JPS5925734A - X線計算機トモグラフ - Google Patents
X線計算機トモグラフInfo
- Publication number
- JPS5925734A JPS5925734A JP57133692A JP13369282A JPS5925734A JP S5925734 A JPS5925734 A JP S5925734A JP 57133692 A JP57133692 A JP 57133692A JP 13369282 A JP13369282 A JP 13369282A JP S5925734 A JPS5925734 A JP S5925734A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- scintillator
- integrator
- amplifier
- scintillators
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 8
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 210000001170 unmyelinated nerve fiber Anatomy 0.000 description 1
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被検体通過後のX線強度を測定することによ
って、被検体のX線吸収係数分布を求a7′)、被検体
の断tm像を得るX@CT装ftに関するものでめる。
って、被検体のX線吸収係数分布を求a7′)、被検体
の断tm像を得るX@CT装ftに関するものでめる。
xmeT装置では、第1図に示すようにX線管]と検出
器3か一体となっ−C被検体の曲りを回転L、その間一
定角度ことにX線をパルス的に発生させ、いろいろな角
度方向からのX線透過強度分布を?4)る。一定角度こ
とにX線透過強度分布をイMるとき、従来のX線C’I
’装楢′では、X線管1がら発生(7、被検体−52を
通過し7たX線を複数個の検出器3(たとえ−jシンチ
レータ)で検出し、検出信号をそノ′1ぞれ光電子増倍
管4によりm流に変換後1、lcl、分器517j:よ
りUt分し、アナ「1クスイツチ6を経てA / J、
)変換器7によりデ任ンタル侶号に変換し7.619機
8に取り込み、被検体2のX線透過強度分布ケイIIて
いた。
器3か一体となっ−C被検体の曲りを回転L、その間一
定角度ことにX線をパルス的に発生させ、いろいろな角
度方向からのX線透過強度分布を?4)る。一定角度こ
とにX線透過強度分布をイMるとき、従来のX線C’I
’装楢′では、X線管1がら発生(7、被検体−52を
通過し7たX線を複数個の検出器3(たとえ−jシンチ
レータ)で検出し、検出信号をそノ′1ぞれ光電子増倍
管4によりm流に変換後1、lcl、分器517j:よ
りUt分し、アナ「1クスイツチ6を経てA / J、
)変換器7によりデ任ンタル侶号に変換し7.619機
8に取り込み、被検体2のX線透過強度分布ケイIIて
いた。
このjμ舎、X線速」lへ強度分布のf)目h′5〕解
能は、X線発生位1西゛と検出器間1. l Tへする
立体角となる。
能は、X線発生位1西゛と検出器間1. l Tへする
立体角となる。
又ンノチレータ3ff:小型化し、検出器数全増加する
と、−そノjに対応した数の九市f増倍賀、積分器の縁
か必要となり、空間的な配晶もむすが1. <、経済的
にも高価なものとなる。
と、−そノjに対応した数の九市f増倍賀、積分器の縁
か必要となり、空間的な配晶もむすが1. <、経済的
にも高価なものとなる。
本発明の目的tま、小数の検出器数で、多数の検出器全
配置したものと同じ効果を得るX線CT装?j¥を提供
することにある。
配置したものと同じ効果を得るX線CT装?j¥を提供
することにある。
本発明は、ノンチレーション検出器と光電子増倍管の間
に光ファイバーと光スィッチを設け、各光ファイバーの
光強度の違いからシンチレータ内でのX線入射位置を決
定し、シンチレータの開口幅よりも小さな検出位値精度
を治し、かつ光スィッチを設けることにより、光ファイ
バーからの光を選択的に光電子増倍管に導き、シンチレ
ータの数よりも少ない九′屯イ増倍管によって信号を増
幅することにより、検出系の簡略化、効率向上を成した
ものである。
に光ファイバーと光スィッチを設け、各光ファイバーの
光強度の違いからシンチレータ内でのX線入射位置を決
定し、シンチレータの開口幅よりも小さな検出位値精度
を治し、かつ光スィッチを設けることにより、光ファイ
バーからの光を選択的に光電子増倍管に導き、シンチレ
ータの数よりも少ない九′屯イ増倍管によって信号を増
幅することにより、検出系の簡略化、効率向上を成した
ものである。
本発明の一実施例を第2図、第3図および第4図によっ
て説明する。
て説明する。
本実施例では、X線管1、X線管からのX線を検出する
シンチレータ3、シンチレータ3からの光導体として光
ファイバー9、光ファイバー9からの光音選択する光ス
ィッチ10、光スイツチ10通過後の光を増幅する光電
子増倍管4、およ0・光電子増倍管4からの電流信号の
大きさを比較し、最大イー号のみ通過させる比較器11
、比較器11に接+、4−.する積分器5、iji分器
のテークを)抗み出すアナログスイッチ6、アナログス
イッチからのrノ゛ログデータをティジタル紹に変換す
るA/Dコンバータ7、A/IJコンバータ7がらのデ
ータ全11νり込む!1層機8よりテーク収集系を構成
する1、 以−ト、/ンチレータの個数’kN。X i量目のシン
J−L/−々k A、 l X’ tlv目のシンチレ
ータに接続−Jるファイバーのうち3番目のものをBH
1K番目の尤1jモ増倍簀4をCk、に番目の積分器5
を”Db、Iff^1のノングーレータシこ接続する゛
)Cファイバー9の個数をIllとする。
シンチレータ3、シンチレータ3からの光導体として光
ファイバー9、光ファイバー9からの光音選択する光ス
ィッチ10、光スイツチ10通過後の光を増幅する光電
子増倍管4、およ0・光電子増倍管4からの電流信号の
大きさを比較し、最大イー号のみ通過させる比較器11
、比較器11に接+、4−.する積分器5、iji分器
のテークを)抗み出すアナログスイッチ6、アナログス
イッチからのrノ゛ログデータをティジタル紹に変換す
るA/Dコンバータ7、A/IJコンバータ7がらのデ
ータ全11νり込む!1層機8よりテーク収集系を構成
する1、 以−ト、/ンチレータの個数’kN。X i量目のシン
J−L/−々k A、 l X’ tlv目のシンチレ
ータに接続−Jるファイバーのうち3番目のものをBH
1K番目の尤1jモ増倍簀4をCk、に番目の積分器5
を”Db、Iff^1のノングーレータシこ接続する゛
)Cファイバー9の個数をIllとする。
旧側にt第51ン1vこ/バすフ1コー チャー トに
従って行なう。X線管1と検出器系が一体となって被検
体2の四〇ヲ同転し、一定角度ことにパルス的にX線を
発生さげ、検出器3でX線を検出し透過作製分布を得る
。捷ず被検体2を中心と1−7たある角度Vのとこイ)
でX線を発生させる。、ノーベーC−の検出器3KXi
iよ入射するが、そのうち1番目のシンチレータA1か
らn番目のシンブーレータAr1tでに入射(7たX線
のみを、−εハぞわのシンチレータ3VC接続した九)
−アイパー9を)Yllスフブ−10ケ通して光電子1
1〜倍肯4に接続することに、l:lJj¥i幅する。
従って行なう。X線管1と検出器系が一体となって被検
体2の四〇ヲ同転し、一定角度ことにパルス的にX線を
発生さげ、検出器3でX線を検出し透過作製分布を得る
。捷ず被検体2を中心と1−7たある角度Vのとこイ)
でX線を発生させる。、ノーベーC−の検出器3KXi
iよ入射するが、そのうち1番目のシンチレータA1か
らn番目のシンブーレータAr1tでに入射(7たX線
のみを、−εハぞわのシンチレータ3VC接続した九)
−アイパー9を)Yllスフブ−10ケ通して光電子1
1〜倍肯4に接続することに、l:lJj¥i幅する。
X線がi番目(■≦i、4n)の/フチレータA1に入
射したとき、シンチレータ内、内で光か発生し、その光
をファイバー13++(J”1〜n )9および光スイ
ングIOを辿[7て光l−7′−増倍管CkからCk+
□4寸で導きそitそ)1増幅する。増幅さえまた(F
’i号υ、11、比較器11で強度ケ比較し、そのつ(
っル太強mのイB月のみ4:積分器5に>jl <こと
に1つでシンチレータ内+内でのX線入躬伯ドを同定す
る。他のシンチ(、・−夕3(たたし0816m )
izi:入射したX線も同J’5fi FL処理する。
射したとき、シンチレータ内、内で光か発生し、その光
をファイバー13++(J”1〜n )9および光スイ
ングIOを辿[7て光l−7′−増倍管CkからCk+
□4寸で導きそitそ)1増幅する。増幅さえまた(F
’i号υ、11、比較器11で強度ケ比較し、そのつ(
っル太強mのイB月のみ4:積分器5に>jl <こと
に1つでシンチレータ内+内でのX線入躬伯ドを同定す
る。他のシンチ(、・−夕3(たたし0816m )
izi:入射したX線も同J’5fi FL処理する。
−W時間経過後積分器5のアナr「クデータをアナロク
スイツ−f6により読み出し、AzQ、+z’−換器7
によりティジクル信号に変換シ、7、割算機8に取り込
む。
スイツ−f6により読み出し、AzQ、+z’−換器7
によりティジクル信号に変換シ、7、割算機8に取り込
む。
次に光ツイツチ10をn」−1番目から2n番目のシン
チレータ3に属する光フッイノ・−9か光電子増倍管4
に接続する。Lうに切り換えて、測定をくり返し7、テ
ークをばtjM−機8に工(り込む1、y(、スイッチ
10による光路のりノリ換え一機械式と非機荷式の二通
りがある。機械式は第4図(a)にツJ−11」、うに
光ファイバー9からの光を光電子増倍′肖・4にM4り
ために光フアイバー12奮用い、光ファイバーのシンチ
レータ、3側の接点13ktam的に移動させることに
よって光路の切り換えを行な)、、非機わN式スイッチ
は第4図(b)に示すように偏う’(、4+き114、
ファラテー回転子15、半波長板16、ノリズノ、17
、:)Y、ファイバー18から構成される。
チレータ3に属する光フッイノ・−9か光電子増倍管4
に接続する。Lうに切り換えて、測定をくり返し7、テ
ークをばtjM−機8に工(り込む1、y(、スイッチ
10による光路のりノリ換え一機械式と非機荷式の二通
りがある。機械式は第4図(a)にツJ−11」、うに
光ファイバー9からの光を光電子増倍′肖・4にM4り
ために光フアイバー12奮用い、光ファイバーのシンチ
レータ、3側の接点13ktam的に移動させることに
よって光路の切り換えを行な)、、非機わN式スイッチ
は第4図(b)に示すように偏う’(、4+き114、
ファラテー回転子15、半波長板16、ノリズノ、17
、:)Y、ファイバー18から構成される。
tfノリZノ、17の一端を図4 (1))にノド〜す
ように光フi’−(・<−18によつ−C光電子増倍管
4に接続してl・゛き、名27−j”ラブ−回転子15
にかける磁場の方向ケ1.りり換えることにより光路の
(りり換えを行な“)。
ように光フi’−(・<−18によつ−C光電子増倍管
4に接続してl・゛き、名27−j”ラブ−回転子15
にかける磁場の方向ケ1.りり換えることにより光路の
(りり換えを行な“)。
以1−の測定に−J’べでの7ノチレータ3にわたつ−
C行ない、角瓜θ方向からの被46= (、+、’ 2
のX線透過強1f!j分布の測定を・終了する。
C行ない、角瓜θ方向からの被46= (、+、’ 2
のX線透過強1f!j分布の測定を・終了する。
以1−述べた一連の測定°4二X #l!’I’i )
検出器の組刃・Δ0回転するごとに行ない、あらゆる角
度方向からのX線透過強度分布を゛イQる。
検出器の組刃・Δ0回転するごとに行ない、あらゆる角
度方向からのX線透過強度分布を゛イQる。
又飲求きれる画像梢1及に応じて、光スィッチ10によ
り敷本の光ファイバー9からの光音1つの光電子増倍管
4に導き、IJ透過強度分布を得ることもできる。
り敷本の光ファイバー9からの光音1つの光電子増倍管
4に導き、IJ透過強度分布を得ることもできる。
本実施例によitは、従来のように検出器1個に71し
、1個の増幅器を心安とぜす、仲数個の検出器に対し1
個の増幅器を心安とするのみである。
、1個の増幅器を心安とぜす、仲数個の検出器に対し1
個の増幅器を心安とするのみである。
また、検出器の開口よりも小感な位置分解能か得らノす
るという効果がある。
るという効果がある。
第1図は従来のX線CT装箭、の配置6図、第2図は本
発明の一実施例の装百構成図、第3図は光スィッチのグ
ロック図、第4図(a)および(t)) r、iそノ1
ぞれ機械式スイッチおよび非機械式スイッチの構成図、
第5図は計測手順を示すフローチャー1・である。 ■・・X線発生器、2・・・被検物、3・・・/ンチレ
ータ、4・・・光電子増倍管、5・・・積分器、6・・
・アナログスイッチ、7・・・A/IJコン・(−タ、
8・・・=Ln機、9・・・尤77 □1 )・−11
0・・)゛乙ヌイノグー111・・・比重y選択器、1
2・・・)゛1.フγ・1/ζ−1l 3・・・接続[
自1.14・・・&i光板、15・・・ソjラーノー回
転r、16・・・半波長板、17・・・プリズム、1B
・・・九フー7−4・く−0−1代理人 弁理士 高橋
明夫’[Is l、1− C,+笥−ck 第4霞 (久) (夛)
発明の一実施例の装百構成図、第3図は光スィッチのグ
ロック図、第4図(a)および(t)) r、iそノ1
ぞれ機械式スイッチおよび非機械式スイッチの構成図、
第5図は計測手順を示すフローチャー1・である。 ■・・X線発生器、2・・・被検物、3・・・/ンチレ
ータ、4・・・光電子増倍管、5・・・積分器、6・・
・アナログスイッチ、7・・・A/IJコン・(−タ、
8・・・=Ln機、9・・・尤77 □1 )・−11
0・・)゛乙ヌイノグー111・・・比重y選択器、1
2・・・)゛1.フγ・1/ζ−1l 3・・・接続[
自1.14・・・&i光板、15・・・ソjラーノー回
転r、16・・・半波長板、17・・・プリズム、1B
・・・九フー7−4・く−0−1代理人 弁理士 高橋
明夫’[Is l、1− C,+笥−ck 第4霞 (久) (夛)
Claims (1)
- I X線を検出する複数のシンチレータ、このシンチレ
ータからの光音増幅する増幅器、増幅器からの信号を積
初−する積分器を有するX線計算機断層撮影装置におい
て、シンチレータと増幅器との間に光ファイバー、およ
び光スィッチを設置することにより、シンチレータ内の
各点における光強度を増幅し、又増幅器と積分器の間に
増幅器からの信号を比較して最大信号のみを選択する装
置を設けることにより、前記増幅器によって増幅された
信号のうち最大強度の信号のみを積分器に導いて記録し
、シンチレータ内のX線入射位置を標定し、X線透過強
度分布ケ得ることを特徴とするX線計算機トモグラフ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57133692A JPS5925734A (ja) | 1982-08-02 | 1982-08-02 | X線計算機トモグラフ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57133692A JPS5925734A (ja) | 1982-08-02 | 1982-08-02 | X線計算機トモグラフ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5925734A true JPS5925734A (ja) | 1984-02-09 |
Family
ID=15110638
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57133692A Pending JPS5925734A (ja) | 1982-08-02 | 1982-08-02 | X線計算機トモグラフ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5925734A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60237384A (ja) * | 1984-05-10 | 1985-11-26 | Toshiba Corp | リング型ect装置 |
JPS63501727A (ja) * | 1985-12-06 | 1988-07-14 | ホ−フア−,ヨ−ゼフ | 刺繍縫い機用装具 |
JPH0312580A (ja) * | 1989-06-09 | 1991-01-21 | Fuji Electric Co Ltd | 放射能汚染測定装置 |
-
1982
- 1982-08-02 JP JP57133692A patent/JPS5925734A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60237384A (ja) * | 1984-05-10 | 1985-11-26 | Toshiba Corp | リング型ect装置 |
JPS63501727A (ja) * | 1985-12-06 | 1988-07-14 | ホ−フア−,ヨ−ゼフ | 刺繍縫い機用装具 |
JPH0312580A (ja) * | 1989-06-09 | 1991-01-21 | Fuji Electric Co Ltd | 放射能汚染測定装置 |
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