JPS59229970A - Light beam scanner - Google Patents

Light beam scanner

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Publication number
JPS59229970A
JPS59229970A JP58103884A JP10388483A JPS59229970A JP S59229970 A JPS59229970 A JP S59229970A JP 58103884 A JP58103884 A JP 58103884A JP 10388483 A JP10388483 A JP 10388483A JP S59229970 A JPS59229970 A JP S59229970A
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JP
Japan
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scanning
light beam
photoelectric
deviation
timing
Prior art date
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Pending
Application number
JP58103884A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shoichi Tanimoto
谷本 昭一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Nippon Kogaku KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp, Nippon Kogaku KK filed Critical Nikon Corp
Priority to JP58103884A priority Critical patent/JPS59229970A/en
Publication of JPS59229970A publication Critical patent/JPS59229970A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/04Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
    • H04N1/113Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using oscillating or rotating mirrors
    • H04N1/1135Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using oscillating or rotating mirrors for the main-scan only

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  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
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  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a light beam scanner which is easily manufactured and adjusted with good productivity by polarizing and correcting a light beam optically on the basis of deviation so that unevenness of the scanning of a light beam spot is eliminated. CONSTITUTION:A reflecting surface 8 of a rotating polygon mirror 1 is irradiated with a parallel incident laser beam 4 from a laser light source through an optical deflector 5 as a correcting means. The reflected beam from the reflecting surface 8 is converged by a convergent lens 2 such as an ftheta lens into a convergent laser beam 6, which forms an image on a surface 3 to be scanned. When the mirror 1 rotates clockwise as shown by an arrow, the laser beam 6 scans on a photoelectric detector 7 before striking the surface 3 to be scanned for every scan. The correcting means includes the optical deflector 5, a piezoelectric element driving part 9 which drives it, and a signal processing unit 10, which controls the driving part 9 on the basis of the amount of deviation detected by the detector 7 to control the amount of displacement of the deflector 5.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

本発明は、回転ポリゴンミラーを用いたブCビーム走査
装置に関し、特に被走査面における走査方向と交叉する
方向の光ビームのずれが各反射面について生じないよう
にするための改良された光ビーム走査装置に関するもの
である。 回転ポリゴンミラーを用いた元ビーム走査装置は、fθ
レンズ等の結像光学系と組み合わせて、平面上でレーザ
ースポット等を等速直線移動させる走査手段として用い
られ、レーザースポットの径に対する全走査長の比71
04以上にもとれるので有用なものとして知られている
。このような回転ポリゴンミラーを用いてレーザースポ
ラトラ高速に繰返し移動させることで水平方向の直線走
査暑し、垂直方向には低速な走査手段を用いて、両者で
2次元的なラスター走査を行なわせてt、する。この場
合、回転ポリゴンミラーの反射面と回転軸とのなす角度
が製作精度等の影響で該ポリゴンミラーの各反射面で互
いに異っていると、ポリゴンミラーの回転による走査方
向と交叉する直角方向に走査ムラ7生じることになる。 前記走査ムラをなくす方式として例えば特開昭54−7
0846号公報には、ポリゴンミラーの走査に寄与する
反射面の手前で光源からの光ビームを走査方向に交叉す
る方向lこガルバノミラ−等の光偏向器7用いて補正偏
向するものが示されている。この方式によれば、高分解
能・高精度の走査を行なう場合にも走査光スポットの径
や形の変動を生じることなく走査ムラを少なくすること
ができる反面、ポリゴンミラーの各反射面毎の偏向誤差
’ze feJ以って高精度で611」定しておき、こ
れを記憶媒体に人為的に書ぎ込んでおいて、ポリゴンミ
ラーの回転に同期して記憶媒体からの読み出し値に前記
光偏向器の偏向角を高精度で対応させるように動作させ
る必要があり、従・つて装置の製作な0シ調整に多大の
手間と時間を要し、光偏向器としてもガルバノミラ−の
如ぎ精密なものを用いる必要があった。 本発明は、前述の従来のものの欠点な除法して、製作お
よび調整が容易で生産性の良い走査ムラ補正性ぎ光ビー
ム走査装置を提供することt主目的としている。 また本発明のもうひとつの目的は、簡単な構成で走査ム
ラを測定すると共・に、主走査方向の特定位置に光ビー
ムスポットが達したことt表わすトリガー信号を同時に
取シ出し得るようにすることである。 このような目的乞達成するための本発明による光ビーム
走査装置は、基本構成として、光ビームのスポットで走
査面を直線走査するために前記光ビームを予じめ定めら
れた一方向に移動させる主走査手段と; 前記光ビームのスポットが所定の走査軌道上にあるとき
に前記光ビームの照射を受けて互いにほぼ等しい光電信
号を出力する一対のずれ検出用の光電素子と; 前記光ビームのスポットによる走査に際して前記ずれ検
出用光電素子よりも時間的に先に前記光ビームの照射7
受けるように配置され、前記光ビームが前記ずれ検出用
光量素子を照射するタイミングを求めるためのタイミン
グ用光電素子と;前記タイミング用光電素子の出力信号
に応答して前記一対のずれ検出用光電素子の両光電信号
から前記光ビームスポットの前記所定の走査軌道からの
ずれ量を検出するずれ検出手段と;前記主走査手段と前
記光ビームの発生源との間に設けられ一前記在走旌手段
による光ビームスポットの走査ムラが無くなるように前
記ずれ量に基づいて前記元ビームを光学的に偏向補正す
る補正手段と; を備えてお9、ひとつの実施態様においては、前記タイ
ミング用光電素子ン前記所定の走査軌道上に相前後して
二つ配置し、これら二つのタイミング用光電素子と前記
一対のずれ検出用光電素子との四つの光電素子のそれぞ
れを、前記走査面上にて前記所定の走査軌道上に原点が
位置する直交庁標の4象限にひとつずつ配して、好まし
く(マこれら四つの光電素子をエレメントとするひとつ
の4エレメント光電検出器を用いるようにして0る。 またこの場合、前記ずれ検出手段は、具体的(こG−1
前記一対のずれ検出用光電素子の両光電信号の差値を求
める第1減算手段と; 前記二つのタイミング用光電素子の両光電イ言号の差値
を求める0!2減算手段と; 前記タイミング用光電素子に光ビームカー照射されてい
る間に前記第2減算手段による差値h″−予じめ定めら
れた不感帯幅なもって実質的ζこ零になったときに前記
第1減算手段による差値な前を己ず11゜量として抽出
するサンプリング手段とを備えて06゜ 以下に本発明の詳細ケ実施例図面と共に説明J−る。 第1図は、本発明の第1実施例の主要構成を構成的に示
す配置図であり、主走査手段を溝1戊する回転ポリゴン
ミラー(1)の反射面(8)に対してレータ1光源(図
示せず)からの平行な入射レーザービーム(4)が補正
手段の光偏向器(5)ン介して照射さ!9.ており、反
射面(8)からの反射ビームはfθレンズ等の集束レン
ズ(2)によって集光レーザービーム
The present invention relates to a C-beam scanning device using a rotating polygon mirror, and in particular to an improved light beam that prevents deviation of the light beam in a direction intersecting the scanning direction on each reflecting surface on the surface to be scanned. The present invention relates to a scanning device. The original beam scanning device using a rotating polygon mirror has fθ
In combination with an imaging optical system such as a lens, it is used as a scanning means to move a laser spot, etc. linearly at a constant speed on a plane, and the ratio of the total scanning length to the diameter of the laser spot is 71.
It is known to be useful because it can be obtained with a value of 0.04 or higher. By repeatedly moving the laser sporatra at high speed using such a rotating polygon mirror, linear scanning is performed in the horizontal direction, and by using a slower scanning means in the vertical direction, two-dimensional raster scanning is performed in both directions. I'll do it. In this case, if the angle formed between the reflective surface of the rotating polygon mirror and the rotation axis is different for each reflective surface of the polygon mirror due to manufacturing precision, etc., the angle formed by the rotation axis of the rotating polygon mirror may be This results in scanning unevenness 7. As a method for eliminating the scanning unevenness, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 54-7
Publication No. 0846 discloses a system in which a light beam from a light source is corrected and deflected in a direction crossing the scanning direction in front of a reflecting surface of a polygon mirror that contributes to scanning using an optical deflector 7 such as a galvanometer mirror. There is. According to this method, even when performing high-resolution and high-precision scanning, it is possible to reduce scanning unevenness without causing variations in the diameter or shape of the scanning light spot. The error 'ze feJ is set to 611' with high accuracy, and this is artificially written into the storage medium, and the optical deflection is applied to the read value from the storage medium in synchronization with the rotation of the polygon mirror. It is necessary to operate the device so that the deflection angle of the device corresponds with high precision, and conventionally, it takes a lot of time and effort to adjust the deflection angle of the device. I needed to use something. SUMMARY OF THE INVENTION The main object of the present invention is to overcome the disadvantages of the conventional ones and to provide a scanning unevenness correcting optical beam scanning device which is easy to manufacture and adjust and has good productivity. Another object of the present invention is to measure scanning unevenness with a simple configuration, and to simultaneously extract a trigger signal indicating that the light beam spot has reached a specific position in the main scanning direction. That's true. A light beam scanning device according to the present invention to achieve such an object has a basic configuration that moves the light beam in one predetermined direction in order to linearly scan a scanning surface with a spot of the light beam. a main scanning means; a pair of photoelectric elements for detecting deviation that output substantially equal photoelectric signals upon being irradiated with the light beam when the spot of the light beam is on a predetermined scanning trajectory; When scanning with a spot, the light beam is irradiated 7 temporally earlier than the photoelectric element for detecting deviation.
a timing photoelectric element arranged to receive the light beam and determining the timing at which the light beam irradiates the deviation detection light quantity element; and a timing photoelectric element arranged to receive the light beam; a deviation detection means for detecting the amount of deviation of the light beam spot from the predetermined scanning trajectory from both photoelectric signals; a correction means for optically correcting the deflection of the original beam based on the amount of deviation so as to eliminate scanning unevenness of the light beam spot due to Two photoelectric elements are arranged one after the other on the predetermined scanning trajectory, and each of the four photoelectric elements, these two timing photoelectric elements and the pair of deviation detection photoelectric elements, is placed on the scanning surface at the predetermined position. Preferably, one 4-element photoelectric detector having these four photoelectric elements as elements is used. In this case, the deviation detecting means specifically (hereinafter referred to as G-1)
a first subtraction means for obtaining a difference value between both photoelectric signals of the pair of shift detection photoelectric elements; 0!2 subtraction means for obtaining a difference value between both photoelectric signals of the two timing photoelectric elements; and the timing. While the photoelectric element for use is being irradiated with a light beam, the difference value h'' obtained by the second subtraction means - the predetermined dead zone width becomes substantially zero, and the difference obtained by the first subtraction means is calculated by the first subtraction means. The details of the present invention will be explained below along with the drawings of the embodiments. This is a layout diagram structurally showing the configuration, in which a parallel incident laser beam ( 4) is irradiated through the optical deflector (5), which is a correction means, and the reflected beam from the reflecting surface (8) is condensed into a laser beam by a focusing lens (2) such as an f-theta lens.

【6)となって被
走査面(6)に結像されるようになされて(・る。 (力は短孔面(6)の所冗の走査軌道上で有効走査領域
の手前に配置された光ビームずれ址検出用の光電検出器
で一回転ポリゴンミラ−(1)が図中矢印の如く時計方
向に回転している場合、集光レーザービーム(6)が走
査のたびに走査面(6)・\入る前にこの光電検出器f
7+を走査するようになって(・る。第1図は丁度この
検出器(7)に集光レーザービーム(61#”−入射し
ている瞬間ン示しておシ、ボリコ゛ンミラー(1)がさ
らに回転すると集光レーザービーム(6)Cま第2図に
示すように走を面(6)の水平走査(図面でをま上下方
向)を行なうことになる。 補正手段は光偏向器(5)と、該光偏向2羽問を駆動す
るピエゾ累子駆ルb部(9)と、後述の第4図−こψU
示する工うな回路構成を持った信号処理ユニツ)(10
)とを含み、このユニツ) (10)によって光電検出
器(力で検出されたずれ量に基づき駆動部(9)ケ制園
り光偏向器(5)の偏向量不で制餌jするものである。 前記光′a検出器(7)は、集光レーザービーム(6)
のスポットの前記走査方向とは直角な方向(図面におい
て紙面の表裏方向)の位置を、走査面(6)での前記ビ
ーム(6)のスポットの予じめ定められた走査軌道に関
して検出するものであシ、その(n成の一例を示せば第
6因の通りである。 第3図において、光電検出器(力は扇形の4つの光電素
子(7人)(713)(7C)(7D)が円を均等に4
分割するように配置されてILるものであり、集光レー
ザービーム(6)のスポット(60)の走査軌道(矢印
(61)で示す)に対して直角方向に一対のずれ検出用
光電菓子(7A)(7C)が該軌道(61〕を間に挾ん
で向い合って配置され、また別の一対のタイミング用光
電素子(7B)(7D)が前記状−1n(61)上に配
置されてお択これら光電素子(7A)(7B)(7C)
(7D)のそれぞれを、走査面(3)上にて前記走査軌
道(61)上に原点が位置する直交座標の4象限にひと
つずつ配して、走査ずれの無い状態では一対のずれ検出
用光電素−R7A)(7C)の境のほぼ中央をスボツ)
 (60)が通過するようにしである。 これら4つの光電素子(7A)(713)(7C)(7
D)の出力(70A)(70B)(70C)(70D)
は各々別々にルり出され、後述の信号処理ユニン) (
10)内でビームスポット(60)の所定走査方向の抽
両u1]始のためのタイミラグイ突出と、走査方向に直
角な方向のずれ量の検出、およびレーザービームパワー
のモニターのために用いられる。 第4図は前述のユニツ) (10)の具体的な梠成例ン
示し、ここには本発明の要部である検知手段のイ;4 
畳処理系、保」血手段、・制闘手段の一部などが包含さ
れている6  (IolA)(101B)(101C)
(IOID)はそれぞれ入力端子であ4)、(101A
)には光−累子(7A)の出力信号(7OA)が、(I
OlB))こは光電素子(7B)の出方4.−号(70
B)が、(101C)には光電素子(7C)の出力信号
が、(101D)には光電素子(7D)の出力信嵌7Q
D )がそれぞれ入力されている。(102)は入力可
1″を子(101A)(101C)から信号(70A)
(70C:)ン受けとってそれらの差を出力する差動回
路であシ、この差動回路(102)の出力10はサンプ
ルホールド回路(103)に入力され、後述する単安定
マルチパイプ1/−タ(115)の出力パルスのタイミ
ングでその振61H値がサンプルホールドされるように
なっている。サンプルホールド回路(103)の出力は
割算器(104)の一方の入力に与えられている。別の
入力端一1(101B)と(101D)に与えられる信
号(7[IB)(70D)は、加算回路(110)に入
力されて加算出力(4が求められると共に、別の差動回
路(11,2)に入力されてそれらの差値出力fk+が
求められる。加算回路(110)の出力はコンパレータ
(111)に入力されて予じめ設定された比較電IE(
Er2)と比較され、加算回路(110)の出力が比較
′心上(Erz)’a’超えたときにコンパレータ(1
11)の出力が世レベルとなるようになされている。ま
た差動回路(112)の出力は別のコンパレータ(11
3)に入力されてこのコンパレータ(113)で零レベ
ルと比較され、差動回路(112)の出力が零レベルを
超える場合のみコンパレータ(113)の出力カl’T
]llレベルとなるようになされている。 コンパレータ(ili)と(F 13 )の出力はアン
ド回路(114)に入力され、アンド回路(114)は
その両入力が共に1山レベルのとぎに出力レベルを日月
にする。単安定マルチバイブレータ(115)はアンド
回路(114)の出力が日月から「月に立下るときにト
リガーされ、その後手じめ設定された一定時間にわたり
出力を生じる。この単安定マルチノミイブレータ(11
5)の出力パルスは、スポット走査同期信号(125)
として信号処理ユニツ) (10)から出力されると共
に、サンプルホールド回路(103)のサンプルホール
ド指令信号として利用され、また遅延回路(116) 
’r介して後述のんΦ変換器(105)の割面信号に、
さらにもうひとつの遅延回路(117)7介して後述の
シフトレジスタ(106)のシフトノくルスに利用され
る。 スポラ) (60)の主走査方向に関して第6図に示し
た如く先行位置にある光電素子(7B)の出力信号は、
7P、4図の例において入力端子(101B)からさら
に別のコンパレータ(107)およびサンプルホールド
回路(,109)に入力されており、コンノくレータ0
07)で予じめ設定した別の基準電aE (Er1 )
と比較されて、それが(Er1 )を超えたとぎに別の
単安定マルチバイブレーク(108) l: トリガー
し、この1¥L 安定マルチバイブレータ(108)の
トリガーから一定時間τ1の後の信号(70B)の振幅
値をサンプルホールド回路(1[]9)によってホール
ドするようにしである。このサンプルホールドは、スポ
ラ) (60)が完全に光電素子(7B)上に乗ったと
きの光電信号出力(70B)の値乞求めることで光ビー
ムのパワー測定を正確に果すために行なうものである。 サンプルホールド回路(109)の出力は割算器(10
4)の他方の入力端に与えられ、割算器(104)は差
動回路(1し)の出力(ilのサンプルホールトイ直(
elと、光電X −R7t3)の出力(70B)のサン
プルホールド値ip+との商(elp )を出力し、こ
の出力(elp)はA/D変換器(105)によってデ
ジタル量に変換されたうえでシフトレジスタ(106)
ノ\入力されるよ5になされている。 シフトレジスタ(106)は、第1図に示したように8
つの反射面を持つ8面体のポリゴンミラ=(1)に対応
して入力にパラレルセットされるデジタル信号を8段ま
でシフトできるようになされておシ、データシフトの同
期信号には、前記単安定マルチバイブレータ(115)
の出力パルスを遅延回路(116)(117)19.c
つて予じめ設定された一定時間だけ遅延させた信号をク
ロックとして利用している。 (119)(120)はそれぞれ入力デジタル量をタイ
ミングパルスに応じてラッチするラッチ回路であり。 一方ノラッチ回路(119)は第1シフトレジスタ(1
0S)の最終段(第8段)からのデジタル信号をラッチ
し、他方のラッチ回路(120)は別の8段の第2シフ
トレジスタ(121)の最終段からのデジタル量をラッ
チし、これらラッチ回路(119)(120)のラッチ
タイミングの制御のためのタイミングパルスは端子(1
18)に与えられるようになされている。このタイミン
グパルスは、ポリゴンミラー(1)の回転による各走査
期間において走査面(6)に対する有効走査範囲の終点
にビームスボッ) (60)が到達した時点、すなわち
各走査期間の有効走査時間の終了時刻毎に同時に与えら
れ、従って端子(118)に与えるタイミングパルスと
しては、前記単安定マルチバイブレータ(115)の出
力パルスに有効走査時間の間だげ遅延をかけて得たもの
、或いは走査面(3)の有効走査終了点ζこ別の光′I
IL検出器を配置してその光電出力を整形したものブエ
と、種々の方策による信号が利用できる。 (122)は減算器であり、ラッチ回路(120)の出
力からラッチ回路(i 19)の出力を減算して出力す
る。 第2シフトレジスタ(121)は、第1シフトレジスタ
(106)と同様の並列8段のものであって、減算器(
122)の出力を実績データとして入力し、第1シフト
レジスタ(106)と同ル1」シて遅延回路(117)
の出力によってシフト制御されるものである。 減算器(122)の出力はデジタル・アナログ変換器(
123)に入力されてアナログ信号出力(124)に変
換され、このアナログ信号出力(124)が第1図に示
した光偏向器(5)のピエゾ駆動素子を駆動する電圧変
換器としての駆動部(9) I\大入力れることになる
。 さて、以上の、l:5に第1図乃至第4図の構成の元ビ
ーム走査装置の動作を第5図、第6図および第7図と共
lこ説明すると以下の通シである。 先スはじめに光電検出器(7)によるビームスボットの
所定の走査軌道からのずれ量の検出について述べると、
第1図においてボl】ボンミラー(1)の回転によりそ
の反射面(8)で反射されそして集束レンズで集束され
たビーム(6)が走査のはじめに光電検出器(力を走査
する。この走査によってビームスボッ) (60)が第
6図において左から右・\移動し、走査軌跡が両光覚素
子(7A)(7C)の境の中央ケ通る所足軌道に合って
いるとすると、光電素子(7A]と(7c]との出力の
相(i+は第5図の波形(A、−c)のような経時的変
化を示すことになる。ビームスボッ) (60)が光電
素子(7B)と(7D)の境界にある時刻t0において
、ビームスポット(60)が光電素子(7C)よシ(7
A)に近い場合は、画素子の出力の差(e)は正となり
、逆にビームスポット(60)l〕−光電素子(7A)
より(7c)tこ近い場合は、出力の差fe)は負とな
o6出力の差telはビームスボッ) (60)のパワ
ーに比toするので、光ビーム(1) パワーが変化す
るような光ビーム走査装置lこおいては、この出力の差
telをビームパワーの大きさによって補正し、ビーム
パワーの大キサに依存せずに、ビームスボッ) (60
)の走査方向と直角な方向のずれを求める必要がある。 この為にビームパワーのモニターとして光電素子(7B
)からの出力信号(70B)の波形+jlの最大値(p
) fzt用いる。 この最大値(p)は次のようにして求められる。信号(
70B) ′?:コンパレータ(107)によって比較
レベル(Er1.)と比べ、これよシ信号(70B)が
犬ぎくなる時刻t、lこてコンパレータ(107)が働
き、単安定マルチバイブレータ(108)のパルス幅(
τl)だけ遅れた時刻t3において信号(70B)の値
をザンプルホールドして最大値fp)がホールド出方と
して得られる。 割n器(104)からは(e/p )が出力され、これ
はビームパワーに依存しない量になっている。 一方、ビームスポット(+!S[])の走査方向の位置
同期検出の為に第5図の波形CB−1)) ’&利用し
、信号(70B)の立下りと信号(701))の立上シ
時の波形(B−D)の零点よシ時刻t。を求める。波形
CB+D )が基準レベル(Era)より大きくなる時
間、時刻t3〜t4ノ間ノ波形CB−D )の零点を信
号処理ユニツ) (io)では利用している。 尚、回転ポリゴンミラー(1)の走査方向に直角な方向
のビーム(6)のずれ角θと前記検出され友前記ずれ(
e/p )との関係は、第6図に示すように、原点付近
のあまりθの大きくない範囲ではほぼ線形な比例関係に
あシ、実際上のずれ角θの補正範囲では直線的な比例関
係として扱って差しつかえな(八〇 回転ポリゴンミラー(1)の使用状態においては、ポリ
ゴンミラー(ηの各反射面を順次走査に寄与させて使用
してゆくが、各反射面についてビーム(6)の振れ周期
のうち走査に有効に寄与するのは約半分で心シ、残りの
半分の時間は通常は走査に利用することができない。第
7図は回転ポリゴンミラー(1)の回転に対応した偏向
補正動作のタイミングチャートであり、(a)は8つの
反射面の各々の有効走査時間を(Fl)(Fz)(Fa
)(F4XFsXFaXFyXFa)として示した有効
走査動作のタイミング、(bJは前記ずれ量の検出のタ
イミング、(C)は端子(118)へのタイミングパル
スによるランチタイミング、(d〕は各反射面毎の偏向
補正時間を(T(t)(F2)(Hs)(トム) (F
5 ) (H6)()17)()J8)で示した偏向補
正動作のタイミングパルス示している。 例えば第7図1こ示したように、第1反射面での走査に
際して、走査有効時間(Fl)より前の走査範囲外にス
ポットがある時点((3+)で前記ずれ量の検出を行な
い、この工すにして得た前記ずれ量の1回転(又はそれ
以上の整数回転)前のものを用いてずれ量検出時点(G
1)以前の時間(Hl)のうちに光偏向器(5)による
偏向ネ11正を行なう。第1反射面による有効走査の終
了後に同様にして時点(G2)で次回のためのずれ景の
検出を行ない、また時間(F2)のうちに前回以前のず
れ量に基づく偏向補正を行ない、以下同様である。この
場合、各反射面に対応する偏向補正量は、前回の検出結
果のずれ量だけでなく、その回転前、さらにその1回転
前という王台に過去の補正の実績値による修正が順次行
なわれ、多数回の回転の後には極めて高精夏の偏向補正
が自動的に果されるようになる。 第7図(bJに示す時刻(G1)の後に第4図において
単安定マルチバイブレータ(115)の出力パルスが現
れ、これl(よって差動回路(102)の出力(i+が
サンプリングされ、遅延回路(116)で遅れたタイミ
ングで割3γ5(104)の出力(e/p )がデジタ
ル量に変換され、このデジタル信号としてのずれ量は遅
延回路(117)の出力タイミングで第1シフトレジス
タ(106)の第1段目に記憶される。この記憶された
ずれ量ヲミラーの第1回転目の第1反射面に対応づけて
(He、)で表すことにし、以下同様に第1回目の第2
反射面に対して(xe2)、第n回転目の第m反射面に
対して(nem)の如く表すことにする。 スレ’76 (1e工)がシフトレジスタ(106)の
第1段目(こ記憶されたとき、このシフトレジスタ(1
06)の第2.3 、4 、5 、6 、7 、8 U
Z目にはそれぞれ前回の回転時の各反射面のずれQ (
oes)(oey)(oeg)(oes)(oe4)(
oem)(Oe2)が躯に記憶されており、ラッチ回路
(ii5’)には丁度1回転前の第1反射面に対するず
れ量(。G4)がランチされている。第2シフトレジス
タ(121)にはデジタル・アナログ変換器(123)
を介して駆動部(9)・\与えられるずれ量のデジタル
量が記憶されており、このデジタル値のずれ量を同様に
(num)で表すこととすると、第2シフトレジスタ(
121)には現時点では入力段から順に(lul)(O
F8)(OF7)(6u6)(olla)(ou4)(
ousHollz)が6己1意され、またラッチ回路(
120)には同様に丁度1回転前の第1反射面に対する
ずれ1J(oul)がラッチされている。 減算器(122)は従って(out  oel)=(s
ut〕の出力を生じており、これを有効走査時間(Fl
)の終了まで維持している。この減算器(122)の出
力(5lit )は第2シフトレジスタ(121)の第
1段目に格納されていることは述べるまでもないことで
ある。有効走査時間(E’x )の終了時点(El)の
設C乙端子(118)に与えられるタイミングパルスに
よってラッチ回路(119)と(120)の内容が変シ
、ランチ回路(119)の内容が(Oe2 )に−ラン
チ回路(120)の内容b−(6u2)となる。この結
果、減算器(122)は(1u2)=(。F2−0e2
)を出力し、この出力(1u2)は、8し1回転の第2
反射面に対する偏向補正量としてその有効走査時間(F
2)の始まる前の偏向補正時間(F2)に駆動部f91
による光偏向量(5)の偏向’?it!正動作に使用さ
れる。 このとぎの第1シフトレジスタ(106)の内容は入力
段からI’mに(tex)(oes)(oa7)(oe
6)(oes)(oe4)(oem)(Oe2 )であ
り−また8ビ2シフトレジスタ(121)の内容も入力
段から順に(1111)(0118)(OF7)(OF
6)(Ou5χ0u4)((、F3) (OF2 )で
あって未だ変化していない。 次いで時刻(G2)になると、前記割$4器(104)
からの第2反射面に対するずれ量(1e2)が前述と同
様の単安定マルチバイブレータ(115)によるタイミ
ング制御でデジタル信号として検出され、これがやはり
遅延回路(+163(117)によるシフトコントロー
ルによって第1シフトレジスタ(106)の入力段に格
納され、同時に第2シフトレジスタ(121)もシフト
する。勿論、遅延回路(117)の遅延時間は、サンプ
ルホールド回路(103)と割算器(104)およびア
ナログ・デジタル変換器(105)の動作時間の和より
長時間に設定されていることは述べるまでもない。さて
この時点(G2)後の4器1シフトレジスタ(106)
の内容は入力段から順に(1e2)(lel)(Oe8
)(Oe7)(Oe6)(0(!5)(Oe4)(Oe
3)となり、第2シフトレジスタ(121)の内容は入
力段から順に(1u2 ) (sut )(ous) 
(OH7) (oua ) (OH2) (OH4) 
(o113)となるnこのようにして第2反射面に対す
るずれm (tez)および偏向補正ffl(tug)
が記憶され、以下同様にしてポリゴンミラー(1)の各
反射面毎に偏向イ111正とずれ量の検出とが繰シ返さ
れてゆく。 ポリゴンミラー(1)が丁に1回転したのちの(G’l
 )時点において、割算器(104)からの第2回転月
の第1反射面に対するずれ量(,2e1)がデジタル信
号に変換されてから第1シフトレジスタ(10j6 )
に入力され、同時に第2シフトレジスタ(121)もシ
フトされる。このときの第1シフトレジスタ(106)
の内容は入力段から順に(2el ) (les ) 
(1e7 ) (tea ) (les )(ze4)
(tesDze2)となシ、同様に第2シフトレジスタ
(121)の内容は入力段から順に(+ut)(1ug
)(zu7)(rus ) (5ols ) (tu<
 3 (tug ) (1112)となる。そしてラン
チ回路(119)は(、e、 )′la:、ラッチ回路
(120) G’l (tut)をラッチしており、減
算器(122)は(lul  1el) ””(lul
)、すなわち第2回転目の第1反射面に対する偏向補正
量ン未だ出力しつづけている。この状態で第2回転目の
第1反射面によるビームの有効走査が行なわれ、その終
了時刻< E’りになるとラッチ回路(119)の内容
が(1e2 )に、ラッチ回路(120)の内容が(1
u2)にそれぞれ変り、減算器(122)から(1u2
 1e2)”(2u2)が出力され、以下同様にして第
2回転目の第2反射面に対する偏向補正が偏向補正量(
2u2)に基づいて行なわれる。 第2反射面に注目すれば、第1回転目の偏向補正i(t
ug)は(ouz  0e2)であシ、第2回転目の偏
向補正1f(ouz)は(1u21e2)であり、ボI
Jゴンミラ−(υの1回転毎に(2u2 )+(zuz
−2J )、(4u2)−(3u25et)の如く変化
してゆく。第2反射面に対する理想的な偏向補正量を(
T12)とすると、量((ouz−0e2) rJ2)
に比例した値が(1e2)として検出され、量C(xu
z−tea)−U、)に比例した値が(2e2 )とし
て計測されるわけである。この比レリ係数なkとして式
で表現すれば、(1e2)=k((ot12oeg)−
TW)・=・=・=  (1)(zez)=k((tu
2−1e2)−HzE −−・・・(21となる。ここ
で比(26z)/(tez)の絶対値をα1とするここ
でkの値ヲ適当に小さくするとα!く1とすることがで
き、一般に(n+182)/(He2)の絶対値をαn
に対してαr1〈1とできるので、回転数nを大きくす
ることによって(Inf限りなく零に近づけることがで
きる。 従ってポリゴンミラー+1) Y多数回にわたって回転
させた後には、本発明の装置によるとぎは光ビームのず
れはほぼ零となる。 尚、以上の式による説明は第2反射面に着目して行なっ
たが他の反射面lこつぃても当てはまることは述べるま
でもない。 第4図の信号処理ユニットの回路系をサンプル値制御系
としてポリゴンミラーの成るひとつの反射面についての
み着目すると、z=eTB(但しTはポリゴンミラーの
回転周期、Sはラプラス変換時の変数、eは自然数)で
Z要換されたパルスに達関数G(Z)は、 zt となる。ここでaおよびbは定数である。 本発明においては、ずれ量の検出時点と光偏向器(5)
のrf、h作時点とが時間的にず11.でいるので厳密
lこは拡張Z変換で記述すべぎであるが、M目している
ポリゴンミラーの反射面の走査寄与時にこれらの動作が
同時に起ったものと仮定して、説明の簡略化のために単
なるZ変換で記述している。 又、本実施ρlでは伝達関数として(51式のものを用
いているが、一般的な多項式で示される云達関数を用い
ることも考えられ6゜この場合の一般式p、qの値とし
てp = 2 、 q = 1とする以外にも、例えば
両シフ) l/レジスタ4[]6)(121)Yそれぞ
れさらに8段ずつ直列接続してp:=?)、 q=2と
するなど、種々のものを考えることができる。 さらに木実施例ではポリゴンミラー+IIが8而休であ
るのでシフトレジスタ(106)(121)のシフト段
数も8段としたが、これはポリゴンミラー(1)の反射
面数が異なればそれと同数もしくはその釜数倍のシフト
段数とすればよく、従って本実施例のシフト段数は本発
明を限定する意味をもたないことは明らかである。 本発明は例えばレーザービームプリンタに用いて好適で
あるが、第1図に示した例では描画用レーザービームを
用いてずれiQY検出する方式であるので、この検出の
間ずっとレーザービーム奮発射しつづけなければならず
、制量が複雑Iこ1.cったシ、使用レーーー波長によ
っては性能の良い光電検出器(7Jが得にくい場合があ
るなどの不都合ケ生じることがある。このような場合に
ずれ量の検出を独宜した光学測定系で行なうようにすれ
ばよく、第8図はこの場合の実施例を示す光学系の配置
図である。 第8図において第1図と同一符号は同効のものを示し、
(71)は第1図の光電検出器(力に代って設けられた
ずれ量検出用光電検出器、(12)はずれ量検出用の測
定ビームを照射する照射器である。この検出器(71)
は、ポリゴンミラー(11の走査に寄与する反射面(8
)の倒れを検出するためにポリゴンミラー(1)の回転
軸に対して固定的な位置関係で反射面(8)に対面配置
され、この検出器(71)には、走査用レーザービーム
(4)とは別の光源としての照射器(12)からの任意
の波長の集束された測定光ビーム(21)がダイクロイ
ックミラー(20)&介して走査用レーザービーム(4
)と同一の光学系に導かれている。 この検出器(71)の受光面は前述実施例の4分割式の
ものである。またこの場合の信号処理系も前述の第4図
のものが利用でき、その詳述は冗長になるので省略する
。 第9図ta+は光電検出器の変形例を示し、ここでは先
に述べた4分割式の光電検出器(力或いは(71)に代
って、三つの光電素子(72A)(72B)(72G)
からなる3分割式の光電検出器(72)Y用いている。 す、なわち第9図(alにおいて、走査面上の集光レー
ザービームのスポラ) (60)の走査軌道(61)Y
間に挾んで上下に光電素子(72A)と(72C)とが
対向配置され、両党1d素子(72A)(72G)の走
合方向の手前側に隣接してもうひとつの光電素子(72
B)が走査軌道(61)Y横切るように配置されている
。スポツ)(60)によって他の光電素子よりも先行し
て照射を受ける光電素子(72B)はタイミング用光電
素子であ択その走置方向の幅寸法は好ましくはスポツ)
 (60)の直径とほぼ等しくするのがよい。上下一対
の光電素子(72A) (72C)はずれ検出用光電素
子であり、その機能は前述美施例の4分割式光電検出2
ユ(7)におけるずれ検出用光電素子(7A)(7(、
’)と同様である。 この変形例の光電検出器(72)を用いる場合、第4図
の回路において入力端子(101B)(1011月とそ
れに接続された加Q4回路(110)、コンパレータ(
111)、差動回路(112)、コンパレータ(113
)、アンド回路(114)とに代えてi9因(blに示
すように入力端子(HUB)にコンパレータ(125)
ビ接級し、その出力を直接単安定マルチバイブレータ(
115)のトリガー信号に用い6ようにする。第9図(
blにおいて(126)はコンパレータ(125)の比
較゛酸圧入カvl”であり、入力端子(101A)には
光電素子(72A)の受つ゛c出力信号が、入力端子(
101C)には光電素子(72C)の受光出力信号が、
そして入力Dil’a子(101B)には光電素子(7
2B)の受光出力信号がそれぞれ入力されるようになっ
ている。今、光”rlL R子(72B)の走査方向の
幅寸法がスポラ) (60)の直径と略等しいとすると
、ス、ボッ) (60)が走査方向に8動することによ
って光電素子(72B)から第10図の波形(1])に
示すような経時変化をする出力信号が得られ、引ぎわ“
じいて光電素子(72A)と(72C)との出力信号同
士の差値を求める差動回路(102)からは第10図の
波形(A−C)の如き経時変化をする出力信号が得られ
へここでコンパレータ(125)によって光電素子(7
2B)の出力信号fBl ’a=比11RレベルVrで
スライスすることによりそのピーク8.lI点tpにて
コンパレータ(125)からトリガーパルスが出力され
、このトリガーパルスによって単安定マルチバイブレー
タ(115) kトリガーする。単安定マルチバイブレ
ータ(115)はトリガーされてから予じめ設定された
時間tsiにサンプルホールド回路(103)−\パル
スを与−え−差動回路(102)の出力信号LA−C)
をサンプルホールド回路(1[13)に取り込んでホー
ルドさせる。 このようにして第9図(al (b+の変形例でも前述
の実施例と同様のタイミング検出、ずれ量検出、さらに
はビームパワー測定が可能である。 尚、この変形例において光電素子(72B)の走査方向
の幅寸法はスポツ) (60)の直径に略等しいものと
したが、これはビームパワーの測定のためには上記幅寸
法をスポツ) (60)の直径以上に大きくしてもよく
、この場合のずれ量検出のタイミングとしては、光電素
子(72B )の出力信号の立上りまたは立下り時点を
基準にして、それから成る時間の後に差動回路(102
)からのずれ量の出力信号をサンツブりングするように
すればよい。 ずれ量検出のタイミングの決定に関しては以上の例の他
にも腫々の変形7)−可能であり、例えば第6図に示し
た4分割式のブC電検出器(力を用いる。場合、光電素
子(7B)と(7D)の出力の差だけン利用してもタイ
ミング決定が可能である。すなわち光′Fに素子(7B
)(7D)の出力の差(13−D)はW、5図にも示し
であるが、この差信号CB−D) w第111に示す回
路に通してから第4図の単安定マルチバイブレータ(1
15)ケトリガーするようにする。第11図において差
信号(B−D )は二つのコンパレータ(127)(1
28)へ入力され、一方のコンパレータ(127)では
0レヘ/l/ ニ対し、て正負それぞれのスレッシホー
ルドレベル(V+II ) (V 113ト比較す6 
コトIc J: り差信号(B−D)カレベル(V+H
)より大きくなってからレベル(V−H)に低下するま
′t″論理”1”となる信号Slを得、また他方のコン
パレータ(12B)では差信号(13−1))がレベル
(V十H)以上の期間にわたり論理ビとなる信号82苓
・荀、これら両信号Slと82とを排他的論理和回路(
129)に入力して、第12図に示すように、差信号(
B−D )がレベル(v+10カラレヘル(■−H)ニ
下降する間だけのパルス幅のトリガー信号83ヲ得、こ
のトリガー信号S3によって第4図の回路の単安定マル
チパイプレーク(t15)をトリガーするようにしてa
6゜ 以上述べたように本発明によれば、光ビームスポットの
走査位置情報としてのトリガー(タイミング)信号が得
られると共に、主走査手段とじてのポリゴンミラーの回
転中に走査に寄与する反射面の倒れ角による走査ずれの
量が各反射面毎にずれ量として自動的に検出され、この
ずれ量によってポリゴンミラーの回転中に走査に寄与す
る反射面毎に対応して偏向補正が果され、従って装置と
しての走査ずれの調整作業が不要となり、また偏向補正
のための偏向手段の偏向動作量と偏向指令値としての偏
向補正量とを完全に対応させなくてもよく、例えばピエ
ゾ素子のようなヒステリシス特性を持つ安価な素子乞偏
向手段の駆動素子に利用しても、補正量の実績値による
イO正のために高精度の偏向補正動作が果され、さらに
製作におたってポリゴンミラーの各反射面の倒れ角の精
度を厳密に管理する必要もなく、ポリゴンミラー自体の
製作も楽となり、光ビーム走査装置の生産上および使用
上の各面で数多くの利点を得ることができるものである
。さらに前述の本発明の実施例では、光ビームパワーの
変化するような走査装置においても、ビームパワーに依
存せずに走査f しY検出でき、同時にビームパワーの
モニターモ可能であるという利点を有している。またス
ポットカ一対のずれ検出用の光電素子を照射するタイミ
ングを検出するために、タイミング用の光電素子を設け
πので、スポットの走査軌道からのずれ量を正確に検出
することができる。例えばずれ検出用の光電素子の受光
部の中央にスポットが位置したとき、その素子の出力信
号をサンプリングしたりできるので、出力信号の立上り
部や立下り部をサンプリングすることがなく、装置の長
期的な安定性や精度が極めて向上するという効果がある
[6], so that the image is formed on the scanning surface (6). (The force is placed in front of the effective scanning area on the scanning trajectory of the short hole surface (6) When the polygon mirror (1) rotates clockwise as shown by the arrow in the figure, the condensed laser beam (6) moves across the scanning surface ( 6)・\This photoelectric detector f before entering
Figure 1 shows the moment when the condensed laser beam (61#''-) is incident on this detector (7), and the voricon mirror (1) is further scanned. When it rotates, the condensed laser beam (6) C horizontally scans the surface (6) as shown in Figure 2 (up and down in the drawing).The correction means is an optical deflector (5). , the piezoelectric roller b part (9) that drives the two light deflectors, and the part ψU in FIG. 4, which will be described later.
signal processing unit with the circuit configuration shown) (10
), and this unit) (10) controls the drive unit (9) based on the amount of deviation detected by the force of the photoelectric detector (force) and controls the amount of deflection of the light deflector (5). The light 'a detector (7) is a condensed laser beam (6)
The position of the spot of the beam (6) in a direction perpendicular to the scanning direction (in the drawing, the front and back directions of the paper surface) is detected with respect to a predetermined scanning trajectory of the spot of the beam (6) on the scanning surface (6). An example of (n) is as shown in the sixth factor. ) evenly divides the circle into 4
A pair of photoelectric confections for detecting deviation ( 7A) (7C) are arranged facing each other with the track (61) in between, and another pair of timing photoelectric elements (7B) (7D) are arranged on the above-mentioned shape -1n (61). Choose these photoelectric elements (7A) (7B) (7C)
(7D) are arranged one by one in the four quadrants of the orthogonal coordinates whose origin is located on the scanning trajectory (61) on the scanning plane (3), and when there is no scanning deviation, the Photoelectric element - R7A) (spot approximately the center of the border of (7C))
(60) is made to pass. These four photoelectric elements (7A) (713) (7C) (7
D) output (70A) (70B) (70C) (70D)
are extracted separately and sent to the signal processing unit (described later) (
10), the beam spot (60) is used for timing protrusion in order to start drawing the beam spot (60) in a predetermined scanning direction, detecting the amount of deviation in the direction perpendicular to the scanning direction, and monitoring the laser beam power. FIG. 4 shows a specific example of the structure of the above-mentioned unit (10).
Includes tatami processing system, blood protection means, and part of combat means 6 (IolA) (101B) (101C)
(IOID) are input terminals 4) and (101A
) is the output signal (7OA) of the optical separator (7A), and (I
OlB)) This is how the photoelectric element (7B) comes out 4. - issue (70
B), (101C) is the output signal of the photoelectric element (7C), and (101D) is the output signal of the photoelectric element (7D) 7Q.
D) are each input. (102) can input 1'' from child (101A) (101C) to signal (70A)
The output 10 of this differential circuit (102) is input to a sample and hold circuit (103), which is a monostable multipipe 1/- to be described later. The amplitude 61H value is sampled and held at the timing of the output pulse of the data generator (115). The output of the sample and hold circuit (103) is given to one input of a divider (104). The signals (7 [IB) (70D) given to the other input terminals 1 (101B) and (101D) are input to the adder circuit (110) to obtain the addition output (4), and the signal (11, 2) to obtain the difference output fk+.The output of the adder circuit (110) is input to the comparator (111) and the preset comparison voltage IE(
When the output of the adder circuit (110) exceeds the comparison target (Erz) 'a', the comparator (1
The output of 11) is on a world-class level. Also, the output of the differential circuit (112) is connected to another comparator (11
3) and is compared with the zero level by this comparator (113), and only when the output of the differential circuit (112) exceeds the zero level, the output voltage l'T of the comparator (113)
]ll level. The outputs of the comparators (ili) and (F 13 ) are input to an AND circuit (114), and the AND circuit (114) sets the output level to 1 when both inputs are at the 1 peak level. The monostable multivibrator (115) is triggered when the output of the AND circuit (114) falls from the sun to the moon, and then produces an output for a preset period of time. (11
The output pulse of 5) is the spot scanning synchronization signal (125)
It is output from the signal processing unit (10) and is used as a sample and hold command signal for the sample and hold circuit (103), and is also used as a sample and hold command signal for the sample and hold circuit (116).
'r to the cross section signal of the nonΦ converter (105), which will be described later.
Furthermore, it is used as a shift pulse of a shift register (106), which will be described later, via another delay circuit (117) 7. The output signal of the photoelectric element (7B) at the leading position as shown in FIG. 6 with respect to the main scanning direction of Spora (60) is
In the example shown in Figure 7P and 4, the input terminal (101B) is input to another comparator (107) and a sample hold circuit (,109),
Another reference voltage aE (Er1) set in advance in 07)
When it exceeds (Er1), another monostable multivibrator (108) l: triggers, and this 1¥L signal ( The amplitude value of 70B) is held by the sample and hold circuit (1[]9). This sample hold is performed to accurately measure the power of the light beam by determining the value of the photoelectric signal output (70B) when the spora (60) is completely placed on the photoelectric element (7B). be. The output of the sample and hold circuit (109) is sent to the divider (10
4), and the divider (104) outputs the sample hole toy direct (il) of the differential circuit (1).
The quotient (elp) of el and the sample hold value ip+ of the output (70B) of the photoelectric shift register (106)
ノ\It is inputted to 5. The shift register (106) has 8 as shown in FIG.
The digital signal set in parallel to the input can be shifted up to 8 steps corresponding to the octahedral polygon mirror (1) with two reflective surfaces, and the synchronization signal for data shift is Multivibrator (115)
The output pulses of the delay circuits (116) (117)19. c.
A signal delayed by a predetermined period of time is used as a clock. (119) and (120) are latch circuits that respectively latch input digital amounts in accordance with timing pulses. On the other hand, the Noratch circuit (119) is connected to the first shift register (1
The other latch circuit (120) latches the digital signal from the final stage (8th stage) of the second shift register (121) of another 8 stages, and The timing pulse for controlling the latch timing of the latch circuits (119) and (120) is supplied to the terminal (1
18). This timing pulse is generated at the time when the beam (60) reaches the end point of the effective scanning range for the scanning surface (6) in each scanning period due to the rotation of the polygon mirror (1), that is, at the end of the effective scanning time of each scanning period. Therefore, the timing pulse given to the terminal (118) can be one obtained by multiplying the output pulse of the monostable multivibrator (115) by a short delay during the effective scanning time, or ) effective scanning end point ζ different light ′I
Signals obtained by arranging an IL detector and shaping its photoelectric output can be used in various ways. (122) is a subtracter, which subtracts the output of the latch circuit (i19) from the output of the latch circuit (120) and outputs the result. The second shift register (121) has eight parallel stages similar to the first shift register (106), and has a subtracter (
The output of 122) is inputted as actual data, and the same as the first shift register (106) is input to the delay circuit (117).
The shift is controlled by the output of. The output of the subtracter (122) is sent to the digital-to-analog converter (
123) and is converted into an analog signal output (124), and this analog signal output (124) serves as a voltage converter that drives the piezo drive element of the optical deflector (5) shown in FIG. (9) I\\ will be able to input a large amount. Now, the operation of the original beam scanning device having the configuration shown in FIGS. 1 to 4 at 1:5 will be explained in conjunction with FIGS. 5, 6, and 7 as follows. First, we will describe the detection of the deviation of the beam robot from the predetermined scanning trajectory by the photoelectric detector (7).
In FIG. 1, the beam (6) reflected by the rotation of the Bonn mirror (1) on its reflective surface (8) and focused by the focusing lens scans the photoelectric detector (force) at the beginning of the scan. Assuming that the beam (60) moves from left to right in Fig. 6 and the scanning locus matches the foot trajectory that passes through the center of the boundary between the photosensitive elements (7A) and (7C), the photoelectric element ( 7A] and (7c). The phase (i+) of the output of the photoelectric element (7B) and (7c) will show a change over time like the waveforms (A, -c) in Figure 5. At time t0 at the boundary of the photoelectric element (7C), the beam spot (60) crosses the photoelectric element (7C)
If it is close to A), the difference (e) in the output of the pixel element will be positive, and conversely the difference between the beam spot (60)l] - photoelectric element (7A)
If it is closer than (7c)t, the output difference fe) is negative, and the output difference tel is compared to the power of (60), so the light beam (1) is a light whose power changes. In this beam scanning device, this output difference tel is corrected by the magnitude of the beam power, and the beam scanning is performed without depending on the magnitude of the beam power.
) in the direction perpendicular to the scanning direction. For this purpose, a photoelectric element (7B
) waveform of the output signal (70B) + maximum value of jl (p
) Use fzt. This maximum value (p) is determined as follows. signal(
70B)'? : The comparator (107) compares the comparison level (Er1.) with the comparison level (Er1.) at the time t when the signal (70B) becomes sharp, the comparator (107) operates, and the pulse width of the monostable multivibrator (108)
At time t3 delayed by τl), the value of the signal (70B) is held as a sample, and the maximum value fp) is obtained as the hold output. The divider (104) outputs (e/p), which is an amount that does not depend on the beam power. On the other hand, in order to detect the position synchronization of the beam spot (+!S[]) in the scanning direction, the waveform CB-1))'& in Fig. 5 is used, and the falling edge of the signal (70B) and the signal (701)) are used. Time t from the zero point of the waveform (B-D) at startup. seek. The signal processing unit (io) uses the zero point of the waveform CB-D) between times t3 and t4, when the waveform CB+D) becomes higher than the reference level (Era). Note that the deviation angle θ of the beam (6) in the direction perpendicular to the scanning direction of the rotating polygon mirror (1) and the detected deviation (
As shown in Figure 6, the relationship with e/p) is almost linear in the range where θ is not very large near the origin, and is linear in the correction range of the actual deviation angle θ. In the usage state of the 80-rotation polygon mirror (1), each reflective surface of the polygon mirror (η is used to contribute to scanning sequentially, but for each reflective surface, the beam (6 ), the center contributes effectively to scanning for about half of the time, and the remaining half of the time cannot normally be used for scanning. Figure 7 corresponds to the rotation of the rotating polygon mirror (1). 2 is a timing chart of the deflection correction operation, in which (a) shows the effective scanning time of each of the eight reflecting surfaces (Fl) (Fz) (Fa
) (F4XFsXFaXFyXFa), (bJ is the timing of detecting the amount of deviation, (C) is the launch timing by the timing pulse to the terminal (118), (d) is the deflection of each reflecting surface. The correction time is (T(t)(F2)(Hs)(Tom)(F
5) Timing pulses of the deflection correction operation shown in (H6) ()17) ()J8) are shown. For example, as shown in FIG. 7, during scanning with the first reflecting surface, the amount of deviation is detected at the time ((3+)) when the spot is outside the scanning range before the scanning effective time (Fl), The shift amount detection point (G
1) During the previous time (Hl), the optical deflector (5) corrects the deflection. After the effective scanning by the first reflecting surface is completed, the next shift scene is detected in the same way at time (G2), and the deflection correction is performed based on the previous shift amount during time (F2), and the following steps are performed. The same is true. In this case, the deflection correction amount corresponding to each reflective surface is corrected not only based on the deviation amount of the previous detection result, but also based on the actual value of past corrections before that rotation and one rotation before that. , after a large number of rotations, very high precision deflection correction is automatically achieved. After the time (G1) shown in FIG. 7 (bJ), the output pulse of the monostable multivibrator (115) appears in FIG. (116), the output (e/p) of the divider 3γ5 (104) is converted into a digital quantity, and the amount of deviation as a digital signal is determined by the first shift register (106) at the output timing of the delay circuit (117). ) is stored in the first stage of the first rotation of the mirror.
It will be expressed as (xe2) for the reflective surface and (nem) for the m-th reflective surface at the n-th rotation. Thread '76 (1e work) is stored in the first stage of the shift register (106).
06) No. 2.3, 4, 5, 6, 7, 8 U
In the Z-th position, the deviation Q of each reflective surface during the previous rotation is shown (
oes) (oey) (oeg) (oes) (oe4) (
oem) (Oe2) is stored in the body, and the latch circuit (ii5') is loaded with the amount of deviation (.G4) with respect to the first reflecting surface exactly one rotation before. The second shift register (121) has a digital-to-analog converter (123)
A digital amount of the amount of deviation given to the drive unit (9) via the drive unit (9) is stored, and if the amount of deviation of this digital value is similarly expressed as (num), then the second shift register (
121), at present, (lul) (O
F8) (OF7) (6u6) (olla) (ou4) (
ousHollz) is set to 6, and the latch circuit (
120), the deviation 1J (oul) with respect to the first reflecting surface just one rotation ago is latched. The subtractor (122) is therefore (out oel)=(s
ut], which is calculated as the effective scanning time (Fl
) is maintained until the end of the period. It goes without saying that the output (5lit) of this subtracter (122) is stored in the first stage of the second shift register (121). The contents of the latch circuits (119) and (120) change depending on the timing pulse applied to the set C terminal (118) at the end point (El) of the effective scanning time (E'x), and the contents of the launch circuit (119) change. becomes (Oe2) - content b of the launch circuit (120) - (6u2). As a result, the subtractor (122) is (1u2)=(.F2-0e2
), and this output (1u2) is the second
The effective scanning time (F
During the deflection correction time (F2) before the start of 2), the drive unit f91
Deflection of light deflection amount (5) by '? It! Used for positive operation. The contents of the first shift register (106) at this moment are from the input stage to I'm (tex) (oes) (oa7) (oe
6) (oes) (oe4) (oem) (Oe2) - Also, the contents of the 8-bit 2 shift register (121) are (1111) (0118) (OF7) (OF
6) (Ou5χ0u4) ((, F3) (OF2 ), which has not changed yet. Next, at time (G2), the above-mentioned split $4 device (104)
The amount of deviation (1e2) from the second reflecting surface from It is stored in the input stage of the register (106), and the second shift register (121) is also shifted at the same time.Of course, the delay time of the delay circuit (117) is the same as that of the sample and hold circuit (103), the divider (104), and the analog・It goes without saying that it is set to a longer time than the sum of the operating times of the digital converter (105).Now, after this point (G2), the 4-device 1 shift register (106)
The contents of are (1e2) (lel) (Oe8) in order from the input stage.
)(Oe7)(Oe6)(0(!5)(Oe4)(Oe
3), and the contents of the second shift register (121) are (1u2) (sut) (ous) in order from the input stage.
(OH7) (oua) (OH2) (OH4)
(o113) n In this way, the deviation m (tez) and the deflection correction ffl (tug) with respect to the second reflecting surface are
is stored, and the detection of the positive deflection 111 and the amount of deviation are repeated for each reflecting surface of the polygon mirror (1) in the same manner. After the polygon mirror (1) rotates once in a row (G'l
), the amount of deviation (,2e1) of the second rotating moon with respect to the first reflecting surface from the divider (104) is converted into a digital signal and then sent to the first shift register (10j6).
The second shift register (121) is also shifted at the same time. The first shift register (106) at this time
The contents of are (2el) (les) in order from the input stage.
(1e7) (tea) (les) (ze4)
Similarly, the contents of the second shift register (121) are (+ut) (1ug
) (zu7) (rus) (5ols) (tu<
3 (tug) (1112). The launch circuit (119) latches (, e, )'la:, the latch circuit (120) G'l (tut), and the subtracter (122)
), that is, the deflection correction amount for the first reflecting surface of the second rotation continues to be output. In this state, effective scanning of the beam by the first reflecting surface of the second rotation is performed, and when the end time <E', the content of the latch circuit (119) becomes (1e2), and the content of the latch circuit (120) becomes (1e2). is (1
u2) respectively, and the subtracter (122) changes to (1u2
1e2)''(2u2) is output, and in the same manner, the deflection correction for the second reflective surface of the second rotation is determined by the deflection correction amount (2u2).
2u2). If we pay attention to the second reflective surface, the deflection correction i(t
ug) is (ouz 0e2), the deflection correction 1f (ouz) for the second rotation is (1u21e2), and the
J gong mirror ((2u2) + (zuz
-2J), (4u2)-(3u25et). The ideal deflection correction amount for the second reflective surface is (
T12), then the amount ((ouz-0e2) rJ2)
A value proportional to is detected as (1e2), and the quantity C(xu
The value proportional to z-tea)-U,) is measured as (2e2). If expressed as this ratio coefficient k, (1e2)=k((ot12oeg)−
TW)・=・=・= (1)(zez)=k((tu
2-1e2) -HzE --...(21) Here, let the absolute value of the ratio (26z)/(tez) be α1.If the value of k is appropriately reduced, α! will become 1. Generally speaking, the absolute value of (n+182)/(He2) is αn
Since αr1 can be set to 1, by increasing the number of rotations n (Inf can be brought as close to zero as possible. Therefore, the polygon mirror +1). In this case, the deviation of the light beam becomes almost zero. It should be noted that although the above equation has been explained with focus on the second reflecting surface, it goes without saying that it is also applicable to other reflecting surfaces. Using the circuit system of the signal processing unit in Fig. 4 as a sample value control system and focusing only on one reflective surface of the polygon mirror, z = eTB (where T is the rotation period of the polygon mirror, S is a variable during Laplace transform, (e is a natural number), the function G(Z) reaching the pulse converted to Z becomes zt. Here a and b are constants. In the present invention, the timing of detecting the amount of deviation and the optical deflector (5)
11. The time difference between rf and h operation time is 11. Therefore, this should be strictly described in terms of extended Z transformation, but we will simplify the explanation by assuming that these operations occur simultaneously when the reflecting surface of the M-th polygon mirror contributes to scanning. Therefore, it is described using a simple Z transformation. In addition, in this implementation ρl, the transfer function (formula 51) is used, but it is also possible to use a transfer function expressed by a general polynomial.6 In this case, the values of the general formulas p and q are p In addition to setting = 2 and q = 1, for example, both shifts) l/register 4 [ ] 6) (121) Y can be further connected in series with 8 stages each, p:=? ), q=2, and various other options can be considered. Furthermore, in the wooden embodiment, since the polygon mirror +II has 8 stages, the number of shift stages of the shift registers (106) and (121) is also set to 8 stages, but this may be the same number or The number of shift stages may be set to be twice the number of hooks, and therefore, it is clear that the number of shift stages in this embodiment has no meaning in limiting the present invention. The present invention is suitable for use in a laser beam printer, for example, but the example shown in FIG. 1 uses a drawing laser beam to detect the deviation iQY, so the laser beam continues to be fired continuously during this detection. 1. However, depending on the wavelength used, there may be some inconveniences such as difficulty in obtaining a high-performance photoelectric detector (7J). FIG. 8 is a layout diagram of an optical system showing an embodiment in this case. In FIG. 8, the same reference numerals as in FIG.
(71) is the photoelectric detector in Fig. 1 (a photoelectric detector for detecting the amount of deviation provided in place of the force), and (12) is the irradiator that irradiates the measurement beam for detecting the amount of deviation. 71)
is a reflective surface (8) that contributes to the scanning of the polygon mirror (11).
) is arranged facing the reflective surface (8) in a fixed positional relationship with respect to the rotation axis of the polygon mirror (1), and this detector (71) includes a scanning laser beam (4 ) A focused measuring light beam (21) of any wavelength from an illuminator (12) as a separate light source is transmitted to a scanning laser beam (4) via a dichroic mirror (20) &
) is guided by the same optical system. The light-receiving surface of this detector (71) is of the four-division type in the previous embodiment. Also, the signal processing system in this case can be the one shown in FIG. 4 described above, and its detailed description will be omitted since it would be redundant. FIG. 9 ta+ shows a modification of the photoelectric detector, and here, instead of the four-part photoelectric detector (force or (71)), three photoelectric elements (72A), (72B), and (72G) are used. )
A three-part photoelectric detector (72) Y is used. That is, the scanning trajectory (61)Y of (60) in FIG. 9 (spora of the focused laser beam on the scanning plane in al)
Photoelectric elements (72A) and (72C) are arranged facing each other vertically in between, and another photoelectric element (72
B) is arranged so as to cross the scanning trajectory (61)Y. The photoelectric element (72B) that is irradiated by the spot (60) before other photoelectric elements is a timing photoelectric element, and its width in the running direction is preferably the spot.
It is preferable to make it approximately equal to the diameter of (60). The pair of upper and lower photoelectric elements (72A) (72C) are photoelectric elements for detecting misalignment, and their function is similar to that of the 4-segment photoelectric detection 2 of the above-mentioned example.
Photoelectric element (7A) (7(,
') is similar. When using this modified photoelectric detector (72), in the circuit shown in FIG.
111), differential circuit (112), comparator (113)
), in place of the AND circuit (114), a comparator (125) is connected to the input terminal (HUB) as shown in i9 factor (bl).
and its output directly to a monostable multivibrator (
115) as a trigger signal. Figure 9 (
In bl, (126) is the comparison ``acid injection power vl'' of the comparator (125), and the input terminal (101A) receives the ``c output signal'' of the photoelectric element (72A).
101C) is the received light output signal of the photoelectric element (72C).
And the input Dil'a element (101B) has a photoelectric element (7
2B) are respectively inputted. Now, assuming that the width dimension of the light beam (72B) in the scanning direction is approximately equal to the diameter of the spora (60), the photoelectric element (72B) is ), an output signal that changes over time as shown in waveform (1) in Figure 10 is obtained, and the
As a result, from the differential circuit (102) that calculates the difference between the output signals of the photoelectric elements (72A) and (72C), an output signal that changes over time as shown in the waveforms (A-C) in Fig. 10 is obtained. Here, the photoelectric element (7) is detected by the comparator (125).
By slicing the output signal fBl'a=ratio 11R level Vr of 2B), its peak 8. A trigger pulse is output from the comparator (125) at lI point tp, and this trigger pulse triggers the monostable multivibrator (115). The monostable multivibrator (115) gives a pulse to the sample and hold circuit (103) at a preset time tsi after being triggered and outputs the output signal LA-C of the differential circuit (102).
is taken into the sample hold circuit (1[13) and held. In this way, even in the modified example of FIG. The width dimension in the scanning direction of the spot (60) was set to be approximately equal to the diameter of the spot (60); however, in order to measure the beam power, the above width dimension may be made larger than the diameter of the spot (60). In this case, the timing of detecting the amount of deviation is based on the rising or falling point of the output signal of the photoelectric element (72B), and after a period of time from that point, the differential circuit (102B) is detected.
) may be used to send an output signal representing the amount of deviation from the current value. Regarding the determination of the timing of detecting the amount of deviation, many variations are possible in addition to the above example. It is also possible to determine the timing by using the difference between the outputs of the photoelectric elements (7B) and (7D).
) (7D) output difference (13-D) is shown in Figure 5, but this difference signal CB-D) w is passed through the circuit shown in No. 111 and then output to the monostable multivibrator in Figure 4. (1
15) Try to trigger a keto trigger. In Figure 11, the difference signal (B-D) is transmitted through two comparators (127) (1
28), and one comparator (127) compares the positive and negative threshold levels (V+II) (V
Koto Ic J: Difference signal (B-D) level (V+H
) and then drops to the level (V-H) to obtain a signal Sl that becomes logic "1", and in the other comparator (12B), the difference signal (13-1)) becomes the level (V-H). Signals 82 and 82 are logic bits for a period of more than 10H), and these two signals Sl and 82 are connected to an exclusive OR circuit (
129), and the difference signal (
A trigger signal 83 is obtained with a pulse width only while the level (B-D) falls to the level (v+10 colors (■-H)), and this trigger signal S3 triggers the monostable multipipe lake (t15) of the circuit shown in Figure 4. as if a
6. As described above, according to the present invention, a trigger (timing) signal as scanning position information of a light beam spot can be obtained, and a reflective surface that contributes to scanning can be obtained while the polygon mirror serving as the main scanning means is rotating. The amount of scanning deviation due to the inclination angle of is automatically detected as the deviation amount for each reflecting surface, and based on this deviation amount, deflection correction is performed corresponding to each reflecting surface that contributes to scanning while the polygon mirror is rotating. Therefore, there is no need to adjust the scanning deviation as a device, and there is no need to make the deflection operation amount of the deflection means for deflection correction completely correspond to the deflection correction amount as a deflection command value. Even if an inexpensive element with a hysteresis characteristic is used as a drive element for a deflection means, a highly accurate deflection correction operation can be achieved due to the correction value based on the actual value of the correction amount. There is no need to strictly control the accuracy of the angle of inclination of each reflective surface, and the manufacturing of the polygon mirror itself becomes easier, providing numerous advantages in terms of production and use of the optical beam scanning device. be. Furthermore, the embodiment of the present invention described above has the advantage that even in a scanning device where the optical beam power changes, it is possible to perform scanning f and Y detection without depending on the beam power, and at the same time, it is possible to monitor the beam power. ing. Further, in order to detect the timing of irradiating the photoelectric element for detecting the deviation of a pair of spotters, a photoelectric element for timing is provided (π), so that the amount of deviation of the spot from the scanning trajectory can be accurately detected. For example, when a spot is located at the center of the light receiving part of a photoelectric element for detecting deviation, the output signal of that element can be sampled, so there is no need to sample the rising or falling parts of the output signal, and the long-term This has the effect of greatly improving stability and accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の第1実施例の主要構成を模式的に示す
配置図、第2図は走査中における前回の光学系を示す配
置図、第6図は光電検出器の一例を模式的に示す正面図
、第4図は本発明の要部としての信号処理ユニットの構
成例を示すブロック図、第5図は光電検出器の動作説明
のための波形図、第6図は同じく光電検出器による検知
出力とポリゴンミラーの反射面の倒れによる走査ビーム
のずれ角との関係を示す線図、第7図は信号処理ユニッ
トの動作説明の/j Lヮリタイミングチャート、第8
図は本発明の第2実施例の主要構成を模式的に示す配置
図、第9図(a)は光電検出器の変形例を模式的に示す
正面図、第9図tb)は前図の光電検出器を用いる場合
の第4図の回路の変更部分を示す要部ブロック図、第1
0図は第9図tag (b)による光電検出器の出力信
号処理フ説明するための波形図、第11図はサンプリン
グタイミングの決定のさらに別の変形例に用いるトリガ
ー信号生成部分を示す回路ブロック図、第12図は前図
の変形レリ【こおける動作説明のための波形図である。 (1)一回転ポリゴンミラー+ +2) :集束レンズ
、(6):走査面、(4)−入射レーザービーム、(5
)−光偏向器−(61:集光レーザービーム、(6o>
:ビームスポット、(73,(71):光電検出器、(
7A)(713)(7C)t7D):光電素子、(8)
:反射面、(9):ピエゾ駆動部、(10):信号処理
ユニット、(11C測定光ビーム、(12):照射器、
(102) :差動回路、(103) :サンプルホー
ルド回路、(104) :割算器、(+05) : A
/IE変換器、(106) :第1シフトレジスタ、(
108)(115) :単安定マルチバイブレータ、(
119)(120):ラツチ回路、(12i) :第2
シフトレジスタ、(122) :減算器。 代理人 弁理士 木 村 三 朗 矛、、3図 矛4図 1請( 第5図 第6図 オフ囚 ;t−g図 ブθ オq図 υF Vすt−t  V−t−t S3−m−」し−一一
Fig. 1 is a layout diagram schematically showing the main configuration of the first embodiment of the present invention, Fig. 2 is a layout diagram showing the previous optical system during scanning, and Fig. 6 is a schematic diagram showing an example of a photoelectric detector. 4 is a block diagram showing a configuration example of a signal processing unit as a main part of the present invention, FIG. 5 is a waveform diagram for explaining the operation of a photoelectric detector, and FIG. 6 is a photoelectric detector as well. Figure 7 is a diagram showing the relationship between the detection output of the detector and the deviation angle of the scanning beam due to the inclination of the reflective surface of the polygon mirror.
The figure is a layout diagram schematically showing the main configuration of the second embodiment of the present invention, FIG. 9(a) is a front view schematically showing a modified example of the photoelectric detector, and FIG. Main part block diagram showing the changed part of the circuit in Fig. 4 when using a photoelectric detector, Part 1
Fig. 0 is a waveform diagram for explaining the output signal processing of the photoelectric detector according to Fig. 9 (tag (b)), and Fig. 11 is a circuit block showing a trigger signal generation part used in yet another modification of sampling timing determination. 12 are waveform diagrams for explaining the operation of the modified relay shown in the previous figure. (1) Single rotation polygon mirror + +2) : Focusing lens, (6) : Scanning surface, (4) - Incident laser beam, (5
) - Optical deflector - (61: Focused laser beam, (6o>
: Beam spot, (73, (71): Photoelectric detector, (
7A) (713) (7C)t7D): Photoelectric element, (8)
: Reflective surface, (9): Piezo drive unit, (10): Signal processing unit, (11C measurement light beam, (12): Irradiator,
(102): Differential circuit, (103): Sample and hold circuit, (104): Divider, (+05): A
/IE converter, (106): first shift register, (
108) (115) : Monostable multivibrator, (
119) (120): Latch circuit, (12i): Second
Shift register, (122): Subtractor. Agent Patent attorney San Akira Kimura,, 3 Figures 4 Figures 1 (Figure 5 Figure 6 Off) m-”shi-ichiichi

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)光ビームのスポットで走査面を直線走査するため
に前記光ビームを予じめ定められた一方向に移動させる
走査手段と; 前記光ビームのスポットが所定の走査軌道上にあるとき
は前記光ビームの照射を受けて互いにほぼ等しくなると
共に、前記スポットが前記走査軌道からずれたときはそ
のずれに応じて異なる光電信号を出力する一対のずれ検
出用の光電素子と;前記光ビームのスポットによる走査
に際し、て前記ずれ検出用光電素子よりも時間的に先に
前記元ビームの照射を受けるように配置され、前記光ビ
ームが前記ずれ検出用光電素子を照射するタイミングを
求めるためのタイミング用光電素子と;前記タイミング
用光電素子の出力信号に応答して前記一対のずれ検出用
光電素子の両光電信骨から前記光ビームスポットの前記
所定の走査軌道からのずれ量な検出するずれ検出手段と
;前記走葺手段による光ビームスポットの走査ムラが無
くなるように前記ずれ量に基づいて前記光ビームン光学
的に偏向補正する補正手段と;を備えたことを特徴とす
る光ビーム走査装置。 (2)前記タイミング用光電素子な前記所定の走査軌道
上に相前後して二つ配置し、これら二つのタイミング用
光電素子と前記一対のずれ検出用光電素子との四つの光
電素子のそれぞれを、前記走査面上にて前記所定の走査
軌道上に原点が位置する直交座標の4象限にひとつずつ
配したことを特徴とする特許tH求の範囲第1項に記載
の光ビーム走査装置。 (6)前記ずれ検出手段が、 前記一対のす11.検出用光電素子の両九電信号の差値
請求める第1減算手段と; 前記二つのタイミング用光電素子の両光電信骨の差値を
求める箱2減算手段と; 前記タイミング用光電素子に光ビームが照射されている
間に前記第2減算手段による差値が予じめ定められた不
感帯幅7もって実質的に零になったときに前記第1減算
手段による差値を前記ずれ量として抽出するサンプリン
グ手段と;乞備えてなることを特徴とする特許請求の範
囲第2項に記載の光ビーム走査装置。
[Scope of Claims] (1) Scanning means for moving the light beam in one predetermined direction in order to linearly scan a scanning surface with the spot of the light beam; a pair of photoelectric elements for detecting deviation, which are irradiated with the light beam and become substantially equal to each other when in orbit, and output different photoelectric signals in accordance with the deviation when the spot deviates from the scanning orbit; and; when scanning with the spot of the light beam, the light beam is arranged to be irradiated by the original beam temporally earlier than the photoelectric element for displacement detection, and the light beam irradiates the photoelectric element for displacement detection. a timing photoelectric element for determining timing; and detecting a deviation of the light beam spot from the predetermined scanning trajectory from both photoelectric wires of the pair of deviation detection photoelectric elements in response to an output signal of the timing photoelectric element; and a correction means for optically correcting the deflection of the light beam based on the amount of shift so as to eliminate uneven scanning of the light beam spot by the scanning means. A light beam scanning device. (2) Two timing photoelectric elements are arranged one after the other on the predetermined scanning trajectory, and each of the four photoelectric elements, these two timing photoelectric elements and the pair of deviation detection photoelectric elements, is arranged one after the other on the predetermined scanning trajectory. , the light beam scanning device according to item 1 of the patent application, characterized in that one light beam scanning device is arranged in each of four quadrants of orthogonal coordinates on the scanning plane, the origin of which is located on the predetermined scanning trajectory. (6) The deviation detecting means comprises the pair of gaps 11. a first subtraction means for obtaining a difference value between the two photoelectric signals of the two photoelectric elements for detection; a second subtraction means for obtaining a difference value between the two photoelectric signals of the two photoelectric elements for timing; When the difference value obtained by the second subtraction means becomes substantially zero with a predetermined dead zone width 7 while the beam is being irradiated, the difference value obtained by the first subtraction means is extracted as the deviation amount. 3. The light beam scanning device according to claim 2, further comprising: sampling means for;
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