JPS5924395B2 - Pulse width measuring device - Google Patents

Pulse width measuring device

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JPS5924395B2
JPS5924395B2 JP9462676A JP9462676A JPS5924395B2 JP S5924395 B2 JPS5924395 B2 JP S5924395B2 JP 9462676 A JP9462676 A JP 9462676A JP 9462676 A JP9462676 A JP 9462676A JP S5924395 B2 JPS5924395 B2 JP S5924395B2
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JP
Japan
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signal
circuit
pulse width
pulse
supplied
Prior art date
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JP9462676A
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Japanese (ja)
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JPS5320369A (en
Inventor
嗣雄 佐藤
良和 藤井
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPS5320369A publication Critical patent/JPS5320369A/en
Publication of JPS5924395B2 publication Critical patent/JPS5924395B2/en
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はパルス幅測定装置に関するもので、特に特定の
値が得られるように被調整回路の回路定数を調整する際
の調整装置に用いて最適なものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a pulse width measuring device, and is particularly suitable for use as an adjusting device for adjusting circuit constants of a circuit to be adjusted so as to obtain a specific value.

特定の値、例えばパルス幅が得られるように被調整回路
の回路定数を調整する場合に、従来のパルス幅測定装置
でパルス幅を測定したときには、パルス幅測定装置の検
出感度が一定であるので、肝要な特定パルス幅付近では
検出感度が不足しかつ特定パルス幅から離れたところで
は不必要に感度が高くなり、このために調整作業の能率
が悪いものとなつていた。
When adjusting the circuit constants of a circuit to be adjusted to obtain a specific value, for example, a pulse width, when measuring the pulse width with a conventional pulse width measuring device, the detection sensitivity of the pulse width measuring device is constant. Detection sensitivity is insufficient near an important specific pulse width, and sensitivity becomes unnecessarily high in areas away from the specific pulse width, resulting in poor efficiency of adjustment work.

本発明はこのような点に鑑みて発明されたもので、クロ
ックパルス発生器と、このクロックパルス発生器からの
クロックパルス信号を被測定信号のパルス幅に対応して
ゲートするゲート回路と、このゲート回路の出力信号を
分周する分周器と、論理回路から成りかつ上記分周器の
分周状態を検出して上記被測定信号のパルス幅に応じた
複数のパルス信号を出力する検出器と、この検出器の出
力をD/A変換するD/A変換器とをそれぞれ具備し、
上記複数のパルス信号は所望の特性に応じてその立ち上
がり位置及びパルス幅が互いに異なるように構成され、
上記パルス信号が上記D/A変換器において非線形でか
つ連続的に変化するアナログ信号に変換されるように構
成されている。
The present invention was invented in view of the above points, and includes a clock pulse generator, a gate circuit that gates the clock pulse signal from the clock pulse generator in accordance with the pulse width of the signal under test, and a frequency divider that divides the output signal of the gate circuit; and a detector that includes a logic circuit and detects the frequency division state of the frequency divider and outputs a plurality of pulse signals according to the pulse width of the signal under test. and a D/A converter for D/A converting the output of the detector,
The plurality of pulse signals are configured such that their rising positions and pulse widths are different from each other according to desired characteristics,
The pulse signal is configured to be converted into a nonlinear and continuously changing analog signal in the D/A converter.

このように構成することによつて、回路構成が簡単であ
るにもかかわらず、肝要な特定パルス数又はその近傍を
計数検出するときには高い検出感度で正確な計数を行う
ことができ、また特定パルス数から離れた部分を計数検
出するときには低い検出感度で測定作業能率を高めるこ
とができる。また上記アナログ信号の変化をなめらかに
することができると共に、上記複数のパルス信号の立ち
上がり位置等を変化させることにより上記アナログ信号
の非線形特性を示す曲線自体を所望の形状に変化させる
ことができる。以下本発明を実施例により図面と共に説
明する。
With this configuration, even though the circuit configuration is simple, it is possible to perform accurate counting with high detection sensitivity when counting and detecting an important specific pulse number or its vicinity, and When counting and detecting parts far from the number, the efficiency of measurement work can be increased with low detection sensitivity. Further, the change in the analog signal can be made smooth, and by changing the rising positions of the plurality of pulse signals, etc., the curve itself representing the nonlinear characteristics of the analog signal can be changed into a desired shape. The present invention will be explained below with reference to examples and drawings.

第1図は本発明を適用したパルス幅測定装置1を用いて
被調整回路2の回路定数を調整する場合における測定系
の全体を示すプロツク図である。上記調整は調整者が表
示部3の表示を見ながら被調整回路2の定数を調整する
ようにして行われる。定数の調整は可変抵抗器等の電気
的可変手段を回転調整することによつて行われる。この
ような調整作業中に、測定系によつて測定される値(こ
こではパルス幅)は、当初は一般的には特定値から離れ
た値、即ち特定値より大きいか又は小さな値であるが、
上記調整によつて次第に特定値に接近するように変化す
る。
FIG. 1 is a block diagram showing the entire measurement system when adjusting the circuit constants of the circuit to be adjusted 2 using the pulse width measuring device 1 to which the present invention is applied. The adjustment described above is performed by the adjuster adjusting the constants of the circuit to be adjusted 2 while looking at the display on the display section 3. Adjustment of the constant is performed by rotating and adjusting electrical variable means such as a variable resistor. During such adjustment work, the value measured by the measuring system (in this case the pulse width) is generally a value far from a specific value, i.e. a value larger or smaller than the specific value, but ,
Through the above adjustment, the value gradually approaches a specific value.

本実施例は単に絶対値を測定する場合でなく、上述の如
く特定の値が得られるように被調整回路を調整する場合
に用いて最適なものである。
This embodiment is most suitable for use not only when measuring absolute values, but also when adjusting the circuit to be adjusted so as to obtain a specific value as described above.

第1図におけるパルス幅測定装置1の表示部3を除く部
分は第2図に示すように構成されて(・る。この第2図
において、入力端子4には測定しようとするパルス幅を
有する第3図に示すような信号aが供給される。この信
号aはスイツチ21を介してゲート回路12及び微分回
路13に供給される。なおスイツチ21を接点21a側
に閉じると上述した信号aを、また接点21b側に閉じ
るとフリツプフロツプ8の出力信号c(第3図)をそれ
ぞれ選択することができる。
The parts of the pulse width measuring device 1 in FIG. 1 excluding the display section 3 are configured as shown in FIG. A signal a as shown in FIG. , and when the contact 21b is closed, the output signal c (FIG. 3) of the flip-flop 8 can be selected.

このフリツプフロツプ8は入力端子5及び6に供給され
る位相差のある信号B,及びB2から位相差に応じたパ
ルス幅を有する信号cを得て位相差をパルス幅に変換す
るためのものである。フリツプフロツプ8は信号b1の
立ち下がりによつてセツト状態に、また信号B2の立ち
下がりによつてセツト状態になるものであつてよい。ゲ
ート回路12に供給される信号a又は信号cはクロツク
パルス発生器9,10,11からのクロツクパルス信号
に対してゲート信号として作用する。
This flip-flop 8 is for obtaining a signal B having a phase difference supplied to input terminals 5 and 6, and a signal c having a pulse width corresponding to the phase difference from B2, and converting the phase difference into a pulse width. . The flip-flop 8 may be set to the set state by the fall of the signal b1, and may be set to the set state by the fall of the signal B2. Signal a or signal c supplied to gate circuit 12 acts as a gate signal for the clock pulse signals from clock pulse generators 9, 10, 11.

またこのゲート回路12には、後述する検出器15の出
力信号Enが供給されるようになつている。そしてこの
信号Enが供給された時はゲート回路12が閉じるよう
になつている。これは異常に大きなパルス幅の信号が供
給された場合に、分周器14が1巡して2巡目又はそれ
以降の計数を行うような誤計数を防止するためのもので
ある。クロツクパルス発生器9,10,11は後述する
理由によつて互いに異なるクロツクパルス周波数を得る
ためのもので、それぞれの出力はスイツチ22によつて
切換選択されてゲート回路12に供給される。微分回路
13に供給される信号a又は信号cはここで微分されて
、分周器14及びゲート回路16にそれぞれ供給される
The gate circuit 12 is also supplied with an output signal En from a detector 15, which will be described later. When this signal En is supplied, the gate circuit 12 is closed. This is to prevent erroneous counting in which the frequency divider 14 makes one round and performs the second or subsequent counting rounds when a signal with an abnormally large pulse width is supplied. The clock pulse generators 9, 10, and 11 are used to obtain different clock pulse frequencies for reasons to be described later, and their respective outputs are selected by a switch 22 and supplied to a gate circuit 12. Signal a or signal c supplied to differentiation circuit 13 is differentiated here and supplied to frequency divider 14 and gate circuit 16, respectively.

そしてこの立ち上がりの微分信号は分周器14のクリア
ー信号として働き、またこの立ち下がりの微分信号はゲ
ート回路16のゲート信号として働く。クロツクパルス
発生器9,10,11の出力であるクロツクパルス信号
が信号a又は信号cで以つてゲートされると、第3図に
示す信号dが得られる。
This rising differential signal serves as a clear signal for the frequency divider 14, and this falling differential signal serves as a gate signal for the gate circuit 16. When the clock pulse signal, which is the output of the clock pulse generators 9, 10, 11, is gated with the signal a or the signal c, the signal d shown in FIG. 3 is obtained.

この信号dは分周器14に供給されてここで計数され、
この分周器14において計数される状態が検出器15に
よつて検出される。この結果、上記計数値に応じて、第
3図に示す信号e1〜EOのうちの一つの信号(第3図
の場合にはE,)が検出器から得られる。なお信号e1
〜Enのレベルは全て同一である。この信号e1〜En
を得るための分周器14及び検出器15の組合せは例え
ば第4図に示すように構成されている。第4図において
、分周器14はフリツプフロツプ25,26,27,2
8等によつて構成され、これらのフリツプフロツプ25
,26,27,28によつてそれぞれ分周された信号が
分周器14の出力Ql,Q2,Q3及びQ4として検出
器15に供給される。
This signal d is supplied to a frequency divider 14 where it is counted,
The state counted by the frequency divider 14 is detected by the detector 15. As a result, one of the signals e1 to EO shown in FIG. 3 (E, in the case of FIG. 3) is obtained from the detector according to the count value. Note that the signal e1
The levels of ~En are all the same. This signal e1~En
The combination of the frequency divider 14 and the detector 15 for obtaining the above is configured as shown in FIG. 4, for example. In FIG. 4, the frequency divider 14 includes flip-flops 25, 26, 27, 2
These flip-flops 25
, 26, 27, and 28 are supplied to the detector 15 as outputs Ql, Q2, Q3, and Q4 of the frequency divider 14, respectively.

検出器15はナンド回路30,31等によつて構成され
、出力Q1〜Qnの状態を検出している。例えば、出力
Q1〜Q4が第5図に示すように表わされるときには、
ナンド回路30で出力Q2,Q3,Q4のナンドをとる
ことによつて信号g1(第5図)が得られ、またナンド
回路31で出力Q3及びQ4のナンドをとることによつ
て信号G2(第5図)が得られる。
The detector 15 is composed of NAND circuits 30, 31, etc., and detects the states of the outputs Q1 to Qn. For example, when the outputs Q1 to Q4 are expressed as shown in FIG.
By NANDing the outputs Q2, Q3, and Q4 in the NAND circuit 30, the signal g1 (FIG. 5) is obtained, and by NANDing the outputs Q3 and Q4 in the NAND circuit 31, the signal G2 (Fig. Figure 5) is obtained.

この場合、この信号g1及びG2をそのまま検出器15
の出力e1〜Enとしてもよいし、さらにこれらの信号
g1及び信号G2等を組合せて出力e1〜Enを得るよ
うにしてもよい。なお第3図に示す出力E,〜Enを検
出器15から得るためには、検出器15は第4図に示す
ナンド回路30,31のみでなく、これらのナンド回路
にインバータ、オア回路等の他の論理回路を組合せたも
のであればよい。検出器15の出力信号E,〜EOは半
固定抵抗181〜18n及びダイオード191〜19n
をそれぞれ介してゲート回路16に供給される。これら
の抵抗181〜18nとダイオード191〜19nとの
組合せはD/A弯換器を構成していて、このD/A変換
器において信号e1〜EnのD/A変換が行われるよう
になつている。このD/A変換のとき、信号e1〜En
からそれぞれ得られるアナログ信号のレベルが各信号e
1〜Enによつてそれぞれ異なるように半固定抵抗18
1〜18nの抵抗値が調整されている。具体的に例示す
るならば、信号e1の8H1レベル期間に得られるアナ
ログ信号の電圧値は2Vとなり、信号E2の11H8レ
ベル期間に得られるアナログ信号の電圧値は3Vとなる
ように、抵抗181〜18nの抵抗値が調整されている
。第3図に示すように、検出器15の各出力信号e1〜
Enはその立ち上がり位置及びパルス幅をそれぞれ異な
らしている。
In this case, the signals g1 and G2 are directly transmitted to the detector 15.
The outputs e1 to En may be obtained by combining the signals g1, G2, etc., or the outputs e1 to En may be obtained by combining the signals g1, G2, etc. In order to obtain the outputs E, ~En shown in FIG. 3 from the detector 15, the detector 15 not only uses the NAND circuits 30 and 31 shown in FIG. It may be a combination of other logic circuits. The output signals E, ~EO of the detector 15 are connected to semi-fixed resistors 181~18n and diodes 191~19n.
are supplied to the gate circuit 16 through the respective channels. The combination of these resistors 181 to 18n and diodes 191 to 19n constitutes a D/A converter, and D/A conversion of signals e1 to En is performed in this D/A converter. There is. During this D/A conversion, signals e1 to En
The level of the analog signal obtained from each signal e
Semi-fixed resistance 18 to vary depending on 1 to En
The resistance value of 1 to 18n is adjusted. To give a specific example, the resistors 181 to 181 are connected so that the voltage value of the analog signal obtained during the 8H1 level period of the signal e1 is 2V, and the voltage value of the analog signal obtained during the 11H8 level period of the signal E2 is 3V. The resistance value of 18n is adjusted. As shown in FIG. 3, each output signal e1~ of the detector 15
En has different rising positions and pulse widths.

またこれらの信号e1〜EnをD/A変換してそれぞれ
得られる各アナログ信号のレベルが各信号e1〜EOに
よつてそれぞれ異なるように、半固定抵抗181〜18
nの抵抗値を調整している。そしてこのようにすること
によつて、分周器14に供給されるクロツクパルスのパ
ルス数と、アナログ信号hとの間に、第6図に示す特性
が得られるようにしている。この第6図に示す特性は分
周器14に供給されるクロツクパルス数の検出感度が、
特定値A又はその近傍の数値のクロツクパルスが上記分
周器14に供給されつつある時にはこのクロツクパルス
数の変化に対する上記D/A変換器のアナログ出力の変
化が大きいので高く、また上記特定値Aから離れた数値
のクロツクパルスが上記分周器14に供給されつつある
時には上記クロツクパルス数の変化に対する上記D/A
変換器のアナログ出力の変化が小さいので低いことを意
味している。なお検出器15の出力信号E,〜Enとし
て第7図に示すように立ち上がり位置が異なるのみで立
ち下がり位置が共通の信号e1〜Enを得て、これらの
信号に合わせて抵抗181〜18nの抵抗値を調整する
ようにしてもよい。この第7図に示す場合には、アナロ
グ信号hは各信号e1〜EOのアナログ変換値が順次追
加加算された信号として得られるので、抵抗181〜1
8nの抵抗値を互いにほマ同一とすることが可能である
。このようにして得られるアナログ信号hはゲート回路
16を介してホールド回路17に供給される。このゲー
ト回路16は微分回路13で得られるゲート信号が印加
された時にアナログ信号hをホールド回路17に供給す
る。またホールド回路17は上述の如くにして供給され
るアナログ信号hをホールドし、このホールド値を出力
端子7から第1図に示す表示部3等に送り出す。以上で
述べたパルス幅測定回路1によつて被調整回路2から得
られる信号aのパルス幅を測定して被調整回路2を調整
するときは、クロツクパルス発生器9,10,11がス
イツチ22によつて択一的に切換え選択される。
In addition, semi-fixed resistors 181 to 18 are connected so that the levels of the analog signals obtained by D/A converting these signals e1 to En are different depending on the signals e1 to EO.
The resistance value of n is adjusted. By doing this, the characteristics shown in FIG. 6 are obtained between the number of clock pulses supplied to the frequency divider 14 and the analog signal h. The characteristics shown in FIG. 6 indicate that the detection sensitivity of the number of clock pulses supplied to the frequency divider 14 is
When a clock pulse of a specific value A or a numerical value close to it is being supplied to the frequency divider 14, the change in the analog output of the D/A converter in response to a change in the number of clock pulses is large, so the clock pulse is high. When clock pulses of different values are being supplied to the frequency divider 14, the D/A for a change in the number of clock pulses is
This means that the change in the analog output of the converter is small, so it is low. As shown in FIG. 7, the output signals E, -En of the detector 15 are obtained as signals e1-En, which differ only in rising positions but have a common falling position, and the resistors 181-18n are adjusted in accordance with these signals. The resistance value may also be adjusted. In the case shown in FIG. 7, the analog signal h is obtained as a signal in which the analog conversion values of the signals e1 to EO are sequentially added.
It is possible to make the resistance values of 8n almost the same. The analog signal h obtained in this manner is supplied to a hold circuit 17 via a gate circuit 16. This gate circuit 16 supplies an analog signal h to a hold circuit 17 when the gate signal obtained by the differentiating circuit 13 is applied. Further, the hold circuit 17 holds the analog signal h supplied as described above, and sends this hold value from the output terminal 7 to the display section 3 shown in FIG. 1, etc. When the pulse width measurement circuit 1 described above measures the pulse width of the signal a obtained from the circuit to be adjusted 2 and adjusts the circuit to be adjusted 2, the clock pulse generators 9, 10, and 11 are activated by the switch 22. Therefore, it is selectively switched.

この場合、被調整回路2から得られる測定対象となる信
号a又はcのパルス幅が第6図に示す特定パルス数又は
その近傍の数値のパルスを分周器14に供給するように
、適当な周波数のクロツクパルスを発生するクロツクパ
ルス発生器9〜11を切換え選択する。表示部3は第8
図に示すように構成されている。この表示部3は信号f
のピークを検出する際に使用されるものである。入力端
子41には、前述の如くにして得られる信号fが供給さ
れる。この信号fはメータ49に供給されると共に比較
器として作動する増幅器46の十端子にも供給される。
また信号fが供給されるピークホールド回路45から得
られる信号fのホールド値が増幅器46の一端子に供給
される。増幅器46は信号fがピーク値mより小さい時
にその出力nがl!L1となり、信号fがピーク値mと
等しいか若しくはピーク値mより大きいときにその出力
nが!1H8となるものである。比較増幅器46の出力
nはアンド回路47及びカウンタ48に供給される。
In this case, the pulse width of the signal a or c to be measured obtained from the adjusted circuit 2 is set appropriately so that the pulse width of the signal a or c to be measured obtained from the adjusted circuit 2 is supplied to the frequency divider 14 with a specific number of pulses shown in FIG. The clock pulse generators 9 to 11 that generate clock pulses of various frequencies are switched and selected. Display section 3 is the eighth
It is configured as shown in the figure. This display section 3 displays the signal f
It is used when detecting the peak of The input terminal 41 is supplied with the signal f obtained as described above. This signal f is supplied to a meter 49 as well as to the ten terminal of an amplifier 46 which acts as a comparator.
Further, the hold value of the signal f obtained from the peak hold circuit 45 to which the signal f is supplied is supplied to one terminal of the amplifier 46 . The amplifier 46 outputs l! when the signal f is less than the peak value m! L1, and when the signal f is equal to or greater than the peak value m, the output n is ! 1H8. The output n of the comparison amplifier 46 is supplied to an AND circuit 47 and a counter 48.

カウンタ48は、入力端子42及び43に供給される制
御信号によつて定められる数だけカウントしたときに、
その出力が11H11となるものである。カウンタ48
の出力0はアンド回路47に供給される。アンド回路4
7は増幅器46の信号nとカウンタ48の出力信号0と
の論理積をとるためのもので、信号nと信号0が共に1
1H1゛となつたときに出力pが1H1となるものであ
る。次に以上で述べた構成による動作について説明する
When the counter 48 has counted the number determined by the control signals supplied to the input terminals 42 and 43,
The output is 11H11. counter 48
The output 0 is supplied to the AND circuit 47. AND circuit 4
7 is for taking the AND of the signal n of the amplifier 46 and the output signal 0 of the counter 48, so that both the signal n and the signal 0 are 1.
When the voltage becomes 1H1, the output p becomes 1H1. Next, the operation of the configuration described above will be explained.

今、被調整回路2における可変抵抗器等の電気的可変手
段をメータ49を見ながら正負方向に回転調整すること
によつて、第9図に示す信号fが得られたとする。即ち
、信号fがピーク電圧EVとなるように可変抵抗器等の
電気的可変手段を回転調整しようとして、これをまず負
方向に回転し、回転方向が逆であることに気付いて正方
向に回転し、更にピークを過ぎたときにピーク点に戻す
ために負方向に回転し、この結果、第9図に示す信号f
が得られたとする。このときのピークホールド回路45
の出力は第9図に示す信号mのようになり、また増幅器
46の出力は第9図に示す信号nのようになる。従来は
この増幅器46の出力信号nの立ち上がりによつてピー
クの検出を行うようにしていた。
Now, suppose that the signal f shown in FIG. 9 is obtained by rotating and adjusting the electrical variable means such as a variable resistor in the circuit to be adjusted 2 in positive and negative directions while looking at the meter 49. In other words, when trying to adjust the rotation of an electrical variable means such as a variable resistor so that the signal f becomes the peak voltage EV, the user first rotates it in the negative direction, then realizes that the rotation direction is reversed and rotates it in the positive direction. When it passes the peak, it rotates in the negative direction to return to the peak point, and as a result, the signal f shown in FIG.
Suppose that we obtain Peak hold circuit 45 at this time
The output of the amplifier 46 becomes a signal m shown in FIG. 9, and the output of the amplifier 46 becomes a signal n shown in FIG. Conventionally, the peak was detected based on the rise of the output signal n of the amplifier 46.

そのため可変抵抗器等の電気的可変手段の回転調整によ
つて第9図に示す入力信号fのレベルが一旦下降してそ
の後再び上昇したときは、元のレベルに達したときに信
号nは第9図に示すように立ち上がつてしまう。しかし
入力信号のレベルが一旦下降してその後再び上昇し次い
で元のレベルに達しても、第9図に示す信号fの場合の
ように、このレベルが必ずしもピーク点とは限らないの
で、この場合はピーク点の誤検出をしてしまう。しかし
この実施例においては、端子42,43から供給される
信号によつてカウンタ48が信号nの立ち上がりを2度
カウントしたときにその出力信号を1H1とするように
設定されているので、カウンタ48の出力0は第9図に
示すようになる。なおアンド回路47には増幅器46の
出力nとカウンタ48の出力0とが供給されるので、第
9図に示すように信号fがピークホールド回路45によ
つてホールドされているピーク値mと等しいか若しくは
このピーク値mよりも大きくなることが2度若しくはそ
れ以上生じた場合のみアンド回路47の出力pが゛1H
8となる。従つて信号pがFlH゛となることをもつて
ピーク点を検出したものとすれば、従来における上述の
ような誤検出のおそれがなくなる。以上述べたように、
本発明によれば、論理回路から成りかつ分周器の分周状
態を検出して被測定信号のパルス幅に応じた複数のパル
ス信号を出力する検出器を具備し、上記複数のパルス信
号は所望の特性に応じてその立ち上がり位置及びパルス
幅が互いに異なるように構成され、上記パルス信号がD
/A変換器において非線形でかつ連続的に変化するアナ
ログ信号に変換されるように構成されているので、分周
器に供給されるクロツクパルス数の検出感度が、特定値
又はその近傍の数値のクロツクパルスが上記分周器に供
給されつつある時にはこのクロツクパルス数の変化に対
するD/A変換器のアナログ出力の変化が大きいので高
く、また上記特定値から離れた数値のクロツクパルスが
上記分周器に供給されつつある時には上記クロツクパル
ス数の変化に対する上記D/A変換器のアナログ出力の
変化が小さいので低い。
Therefore, when the level of the input signal f shown in FIG. 9 once decreases and then increases again by adjusting the rotation of an electrical variable means such as a variable resistor, the signal n will be It stands up as shown in Figure 9. However, even if the level of the input signal once drops, then rises again, and then reaches the original level, this level is not necessarily the peak point, as in the case of signal f shown in Figure 9, so in this case will result in false detection of the peak point. However, in this embodiment, the counter 48 is set to output 1H1 when it counts the rising edge of the signal n twice by the signals supplied from the terminals 42 and 43. The output 0 of is as shown in FIG. Note that since the output n of the amplifier 46 and the output 0 of the counter 48 are supplied to the AND circuit 47, the signal f is equal to the peak value m held by the peak hold circuit 45, as shown in FIG. Or, the output p of the AND circuit 47 becomes ゛1H only when it becomes larger than this peak value m twice or more.
It becomes 8. Therefore, if the peak point is detected when the signal p becomes FlH, there is no possibility of erroneous detection as described above in the conventional art. As mentioned above,
According to the present invention, the detector includes a logic circuit and detects the frequency division state of the frequency divider and outputs a plurality of pulse signals according to the pulse width of the signal under test, and the plurality of pulse signals are The pulse signal is configured such that its rising position and pulse width are different from each other depending on the desired characteristics, and the pulse signal is
Since it is configured to be converted into an analog signal that changes non-linearly and continuously in the /A converter, the detection sensitivity of the number of clock pulses supplied to the frequency divider is high enough to detect clock pulses of a specific value or a value in the vicinity. is being supplied to the frequency divider, the change in the analog output of the D/A converter in response to a change in the number of clock pulses is large and therefore high, and clock pulses with a numerical value far from the specified value are supplied to the frequency divider. When the number of clock pulses is increasing, the change in the analog output of the D/A converter with respect to the change in the number of clock pulses is small, so it is low.

従つて、回路構成が簡単であるにもかかわらず、肝要な
特定パルス数又はその近傍を計数検出するときには高い
検出感度で正確な計数を行うことができ、また特定パル
ス数から離れた部分を計数検出するときには低い検出感
度で測定作業能率を高めることができる。また上記アナ
ログ信号の変化をなめらかにすることができると共に、
上記複数のパルス信号の立ち上がり位置等を変化させる
ことにより上記アナログ信号の非線形特性を示す曲線自
体を所望の形状に変化させることができる。
Therefore, even though the circuit configuration is simple, it is possible to perform accurate counting with high detection sensitivity when counting and detecting the important specific pulse number or its vicinity, and it is possible to count and detect the important specific pulse number or its vicinity. When detecting, the efficiency of measurement work can be increased with low detection sensitivity. In addition, it is possible to smooth the changes in the analog signal, and
By changing the rising positions of the plurality of pulse signals, etc., the curve itself representing the nonlinear characteristics of the analog signal can be changed into a desired shape.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図面は本発明の実施例を示すもので、第1図は本発明を
適用したパルス幅測定装置を用いて被調整回路2の回路
定数を調整する場合における測定系の全体を示すプロツ
ク図、第2図は第1図に示すパルス幅測定装置1をその
表示部3を省略して示すプロツク図、第3図は第2図に
示すパルス幅測定装置1を説明するための波形図、第4
図は第2図に示す分周器14及び検出器15を示す回路
図、第5図は第4図に示す回路を説明するための波形図
、第6図は第2図に示すパルス幅測定装置1を説明する
ための特性図、第7図は第2図に示すパルス幅測定装置
を説明するための波形図、第8図は第1図に示す表示部
3を示す回路図、第9図は第8図に示す回路を説明する
ための波形図である。 なお図面に用いられている符号において、9,10,1
1は発振器、14は分周器、15は検出器、181〜1
8nは抵抗、191〜19nはダイオード、45はピー
クホールド回路、46は増幅器、47はアンド回路、4
8はカウンタである。
The drawings show an embodiment of the present invention, and FIG. 1 is a block diagram showing the entire measurement system when adjusting the circuit constant of the circuit to be adjusted 2 using a pulse width measuring device to which the present invention is applied. 2 is a block diagram showing the pulse width measuring device 1 shown in FIG. 1 with the display section 3 omitted, FIG. 3 is a waveform diagram for explaining the pulse width measuring device 1 shown in FIG. 2, and FIG.
The figure is a circuit diagram showing the frequency divider 14 and detector 15 shown in Fig. 2, Fig. 5 is a waveform diagram for explaining the circuit shown in Fig. 4, and Fig. 6 is a pulse width measurement shown in Fig. 2. 7 is a waveform diagram for explaining the pulse width measuring device shown in FIG. 2, FIG. 8 is a circuit diagram showing the display section 3 shown in FIG. 1, and FIG. 9 is a characteristic diagram for explaining the device 1. This figure is a waveform diagram for explaining the circuit shown in FIG. 8. In addition, in the symbols used in the drawings, 9, 10, 1
1 is an oscillator, 14 is a frequency divider, 15 is a detector, 181 to 1
8n is a resistor, 191 to 19n are diodes, 45 is a peak hold circuit, 46 is an amplifier, 47 is an AND circuit, 4
8 is a counter.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 クロックパルス発生器と、このクロックパルス発生
器からのクロックパルス信号を被測定信号のパルス幅に
対応してゲートするゲート回路と、このゲート回路の出
力信号を分周する分周器と、論理回路から成りかつ上記
分周器の分周状態を検出して上記被測定信号のパルス幅
に応じた複数のパルス信号を出力する検出器と、この検
出器の出力をD/A変換するD/A変換器とをそれぞれ
具備し、上記複数のパルス信号は所望の特性に応じてそ
の立ち上がり位置及びパルス幅が互いに異なるように構
成され、上記パルス信号が上記D/A変換器において非
線形でかつ連続的に変化するアナログ信号に変換される
ように構成されたことを特徴とするパルス幅測定装置。
1. A clock pulse generator, a gate circuit that gates the clock pulse signal from this clock pulse generator in accordance with the pulse width of the signal under test, a frequency divider that divides the output signal of this gate circuit, and a logic a detector consisting of a circuit that detects the frequency division state of the frequency divider and outputs a plurality of pulse signals according to the pulse width of the signal under test; and a D/A that converts the output of the detector into a D/A. A converter, the plurality of pulse signals are configured such that their rising positions and pulse widths are different from each other according to desired characteristics, and the pulse signals are nonlinear and continuous in the D/A converter. 1. A pulse width measurement device characterized in that the pulse width measurement device is configured to convert the pulse width into an analog signal that changes over time.
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