JPS5928797U - 分析計校正装置 - Google Patents

分析計校正装置

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JPS5928797U
JPS5928797U JP12139482U JP12139482U JPS5928797U JP S5928797 U JPS5928797 U JP S5928797U JP 12139482 U JP12139482 U JP 12139482U JP 12139482 U JP12139482 U JP 12139482U JP S5928797 U JPS5928797 U JP S5928797U
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JP
Japan
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calibration
value
sample
storing
analyzer
Prior art date
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Pending
Application number
JP12139482U
Other languages
English (en)
Inventor
佐野　清助
英夫 竹内
Original Assignee
横河電機株式会社
三鷹工業株式会社
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Filing date
Publication date
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Priority to JP12139482U priority Critical patent/JPS5928797U/ja
Publication of JPS5928797U publication Critical patent/JPS5928797U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案に係る装置の使用例を示す信号系統図、
第２図は本考案の一実施例を示すブロック図、第３図は
第２図の操作パネルの具体例を示す構成説明図、第４図
は校正動作のフローチャート、第５図は校正動作説明図
である。 ＣＰＵ・・・・・・プロセッサ、ＲＯＭ・・・・・・リ
ードオンメモリ、ＲＡＭ・・・・・・ランダムアクセス
メモリ、ＫＢＤ・・・・・・キーボード、ＤＰＹ・・・
・・・表示器、ＡＩＤ・・・・・・アナログデジタル変
換器、ＤＩＡ・・・・・・デジタルアナログ　　、変換
器、ＯＵＴ・・・・・・出力回路、Ｂ・・・・・・バス
、ＤＤ・・・・・・デジタル表示器、Ｌ１〜Ｌ１２・・
・・・・ランプ、Ｋ１−に９・・・・・・操作キー。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 分析計で測定した校正試料の測定値とその校正試料の校
    正値に基づいて分析計の校正係数を求めるように構成さ
    れた分析計校正装置において、第１の校正試料の校正値
    Ｅｚを設定し格納する手段と、第２の校正試料の校正値
    Ｅｓを設定し格納する手段と、第１の校正試料の測定値
    Ｘ７．を格納する手段と、第２の校正試料の測定値ｘｓ
    を格納する手段と、これら各校正値及び各測定値に基づ
    いて （Ｅｓ−Ｅｚ）１（Ｘｓ−Ｘｚ）ん表わされる演算を行
    い校正係数Ａを求める手段と、校正係数Ａを相納する手
    段と、第１の校正試料の校正値Ｅｚ、測定値Ｘｚ及び校
    正係数Ａに基づいてＥｚ−Ａ−Ｘｚで表わされる演算を
    行い校正係数Ｂを求める手段と、校正係数Ｂを格納する
    手段とを設けたことを特徴とする分析計校正装置。
JP12139482U 1982-08-10 1982-08-10 分析計校正装置 Pending JPS5928797U (ja)

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JP12139482U JPS5928797U (ja) 1982-08-10 1982-08-10 分析計校正装置

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JPS5928797U true JPS5928797U (ja) 1984-02-22

Family

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JP12139482U Pending JPS5928797U (ja) 1982-08-10 1982-08-10 分析計校正装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003023328A1 (fr) * 2001-09-10 2003-03-20 Rion Co., Ltd. Procede d'ajustement automatique d'un instrument de mesure et dispositif utilisant ce procede

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5282354A (en) * 1975-12-29 1977-07-09 Chino Works Ltd Scaler

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5282354A (en) * 1975-12-29 1977-07-09 Chino Works Ltd Scaler

Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003023328A1 (fr) * 2001-09-10 2003-03-20 Rion Co., Ltd. Procede d'ajustement automatique d'un instrument de mesure et dispositif utilisant ce procede

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