板
84の通路844に対向する部分に結像する。
84の通路844に対向する部分に結像する。
従ってこれら2つの光学像はそれぞれ光電子ビーム像に
変換され、メツシュ電極83により加速され、シャツタ
板84の通路842および844に入射する。
変換され、メツシュ電極83により加速され、シャツタ
板84の通路842および844に入射する。
この光電子ビームはシャツタ板84の面に沿って100
ボルト印加しであるから、貫通孔の管壁に吸収されシャ
ツタ板84の通路を通過できない。
ボルト印加しであるから、貫通孔の管壁に吸収されシャ
ツタ板84の通路を通過できない。
このとき電極841に第8図■に示すランプ電圧が、電
極845に第8図■に示すランプ電圧が加えられるとそ
れぞれ絶対値が40ボルト以下となる16ピコ秒間のみ
電子ビームは通過する。
極845に第8図■に示すランプ電圧が加えられるとそ
れぞれ絶対値が40ボルト以下となる16ピコ秒間のみ
電子ビームは通過する。
上述のランプ電圧■と■は前述のように伝送線路の長さ
の差によって100ピコ秒だけずらして発生すれば第1
0図に示すように100ピコ秒の時間をおいた被観測体
71の像711および712が蛍光面86上に得られる
。
の差によって100ピコ秒だけずらして発生すれば第1
0図に示すように100ピコ秒の時間をおいた被観測体
71の像711および712が蛍光面86上に得られる
。
このとき可変キャパシタ105の容量を変化することに
よって2つの像711と712の時間差を変えることが
できる。
よって2つの像711と712の時間差を変えることが
できる。
以上の説明は電子ビームの通路が2個所である場合につ
いて述べだがより多いときも本発明が成り立つことは明
白である。
いて述べだがより多いときも本発明が成り立つことは明
白である。
このとき、より多くの反射鏡でより多くの光学像に分割
しなければならないが、電子ビームの通路の個所に相当
するそれぞれ時間間隔をもった像を得ることができる。
しなければならないが、電子ビームの通路の個所に相当
するそれぞれ時間間隔をもった像を得ることができる。
なお被観測体の発する光の強度の変化のみを観測すれば
よいときは、被観測体の像を結像する結像レンズを省略
することができる。
よいときは、被観測体の像を結像する結像レンズを省略
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のフレーミング撮像装置の第1例を示す図
である。 第2図は第1図のフレーミング撮像装置において用いら
れる電圧波形を示す図、第3図は従来のフレーミング撮
像装置の第2例を示す図、第4図は従来のフレーミング
撮像装置の第3例を示す図で第5図は第4図のフレーミ
ング撮像装置において用いられる電圧波形を示す図であ
る。 第6図は本発明によるフレーミング撮像装置の実施例を
示す概略図である。 第7図は本装置で用いるフレーミング管のランプ電圧発
生回路の実施例を示す回路図である。 第8図はフレーミング管の動作を説明するだめの電圧波
形図である。 第9図はフレーミング管のシャツタ板の正面図である。 第10図はフレーミング撮像装置により撮像されたフレ
ーミング管の蛍光面上の像を示す図である。 第11図はランプ電圧発生器に必要に応じて挿入される
遅延回路の図である。 71・・・被観測体、72・・リレーレンズ、73・・
・半透明鏡、74,75,76・・・反射鏡、77.7
8・・・結像レンズ、80・・・フレーミング!’、8
1・・・フレーミング管の容器、82・・・光電面、8
3・・・メツシュ状iE極、84・・・シャツタ板、8
41,842゜843・・・シャツタ板の偏向電極、8
42.843・・・シャツタ板の電子ビーム通路部分、
85・・・マイクロチャンネルプレート、86・・・蛍
光面、100・・・ランプ電圧発生回路、101,10
2・・・ランプ電圧発生回路に含まれるスイッチングト
ランジスタ。
である。 第2図は第1図のフレーミング撮像装置において用いら
れる電圧波形を示す図、第3図は従来のフレーミング撮
像装置の第2例を示す図、第4図は従来のフレーミング
撮像装置の第3例を示す図で第5図は第4図のフレーミ
ング撮像装置において用いられる電圧波形を示す図であ
る。 第6図は本発明によるフレーミング撮像装置の実施例を
示す概略図である。 第7図は本装置で用いるフレーミング管のランプ電圧発
生回路の実施例を示す回路図である。 第8図はフレーミング管の動作を説明するだめの電圧波
形図である。 第9図はフレーミング管のシャツタ板の正面図である。 第10図はフレーミング撮像装置により撮像されたフレ
ーミング管の蛍光面上の像を示す図である。 第11図はランプ電圧発生器に必要に応じて挿入される
遅延回路の図である。 71・・・被観測体、72・・リレーレンズ、73・・
・半透明鏡、74,75,76・・・反射鏡、77.7
8・・・結像レンズ、80・・・フレーミング!’、8
1・・・フレーミング管の容器、82・・・光電面、8
3・・・メツシュ状iE極、84・・・シャツタ板、8
41,842゜843・・・シャツタ板の偏向電極、8
42.843・・・シャツタ板の電子ビーム通路部分、
85・・・マイクロチャンネルプレート、86・・・蛍
光面、100・・・ランプ電圧発生回路、101,10
2・・・ランプ電圧発生回路に含まれるスイッチングト
ランジスタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 真空気密容器の第1の内面に設けられだ光電面、前
記容器の前記第1の内面に平行な第2の面に設けられた
蛍光面、前記蛍光面と光電面間に偏向電極で分割され、
それぞれ衝突した電子を吸収する内面を持つ多数の貫通
孔を有する複数の電子ビーム通路部分を持つシャツタ板
を含むフレーミング管と、被観測体からの光を分割して
前記フレーミング管の複数の電子ビーム通路部分に対応
する光電面上の複数の位置に導く光学装置と、前記フレ
ーミング管のシャツタ板の複数の電子ビーム通路部分に
時間のずれたランプ電界を供給するように前記偏向電極
にランプ電圧を供給するランプ電圧発生器とから構成し
たフレーミング装置。 2 前記光学装置は被観測体の同一時点の像を複数に分
割する半透明鏡と、分割された像を前記フレーミング管
の複数の電子ビーム通路部分に対応する光電面方向に導
く反射鏡と、前記光電面上に結像する光学レンズとから
構成されている特許請求の範囲第1項記載のフレーミン
グ装置。 3 前記ランプ電圧発生器が発生する各電子ビーム通路
部分に対応するランプ電圧間の前記時間のずれは、ラン
プ電圧発生器に設けられた遅延回路の遅延時間を調節す
ることにより可変である特許請求の範囲第1項記載のフ
レーミング装置。 4 前記フレーミング管のシャツタ板の上下端およびそ
の中間の位置に設けられた3枚の偏向電極と2つの電子
ビーム通路部分を持つ特許請求の範囲第1項記載のフレ
ーミング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12925582A JPS596015B2 (ja) | 1982-07-23 | 1982-07-23 | フレ−ミング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12925582A JPS596015B2 (ja) | 1982-07-23 | 1982-07-23 | フレ−ミング装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55143984A Division JPS58146B2 (ja) | 1980-10-14 | 1980-10-14 | フレ−ミング管 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5825043A JPS5825043A (ja) | 1983-02-15 |
| JPS596015B2 true JPS596015B2 (ja) | 1984-02-08 |
Family
ID=15005044
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12925582A Expired JPS596015B2 (ja) | 1982-07-23 | 1982-07-23 | フレ−ミング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS596015B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60176232U (ja) * | 1984-05-02 | 1985-11-21 | 東洋紡績株式会社 | 吸着用エレメント |
-
1982
- 1982-07-23 JP JP12925582A patent/JPS596015B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5825043A (ja) | 1983-02-15 |
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