JPS59333B2 - ツウデンカコウソウチ - Google Patents

ツウデンカコウソウチ

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JPS59333B2
JPS59333B2 JP5144273A JP5144273A JPS59333B2 JP S59333 B2 JPS59333 B2 JP S59333B2 JP 5144273 A JP5144273 A JP 5144273A JP 5144273 A JP5144273 A JP 5144273A JP S59333 B2 JPS59333 B2 JP S59333B2
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circuit
electrode
comparator
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JP5144273A
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JPS504699A (ja
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巌 近藤
健次郎 田岡
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KURODA SEIKO KK
TAOKA SEISAKUSHO KK
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KURODA SEIKO KK
TAOKA SEISAKUSHO KK
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  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電極と加工物間(以下電極間と称す)に放電を
発生させ、その放電作用によつて型彫り・切断・穴明け
等の加工を行なう放電加工装置に関するもので、その加
工中発生するアーク状態並びに放電が不特定になつた異
常加工中に生ずる「きのこ状」の異常生成物の生成を防
止する事を目的とする。
一般にスイッチを利用して加工電流を直接開閉する開閉
型放電加工回路や従属型の放電回路に於て、電極を低消
耗に保ちながら加工する条件は、放電パルス幅を比較的
長く選定する事、加工電流(電極点の電流密度)を左程
大きく選ばない事、電極を正・加工物を負の極性に選ぶ
事(逆極性)、電極材料には銅又はグラファイト・加工
物には銅等の組合せを用い加工液にはケロシン又は第3
種石油類を用いる事等種々の加工条件を満足しなければ
ならない事はよく知られている。更にこの種電極低消耗
条件が得られる原因は放電中1 電極よりも加工物にエ
ネルギが集中し易い様な電気的条件(アーク生成条件)
が成り立つている以外に、加工物の材料自体又は加工液
の分解生成物が電極表面に付着する結果電極が消耗し難
くなる事もよく知られている。従つて放電に基因する電
極自身の溶解損耗量と放電によつて得られた高温生成物
が電極表面へ付着する増量との平衡に於て、電極は結果
的に消耗しないものと考えてよい。
このため電極材料が変つたり加工状態が悪化したり、加
工液が変つたり、電気的条件が変つたりすると電極消耗
の状態も共に変化する事も理解出来る。たとえば放電が
不安定になつた状態で加工が進行すると、電極と加工物
の表面に「きのこ状」の突起物が生成し、突起物が電極
の上に長く生長する結果電極は結果的に加工進行方向と
逆の方向に運動し時には火災を発生する事すらある。そ
こでこの様な「きのこ状」突起物の成因を調査した結果
、加工状態が次に述べる様な条件を満足する時突起物の
生成(発生ならびに成長)がいちじるしい事が解つた。
1)パルス幅の比較的長い低消耗条件の加工を行つてい
る時。
2)デユーテイフアクタr/T(以下r/Tと略記する
但しr:パルス幅、T:パルス周期を示す)が1に近い
時。3)加工電流の大小には左程関係無い。
4)噴流・吸引・圧力の小さい時又は噴流・吸引 二を
行わない時。
5)サーボ増幅器のゲインが小さい時。
従つて電極の運動速度が遅い時や電極が振動し難い状態
は突起物生成原因となる。6)設定電圧(電極間平均電
圧)を低く設定し過 ンぎた時。
7)電極低消粍条件で加工している時定常アークになつ
た時。
上記5)及び6)は元来作業者のオペレーシヨンミスに
属する問題であるが、通常の放電加工 3機ではシンク
ロスコープ等による精密な観測手段を付属していない上
に、若しシンクロスコープを取付けた場合でも観測され
た電圧・電流波形から加工の不安定又は突起物の生成条
件を明確に維論するには高度な熱線と判断力を必要と
5する。
すなわち作業者は何度加工しても同一の値に設定電圧や
サーボ系の感度其の他加工条件を選定していない事を示
している。8)電極の間歇的引き上げを実施した方が突
起物は生成し難いが、一旦発生するとほとんど無関 4
係と云つてよい。
9)電極面積は比較的大なる時(底付型などで加工液の
循環の悪い時)。
この様な突起物が発生し易い状態又は生成している状態
の電圧波形を観測すると、第1図中波形C4又は同11
又は1Vに近い波形が連続的に発生している場合が多い
すなわち絶縁破壊性のアーク放電ではなく、定常アーク
又は定常アータに近い状態或いは電極間に非常に大きな
間隙コンダクタンスが発生している状態である事が解る
。そこで前述の損耗と付着のバランスがくずれた状態で
且つ低消耗加工条件の際に突起物は発生し易い。そして
この様な電圧波形が観測された時、各種の対策すなわち
前記1)〜9)の原因を取除く操作を施さなければなら
ないが、r/Tのみを変化すると休止時間が電極の消耗
(最終的仕上り形状又は寸法)に関係するので好ましく
ない。従つて単にr/Tを小さくするだけでは対策とは
云い得ない。又上記以外の対策としては設定電圧の上昇
、サーボ増幅器の感度上昇、電極の間欠的引上げの頻度
と上昇量の増加、パルス幅のみの減少、加工電流のみの
減少、パルス幅と休止時間を共に増加すると同時に加工
電流を減少する等が考えられる。そしてこれ等の対策を
施すことにより突起物の発生は停止するが、突起物が消
滅する迄には相当の長時間を要し、上記の対策は相当長
期にわたり実施されなければならない。本発明は自動的
に非絶縁破壊性のアーク放電等の加工状態を検出し、こ
の検出された加工状態に対応して設定電圧を自動的に変
化させ、電極間の間隙を増加させ突起物の生成を防止す
るものである。
以下図面に示す実施例について具体的に説明する。
第2図は突起物が生成すると考えられる、非絶縁破壊性
アータ及び相当大きな間隙コンダクタンスが発生してい
る事を論理検出してこれを積分し、その積分結果を用い
て電極間平均電圧(電極と加工物間の放電間隙)の設定
値を変化させる回路である。図中放電加工用電源6は記
号LV(10w01tage)で示す低電圧出力と記号
HV(HlghvOltage)で示す高電圧出力の両
者が重畳(同期型と非同期型とがあり、同期された場合
は高・低両電圧間に位相差をつけたもの等すべての重畳
法を含む)された電源である。本発明は特に加工用低電
圧に絶縁破壊用高電圧を重畳する形式に限定されるもの
ではないが、実施例は高電圧重畳型で説明する。コンパ
レータ1と2の入力電圧は高電圧阻止ダイオード7の電
源側A点(直流断続回路の低圧側)から得ている。
この電圧は電極8と加工物9間から検出するか、低電圧
加工電流がどの程度流れたかによつて検出してもよい。
低電圧出力の開放電圧(無負荷電圧)は第1図a及びc
の点線Lで示される。そして低電圧出力がこの開放電圧
以下に下がるには、相当大きな加工電流が電極8と加工
物9間に流れなければならない。しかしながら突起物が
生成し易い時又は生成していてアーク放電が発生してい
ない時は、電極間電圧並びに電源6の出力波形は第1図
A,cに点線11又は1Vで示すようになり、この場合
は間隙10に極めて大きな間隙コンダクタンスが発生し
ていると考えてよい。この様な状態で間隙10にアーク
放電が発生しても、電圧波形は第1図A2,c2,a3
,c3の如き放電波形とはならず、同図A4,c4の如
き放電波形となる。
設定電圧の低い状態でアーク放電又は大きな間隙コンダ
クタンスが発生すれば、電極間に第1図a1の11やA
4の如き電圧波形がランダムに混在する結果、電極昇降
用サーボはこの設定電圧に平衡して停止してしまう。こ
の様な状態で間隙にエネルギーが供給されれば、加工液
の分解生成物や加工屑は電極表面に焼付現象を起すと同
時にアーク放電の分散が行われ難くなる。かくして間隙
の極部にアークと過大な間隙コンダクタンスが発生して
「きのこ状]の突起物が発生し成長する。この状態をコ
ンパレータ1で検出する。
すなわちコンパレータ1の反転電圧はアーク電圧より高
く開放電圧(低電圧出力の開放電圧)より低く設定され
ているがどちらかと云うと低電圧の開放電圧に近い値に
保たれている。然しコンパレータ1の反転電圧は無暗に
開放電圧(例えば80)に近ずける事は良くない。即ち
その反転電圧は設定反転電圧のドリフト(第2図に於て
は主として定電圧ダイオード12の熱的ドリフト)又は
電源電圧の変動により変動して、結果的にコンパレータ
1の誤動作の原因となる。例えば低電圧側の開放電圧出
力が80の時、反転電圧を75〜60に選んだ理由は、
上記の理由に基くもので、元来アーク電圧より高ければ
任意である。またコンパレータ例えばフエアチヤイルド
社製の集積回路(μA7lO)の反転感度は通常士/m
程度であるので、コンパレータ1の反転電圧を75に選
ぶと、分圧器による感度低下を考慮しても75±100
mV以下で反転する事が可能である。従つてチエナーダ
イオード等を用いて作られる設定電圧のドリフトの方が
感動反転電圧の変動に対して問題は多い。コンパレータ
2の反転電圧はアーク電圧(過渡的なアーク電圧、定常
的なアーク電圧を含む)と短絡電圧の中間の電圧に設定
され、この反転電圧ダイオード13の特性によつて決る
第1図A2,a3の如くパルス印加時、電極間に発生す
る無負荷電圧の存否に基ずいて異常放電状態を検出する
方法は特公昭46−18915号で公知である。
コンパレータ1の作用は電極間電圧のうち無負荷電圧の
存否を検出する手段である事は云う迄もない。以下第2
図の回路動作を説明する。
コンパレータ1の出力が瞬時でもオン(High)状態
となると(すなわちコンパレータ1の反転電圧より高い
電圧が瞬時でも電極間に発生すると)、フリツプフロツ
プ14が反転して安定な放電であることを判別する。そ
してそのフリツプフロツプ14の出力Qはオフの状態か
らオン(High)の状態になる。(以下Hlgh)を
H,LOwをLとする)この状態から電極間に放電を開
始すると、その電極間電圧の低下によつてコンパレータ
1の出力はLに反転する。この放電状態になるとナンド
論理回路5の2つの入力はH及びLとなり出力はHとな
る。この出力でアンド回路3及び4を開閉する。アンド
回路3は上記ナンド回路5の出力の外フリツプフロツプ
の出力Qとコンパレータ2の出力の3つを入力とし、ア
ンド回路4はナンド回路5の出力とコンパレータ2の出
力、フリツプフロツプのQ出力の3つを入力とする。そ
こで電極間にアーク電圧が存在し且つ前記開放低電圧又
は開放低電圧に近い電圧が瞬時(約数10ns以上)存
在し、かつ電極間が放電してアーク電圧迄下降しナンド
回路5の出力がLからHに変わる状態でのみ、アンド回
路3に出力が現われる。
この出力でトランジスタ15はオフとなり、積分器16
にP点から抵抗22を介して負の入力電圧を与える。こ
の結集積分器16の出力は正の電圧となる。積分コンデ
ンサは図示と反対極性に充電されようとするから、積分
コンデンサ17…(図示では負)ダイオード18積分コ
ンデンサ17(ニ)(図示では正)間で放電して図示と
逆極性には充電されない。ゆえに積分器16の出力電圧
(B点の電圧)は接地点EO電圧より正にはならない。
(厳密にはダイオード18の順方向電圧降下+0.7V
以上正の電圧にならない)従つて極性を変換し出力電圧
を調整する目的の増幅器19の出力もほとんど負極性と
はならない。次に第1図aに点線11で示す電圧波形(
間隙に非常に多量の導電性分解生成物が蓄積した結果間
隙コンダクタンスが非常に大となり、アーク放電には移
行し難い状態)となつて、電極間が開放電圧より数V〜
30V前後低下した場合又は絶縁破壊の過程を経ないで
アーク放電となつた第1図A4に示す電圧波形の場合に
は、コンパレータ1の出力はLよりHへ反転しないので
、フリツプフロツプ14の出力QはLに保持される。
従つてナンド回路5の出力はHとはなるが、フリツプフ
ロツプ14の出力QがLとなる故アンド回路3ではアン
ド論理を構成せず、そのアンド回路3の出力はLとなる
。このためトランジスタ15はオンとなり、P点の電位
はほとんど接地点Eの電位となつてP点から負の積分人
力はない。一方この状態でナンド回路5の出力はフリツ
プフロツプ14の出力QはHであると同時にコンパレー
タ2の出力はH(アーク電圧又はアーク電圧以上の電圧
が印加されるから)であるから、アンド回路4の出力は
H即ちS点が正となり、積分器16は積分される。
積分器16が積分された結集積分器16の出力Bは負の
電位となり、積分コンデンサ17中には図示の電荷が蓄
えられる。その結果極性変換増幅器19の出力Uには正
の電位が生じ、エミツタフオロア型増幅器として動作す
るトランジスタ20の出力(WE間)には上記積分電圧
が極性を変更されて現れる。これによりサーボ回路の設
定電圧(端子XE間の電圧)はほぼ増幅器20の出力電
圧の増加分だけ増加するから、サーボバルブ48・油圧
機構101等より成るサーボ機構は上記設定電圧の増加
に応動して、電極8と加工物9の間隔を遠ざける。すな
わち突起物が生成し易い条件になると、サーボ機構の設
定電位が変化して、突起物の生成を防止するように電極
8を加工物9から遠ざける方向に制御する。積分器16
の出力電圧は入力電圧(S点に得られるアンド回路4の
出力電圧)が如何に大きく且つ長時間印加されても電源
電圧以上には増大しない。従つて符号反転並びに出力電
圧調整用増幅器19により出力電圧(UE間の電圧)は
制限されている。又設定電圧は電極8と加工物9が放置
不能となる程変化する事はない。設定電圧をどの程度変
化させるかは波形を観測しながら実験的に決定する。放
電加工装置ではr/Tの変化により平均電圧VMが変化
するので、電極8と加工物9間の入力電圧(制御対象)
を制御するには、設定電圧を一定値とし、スイツチ21
等を用いて電極間からの入力電圧をr/Tに応じて可変
しなければならない。このような切換スイツチを有する
制御回路ではr/Tやパルス幅rが可変されても設定電
圧は同一の比率で制御可能となるから、特定の条件で動
作状態を1回調整しておけば、可変抵抗53の位置は他
の加工条件にも適用可能である。なお後述する第4図に
示す如く割算器を利用した制御回路では切換スイツチ2
1も不必要である。短絡ならびに休止時間中はコンパレ
ータ2の出力はLのため、アンド回路3,4も共にその
出力はLで積分器16の状態はほとんど変化しない。(
厳密には抵抗22を通じて極くわずか放電される。)又
第1図a1の如き放電しない状態が持続されたときは、
ナンド回路5の出力がLとなり、上記短絡時や休止時間
中と同様にアンド回路3,4の出力は共にLとなり、設
定電圧は変化しない。
(なお第3図の回路では短絡時にアンド回路30が動作
してアーク状態と同様に電極間平均電圧は上昇する様に
制御される)之等の動作状態を整理したものが第5図に
示す真理値表である。第3図は論理回路の他の形式を示
す。
この論理回路は短絡や定常アーク状態の度数に応じて加
工平均電圧が変化するようにモノマルチバイブレータ3
2がアンド回路4の出力路に挿入されている。然しこの
回路ではパルス繰返し周波数が変化すると、積分器16
の出力電圧もその周波数1/Tに応じて変化する。この
変化に応じて電極間平均電圧の上昇速度が変化するので
、モノマルチバイブレータ32は取除く事がある。第2
図の回路もr/Tの変化にともなつて設定平均電圧の変
化速度が異る。第4図に示す回路はr/Tに無関係に電
極間制御のためのサーボが可能な回路を利用したもので
、同図A,bは端子イ〜ホと同イ〜ホ7を接続する一つ
の回路である。
又この回路はサーボ増幅器の自動ゲイン調整ならびに間
欠的電極の引きあげ距離及び周波数を自動的に変化でき
る。すなわち定常アーク状態が持続すると、電極8が間
欠的に引きあげられる周波数及び引上げ距離力相動的に
増大する様になつている。そこで第4図の回路では少く
とも2個以上のコンパレータと状態記憶回路14(4図
ではフリツプフロツプ回路14を用いたがモノマルチバ
イブレータで置き換えてもよい。
)の出力とを論理して、定常アーク状態と正常放置状態
、短絡状態、放電しない状態を選択して検出し、この検
出出力をアナログ積分してそれ等の検出状態に適合した
電極間制御を行う。すなわちアンド回路30から得られ
た短絡検出用の出力は符号変換加算回路33・積分器3
4を介して、タイマ35の時間を制御する側路トランジ
スタ36を制御している。このトランジスタ36はタイ
マ35に含まれるコンデンサ37中の電荷を側路して、
タイマ35の動作時間を増大する。そしてタイマ35に
含まれるユニジヤンクシヨントランジスタ(以下UJT
と略記)38が発振してパルスが出力されると、その出
力は単安定マルチバイブレータ39を起動させてフリツ
プフロツプ40をセツトする。それと同時にトランジス
タ41をオフとしてP3点の電位を負に保つから、積分
器42は負の入力で積分され出力電圧(01点)はこの
信号を積分した正の値になる。すなわちこの正の電圧は
コンパレータ43の正のバイアス電圧(感動反転電圧を
決める目的の正の設定電圧)となつているから、可変抵
抗44・抵抗45を通じコンデンサ46中へ充電された
電圧が、このバイアス電圧以上となるとコンパレータ4
3は反転して、フリツプフロツプ40にりセツト信号を
送る。フリツプフロツプ40がセツトされて出力QがH
になると、その出力Qを受けてトランジスタ47が導通
し、電極8を加工物9から遠ざけるようにサーボ機構が
作動する。
すなわち符号変換加算回路33にアンド回路30・割算
回路49から出力された短絡信号又は定常アーク信号が
入力されると、タイマ35は頻繁に発振する様になり、
1回の発振毎に電極8は加工物9から遠ざかる上に、そ
の発振頻度が大となると引上の振幅も大となるから、ア
ーク状態はすみやかに回復する。一方放電しない時はア
ンド回路31が動作するから電極8を加工物9からすみ
やかに遠ざける必要がなく、なるべく早い機会に放電を
再会させたいから、引土周期が長くなると同時にその振
幅も小さくなる様に工夫してある。また電極間が短絡し
ている時はサーボバルブ48が作動して電極8と加工物
9間の距離がすみやかに遠ざかるように構成してあるの
で、電極引上周波数を増したり電極引上距離を増す必要
はない。
むしろ逆に周波数を減少し引上距離もあわせて減少して
、再び到来する安定な放電にそなえた方がよい。このた
め第4図示の回路では短絡に際し電極引上周波数は減少
し電極引上距離も減少する様になつている。なおこの回
路では電極引上距離を積分器42とコンパレータ43を
用いて可変しているが、モノマルチバイブレータ39の
出力を直接利用すれば、ほぼ一定距離(一定時間)の電
極引上が可能となる事は云う迄もない。この際でも電極
引上周波数は可変される。又アンド論理回路4と積分器
16の中間に挿入されている割算器49のX1入力(分
母入力)は、パルス発振器PGの出力をトランジスタ1
02により極性変換して入力し、Z1入力(分子入力)
は不図示のフイルタを介してアンド回路4の出力を入力
している。そしてこの割算器49を利用する事により積
分器16への入力はr/Tとは無関係となり、r/Tの
大小によるWE間の電圧変化の大小が修正される。(割
等器49を挿入しないとr/Tが小の時WE間に出力が
現われるに要する時間が長く掛かる又反対にr/Tが大
の時時間は短くなる。)一方誤差増幅器50の入力も割
算器51によつてr/Tに無関係に制御される様になつ
ている。これに対し積分器16の信号(定常アーク状態
の積分信号)出力と誤差増幅器50の出力を掛算器52
へ入力すれば、定常アーク状態の積分量によりサーボ系
の利得が制御される様になる。すなわち定常アーク状態
が長時間つづく時はサーボ系のループゲインは増大し、
制御系は振動し易くなる上に感度も上昇する。放電が安
定な時はどちらかと云うとサーボ系の感度を小さく(鈍
感に)設定した方が加工は安定である。また加工平均電
圧設定用ポリウム53とゲイン調整用ポリウム25が連
動している。これは設定平均電圧の値が開放電圧の40
%の時よりも80%の時の方がサーボ系のループゲイン
を大きくしなければならないからである。逆に云うとゲ
インの大きいまますなわち80%の時に安定な条件であ
つても、開放電圧の40%に設定すると誤差増幅器50
への入力電圧が大となつて、サーボ系は振動又はパンチ
インクし易い、このため40(f)に設定した時の方が
ループゲインを下げる必要がある。なお誤差増幅器50
にはPID増幅器を用いてもよい。上記の如く本発明は
コンパレータ1の反転電圧をアーク電圧と開放電圧の中
間に選び、開放電圧の有無をフリツプフロツプ14で記
憶し、且つコンパレータ2をアーク電圧と短絡電圧との
中間に設定して、これ等出力で論理検出した結果、正常
に放電した状態と突起物生成原因となる放電を、他の短
絡状態等と区別して検出(論理検出)する事が可能とな
つた。
そしてこの検出出力を積分して、電極8と加工物9間の
平均電圧を制御するサーボ機構の設定電圧を変化するよ
うにしたから、突起物が生じる条件が連続的に発生する
と、上記サーボ機構の作動によつて電極8は加工物9か
ら遠さかり、間隙10の大きさが大となつて突起物の生
成が停止又は減少する方向へ自動制御される。この結果
放電は安定に進行する様になり無人運転が可能となる。
又作業者による設定ミスは左程問題ではなくなる効果も
合せ有するものである。一方本発明を用いると設定電圧
が変る結果、加工間隙(仕上り間隙)が変化すると云う
非難も存在するが、上述の動作(設定平均電圧が変化す
る動作)を行う機械を用いて新たに間隙の大小を実測し
ておけば上記の問題は解消する。なおコンパレータ1,
2の入力には低圧側チヨツパの出力(LV)の電圧を用
いたが、第2図点線示23のように高電圧(HV)すな
わち電極間電圧を用いてもよい。
又フリツプフロツプ14のりセツト動作は、パルス発生
器の出力が休止時間に移行した時点(第1図d(7)T
2)でノ勺レス発生器出力をNOT回路104で論理し
た信号で行う。前記した(特公昭46−18915号)
は論理検出を行つていないから、休止時間ならびに短絡
時間中にも積分が行われる。これに対し論理検出する本
発明は休止時間や短絡時間中や放電していない状態も積
分器の状態は保持されたままである′点が異る。
更に放電加工装置の始動時には、スイツチ24を閉じた
状態からスタートするようにシーケンス制御回路を構成
しておけば、設定電圧(サーボ平衡電圧)の高い状態即
ち電極が加工物より離れているからスタートするので、
起動時に於ける電極8と加工物9間の衝突は防止される
その結果放電がただちに不安定状態に移行する事もない
。端子UE間の出力又は積分器16の出力を用いてサー
ボ増幅器の感度(増幅器のゲイン)を増減してもよいが
、突起物生成原因が発生したらゲインを増加させるとよ
い。第2図・第3図の実施例は作動開始時人手によりゲ
イン調整用の可変抵抗25をなるべく大きく運ぶ形式の
回路を用いた。図面に示す可変抵抗25は半固定である
が自動的に可変させてもよい。以上本発明正常に放電す
る状態をコンパレータ1、コンパレータ2ならびにフリ
ツプフロツプ14を用いて論理検出したが、図示例の方
法以外に正常放電を検出する方法を用いてもよい。
又r/Tは時々刻々変化するものとしないものの両者が
あり、割算器51を用いるとr/Tが時々刻々変化して
も可変抵抗53の位置を変化させる必要はない。第2図
中論理用アンド回路3,4,5等の電源は省略した。又
図示例は低電圧に高電圧を印加重畳する形式の回路を用
いているが、本発明は高電圧を印加重畳する形式のみで
なく、通常の開閉型回路に一般的に適用可能である。こ
の場合高電圧の波形は任意のものでよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は電圧・電流波形図、第2図は本発明放電加工装
置の一実施例を示す回路図、第3図はその他の実施例を
示す回路図、第4図はデユーテイフアクタr/Tに無関
係に電極間制御のためのサーボが可能な回路図、第5図
は放電加工装置の動作状態を示す真理値表である。 1,2,43はコンパレータ、3,4,30,31はア
ンド論理回路、14,40はフリツプフロツプ、32,
39はモノマルチバイブレータ、16,34,42は積
分器、19,33は符号変換加算回路、35はタイマ、
50は誤差増幅器、PGはパルス発振器、6は放電加工
用電源、8は電極、9は加工物、10は間隙、49,5
1は割算器、52は掛算器、48はサーボバルブ、10
1はサーボ機構、5はナンド回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 反転電圧をアーク電圧より高く開放電圧より低く設
    定する第1コンパレータと、この第1コンパレータの出
    力をセット入力とするフリップフロップと、反転電圧を
    アーク電圧と短絡電圧の中間に設定する第2コンパレー
    タと、前記の第1コンパレータ出力の極性反転出力とフ
    リップフロップの第1出力端の出力および第2コンパレ
    ータ出力を入力として正常放電を検出する第1アンド回
    路と、前記の第1コンパレータ出力の極性反転出力とフ
    リップフロップの第2出力端の出力および第2コンパレ
    ータ出力を入力としてアーク放電あるいは不安定放電を
    検出する第2アンド回路と、前記の第1アンド回路およ
    び第2アンド回路に出力がない場合と第2アンド回路に
    出力がある場合とでは互いに反対極性に積分する積分器
    と、この積分器出力に基づいてサーボ回路の設定電圧を
    増加する回路と、この増加された設定電圧に応動して電
    極を加工物から遠ざける方向に制御するサーボ機構とか
    らなる放電加工装置。
JP5144273A 1973-05-09 1973-05-09 ツウデンカコウソウチ Expired JPS59333B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0313955Y2 (ja) * 1982-09-01 1991-03-28

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JPH0313955Y2 (ja) * 1982-09-01 1991-03-28

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