JPS5943991B2 - Microwave plasma processing equipment - Google Patents

Microwave plasma processing equipment

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JPS5943991B2
JPS5943991B2 JP55012433A JP1243380A JPS5943991B2 JP S5943991 B2 JPS5943991 B2 JP S5943991B2 JP 55012433 A JP55012433 A JP 55012433A JP 1243380 A JP1243380 A JP 1243380A JP S5943991 B2 JPS5943991 B2 JP S5943991B2
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JP
Japan
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plasma
microwave
plasma generation
generation section
generated
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秀三 服部
浩司 森山
正志 菊池
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Ulvac Inc
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Ulvac Inc
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、マイクロ波により生成されるプラズマ、イオ
ン、そしてプラズマの中に生ずる活性化ガスを用いてエ
ッチングその他の処理を行うマイクロ波プラズマ処理装
置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a microwave plasma processing apparatus that performs etching and other processing using plasma generated by microwaves, ions, and activated gas generated in the plasma.

マイクロ波放電は高周波放電に比べて低圧から高圧まで
幅広いガス圧で安定したプラズマがえられ、また、マイ
クロ波発生源であるマグネトロンが安価であり且つその
変換効率が高いのでプラス5 マ生成手段として有利で
ある。
Compared to high-frequency discharge, microwave discharge can produce stable plasma at a wide range of gas pressures from low to high pressures, and the microwave generation source, the magnetron, is inexpensive and has high conversion efficiency, so it is used as a means of generating positive energy. It's advantageous.

従来、マグネトロンによつて発生されたマイクロ波を伝
送する低インピーダンスの矩形導波管のE方向に冶つて
プラズマ生成管が挿入され、該プラズマ生成管のプラズ
マ中に生成された活性化物’0 質が該生成管のはるか
下流に置かれた処理室の中の試料をガス化学エッチング
するマイクロ波プラズマ処理装置が提案された。
Conventionally, a plasma generation tube is inserted in the E direction of a low impedance rectangular waveguide that transmits microwaves generated by a magnetron. A microwave plasma processing apparatus has been proposed for gas chemical etching of a sample in a processing chamber located far downstream of the production tube.

このものは良好なマッチングがえられるが、プラズマ生
成部が小さいので、プラズマを利用する5場合には処理
能力に劣るという欠点がある。
Although good matching can be obtained with this method, since the plasma generation section is small, it has the disadvantage that the processing capacity is inferior when plasma is used.

また、マグネトロンによつて発生されたマイクロ波を伝
送する円筒導波管内にプラズマ管を置き、該管に生じた
プラズマ等を利用するマイクロ波プラズマ処理装置が提
案されたが、マイクロ波電力源とプ0 ラズス負荷の間
に良好なマッチングがえられないという欠点がある。更
に、マグネトロンによつて発生されたマイクロ波を伝送
する同軸導波管の中心導体の先端にガラスのパイプをつ
なぎ、該パイプ内に必要とする5 イオン種のガスを流
入させることにより放電プラズマを形成しそこからイオ
ンを引出すマイクロ波イオン源が提案されたが、マイク
ロ波からプラズマヘの変換効率があまり高くないという
欠点がある。
Additionally, a microwave plasma processing device has been proposed in which a plasma tube is placed inside a cylindrical waveguide that transmits microwaves generated by a magnetron, and the plasma generated in the tube is utilized. The drawback is that a good matching between the plasma and laser loads cannot be obtained. Furthermore, a glass pipe is connected to the tip of the center conductor of the coaxial waveguide that transmits the microwaves generated by the magnetron, and a discharge plasma is generated by flowing the required 5 ion species gas into the pipe. Microwave ion sources that form and extract ions from them have been proposed, but have the drawback that the efficiency of microwave to plasma conversion is not very high.

9 そして、同軸導波管の内部導体を形成する毛管内の
プラズマが、マイクロ波電流が流れる他の同軸導波管の
内部導体と磁気的結合することによつて励起されるマイ
クロ波励起光源が本発明者の一人によつて提案された。
9 A microwave excitation light source is used in which the plasma in the capillary forming the internal conductor of a coaxial waveguide is excited by magnetic coupling with the internal conductor of another coaxial waveguide through which a microwave current flows. It was proposed by one of the inventors.

ワ 本発明は、本発明者の一人によつて提案されたこの
マイクロ波プラズマ源を基礎にして従来のマイクロ波プ
ラズマ処理装置の欠点を排除し、入力ζ−マイクロ波エ
ネルギの大部分をプラズマに変換することができるのみ
ならず広い面積に亘つて高密度のプラズマを発生する手
段を有するマイクロ波プラズマ処理装置を提供すること
を目的とするもので、マイクロ波発振器、該マイクロ波
発振器から出力するマイクロ波電力を伝送する伝送線路
、該伝送線路に結合され且つガス源に接続されたプラズ
マ生成部及び該プラズマ生成部に連結され該プラズマ生
成部で生じたプラズマを利用する真空室を具備する式の
ものにおいて、前記伝送線路における同軸線路の内部導
体と前記プラズマ生成部内に生成されたプラズマとを該
内部導体に流れるマイタロ波電流によつて生ずる磁束に
よつて結合する手段、前記プラズマ生成部とこれを囲繞
する′N外部導体からなる導波部及び該外部導体に連な
る外部導体を有し前記プラズマ生成部内のプラズマを拡
大する手段を具備することを特徴とする。
The present invention is based on this microwave plasma source proposed by one of the inventors, eliminates the drawbacks of conventional microwave plasma processing equipment, and allows most of the input ζ-microwave energy to be transferred to the plasma. The purpose of the present invention is to provide a microwave plasma processing apparatus having a means for not only converting but also generating high-density plasma over a wide area. A system comprising a transmission line for transmitting microwave power, a plasma generation section coupled to the transmission line and connected to a gas source, and a vacuum chamber connected to the plasma generation section and utilizing plasma generated in the plasma generation section. A means for coupling an internal conductor of a coaxial line in the transmission line and plasma generated in the plasma generation section by a magnetic flux generated by a mithal wave current flowing through the internal conductor, the plasma generation section and The present invention is characterized in that it has a waveguide section made of a N outer conductor surrounding the waveguide section and an outer conductor connected to the outer conductor, and means for expanding the plasma in the plasma generation section.

以下、本発明の実施例を図面について説明する〇第1図
は活性化ガスを試料に接触させて試料に対しエツチング
等の処理を行う場合の一実施例を示す。図において、1
は例えば2.45GHzのマイクロ波を発振するマグネ
トロン、2は矩形導波管、2aはプランシャー整合器、
3は同軸線路、3aはドアノブアンテナ、3bは内部導
体、3cはその内部導体3bの一端の結合ループ、3d
は外部導体、3eは同軸プランシャー整合器、4−1は
プラズマ生成管で、その一端はガス室5に連結され、他
端はその円錐状管部4a−1を介して真空室6−1に連
結された。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows an embodiment in which a sample is subjected to a treatment such as etching by bringing an activated gas into contact with the sample. In the figure, 1
For example, is a magnetron that oscillates a 2.45 GHz microwave, 2 is a rectangular waveguide, 2a is a plunger matching device,
3 is a coaxial line, 3a is a doorknob antenna, 3b is an internal conductor, 3c is a coupling loop at one end of the internal conductor 3b, 3d
3e is an external conductor, 3e is a coaxial plunger matching device, and 4-1 is a plasma generation tube, one end of which is connected to the gas chamber 5, and the other end connected to the vacuum chamber 6-1 via the conical tube portion 4a-1. connected to.

T−1はプラズマ生成管4−1を囲繞する外部導体で、
前記同軸線路3の外部導体3dと連結されるとともに前
記内部導体3bの一端の結合ループ3cの一端と連結さ
れた。7a−1は前記外部導体7一1の一端に連結され
且つ円錐状管部4a−1を囲繞する円錐状外部導体であ
る。
T-1 is an external conductor surrounding the plasma generation tube 4-1,
It is connected to the outer conductor 3d of the coaxial line 3 and also connected to one end of the coupling loop 3c at one end of the inner conductor 3b. 7a-1 is a conical external conductor connected to one end of the external conductor 7-1 and surrounding the conical tube portion 4a-1.

真空室6−1は試料6a−1を載置する基台6b−1を
有し、該真空室6−1を排気する拡散ポンプ8に連結さ
れた。
The vacuum chamber 6-1 had a base 6b-1 on which the sample 6a-1 was placed, and was connected to a diffusion pump 8 that evacuated the vacuum chamber 6-1.

マグネトロン1から出力されたマイクロ波電力は適当に
調整されたプランシャー2aを有する矩形導波管2に先
ず伝送され、次に適当に設計されたドアノブアンテナ3
aによつて反射による電力損失なく同軸線路3に伝送さ
れる。
The microwave power output from the magnetron 1 is first transmitted to a rectangular waveguide 2 with a suitably adjusted plunger 2a, and then to a suitably designed doorknob antenna 3.
a, the signal is transmitted to the coaxial line 3 without any power loss due to reflection.

そして適当にノ調整された同軸プランジヤ整合器3eを
有する同軸線路3に流れるほとんどすべてのマイクロ波
電力は、プラズマ生成管4−1内のプラズマ9−1とマ
イクロ波電流が流れる結合ループ3cとを十分に磁気的
結合させることによつて、プラズマ生成管7一1内のプ
ラズマ9−1と外部導体7一1とによつて構成されるプ
ラズマ導波管に伝送されるoガス室5から供給された例
えば4塩化炭素(CCl4)ガスがプラズマ生成管4−
1でプラズマ9−1となり、このプラズマ9−1は、円
錐状管部4a−1に流れて拡大プラズマ9a−1,9b
−1,9c−1を形成する。
Almost all the microwave power flowing through the coaxial line 3 having an appropriately adjusted coaxial plunger matching device 3e connects the plasma 9-1 in the plasma generation tube 4-1 and the coupling loop 3c through which the microwave current flows. By sufficiently magnetically coupling, the o gas supplied from the gas chamber 5 is transmitted to the plasma waveguide constituted by the plasma 9-1 in the plasma generation tube 7-1 and the outer conductor 7-1. For example, carbon tetrachloride (CCl4) gas is transferred to the plasma generation tube 4-
1 becomes a plasma 9-1, and this plasma 9-1 flows into the conical tube portion 4a-1 and becomes expanded plasmas 9a-1 and 9b.
-1,9c-1 is formed.

該プラズマ9−1、拡大プラズマ9a−1,9b−1,
9c−1と、外部導体7一1、円錐状外部導体7a−1
とこの両者の間隙10−1,10a−1より成る2次回
路にはマイクロ波電流が流れ、拡大されたプラズマ9a
−1,9b−1,90−1と円錐状外部導体7a−1と
の間に徐々に減衰するマイクロ波電界11−1が形成さ
れる。
The plasma 9-1, expanded plasma 9a-1, 9b-1,
9c-1, outer conductor 7-1, and conical outer conductor 7a-1
A microwave current flows through the secondary circuit consisting of the gaps 10-1 and 10a-1 between the two, and the expanded plasma 9a
A gradually attenuating microwave electric field 11-1 is formed between -1, 9b-1, 90-1 and the conical outer conductor 7a-1.

この2次回路が形成されたことによりプラズマ9−1、
拡大されたプラズマ9a−1,9b−1,9c−1内に
マグネトロン1からのマイクロ波電力が安定に且つ完全
に吸収され、プラズマ9−1は勿論拡大プラズマ9a−
1,9b−1,9c−1の密度は一層高く維持される。
拡大プラズマ9a−1,9b−1,9c−1のプラズマ
密度は円錐状管部4a−1の拡大方向に向つて漸減する
ので、導体としての拡大プラズマ9a−1,9b−1,
9c−1のインピーダンスは漸増し、このインピーダン
スの漸増は外部導体7一1及びプラズマ生成管4−1内
のプラズマ9−1によつて形成されるプラズマ導波管を
安定に且つ整合状態に終端する。
Due to the formation of this secondary circuit, plasma 9-1,
The microwave power from the magnetron 1 is stably and completely absorbed into the expanded plasmas 9a-1, 9b-1, and 9c-1, and the expanded plasma 9a-1 as well as the plasma 9-1
The density of 1,9b-1,9c-1 remains higher.
Since the plasma density of the expanded plasmas 9a-1, 9b-1, 9c-1 gradually decreases in the direction of expansion of the conical tube portion 4a-1, the expanded plasmas 9a-1, 9b-1, 9c-1 as conductors.
The impedance of 9c-1 gradually increases, and this gradual increase in impedance terminates the plasma waveguide formed by the outer conductor 7-1 and the plasma 9-1 in the plasma generation tube 4-1 in a stable and consistent state. do.

拡大プラズマ9a−1,9b−1,9c−1に生じた活
性化ガスは拡散ポンプによつて排気された真空室6−1
に流れ、基台6b−1土の試料6a−1を均質にエツチ
ングする。
The activated gas generated in the expanded plasmas 9a-1, 9b-1, 9c-1 is pumped into the vacuum chamber 6-1, which is evacuated by a diffusion pump.
The soil sample 6a-1 of the base 6b-1 is uniformly etched.

第2図A,Bはイオンビームを照射して穴明けその他の
加工処理を行う場合の実施例を示す。
FIGS. 2A and 2B show an embodiment in which drilling and other processing are performed by irradiating an ion beam.

この実施例においては、プラズマ生成管4−2は円形状
をなし、結合穴4a−2を介して真空室6−2に連通す
る。同軸線路3の内部導体3bの端部の結合ループ3c
は第1図と同様に前記プラズマ生成管4−2に沿つて配
置され、同軸線路3の外部導体3dと連結した扁平球状
外部導体7一2に終端される。この外部導体7一2の鍔
部7a−2は真空室6−2の上壁の金属板6c−2に結
合される。第1図示のものと同じようにマグネトロン1
から出力され、矩形導波管2、同軸線路3を経て伝送さ
れたマイクロ波電力はガス室5から流入するガスに吸収
され、ガスは電離してプラズマ9−2となる。
In this embodiment, the plasma generation tube 4-2 has a circular shape and communicates with the vacuum chamber 6-2 via the coupling hole 4a-2. Coupling loop 3c at the end of the inner conductor 3b of the coaxial line 3
is arranged along the plasma generating tube 4-2 as in FIG. 1, and terminates at a flat spherical outer conductor 7-2 connected to the outer conductor 3d of the coaxial line 3. The flange 7a-2 of the external conductor 7-2 is coupled to the metal plate 6c-2 on the upper wall of the vacuum chamber 6-2. Magnetron 1, similar to the one shown in the first diagram.
Microwave power outputted from the rectangular waveguide 2 and transmitted through the coaxial line 3 is absorbed by the gas flowing from the gas chamber 5, and the gas is ionized to become plasma 9-2.

このプラズマ9−2は同軸線路3の内部導体3bの結合
グループ3cと磁気的に十分に結合し、間隙10−2及
び外部導体7一2とともに2次回路を形成するので、こ
のプラズマ9−2にマイクロ波電流が流れ、マイクロ波
電力が吸収される。そしてこのプラズマ9−2は結合穴
4a−2を通って真空室6−2の上部に拡大プラズマ9
a2として伸長し、この拡大プラズマ9a−2は真空室
6−2の上壁金属板6c−2間に形成される電界による
電離によつて強化維持される。かくして真空室6−2に
生成された拡大プラズマ9a−2中の例えばアルゴンガ
スイオンは静電レンズ12によつて加速され、線13で
示すように試料6a−2に焦点が合わされるので、試料
6a−2はイオンによつて穴明けその他の加工が行われ
る。第3図はプラズマを照射してエツチング等の処理を
行う場合の実施例を示す。
This plasma 9-2 is sufficiently magnetically coupled with the coupling group 3c of the inner conductor 3b of the coaxial line 3 and forms a secondary circuit together with the gap 10-2 and the outer conductor 7-2, so that this plasma 9-2 Microwave current flows through and microwave power is absorbed. Then, this plasma 9-2 passes through the coupling hole 4a-2 and expands into the upper part of the vacuum chamber 6-2.
a2, and this expanded plasma 9a-2 is strengthened and maintained by ionization caused by the electric field formed between the upper wall metal plates 6c-2 of the vacuum chamber 6-2. For example, argon gas ions in the expanded plasma 9a-2 generated in the vacuum chamber 6-2 are accelerated by the electrostatic lens 12 and focused on the sample 6a-2 as shown by the line 13, so that the sample 6a-2 is 6a-2 is subjected to drilling and other processing using ions. FIG. 3 shows an embodiment in which processing such as etching is performed by irradiating plasma.

プラズマ生成管4−3は半円形に形成されその両端は真
空室6−3に開口する屋根頂部形状室4a−3に連通す
る。
The plasma generation tube 4-3 is formed in a semicircular shape, and both ends thereof communicate with a roof top-shaped chamber 4a-3 that opens into the vacuum chamber 6-3.

プラズマ生成管4−3及び屋根頂部形状室4a−3の外
周には扁平半球状外部導体7一3及びこれに連続する屋
根頂部形状外部導体7a−3が配設される。真空室6−
3内には網状電極14及び線状カソード15が配置され
る。かくして、マグネトロン1から出力したマイクロ波
は前述と同様に導波管2、同軸線路3を経て、プラズマ
生成管4−3に伝送され、該管内のガスは電離してプラ
ズマ9−3,9a−3になる。
A flat hemispherical outer conductor 7-3 and a roof-top-shaped external conductor 7a-3 continuous thereto are disposed around the outer periphery of the plasma generation tube 4-3 and the roof-top shaped chamber 4a-3. Vacuum chamber 6-
3, a mesh electrode 14 and a linear cathode 15 are arranged. In this way, the microwave output from the magnetron 1 is transmitted to the plasma generation tube 4-3 via the waveguide 2 and the coaxial line 3 in the same manner as described above, and the gas in the tube is ionized to generate plasma 9-3, 9a-. It becomes 3.

そして前記同軸線路3の内部導体3bの端部の結合ルー
プ3cは、プラズマ9−3,9a−3と磁気結合するの
で、プラズマ9−3,9a−3と外部導体7一3,7a
−3を含む2次回路にはマイク口波電流が流れて、プラ
ズマ9−3,9a−3中にマイクロ波電力が吸収され、
該プラズマ9−3,9a−3は広範囲に亘り密度高く維
持される。このプラズマ9a−3の中のガスイオン例え
ばアルゴンイオンは網状電極14によつて加速されると
ともに平行化され、線状カソード15から放射された電
子がこれに加わり全体として中性化されて、電子とイオ
ンの流れとなり、これが基台6b−3上の試料6a−3
を衝撃する。かくてこの装置は、プラズマ加工具として
用いられる。このように本発明によるときは、同軸線路
の内部導体とプラズマ生成部内に生成されたプラズマと
を該内部導体に流れる電流によつて生ずるマイクロ波磁
束によつて結合し、該プラズマ生成部のプラズマとそれ
を囲繞する外部導体とからなる導波部と該外部導体につ
らなる外部導体を有し前記プラズマ生成部内のプラズマ
を拡大する手段とを設けたので、マイクロ波電力はプラ
ズマ中に充分に吸収されマイクロ波電力からプラズマへ
の変換効率を高めることができるとともに、広い面積に
亘つてより密度の高いプラズマが得られ処理能力が高ま
るという効果がえられる。
The coupling loop 3c at the end of the inner conductor 3b of the coaxial line 3 magnetically couples with the plasmas 9-3, 9a-3 and the outer conductors 7-3, 7a.
A microphone mouth wave current flows through the secondary circuit including -3, and microwave power is absorbed into the plasmas 9-3 and 9a-3.
The plasmas 9-3 and 9a-3 are maintained at high density over a wide range. Gas ions, such as argon ions, in this plasma 9a-3 are accelerated and parallelized by the mesh electrode 14, and electrons emitted from the linear cathode 15 are added to the gas ions, for example, argon ions, and the electrons are neutralized as a whole. This results in a flow of ions, which flows into the sample 6a-3 on the base 6b-3.
shock. This device is thus used as a plasma processing tool. As described above, according to the present invention, the internal conductor of the coaxial line and the plasma generated in the plasma generating section are coupled by the microwave magnetic flux generated by the current flowing through the internal conductor, and the plasma in the plasma generating section is and an external conductor surrounding the waveguide section, and means for expanding the plasma in the plasma generation section, which has an external conductor connected to the external conductor, so that microwave power is sufficiently absorbed into the plasma. It is possible to increase the conversion efficiency from microwave power to plasma, and also to obtain higher density plasma over a wider area, resulting in an increase in processing capacity.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図乃至第3図はそれぞれ本発明の実施例を示し、第
1図は断面図、第2図A1第3図Aはそれぞれ第2図B
1第3図Bの鎖線に沿つた断面図、第2図B1第3図B
は第2図A1第3図Aの鎖線に沿つた一部断面図である
。 1・・・・・・マグネトロン、2・・・・・・矩形導波
管、3・・・・・・同軸線路、3c・・・・・・結合ル
ープ、4−1,4−2,4−3・・・・・・プラズマ生
成管、4a−1・・・・・・円錐状管部、4a−2・・
・・・・結合穴、4a−3・・・・・・屋根頂部形状室
、5・・・・・・ガス室、6−1,6−2,6−3・・
・・・・真空室、6a−1,6a−2,6a−3・・・
・・・試料、6b−1,6b−2,6b−3・・・・・
・基台、7一1,7−2,7−3・・・・・・外部導体
、7a−1・・・・・・円錐状外部導体、7a−3・・
・・・・屋根頂部形状外部導体、8・・・・・・拡散ポ
ンプ、9−1,9−2,9−3・・・・・・プラズマ、
9a−1・・・・・・拡大プラズマ、10−1・・・・
・・間隙、11・・・・・・電界、12・・・・・・静
電レンズ。
1 to 3 each show an embodiment of the present invention, in which FIG. 1 is a cross-sectional view, FIG. 2 A1 and FIG. 3 A are respectively FIG.
1 Cross-sectional view along the chain line in Figure 3 B, Figure 2 B1 Figure 3 B
2A and 3A are partial cross-sectional views taken along the chain line in FIG. 2A and FIG. 3A. 1... Magnetron, 2... Rectangular waveguide, 3... Coaxial line, 3c... Coupling loop, 4-1, 4-2, 4 -3... Plasma generation tube, 4a-1... Conical tube part, 4a-2...
...Joining hole, 4a-3... Roof top shaped chamber, 5... Gas chamber, 6-1, 6-2, 6-3...
...Vacuum chamber, 6a-1, 6a-2, 6a-3...
...Sample, 6b-1, 6b-2, 6b-3...
・Base, 7-1, 7-2, 7-3...Outer conductor, 7a-1...Conical outer conductor, 7a-3...
...Roof top shape external conductor, 8...Diffusion pump, 9-1, 9-2, 9-3...Plasma,
9a-1... Expanded plasma, 10-1...
...Gap, 11...Electric field, 12...Electrostatic lens.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 マイクロ波発振器、該マイクロ波発振器から出力す
るマイクロ波電力を伝送する伝送線路、該伝送線路に結
合され且つガス源に接続されたプラズマ生成部及び該プ
ラズマ生成部に連結され該プラズマ生成部で生じたプラ
ズマを利用する真空室を具備する式のものにおいて、前
記伝送線路における同軸線路の内部導体と前記プラズマ
生成部内に生成されたプラズマとを該内部導体に流れる
マイクロ波電流によつて生ずる磁束によつて結合する手
段、前記プラズマ生成部とこれを囲繞する外部導体から
なる導波部及び該外部導体に連なる外部導体を有し前記
プラズマ生成部内のプラズマを拡大する手段を具備する
ことを特徴とするマイクロ波プラズマ処理装置。
1. A microwave oscillator, a transmission line for transmitting microwave power output from the microwave oscillator, a plasma generation section coupled to the transmission line and connected to a gas source, and a plasma generation section connected to the plasma generation section. In a type equipped with a vacuum chamber that utilizes the generated plasma, magnetic flux is generated by a microwave current flowing through the internal conductor of the coaxial line in the transmission line and the plasma generated in the plasma generation section. a waveguide section consisting of the plasma generation section and an outer conductor surrounding the plasma generation section; and means for expanding the plasma in the plasma generation section, the waveguide section having an outer conductor connected to the outer conductor. Microwave plasma processing equipment.
JP55012433A 1980-02-06 1980-02-06 Microwave plasma processing equipment Expired JPS5943991B2 (en)

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