JPS5937551U - 電気光学的米粒検査装置 - Google Patents

電気光学的米粒検査装置

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JPS5937551U
JPS5937551U JP13385082U JP13385082U JPS5937551U JP S5937551 U JPS5937551 U JP S5937551U JP 13385082 U JP13385082 U JP 13385082U JP 13385082 U JP13385082 U JP 13385082U JP S5937551 U JPS5937551 U JP S5937551U
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JP
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electro
optical
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grain inspection
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修 村上
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株式会社ケツト科学研究所
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明の一実施例である米粒の電気光学的粒
体検査装置を概略的に断面図で図示する図。第２図は、
第１図に図示の電気光学的検査装置の上面図。第３図は
、第１図の■−■線に沿う拡大断面図。 １・・・無端ベルト、１ａ・・・貫通孔、１ｂ・・・内
周壁面、２・・・従動ローラ、３・・・モータ、４・・
・駆動ローラ、５・・・補助ローラ、６ａ、６ｂ、６ｃ
・・・スライド台、７・・・投入ホッパ、８・・・ガイ
ド板、８ａ−・テーパ溝、９・・・ならし装置、９ａ・
・・板ばね、９ｂ・・・剛毛ブラシ、１０・・・電気光
学的検出器、１０ａ・・・光源、１θｂ・・・受光素子
、ＩＯＣ・・・スロット、１０ｄ・・・透光板、１０ｅ
、１０ｆ・・・偏光板（直交ニコル偏光フィルタ）、１
１・・・受は容器、１２・・・掃除ブラシ装置、１２ａ
・・・剛毛ブラシ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 米粒−粒を容易に受容する米粒とほぼ同形状の貫通孔を
    複数配列した移送板と、この移送板に沿って設けられ、
    貫通孔中の米粒−粒に下方光線を照射する光源と米粒の
    拡散透過光量を測定する電気光゛学率子を含む電気的検
    出装置とを有する電気光学的米粒検査装置において、 −貫通孔の内周壁面につや消し、微細な多数の凹凸又は
    多数の周方向溝を設けて、内周壁面をギザギザにしたこ
    とを特徴とする電気光学的米粒検査装置。
JP13385082U 1982-09-03 1982-09-03 電気光学的米粒検査装置 Granted JPS5937551U (ja)

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JP13385082U JPS5937551U (ja) 1982-09-03 1982-09-03 電気光学的米粒検査装置

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JPS5937551U true JPS5937551U (ja) 1984-03-09
JPH0247490Y2 JPH0247490Y2 (ja) 1990-12-13

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08501386A (ja) * 1992-09-07 1996-02-13 アグロビジョン・エービー 穀物の穀粒及び他の粒状の製品の自動的評価のための方法及び装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08501386A (ja) * 1992-09-07 1996-02-13 アグロビジョン・エービー 穀物の穀粒及び他の粒状の製品の自動的評価のための方法及び装置

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