JPS5938113B2 - Silicon semiconductor thermal head - Google Patents

Silicon semiconductor thermal head

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JPS5938113B2
JPS5938113B2 JP4062477A JP4062477A JPS5938113B2 JP S5938113 B2 JPS5938113 B2 JP S5938113B2 JP 4062477 A JP4062477 A JP 4062477A JP 4062477 A JP4062477 A JP 4062477A JP S5938113 B2 JPS5938113 B2 JP S5938113B2
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JP
Japan
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silicon layer
heat
resistance
silicon
resistance silicon
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JP4062477A
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孝夫 河村
鴻吉 石櫃
永 樋口
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Kyocera Corp
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Kyocera Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はシリコン半導体型サーマルヘッドの改良に関す
るものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an improvement of a silicon semiconductor type thermal head.

小さな抵抗体のジュール発熱を利用した発熱ドットによ
つて感熱紙を一次発色させる感熱記録方式は、現像不要
(1次発色)、機器が簡単で小型化に適し、メインテナ
ンスフリー、低価格などから端末機器の記録方式の主流
になりつつある。
The thermal recording method uses heat-generating dots that utilize the Joule heat generated by a small resistor to generate primary color on thermal paper.It does not require development (primary color development), is simple and suitable for miniaturization, is maintenance-free, and is low-priced, making it popular among terminals. This is becoming the mainstream recording method for devices.

ところがこの感熱記録方式の心臓となるサーマルヘッド
には、薄膜型、厚膜型、半導体型の3種類があつて、そ
れぞれ一長一短があるが、本発明はこの半導体型のサー
7レゞンドに関するものであるので、従来の半導体型の
長所と欠点とを構造を例に採つて説明することにする。
第1図は、従来の半導体型サーマルヘッドの概略斜視図
である。図のように、シリコン半導体より得た横長の短
冊型のヘッドaの頂面に、同じくシリコン半導体より得
た発熱ドットb ・・・を設け、このヘッドa上を図中
矢印方向に移行する感熱紙pに対して上記ドットb・・
・が、図外の給電回路よりの信号パルスを受けて、必要
な印字を構成するに必要な瞬間的且つ選択的な発熱を行
ない、この発熱が上記感熱紙対応部をして一次発色させ
て印字を結像する仕組みとなつている。このような半導
体型サーマルヘッドの長所としては、…熱応答が速いこ
と、旦原理的に精緻なパターンまで作成できること、H
能動素子を同一のヘツド上に形成し得ること並びに(ニ
)発熱抵抗部(ドット)の劣化が少ないこと、などが挙
げられるが反面欠点としては、C))製作工程が煩雑で
かつ大きなヘツドが作りにくいこと、(ろ)高コストに
なること、eま)熱効率が悪いこと及びOこ)熱蓄積が
しにくいことが指摘される。この欠点の理由を少し詳し
く説明すると、第1図におけるシリコンヘツドaはバル
クシリコン(シリコンの捧塊)より切り出しによつて作
成するために、このバルクシリコンには本来寸法に制限
があるので、あまり大きな寸法の短冊型のものが得られ
ない〔欠点(ハ)〕、面倒な切出し加工によつて得たヘ
ツドaに対して小さなシリコンドットb・・・を微細な
間隙をもつて形成するので製造コストが高くなる〔欠点
(ろ)〕、シリコン自体が熱容量が小さいのでドットb
・・・の発熱が背后のヘツドaより奪熱されて熱効率が
悪くなり且つ熱蓄積がしにく\なる〔欠点(株)Oこ)
〕、ということになる。
However, there are three types of thermal heads, which are the heart of this heat-sensitive recording method: thin film type, thick film type, and semiconductor type, each of which has advantages and disadvantages.The present invention relates to this semiconductor type thermal head. Therefore, the advantages and disadvantages of the conventional semiconductor type will be explained using the structure as an example.
FIG. 1 is a schematic perspective view of a conventional semiconductor thermal head. As shown in the figure, heat-generating dots b, also made from silicon semiconductor, are provided on the top surface of a horizontally long rectangular head a made of silicon semiconductor, and heat-sensitive dots b, which are also made from silicon semiconductor, move in the direction of the arrow in the figure. The above dot b on paper p...
・Receives a signal pulse from a power supply circuit (not shown) and generates instantaneous and selective heat generation necessary to form the required print, and this heat generation causes the thermal paper corresponding part to develop a primary color. It has a mechanism to form an image of the printed characters. The advantages of such semiconductor-type thermal heads include...fast thermal response, the ability to create even elaborate patterns in principle, and the ability to
The active elements can be formed on the same head, and (d) there is little deterioration of the heat-generating resistor (dots), but the drawbacks are C)) the manufacturing process is complicated and the large head is It is pointed out that it is difficult to make, (a) high cost, e) has poor thermal efficiency, and (o) it is difficult to accumulate heat. To explain the reason for this defect in a little more detail, the silicon head a in Fig. 1 is created by cutting out bulk silicon (silicon slab), and since this bulk silicon inherently has limited dimensions, It is not possible to obtain large rectangular shapes [Disadvantages (c)]; small silicon dots b are formed with minute gaps in the head a obtained by a troublesome cutting process; The cost is high [disadvantage (ro)], silicon itself has a small heat capacity, so dot b
The heat generated by ... is taken away from the head a at the back, resulting in poor thermal efficiency and difficulty in accumulating heat [Defect O Co., Ltd.]
〕,It turns out that.

本発明者等は上記に鑑み、α−アルミナセラミツクス単
結晶〔(サフアイア)〕基板上にシリコン層を定着させ
たSOS(シリコン・オン・サフアイア)複合体をこの
サーマルヘツドに適合するようにアレンジすることによ
り前掲問題点を一掃したものを先に特願昭51−141
022(特開昭53−65741)(昭和51年11月
22日出願)にて提供したが、その后の研究実験によつ
て、サフアイア基板の他にα−SiO2,スピネル(M
gO・Al2O3.),炭化珪素(SiC)及びチタニ
ア(TiO2)のいづれかの単結晶基板も先願発明のサ
フアイア基板と均等的に適用出来ることをこ\に知見す
るに及び本発明の出願に至つたものであり、此等α−S
iO2,スピネル,炭化珪素,チタニアのいずれかから
選択された基板を用い、且つ熱的および構造的に無理が
なく、そして製造を簡易な方法で行なえるサーマルヘツ
ドの提供を目的とする。以下に本発明を望ましい実施例
を図に採つて詳細に説明するに、第2図は本発明サーマ
ルヘツドのパターンの一例を示す平面図、第3図は第2
図に於けるサーマルドット部分の拡大平面図、第4図は
第2図のヘツドを模式的に一部を拡大した斜視図、第5
図は第4図V−V線拡大断面図を示す。
In view of the above, the present inventors arranged an SOS (silicon on sapphire) composite in which a silicon layer is fixed on an α-alumina ceramic single crystal (sapphire) substrate to be compatible with this thermal head. A patent application filed in 1972-141 was first filed in which the above-mentioned problems were eliminated.
022 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 53-65741) (filed on November 22, 1975), later research experiments revealed that in addition to sapphire substrates, α-SiO2, spinel (M
gO・Al2O3. ), silicon carbide (SiC), and titania (TiO2) single crystal substrates can be equally applied to the sapphire substrate of the prior invention, which led to the filing of the present invention. , these α-S
The object of the present invention is to provide a thermal head that uses a substrate selected from iO2, spinel, silicon carbide, or titania, is thermally and structurally reasonable, and can be manufactured by a simple method. Preferred embodiments of the present invention will be explained in detail below with reference to the drawings. FIG. 2 is a plan view showing an example of the pattern of the thermal head of the present invention, and FIG.
Figure 4 is an enlarged plan view of the thermal dot part in Figure 4. Figure 4 is a schematic perspective view of the head in Figure 2, partially enlarged.
The figure shows an enlarged sectional view taken along the line V-V in FIG.

また、第6図は本発明サーマルヘツドの別の実施態様を
示す第5図対応断面図である。以上の実施例図より本発
明サーマルヘツドは、α−SiO2,スピネル,炭化珪
素及びチタニアのいづれかの単結晶基板1と、この支持
基板1上に定着されたシリコン層であつて、発熱ドツト
(3)・・・の発熱の逃散を防ぐと同時に熱を蓄積する
ように高抵抗とされたシリコン層2と、このシリコン層
2上に一体的に突設された低抵抗シリコンの発熱ドット
3・・・とより成るものである。
Further, FIG. 6 is a sectional view corresponding to FIG. 5 showing another embodiment of the thermal head of the present invention. From the above embodiment figures, the thermal head of the present invention comprises a single crystal substrate 1 made of α-SiO2, spinel, silicon carbide, or titania, a silicon layer fixed on this supporting substrate 1, and heat generating dots (3 )... A silicon layer 2 made of high resistance so as to prevent heat from escaping and at the same time accumulate heat, and low-resistance silicon heat-generating dots 3 integrally protruded on this silicon layer 2.・It consists of

実施例図のパターニングに於ては、このような発熱ドッ
ト3・・・は、電極4の導電パス6・・・の途中に夫々
1個宛配列されてあり(第2図,第3図)これに接融的
に走行する感熱紙(不図示)に対して瞬間的且つ選択的
に発熱して対応部を一次発色させて印字を得るものであ
る。本発明に於ける基板1、高抵抗シリコン層2並びに
シリコン発熱ドット3・・・は望ましくは次の要領で作
成される。常法により得たα一SiO2,スピネル,炭
化珪素,及びチタニアの単結晶基板1上にエピタキシヤ
ル法によつて高抵抗のシリコン層2を成長させる。この
シリコン層2は後述するようにその厚みを、適度に選定
することによりこの上の発熱ドット3・・・の発熱の逃
散を防ぐと同時に熱を適度に蓄積する媒体となり得るも
ので本発明に於て極めて重要なビードコントローラであ
り、その厚みは1〜100μ程度の範囲から、発熱ドッ
ト3・・・の発熱量、基板1の厚みを考慮して適宜選択
する。
In the patterning shown in the example diagrams, such heating dots 3 are arranged one at a time in the middle of the conductive path 6 of the electrode 4 (Figures 2 and 3). This generates heat instantaneously and selectively on the thermal paper (not shown) which runs in a fused manner to cause the corresponding portion to develop a primary color, thereby obtaining a print. The substrate 1, high-resistance silicon layer 2, and silicon heating dots 3 in the present invention are preferably created in the following manner. A high-resistance silicon layer 2 is grown by an epitaxial method on a single crystal substrate 1 of α-SiO2, spinel, silicon carbide, and titania obtained by a conventional method. As will be described later, by appropriately selecting the thickness of the silicon layer 2, it can be used as a medium to prevent heat dissipation from the heat generating dots 3 on the silicon layer 2 and at the same time to accumulate heat appropriately. This is an extremely important bead controller, and its thickness is appropriately selected from a range of about 1 to 100 μm, taking into consideration the amount of heat generated by the heat generating dots 3 and the thickness of the substrate 1.

このシリコン層2は、またドープ量が1014〜101
5個数/Ccの高純度のもの、抵抗率は略々10Ω・鑞
である。このシリコン層2上に一体的に突設される低抵
抗シリコンの発熱ドット3・・・は、シリコン層2上に
同じくエピタキシヤル法によつてシリコン層(不図示)
を成長させ、所定のドット3・・・の区劃を残してエツ
チングによつて他を除去して得られるもので、ドーブ量
は1018個数/Cc程度の比較的低抵抗のシリコンで
あり、抵抗率がほゾ0.01Ω・?位のもので、その厚
みは0.1〜3μである。上述より既に判明するように
、上側のシリコン層より得たドット3・・・はジユール
発熱体そのものであるのに対し下側のシリコン層2は基
板1と組み合つて上記発熱の逃散防止と適度の蓄熱媒体
として機能し、電気的には何等関与しない。
This silicon layer 2 also has a doping amount of 1014 to 101
It has a high purity of 5 pieces/Cc and a resistivity of approximately 10Ω/solder. The heat-generating dots 3 of low-resistance silicon integrally provided on the silicon layer 2 are formed by forming a silicon layer (not shown) on the silicon layer 2 by the same epitaxial method.
It is obtained by growing dots 3... and removing the others by etching, leaving a section of predetermined dots 3..., and the doping amount is about 1018 dots/Cc, which is relatively low resistance silicon. The rate is tenon 0.01Ω・? The thickness is 0.1 to 3μ. As already clear from the above, the dots 3 obtained from the upper silicon layer are the Joule heating elements themselves, while the lower silicon layer 2 is combined with the substrate 1 to prevent and moderate the dissipation of the heat. functions as a heat storage medium, and is not electrically involved in any way.

本発明サーマルヘツドは上記構成を主体とするが、ドッ
ト3・・・に電気的に接続されるダイオードは、従来の
ように別個の半導体チツプをマウントすることなく、シ
リコン層より容易に分離作出されるものである。
The thermal head of the present invention mainly has the above configuration, but the diodes electrically connected to the dots 3... can be easily separated from the silicon layer and produced without mounting a separate semiconductor chip as in the past. It is something that

即ち、このダイオード5・・・はシリコン層2を基板1
の全面に均一に形成した后、必要なダイオード形成部位
と本体のシリコン層2とをエツチングによつて分離する
ことによつて容易に得られるもので、なお、このダイオ
ードは適当なドーブ手段によつて形成されたP−N接合
51を具備している(第5図参照)。導電パス6は図の
ように発熱ドット3とダイオード5とを直接にコート接
続するものであるが、このパス6の形成手段は、Al,
Auその他の導電性金属を当該パス形状に蒸着によつて
設けるものであるが、Auを用いる時はシリコン表面と
の接着を考慮してクロム層を下地層(不図示)として蒸
着しておく。
That is, this diode 5... connects the silicon layer 2 to the substrate 1.
This diode can be easily obtained by etching the necessary diode formation area and separating it from the silicon layer 2 of the main body after forming it uniformly over the entire surface of the diode. It is provided with a PN junction 51 (see FIG. 5). The conductive path 6 connects the heating dot 3 and the diode 5 directly as shown in the figure, and the means for forming this path 6 is made of Al,
Au or other conductive metal is provided in the path shape by vapor deposition. When using Au, a chromium layer is vapor-deposited as a base layer (not shown) in consideration of adhesion to the silicon surface.

サーマルヘツドのドット3・・・表面は常に感熱紙が接
触走行するため、熱伝導を阻害しない耐摩耗被覆が望ま
しく適用されるべきで、一例としてSlCのコーテイン
グ8(第6図)を行なうのがよい。この場合SiCには
電導性があるのでSiCの下部にSiO2よりなる絶縁
膜7をあらかじめコートしておく。本発明サーマルヘツ
ドは上記構成の如く、発熱ドット3の下側に熱伝導と蓄
熱を同時に考慮した適当厚みのシリコン層2が位置しこ
の層2の下面に接して熱容量の大きなα−SiO2,ス
ピネル,炭化珪素及びチタニアのいづれかの単結晶の基
板1が位置しているので、ドット3の熱がシリコン層2
に伝幡してもこの層2における熱が基板1によつて急激
に奪われること、つまり、感熱紙とは反対側に不必要に
逃避することがなくなると共に基板1とドット3・・・
との間に介在されるシリコン層2によつて或る程度の熱
の蓄積が可能となり、これらによつて本発明ではドット
3・・・の感熱紙に対する熱効率がよくなり且つ熱蓄積
がし易く瞬時における熱的な高反応性を示すこととなる
Thermal head dot 3...Since thermal paper always runs in contact with the surface, it is desirable to apply a wear-resistant coating that does not inhibit heat conduction. For example, SlC coating 8 (Figure 6) is used. good. In this case, since SiC has electrical conductivity, an insulating film 7 made of SiO2 is coated on the bottom of the SiC in advance. As configured above, the thermal head of the present invention has a silicon layer 2 of an appropriate thickness that takes into account heat conduction and heat storage at the same time under the heat generating dots 3, and a layer of α-SiO2 with a large heat capacity, spinel, etc. , silicon carbide or titania, the heat of the dots 3 is transferred to the silicon layer 2.
Even if the heat is transmitted to the layer 2, the heat in the layer 2 is rapidly taken away by the substrate 1. In other words, the heat in the layer 2 is not unnecessarily escaped to the side opposite to the thermal paper, and the heat in the layer 2 is removed from the substrate 1 and the dots 3...
A certain amount of heat can be accumulated by the silicon layer 2 interposed between the dots 3 and 2, and due to these, in the present invention, the thermal efficiency of the dots 3... with respect to the thermal paper is improved and the heat is easily accumulated. It shows instantaneous high thermal reactivity.

特に本発明にあつては、α−SiO2,ヌピネル,炭化
珪素およびチタニアから選択された基板1がサフアイア
基板と同様に結晶の格子定数が近似しているため、シリ
コンと化学的に親和性が極めて良好であり(たとえば、
スピネルはむしろ単結晶サフアイアよりも親和性が良い
)、加えて両者の熱膨張率、熱収縮率が似ているために
、感熱記録時の熱蓄積、熱放出というヒートサイタルに
置かれた場合、高抵抗シリコン層2の内部に熱応力が残
らず、従つて、熱歪に基づくクラツクの発生がなく、熱
的に無理のない堅牢なサーマルヘツドが製作できる。ま
た、高抵抗シリコンと低抵抗シリコンとの相違は内部に
不純物があるか否かだけてあるから、基板1の上に高抵
抗シリコン層2をエピタキシヤル法によつて成長させる
時、低抵抗シリコン層3に相当する厚み分、高抵抗シリ
コン層を更に成長させつつこれに不純物を混入してゆけ
ば、高抵抗シリコン層2に続いて連続的に低抵抗シリコ
ン層3を形成でき、故に高抵抗シリコン層2と低抵抗シ
リコン層3とが単一のエピタキシヤル成長工程で形成す
ることが可能である。
In particular, in the present invention, the substrate 1 selected from α-SiO2, Nupinel, silicon carbide, and titania has a crystal lattice constant similar to that of the sapphire substrate, and therefore has extremely high chemical affinity with silicon. good (e.g.
Spinel has a better affinity than single-crystal sapphire), and since both have similar coefficients of thermal expansion and contraction, when placed in the heat cycle of heat accumulation and heat release during thermal recording, No thermal stress remains inside the high-resistance silicon layer 2, so cracks due to thermal strain do not occur, and a thermal head that is thermally reasonable and robust can be manufactured. Furthermore, since the only difference between high-resistance silicon and low-resistance silicon is whether or not there are impurities inside, when growing the high-resistance silicon layer 2 on the substrate 1 by the epitaxial method, the low-resistance silicon By growing the high-resistance silicon layer to a thickness equivalent to layer 3 and adding impurities to it, it is possible to form a low-resistance silicon layer 3 continuously following the high-resistance silicon layer 2, thus increasing the resistance. It is possible to form the silicon layer 2 and the low resistance silicon layer 3 in a single epitaxial growth step.

このことと、上記した基板1とシリコン層2,3との親
和性との相乗により簡単に、堅牢にサーマルヘツドが製
作できる利点がある。以上本発明は公知の半導体型サー
マルヘツドの欠点を一掃し得る優れた効果を奏し得るの
である。
This, combined with the above-described affinity between the substrate 1 and the silicon layers 2 and 3, has the advantage that a thermal head can be manufactured easily and robustly. As described above, the present invention can produce excellent effects that can eliminate the drawbacks of known semiconductor type thermal heads.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の半導体型サーマルヘツドの概略斜視図、
第2図は本発明サーマルヘツドのパターンの一例を示す
平面図、第3図は第2図に於けるサーマルドット部分の
拡大平面図、第4図は第2図のへツドを模式的に一部を
拡大した斜視図、第5図は第4図V−線拡大断面図を示
す。 また、第6図は本発明サーマルヘツドの別の実施態様を
示す第5図対応断面図である。符号の説明、1・・・・
・・α−SiO2,スピネル,岸化珪素及びチタニアの
いづれかの単結晶基板、2・・・・・・高抵抗シリコン
層、3・・・・・・発熱ドット(低抵抗シリコン)、4
・・・・・・電極、5・・・・・・ダイオード、6・・
・・・・導電パス、7・・・・・・α−SiO2、8・
・・・・・耐摩耗被覆SiC.p・・・・・・感熱紙。
Figure 1 is a schematic perspective view of a conventional semiconductor thermal head.
2 is a plan view showing an example of the pattern of the thermal head of the present invention, FIG. 3 is an enlarged plan view of the thermal dot portion in FIG. 2, and FIG. 4 is a schematic diagram of the head in FIG. 2. FIG. 5 shows an enlarged sectional view taken along the line V in FIG. 4. Further, FIG. 6 is a sectional view corresponding to FIG. 5 showing another embodiment of the thermal head of the present invention. Explanation of symbols, 1...
・・Single crystal substrate of α-SiO2, spinel, silicon oxide, or titania, 2 ・・High resistance silicon layer, 3 ・・Heating dots (low resistance silicon), 4
...Electrode, 5...Diode, 6...
...Conductive path, 7...α-SiO2, 8.
...Wear-resistant coating SiC. p...Thermal paper.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 α−SiO_2、スピネル、炭化珪素及びチタニア
のいづれかの単結晶基板と、この基板上に定着されたシ
リコン層であつて、発熱ドットの発熱の逃散を防ぐと同
時に熱を蓄積するように高抵抗とされたシリコン層と、
このシリコン層上に一体的に突設された低抵抗シリコン
の発熱ドットとより成るシリコン半導体サーマルヘッド
。 2 高抵抗シリコン層が上記基板上にエピタキシャル成
長されたものであり、低抵抗シリコン発熱ドットが上記
高抵抗シリコン層上にエピタキシャル成長された低抵抗
シリコン層よりエッチングによつて残されたものである
特許請求の範囲第1項記載のサーマルヘッド。 3 高抵抗シリコン層が上記基板上にエピタキシャル成
長されたものであり、低抵抗シリコンの発熱ドットが上
記高抵抗シリコン層上にエピタキシャル成長された低抵
抗シリコン層よりエッチングにより残されたものであり
、シリコンダイオードが上記高抵抗シリコン層より形成
されたものである特許請求の範囲第1項記載のサーマル
ヘッド。
[Scope of Claims] 1 A single crystal substrate of α-SiO_2, spinel, silicon carbide, or titania, and a silicon layer fixed on this substrate, which prevents heat dissipation of heat generating dots and at the same time dissipates heat. A silicon layer with high resistance that accumulates,
This silicon semiconductor thermal head consists of heat-generating dots made of low-resistance silicon that are integrally protruded onto this silicon layer. 2. A patent claim in which a high-resistance silicon layer is epitaxially grown on the substrate, and low-resistance silicon heating dots are left by etching from the low-resistance silicon layer epitaxially grown on the high-resistance silicon layer. The thermal head according to item 1. 3 A high-resistance silicon layer is epitaxially grown on the substrate, and heating dots of low-resistance silicon are left behind by etching from the low-resistance silicon layer epitaxially grown on the high-resistance silicon layer, and a silicon diode is formed. 2. The thermal head according to claim 1, wherein said high-resistance silicon layer is formed of said high-resistance silicon layer.
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