JPS59226975A - Inspecting device for external appearance - Google Patents

Inspecting device for external appearance

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JPS59226975A
JPS59226975A JP10168683A JP10168683A JPS59226975A JP S59226975 A JPS59226975 A JP S59226975A JP 10168683 A JP10168683 A JP 10168683A JP 10168683 A JP10168683 A JP 10168683A JP S59226975 A JPS59226975 A JP S59226975A
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JP
Japan
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signal
capsule
memory
article
time
Prior art date
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JP10168683A
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Masahiro Kishi
正弘 岸
Yukimasa Tachibana
橘 幸正
Tetsuji Kawasaki
哲治 川崎
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Fuji Electric Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To prolong the time for decision and to assure the inspection for similar products by providing the 1st and 2nd memories which store the binary coded signals by an amount equivalent to one capsule and repeating an action where the signal is read out of one of two memories while the signal is stored to the other memory alternately in each pass of the capsule. CONSTITUTION:The signal (a) supplied from a sensor 2 of an external appearance inspecting device is processed via a differentiators 211 and 222, comparators 221-225, monostable multivibrators 231-235, an AND gate 28, etc. The four types of prescribed signals (b), (f), (g) and (m) are applied to a changeover switch 24. The output of the switch 24 is stored to the 1st and 2nd memories 251 and 252 via output data buses 271 and 272, respectively. A CPU4', a controller 5 and a changeover switch 26 are provided to the memories 251 and 252, respectively. Then the binary coded signal is read out of the memory 252 while the binary coded signal is stored in the memory 251. This action is repeated alternately at every time a capsule passes to elongate sufficiently the decision time and ensure the decision of the similar products.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 この発明は、薬剤用カプセルの如き円筒状物品を光学セ
ンサにより走査して得られるセンサ出力にもとづいて物
品の検査を行なう物品の外観検査装置、特にセンサ出力
を記憶する記憶方式を改良した外観検査装置に関する。
Detailed Description of the Invention [Technical Field to which the Invention Pertains] The present invention relates to an article appearance inspection device that inspects the article based on sensor output obtained by scanning a cylindrical article such as a pharmaceutical capsule with an optical sensor. In particular, the present invention relates to an appearance inspection device with an improved storage method for storing sensor outputs.

〔従来技術とその問題点〕[Prior art and its problems]

第1図はかかる薬剤カプセルを示す外観図である。すな
わち、カプセルlはキャップ11とボデー12とから槽
成され、さらにキャップ11にはこれとボデー12とを
相互にロックするためのロック孔(ノツチ)13が設け
られている。薬剤充てん前のカプセルを空カプセルとい
−1このとぎのキャップ11とボデー12との結合力は
小さく、同図(a)の如く、いわば仮結合状態にある。
FIG. 1 is an external view of such a drug capsule. That is, the capsule 1 is composed of a cap 11 and a body 12, and the cap 11 is further provided with a lock hole (notch) 13 for locking the cap and the body 12 together. The capsule before being filled with a drug is called an empty capsule.The bonding force between the cap 11 and the body 12 is small at this point, and as shown in FIG.

この空カプセルは、薬剤充てん後は同図(b)の如くキ
ャップ11とボデー12は更に押圧されて結合力の大き
な本結合状態にされる。このように形成されるカプセル
においては、その製造時に種々の欠陥を生じることがあ
る。例えば、カプセルの肉厚が部公的に薄くなったスイ
ン(thin)スポット、このスインスポットが更に大
きくなった穴、ピンホール等がそれである。また、製造
されたカプセルの中には、キャップとボデーが分離した
ルース品、分離したキャップが正常晶のボデーに再結合
したツインキャップ、またはカプセル搬送中に空カプセ
ルが本結合状態となるロックカプセルと呼ばれる不良品
等が混在することがある。したがって、空カプセルを検
査して上記のような欠陥をもつ不良品を排除することが
必要である。
After the empty capsule is filled with the drug, the cap 11 and the body 12 are further pressed to form a fully bonded state with a strong bonding force, as shown in FIG. 2(b). Capsules formed in this manner may suffer from various defects during manufacture. For example, this includes a thin spot where the wall thickness of the capsule becomes gradually thinner, a hole where the thin spot becomes larger, a pinhole, etc. In addition, some of the manufactured capsules include loose products in which the cap and body are separated, twin caps in which the separated cap is recombined with the normal crystal body, and lock capsules in which the empty capsule is fully combined during capsule transportation. There may be cases where defective products called . Therefore, it is necessary to inspect empty capsules to eliminate defective products with the above-mentioned defects.

ところで、かかるカプセルを検査する方法としては種々
考えられるが、例えば次の如くすることができる。
By the way, various methods can be considered for inspecting such a capsule, and for example, the following method can be used.

第2図はカプセル検査装置の構成を示すブロック図、第
3図はカプセルの搬送態様とセンサ出力波形との関係を
示す説明図である。第2図において、2は例えばカプセ
ルに光を照射しその反射光を受光する光学センサ、3は
該センサ出力を所定のレベルで2値化する2値化回路、
4はデータ処理装置(CPU)およびメモリ等からなる
判定回路、5はコントローラである。なお、カプセルは
、その長さ方向軸を回転軸として回転せしめられながら
、第3図(a)の如き搬送部材6によって示矢の方向へ
搬送されるので、第2図に示されるセンサ2によって各
カプセルの表面が走査されることになる。かかる走査は
ヘリカルスキャンとも呼ばれるが、このヘリカルスキャ
ンによって得られる出力波形は、例えば第3図(b)の
如きアナログ波形となるので、2値化回路3により2値
化して判定回路4内のメモリへ書込み、データ処理装置
にて所定の処理を行なうことにより、カプセルの検査を
行なうことができる。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the capsule inspection apparatus, and FIG. 3 is an explanatory diagram showing the relationship between the capsule transport mode and the sensor output waveform. In FIG. 2, 2 is an optical sensor that irradiates light onto a capsule and receives the reflected light, and 3 is a binarization circuit that binarizes the sensor output at a predetermined level.
4 is a determination circuit consisting of a data processing unit (CPU), memory, etc., and 5 is a controller. Note that since the capsule is conveyed in the direction of the arrow by the conveying member 6 as shown in FIG. 3(a) while being rotated about its longitudinal axis as the rotation axis, the capsule is conveyed in the direction of the arrow by the sensor 2 shown in FIG. The surface of each capsule will be scanned. Such scanning is also called helical scanning, and the output waveform obtained by this helical scanning is an analog waveform as shown in FIG. The capsule can be inspected by writing the data into the file and performing predetermined processing using the data processing device.

ところで、このようなシステムにおいては、1)カプセ
ルの搬送方向は必ずしも定まっておらず、第3図<a>
に示される如くキャップ側を先にして搬送されるものと
、ボデー側を先にして搬送されるものとがある。
By the way, in such a system, 1) the transport direction of the capsule is not necessarily fixed, and as shown in Fig. 3 <a>
As shown in FIG. 1, there are two types: one that is transported with the cap side first, and the other that is transported with the body side first.

2)検査処理能力を高くすることが重要であるが、その
ためには、搬送速度が一定ならば、第3図(a)の如く
、カプセル配置間[adを狭くすることが必要である。
2) It is important to increase the inspection throughput, and for this purpose, if the transport speed is constant, it is necessary to narrow the space between capsules (ad) as shown in FIG. 3(a).

3)カプセルの材料によっては、キャップ、ボデーとも
透明または不透明、あるし)をまその組み合わせとなる
が、その場合、2値Iるための信号レベルが異なるので
、その対策が必要である。
3) Depending on the material of the capsule, both the cap and the body may be transparent or opaque, or some combination thereof.In that case, the signal level for binary I will be different, so countermeasures are required.

4)搬送速度は、一定であるとは云っても若干の変動が
ある。
4) Although the conveyance speed is constant, there are some fluctuations.

等の種々の問題点がある0このため、判定回路を全てハ
ードウェア構成にすると、特に、上記1)。
There are various problems such as 0. For this reason, if the determination circuit is made entirely of hardware, especially the above-mentioned 1).

2)および3)項に対処するためには、回路力5極めて
複雑となり、部品点数も多くなるので、通常は、データ
処理装置によるソフトウェア処理が行なわれる。この場
合、カプセル1個分の2値化データを適宜な間隔で所定
のメモリに記憶し、この記til内容なソフ)ウェア処
理してその判定を行なうことになるが、第3図(1))
からも明らかなように、全検査時間(TI+T2)の大
部分がデータ取り込み時間T1のために費やされ、判定
時間のためには僅かな時間T2 L、か残されていない
。しかも、この時間は、上記2)項で指摘されているよ
うに、減少される傾向にあり、このため、正確な判定が
できないという欠点がある。
In order to deal with items 2) and 3), the circuit power 5 becomes extremely complex and the number of parts increases, so software processing is usually performed by a data processing device. In this case, the binarized data for one capsule is stored in a predetermined memory at appropriate intervals, and the determination is made by software processing as described above. )
As is clear from the above, most of the total testing time (TI+T2) is spent on the data acquisition time T1, leaving only a small amount of time T2L for the judgment time. Moreover, as pointed out in the above section 2), this time tends to be reduced, which has the disadvantage that accurate determination cannot be made.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

この発明はかかる点に艦みてなされたもので、カプセル
の良、否を判定するための時間を充分に確保することが
できるカプセル検査装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in consideration of this point, and an object of the present invention is to provide a capsule inspection device that can secure enough time to determine whether a capsule is good or not.

〔発明の要点〕[Key points of the invention]

その要点は、カプセルの外形およびその表面形状に応じ
て所定の位置毎に変化するセンサ出力を所定のレベルで
2値化して得られる2値化信号を少なくとも1力プセル
分だけ記憶する第1.第2のメモリを設け、一方のメモ
リへ2値化信号が書込まれている間は他方のメモリから
2値化信号を読出し可能にする動作をカプセルが通過す
る毎に交互に繰り返すことにより、判定時間を充分に長
く(最大で、1カプセルに要する全検査時間;第3図(
b)ではT1とT2の和に相当する。)とることができ
るようにした点にある。
The key point is that the sensor output, which changes at each predetermined position according to the outer shape and surface shape of the capsule, is binarized at a predetermined level and the obtained binarized signal is stored for at least one force pulse. By providing a second memory and alternately repeating the operation of enabling the binary signal to be read from the other memory while the binary signal is being written to one memory, each time the capsule passes, Sufficiently long judgment time (maximum, total test time required for one capsule; Figure 3)
In b), it corresponds to the sum of T1 and T2. ).

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

第4図はこの発明の実施例を示す構成図、第5図は第4
図の動作を説明するための各部波形図、第6図はメモリ
の書込み、読出し動作を説明する説明図、第7図はセン
サ出力のメモリへのilみタイミングを説明する波形図
、第8図は第7図における各種15号の部分的な記憶態
様を示すメモリ構成図である。
FIG. 4 is a configuration diagram showing an embodiment of this invention, and FIG.
6 is an explanatory diagram illustrating write and read operations of the memory. FIG. 7 is a waveform diagram illustrating the timing of sensor output to memory. 7 is a memory configuration diagram showing a partial storage mode of various No. 15 in FIG. 7. FIG.

第4図において、2,5は第2図と同様の光学センサお
よびコントローラ、4はデータ処理装置(CPU)、2
1xzl!lzは微分器、221〜225はコンパレー
タ、231〜234はモノステーブルマルヂバイブレー
タ(以下、単にモノステともいう。)、24.26はこ
の発明により特に設けられたバス切換スイッチ、25.
.252は同じくメモリ、271゜−トである。
In FIG. 4, 2 and 5 are the same optical sensors and controllers as in FIG. 2, 4 is a data processing unit (CPU), 2
1xzl! lz is a differentiator, 221 to 225 are comparators, 231 to 234 are monostable multivibrators (hereinafter also simply referred to as monoste), 24.26 is a bus changeover switch specially provided according to the present invention, 25.
.. Similarly, 252 is a memory and a 271° port.

第4図の微分器211y212、コンパレータ22゜〜
225、モノステ231〜234およびアンドゲート2
8等によって2値化回路が形成されるが、ここで第5図
も参照して、その動作を説明する。なお、第5図に示さ
れる如く、N回目では良品カプセル11が、また、N+
1回目では穴14のある不良品カプセル12がそれぞれ
検査されるものとする。
Differentiator 211y212, comparator 22°~ in Fig. 4
225, Monoste 231-234 and AND Gate 2
8 and the like, and its operation will now be explained with reference to FIG. 5 as well. In addition, as shown in FIG.
It is assumed that each defective capsule 12 having a hole 14 is inspected at the first time.

カプセル11,12は、センサ2によってヘリカルスキ
ャンされ、第5図(イ)の如き信@aが得られる。ここ
で、alはノツチ13によって生じた四部であり、a2
は穴14によって生じた四部である。この信号aから、
次のようにして4種類の信号b*Lgおよびmが得られ
る。まず、信号すはアナログ信号aをフンパレータ22
1にて所定のレベルaL(第5図(イ)参照)と比較す
ることにより得られ、第5図(ロ)の如くカプセルや搬
送部材6の右部に応じて変化することになる。信号fo
gはセンサの視野の大きさ、カプセルの搬送速度V=お
よびカプセルの形状によって決まる所定の微分係数をも
つ微分器211によってアナログ信号aを微分した後、
コンパレータ222,223においテ第5図(ハ)に示
されるレベルC■、CLで2値化されたモノC”、搬送
部材6に形成されたカプセル収納穴61の始まりや終り
およびボデー、キャップの始まりや終りに応じて、それ
ぞれ第5図に)、(ホ)の如く得られる。なお、この信
号f2gはコンパレータ222,223の出力をモノス
テ231,232によってそれぞれ所定幅の信号に整形
したものであるが、このように所定時間だけ信号を保持
する理由については後述する。一方、信号mはセンサの
視野の大きさ、カプセル周速度vNおよび欠陥部の形状
等によつ−C決まる所定の微分定数を看する微分器21
2によって、上記アナログ信号aを微分して得られる第
5図(へ)の如キ信号りを、コントローラ224p22
5にて所定のレベルhH*hLとそれぞれ比較すること
によって信号i+Jを得、この信号jを所定幅の18号
に整形するモノステ234を通して得た信号にと信号i
とをアンドゲート28にて論理積操作した信号lを、さ
らにモノステ233によって所定幅の信号に整形したも
のである。したがって、信号lまたはmは第5図(ト)
の如く、アナログ信号aにalの如さ凹部が存在すると
きのみ得られ、それ以外の場合には得られない。なお、
ここではカプセルのノツチを含む凹部をモノステ233
 # 234およびアンドゲート28を用いて検出する
ようにしているが、コンパレータ224,225の出力
i。
The capsules 11 and 12 are helically scanned by the sensor 2, and a signal as shown in FIG. 5(a) is obtained. Here, al is the four parts produced by notch 13, and a2
are the four parts created by the hole 14. From this signal a,
Four types of signals b*Lg and m are obtained as follows. First, the signal A is an analog signal a.
1 by comparing it with a predetermined level aL (see FIG. 5(a)), and changes depending on the right side of the capsule and the conveying member 6 as shown in FIG. 5(b). signal fo
After the analog signal a is differentiated by a differentiator 211 having a predetermined differential coefficient determined by the size of the field of view of the sensor, the transport speed of the capsule V=, and the shape of the capsule, g is:
The comparators 222 and 223 smell the level C shown in FIG. Depending on the start and end, they are obtained as shown in Fig. 5) and (e), respectively.This signal f2g is obtained by shaping the outputs of the comparators 222 and 223 into signals of a predetermined width by monosteers 231 and 232, respectively. However, the reason why the signal is held for a predetermined period of time will be explained later.On the other hand, the signal m is a predetermined derivative determined by -C depending on the size of the field of view of the sensor, the circumferential velocity of the capsule vN, the shape of the defective part, etc. Differentiator 21 that looks at constants
2, the controller 224p22 outputs the signal as shown in FIG.
5, the signal i+J is obtained by comparing each with a predetermined level hH*hL, and the signal i is converted into a signal obtained through a monostage 234 that shapes this signal j into No. 18 of a predetermined width.
The signal l obtained by performing a logical product operation on the AND gate 28 is further shaped into a signal of a predetermined width by the monoste 233. Therefore, the signal l or m is
This is obtained only when the analog signal a has a concavity like al, and is not obtained in other cases. In addition,
Here, the concave part containing the notch of the capsule is
#234 and the AND gate 28 are used to detect the output i of the comparators 224 and 225.

jを所定幅の信号に整形してメモリへ記憶させ、CPU
4の内部でその検出を行なうようにすることができる。
j into a signal with a predetermined width, store it in memory, and send it to the CPU.
The detection can be carried out within 4.

こうして得られるカプセルからの2値化信号が、例えば
第5図に示されるN番目のカプセル11からのものであ
り、そのときバス切換スイッチ24.26が第4図の実
線の位置にあるものとすれば、それらの信号はメモリ2
51へ格納される。このとき、メモリ252にはN−1
番目のカプセルに関するデータが書き込まれており、し
たがって、CPUd(fこのデータによってN−1番目
のカプセルの判定を行ない、その結果をコントローラ5
へ送る。次に、第5図に示される如きN+1番目のカプ
セル12を走査するときは、コントローラ5によってバ
ス切換スイッチ24.26を第4図の点線の位置に切り
換えることにより、2値化信号はメモリ252へ書込ま
れる一方、メモリ251はCPU4と接続されるので、
CPU4はN番目のカプセルの判定を行なう。
The binary signal from the capsule obtained in this way is, for example, from the Nth capsule 11 shown in FIG. Then those signals are stored in memory 2
51. At this time, the memory 252 has N-1
Data regarding the N-th capsule has been written, and therefore the CPU d(f determines the N-1th capsule based on this data and sends the result to the controller 5.
send to Next, when scanning the N+1-th capsule 12 as shown in FIG. On the other hand, since the memory 251 is connected to the CPU 4,
The CPU 4 determines the Nth capsule.

ここで、2値化信号をメモリへ書込むタイミングについ
て、第7図を参照して説明する。なお、拡大波形を、同
図(ロ)は第4図におけるアンドゲート28の出力を、
同図(ハ)は同じく第4図のモノステ233の出力を、
同図に)はタイミングtをそれぞれ示すもので、特にタ
イミングtの間隔はカプセル長さ方向の判定精度の基準
となるが、ここでは、例えばカプセルが1/4周だけ回
転するに要する時間と等しく選ばれる。ところで、上述
の如き2値化信号lの時間幅は、カプセルのノツチや穴
などの大きさによって決まるが、その値はカプセルが1
回転するに要する時間の略1/10以下である。したが
って、第7図に)の如き読込みタイミングでは、信号l
を読むことができないので、モノステ233によって信
号jを1/4周期より若干長い時間THだけ保持するこ
とにより信号mを作るものである。なお、この信号mに
よれば、第7( 図の如く1回以上読込むことができる。この点は、信号
f2gの場合も同様である。こうして、#l!6図(イ
)、(ロ)の如く、2値化信号はメモリ2519252
へ交互に書込まれ(WRITE)または読出され(几B
AD)、例えば、第7図の場合の例では第8図の如く記
憶される。なお、第6図(イ)は例えばメモリ251の
、同図←)はメモリ252の動作をそれぞれ示すもので
ある。
Here, the timing of writing the binarized signal into the memory will be explained with reference to FIG. 7. In addition, the enlarged waveform is shown in the same figure (b) as the output of the AND gate 28 in FIG.
The same figure (c) also shows the output of the monoste 233 in figure 4,
(in the same figure) indicate the timing t, and in particular, the interval of the timing t is the standard for the determination accuracy in the capsule length direction, but here, for example, it is equal to the time required for the capsule to rotate 1/4 revolution. To be elected. By the way, the time width of the binary signal l as described above is determined by the size of the notch or hole in the capsule, but its value is determined by the size of the notch or hole in the capsule.
This is about 1/10 or less of the time required for rotation. Therefore, at the read timing shown in FIG. 7), the signal l
cannot be read, so the signal m is generated by holding the signal j for a time TH, which is slightly longer than 1/4 period, using the monoste 233. Note that according to this signal m, the seventh signal (7) can be read more than once as shown in the figure. This point is also the same in the case of the signal f2g. ), the binary signal is stored in the memory 2519252.
are alternately written to (WRITE) or read from (几B
AD), for example, in the case of FIG. 7, it is stored as shown in FIG. Note that FIG. 6(a) shows the operation of the memory 251, and FIG. 6(a) shows the operation of the memory 252, for example.

第9,10図は第5図の如く正常晶カプセル11゜穴あ
きカプセル12をそれぞれ走査して得られた信号のbv
Lgおよびmの記憶態様を説明するための説明図である
Figures 9 and 10 show the bv signals obtained by scanning the normal crystal capsule 11° and the perforated capsule 12, respectively, as shown in Figure 5.
FIG. 3 is an explanatory diagram for explaining the storage mode of Lg and m.

19.10図において、各アドレスに示される記号は次
のようにしてつけられる。すなわち、CPINI 、2
け2値化信号すが′1″となる始まりと終りのアドレス
に、RISEI 、2は2値化信号fが′1″となるア
ドレスで、カプセルの始まりと終り付近のアドレスに、
CENTER−B。
In Figure 19.10, the symbols shown at each address are attached as follows. That is, CPINI,2
RISEI is placed at the start and end addresses where the binarized signal f becomes '1'', and 2 is an address where the binarized signal f becomes '1'' at addresses near the start and end of the capsule.
CENTER-B.

Cはカプセル中央部付近のアドレスに、FALLl、2
は2値化信号gが61”となるアドレスで、カプセルの
始まりと終り付近のアドレスに、N0TCHI 、2は
2値化信号m力び1”となるアドレスで、ギャップとボ
デーが重なり合う領域で生じたアドレスに、また、HO
LEは上記N0TCH以外の領域で2値化信号mが1”
となるアドレスにそれぞれ対応して付されるものである
。なお、wfJ9図はギャップを先にして搬送される正
常晶の場合であり、第10図はボデーに穴があり、かつ
ボデーを先にして搬送される不良品の場合であることか
ら、@9図ではノツチを示すアドレス(NOTCHI、
2)が第10図の場合よりも先に現われているとともに
、穴を示すアドレス(HOLE)は現われていないこと
がわかる。
C is the address near the center of the capsule, FALLl, 2
is the address where the binary signal g becomes 61", N0TCHI is the address near the beginning and end of the capsule, and 2 is the address where the binary signal m becomes 1", which occurs in the area where the gap and the body overlap. Also, HO to the address
In LE, the binary signal m is 1'' in the area other than the N0TCH mentioned above.
These are assigned in correspondence with the respective addresses. Note that Figure wfJ9 is for a normal crystal that is transported with the gap first, and Figure 10 is for a defective product that has a hole in the body and is transported with the body first. In the figure, the address indicating the notch (NOTCHI,
It can be seen that 2) appears earlier than in the case of FIG. 10, and the address (HOLE) indicating the hole does not appear.

次に、上記の如くして抽出、記憶された情報(b、f、
g、m等の信号)にもとづいて、どのように判定が行な
われるかについて説明する。
Next, the information (b, f,
A description will be given of how the determination is made based on the signals (signals such as g, m, etc.).

ここで、信号L> 、 f 、 gおよびmのもつ意味
について4(を理すると、次の如くなる。
Here, the meanings of the signals L>, f, g, and m are as follows.

l)信号すについて カプセルまたは現送部材を走査するときII 1 t+
となる。
l) When scanning the capsule or the current transport member for the signal II 1 t+
becomes.

2)信号fについて カプセルの始まり、搬送部材上のカプセル収納穴の終り
、またはカプセルがボデーを先にして搬送されたときに
キャップ切り口を走査すると1”になる。
2) If the signal f is scanned at the beginning of the capsule, at the end of the capsule receiving hole on the conveying member, or at the cut end of the cap when the capsule is conveyed with the body first, it becomes 1''.

3)信号gについて カプセルの終り、カプセル納収穴の始まり、またはカプ
セルがキャップを先にして搬送されたときにキャップ切
り口を走査すると′1”になる04)信号mについて カプセル表面の凹部、肉薄部または反射率の低い部分を
走査するとき′1”となる。
3) For signal g, if you scan the end of the capsule, the beginning of the capsule storage hole, or the cap cut when the capsule is transported with the cap first, it will be '1''04) For the signal m, the recess on the capsule surface, thinness When scanning a part or a part with low reflectance, it becomes '1'.

以上の如く、各信号はそれぞれに個有の意味を持ってい
るが、必ずしも一義的に決まるものではなく、シたがっ
て、これらをさらに分析する必要がある。すなわち、信
号f1gはカプセルの始まり、終りまたは中央部付近で
発生するが、これらは互いにアドレスが遠く離れている
ことから、容易に区別することができる。しかし、信号
mはノツチ(NOTCH)によるものと穴(HOLF)
によるものとがあるので、ここでは、次のようにして区
別をしている。
As described above, each signal has its own meaning, but it is not necessarily determined uniquely, and therefore it is necessary to further analyze these. That is, the signal f1g is generated near the beginning, end, or center of the capsule, but these can be easily distinguished because their addresses are far apart from each other. However, the signal m is from NOTCH and from HOLF.
Here, we will distinguish between them as follows.

第11図は信号の判定方法を説明する70−チャートで
ある。
FIG. 11 is a 70-chart illustrating a signal determination method.

まず、上記2)、3)の項からも明らかなように、信号
fまたはgが11”となるアドレスを調べろことにより
、カプセルの搬送方向とキャップ切口の位置を判別する
(■、■参照)0次に、信号mが11”となるアドレス
を調べ(O,o参照)、このアドレスがギャップ側にあ
り、かつキャップ切り口より所定距離以上離れていない
場合は、m=1なる信号はノツチによるものであり、一
方、所定距離以上離れていて、かっボデー側にある場合
は穴によるものと考えることができる。したがって、こ
こでは、中心位置を表わすf=lまたはg=1となるア
ドレスと、m=1となるアドレスとの差が所定の設定値
cT1より小さいか否かを判別しくの、θ参照)、YE
Sならばノツチによるもので、正常と判定しく■参照)
、Noならば穴がある不良品であると判定する(の参照
)。なお、θ、■において m=1となるアドレスが存
在しないときは、エラーとする(■、■参照)0以上、
主としてカプセル表面の検査について説明したが、前述
の如きツインキャップ、チソプドキャップまたはロック
カプセル等の検査も同様にして可能である。また、第4
図の実施例では、アナログ信号の四部を検出するために
モノステ234を設けるようにしているが、このモノス
テ234をコンパレータ225ではなく224側へ接続
することにより、アナログ信号の凸部を検出することが
できる。また、アナログ信号の凹凸を区別しない場合は
モノステを省略することが可能である。また、前述した
如く、コンパレータ224 、225 (DIJ3カを
vi、接記憶させ、その検出処理をCPU4  にて行
なわせるようにしてもよいものである。
First, as is clear from items 2) and 3) above, determine the transport direction of the capsule and the position of the cap cut by checking the address where the signal f or g becomes 11'' (see ■ and ■). 0 Next, check the address where the signal m is 11" (see O, o), and if this address is on the gap side and is not more than a predetermined distance from the cap cut, the signal m = 1 is due to the notch. On the other hand, if it is more than a predetermined distance away and on the side of the bracket, it can be considered that it is due to a hole. Therefore, here, in order to determine whether the difference between the address where f = l or g = 1 representing the center position and the address where m = 1 is smaller than a predetermined setting value cT1 (see θ), YE
If it is S, it is caused by Notsuchi and is considered normal (see ■)
, if No, it is determined that the product is defective because it has holes (refer to). In addition, if there is no address for which m = 1 in θ, ■, an error occurs (see ■, ■) 0 or more,
Although the description has mainly been given to the inspection of the capsule surface, it is also possible to inspect the aforementioned twin cap, chisopdo cap, rock capsule, etc. in the same way. Also, the fourth
In the illustrated embodiment, a monoste 234 is provided to detect four parts of the analog signal, but by connecting the monoste 234 to the 224 side instead of the comparator 225, it is possible to detect the convex portion of the analog signal. I can do it. Furthermore, if the unevenness of the analog signal is not to be distinguished, it is possible to omit the monoste. Further, as described above, the comparators 224 and 225 (DIJ3) may be directly stored in the vi, and the detection processing thereof may be performed by the CPU 4.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、この発明によれば、2つのメモリを設け
て2値化信号の書込み、読出しを交互に行なうようにし
た\め、データの取込みの時間と演算時間とをわけずに
全てを演算時間として利用することができる。例えば、
メモリを1つにした場合の一可足時間は、第3図で説明
したカプセル搬送ピッチ時間(Tl+yr2)の約20
−以下となる力へこの発明によれば、判定時間をこれと
はy同程度、つまり、処理能力を低下させることなく、
5倍以上にすることができる。また、この発明では、1
力プセル分の2値化情報を全て記憶するようにしている
ので、ソフトウェアによる判定が容易となるばかりでな
く、搬送速度の影響を少なくすることができ、さらには
カプセルの搬送方向がまちまちでも容易に対処しうると
いう利点が得られるものである。
As described above, according to the present invention, since two memories are provided and binary signals are written and read out alternately, the data acquisition time and the calculation time are not separated and all data can be processed. It can be used as calculation time. for example,
When one memory is used, the time required for one trip is approximately 20 times the capsule conveyance pitch time (Tl+yr2) explained in FIG.
According to the present invention, the determination time is about the same as y, that is, without reducing the processing capacity,
It can be increased by 5 times or more. Moreover, in this invention, 1
Since all the binarized information for the force pulse is stored, it is not only easy to judge by software, but also the influence of the conveyance speed can be reduced, and even if the capsule is conveyed in different directions, it can be easily determined. This has the advantage of being able to deal with problems.

なお、この発明は、上述の如き薬剤用カプセルばかりで
なく、これと類似する物品一般の検査装置として広く適
用することができる。
The present invention can be widely applied not only to pharmaceutical capsules as described above, but also as an inspection device for similar articles in general.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はカプセルを示す外観図、第2図はカブ七ル検査
装置の概略を示すブロック図、第3図はカプセルの搬送
態様とセンサ出力?I!形との関係を示す説明図、第4
図はこの発明の実施例を示す構成図、第5図は第4図の
動作を説明するための各部波形図、第6図は2つのメモ
リの書込み、読出し動作を説明するための説明図、第7
図はセンサ出力のメモリへの読込タイミングの関係を説
明する波形図、第8図は各種信号の部分的な記憶態様を
示すメモリ構成図、第9図および第10図は第5図に示
される各種信号の記憶態様を示すメモリ構成図、第11
図は信号の判定方法の一部を示すフローチャートである
。 符号説明 1 m 11 p 12・・・・・・薬剤カプセル、1
1・・・・・・キャップ、12・・・・・・ボデー、1
3・・・・・・ノツチ、14・・・・・・穴、2・・・
・・・光学センサ、3・・・・・・2値化回路、4・・
・・・・判定回路、4 ・・・・・・データ処理装置(
CPU)、5・・・・・・コントローラ、6・聞・搬送
部材、61・川・・搬送部材のカプセル収納穴、211
t212・・曲微分器、221〜225・・間コンパレ
ータ、231〜234川・・・モノステーブルマルチバ
イブレータ(モノステ)、24,26・・・・・・バス
切換スイッチ、27□。 27□g 271 + 272・・・・・・データバス
第2図 第3図 (il) 第4r2 第5図 (小>7(e) 第6図 第7図 第 8 図
Fig. 1 is an external view showing the capsule, Fig. 2 is a block diagram showing the outline of the capsule inspection device, and Fig. 3 is the transport mode of the capsule and the sensor output. I! Explanatory diagram showing the relationship with shape, 4th
5 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, FIG. 5 is a waveform diagram of various parts for explaining the operation of FIG. 4, and FIG. 6 is an explanatory diagram for explaining write and read operations of two memories. 7th
The figure is a waveform diagram explaining the relationship between reading timing of sensor output into memory, Figure 8 is a memory configuration diagram showing partial storage mode of various signals, and Figures 9 and 10 are shown in Figure 5. Memory configuration diagram showing storage modes of various signals, No. 11
The figure is a flowchart showing part of a signal determination method. Code explanation 1 m 11 p 12...Medical capsule, 1
1...Cap, 12...Body, 1
3...notch, 14...hole, 2...
...Optical sensor, 3...Binarization circuit, 4...
...Judgment circuit, 4 ...Data processing device (
CPU), 5... Controller, 6. Capsule storage hole of transport member, 61. Capsule storage hole of transport member, 211
t212...Functional differentiator, 221-225...Interval comparator, 231-234...Monostable multivibrator (Monoste), 24, 26...Bus changeover switch, 27□. 27□g 271 + 272... Data bus Fig. 2 Fig. 3 (il) Fig. 4r2 Fig. 5 (Small > 7 (e) Fig. 6 Fig. 7 Fig. 8

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 長さ方向軸を回転中心として回転せしめられながら軸方
向に搬送される略円筒形状の物品を順次走査する光学セ
ンサと、該センサ出力を所定のレベルで2値化すること
により物品の外形および表面の形状を表わす所定の信号
を抽出する信号抽出手段と、該2値化された信号を前記
物品毎に所定の時間だけ記憶す、る2つの記憶手段と、
該2値化された信号が一方の記憶手段に書込まれている
ときは他方の記憶手段から該信号の読出しを行なう如く
切り換える切換手段とを設け、該切換手段にて2つの記
憶手段を前記物品毎に交互に切り換えることにより書込
み、読出しを交互に行ない、該読出された前記2値化信
号にもとづいて所定の解析を行なうことにより、物品の
検査を行なうことを特徴とする外観検査装置。
An optical sensor sequentially scans a substantially cylindrical article that is rotated about a longitudinal axis and conveyed in the axial direction, and the output of the sensor is binarized at a predetermined level to detect the outer shape and surface of the article. a signal extraction means for extracting a predetermined signal representing the shape of the article; and two storage means for storing the binarized signal for a predetermined time for each article;
A switching means is provided for switching so that when the binarized signal is written in one storage means, the signal is read from the other storage means, and the switching means switches between the two storage means. An appearance inspection device characterized in that an article is inspected by alternately performing writing and reading by switching alternately for each article, and performing a predetermined analysis based on the read binary signal.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019100914A (en) * 2017-12-05 2019-06-24 四国電力株式会社 Vibration monitoring system

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