JPS5945509A - プロセス量の状態表示装置 - Google Patents
プロセス量の状態表示装置Info
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- JPS5945509A JPS5945509A JP57155178A JP15517882A JPS5945509A JP S5945509 A JPS5945509 A JP S5945509A JP 57155178 A JP57155178 A JP 57155178A JP 15517882 A JP15517882 A JP 15517882A JP S5945509 A JPS5945509 A JP S5945509A
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- Japan
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0221—Preprocessing measurements, e.g. data collection rate adjustment; Standardization of measurements; Time series or signal analysis, e.g. frequency analysis or wavelets; Trustworthiness of measurements; Indexes therefor; Measurements using easily measured parameters to estimate parameters difficult to measure; Virtual sensor creation; De-noising; Sensor fusion; Unconventional preprocessing inherently present in specific fault detection methods like PCA-based methods
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0259—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the response to fault detection
- G05B23/0267—Fault communication, e.g. human machine interface [HMI]
- G05B23/0272—Presentation of monitored results, e.g. selection of status reports to be displayed; Filtering information to the user
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y04—INFORMATION OR COMMUNICATION TECHNOLOGIES HAVING AN IMPACT ON OTHER TECHNOLOGY AREAS
- Y04S—SYSTEMS INTEGRATING TECHNOLOGIES RELATED TO POWER NETWORK OPERATION, COMMUNICATION OR INFORMATION TECHNOLOGIES FOR IMPROVING THE ELECTRICAL POWER GENERATION, TRANSMISSION, DISTRIBUTION, MANAGEMENT OR USAGE, i.e. SMART GRIDS
- Y04S10/00—Systems supporting electrical power generation, transmission or distribution
- Y04S10/50—Systems or methods supporting the power network operation or management, involving a certain degree of interaction with the load-side end user applications
- Y04S10/52—Outage or fault management, e.g. fault detection or location
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本命８ＪＪ ｒ；ｒ ｓ プラント監視のｔ１脚機シス
テムにおけるプロセス量の状態表示装置に関する。
テムにおけるプロセス量の状態表示装置に関する。
従来の発電プラントにおける計算機システムは。
プロセス変数をディジタルｔｔｉに俊枦するフロセスハ
ードウニ゛アのル査時点でのヂエツクとイ（すらｉまた
プロセス州がプロセス足をｉｌ’Ｅ ？亀ｉ二人力する
虫の出来るセンサーの入力レンジ内にあるがどうがとい
った様なチェック１行なつ−ｒ＋づいるものの、得ら！
またプロセス−Ｍに１文・ＪするＪｊ７ｔの４１１ Ｆ
ｊｉ ｔゴフ゛リントの；用伝ハ４二よって行なわｉｔ
でいるというのが現状である○ 高ｆＨ−の安全付と安定（−７た連転の維持が請求ざ〕
１゜る発止、プラント−二おいてハ、運転中プラント各
部の状態を的確に把握し、万一異常が生じた場合にはそ
の異常に対（、て迅速に対処１２、事故を未然番−防止
する事が必臂である。この為、発電、プラントにけ招、
子計磐機を用いた運転監禅システムが静目ら第１、プラ
ントの状態を表示装置に表ｊスあるい１丁出力装置に出
力させ、；１ハ転μがその表示内容矛・るいは出力内容
を確認しながらプラントの監ＩＦ、＋を行う様になって
いる。この様々都電プラントの揮転監ネ兄システムにお
いて、イ奸ら第４たプロセス量（１交゛・１する箕の判
断を運転員が行うの１・」、非水な労力を要し７．万一
の異常に対して迅速なる対処を必要とする時の防げにも
なりかねなかった。
ードウニ゛アのル査時点でのヂエツクとイ（すらｉまた
プロセス州がプロセス足をｉｌ’Ｅ ？亀ｉ二人力する
虫の出来るセンサーの入力レンジ内にあるがどうがとい
った様なチェック１行なつ−ｒ＋づいるものの、得ら！
またプロセス−Ｍに１文・ＪするＪｊ７ｔの４１１ Ｆ
ｊｉ ｔゴフ゛リントの；用伝ハ４二よって行なわｉｔ
でいるというのが現状である○ 高ｆＨ−の安全付と安定（−７た連転の維持が請求ざ〕
１゜る発止、プラント−二おいてハ、運転中プラント各
部の状態を的確に把握し、万一異常が生じた場合にはそ
の異常に対（、て迅速に対処１２、事故を未然番−防止
する事が必臂である。この為、発電、プラントにけ招、
子計磐機を用いた運転監禅システムが静目ら第１、プラ
ントの状態を表示装置に表ｊスあるい１丁出力装置に出
力させ、；１ハ転μがその表示内容矛・るいは出力内容
を確認しながらプラントの監ＩＦ、＋を行う様になって
いる。この様々都電プラントの揮転監ネ兄システムにお
いて、イ奸ら第４たプロセス量（１交゛・１する箕の判
断を運転員が行うの１・」、非水な労力を要し７．万一
の異常に対して迅速なる対処を必要とする時の防げにも
なりかねなかった。
〔発明の目的］
本発明け、単にプロセス変数をその賛としてとらえるだ
けでなくセンサーの異常オペレータの操作結果、その他
のプロセス量の質に関する情報を併せて表示出力する事
で運転員が発電プラントの状態をよりよく認識する事が
出釆、ひいてはプラントの安全性向上を図ることのでき
るプロセスＸ：の状態表示装置を得ることを目的とする
。
けでなくセンサーの異常オペレータの操作結果、その他
のプロセス量の質に関する情報を併せて表示出力する事
で運転員が発電プラントの状態をよりよく認識する事が
出釆、ひいてはプラントの安全性向上を図ることのでき
るプロセスＸ：の状態表示装置を得ることを目的とする
。
本発明は、プロセスにの値とともζ二、運転員１１対し
てその値の質に関する情報を提供するようにしたことを
特徴とする。プロセス量の値の質ｆ１関する情報として
は、プロセスハードウェアに異常がある状Ｍ（Ｂａａ）
ｓ プロセス量がセンサーの異常を検出するための制
限値を越えている状態（ｐｏｏｒ）、運転員によってプ
ロセス量の値が設定されている状態や熱電対入力１ユ対
して冷接点補償を定数で行っている状態（Ｓｕｅｐｅｃ
ｔ）、そｉｔ以外の状態（ｏｏｏａ−）等のプロセス相
の質を表わ一イーり、−４リテイコード４・股゛け、こ
のクォリティコードにてプロセスＥ・の′西を表わすよ
うにする〇 〔発明の実施例〕 以下、本発明を図示の−ｇ（Ｍ）ｉ Ｐ’ｌｌを炒１（
ｉ シて説’、 ｔａｉｌする。第１図ＶＪ木発明の一
実施イ（１（を示ずプロセスド１の状態表示装［ｑの構
成図である。■に１発ｆｌｉプラント、２は入力装Ｗ！
、：（１ｒＪ入力走査手段、４ ｔＪクォリティハンド
リング手８ 、 ５ ＆、ｉ Ｎ＋： （、（？ ＦＥ
（’（ｉ 、 ６ ｉ、１表示４−二置である。５
５へ′ｔ１１、プラントｌの６扛１（ｔ＝、 ｌｊ ｓ
−ヂのプロセス状ル１；の監視を行ったと）各ｇ、Ｉ、
： ｉ（−人力、４層、 （ｉｆにＨ■定の検出器が自
１川ドｉさＪ＋、 １−ｂ）る。こり１らの各検出器Ｖ
１１人力走査手段３からの指示を受＆ｉ斤人力装爵２が
順次周期的１ｍ−走査する。
てその値の質に関する情報を提供するようにしたことを
特徴とする。プロセス量の値の質ｆ１関する情報として
は、プロセスハードウェアに異常がある状Ｍ（Ｂａａ）
ｓ プロセス量がセンサーの異常を検出するための制
限値を越えている状態（ｐｏｏｒ）、運転員によってプ
ロセス量の値が設定されている状態や熱電対入力１ユ対
して冷接点補償を定数で行っている状態（Ｓｕｅｐｅｃ
ｔ）、そｉｔ以外の状態（ｏｏｏａ−）等のプロセス相
の質を表わ一イーり、−４リテイコード４・股゛け、こ
のクォリティコードにてプロセスＥ・の′西を表わすよ
うにする〇 〔発明の実施例〕 以下、本発明を図示の−ｇ（Ｍ）ｉ Ｐ’ｌｌを炒１（
ｉ シて説’、 ｔａｉｌする。第１図ＶＪ木発明の一
実施イ（１（を示ずプロセスド１の状態表示装［ｑの構
成図である。■に１発ｆｌｉプラント、２は入力装Ｗ！
、：（１ｒＪ入力走査手段、４ ｔＪクォリティハンド
リング手８ 、 ５ ＆、ｉ Ｎ＋： （、（？ ＦＥ
（’（ｉ 、 ６ ｉ、１表示４−二置である。５
５へ′ｔ１１、プラントｌの６扛１（ｔ＝、 ｌｊ ｓ
−ヂのプロセス状ル１；の監視を行ったと）各ｇ、Ｉ、
： ｉ（−人力、４層、 （ｉｆにＨ■定の検出器が自
１川ドｉさＪ＋、 １−ｂ）る。こり１らの各検出器Ｖ
１１人力走査手段３からの指示を受＆ｉ斤人力装爵２が
順次周期的１ｍ−走査する。
入力装置２ ＩＪ 、入力走森手段３プ■・らの指示な
慴けて、検出器を走査（７、走査イ直つ捷りプロセス量
１゜舛ｙ＃数を計ｎ（匹内部で扱う事の出１！、Ｚ）デ
ィジタ刀Ｈに変換しまた値υと共に、走査１１１点での
プロセスハードウェアの状態と検出器の状ルリＳとを入
カル査手最３に出力する。入力走査手段３Ｖす入力装置
２から出力される走査値Ｖを工学単位化し７たプロセス
ｔｖに変換し２．記憶装置５に出力する一方、プロセス
邦ｖと併せて走査時点でのプロセスハ−ドウェアの状態
と検出器の状’１７１４ Ｅ＋をクォリティハンドリン
グ手段４に出力する。
慴けて、検出器を走査（７、走査イ直つ捷りプロセス量
１゜舛ｙ＃数を計ｎ（匹内部で扱う事の出１！、Ｚ）デ
ィジタ刀Ｈに変換しまた値υと共に、走査１１１点での
プロセスハードウェアの状態と検出器の状ルリＳとを入
カル査手最３に出力する。入力走査手段３Ｖす入力装置
２から出力される走査値Ｖを工学単位化し７たプロセス
ｔｖに変換し２．記憶装置５に出力する一方、プロセス
邦ｖと併せて走査時点でのプロセスハ−ドウェアの状態
と検出器の状’１７１４ Ｅ＋をクォリティハンドリン
グ手段４に出力する。
クォリティハンドリング手段４け、入力走査手段３から
出力される工学単位化（７たプロセス量■と走査時点で
のプロセスハードウェアの状態と検出器の状態Ｓおよび
記憶装＠′５に保存されているセンサーの異常を検出す
るための上限値ＬｚＪと下限値り、ｔｊとから、クォリ
ティコードｔを求め、記憶装置５にこのクォリティコー
ドｔを記憶させる。
出力される工学単位化（７たプロセス量■と走査時点で
のプロセスハードウェアの状態と検出器の状態Ｓおよび
記憶装＠′５に保存されているセンサーの異常を検出す
るための上限値ＬｚＪと下限値り、ｔｊとから、クォリ
ティコードｔを求め、記憶装置５にこのクォリティコー
ドｔを記憶させる。
クォリティコード？としては、パッド（Ｂａａ） 、ブ
ア（ｐｏｏｒ）、サスペクト（Ｓｕｅｐｅｃｔ）、グツ
ド（ａｏｏａ）等があるが、これらの内容について以下
説明する。
ア（ｐｏｏｒ）、サスペクト（Ｓｕｅｐｅｃｔ）、グツ
ド（ａｏｏａ）等があるが、これらの内容について以下
説明する。
パッド（Ｂａｄ）という状態ｄ、熱電対の断線、検出点
のオーバーフロー、入力装置の故障、オペレータによる
走査除外等を意味し、主として異常原因がプロセスハー
ドウェアにある状態を示す。プア（Ｐｏｏｒ） ｕ 、
得たプロセス量がセンサレンジな逸脱［７ている状１ｌ
−１をいつ。たと乏−Ｃ１１、そσ）７０！・スｆｒｔ
の上１１Ｊ％ （Ｍ、 Ｌ＋、ｔＪが］−学Ｊ１１イｉ
’／とＬ −（−２（１ｍＡでト１九：４１ｉ〆ｌＴｉ
１．ｔが４ｍＡであるとき、プロセス巨の飴が１１ ｍ
Ａであったとすると、これｄセンザレンジシ逸ハｔ１１
．（、−ｒいることになる。つまり、センリーに屈葬が
才、Ａことを意味する。
のオーバーフロー、入力装置の故障、オペレータによる
走査除外等を意味し、主として異常原因がプロセスハー
ドウェアにある状態を示す。プア（Ｐｏｏｒ） ｕ 、
得たプロセス量がセンサレンジな逸脱［７ている状１ｌ
−１をいつ。たと乏−Ｃ１１、そσ）７０！・スｆｒｔ
の上１１Ｊ％ （Ｍ、 Ｌ＋、ｔＪが］−学Ｊ１１イｉ
’／とＬ −（−２（１ｍＡでト１九：４１ｉ〆ｌＴｉ
１．ｔが４ｍＡであるとき、プロセス巨の飴が１１ ｍ
Ａであったとすると、これｄセンザレンジシ逸ハｔ１１
．（、−ｒいることになる。つまり、センリーに屈葬が
才、Ａことを意味する。
次に、サスペクト（Ｒｕ日ｐθｃｔ）に１、運転＠ｆ：
より入力値が一定値に設定さＲでいる伏シ、「Δ、斗ｌ
こＶ７１ヤ３↑（１，対を１史ってプロセスｈ１を測＞
？ｌ−、−Ｃいる入力点（二対してリファレンズブロッ
クの７．％４ Ｗ（を人力する入力点【：異ｎが発生し
、その基準温度を定数（−よって、補正すなわち？１１
接点袖イ６ちかけでいる状態を意味し、実際のプロセス
量のイ１＾とＣ１異なっているＦｆ能件があるという状
態な示″ｔ’ｃグツド（（Ｒ＋ａｄ） ６：１実際に走
査さノまた値であり、センーリー、プロセスハードウェ
ア等に異常がない帛を意味１．１［＾が信頼出来るとい
う事を示す。
より入力値が一定値に設定さＲでいる伏シ、「Δ、斗ｌ
こＶ７１ヤ３↑（１，対を１史ってプロセスｈ１を測＞
？ｌ−、−Ｃいる入力点（二対してリファレンズブロッ
クの７．％４ Ｗ（を人力する入力点【：異ｎが発生し
、その基準温度を定数（−よって、補正すなわち？１１
接点袖イ６ちかけでいる状態を意味し、実際のプロセス
量のイ１＾とＣ１異なっているＦｆ能件があるという状
態な示″ｔ’ｃグツド（（Ｒ＋ａｄ） ６：１実際に走
査さノまた値であり、センーリー、プロセスハードウェ
ア等に異常がない帛を意味１．１［＾が信頼出来るとい
う事を示す。
第２図に１クオリテイハンドリング千股４σ）惧１１作
を流ｉｌ１図によって示（、たものでえ）る。寸Ｉ′運
転ｔ１によって入力値が設定さｉｌ、ているかどうかが
チェツクされ、設定されていればクオリデイコード茫Ｈ
サスペクトと力る。次２ニフ゛ロセスハードウエアの状
態が走査時点におけるプロセスハードウェアの状態Ｓに
よってチェックされ、フ゛ロセスハードウエアに異常が
あればクォリティコードｔはパッドとなる。次に、セン
サーの状態がプロセスｉ１ｖとセンサーの異常を検出す
る為の上限値ＬｉＬと下限値Ｌｉ１とを用いて、次式が
成立するかどうかがチェックされる。
を流ｉｌ１図によって示（、たものでえ）る。寸Ｉ′運
転ｔ１によって入力値が設定さｉｌ、ているかどうかが
チェツクされ、設定されていればクオリデイコード茫Ｈ
サスペクトと力る。次２ニフ゛ロセスハードウエアの状
態が走査時点におけるプロセスハードウェアの状態Ｓに
よってチェックされ、フ゛ロセスハードウエアに異常が
あればクォリティコードｔはパッドとなる。次に、セン
サーの状態がプロセスｉ１ｖとセンサーの異常を検出す
る為の上限値ＬｉＬと下限値Ｌｉ１とを用いて、次式が
成立するかどうかがチェックされる。
Ｌ差ｔ ＜ Ｖ ＜ Ｌｊ、ｔ −−−−−−−−（
１，）（１）式が成立［、々かった場合は、センサー異
常とし。
１，）（１）式が成立［、々かった場合は、センサー異
常とし。
てクォリティコードＰけプアとなる。次ｇ二Ｍ１３対入
力に対して冷接点補償を定数で行につているかどうかの
判断が行なわれ、冷接点補償を定数で行なっている場合
、クォリティコード１ｆｄ−！Ｉｔスペクトとなり、行
なっていない場合りグツドとなる。
力に対して冷接点補償を定数で行につているかどうかの
判断が行なわれ、冷接点補償を定数で行なっている場合
、クォリティコード１ｆｄ−！Ｉｔスペクトとなり、行
なっていない場合りグツドとなる。
記憶装置５は、入力走査手段３から出力窩れる工学単位
化３ ｉ′したプロセス量ｖとクォリティハンドリング
手段４から出力されるクォリティコード？を記憶し、各
検出器毎の最新データが常に保存さ）王ている。着潤゛
装ｆ＋’Ｖ ６ ＆：！ Ｎ己１奢装匠の中１−イｌ了
を込！１ている二［学Ｊ）’、（ｉン化がれｒ）［１セ
ク和Ｖとクォリティコート？を’ｔｒＸ＋ろ出（２、ク
ォリティコートをパッド（Ｂａ、ａ） ｉ＜ｊ ｎ 、
プア（ｐｏｏｒ） １１ Ｆ 、 ′リスベク）（Ｓ
ｕ日ｐｅｃｔ） ＩＪ、’ Ｂ 、グツド（ｏｏｏ６）
Ｉｔｌｔ （フジツク）という桶に一文字のアルフ′
アベットに変換し１、タグと１７で工学印、丘化ネれた
フロセス量■ン＋Ｈゼて、ｙ車重ｊ：ｔ−ニイ青〒１十
を稈’ＩＪｃ−ｉるもσ）である。
化３ ｉ′したプロセス量ｖとクォリティハンドリング
手段４から出力されるクォリティコード？を記憶し、各
検出器毎の最新データが常に保存さ）王ている。着潤゛
装ｆ＋’Ｖ ６ ＆：！ Ｎ己１奢装匠の中１−イｌ了
を込！１ている二［学Ｊ）’、（ｉン化がれｒ）［１セ
ク和Ｖとクォリティコート？を’ｔｒＸ＋ろ出（２、ク
ォリティコートをパッド（Ｂａ、ａ） ｉ＜ｊ ｎ 、
プア（ｐｏｏｒ） １１ Ｆ 、 ′リスベク）（Ｓ
ｕ日ｐｅｃｔ） ＩＪ、’ Ｂ 、グツド（ｏｏｏ６）
Ｉｔｌｔ （フジツク）という桶に一文字のアルフ′
アベットに変換し１、タグと１７で工学印、丘化ネれた
フロセス量■ン＋Ｈゼて、ｙ車重ｊ：ｔ−ニイ青〒１十
を稈’ＩＪｃ−ｉるもσ）である。
＞”、３図は表示型−ｉ６かＣ）の出力１・：ｌを示し
ｆ゛−もので、図番二おｒｌ”る１゛八（ＩＩＦＩＯＪ
−パッド（Ｂａ６）状態（二ある事を、ｒｒ１０１Ｆｌ
ｆ月Ｖ−１）−１（Ｐｎ＋）７−）伏欧＋７． ＄４る
ｆｉｌを、ｒＪ）８８ｐＨＩＪ ＩｒＪザスペクト（５
ｎｑｐａＣｔ）状９Ｉづにある車を、ｒ Ｉ １０ Ｔ
（１５Ｊ ４２１グツド（ｌＬｎｏ＋＋）砂層にあＺ
−事をそｉＬぞれ示ｔ、、−Ｃいる。図＆：ｔ 埒Ｆで
アナログ入力Ｍを１１１１にとってＪ・）ムが、ディジ
カッ１人カフ壱に交ｉしマしＥｖＡＬＵＥの表７１ミθ
）フィー／ｌ−１’ Ｉユ専点σ）杖艇１を示す６ｐｚ
トとかＣＩ、１５６Ｆ、Ｄとかいうステー々ス丁ブリベ
−ション（Ｓｔａｔｕｐ Ａｂｂｒｌ、ｖｎ、ｔｉＯｎ
）ブバ歩示さＪ１不たけてクォリティコートに対する考
メ）ｊ ｋｌ全く口じである○ 次に本発明によるデータクォリティ処理装ｆｊの作用を
具体例をつ〃・つて曹、明すると以下の様になる○第３
図において、ｆ（−とえば、ｒＢＯＩＦｌｏＪが入力装
置２かも走査されると、「ＢＯＩＦｌｏＪというプロセ
ス変数は入力Ｍｆ＃、２でディジタル量に変換さｔｌ、
かつ走査時点でのプロセス量・−ドウエアσ）状態及び
センサーの状態と共（二、入力走査手段３へ出力沁）１
．る。入力走査手段３では、受けたテイジタル知、を一
１００チという工学単位化し１．たプロセスｈｌ゛に変
拶１１．．− 、記ｔｕ、 ＆、） ［５へ出力シア、
かつ走査時点でのプロセスハードウェアの状態及びセン
サーの状態と共に、−ｉｏ、ｏ％というプロセス餡なり
オリティハンドリング手段４（−出力する。クオリティ
ノ・ンドリンク手段４娃、プロセス人力ブロセスノｈ−
ドウエアの状態及びセンサーの状態と、記憶装ｆ６５に
保育されているセンサーの異侃を検出する為の制限値（
下限（ｌｌ′ｌを−５，０チとする）とからブア（Ｐｏ
ｏｒ）というクォリティに分類し、プア（ｐｏｏｒ）の
クォリティコードな記憶装置５に出力する。この状凱ｕ
二ある時に、 ｒＢＯＩＦｌｏＪの出力を行なえば−
１０，０というフ゛ローヒス量と共１−丁′といつり８
リグイコードが併せ一４串力さＪ＋、７．皇１−力る一
次に、本発明の１１１＋の実ノ＋Ｔ：ｉ ｆ”ｔｌを第
４０でｔｌ・１１“］するＯＨ１’； ４図げデータク
メリヴイ処理４計を値１：き用した９ろ合の例である。
ｆ゛−もので、図番二おｒｌ”る１゛八（ＩＩＦＩＯＪ
−パッド（Ｂａ６）状態（二ある事を、ｒｒ１０１Ｆｌ
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ｎｑｐａＣｔ）状９Ｉづにある車を、ｒ Ｉ １０ Ｔ
（１５Ｊ ４２１グツド（ｌＬｎｏ＋＋）砂層にあＺ
−事をそｉＬぞれ示ｔ、、−Ｃいる。図＆：ｔ 埒Ｆで
アナログ入力Ｍを１１１１にとってＪ・）ムが、ディジ
カッ１人カフ壱に交ｉしマしＥｖＡＬＵＥの表７１ミθ
）フィー／ｌ−１’ Ｉユ専点σ）杖艇１を示す６ｐｚ
トとかＣＩ、１５６Ｆ、Ｄとかいうステー々ス丁ブリベ
−ション（Ｓｔａｔｕｐ Ａｂｂｒｌ、ｖｎ、ｔｉＯｎ
）ブバ歩示さＪ１不たけてクォリティコートに対する考
メ）ｊ ｋｌ全く口じである○ 次に本発明によるデータクォリティ処理装ｆｊの作用を
具体例をつ〃・つて曹、明すると以下の様になる○第３
図において、ｆ（−とえば、ｒＢＯＩＦｌｏＪが入力装
置２かも走査されると、「ＢＯＩＦｌｏＪというプロセ
ス変数は入力Ｍｆ＃、２でディジタル量に変換さｔｌ、
かつ走査時点でのプロセス量・−ドウエアσ）状態及び
センサーの状態と共（二、入力走査手段３へ出力沁）１
．る。入力走査手段３では、受けたテイジタル知、を一
１００チという工学単位化し１．たプロセスｈｌ゛に変
拶１１．．− 、記ｔｕ、 ＆、） ［５へ出力シア、
かつ走査時点でのプロセスハードウェアの状態及びセン
サーの状態と共に、−ｉｏ、ｏ％というプロセス餡なり
オリティハンドリング手段４（−出力する。クオリティ
ノ・ンドリンク手段４娃、プロセス人力ブロセスノｈ−
ドウエアの状態及びセンサーの状態と、記憶装ｆ６５に
保育されているセンサーの異侃を検出する為の制限値（
下限（ｌｌ′ｌを−５，０チとする）とからブア（Ｐｏ
ｏｒ）というクォリティに分類し、プア（ｐｏｏｒ）の
クォリティコードな記憶装置５に出力する。この状凱ｕ
二ある時に、 ｒＢＯＩＦｌｏＪの出力を行なえば−
１０，０というフ゛ローヒス量と共１−丁′といつり８
リグイコードが併せ一４串力さＪ＋、７．皇１−力る一
次に、本発明の１１１＋の実ノ＋Ｔ：ｉ ｆ”ｔｌを第
４０でｔｌ・１１“］するＯＨ１’； ４図げデータク
メリヴイ処理４計を値１：き用した９ろ合の例である。
ここで貫ｌｎ値と＆；１ 、 −人力７１１のプロセス
知σ）Ｉｉｌｉｌ、跨又Ｇｅｔイト１点／））の“アナ
ログ入力、ＩＪｊのフ゛ロセス琵１ニイ川Ｃコかの演算
′ｆＸ７１ｉｊ １．、−Ｃ＞ｌ ｋ′）だ言１算１（
；“（である。−１゛なＪ−ｔ、、Ｒ１ｎ ＩＩ トに
、Ｉ ８旨＋：、 フラｙ ） カらＩみ込寸れたプロ
セス人力ろ・−次入力とｌ、・ｔｉｌを用いてそノｉら
のＢ友、Ｌ：小、＝ゝ１′均、′ｐ化）（−１Ａ旧）、
δＲなどの７害算を加ｉ ｔ、 ｆｒ、 Ｉ−“（目的
７ンフロヤスｆｉｌ （アナログタイプ、テイジｐルタ
イブ）σ）ことち・いう。ｆｒと乏、、 ｉｒ；ｉ゛Ｎ
シ犬７１ｒｉをＶｌｌとｔ ｉ ；ｉＱ ［４＋１−４
るノニ以トの様になる。唱ｎ７ｉ１、ｊ方シ１のアナロ
グ人カフ占の）゛ロセス本４ｖ）・クオリヴーイコ−）
２をｈ己１．帳４Ｆ−置５より歴み出（２、」ＩＪ７−
ｉ−より炉５１′円和１て和＞；・回λ・□分だけ車め
らｉＬ ｆ（、１１１１１４″：の〕′「１士ス量とり
Ｈリテイコードと併せて、その中で最大のイ、（７）ち
言１立結七’Ｖｃとして記１．（装置５に出力１．−％
）５’％計蝕夕１１胎とな−ったプロセス量のクォ
リティコート４・りＡリテイノ・ンドリング手段４に出
力する。
知σ）Ｉｉｌｉｌ、跨又Ｇｅｔイト１点／））の“アナ
ログ入力、ＩＪｊのフ゛ロセス琵１ニイ川Ｃコかの演算
′ｆＸ７１ｉｊ １．、−Ｃ＞ｌ ｋ′）だ言１算１（
；“（である。−１゛なＪ−ｔ、、Ｒ１ｎ ＩＩ トに
、Ｉ ８旨＋：、 フラｙ ） カらＩみ込寸れたプロ
セス人力ろ・−次入力とｌ、・ｔｉｌを用いてそノｉら
のＢ友、Ｌ：小、＝ゝ１′均、′ｐ化）（−１Ａ旧）、
δＲなどの７害算を加ｉ ｔ、 ｆｒ、 Ｉ−“（目的
７ンフロヤスｆｉｌ （アナログタイプ、テイジｐルタ
イブ）σ）ことち・いう。ｆｒと乏、、 ｉｒ；ｉ゛Ｎ
シ犬７１ｒｉをＶｌｌとｔ ｉ ；ｉＱ ［４＋１−４
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グ人カフ占の）゛ロセス本４ｖ）・クオリヴーイコ−）
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言１立結七’Ｖｃとして記１．（装置５に出力１．−％
）５’％計蝕夕１１胎とな−ったプロセス量のクォ
リティコート４・りＡリテイノ・ンドリング手段４に出
力する。
クォリティハンドリング手段４ては規定回数分だけ集め
らＪしたクォリティコード（二対して、パッド（Ｂａｄ
）のクォリティの占める割合で、クォリティコードの
創劉、結果？。を求め、ｉ！Ｌ： （、Ｑ ＄ｆ（４，
５へ出力する。つ捷り、全体がパッドならｎＩ算結果も
パッド、全体の５０チ以下ならグツド、５０係以上なら
ブアといった具合である。
らＪしたクォリティコード（二対して、パッド（Ｂａｄ
）のクォリティの占める割合で、クォリティコードの
創劉、結果？。を求め、ｉ！Ｌ： （、Ｑ ＄ｆ（４，
５へ出力する。つ捷り、全体がパッドならｎＩ算結果も
パッド、全体の５０チ以下ならグツド、５０係以上なら
ブアといった具合である。
また以上の実施例では、クォリティコードなバンド（Ｂ
ａａ） 、プア（ｐｏｏｒ） 、サスペクト（５ｕｓｐ
ｅｃ ｔ）。
ａａ） 、プア（ｐｏｏｒ） 、サスペクト（５ｕｓｐ
ｅｃ ｔ）。
グツド（Ｇｏｏｄ）といつ４つのコードを用意り、でい
るが、この他にクエツショナプル（Ｑ、ｕｅｑｔｉｏｎ
ａｂｌθ〕という様な、′まだ走査さ第１ていでい又け
Ｍｉｊ％されていないという状態を設けてもよいし、そ
れ以十の多種類のコードをそのプラントの監視１］的に
応じて準備【７ても良い。
るが、この他にクエツショナプル（Ｑ、ｕｅｑｔｉｏｎ
ａｂｌθ〕という様な、′まだ走査さ第１ていでい又け
Ｍｉｊ％されていないという状態を設けてもよいし、そ
れ以十の多種類のコードをそのプラントの監視１］的に
応じて準備【７ても良い。
Ｅ発明の効果〕
以上胱シ１１し７た様ｌ二、本発明によＩ＋−げ、クォ
リティコードにプロセスハードウェアのｔｋ １ケＭ
、 過去の軌跡、関連入力の状態等を表す事が出来、プ
ロセスド：とクォリティコードをイ１１欧てξＩＩ、／
、 ２ｊＴで、プラント状態の紹識が容易（７−カリ、
］Ｉｆ中・−Ｕｌ、σ）し−４荷イ、（滅４さ４ケる事
が出来る。又、仁！＋Ｉ（・１も＋ｒｒ＋上し５、引い
てはプラント運転Ｉｎ、お目る〃４１Ｆ向上を（」かる
第１（が出来る。
リティコードにプロセスハードウェアのｔｋ １ケＭ
、 過去の軌跡、関連入力の状態等を表す事が出来、プ
ロセスド：とクォリティコードをイ１１欧てξＩＩ、／
、 ２ｊＴで、プラント状態の紹識が容易（７−カリ、
］Ｉｆ中・−Ｕｌ、σ）し−４荷イ、（滅４さ４ケる事
が出来る。又、仁！＋Ｉ（・１も＋ｒｒ＋上し５、引い
てはプラント運転Ｉｎ、お目る〃４１Ｆ向上を（」かる
第１（が出来る。
だ１，１図にｒ本発明の一実施ヒ１１を示ずブｒ１ツク
４１’；成図、第２１’？Ｉはクメリティハンドリンク
手１’７ｊのｎＹ細欽明図、第３文Ｖ」表示≠でのジ４
示ＩＣ・１を示」づＦ ｉ白１１シ１．２１１４図は他
の一央ＩＢｎ イ’；＋１を示」ブロック（７！１てあ
ｚｌ。 １・）＾Ｉｉ１プラント ２・入力や（菖３ 人力Δ
゛竹十Ｊ柁 ４・・・クォリティハンドリング手段１１す５ ・・・
Ｆｉ１！ ｆご７４配 ｉｓ
６ ・ イ、示伐柵白７ 言１ｎ手ｊ！ （７３１７） 代Ｆ１人ｊｐ３＞１！十Ｈ！ｌ ｄ＋
ｖｇ （ｆｉ （１”ｊカド＞、）第４図 ３ 了
４１’；成図、第２１’？Ｉはクメリティハンドリンク
手１’７ｊのｎＹ細欽明図、第３文Ｖ」表示≠でのジ４
示ＩＣ・１を示」づＦ ｉ白１１シ１．２１１４図は他
の一央ＩＢｎ イ’；＋１を示」ブロック（７！１てあ
ｚｌ。 １・）＾Ｉｉ１プラント ２・入力や（菖３ 人力Δ
゛竹十Ｊ柁 ４・・・クォリティハンドリング手段１１す５ ・・・
Ｆｉ１！ ｆご７４配 ｉｓ
６ ・ イ、示伐柵白７ 言１ｎ手ｊ！ （７３１７） 代Ｆ１人ｊｐ３＞１！十Ｈ！ｌ ｄ＋
ｖｇ （ｆｉ （１”ｊカド＞、）第４図 ３ 了
Claims (1)
- プロセスハードウェアの状態および検出器で検出したプ
ロセス量を入力装置を介して読込む入力走査手段と、こ
の入力走査手段で読込まれたプロセス量の値およびその
プロセス脩の制限値を記憶する記憶装置と、前記プロセ
ス量の値とプロセスハードウェアの状態および前記制限
値番二基づいてそのプロセス州のクォリティを求めるク
ォリティハンドリング手段と、前記プロセス量の仙オよ
びそのクォリティを表示する表示装置とからなるプロセ
ス量の状態表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57155178A JPS5945509A (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | プロセス量の状態表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57155178A JPS5945509A (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | プロセス量の状態表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5945509A true JPS5945509A (ja) | 1984-03-14 |
| JPH0474724B2 JPH0474724B2 (ja) | 1992-11-27 |
Family
ID=15600193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57155178A Granted JPS5945509A (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | プロセス量の状態表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5945509A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0223703U (ja) * | 1988-07-25 | 1990-02-16 | ||
| JPH0266608A (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-06 | Japan Electron Control Syst Co Ltd | 自己診断装置 |
| JP2001356801A (ja) * | 2000-06-13 | 2001-12-26 | Toshiba Corp | プラント監視装置および記憶媒体 |
-
1982
- 1982-09-08 JP JP57155178A patent/JPS5945509A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0223703U (ja) * | 1988-07-25 | 1990-02-16 | ||
| JPH0266608A (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-06 | Japan Electron Control Syst Co Ltd | 自己診断装置 |
| JP2001356801A (ja) * | 2000-06-13 | 2001-12-26 | Toshiba Corp | プラント監視装置および記憶媒体 |
| JP4664469B2 (ja) * | 2000-06-13 | 2011-04-06 | 株式会社東芝 | プラント監視装置および記憶媒体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0474724B2 (ja) | 1992-11-27 |
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