JPS5948896A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

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Publication number
JPS5948896A
JPS5948896A JP57159955A JP15995582A JPS5948896A JP S5948896 A JPS5948896 A JP S5948896A JP 57159955 A JP57159955 A JP 57159955A JP 15995582 A JP15995582 A JP 15995582A JP S5948896 A JPS5948896 A JP S5948896A
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JP
Japan
Prior art keywords
switch element
transistor
channel type
series
integrated circuit
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Pending
Application number
JP57159955A
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Japanese (ja)
Inventor
Akira Yamaguchi
明 山口
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS5948896A publication Critical patent/JPS5948896A/en
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards

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  • Read Only Memory (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a semiconductor IC such as a semiconductor memory, etc. which works on a single power supply and can be converted into a high degree of integration, by forming the regions adjacent to each other for n and p channel type transistors and then actuating these two regions independently of each other. CONSTITUTION:The n and p channel type transistor regions 111 and 112 as well as 113 and 114 are adjacent to each other and then switched by common gate wirings 12, 13, 15 and 16 so that the region of one side is on while the other region is off respectively. Then these regions are actuated independently of each other. In the same way, n and p type transistors which form the memories of regions 111 and 112 as well as 113 and 114 are selected independently of each other by common gate lines 141, 142-. Thus the contents of storage are read out in response to the presence or absence of transistors. Thus it is possible to obtain a semiconductor IC such as a semiconductor memory, etc. which works on a single power supply and can be converted into a high degree of integration.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は実質的に絶縁・吻である基板上にROM(読み
出し専用メモリー)全形成する場合に適する半導体14
す積回路に関する。
Detailed Description of the Invention [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a semiconductor 14 suitable for forming a ROM (read only memory) entirely on a substantially insulating substrate.
Related to product circuits.

〔発明の技術的背景及びその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

MO8型集積画集積回路積化、高性能化の一手段として
、e祿基板上に成長された半専体層に半導体素子を形成
するいわゆるSO8(5iliconOn 5apph
ire ) jfjj造の半導体装tf’Lがある。従
来のSO8型ROMは第1図のようなパターン構成にな
っており、メモリーセル部分が片チャネル(この場合N
チャネル)によって414成されている。ここで記憶デ
ータの内容は入力信号■1〜In上でのトランジスタの
有無によって決定される。第1図において11〜14は
Nチャネル(Wトランジスタ形成半導体領域、21+2
2+31..3nはダート配線、41〜44は出力配線
、ハツチング部分はトランジスタ部分、51 。
MO8 type integrated circuit As a means of integrating and improving the performance of an integrated circuit, so-called SO8 (5 silicon on 5apph) is used to form semiconductor elements on a semi-dedicated layer grown on an e-layer substrate.
There is a semiconductor device tf'L manufactured by JFJJ. The conventional SO8 type ROM has a pattern configuration as shown in Figure 1, and the memory cell portion is one channel (in this case, N
414 channels). Here, the contents of the stored data are determined by the presence or absence of transistors on the input signals 1-In. In FIG. 1, 11 to 14 are N channel (W transistor forming semiconductor regions, 21+2
2+31. .. 3n is a dirt wiring, 41 to 44 are output wirings, the hatched part is a transistor part, and 51.

52は電源VDD l vss配線部である。52 is a power supply VDD l vss wiring section.

第2図は不出1願人によって出IA:口されたSO8W
ROMである(特願昭56−75164号)。このもの
はPチャイ・ル型トランノスタ形成半導体碩域を電源V
ss ”= Vc (接地)、Nチャネル型トランジス
タ形成半導体領域をV。〜■DDの電圧範囲で動作させ
る。これによってPチャイ・ル型トランジスタ形成半導
体領域とNチャネル型トランジスタ形成半導体領域は逆
バイアスされているため、実質上絶縁状態になっており
、かつ上記両領域を相接構造にできるため、集;青変を
尚くできるものである。第2図において61  r64
はPチャネルをトランジスタ形成半導体領域、6216
3はNチャネル型トランジスタ形成半導体領域、53は
V。(接地)電位配線、21.22.31.32・・・
3nはダート配線である。また左下がりの−・ツチ/グ
部分はPチャネル型トランジスタ、右下がりの・・ッチ
ング部分はNチャネル型トランジスタ部分である。
Figure 2 shows SO8W filed IA: filed by the non-filing applicant.
It is a ROM (Japanese Patent Application No. 75164/1983). This one connects the P-chael-type transnostar-forming semiconductor region to the power supply V.
ss ” = Vc (ground), and the semiconductor region where the N-channel type transistor is formed is operated in the voltage range of V. to ■DD. As a result, the semiconductor region where the P-channel type transistor is formed and the semiconductor region where the N-channel type transistor is formed are reverse biased. 61 r64 in FIG.
is a P-channel transistor forming semiconductor region, 6216
3 is an N-channel transistor forming semiconductor region, and 53 is V. (Ground) potential wiring, 21.22.31.32...
3n is a dirt wiring. Further, the downward-left-cutting part is a P-channel type transistor, and the downward-rightward-cutting part is an N-channel type transistor.

第1図の構成の問題点は、・領域11ないし14相互曲
にそれぞれ一定間隔のギャッffz介在されているだめ
集積度が悪い。また第2図の構成の間門点は、v88 
+ VG + VDDという2市源方式となることであ
る。
The problems with the configuration shown in FIG. 1 are as follows: Gaps ffz are provided at regular intervals between the regions 11 to 14, resulting in poor integration. Also, the starting point of the configuration in Figure 2 is v88
This means that there will be a two-source system: + VG + VDD.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、市集積化を
実現しかつ単−奄諒で動作させ得る半導体メモリー等の
半導体集積回路k ”H供しようとするものである。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and is intended to provide a semiconductor integrated circuit k''H such as a semiconductor memory, which can be integrated in a large area and can be operated in a simple manner.

〔発明の曲、要〕[Song of invention, essential]

本発明は上6己目的を達成するために、Pチャネル型ト
ランノスク形成半2d体領域とNチャネル型トランジス
タ形成半導体・領域を相続して高集積化をはかるが、上
記各領域ケ同−′亀d腋に接続し、かつt湿間で動作時
の′亀(JM jI+4’;路をなくし、隣接回路間で
相互に独立動作金目J irf;としたものである。
In order to achieve the above object, the present invention aims at high integration by inheriting the P-channel type transistor forming semi-conductor region and the N-channel type transistor forming semiconductor region. When connected to the armpit and operated in a humid environment, the circuit is removed and adjacent circuits operate independently of each other.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第3
図は同実施例の構成を示すパターン平面図、第4図は第
3図の1−1線、n−n線に活って形成される回路図、
第5図はI−1線に市う断面図である。図中111  
+112  +113.114はI−1線、■−■線、
III−III線、IV−IVilにfaうNチャネル
型、Pチャネル型、Nチャネル型、Pチャネル型トラン
ジスタ形成半導体領域であり、Nチャネル型領域111
と入力Iのr−)配線12、入力φのダート配線J3、
入力It+Inのケ”−ト配線141゜14n、入力φ
、■のダート配線15.16との交差部には、Nチャネ
ル型トランジスタ■1.。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. Third
The figure is a pattern plan view showing the configuration of the same embodiment, and FIG. 4 is a circuit diagram formed along lines 1-1 and nn in FIG. 3.
FIG. 5 is a sectional view taken along line I-1. 111 in the diagram
+112 +113.114 is I-1 line, ■-■ line,
The N-channel type, P-channel type, N-channel type, and P-channel type transistor forming semiconductor regions are located along the III-III line and IV-IVil, and the N-channel type region 111
and r-) wiring 12 of input I, dirt wiring J3 of input φ,
Input It+In gate wiring 141°14n, input φ
An N-channel transistor ■1. .

NjN、+ N 111 NI n + Iφs1 *
 IN’1カ形成サ形成サナャネル型訓域112とダー
ト配線12.13゜J42 .14ng15g16との
交差部にはPチャネル型MOSトランジスタI pl 
* I$p1 t PI3 rPln、IφPI ? 
IP’1が形成され、Nチャネル型領域113 とf−
)配#i!12 、13 * 1411142+15.
16との交差部にはNチャネル型MO8)ランノスタI
N2 r I$N2 t N21 + N22 r I
φN211N′2が形成され、Pチャネル型唄域114
とダート配線12@13 .141  r14nH15
+16との交差部にt、:t Pチャネル型MO8)ラ
ンノスタIP2 * l1p2νP21 t P2n 
t IφP2 e Ip’2が形成される。またNチャ
ネルl1i)、領域111及びこれと相接配置されるP
チャネル型・IJl城11゜は、一端1i11で正電位
側の可諒VDI)の配線17と接続され、他端側で接地
If位■6の配線18と接続される。Nチャネル型領域
113及びこれと相接配置さルるPチャネルを領域11
4は一端IN!Iで1枕源vDDの配線12と接続され
、他端側で接Jル配線18と接続される。1/こ領域1
11〜114μ出力02  r O+  + 03 +
 04の配、腺191〜194と接続される。なお、第
3図のメモリ一部分のN 12 * P 11 r N
 2n + P 22の部分は、ケ9−ト絶縁膜が厚く
て実質量にfVloi−i型トランジスタが形成されな
い個所を示す。また第5図において21はサファイア基
板、22は絶縁ノ漠である。また第4図において31は
、Pチャネ/lz型領域112とNチャネル型領域11
1とが相接配置されることにより形成されるダイオード
である。
NjN, + N 111 NI n + Iφs1 *
IN'1 formation sensor formation channel type training area 112 and dirt wiring 12.13°J42. At the intersection with 14ng15g16, there is a P-channel MOS transistor Ipl.
* I$p1 t PI3 rPln, IφPI?
IP'1 is formed, and N channel type region 113 and f-
) Distribution #i! 12, 13 * 1411142+15.
At the intersection with 16, there is an N-channel type MO8) Lannostar I.
N2 r I$N2 t N21 + N22 r I
φN211N'2 is formed, and the P channel type singing region 114
and dirt wiring 12@13. 141 r14nH15
t at the intersection with +16: t P-channel type MO8) Lannostar IP2 * l1p2νP21 t P2n
t IφP2 e Ip'2 is formed. Also, the N channel l1i), the region 111 and the P disposed adjacent to this
The channel type IJl castle 11° is connected at one end 1i11 to the wiring 17 of the positive potential side (VDI), and at the other end to the wiring 18 at the ground If level (6). The N-channel region 113 and the P-channel region 113 disposed adjacent to the N-channel region 113
4 is IN! It is connected to the wiring 12 of one pillow source vDD at I, and connected to the contact J line wiring 18 at the other end. 1/this area 1
11~114μ output 02 r O+ + 03 +
04 is connected to glands 191-194. In addition, N 12 * P 11 r N of a part of the memory in FIG.
The 2n + P 22 portion indicates a portion where the gate insulating film is thick and no fVloi-i type transistor is formed in a substantial amount. Further, in FIG. 5, 21 is a sapphire substrate, and 22 is an insulating layer. Further, in FIG. 4, 31 indicates the P channel/lz type region 112 and the N channel type region 11.
1 are placed in contact with each other.

第3図、第4図の回路構成の特倣は、Pチャネル型頑域
とNチャネル4シ頭域と金相法構造とし、′電源vDD
 * VG 2 電源として構成される回路にPチャイ
・ル、Nチャイ・ル選択信号工を設け、Pチャネルが形
成されている#諒域の回路ヲ9.す作させるときには、
Nチャネルが形成されている領域の回路全オフ状態とす
る。Pチャネル帖領域を動作させる時は、これに相接す
るNチャネル型領域は単なる出力容性とノよシ、半導体
メモリーとしで正帛に動作する。
The special imitation of the circuit configuration in Figs. 3 and 4 is a P-channel type robust area, an N-channel type 4-head area, and a metal phase structure, and the 'power source vDD
* VG 2 A circuit configured as a power supply is provided with a P-channel and N-channel selection signal, and the circuit in the # area where a P channel is formed is 9. When making a work,
All circuits in the region where the N channel is formed are turned off. When the P-channel region is operated, the N-channel region adjacent thereto operates normally as a semiconductor memory rather than a mere output capacitor.

第3図、第4図の動作r説明するが、まずマトリクス状
に配列されたメモリーセル上のN12の部分にトランジ
スタが形成されているか否かの・炭山データを得る方法
を説明する。最初にP。
The operations in FIGS. 3 and 4 will be explained. First, a method for obtaining data on whether or not a transistor is formed in the N12 portion on the memory cells arranged in a matrix will be explained. First P.

N選択信号■を”■″(高)レベルとする。また人力I
2を除く入力データ信号11+I3+・・・Inの全て
に″Hnレベルを入力する。上記柔性で化分φ’k ”
 H″レベルするとトランジスタlN1tItN1* 
IN′Iがオンし、トランジスタI、1.Iト1.■φ
N1 t IP’1がオフする。このため出力02はL
”(低)レベルにノ°リチャージされる。この時トラン
ジスタI4N1 + Ipl 。
The N selection signal ■ is set to the "■" (high) level. Also, human power I
``Hn level is input to all of the input data signals 11+I3+...In except 2.The above flexibility makes the difference φ'k''
When the level is H'', the transistor lN1tItN1*
IN'I turns on, transistors I, 1. I 1. ■φ
N1 t IP'1 turns off. Therefore, output 02 is L
” (low) level. At this time, the transistor I4N1 + Ipl.

■、′1がオフだから、電源VDDからV。へ到る血流
経路は形成されることはない。仄に入力φを”l(”レ
ベルとすると、トランジスタリN1゜Ipl r Ip
’1 r Iφ2.がオフし、トランジスタIφpal
IN111N’lがオンする。またメモリーセル部分で
は、トランジスタN I I  + N 13’;’N
 1 n及びPt2はオンし、トランジスタNl 2 
+ pt I + Pl3 t・・・PtHfdオフす
る。この場合N12の部分にはトランジスタが形成され
ておらず、このN120部分は、第5図のダート配線I
2の1方のN形層でわかるように、その両隣にあるトラ
ンジスタ間全短絡した構造?とって、そのI2への信号
に拘わらず常に短絡状態を保つので、電源VDDと出力
02上の全てのトランジスタオン状Iと4に伴い、出力
02は″)(”(VDD )となる。このことがらN1
2の部分には°゛トランジスタし″というデータが検出
される。この時トランジスタIφN11 I、 t I
P’、i・;t: 、t 7 タカラ、電源VDDから
voへ到る電流経路は形成されない。
■, '1 is off, so V from the power supply VDD. No blood flow path is formed. If the input φ is set to "l" level, the transistor level N1゜Ipl r Ip
'1 r Iφ2. is turned off, and the transistor Iφpal
IN111N'l turns on. In addition, in the memory cell part, the transistor N I I + N 13';'N
1 n and Pt2 are turned on, transistor Nl 2
+ pt I + Pl3 t...PtHfd is turned off. In this case, no transistor is formed in the N12 part, and this N120 part is the dirt wiring I in FIG.
As you can see in one of the N-type layers in 2, is the structure in which the transistors on both sides are completely shorted? Therefore, with the power supply VDD and all transistors I and 4 on output 02 on, the output 02 will be ``)(''(VDD). Things N1
Data indicating "transistor" is detected in the part 2. At this time, the transistor IφN11 I, t I
P', i.;t: , t 7 Takara, no current path from the power source VDD to vo is formed.

次にメモリーセルP12の部分にトランジスタが形成さ
れているか否かの検出データを得る方法を説明する。ま
ずP 、 N運択信号工を”L”レベルにする。また入
カニ2を除く入カデークI!+I3・・・Inの全てに
L”レベルを入力する。I2に″H#レベルを入力する
。上記条件下で入カフを”L″レベルすると、トランジ
スタI  、I−がオンし、トランジスタ■N1゜Pl
   φP1 1iN1+IφI’111N’1がオフする。このため
出力01は″L#レベルにプリチャージされる。この時
トランジスタIφP11 INl 1 r、/1はオフ
だから、電源VDDからvGへ到る電流経路は形成され
ないものである。仄に入力φを″L#レベルにすると、
トランジスタエv、1.■N1.IN′1.IφN1が
オフし、トランジスタIφN11 IP1副バが71−
7する0またメモリーセル部分ではトランジスタP目I
P13.・・・Pln(但しpHの=/)−ぐよ’tx
x 、qrh 個所)及びNtzはオンし、Pt2の部
分にトランジスタが形成されているとすれば、トランジ
スタPt2←Lオフする。
Next, a method for obtaining detection data indicating whether a transistor is formed in the memory cell P12 will be described. First, set the P and N operation signal to "L" level. Also, Irikadeku I excluding Irikani 2! +I3...Input L" level to all In. Input "H# level to I2. When the input cuff is set to "L" level under the above conditions, transistors I and I- turn on, and transistor ■N1゜Pl
φP1 1iN1+IφI'111N'1 is turned off. Therefore, the output 01 is precharged to the "L# level. At this time, the transistor IφP11 INl 1 r, /1 is off, so a current path from the power supply VDD to vG is not formed. ``When set to L# level,
Transistor v, 1. ■N1. IN'1. IφN1 is turned off, and the transistor IφN11 IP1 sub-bar becomes 71-
7 to 0 Also, in the memory cell part, the transistor Pth I
P13. ...Pln (however, pH=/) - Guyo'tx
x, qrh) and Ntz are turned on, and if a transistor is formed in the Pt2 portion, the transistor Pt2←L is turned off.

−どのため、P11+P111.lφP111P’fの
ベニ)、1jIIにも拘わらず、ル、d帛VDDと出力
O1とのliJのノtri路は1鬼蘭され、出力OxM
よ′°L#レベルを保持する。このことがらptzの部
分には°′トランノスタあり”というr−夕か4芙出さ
れるものである。
-For which reason, P11+P111. Despite lφP111P'f's Beni) and 1jII, the notri path of liJ between VDD and output O1 is 1 kiran, and the output OxM
Maintain the L# level. For this reason, in the ptz part, the r-yuka 4 part, ``°'' with trannosta,'' is displayed.

なお本発明は上記実J)l!l廿1.Iのみに1奴らf
rることなく個々の応用が1」能である。1ノ(1えば
本回路で用いるトランジスタ(〆ま、エノ・・ンスメン
ト型であってもデプレッション型であってもよい。また
電類■DゎとvGの位置は、実施1り1とは逆の配置(
λでめってもよい。また回路金・h’i n又する基板
は実質的に+Ne g=体であればよく、サファイア基
板のみに限定されるものではない。′グ/こし1」え&
;L第4図において、出力はトランジスタNll〜N1
.の直列回路の一端または他端、トランジスタP12〜
P1nの直列回路の一端または他y−から取り出すよう
にしてもよい。丑た例えば第4図において、ダートイハ
号を選択することによ#)l・ランジスタIN4.■φ
N1はPチャイ・ル型とし、トランジスタIP11 I
≠P1はNチャネル型としてもよい。
Note that the present invention is based on the above-mentioned actual J)l! 1. There's only one person for me
Individual applications are possible without any problems. 1 (For example, the transistor used in this circuit (〆ma) can be either an efficiency type or a depression type. Also, the positions of the electrical components Dゎ and vG are opposite to those in Example 1 and 1. The arrangement of (
You can also use λ. Further, the circuit gold/h'i n or substrate may be substantially +Ne g=, and is not limited to a sapphire substrate. 'G/Koshi1'E&
;L In Fig. 4, the output is from transistors Nll to N1.
.. One end or the other end of the series circuit of transistors P12~
It may be taken out from one end of the series circuit of P1n or from the other y-. For example, in Fig. 4, by selecting the DART IHA #) l transistor IN4. ■φ
N1 is a P-chael type, and the transistor IP11 I
≠P1 may be an N-channel type.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した如く本発明によれVよ、Nチャネル型トラ
ンジスタ全形成する領域とPチャネル型トランジスタ全
形成する1ノ貝域を相接する構造としたから1踵集積化
が可能であり、また相接された一方の回路全動作させる
とキ(lよ、他力の回路の%′源糸系統−断つようにし
たので、一方の回路のみ動作させることができる。即ち
第1チヤネル型の回路網と第2チヤネル41Jの回路網
との回路機能を異ならせておき、これらの回路網をd択
動作させることにより集積回路の多機能化が可能となる
。例えば上記回路Ni1l ’c ROMとして構成す
れは、2槍類のゾログラムに応じだ核能を果たすことが
できる。また回路′−諒は一電源で済ますことができる
As explained above, according to the present invention, since the region where all the N-channel transistors are formed and the one-hole region where all the P-channel transistors are formed are in contact with each other, single-layer integration is possible, and it is possible to If you operate all the connected circuits, you will be able to operate only one of the connected circuits (I cut off the %' source line of the other circuit, so you can operate only one circuit. In other words, the first channel type circuit network By making the circuit functions of the circuit network and the circuit network of the second channel 41J different, and by selectively operating these circuit networks, it is possible to make the integrated circuit multi-functional. can perform nuclear functions according to the zolograms of two lances.Also, the circuit requires only one power source.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のSO8型ROMのパターン平面図、第2
図はその改良型の・ぐターン平面図、第3図は本発明の
一実施例のパターン平面図、第4図は同パターンの等価
回路図、卯、5図C[同)やターンのI−I線に浴う断
面図である。 ”l rl13・・・NチャネルQトランノスタ形成領
域、172  + 174・・・Pチャネル型トランジ
スタ形成領域、Iφ、1・・・第1のスイッチス・子、
IP’1・・・第2のスイッチ;:・二子、Iφp1・
・・第3のスイッチ素子、■P1・・・第4のスイッチ
7)・、子、1い1・・・第5のスイッチ素子、−′1
・・・第6のスイッチ素子、I<1lN1・・・第7の
スイッチ素子、INl・・・第8のスイッチ素子、vD
D、vo・・・′市原。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 豚箱1図 11121314 第 2 k 1 第3図 I I  11 111   mlS7 第4図
Figure 1 is a pattern plan view of a conventional SO8 type ROM;
The figure is a plan view of an improved type of turn, Figure 3 is a plan view of a pattern of an embodiment of the present invention, Figure 4 is an equivalent circuit diagram of the same pattern, Figure 5C [same] and I of a turn. - It is a sectional view taken along the I line. "l rl13... N-channel Q transistor formation region, 172 + 174... P-channel type transistor formation region, Iφ, 1... First switching child,
IP'1...Second switch;:・Futako, Iφp1・
...Third switch element, ■P1...Fourth switch 7), child, 1-1...Fifth switch element, -'1
...Sixth switch element, I<1lN1...Seventh switch element, INl...Eighth switch element, vD
D, vo...' Ichihara. Applicant's agent Patent attorney Takeshi Suzue Pork box 1 Figure 11121314 No. 2 k 1 Figure 3 I I 11 111 mlS7 Figure 4

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)第1の電位供給端と第2の電位供給端との間に直
列接続された第1スイツチ累子、第1論理部の第1チャ
ネル型MOSトランジスタ及び第2スイツチ素子と、上
記第1の電位供給端と第2の電位供給端との間に直列接
続された第3スイツチ素子、第2論理部の第2チャネル
型MO8)ランノスタ及び第4スイツチ素子と、上記各
論理部のMOS )ランジスタのダート電極に接続され
た入力端と、上記第1及び第2論理部にそれぞれ接続−
された第1及び第2出力端と、上記第1スイツチ素子及
び第2スイツチ素子を同時にオン(オフ)させたとき第
3スイツチ素子及び第4スイツチ素子を同時にオフ(オ
ン)するように制御する手段と4を具制し、上記第1チ
ヤネル型MO8)ランジスク系統の回路機能と第2チャ
ネル型MO8)ランジスタ系統の回路機能とを選択的に
独立させて動作できるようにしたことを特偵とする半導
体集、(l(回路。
(1) A first switch element, a first channel type MOS transistor of the first logic section, and a second switch element connected in series between the first potential supply terminal and the second potential supply terminal; A third switch element connected in series between the first potential supply terminal and the second potential supply terminal, a second channel type MO8) of the second logic section, a runnostar and a fourth switch element, and the MOS of each of the above logic sections. ) The input end connected to the dart electrode of the transistor and the above first and second logic parts respectively connected to the -
control so that when the first and second output terminals, the first switch element and the second switch element are turned on (off) at the same time, the third switch element and the fourth switch element are turned off (on) at the same time. The special purpose of the present invention is to implement means and 4, and to enable the circuit functions of the first channel type MO8) transistor system and the circuit functions of the second channel type MO8) transistor system to operate selectively and independently. A collection of semiconductors, (l(circuit).
(2)第1の電位供給端と第2の電1に7X供組端との
間に直列接続された第1スイツチ素子、第2スイツチ素
子、第1メモリ部分の第1チャネル型MO8)ランジス
タ、第3スイツチ素子及び第4スイツチ素子と、上記第
1の111位供給端と第2の電位供給端との間に直列接
続された錫5スイッチ素子、第6スイツチ素子、第2メ
モリ部分の第2チヤネル型1vlO8)ランジスタ、第
7スイツチ累子及び第8スイツチ菓子と、上記第1スイ
ツチ素子及び第4スイツチ素子を同時にオン(オフ)さ
せたとき上記第5スイツチ素子及び第8スイツチ素子を
同時にオフ(オン)するように電J呻する第1の手段と
、′上記第2スイッチ素子と第3スイツチと全オン・オ
フ関係が逆になるように”+tilJ nQIしかつ上
記化6スイツチ素子と第7スイツチ累子とをオン・オフ
関1糸が逆になるようにHjlJ (卸する第2の手、
股とを具筒し、上記第1メモリ部分のメモリ磯;泪と第
2メモリ部分のメモリ機能と全選択的に独立させて動作
できるようにしたことを化1改とする半導体集積回路。
(2) A first switch element, a second switch element, and a first channel type MO8 transistor of the first memory section connected in series between the first potential supply end and the second power supply end. , a third switch element, a fourth switch element, a tin 5 switch element, a sixth switch element, and a second memory portion connected in series between the first 111th position supply terminal and the second potential supply terminal. When the second channel type 1vlO8) transistor, the seventh switch element, the eighth switch confectionery, the first switch element and the fourth switch element are turned on (off) at the same time, the fifth switch element and the eighth switch element are turned on (off) at the same time. a first means for turning off (on) the electric current at the same time; and the 7th switch Yuiko on and off so that the 1st thread is reversed (the second hand to wholesale,
1. A semiconductor integrated circuit which is capable of operating selectively and independently of the memory function of the first memory part and the memory function of the second memory part.
(3)実質上絶縁物である実質絶へ体と、上記実質絶縁
体上に形成され互いに直列接続された第1スイツチ素子
及び第2スイツチ素子と、このスイッチ素子に直列接続
され上記実質絶縁体上に形成された第1メモリ部分の第
1チャネル型MOSトランジスタ形成用第1導電型半導
体領域と、上記へ4OSトランゾスクに直列接続され」
−記実質絶縁体」二に形成された第3及び第4スイツチ
紫子と、上記実質絶縁、体−ヒに形成され互に直列接続
された第5及び第6スイ、チ)〕子と、このスイッチ素
子に直列接続され上記実質絶縁体上にて上記第1導箪型
半導体領域に相接し7て形成された第2メモリ部分の第
2チャネル型MO8)ランノスタ形成用−λ2導痛、型
半2外体領域と、上記第2チーYネル型MOSトランジ
スタに直列接続され上記実質絶縁体上に形成された実、
7及び第8スイツチ素子と、上記第1.第2スイツチ素
子、第1チャネル型N、10S )ランノスク、第3.
第4スイツチ素子からなる第l直列回路、及び比5.第
6スイツチ素子、第2チャネル型MO8)ランジスタ、
第7.第8スイ、チオ子からなる第2直列回路金、第1
電位供給端と第2′ii位供給端との間に並列接pノ’
eする・1・段と、土1jピ第1.第2チャネル型MO
8)ランジスタのダート′市極に接ガ洸された入力端と
、上記第1及び第2メモリ部分にそれぞれ接、玩された
第1及び第2の出力端と、上記第1スイツチ素子及び第
4スイツチ素子を同時にオン(オフ)させたとき第5ス
イツチ素子及びi@8スイッチ素子全同時にオフ(オン
)するように+!Y1111σ1jする第1の手段と、
上記第2スイツチ素子と第3スイツチ素子と全オン・オ
フ関係が逆になるようにffflJ i・[]jしかつ
第6スイツチ累子と第7スイツチ系子と全オン・オフ関
係が逆になるようにffflJ呻する第2の手段と全具
11mシたことを特1致とする半一、1を体集積回路。
(3) a substantially insulating body which is a substantially insulating material; a first switch element and a second switch element formed on the substantially insulating material and connected in series with each other; and a substantially insulating body which is connected in series with the switch element; A first conductivity type semiconductor region for forming a first channel type MOS transistor of the first memory portion formed above and a 4OS transistor connected in series to the above.
- third and fourth switches formed on the substantially insulating body, and fifth and sixth switches formed on the substantially insulating body and connected in series; a second channel type MO of a second memory portion connected in series to the switch element and formed adjacent to the first conductive rectangular semiconductor region on the substantially insulator; a semiconductor layer connected in series to the type half 2 outer body region and the second channel type MOS transistor and formed on the substantially insulator;
7 and 8th switch elements, and the first. 2nd switch element, 1st channel type N, 10S) Rannosk, 3rd.
lth series circuit consisting of a fourth switch element, and a ratio of 5. 6th switch element, 2nd channel type MO8) transistor,
7th. 8th Sui, 2nd series circuit consisting of Thioko, 1st
Parallel connection p' between the potential supply end and the 2'ii supply end
e-do 1st stage and soil 1j pi 1st. 2nd channel type MO
8) An input terminal connected to the dart terminal of the transistor, first and second output terminals connected to and connected to the first and second memory portions, respectively, and the first switch element and the first switch element. When the 4 switch elements are turned on (off) at the same time, the 5th switch element and the i@8 switch element are all turned off (on) at the same time! A first means for Y1111σ1j,
The above-mentioned second switch element and the third switch element have an all-on/off relationship reversed, and the sixth switch element and the seventh switch element have an all-on/off relationship opposite to each other. The second means to make ffflJ groan and the whole device 11m is a special coincidence, and 1 is a body integrated circuit.
(4)上記第1チヤネル!ちり+JO8トランジスタと
直列に接続される各スイッチ素子は第1チャネル型MO
8)ランジスタで形成され、上記第2チヤネル型MO8
)ランノスタと直列接続された各スイッチ素子は第2チ
ャネル型MOSトランジスタで形成されていること全%
徴とする特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか
に記載の半導体集積回路。
(4) The first channel above! Each switch element connected in series with the dust+JO8 transistor is a first channel type MO
8) The second channel type MO8 is formed of a transistor.
) Each switch element connected in series with the lannostar is formed of a second channel type MOS transistor.
A semiconductor integrated circuit according to any one of claims 1 to 3.
(5)上記第1及び第2チャネル型MOSトランジスタ
間で対応する素子に共通ダート入力を与える特許請求の
範囲第1項ないし第4墳のいずれかに記載の半導体集積
回路。
(5) The semiconductor integrated circuit according to any one of claims 1 to 4, wherein a common dart input is provided to corresponding elements between the first and second channel type MOS transistors.
(6)上記各MOSトランジスタはエンノ・ンスメント
型MO8)ランジスタである特許請求の範囲第1項ない
し第4項のいずれかに記載の半導体集積回路。
(6) The semiconductor integrated circuit according to any one of claims 1 to 4, wherein each of the MOS transistors is an enforcement type MO8) transistor.
(7)上記各MO8)ランノスタはデゾレッション型M
O8)ランノスタである特許請求の範囲第1項ないし第
4項のいずれかに記載の半導体集積回路。
(7) Each MO8 above) Lannostar is desolation type M
O8) The semiconductor integrated circuit according to any one of claims 1 to 4, which is a runnostar.
(8)上記各メモリ部分はそれぞれ・−数個のMOS 
)ランジスタ金有しマトリクス配列されたMOS )ラ
ンジスタ群からなることw !h taとする特許請求
の範囲第2項丑たは第3唄に記載の半導体集積回路。
(8) Each of the above memory parts consists of several MOSs.
) A MOS with transistors arranged in a matrix.) Consisting of a group of transistors lol! The semiconductor integrated circuit according to claim 2 or 3, wherein hta.
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