JPS594030A - Method and device for slicing semiconductor ingot - Google Patents

Method and device for slicing semiconductor ingot

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JPS594030A
JPS594030A JP10761983A JP10761983A JPS594030A JP S594030 A JPS594030 A JP S594030A JP 10761983 A JP10761983 A JP 10761983A JP 10761983 A JP10761983 A JP 10761983A JP S594030 A JPS594030 A JP S594030A
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JP
Japan
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flexible member
ingot
salt
wire
molten salt
Prior art date
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Pending
Application number
JP10761983A
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Japanese (ja)
Inventor
リチヤ−ド・エル・レイン
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SPX Technologies Inc
Original Assignee
General Signal Corp
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Publication date
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Publication of JPS594030A publication Critical patent/JPS594030A/en
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  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 集積回路を製造するばあい、一般に、シリコンのような
材料から、細長い円筒状インゴットの形をした大きな単
結晶をつく9、このインゴットをスライスして多数の薄
いウェファ−をつくる。ウェファ−をスライスする従来
公知の方法は次のような点で十分に満足なものとはいえ
ない。すなわち、インゴットから1枚のウニ7アーをス
ライスするのに長時間を要し、このようなスライス法は
ほとんどのものがかなりの巾をもつ切り溝を形成し、こ
のため材料が無駄になる。しかも、ウェファ−表面が極
めて粗い面でおるため、さらに大がかすな表面研磨が必
要になる。このような理由から、インゴットをスライス
してウェファ−をつくる改良された方法が、この技術分
野において強く望まれている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION In the manufacture of integrated circuits, a large single crystal in the form of an elongated cylindrical ingot is typically made from a material such as silicon,9 and this ingot is sliced into a number of thin wafers. Create. Conventionally known methods of slicing wafers are not fully satisfactory in the following respects. That is, it takes a long time to slice a single sea urchin from an ingot, and most such slicing methods create kerfs of considerable width, thereby wasting material. Moreover, since the wafer surface is extremely rough, even more extensive surface polishing is required. For these reasons, improved methods of slicing ingots to form wafers are highly desired in the art.

本発明ハ、シリコン、rルマニウム、ガラス、セラミッ
ク材料、砒化ガリウムその他溶融塩に溶解しまたはこれ
と反応する固体材料郷を切断する方法および装置に関す
るものである。溶融した水酸化ナトリウムのような反応
性化学物質を、走行する可撓性部材、好ましくはワイヤ
またはケーブルによって加工片の所望の部分(付与する
。高温の溶融塩が加工片インゴットと反応し、加工片の
所望の部分が急速に溶解する。
The present invention relates to a method and apparatus for cutting silicon, rumanium, glass, ceramic materials, gallium arsenide, and other solid materials that dissolve in or react with molten salts. A reactive chemical, such as molten sodium hydroxide, is applied to the desired portion of the workpiece by a traveling flexible member, preferably a wire or cable. The hot molten salt reacts with the workpiece ingot and The desired portion of the piece dissolves rapidly.

高温のエツチング剤を用い、ワイヤによりインゴットを
切断してウェファ−をつくる方法は公知であり、5an
tillo  の米国特許第3.9/!;、770号に
記載されている。沸騰した水酸化す) IJウム水溶液
を用いてシリコンをエツチングする方法も公知であり、
このような方法は米国特許第3.0’l/、22A号(
Pennington )および第3.’1gl、、g
9コ号(Rosvold ) K記載されている。
A method of cutting an ingot with a wire using a high temperature etching agent to make a wafer is well known.
tillo U.S. Patent No. 3.9/! ;, No. 770. A method of etching silicon using an aqueous solution of boiling hydroxide is also known.
Such a method is described in U.S. Pat. No. 3.0'l/, 22A (
Pennington) and 3rd. '1gl,,g
No. 9 (Rosvold) K is listed.

過酸化ナトリウムと窒化ナトリウムからなるtθ0〜6
00°Cの溶融物を用いて炭化珪素表面をエツチングす
る方法は、米国特許第3.ダコへり56号(Ebert
 et al )に記載され、酸の中でシリコンを電気
的に脱着する方法は米国特許第コ、99g、3記号(H
all)  に記載されている。
tθ0~6 consisting of sodium peroxide and sodium nitride
A method of etching a silicon carbide surface using a melt at 00°C is described in US Patent No. 3. Dakohari No. 56 (Ebert
et al) and a method for electrically desorbing silicon in acid is described in US Pat.
all).

本発明に関連があるその他の先行特許には、電気化学的
方法により水酸化ナトリウム溶液中でシリコンのエツチ
ング防止を行う米国特許第3.6gデ艷gq号(Wag
gener )  や、ジェット噴霧を用いてシリコン
を電解切断する際の電解液として水酸化ナトリウムまた
は水酸化カリウムを用いる方法を開示する米国特許第、
7 、07g 、 、2/q号(Chang)  。
Other prior patents related to the present invention include U.S. Pat.
Gener), and US Pat.
7, 07g, , 2/q (Chang).

および同第3./g’1.399号(5chnable
 et al )がある。米国特許@ 3./3o、7
3g号(Faust et al )には、回転するデ
ィスクとタングステンのインゴットとの間で電解液とし
て水酸化ナトリウム寸たは水酸化カリウムを使用するこ
とが開示されている。
and the same No. 3. /g'1.399 issue (5chnable
et al). US Patent @ 3. /3o,7
No. 3g (Faust et al) discloses the use of sodium hydroxide or potassium hydroxide as an electrolyte between a rotating disk and a tungsten ingot.

このような従来−の方法および装置のうちいくつかのも
のは、加工片を切断して所望のウェファ−をつくること
ができるが、切断プロセスにおいて切り溝の損失が大き
く、高価な半導体材料が無駄になる。またその他のもの
は、加工片の表面下を著しく損傷し、このため切断後、
加工片を十分に研磨する必要がある。
Although some of these conventional methods and devices can cut the workpiece into the desired wafer, the cutting process results in significant kerf loss and waste of expensive semiconductor material. become. Others cause significant subsurface damage to the workpiece, which causes
It is necessary to thoroughly polish the work piece.

加工片と切断部材を直接に接触させてウエファ−をスラ
イスするこれら従来の方法は、上記切り溝による損失と
いう問題を大きくするだけでなく、切断を行うのに必要
な機械的摩擦により切断部材が連続的に応力を受け、磨
耗し、ついには破損するという欠点をもっている。イン
ゴットの切断に用いられる従来の方法および装置に付随
するもう1つの問題は、これらのほとんどのものが、半
導体に使用されているドーノやントの種類に敏感である
ということである。すなわち、ある種のドーパントは加
工片の表面に腐蝕ピットを生じ、および/または、切断
速度を広範囲に変化させる。これはおそらく、電流が半
導体自身を通過することが難しいためであろう。さらに
、従来の方法および装置のほとんどがもう7つの重大な
欠点をもっている。すなわち、7枚のウェファ−を切断
するのに少なくとも70〜30時間かかるのである。
These conventional methods of slicing wafers by bringing the workpiece into direct contact with the cutting member not only exacerbate the problem of kerf losses described above, but also cause the cutting member to be damaged due to the mechanical friction required to make the cut. It has the disadvantage that it is subject to continuous stress, wears out, and eventually breaks. Another problem with conventional methods and equipment used to cut ingots is that most of them are sensitive to the type of donut or tip used in the semiconductor. That is, certain dopants create corrosion pits on the surface of the workpiece and/or cause wide variations in cutting speed. This is probably because it is difficult for current to pass through the semiconductor itself. Furthermore, most of the conventional methods and devices have seven other significant drawbacks. That is, it takes at least 70 to 30 hours to cut seven wafers.

上記5antillo %許は、酸エツチング溶液を、
回転しているエツチング剤適用車輪の周面に適用し、そ
こからエツチング剤が結晶プール(boule)に向か
って外向きに送り出されるようなウェファ−のスラスイ
方法を開示している。このエツチング剤は電流を通じた
ワイヤによって加熱される。
The above 5 antillo% is the acid etching solution.
A method for slicing a wafer is disclosed in which the etchant is applied to the circumferential surface of a rotating etchant application wheel from which the etchant is directed outwardly toward a crystal boule. The etchant is heated by a wire carrying an electric current.

プールと、車輪およびワイヤとの間の相対的な運動は、
プールを往復させるか、車輪とワイヤを動かすことによ
って行われる。これに対して本発明によれば、反応性の
流体がワイヤ自身によってイ。
The relative motion between the pool and the wheels and wires is
This is done by moving the pool back and forth or by moving wheels and wires. In contrast, according to the present invention, the reactive fluid is ignited by the wire itself.

ンゴットの切断部分に送られ、ワイヤはインゴットに対
して連続的に動かされ、その際ワイヤは電気的に加熱さ
れ、溶融塩の温度を所定の値まで上昇させる。
The wire is moved continuously against the ingot, the wire being electrically heated and raising the temperature of the molten salt to a predetermined value.

本発明の目的は、シリコンインゴットのような′固体材
料を切断するのに必要な時間を著しく短縮する方法およ
び装置を提供することである。
It is an object of the present invention to provide a method and apparatus that significantly reduces the time required to cut 'solid materials such as silicon ingots.

本発明の他の目的は、切断の際に切り溝の損失を最小限
とする、シリコンインゴットのような固体材料を切断す
る方法および装置を提供することである。
Another object of the invention is to provide a method and apparatus for cutting solid materials, such as silicon ingots, which minimizes kerf loss during cutting.

本発明の更に他の目的は、切断の際に加工片が受ける表
面下の損傷を最小限にするか、あるいはなくス、シリコ
ンインゴットのような固体材料を切断する方法および装
置を提供することである。
Yet another object of the invention is to provide a method and apparatus for cutting solid materials, such as silicon ingots, that minimize or eliminate subsurface damage to the workpiece during cutting. be.

本発明の他の目的は、加工片の研磨の必要がほとんど外
い、シリコンインゴットのような固体材料を切断する方
法および装置を提供することである。
Another object of the invention is to provide a method and apparatus for cutting solid materials, such as silicon ingots, that substantially eliminates the need for polishing the workpiece.

本発明の他の目的は、切断部材の応力、破損、摩耗など
の問題をなくすか、あるいは軽減する、シリコンインゴ
ットのような固体材料を切断する方法および装置を提供
することである。
Another object of the present invention is to provide a method and apparatus for cutting solid materials, such as silicon ingots, that eliminates or reduces problems such as stress, breakage, and wear of the cutting member.

本発明の上記およびその他の目的々らびに効果は、添付
図面により説、明する以下の実施例により、一層明らか
になろう。
The above and other objects and effects of the present invention will become more apparent from the following examples explained and explained with reference to the accompanying drawings.

以下、図面に示した本発明の実施例について説明する。Embodiments of the present invention shown in the drawings will be described below.

種々の溶融塩反応性固体材料を切断する装置および方法
は、工作物保持台すなわちクレードル2に保持されたイ
ンゴットからなる加工片1を含んでいる。リール3は連
続した導電性ワイヤ凍たはケーブル4を備えている。こ
の装置を操作するには、ワイヤをインゴット1と接触さ
せながら巻取リール7に巻き取る。ワイヤ4がインゴッ
ト1と接触する部分で、電源8から電気接触子5および
5′を経て流れる電流によりワイヤが加熱される。同時
に、容器6内で加熱しておいた溶融水酸化ナトリウム(
これに限定されるわけではない)のような反応性化学薬
品をワイヤ4に被覆する。薬品は、ワイヤがインゴット
に接触する際に。
An apparatus and method for cutting various molten salt-reactive solid materials includes a workpiece 1 consisting of an ingot held in a workpiece holder or cradle 2. The reel 3 is provided with a continuous electrically conductive wire freeze or cable 4. To operate this device, the wire is wound onto the take-up reel 7 while in contact with the ingot 1. Where the wire 4 comes into contact with the ingot 1, the wire is heated by the current flowing from the power source 8 through the electrical contacts 5 and 5'. At the same time, molten sodium hydroxide (
The wire 4 is coated with a reactive chemical such as (but not limited to). chemicals when the wire comes into contact with the ingot.

ワイヤが溶融塩で濡れているような位置で、ノズル20
によりワイヤに適用される。
Nozzle 20 in such a position that the wire is wetted with molten salt.
applied to the wire.

ワイヤ4を被覆した溶融塩とシリコン結晶の加工片1と
の間で化学反応が起こり、加工片1が局部的に溶解する
。実験の結果、加工片の切断は化学反応によって行われ
るのであって、ワイヤ4と加工片1との間のl1m接触
プロセスによって行われるのではないことがわかった。
A chemical reaction occurs between the molten salt covering the wire 4 and the silicon crystal workpiece 1, and the workpiece 1 is locally dissolved. Experiments have shown that the cutting of the workpiece is done by a chemical reaction and not by an l1m contact process between the wire 4 and the workpiece 1.

というのは、得られる切り溝の巾が、ワイヤの直径より
多少大きいことがわかったからである。このため、ワイ
ヤ4に対する応力や摩耗がほとんどなくしかも、インゴ
ット1に対する切り溝の損傷をほとんど、または全く伴
うことなく、加工片1を高速で切断することができる。
This is because the width of the resulting kerf was found to be somewhat larger than the diameter of the wire. Therefore, the work piece 1 can be cut at high speed with almost no stress or wear on the wire 4, and with little or no damage to the kerf on the ingot 1.

この方法を実施する場合、ワイヤ4はリール3から巻度
リール7にワイヤを巻き取ることにより動かされる。ワ
イヤ4けエンドレスループ状では々いことが好ましい。
When carrying out this method, the wire 4 is moved by winding the wire from the reel 3 onto the winding reel 7. It is preferable that the wire is formed in an endless loop of four wires.

この場合、ワイヤを全部、供給リール3から巻杷IJ−
ルアに巻き取ってし寸ったら、ワイヤ4をリール7から
リール3に戻すことができる。都合のよいことには、ワ
イヤ4は、上記並進運動に重畳して往復運動を、インゴ
ット1に付与することができる。
In this case, all the wires are transferred from the supply reel 3 to the winding loquat IJ-
Once wound on the lure, the wire 4 can be returned from the reel 7 to the reel 3. Advantageously, the wire 4 can impart a reciprocating motion to the ingot 1 superimposed on the above-mentioned translational motion.

上記切断プロセスは、加工片1を保持中るクレードル2
を、ワイヤ4の方向に一定に制御しながら動かすことに
より連続して行うことができる。
The above cutting process is carried out by a cradle 2 holding a work piece 1.
can be performed continuously by moving the wire 4 in a constant and controlled manner in the direction of the wire 4.

クレードル2とインゴット1のこのよう々垂直方向の運
動は、モータ8により歯車伝動装置9を介して、静止ナ
ツト11とねじ係合しているねじ10を回転させ、イン
ゴット1を切断部材4の方向に一定速度で動かすことに
より達成される。
This vertical movement of the cradle 2 and the ingot 1 is caused by the rotation of the screw 10 in threaded engagement with the stationary nut 11 by the motor 8 via the gear transmission 9, thereby moving the ingot 1 in the direction of the cutting member 4. This is achieved by moving at a constant speed.

可撓性部材4を編みケーブルまたは撚りケーブルで構成
し、加熱溶融塩が加工片1の内面および空洞に入り込み
易くすることもできる。同様に、切断部材4!−2硬質
の不活性粒子を抑め込んだワイヤ、または刻み付ワイヤ
また(l−i粗面化ワイヤで構成し、加工片の表面くぼ
みに高温の溶融塩が容易に輸送されるようにしてもよい
。本発明のさらに別の実施態様によれば、不活性不溶性
粒子を液体の高温溶融塩中に分散させ、これがワイヤ4
を′加工片と直接に接触しないように作用し、ワイヤ4
と加工片1との間に液体の溶融塩が入り込めるような空
間をつくるようにすることができる。
The flexible member 4 can also be comprised of a braided or twisted cable to facilitate the penetration of heated molten salt into the inner surfaces and cavities of the workpiece 1. Similarly, cutting member 4! -2 Constructed of wires containing hard inert particles or knurled wires or roughened wires to facilitate the transport of hot molten salts into the surface depressions of the workpiece. According to yet another embodiment of the invention, inert insoluble particles are dispersed in a liquid hot molten salt, which
The wire 4 acts so that it does not come into direct contact with the work piece.
It is possible to create a space between the workpiece 1 and the work piece 1 in which a liquid molten salt can enter.

スライス操作が行われる部分で化学反応体として使用さ
れる塩の反応温度より低い温度に、インゴット自身の温
度を保つことにより、望寸しくない部分で加工片が溶解
するのを最小限にすることができることはいうまでもな
い。olり溝中で化学反応体が有効に作用して結晶材料
を確実に溶解するよう圧、加熱ワイヤの温度は十分に高
く保たれる。
Minimize melting of the work piece in undesirable areas by keeping the temperature of the ingot itself below the reaction temperature of the salt used as a chemical reactant in the area where the slicing operation takes place. Needless to say, it can be done. The temperature of the pressure and heating wires is kept high enough to ensure that the chemical reactants in the groove are effective and dissolve the crystalline material.

単一の塩ではなく、塩の共融混合物を使用することも本
発明の範囲に含まれる。この共融混合物の特徴は、その
融点が極めて低いこと、および、溶融混合物の温度がそ
の融点よりわずかに高いときには反応法p(が零または
ほとんど零であるということである。加熱ワイヤを使用
することにより、混合物の温度に所望の切断部分におい
て局部的に、混合物が加工片の材料と反応するような温
度まで上昇させることが可能になる。これによって、使
用中、溶融状態を保ち、局部的に加熱されたときにのみ
有効に切断操作を行うように々る塩を使用することがで
き、このような塩混合物を切り溝に輸送するのが容易に
なり、捷た、この溝から使用済生成物を除去するのが容
易になる。
It is also within the scope of the invention to use a eutectic mixture of salts rather than a single salt. A feature of this eutectic mixture is that its melting point is extremely low and that the reaction method p is zero or almost zero when the temperature of the molten mixture is slightly above its melting point. This makes it possible to increase the temperature of the mixture locally at the desired cutting area to such a temperature that the mixture reacts with the material of the workpiece.This allows it to remain molten during use and locally Salt can be used to effectively carry out the cutting operation only when heated to a temperature of 100 mL, making it easier to transport such salt mixtures to the kerf groove, from which the spent waste can be removed. It becomes easier to remove the product.

ここに本発明の好ましい実旋痩様を説明したが、本発明
の均等な態様のすべてがここに説明されているわけでは
ない。使用された用語は説明のためのものでろって限定
のためのものではないこと、および本発明の範囲内で種
々の変更が可能であることはいう寸でも々い。
Although preferred embodiments of the invention have been described herein, not all equivalent embodiments of the invention are described herein. It is to be understood that the terminology used is intended to be descriptive and not limiting, and that various modifications may be made within the scope of the invention.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

添付図面は本発明の装置の例示的な実施別様を示す図面
である。 1・・・・・・・・・加工片、  2・・・・・・・・
・クレードル、3・・・・・・・・・ リール、 4・
・・・・・・・・ ワイヤ、5.5′・・・・・・・・
・接触子、 6・・・・・・・・・高温化学薬品、 7
・・・・・・・・・巻取リール。
The accompanying drawings show exemplary embodiments of the device according to the invention. 1・・・・・・・・・Working piece, 2・・・・・・・・・
・Cradle, 3・・・・・・ Reel, 4・
・・・・・・・・・ Wire, 5.5′・・・・・・・・・
・Contactor, 6...High temperature chemicals, 7
・・・・・・・・・Take-up reel.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (])結結晶インプラをスライスして薄ウェファ−を製
造する方法において; スライス操作の際に形成される切り溝中な、可撓性引張
部材を通過させ、 前記結晶材料と化学的に反応してこれを溶解することが
できるような、溶融した塩または塩の混合物を前記可撓
性部材に付着させ、この可撓性部材によって前記溶融塩
をインゴットの切り溝中に輸送することを特徴とする上
記方法。 (2)  可撓性部材が導電性でめり、これに電流を通
じることにより加熱する特許請求の範囲第1項記載の方
法。 (3)インゴット全体の温度を、可撓性部材に適用され
る塩の融点より低く保ち、可撓性部材の温度を十分に高
く保持して、可撓性部材とインゴット材料が接触する点
においてのみ塩が反応性を保持するようにした特許請求
の範囲第1項記載の方法。 (4)可撓性部材の運動方向に沿った往復運動が、その
並進運動に重畳されている特許請求の範囲第1項、第2
項または第3項記載の方法。 (5)結晶インゴットをスライスしてウェファ−を製造
する装置において: 可撓性引張部材を、前記インゴットと接触させながらこ
のインゴットの軸と実質的に出直の方向に移動させる手
段と、 前記可撓性部材K、前記インゴット材料を溶解すること
ができるような溶融塩を連続的に塗布する手段と、 前記インゴットと前記可撓性部材とを互いに向かい合う
方向に連続的に移動させる手段とを備えている上記装置
。 (6)可撓性部材がインゴットと接融する前に可撓性部
材を加熱する手段を更に備えている特許請求の範囲第5
項記載の装置。 (力 可撓性部材がワイヤである特許請求の範囲第6項
記載の装置。 (81可m性部材がマルチストランドである特許請求の
範囲第5項または第6項記載の装置。 (9)  可撓性部材が、固定された不溶性粒子を含ん
でいる特許請求の範囲第3項または第6項記載の装置。 OI  溶融塩が、不活性な固体不溶性粒子を含んでい
る特許請求の範囲第5項または第6項記載の装置。 αυ 可撓性部材が、粗外表面を有している特許請求の
範囲第5項または第を項記載の装置。 (121可撓性部材が、刻み付である特許請求の範囲第
5項または第6項記載の装置a
[Claims] () A method of manufacturing a thin wafer by slicing a crystalline implant; passing the crystalline material through a flexible tensile member through a kerf formed during the slicing operation; A molten salt or a mixture of salts capable of chemically reacting with and dissolving the salt is deposited on the flexible member, and the flexible member directs the molten salt into the kerfs of the ingot. The above method, characterized in that the method comprises: transporting. (2) The method according to claim 1, wherein the flexible member is electrically conductive and heated by passing an electric current through the flexible member. (3) Maintaining the temperature of the entire ingot below the melting point of the salt applied to the flexible member and maintaining the temperature of the flexible member sufficiently high that at the point where the flexible member and the ingot material come into contact; 2. The method according to claim 1, wherein only the salt retains its reactivity. (4) Claims 1 and 2 in which the reciprocating motion of the flexible member along the direction of motion is superimposed on its translational motion.
The method described in Section 3 or Section 3. (5) In an apparatus for manufacturing a wafer by slicing a crystal ingot: means for moving a flexible tensile member in a direction substantially perpendicular to the axis of the ingot while in contact with the ingot; a flexible member K, comprising means for continuously applying a molten salt capable of dissolving said ingot material, and means for continuously moving said ingot and said flexible member in directions facing each other. The above equipment. (6) Claim 5 further comprising means for heating the flexible member before the flexible member is fused with the ingot.
Apparatus described in section. (Force) The device according to claim 6, wherein the flexible member is a wire. (81 The device according to claim 5 or 6, wherein the flexible member is a multi-strand. (9) 7. The device of claim 3 or 6, wherein the flexible member comprises immobilized insoluble particles. Claim 6, wherein the OI molten salt comprises inert solid insoluble particles. The device according to claim 5 or claim 6. αυ The device according to claim 5 or claim 6, wherein the flexible member has a rough outer surface. The apparatus a according to claim 5 or 6, which is
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Cited By (1)

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