JPS5946942A - Tapping measuring instrument - Google Patents

Tapping measuring instrument

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Publication number
JPS5946942A
JPS5946942A JP57156963A JP15696382A JPS5946942A JP S5946942 A JPS5946942 A JP S5946942A JP 57156963 A JP57156963 A JP 57156963A JP 15696382 A JP15696382 A JP 15696382A JP S5946942 A JPS5946942 A JP S5946942A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
limit member
output
time
lower limit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57156963A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
勝 田中
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ESUMESU IRIYOU KIKI KK
Original Assignee
ESUMESU IRIYOU KIKI KK
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Filing date
Publication date
Application filed by ESUMESU IRIYOU KIKI KK filed Critical ESUMESU IRIYOU KIKI KK
Priority to JP57156963A priority Critical patent/JPS5946942A/en
Publication of JPS5946942A publication Critical patent/JPS5946942A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

本発明は、指の運動機能を測定するタッピング測定器に
関すイ)。 タッピング測定器は所定のストローク幅を上下運動する
被験用のタッピング回数を測定し、こ11゜によって指
節機能の障害度をに’yイ1r+で記録するものである
。 従来のタッピング泪11定器はストローク116の上限
および下限に光111.スイッヂが設けてあり、このλ
つの光111□スイッチをlli 9指が11喰次しゃ
光し、これによってタッピングを検出している。そして
、タイマーを用いて所定の時間内のタッピング回数をカ
ウントし、その結果をディジタル方式で表示している。 このように従来装置は、被験用がストローク幅を上下運
動したときのタッピング回数(一般人で、毎和・約を回
〕を測定するのみである。従って被験指の移!TIIJ
速度や上限部材、下限部材に接触していイ: lI、’
r f!ifなどは測定することができ1仁い。 本発明はこのような従来技術の欠点にt〜の−でなさね
2だもので、タッピング回数のみならず、(皮験和の移
動速度や上限部材、下限部材との接触時間などをも?1
’!1定できるタッピング測定器を提供することを日田
Jとする。 一]:記の目的を実」、するために本発明は、従来の4
ノピング」11定器に被駐指が上限部材、下限部材ど触
れていン)時間やその間を移動1−ている時間をll1
ll定すく〕温時回路と、ストローク幅および側「(回
路で迎1’;i=t、た時間などにもとづいて不芥動沖
1度などを演Vする演q回路とを暇は、これによって指
節機能の障害度を高精度に測定すZ・ことのできるタッ
ピングA111定器を提供す2)ものであく)。 以下、β′1面を参服して本発明の7′施例を説、明す
り〕− 第1図4丁、迎1時回路をフリップフロップおよびゲー
ト回路により構成した一実施例の回路図である。 発j’(、M子/a、/bと受光素子2a 、、2bの
間にはスリン) 、? a 、 3 bを設け、被験指
かじゃ光しf(時間に誤差が生じないようにする。受光
Xζ子、2aの出力イJ号はN A、 N D回路io
i 、 /77.2 に力えられ、々・光ぶ子−!bの
出力佃++はNAND回路io、:z。 103に力えられる。HAND回路70/の出力イt1
号はN A、 N D回路io3. io≠、10!に
力えられ、回路に端子弘からデータバス、taを介して
図示しないカウンタに与えら力、る。このカウンタはN
A′ND回路10/力・らのイ百号によりタッピング回
タパをカウントする。 NAND回路!0.2の出力信号はNOT回路、20/
を介してN A N D回路10夕、 10乙、/θ7
に与えられ、゛り1ヒNAND回路iorの出カイ?1
号はNAND回路10t。 NAND回路10弘の出力信号はN OT回路202を
介してN A N D回路10り、/10に与えられ、
N A−N D回路101の出力信号はNOT回路λθ
3を介してNAND回路///にJjえられ、N AN
 D回路10tの出力信号はNOT回路、20≠を介し
てNAND回路//、!に与えられ、N A N D回
路/(8の出力信号はN0TL路!θ3を介してN A
 bi D回路//3に与えられる。 剤f二、N A N D回路iotの出力信号はコンデ
ンサお上とノダイオードを介してフリップフロップ(以
下1’ F F Jという)301のリセット入力端子
Rにも与えられる。F F 30.2のセット人力V:
Ai + Sには、y′−タバスjbを介して図示しな
いカウンタから」1j定開始信号が−りえられ之)。F
 F 30:lのセラ1出力QばN AN D回路10
7に力えられ、N A 14 DI!’I回路107の
出力イー号はN OT回路、!06を介して
The present invention relates to a tapping measuring device for measuring finger motor function. The tapping measuring device measures the number of times the subject taps while moving up and down over a predetermined stroke width, and records the degree of impairment of phalangeal function based on this 11°. Conventional tapping devices have light 111. at the upper and lower limits of the stroke 116. A switch is provided, and this λ
The nine fingers turn off the light 111□ switch and the light is interrupted, thereby detecting tapping. Then, a timer is used to count the number of tappings within a predetermined time, and the results are displayed digitally. In this way, the conventional device only measures the number of tapping times when the finger under test moves up and down the stroke width (approximately one tap per day for an average person).Therefore, the movement of the finger under test!
Contacting the speed, upper limit member, and lower limit member: lI,'
rf! IF etc. can be measured easily. The present invention overcomes the shortcomings of the prior art and measures not only the number of tappings, but also the moving speed of the sum of experience, the contact time with the upper limit member and the lower limit member, etc. 1
'! Hita J's objective is to provide a tapping measuring instrument that can be used to measure the tapping temperature. 1]: In order to accomplish the purpose described above, the present invention is based on the conventional 4
Knocking” 11 Determines the time when the finger to be parked touches the upper limit member, lower limit member, etc. and the time during which it moves between them.
ll constant] Temperature time circuit, stroke width and side ``(Circuit 1'; This provides a tapping A111 measuring device that can measure the degree of impairment of phalangeal function with high precision (2). [Explanation and clarification] - Fig. 1 is a circuit diagram of an embodiment in which a four-channel, reception circuit is constructed by a flip-flop and a gate circuit. Between the elements 2a, 2b are provided Surin), ?a, and 3b to prevent the test finger from interfering with the light f (so that there is no time error.The output of the light receiving element A, ND circuit io
I, /77.2 strengthened, Hikobuko-! The output of b is the NAND circuit io, :z. I am encouraged by 103. Output t1 of HAND circuit 70/
The numbers are NA, ND circuit io3. io≠, 10! A force is applied to a counter (not shown) from a terminal in the circuit via a data bus, ta. This counter is N
The tapping times are counted by the A'ND circuit 10/RANOI 100. NAND circuit! The output signal of 0.2 is a NOT circuit, 20/
N A N D circuit 10, 10, /θ7 through
Given that, what is the output of the NAND circuit ior? 1
The number is NAND circuit 10t. The output signal of the NAND circuit 10 is given to the NAND circuit 10/10 via the NOT circuit 202.
The output signal of the N A-N D circuit 101 is the NOT circuit λθ
3 to the NAND circuit ///, N AN
The output signal of the D circuit 10t is sent to the NAND circuit //, ! via the NOT circuit and 20≠. The output signal of N A N D circuit/(8 is N0TL path!
bi D circuit //3. The output signal of the NAND circuit iot is also applied to the reset input terminal R of a flip-flop (hereinafter referred to as 1'FFJ) 301 via a capacitor and a diode. F F 30.2 set human power V:
A constant start signal ``1j'' is sent to Ai + S from a counter (not shown) via y'-tabus jb. F
F 30:l cellar 1 output Qband AND circuit 10
Powered by 7, N A 14 DI! 'The output E of the I circuit 107 is the NOT circuit! via 06

【4A1々
D回V「’r10りおよO・カウノタ弘θ/ 、 1I
−02、グ03 、110弘のリセット端子に与えられ
る。NAND回路/θりの出力f1−1号は、NOTM
路、207を介して′y′F3θ/の七ノド入力端子S
およびグイメートを介してFF3θノのりセント入力端
子Rに力えらノする。−4、たN A N D回路//
グにはクロックパルスOLとTI F30/のセント出
力Qが与えられ、先の出カイ7丁号は、N A N I
)回路/10 、 /// 、 //2 、 //Jに
与えられる。 そして、N A N I)回路/10 、 /// 、
 //、2 、 //3の出力は、それぞれカウンタμ
0/ 、 110.2 、4103 、グOyにカλら
fL、ゲートを連撮(7てきグ辷クロックパルスOTJ
がカウントさ才′Lる。 第1図に示1′回路の動作を第、2[gのタイミ/グヂ
ャートを参照し゛(t(1、明する。なお、神i騨指の
ストロークl!’1711t’よ、スリット3aからス
リット31)1での間であるとし、スリット3aが上限
、スリット31)が下限であるとする。甘た受光素子、
7a。 、2bの出力は、ネ;シ1絆()1がしやつ°Lしてい
イ)と@は口¥・ −レベル(Lン、しゃ光していブエときはハイレベル(
H)であるとする。 イ)υ廷發オ)iを所′l、’xのストローク中7、−
で上−丁たりL古Iノさせ之)と、ダ°光素イ(例えけ
ニフn、 l・l−ランジスタ)、2a。 、−!bから(佳j[[]次H、I、のイバ号が出力さ
れ2)。その〃め、NAND回路ioiの出力0111
には第!同族に示すように、被験4i−1の7回の往物
運1助につ@1回のH出力がなさi+−る。この信号は
端子4とからデータバス5aを介して[’2+示しない
カウンタに当えらiする。訓定田差を減少させる斤めに
、例えば3回目の被j、u、)、 #4.′iの上−「
運動のときに移動1[゛を間、拐飼1時間ICとを求め
2・ものとし、そのためにデータバスJhを介してIt
” F 30.2のヒツトE子Sに測定開始イt、−壮
を17乏2)。なお、この11川♀01j始イ、・号は
図示しブfいカウンタ装置から発生されるものとし、そ
のタイミングレj被験指が下限部材を離itて上方移動
をり、 l+’;l’−じめた偵後である・。 m’r声、T、において被験井が下限部ゼを離才すると
、いずt]の受光才子、2a、、2bにも光が居い・て
出力はともに1(になる。 )1.!i’ 、壱T、において仰定開始イ許号がデー
タバスJ−1)を介してF F 30.2のセット入力
端子S妊占え11ツノ、ると、FF、、?0.2はセク
トさn、てセット出力QけHにプfす、IJAND回路
107の一方の入力端子もI]になる。このとき、N 
A N D回路10λの出力けLで矛、るため、NAN
D回路107の他方の入力幅1子にはN OT 14i
l路、201を介してHのレベルのイr・号が掬えられ
る。その結果、NAND回路107の出力&j’ Lに
なり、N OT回路、20乙を介1.てカウンタpoi
 。 ケθ!、り03 、りθグの】ノセット入力がHvcノ
、Cす、こtlら力ウノタプIZ I]上セツトノ′1
も、。 時点T3において彼験指が吐限部材に社触すると、受光
素子、2aの出力はL、受光素子2bの出力はHになる
。すると、NAND回路lθλの出力はL711・らI
(、NOT回路lθ/の出力はHからLに変hす、N 
A N T)ljFl銘107の一方の入力端子のレベ
ルがHからLに変わる。このとき、N A N D回V
f107の倍力の入力端子にはF F’ 302のセッ
ト出力QからIfのレベルの信号が与えら!フ、ている
ので、InIJl)lil路107の出力はHになり、
IJOT回路、206を介し、てli A N D回路
109の一刀の入力がLになる。 このとき、NAND回路109の他方の入力端子には、
)I OT回路、20.2を介してLから1(に変わる
43号がにえらrしる。このためfl A N D回路
の出力を1間的にLにすることができ、これによってF
 F 30/がセットづれ、k゛下′3θ2がリセット
き)する。 11、+I小T、力・らT4に至る寸でのttffFt
j−、N OT回路202の出力は■、F ’F 、?
(17/のセット出力QはHであるので、クロックパル
スcLはNAND[Li’路//41゜/10を通炉し
てカランタグ0/ (、If−ハλ、られる。このよう
にして、カウンタtI−O7でカウントさ才177クロ
ソクパルスOLの計数値により上限接触時間t1を求め
ることができる。 時点T4刀らT、に至る眉での間は、NOT回路、20
!;の出力はH,FFJO/のセット出力QはHであイ
)ので、タロツクパルスCLはNAlllD回路//I
I 、 //3を通iM) ?、てカウンタ4t04t
vc与えられる。こうして、下方移動時間t2が求めら
れる。 時点T5カ・らT6に至る才での間は、NOT回路、2
03の出力はH,FFJO/のセット出力Q1ばHであ
之)ので、クロックパルスOLばNAND回路//l。 ///を通過してカウンタ11.o、:zに与えらt’
lる。このようにして、下限接触時間t、が求まる。 時点T6からT7に至る壕での間は、iJ OT回路λ
θ弘の出力はH,FFJO/のセット出力QはHであく
)ので、タロツクパルスOLはN A N Dl:l、
路/l≠、//、2を通過してカウンタ弘03に与えら
れイ1つこうして、上方P励時Ill t、  が求ま
る。 時点T、になると、NAND回路1oirの出力はHに
なるので、p F 30/のリセット端子Rには微分坪
J1−たパルスが力えらf’Lる。そのため、F F 
、30/はリセットし、NAND回路//4’はクロッ
クパルスCLを通訟なくな)、)にのようにして、カウ
ンタ’/、0/ 、 ’i4θ、Z、グ03 、1lO
IAによるクロックパルスOTJのカウントは停止する
。 クロックパルスOLのカウントが停止すると。 ツノウンタ弘0/ 、≠Oλ、≠03 、弘θヶでカウ
ント憾れた1−10植は、データバスtaを介して図示
しない演鎧回路に与メーら才1不。演罫回路は1..1
.。 13.1.の葡おまひ図示しない徂1定器で求めたスト
o−り幅の値にもとづき、下方移動速度、上方移動速度
などを演f1する。 第3図(・千マイクロコンビーータを用いて構成しl−
ときの−斗’ 77i11例の回路夕1であυ、第1図
の回路と同一4+>扱素は同一の符号で示す。受光素子
、2a。 、2bの出力は、波形整形の1(めのシージットトリガ
回路!0/ [1,、、!02bを介してWAND回路
30.2 。 夕03およびダイオードを介17てマイクロコ/ビ一タ
オOψのフラッグ備子F、に与える。N A N D回
路jO,2の出力はN A N 1)li51路j03
丸よびダイオードを介してフラクグ端子F、 K与え、
NAN%Jl路よθ3の出力はNAND回路!0.2お
よび夕〜イオードを介してフラッグ端子F2に与える。 ここで、フラッグ姑子とは、マイクロコンビ=−タへの
止金端子でシ5 く)・ 第3図に示す実施例において、マイクロコンビーータオ
Otは次の役割を持つようにプログラミングがなさj′
シている。すなわち、フラッグ端子F1F2 、F3へ
の入力にもとづいて、被験化が上限部層、下限部材に接
触している〃・、それとも移動中であるかを判断し、デ
ータスイッチタOJ′に対しデータの訪、出しを指令す
る島・出(Fi号!011&と、カウンタjO6および
フリップフロップ(以下1’FFJというJ !r07
をリセットするリセット信号よO弘すと、ストローク幅
j111i定器jOざに対しストローク幅のhに出l〜
をJ)1令する?l111定信号so%を出力すること
であ之)・ブた、マイクロコンピュータjOμは、例え
ば分周器を用いて/MHのクロックOi号をlY、、 
HZのタロツクパルスOLとして出力し、そ第1をカウ
ンタrotに力える。 カウンタjtO乙のθ〜7ヒツト出力はデータスイッチ
タOjtに力えられ、Kビット出力はF F 307の
クロック端子Cに与えられる。また、リセット信号ro
t、tbはカウンタjO乙事よびF F !07のリセ
ット蛸子Rにカヌられ7、? F !07のセット出力
QはカウンタjO6のリセット店M子に寿λら才する。 データスイッチjθjふよひストローク幅測定器jOg
からの信号は、データバスjOりを介してマイクロコン
ピュータj0グに与えられる。 第3図に示す回路の動作をμ図のタイミングチャートを
参照して説明する。スリン)Ja 、 、?1)を通っ
て受光素子ja、、!’bに入る光を被験化がさえき−
ったときに、シュミットトリガ回路5oia。 301bからの出力はLになるとすると、NAND回路
30.2の出力は士ξ験指が下限部材に打触していると
きおよび上方に移動しているときのみ工、となる。 ここで−il1足R1′、H差を減少さ1するたど)に
、例えば3回目の被験化の上下運巧J1のときに移動時
間、接触時I)llt、仁とを求めるものとし、」二下
運動の回数はマイクロコンピュータJ′O弘でカウント
されているものとする・ 時点T、で被験化が上限部材に接触すると、シーミツト
トリガ回路!0/a、 30/bの出力はそtLそ11
 TJ 、 Hになるので、フラッグ端子F3にLの信
号が人力される。これによってマイクロコンピュータ、
tol/、&:1、被験化が上限部材に接触したと判断
し、リセッl−(M号SO≠bを発する。カウンタJ′
o6とFP″t07はこのリセット悄号夕0弘すによっ
てリセットさ)1.41+11定が開始さnる。 時点T、からT4に至る寸での間は、カウンタ3t)t
はクロックパルスOLをカウントする。ここで、前述の
如くクロックパルスOLは/ KH2であるPめ1.2
.t4ミリ秒のn↓1クロックパルスCLの力lクント
を紗けるとカウyタタ06のにビット出力はIIになV
、こ才しがF F 、!;07のクロック入力ZfiH
子に力エラf+、クロックパルスOLのカウント結果止
さiする。こうして、一般人のタッピング回美ノ(毎イ
・′1・約4回)に比べてあ′!1′りに少ないタッピ
ングによって、nQ測測定生じイ)ことのないようにt
7ている。 時点T4において被験化が上限部材を離れると、シネミ
ツトトリガ回路jt01FL 、 jrO/bの出力は
共にHになるので、フラッグ端子Fl lFW r F
Bのいず扛にもLの44号は入力”(4、l”Lない。 これによってマイクロコンビー−メ5otiは被験化が
上限部材を離れたと4411fft L、、読出イδ号
、rO朔を発する。データスイッチタO3は市1出イ「
7号50≠已によって動作し、カウンタjO6のカウン
ト結果をデータバス!0りを介してマイクロコンピュー
タ3’OJ−に与える。これによって、上1〜11ζ・
f神時間t、が求めらtする。マイクロコンピータjo
グはカウント結朶を條・イハすると直ぢにリセットイ計
号SO≠bを発し、沼またにカウンタjO6がクロック
パルスOLのカウントをρf;める。 なお、i・′]出出4.号!iO弘aを発して力らリセ
ット悄号SOグbを発す、btでの時間は、短いほど測
定誤差は少ない。 以下、同様にして、「r点T4〃・らT、までの下方移
動時間t2、時府T5がらT6までの下限接触時間ち・
1萌点T6カらT7までの上方移動時[[1)が求めら
れる。 時間t1 + t2 + t3 + t4の油1定が終
了すると、マと1;限部材の間のストローク幅を測定し
、その結果を゛データパスタ07を介してマイクロコン
ピ−タ304+、に−!:jえる。このようにし−(′
ストローク幅の測定仙と下方オ鍾j1時間により、下方
移動速度、上刃移m11速度ブ、(どが發出さズ1イ)
。 このように本発明によれば、被験指が下限部材1、よび
−ヒ限B[X材に接触している時間、あるいはそ/1.
らの旧1を移但+17ている11.Ifflな、カウン
タ′でクロックパルスをカウントすることにより測定で
きるので、従来の如くタッピング回pを?p11定でさ
るほかC(被験指の移動速度やタッピング圧f、7とり
′もり出オン)ことσ)で?乍るタッピング1則定器を
徂べ、ことができイ)。こflにより、1旨のi甲1幼
砂町会)シの1蒐゛ン害度の測定;1清度を向−1−さ
せイ)ことができイ)という効果がt)り)・ Q、  l=>:1面のtt:’+ルな説明第1Uy1
はオ、ζへ明の一ダ・施例の回路図、第2図(主鎖1図
に斤す′4:施例の動作を説、明すイ)7?:めのタイ
ミングチャート、第3図は本発明の仙の実施例のr’E
’ 略図、第弘図は第3図に外す史施例のjj!+作を
説明すルタめのタイミングチャートで、ある、/a、/
1)−・−発光素子、2 a+ 2 b ・・・%’、
y光素子、3 Fl、 、 3b・・・スリット、10
/ −//グ・・・111 A I4 D回路、20/
 〜207−・N OT回路、5oia、タ0/′b−
シ5−ミツトトリガ回路、I02 、3’03・・・N
 A N ]) 1EjH路、。
[4A1D times V ``'r10 Rioyo O. Kaunotahiro θ/, 1I
-02, G03, and 110 Hiro reset terminals. The output f1-1 of the NAND circuit/θ is NOTM
7-node input terminal S of 'y'F3θ/ via path 207
The output voltage is applied to the input terminal R of the FF3θ signal via the input terminal R. -4, NAND circuit //
The clock pulse OL and the cent output Q of TIF30/ are given to the clock pulse, and the previous output No. 7 is N A N I
) is given to the circuit /10, ///, //2, //J. And N A N I) circuit /10, ///,
The outputs of //, 2 and //3 are respectively counter μ
0/ , 110.2 , 4103 , G Oy , FL , Gate continuously (7 Clock pulses OTJ
It counts. The operation of the circuit 1' shown in Fig. 1 is explained by referring to the timing/guidato of 2[g. 31) 1, the slit 3a is the upper limit, and the slit 31) is the lower limit. Sweet photodetector,
7a. , 2b's output is ne;shi1 bond()1 is cool (L) and @ is 口¥・-level (Ln, when the light is blocked, it is high level (
H). A) υ 發發O) Place i in 'l, 'x in stroke 7, -
2a. ,-! From b (J[[] next H, I, Iba number is output 2). Therefore, the output 0111 of the NAND circuit ioi
No. 2! As shown in the same group, there was no H output for @1 out of 7 out of 7 times for test 4i-1. This signal is applied to the counter ``2+'' from the terminal 4 via the data bus 5a. In order to reduce the training difference, for example, the third time, j, u, ), #4. 'above i-'
During exercise, it is assumed that the movement 1 [゛] is 1 hour and the IC is 2.
” F 30.2 human E child S to start measuring 17 2) , the timing is after the test finger leaves the lower limit member and moves upward, l+';l'-. Then, there is light in the light receivers, 2a, and 2b of 1.!i', 2a, and 2b, and the outputs are both 1 ()1.!i'. When the set input terminal S of FF 30.2 is connected to the 11th corner of FF 30.2 via the bus J-1), FF, ? One input terminal of the circuit 107 also becomes I].At this time, N
Since the output of the A N D circuit 10λ is affected by the L
The other input width 1 child of the D circuit 107 has NOT 14i.
An H-level signal is picked up through the L path 201. As a result, the output of the NAND circuit 107 becomes &j'L, and the output becomes 1.j'L through the NAND circuit 20B. Counter poi
. Keθ! , ri 03 , ri θg's] no set input is Hvc, C, this tl force unotapu IZ I] upper set no'1
too,. When his finger touches the ejection limit member at time T3, the output of the light receiving element 2a becomes L and the output of the light receiving element 2b becomes H. Then, the output of the NAND circuit lθλ is L711・raI
(The output of the NOT circuit lθ/ changes from H to L, N
A N T) The level of one input terminal of ljFl name 107 changes from H to L. At this time, N A N D times V
A signal at the level If from the set output Q of F F' 302 is applied to the boost input terminal of f107! Therefore, the output of InIJl)lil path 107 becomes H,
Via the IJOT circuit 206, the input to the LI A N D circuit 109 becomes L. At this time, the other input terminal of the NAND circuit 109 has
)I OT circuit, No. 43 that changes from L to 1 (20.2) is selected. Therefore, the output of the fl A N D circuit can be temporarily set to L, thereby
F30/ is set and k゛lower'3θ2 is reset). 11, +I small T, ttffFt in the dimension leading to force/raT4
j-, the output of the NOT circuit 202 is ■, F 'F, ?
(Since the set output Q of 17/ is H, the clock pulse cL is passed through the NAND [Li' path//41°/10 and the clock pulse 0/ (, If-ha λ, is obtained.) In this way, The upper limit contact time t1 can be obtained from the counted value of the 177 cross pulse OL counted by the counter tI-O7.
! The output of ; is H, and the set output Q of FFJO/ is H), so the tarok pulse CL is output from the NAllD circuit//I
I, //3 through iM)? , counter 4t04t
vc is given. In this way, the downward movement time t2 is determined. From time T5 to T6, the NOT circuit, 2
Since the output of 03 is H, and the set output Q1 of FFJO/ is H, the clock pulse OL is a NAND circuit//l. /// and counter 11. o, : given t' to z
Ill. In this way, the lower limit contact time t is determined. During the trench from time T6 to T7, the iJ OT circuit λ
The output of θHiro is H, and the set output Q of FFJO/ is H), so the tarok pulse OL is N A N Dl:l,
It passes through the path /l≠, //, 2 and is given to the counter 03. In this way, when the upper P is excited, Ill t, is determined. At time T, the output of the NAND circuit 1oir becomes H, so that a differential pulse J1- is applied to the reset terminal R of pF30/. Therefore, F F
, 30/ are reset, and the NAND circuit //4' resets the counter '/, 0/, 'i4θ, Z, G03, 1lO
Counting of clock pulses OTJ by IA is stopped. When the clock pulse OL stops counting. The numbers 1-10, which were counted at 0/, ≠Oλ, ≠03, are transferred to a performance circuit (not shown) via the data bus ta. The ruled circuit is 1. .. 1
.. . 13.1. The downward movement speed, upward movement speed, etc. are calculated f1 based on the value of the stroke width determined by a second measuring device (not shown). Figure 3 (Constructed using 1,000 microconbeaters)
In the circuit 1 of the 77i11 example, υ is the same as the circuit of FIG. 1. Elements treated as 4+> are indicated by the same symbols. Light receiving element, 2a. , 2b is output to the WAND circuit 30.2 via the waveform shaping circuit 1 (!0/[1,,,!02b). Give the flag F of Oψ.The output of the N A N D circuit jO,2 is N A N 1) li51 path j03
Give flag terminals F and K through circles and diodes,
NAN%Jl path, the output of θ3 is a NAND circuit! It is applied to the flag terminal F2 via the 0.2 and 2 diodes. (Here, the flag terminal is a latching terminal to the microcombiner.) In the embodiment shown in Figure 3, the microcombiner is not programmed to have the following role. ′
It's happening. That is, based on the inputs to the flag terminals F1F2 and F3, it is determined whether the object is in contact with the upper limit layer, the lower limit member, or is moving, and the data is sent to the data switcher OJ'. The island, Izuru (Fi number !011&, which commands the arrival and departure, and the counter jO6 and flip-flop (hereinafter referred to as 1'FFJ) J!r07
When a reset signal is sent to reset the stroke width j111i, the stroke width h is output to the
J) 1 order? By outputting the l111 constant signal so%), the microcomputer jOμ uses, for example, a frequency divider to convert the /MH clock Oi to lY,...
It is output as a HZ tarok pulse OL, and the first one is input to the counter rot. The θ~7 hit output of the counter jtO is applied to the data switcher Ojt, and the K bit output is applied to the clock terminal C of the FF 307. In addition, the reset signal ro
t, tb are counter jO otojiyo and F F! 07 Reset Takoko R Cane 7,? F! The set output Q of 07 is sent to the reset store M of the counter jO6. Data switch jθj Fuyohi stroke width measuring device jOg
A signal from the microcomputer j0 is given to the microcomputer j0 via the data bus j0. The operation of the circuit shown in FIG. 3 will be explained with reference to the μ diagram timing chart. Surin) Ja, ,? 1) through the light receiving element ja,,! The light that enters 'b is blocked by the subject.
When the Schmitt trigger circuit 5oia. Assuming that the output from 301b is L, the output of NAND circuit 30.2 is only active when the test finger is touching the lower limit member or moving upward. Here, -il1 leg R1', H difference is decreased by 1, etc.), for example, the travel time at the time of vertical luck J1 of the third test, I)llt, jin at the time of contact, It is assumed that the number of double-lower movements is counted by the microcomputer J'O Hiroshi. When the subject contacts the upper limit member at time T, the seamit trigger circuit! The outputs of 0/a and 30/b are
Since TJ becomes H, an L signal is manually input to the flag terminal F3. With this, the microcomputer
tol/, &: 1, it is determined that the subject has contacted the upper limit member, and a reset l-(M number SO≠b is issued. Counter J'
o6 and FP"t07 are reset by this reset signal (0)) 1.41 + 11 constant starts. During the period from time T to T4, counter 3t) t
counts clock pulses OL. Here, as mentioned above, the clock pulse OL is /KH2, Pme 1.2
.. By subtracting the force l of the clock pulse CL of t4 milliseconds, the bit output of the counter 06 becomes II.
, this genius is FF,! ;07 clock input ZfiH
The force error f+ is applied to the child, and the count result of the clock pulse OL is stopped i. In this way, compared to ordinary people's tapping times (about 4 times per day), it's a lot easier! 1) Tapping less than 1' will cause nQ measurement.
There are 7. When the subject leaves the upper limit member at time T4, the outputs of the cinema trigger circuits jt01FL and jrO/b both become H, so the flag terminal Fl lFW r F
No. 44 of L is input "(4, l") in any case of B. As a result, the microcomputer 5oti assumes that the subject has left the upper limit member and reads 4411fft L, 4, 4, 4, 4, 44, and 4411fft L, readout A, δ, and rO. The data switch O3 is output from the city 1.
It operates according to No. 7 50≠已, and the count result of counter jO6 is sent to the data bus! It is given to the microcomputer 3'OJ- via the 0. By this, upper 1 to 11ζ・
The god time t, is found. micro computer jo
When the clock reaches the end of the count, it immediately issues a reset signal SO≠b, and the counter jO6 increases the count of the clock pulse OL by ρf;. Note that i・′] Exit 4. issue! The shorter the time at bt for emitting iO hiroa and emitting force reset signal SOg b, the smaller the measurement error. Thereafter, in the same manner, "downward movement time t2 from point r T4 to T, lower limit contact time from time T5 to T6"
When moving upward from the 1st point T6 to T7, [[1] is obtained. When the oil constant period of time t1 + t2 + t3 + t4 is completed, the stroke width between the limiter and the limit member is measured, and the result is sent to the microcomputer 304+ via the data pasta 07. :j I can. In this way - ('
Measuring the stroke width and lower blade movement for 1 hour determines the downward movement speed, upper blade movement speed, (how it was developed)
. As described above, according to the present invention, the time period during which the test finger is in contact with the lower limit member 1 and the lower limit member B [X material, or that/1.
11. Moved the old 1 from +17. Since it can be measured by counting clock pulses with a counter ', it is possible to measure the tapping times p as in the conventional case. In addition to p11 constant, C (moving speed of test finger, tapping pressure f, 7 points) and σ)? It is possible to follow the Tapping 1 Ruler (a). With this fl, it is possible to measure the degree of damage of the IA1 Yosuna Town Association); it is possible to improve the cleanliness. Q, l =>: 1st page tt:' + explanation 1st Uy1
The circuit diagram of the example is shown in Figure 2 (Main chain 1 is shown in Fig. 4: The operation of the example is explained and explained) 7? :First timing chart, FIG. 3 is r'E of the first embodiment of the present invention.
' Schematic diagram, Hirozu is removed from Figure 3 jj of historical examples! + Ruta's timing chart explaining the work, /a, /
1) --- light emitting element, 2 a+ 2 b...%',
y optical element, 3 Fl, , 3b... slit, 10
/ -//G...111 A I4 D circuit, 20/
~207-・NOT circuit, 5oia, ta0/'b-
5-mit trigger circuit, I02, 3'03...N
A N ]) 1EjH road.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 被j験指の上下運動のストローク幅を規制する上限部材
および下限部材と、前記上限部材および下限部材に被験
用が触れているかどうかをそれぞれ検知する検知器とを
備え、被験用が前記ストローク幅を外部入力で設定され
る測定時間内に往復する回数を前記検知器からの信号に
もとづいて算出し被験用の運動機能を測定するタッピン
グ測定器において、 前記検知器からの信号にもとづいて被彫指・バ前記上限
部材に触れている時間および前記上限部材を門崗tて前
記下限部材に触れる壕での下方移動時間および前記下限
部材に触れている時間および前記下限部材を離れて前記
上限部材に触れる甘での上方移動時間を測定する副時回
路と、 前記ストローク幅と前記下方移動時間および上方移動時
間にもとづいて下方移動速度、上方移動速度などを演り
する演q回路とを(iffえることを特徴とするタッピ
ング測定器。
[Scope of Claims] An upper limit member and a lower limit member that regulate the stroke width of the vertical movement of the test finger, and a detector that detects whether the test object is touching the upper limit member and the lower limit member, respectively, A tapping measuring device that measures the motor function of a test subject by calculating the number of times the test subject moves back and forth within a measurement time set by external input based on the signal from the detector, comprising: Based on the signal, the time during which the finger to be carved is in contact with the upper limit member, the downward movement time in the trench where the finger passes through the upper limit member and touches the lower limit member, the time during which the finger is in contact with the lower limit member, and the lower limit member are determined. an auxiliary time circuit that measures the upward movement time when the upper limit member is touched from a distance; and an operation that performs the downward movement speed, upward movement speed, etc. based on the stroke width, the downward movement time, and the upward movement time. A tapping measuring instrument characterized by being able to detect (if) a circuit.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005095197A (en) * 2003-09-22 2005-04-14 Hitachi Ltd Biological testing apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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