JPS5927539B2 - 走査装置の障害検出方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子式自動交換機における走査装置の障害検出
方式に関するものである。

一般に電子式自動交換において、加入者電話機や通話用
トランク等の状態を常に監視し、加入者電話機や通話用
トラック等から発生する交換処理要求を検出し、該交換
処理要求に応じた交換処理を行う。

電子式自動交換機の中央制御装置は該加入者電話機やト
ランク等の変化（交換処理要求）を検出するために周期
的に走査指令を情報受信分配装置を介して走査装置に送
出する。走査装置は送られて来た信号にもとづき加入者
電話機の発呼検出や通話状態の監視、選択信号の検出等
を行ない、その結果をパルス信号に変換して中央制御装
置へ応答情報として送出する。該走査装置には、その用
途により、加入者線のループを監視して発呼を検出する
ための加入者線走査装置、トランクにおける通話の監視
、各種信号の監視、信号の受信等を行なうトランク走査
装置等がある。

従来、走査装置は第１図に示すように走査駆動装置ＳＣ
ＮＤＶ、行選択マトリクスＲＤＣＶ）走査マトリクスＳ
ＣＮＭＴＸ、及び走査結果の読取回路から構成され、行
選択マトリクスＲＤＣＶの入力情報であるＸ行及びＹ行
指定をチェックするため１／Ｘチェック回路及び１／Ｙ
チェック回路が設けてある。

第２図に示す走査マトリクスＳＣＮＭＴＸは３２行（Ｒ
０〜Ｒ３１）１６ビット（ｂ０〜ｂ１５）列から構成さ
れた例を示す。

図中のＭＴＩ行およびＭＴｏ行は特定のパターンを有し
た保守診断用走査線である。走査マトリ２スのクロスポ
イントは各加入者線あるいはトランクの監視ポイント１
個に１ポイントが対応しており加入者回路についていえ
ば白〇印ポイント１は第３図のａ図に示すように加入者
線が空き状態で加入者回路のリレーＬＲ（図示せず）が
動作せずｌｒスイッチが開いていることを示し、黒〇印
ポイント２は第３図のを図に示すように加入者線がルー
プ状態となり加入者回路のリレーＬＲが動作しｌｒスイ
ッチが閉じていることを示す。第３図中Ｒは抵抗、Ｄは
逆方向電流の回り込みを防ぐダイオードを示す。第２図
のＭＴｌ行およびＭＴＯ行については、ＭＴｌ行は偶数
ビツト毎にスイツチ１ｒの閉じた固定パターンを形成し
ＭＴＯ行は奇数ビット毎にスイツチ１ｒが閉じた固定パ
ターンを形成している。上記のように構成された走査装
置は交換動作の処理要求を直接検出するものでありきわ
めて高い信頼性がなければならない。

そのためもし障害が発生してもただちに障害個所が検出
できる診断機能の完備が望まれている。従来より、走査
マトリクスの行を決定する走査駆動装置ＳＣＮＤＶの障
害検出に関しては１／ｎチエツクの障害検出回路を有し
一つの走査指令に対し２つ以上の走査マトリクス行が選
択された時、障害検出として障害検出信号（ＮＯ−ＡＮ
ＳＷＥＲ信号）が中央制御装置に返送され障害を検出し
ている。

一方走査結果の読取回路の障害については、定期的にあ
るいは保守者が操作監より保守診断コスンド投入により
ＭＴｌ行およびＭＴＯ行を走査しこの走査読取結果と記
憶装置にある固定パターンとのマツチングをとることに
より障害検出を行なうにすぎない。そのため走査マトリ
クスのクロスポイントのダイオードが故障（オン障害）
し逆方向電流が流れると走査結果が異常となり、その障
害ポイントを発見するには各ポイントのダイオードの特
性を１個づつ検査しなければならず、多くの労力と時間
を要するといつた問題があつた。

走査マトリクスの障害発生の例として、第２図の走査マ
トリクス第１５行Ｒｌ５の１ビツト目Ｂ，のダイオード
がオン障害である場合の走査読取の結果を第４図に示す
。

図中の破線の矢線は走査電流の流れを示す。第４図にお
いて走査マトリクスの第１６行第１ビツト目Ｒｌ６，ｂ
ｌの加入者線と第１５行第０ビツト目Ｒｌ５，ｂＯ及び
１ビツト目Ｒｌ５，ｂｌの加入者線がオフフツク状態（
話中状態）で、その他の加入者線は全てオンフツク状態
（空き状態）である時、第４図のａ図に示すように第１
５行目の走査読取り結果は正常値（１、１）を示すが、
第４図のｂ図に示すように第１６行目を走査した時、そ
の読取り結果は障害ダイオードＲｌ５，ｂｌの廻り込み
により、期待される値は（０、１）でなければならない
ところが異常値（１、１）を示すことになる。本発明は
上記に示すような走査マトリクスのクロスポイントにお
ける障害ダイオードを検出する走査装置の障害検出方式
を提供することにある。

本発明は、上記目的を達成するために、電子式自動交換
機の加入者電話機や通話用トランク等の状態を監視する
走査マトリクス及び走査行５駆動回路間に１／ｎチエツ
ク回路を配した走査装置において、該走査装置の走査マ
トリクスのクロスポイントに対応した被走査接点を順次
閉成する毎に該被走査接点に対応した走査マトリクスの
該当クロスポイントのビツト位置を含む保守用走査行を
走査し、該被走査接点に対応した走査マトリクスのクロ
スポイントにオン障害があるとき、上記１／ｎチエツク
回路が動作することにより障害を検出することを特徴と
する。本発明を実施例をもとに詳細に説明する。

第５図は本発明に係る走査装置全体の構成図である。

第５図中ＳＲＤは中央制御装置より送出された制御信号
を各装置に分配する情報受信分配装置側を示し、ＳＣＮ
ＤＥＣは情報受信分配装置ＳＲＤより送出された走査行
指定情報を解析するデコーダ、ＳＣＮＤＶは走査駆動装
置、ＳＣＮＭＴＸは走査マトリクス、ＡＳＷは走査駆動
装置の走査行駆動回路の障害を検出する１／ｎチエツク
回路の結果を中央制御装置へ送る応答信号送出回路、１
は走査行指定情報、２は走査駆動装置ＳＣＮＤＶを駆動
するための駆動パルス電流、３は応答信号、４は走査結
果の読取回路より送られる走査結果の情報を示す。

第１図の従来例では走査駆動装置ＳＣＮＤＶと行選択マ
トリクスＲＤＣＶ間に１／ｎチエツク回路を設け、走査
１駆動装置で一担ｘ及びｙ行の選択を行なつているが、
本発明では第５図に示すように走査マトリクスＳＣＮＭ
ＴＸの走査線の前に１／ｎチエツク回路を設け、行選択
マトリクスＲＤＣＶは削除してある。

本発明は上記のような構成をとることより１／ｎチエツ
ク回路の障害検出機能が走査１駆動装置の障害検出のみ
ならず走査マトリクスＳＣＮＭＴＸの障害検出機能を有
することに着目したものである。本発明の走査マトリク
スＳＣＮＭＴＸのダイオード０Ｎ障害検出機能を下記に
具体的に説明する。

第６図は走査マトリクスＳＣＮＭＴＸの一部拡大図であ
る。第６図のａ図は走査行Ｒｌ５を走査した時の図であ
り、ｂ図は保守行ＭＴｌ行を走査した時の図である。

図中の破線は走査電流の流れを示し、例として走査行Ｒ
，５ビツト位置Ｂ。のダイオードが０Ｎ障害を起してい
る場合を示している。今走査装置試験において、第２図
に示すような走査マトリクスの各クロスポイントに対応
する各加入者線を例えばＲｌ，ｂＯからＲｌ，ｂｌ５、
．・・．．．．．．．．．、Ｒ３Ｏ，ｂＯからＲ３Ｏ，
ｂｌ５へと順次１加入者毎に擬似ループを作成し各走査
マトリクス行を走査する。

走査行Ｒ１、ビツト位置Ｂ。

のダイオードに０Ｎ障害が発生していると、順次走査線
を走査して行き、障害ダイオードのある走査行Ｒｌ５に
該当した場合でも第６図のａ図に示すように走査読取の
結果は正常な値を示すが、この時擬似ループを作成した
加入者に当るクロスポイントＲｌ５，ｂＯのビツト位置
に対応したＭＴ行、即ち偶数ビツト位置の場合ＭＴｌ行
、奇数ビツト位置の場合ＭＴＯ行を走査すると障害ダイ
オードによる廻り込みにより、第６図のｂ図のようにＲ
３ｌ，ｂＯ−？Ｒｌ５，ｂＯ→１／ｎチエツク回路とい
うルートで、１／ｎチエツク回路に２行選択された情報
が入る。このようにして、１加入者単位で擬似ループ（
発呼状態）を作成し各走査マトリクスを走査する毎にＭ
Ｔ行を走査する。ＭＴ行は走査ポイントが偶数ビツト位
置の場合はＭＴｌ行を、走査ポイントが奇数ビツト位置
の場合はＭＴＯ行を走査することにより正常であれば、
１／ｎチエツク回路を介して応答信号送出回路ＡＳＷよ
り中央制御装置へ応答信号ＡＮＳＷＥＲが送出され、障
害が１／ｎチエツク回路で検出されれば応答信号送出回
路ＡＳＷは中央制御装置へ応答信号を送らないため中央
制御装置は、ＮＯ−ＡＮＳＷＥＲ信号として障害発生を
知る。本発明の走査方式を適用する試験は次のようにし
て行なわれる。

保守者が走査マトリクス試験コマンドをタイプライター
より入力すると中央制御装置は試験コマンドに従い走査
試験プログラムを起動し、加入者擬似ループを作成する
。

次に中央制御装置は該加入者の走査マトリクス指定情報
を情報受信分配装置ＳＲＤを介して走査装置に出力する
。中央制御装置は走査結果を読取回路より読み取り、加
入者回路ループを検出すると、該加入者の収容ビツト位
置に対応したＭＴ行の走査指定情報を情報受信分配装置
へ出力し、応答信号がＡＮＳＷＥＲであるがＮＯ−ＡＮ
ＳＷＲであるかを判別し障害か否かを決定する。走査試
験プログラムの編集部は障害発生個所をスイツチ番号、
グリッド番号、端末番号等の情報に編集する。中央制御
装置は該編集情報をタイプライターに出力する。障害個
所がない時は何も出力されず、保守者は、走査装置が正
常に動作していることを知る。本発明の走査試験方法の
別の実施例を説明する。

通常の電話交換機は、ネツトワーク導通試験機能を有し
ている。導通試１験の回路図を第７図に示す。本発明を
この導通試験と同時に行なうことによりさらに走査試験
が容易となる。

第７図のＡはテストパス側、Ｂは割込パス側を示す。

導通試験は着信加入者に相当するテストパス側のＬＲリ
レーと発信加入者に相当する割込パス側のＬＲリレーの
２個所のリレーが駆動した状態で行ない、他のＬＲリレ
ーは全て復旧状態である。テストパス側は順次全ネツト
ワークの全てのＬＲリレーを駆動することになるが割込
パス側のＬＲリレーは特定のネツトワークに固定されて
いる。

テストパスのＬＲリレーと割込パスのＬＲリレーの走査
ポイントが異なる走査マトリクス単位で駆動している時
、一つの走査マトリクス内の動作ポイント１ｒは１個所
である。

導通試験によつてテストパス側のＬＲリレーが、１個づ
つ駆動される場合、導通試験で正常と判定された時、つ
づいて走査マトリクスの試験を行ない、走査ＭＴ行を走
査し、応答信号（ＡＮＳＷＥＲあるいはＮＯ−ＡＮＳＷ
ＥＲ信号）を検査する。

走査マトリクスのテストパス側ＬＲリレーに対応した走
査マトリクスのクロスポイントのダイオードに障害があ
ればＭＴ行の走査により１／ｎチエツク回路にて異常を
検出するので、障害ダイオードの収容位置を決定するこ
とができる。この走査ＭＴ行のＭＴＯとＭＴｌの選択は
、前記したように導通試験により駆動したＬＲリレーの
対応の走査マトリクスのビツト位置に対応し、ビツト位
置が偶数であればＭＴｌ行を奇数であればＭＴＯ行を走
査する。

導通試験は全ての加入者リレーの動作試験を実行してい
るので上記方法により全ての走査マトリクスのクロスポ
イントを検査でき導通試験完了と同時に走査マトリクス
試験も完了することになる。

導通試験のテストパス側のＬＲリレーと割込側のＬＲリ
レーが同一ネツトワーク内にある場合、テストパス側の
ＬＲリレーに対応した走査マトリツクスのクロスポイン
トが偶数ビツト位置の時、割込パス側を奇数ビツト位置
に、テストパス側が奇数ビツト位置に対応する時には、
割込パス側を偶数ビツト位置になるように割込パス側の
ＬＲリレー位置を選択する。割込パス側とテストパス側
が同一走査マトリツクス上の２クロスポイントであつて
も以上のようにクロスポイントを選択すれば走査試験に
影響しない。本発明によれば、走査マトリクスの障害個
所を導通試験等と同時に検出することができ、走査ポイ
ントが多いとき、例えば１システムの走査マトリクスが
４０００ポイント〜８０００ポイントであつても、１秒
間当り４ポイント試験する場合２０分程で終了すること
が出来るといつた、短時間に障害を検出できる。

また、障害個所が確定できるため出力装置の情報の表示
等で保守者は容易に該当障害個所の保守を行なうことが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の走査装置図、第２図は走査マトリクスの
構成図、第３図は走査マトリクスのクロスポイントの回
路構成図、第４図は走査マトリクスの走査読取結果の１
例図、第５図は本発明に係る走査装置の一実施例図、第
６図は本発明に係る走査マトリクスの一部拡大図、第７
図は本発明の試験方法に係る導通試験回路図である。 ＳＣＮＤＶ・・・・・・走査駆動装置、ＳＣＮＭＴＸ・
・・・・・走査マトリクス、ＡＳＷ・・・・・・１／ｎ
チェツク回路による応答信号送出回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 電子式自動交換機の加入者電話機や通話用トランク
   等の状態を監視する走査マトリクス及び走査行駆動回路
   間に１／ｎチェック回路を配した走査装置において、該
   走査装置の走査マトリクスのクロスポイントに対応した
   被走査接点を順次閉成する毎に該被走査接点に対応した
   走査マトリクスの該当クロスポイントのビット位置を含
   む保守用走査行を走査し、該被走査接点に対応した走査
   マトリクスのクロスポイントにオン障害があるとき、上
   記１／ｎチェック回路が動作することにより障害を検出
   することを特徴とする走査装置の障害検出方式。