JPS59225324A - Electronic thermometer - Google Patents

Electronic thermometer

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JPS59225324A
JPS59225324A JP10061183A JP10061183A JPS59225324A JP S59225324 A JPS59225324 A JP S59225324A JP 10061183 A JP10061183 A JP 10061183A JP 10061183 A JP10061183 A JP 10061183A JP S59225324 A JPS59225324 A JP S59225324A
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temperature
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resistance
resistance value
temp
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JP10061183A
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Yutaka Muramoto
村本 裕
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Terumo Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/22Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
    • G01K7/24Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
    • G01K7/245Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit in an oscillator circuit

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Abstract

PURPOSE:To enhance the versatility in element selection, by dispensing with strict selection of the accuracy in the reference resistance value of a reference resistor or a temp. measuring resistor by adjusting the resistance value of the reference resistor while strictly selecting the B-constant of a thermister. CONSTITUTION:The temp. of a thermostatic tank 9 is set to a reference temp. T0 and the measured temp. output T0 from a temp. measuring apparatus 7 and the count value N2 from the counter circuit 2 of an electronic thermometer are inputted to a data processing apparatus 8 while a resistance value control apparatus 10 controls the resistance value of the reference resistor RS mounted in an oscillator 1 so as to adjust the input count value N2 to a reference value N20. The ratio of the thermister resistance value Rtho at the reference temp. T0 and the resistance value RS of the reference resistor can be kept constant while the reference temp. T0 can be read by a reference address N20 and an accurate temp. can be measured by formulae.

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 技術分野 本発明は電子温度計に関するものであり、更に詳細に言
えば、測温抵抗体の温度−抵抗計数の標準化を図ること
によりカウント値一温度変換テーブルの標準化を図るこ
とのできる電子温度計に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION Technical Field The present invention relates to an electronic thermometer, and more specifically, by standardizing the temperature-resistance count of a resistance thermometer, a count value-temperature conversion table is created. This invention relates to an electronic thermometer that can standardize the temperature.

従来技術及びその問題点 従来、第1図に示す如く感温素子を用いた発振回路の出
力パルス列を計数し、この計数値から温度値を得る変換
を不揮発性のメモリにプログラムすることによって行う
ようにしたデジタル温度計が特開昭50−131576
号により提案されている。しかしながら、この発明によ
れば、発振特性の異なる装置毎にプログラムすることを
要し、大量生産性に欠けていた。この不利益は原始デー
タを基に作成した温度変換テーブルに汎用性を与える利
用技術によって解決されるものである。そして特に重要
なことはかかるテーブルを利用する発振回路の構成素子
の選択に融通性を与えることが、複製にて作成される変
換テーブルを用いる電子温度計の生産性と歩留まりを高
くすることを見い出し本発明を提案するに至ったもので
ある。
Conventional technology and its problems Conventionally, as shown in Figure 1, the output pulse train of an oscillation circuit using a temperature sensing element is counted, and the conversion to obtain a temperature value from this counted value is performed by programming in a non-volatile memory. The digital thermometer was published in Japanese Unexamined Patent Publication No. 50-131576.
proposed by No. However, according to this invention, it is necessary to program each device having different oscillation characteristics, and mass productivity is lacking. This disadvantage can be solved by a utilization technique that provides versatility to the temperature conversion table created based on the original data. What is particularly important is that it has been found that providing flexibility in selecting the components of an oscillation circuit that uses such a table increases the productivity and yield of electronic thermometers that use a conversion table created by replication. This led us to propose the present invention.

発明の目的 このような課題の下に提案された本発明の目的は、基準
抵抗体の精度を厳密に選定する必要がなく、かつまた、
測温抵抗体も温度−抵抗計数のみ選定すれば足りる電子
温度計を提案する所にある。
Purpose of the Invention The purpose of the present invention proposed under the above-mentioned problem is to eliminate the need to strictly select the accuracy of the reference resistor, and to
We are also proposing an electronic thermometer that requires only a temperature-resistance factor to be selected for the resistance temperature sensor.

また、本発明の他の目的は基準抵抗体の精度の不均一さ
がもたらす、抵抗比の誤差分を補正できる電子温度計を
提案することにある。
Another object of the present invention is to propose an electronic thermometer that can correct errors in resistance ratio caused by non-uniform accuracy of a reference resistor.

更に本発明の他の目的は抵抗比の誤差分を補正すること
により、温度データ格納部のメモリ容量を節約できる電
子温度計を提案することにある。
Still another object of the present invention is to propose an electronic thermometer that can save memory capacity of a temperature data storage section by correcting errors in resistance ratios.

このような本発明の目的は、所定の温度抵抗係数を有す
る測温抵抗体と、該測温抵抗体の基準温度における抵抗
値に対する比がほぼ一定の抵抗値を有し、温度によって
抵抗値の変化しない基準抵抗体とを発振器の発振周波数
を決定する要素とする発振器と、該発振器に前記測温抵
抗体と基準抵抗体を交互に接続したときの発振数の比か
ら求まる値に設定値を加算又は減算する加減算手段と、
該加減算手段によって求まる値をアドレスとし、該アド
レスに前記値に相関する温度を固定した温度データ格納
部とを備え、該加減算手段によって求まる値を前記温度
データ格納部の読出し7ドレスとすることを特徴とする
電子温度計によって達成される。
The object of the present invention is to provide a resistance temperature detector having a predetermined temperature resistance coefficient, a resistance value whose ratio to the resistance value at a reference temperature of the resistance temperature detector is approximately constant, and whose resistance value changes depending on the temperature. An oscillator in which an unchanging reference resistor is used as an element for determining the oscillation frequency of the oscillator, and a set value determined from the ratio of the number of oscillations when the temperature sensing resistor and the reference resistor are alternately connected to the oscillator. Addition and subtraction means for addition or subtraction;
The value determined by the addition/subtraction means is set as an address, and a temperature data storage section is provided in which a temperature correlated to the value is fixed at the address, and the value determined by the addition/subtraction means is set as a readout address of the temperature data storage section. Achieved by a featured electronic thermometer.

また、好適な態様に従えば、測温抵抗体と基準抵抗体と
の基準温度における抵抗比の設定値からのずれは加減算
手段によって補正されるものであり、更に温度データ格
納部は加減算手段によって求まる値を温度変換するテー
ブルを含み、該テーブルの基準アドレスが基準温度にお
ける前記値によってアクセスされるものであり、抵抗値
比は略1である。
Further, according to a preferred embodiment, the deviation from the set value of the resistance ratio of the resistance temperature detector and the reference resistor at the reference temperature is corrected by the addition/subtraction means, and furthermore, the temperature data storage section is corrected by the addition/subtraction means. It includes a table for converting the determined value into temperature, the reference address of the table is accessed by the value at the reference temperature, and the resistance value ratio is approximately 1.

次に本願発明の好適なる一実施例としての電子体温計に
ついて詳細に説明する。第2図は一実施例の電子体温計
の構成を示すブロック図である。
Next, an electronic thermometer as a preferred embodiment of the present invention will be described in detail. FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of an electronic thermometer according to an embodiment.

図において、■はサーミスタRthを測温抵抗体とする
発振器で、内部には温度によって抵抗値の変化しない基
準抵抗体Rsを含み、これら両抵抗体Rs、Rthは端
子Sに加えられる選択信号によって内部の発振回路に切
替接続され夫々fs、fthなる周波数のパルス列を出
力する。2はこれらのパルス列を係数するカウンタ回路
で、前記発振器lを含む回路素子の時系列にそった特性
変動を除去するために前記パルス列を可変に制御された
ゲート時間幅T9 の間だけ計数し、常に検出温度に対
する正しいカウント値N2を出力する。3はカウント値
N2から所定値NDoを減算する減算回路で、後接する
メモリの容量を制約するために所定値NDoを差引いた
値のアドレス出力N/ipを出力する。4は標準のRO
Mテーブルを記憶させたリードオンリメモリ(ROMま
たはFROMで良い)で、アドレス出力NADによって
アドレスされそこに相関記憶されている温度データTt
を読出す。5は表示回路で、読出された温度データTt
をデジタル表示する。
In the figure, ■ is an oscillator that uses a thermistor Rth as a resistance temperature detector, and includes a reference resistor Rs whose resistance value does not change depending on temperature. They are selectively connected to an internal oscillation circuit and output pulse trains of frequencies fs and fth, respectively. 2 is a counter circuit that coefficients these pulse trains, and counts the pulse trains only during a variably controlled gate time width T9 in order to eliminate time-series characteristic fluctuations of circuit elements including the oscillator 1; Always output the correct count value N2 for the detected temperature. 3 is a subtraction circuit that subtracts a predetermined value NDo from the count value N2, and outputs an address output N/ip that is a value obtained by subtracting the predetermined value NDo in order to limit the capacity of the subsequent memory. 4 is standard RO
Temperature data Tt that is addressed by the address output NAD and stored in correlation with the read-only memory (ROM or FROM) that stores the M table.
Read out. 5 is a display circuit, which displays read temperature data Tt.
to be displayed digitally.

ここで発振器1は例えば第3図に示す如く2つのC−M
OSインバータ11.I2と、コンデンサCと基準抵抗
体Rsと、測温抵抗体たるサーミスタRthと、端子S
にLOレベルが入力されているときに前記基準抵抗体R
sを発振回路に接続し、またHIレベルが入力されてい
るときに前記サーミスタRthを発振回路に切替接続す
るスイッチSWと、前記C−MOSインバータ■1の固
定の保護抵抗Rとから成る。
Here, the oscillator 1 has two C-Ms as shown in FIG.
OS inverter 11. I2, capacitor C, reference resistor Rs, thermistor Rth as a temperature measuring resistor, and terminal S
When the LO level is input to the reference resistor R
It consists of a switch SW which connects the thermistor Rth to the oscillation circuit and switches the thermistor Rth to the oscillation circuit when the HI level is input, and a fixed protection resistor R of the C-MOS inverter 1.

また、カウンタ回路2は第4図に示す如く常に一定の周
波数foのパルス列を出力する基準発振器21と、周波
数fsのパルス列を所定数N1まで計数するカウンタ2
2と、このときの計数に要した時間T、の間だけ周波数
fOのパルス列をUPカウントし引続き同じパルス列を
計数値が0になるまでDOWNカウントするカウンタ2
3と、このDOWNカウントに要した時間(前記TQ 
に等しい)だけ周波数fthのパルス列を計数するカウ
ンタ24と、以上のような計数動作を繰返し行わせるた
めのフリップフロップ(以下FFと呼ぶ)25、および
遅延パルス発生回路(以下DP回路と呼ぶ)26と、A
NDゲート27゜28から成る。
As shown in FIG. 4, the counter circuit 2 includes a reference oscillator 21 that always outputs a pulse train of a constant frequency fo, and a counter 2 that counts the pulse train of a frequency fs up to a predetermined number N1.
2, and a counter 2 that counts up the pulse train of frequency fO only for the time T required for counting at this time, and continues to count down the same pulse train until the count value reaches 0.
3 and the time required for this DOWN count (the TQ
a counter 24 that counts a pulse train with a frequency fth (equal to ), a flip-flop (hereinafter referred to as FF) 25 for repeatedly performing the above counting operation, and a delay pulse generation circuit (hereinafter referred to as DP circuit) 26. and A
It consists of ND gates 27°28.

以−]二の構成において、温度測定がなされる原理を以
下に説明する。先づ発振器1のスイッチSWを基準抵抗
体Rs側に倒すとこのときの発振周波数fsはkを比例
定数として でJj−えられる。この発振周波数fsは温度変化に対
してほとんど変動しない。次にスイッチSWをサーミス
タRth側に倒したときの発振周波数fthは同様にし
て 1、 、 、(2) ftl)”f< 、C、−R鄭− である。またこのときのサーミスタRthの温度−抵抗
特性は一般に次式によって与えられる。
The principle of temperature measurement in the second configuration will be explained below. First, when the switch SW of the oscillator 1 is turned to the reference resistor Rs side, the oscillation frequency fs at this time can be obtained as Jj-, where k is a proportionality constant. This oscillation frequency fs hardly changes with respect to temperature changes. Next, when the switch SW is turned to the thermistor Rth side, the oscillation frequency fth is 1, , , (2) ftl)"f< , C, -Rzheng-. Also, the temperature of thermistor Rth at this time -Resistance characteristics are generally given by the following equation:

Rt、b=I又oC11晴−甚)        ・ 
・(3)ここで Ro :基準温度Toにおけるサーミスタの抵抗値 Rth :ある温度Ttにおけるサーミスタの抵抗値 B :サーミスタの温度抵抗係数(以下、B定数と呼ぶ
) である。
Rt, b = I or oC11 fine - 甚) ・
(3) Here, Ro: Resistance value of the thermistor at reference temperature To Rth: Resistance value of the thermistor at a certain temperature Tt B: Temperature resistance coefficient of the thermistor (hereinafter referred to as B constant).

以」二から発振器1にサーミスタRthを接続した場合
は、温度変化によってサーミスタRthの感温抵抗値が
変化しているとこれに対応して発振周波数fthが変化
し、この発振器1がら生ずるパルス列を仮に一定値に制
御されたゲート時間幅Tcの間だけ計数すればそのカウ
ント値Nthは次式によって変化する。
From the above, when the thermistor Rth is connected to the oscillator 1, if the temperature-sensitive resistance value of the thermistor Rth changes due to temperature change, the oscillation frequency fth will change correspondingly, and the pulse train generated by this oscillator 1 will be If counting is performed only during the gate time width Tc controlled to a constant value, the count value Nth will change according to the following equation.

N th=−ニニし〜−〜    、 、 、(4)k
 ’ CIりth ここで基準温度Toにおけるカウント値NOをNo=−
ゴC−一・・(5) 1(・ C1(0 とすればある温度Ttにおけるカウント値Nthの一般
式は N th=Noe −13(Tt −1’o)    
  ・・(6)で与えられる。
N th=-Ninishi~~ , , , (4)k
'CIrith Here, set the count value NO at the reference temperature To as No=-
(5) 1(・C1(0) The general formula for the count value Nth at a certain temperature Tt is Nth=Noe -13(Tt -1'o)
... is given by (6).

従って高い精度で制御されている温度環境において基準
温度TOにおけるカウント値Noを知れば、それだけで
ある温度(変数)値Ttにおいてカウンタが計数すべき
カウント(関数)値Nthは(6)式によって一義的に
定まる。
Therefore, in a temperature environment that is controlled with high precision, if you know the count value No at the reference temperature TO, the count (function) value Nth that the counter should count at a certain temperature (variable) value Tt can be determined by equation (6). Determined.

よって逆にある温度の測定時に、単に、カウント値Nt
hを得るだけで直ちに被測定温度Ttを得ることの可能
な温度測定装置を構成できるのであるが、このまま、つ
まり前記ゲート時間幅Tcを常に一定値に制御したので
は周囲温度の変化によってC−MOSインバータII、
I2のスレッシュホルド電圧およびコンデンサCの容量
も変化するからこれによる発振周波数fthの変動がカ
ウント値Nthの変動となって現れる。そしてもはや変
動したこの値N th ′はサーミスタRthだけの温
度特性に依存するものではなくなる。
Therefore, when measuring a certain temperature, simply count value Nt
It is possible to configure a temperature measuring device that can immediately obtain the temperature to be measured Tt just by obtaining h, but if the gate time width Tc is always controlled to a constant value, C- MOS inverter II,
Since the threshold voltage of I2 and the capacitance of capacitor C also change, the resulting fluctuations in oscillation frequency fth appear as fluctuations in count value Nth. This varied value N th ' no longer depends only on the temperature characteristics of the thermistor Rth.

このために実施例の構成は以下に述べる方法によって可
変に制御されるゲート時間幅Tq を得ている。先ず発
振器Jに基準抵抗体Rsを接続して生ずるパルス列が常
に一定のカウント値N、まで計数されるに要する特性変
動により可変のゲート時間幅T、7を求め、次にこれと
同一ゲート時間幅Tq だけ前記発振器1にサーミスタ
Rthを接続して生ずるパルス列を計数してそのカウン
ト値N2を得る。よって2つのカウント値N、、N2と
ゲート時間幅T、との間には が成り立ち、かつ2つのカウント値N I  + N2
の間には th Nニー査−9N11.(8〕 が成り立つ。ここでカウント値N2は発振器1にサーミ
スタRthを接続してゲート時間幅TGr  のあいだ
計数したものであるから および基準温度T0におけるカウント値N2゜は・ ・
 ・(]0) N1”’  k−C−R。
For this purpose, the configuration of the embodiment obtains a gate time width Tq that is variably controlled by the method described below. First, the variable gate time width T, 7 is determined by the characteristic fluctuation required for the pulse train generated by connecting the reference resistor Rs to the oscillator J to be counted up to a constant count value N, and then the same gate time width is determined. A thermistor Rth is connected to the oscillator 1 for Tq, and the pulse train generated is counted to obtain the count value N2. Therefore, the following holds true between the two count values N, , N2 and the gate time width T, and the two count values N I + N2
Between th N knee survey-9N11. (8) holds true.Here, the count value N2 is the value counted during the gate time width TGr by connecting the thermistor Rth to the oscillator 1, and the count value N2° at the reference temperature T0 is...
・(]0) N1”' k-C-R.

によって与えられる。given by.

よっである温度Ttにおいて計数されたカウント値N2
はN1を所定数としてかつ前記2度の計tb 空動作において生ずる2′″′の発振周波数の此−一一
に比例した値を持つものとなる。
Therefore, the count value N2 counted at a certain temperature Tt
has a value proportional to -11 of the oscillation frequency of 2'''' generated in the two total tb idle operations, with N1 being a predetermined number.

今、仮に温度変化に対して2つの発振周波数fs、ft
hが夫/zfs′、fth′に変化したとしても両者は
特性の変化した共通なC−MOSインバータIl′、I
2′とコンデンサC′を用いて短い期間にかつ可変に制
御されたゲート時間幅Tq の間だけ発振したものであ
るからそのカウント値N2′は となって常に正しく再現性の良いカウント値N2となる
Now, suppose that two oscillation frequencies fs and ft are applied to temperature changes.
Even if h changes to /zfs', fth', both are common C-MOS inverters Il', I with changed characteristics.
2' and capacitor C' for a short period and only during the variably controlled gate time width Tq, the count value N2' is always accurate and reproducible count value N2. Become.

この方法によって基準抵抗体RsとサーミスタRthと
を除〈実施例の全ての構成においてはその回路素子特性
にゆるやかな経時変動があっても相殺されるという効果
を発揮するものである。
By this method, the reference resistor Rs and thermistor Rth are removed. In all the configurations of the embodiments, even if there is a gradual change over time in the characteristics of the circuit elements, it is effective in canceling them out.

発明の具体的作用 次に第3図、第4図を再び参照して前記可変に制御され
るゲート時間幅T6  とこの区間にカウント(il 
N 2 を得る動作を詳細に説明する。
Detailed Operation of the Invention Next, referring again to FIGS. 3 and 4, the variably controlled gate time width T6 and the count (il
The operation to obtain N 2 will be explained in detail.

第4図において、直前の計数動作の終りにはDP回路2
6のパルス出力がカウンタ22,24の計数値をリセッ
トする。カウンタ22の計数値はOになり出力端子Qn
のレベルはLOになる。
In FIG. 4, at the end of the previous counting operation, the DP circuit 2
The pulse output of 6 resets the counts of counters 22 and 24. The count value of the counter 22 becomes O, and the output terminal Qn
The level becomes LO.

そしてこのLOレベルは、自己のカウントイネーブル端
子(以下端子Eと呼ぶ)Eを付勢してその計数端子Cに
入力があればこれを計数可能とする。またカウンタ24
の端子Eを消勢して計数不能とし、ごらにカウンタ23
をUPカウントモートに設定する。一方、第4図の発振
器1では端子SにLOレベルが入力されるから基準抵抗
体Rsが発振回路に接続されて周波数fsのパルス列を
出力する。また第4図において、DP回路26はFF2
5をリセットするから出力端干すがHIになってAND
ゲー)27,28の人力を付勢する。以上の状態では、
先ず周波数fsの入力パルス列をカウンタ22が計数し
同時に周波数foのパルス列をカウンタ23がUPカウ
ントする。
This LO level energizes its own count enable terminal (hereinafter referred to as terminal E) so that if there is an input to the count terminal C, it can be counted. Also counter 24
Terminal E of the counter 23 is deenergized to make it impossible to count.
Set to UP count mode. On the other hand, in the oscillator 1 of FIG. 4, since the LO level is input to the terminal S, the reference resistor Rs is connected to the oscillation circuit and outputs a pulse train of frequency fs. Further, in FIG. 4, the DP circuit 26 is the FF2
5 is reset, so the output end is dried, but it becomes HI and AND
Game) Energize the human power of 27 and 28. In the above condition,
First, the counter 22 counts the input pulse train of frequency fs, and at the same time, the counter 23 counts up the pulse train of frequency fo.

次にカウンタ22の計数値が所定値N、に達すると、そ
の出力端子QnがHIレベルになって自己のa−1数動
作を停止させ、カウンタ24の端子Eを伺勢し、同時に
カウンタ23をDOWNカウントモードに設定する。そ
してこのときまでの計数に要した時間はTq  である
。一方発振器lでは、端子SにHIレベルが入力される
からサーミスタRthが発振回路に切替接続されて周波
数fthのパルス列を出力する。この状態では、周波数
fthの入力パルス列をカウンタ24が計数し同時に周
波数foのパルス列をカウンタ23がDOWNカウノト
する。やがて、カウンタ23の計数値がOになるまでD
OWNカウントすると、その出力端子Qnの立ち」二が
りがFF25をセットしその出力端子互がLOレベルに
なってカウンタ23 、24の計数入力を消勢する。こ
の時のカウンタ24が計数した値N2は、いわゆる可変
に制御されたゲート時間巾Tc、  において周波数f
thの入力パルス列を計数したものである。次にDP回
路26はFF25の出力端子QがHIであることによっ
て所定の時間を経過後に正のパルスを出力して新たな計
数動作を繰返す。
Next, when the count value of the counter 22 reaches a predetermined value N, its output terminal Qn becomes HI level and stops its own a-1 number operation, and the terminal E of the counter 24 is turned on. Set to DOWN count mode. The time required for counting up to this point is Tq. On the other hand, in the oscillator l, since the HI level is input to the terminal S, the thermistor Rth is switched and connected to the oscillation circuit and outputs a pulse train of the frequency fth. In this state, the counter 24 counts the input pulse train of frequency fth, and at the same time the counter 23 counts down the pulse train of frequency fo. D until the count value of the counter 23 reaches O.
When OWN is counted, the rising edge of the output terminal Qn sets the FF 25, and the output terminals become LO level, deactivating the counting inputs of the counters 23 and 24. The value N2 counted by the counter 24 at this time is the frequency f at the so-called variably controlled gate time width Tc.
th input pulse train is counted. Next, since the output terminal Q of the FF 25 is HI, the DP circuit 26 outputs a positive pulse after a predetermined period of time and repeats a new counting operation.

カウンタ23へのUP力方向びDOWN方向に計数する
パルス列は同一周波数f0のクロックであるので、上述
動作によればカウンタ22が周波数fSのパルス列を計
数値N1までカウントする時間に、カウンタ24が周波
数fthのパルス列を計数したカウント値N2を得るこ
とになる。このカランI・値N2から後述する理由によ
ってリードオンメモリ4のメモリ容量を節約するために
減算回路3において所定価Novを差し引いてその出力
値N4pをリードオンリメモリ4のアドレスラインに送
ってその番地NApから対応する温度データT t、を
読み出しこれを表示回路5にて表示するものである。
Since the pulse trains counted in the UP force direction and the DOWN direction to the counter 23 are clocks of the same frequency f0, according to the above-described operation, the counter 24 is clocked at the frequency A count value N2 is obtained by counting the pulse train of fth. In order to save the memory capacity of the read-on memory 4 for reasons to be described later, a predetermined value Nov is subtracted from this callan I value N2 in the subtraction circuit 3, and the output value N4p is sent to the address line of the read-only memory 4. The corresponding temperature data Tt is read out from NAp and displayed on the display circuit 5.

実施例の電子体温計の少なくとも1の標準的なサンプル
の製造時には、かかるカウント値N2から所定値N、・
を差し比いた値N4pによってアドレスされるFROM
上に対応する正しい温度データを書込んだいわゆるRO
Mテーブルを作成する必要がある。そしてこの時のサン
プル電子体温計に内蔵されるサーミスタを便宜上基準サ
ーミスタと言う。
At the time of manufacturing at least one standard sample of the electronic thermometer of the embodiment, the predetermined value N, .
FROM addressed by the value N4p
The so-called RO with the corresponding correct temperature data written on top
It is necessary to create an M table. The thermistor built into the sample electronic thermometer at this time is referred to as a reference thermistor for convenience.

ここでは先ずカウント値N2に着目し、所定値NDOを
差し引いた値NADについては後述する。再び前記(3
)、(9)、(10)式を用いてカウント値N2と被測
定温度データTtとの一般式を但し基準温度TOにおけ
るカウント値N20は前記(8)式より ここでf thoは基準温度T。において発振器lに基
準サーミスタRthを接続したときの発振周波数である
Here, we will first focus on the count value N2, and the value NAD obtained by subtracting the predetermined value NDO will be described later. Again the above (3
), (9), and (10) to create a general formula for the count value N2 and the measured temperature data Tt. However, the count value N20 at the reference temperature TO is calculated from the above equation (8), where f tho is the reference temperature T. . This is the oscillation frequency when the reference thermistor Rth is connected to the oscillator l.

今、前記(13)式において基準温度T0に′おけるカ
ウント値N20に着目する。この値は基準サーミスタR
thの基準温度T0における抵抗値Rthoと基準抵抗
体の抵抗値Rsとの比Rs / Rthoに比例してい
る。またこのカウント474 N 、 oは被測定温度
レンジをTO≦Tt≦T丁とするときにカウントイ直が
N20≦N2≦N2□のレンジで対応しROMテーブル
を作成するときには基準温度T0に対応する基準アドレ
スN2゜となるものである。
Now, attention is paid to the count value N20 at the reference temperature T0' in the equation (13). This value is the reference thermistor R
It is proportional to the ratio Rs/Rtho between the resistance value Rtho at the reference temperature T0 of th and the resistance value Rs of the reference resistor. In addition, this count 474 N, o corresponds to the range of N20≦N2≦N2□ when the temperature range to be measured is TO≦Tt≦T, and when creating the ROM table, it corresponds to the reference temperature T0. This is the reference address N2°.

以rこのROMテーブルを作成する手順について説明す
る。第5図はROMテーブルの作成方法を示すブロック
図である。図において、先ず恒温槽9の温度をT o 
、 TTの2定温度点に順次設定してそれぞれの温度に
おけるカウント値N2 ” N20  + N2 =N
2−r を適当な方法で外部に接続したデータ処理装置
8に入力する。外部のデータ処理装置8は同時に他の高
精度な温度測定装置7から前記2定温度データT0.T
Tを受は取るから基準サーミスタRthのB定数は次式
によって求められる。
The procedure for creating this ROM table will be explained below. FIG. 5 is a block diagram showing a method for creating a ROM table. In the figure, first, the temperature of the constant temperature bath 9 is T o
, TT's two constant temperature points are set sequentially and the count value at each temperature is N2 '' N20 + N2 = N
2-r is input to a data processing device 8 connected to the outside by an appropriate method. The external data processing device 8 simultaneously receives the two constant temperature data T0. T
Since T is taken, the B constant of the reference thermistor Rth can be obtained from the following equation.

この工程を第6図のROMテーブル作成手順を示すフロ
ーチャートに従って更に詳しく説明する。先ず恒温槽9
の設定温度を基準温度T0とした状態において、データ
処理装置8は工程102で、温度センサ6がセンスした
温度測定装置7からの測定温度Tを入力する。
This process will be explained in more detail with reference to the flowchart of FIG. 6 showing the ROM table creation procedure. First, constant temperature bath 9
With the set temperature set as the reference temperature T0, the data processing device 8 inputs the measured temperature T sensed by the temperature sensor 6 from the temperature measuring device 7 in step 102.

工程103では該入力温度Tが基準温度T。In step 103, the input temperature T is the reference temperature T.

か否かの判別を行う。判別がNoであれば高低102に
戻り新たな温度人力Tを得る。また判別がYESであれ
ば工程104においてカウンタ回路2の出力カウント値
N2゜を入力する。次に恒温槽9の設定温度を所定温度
1丁 と1.た状態において、同様にして、工程105
と106を実行する。やがて恒温槽9内の温度が所定温
度1丁に達し、−[程106における判別がY、、、E
 Sであれば、工程107においてこのときのカウンタ
回路2の出力カウント値N2T  を入力する。工程1
08では、以−ヒの2定温度情報T0.”r丁と、各対
応する出力カウント値N2o、N2丁 とから前記(I
4)式に従って基準サーミスタRthのB定数を演算す
る。この時点で外部のデータ処理装置は今求めたB定数
と、前にカウンタ回路2がら入力されたカウント値N2
゜、N2工および前相他の、g1’ M度な温度測定装
置7がら入力された温度データT。、1丁を有する。次
に工程109では必要な測定温度レンジ(例えばT o
 −TT )の区間をT、から測温の精度ΔT(例えば
0.1°C)ずつ増 加させた温度(変数)値Ttに対
して対応するカウント(関数)値N2の値を前記(12
)式に従って算出する。
It is determined whether or not. If the determination is No, the process returns to the height 102 and a new temperature T is obtained. If the determination is YES, the output count value N2° of the counter circuit 2 is inputted in step 104. Next, set the temperature of the constant temperature bath 9 to a predetermined temperature of 1 and 1. In the same state, step 105 is performed.
and 106 are executed. Eventually, the temperature in the thermostatic chamber 9 reaches a predetermined temperature, and the determination in step 106 is Y,...E.
If S, then in step 107, the output count value N2T of the counter circuit 2 at this time is input. Process 1
In 08, the following two constant temperature information T0. The above (I
4) Calculate the B constant of the reference thermistor Rth according to the formula. At this point, the external data processing device uses the B constant just found and the count value N2 previously input from the counter circuit 2.
゜, temperature data T inputted from the temperature measurement device 7 of N2 and other g1' M degrees. , has one knife. Next, in step 109, the required measurement temperature range (for example, To
-TT ) interval T, the temperature (variable) value Tt is increased by temperature measurement accuracy ΔT (e.g. 0.1°C), and the corresponding count (function) value N2 is calculated as above (12
) Calculated according to the formula.

第5図は製造される電子体温計のリードオンリメモリに
複製される相関テーブルを作成する構成を示すものであ
って、恒温槽9内に配置されているサーミスタRth、
基準抵抗、発振器は複製されるべきオリジナルデータを
作成するという意味で、標準測温抵抗体、標準抵抗体、
標準発振器と11′fぶことができる。
FIG. 5 shows a configuration for creating a correlation table to be replicated in the read-only memory of an electronic thermometer to be manufactured, in which the thermistor Rth disposed in the thermostatic bath 9,
Standard resistance resistance, standard resistance temperature, standard resistance, in the sense that the oscillator creates the original data to be replicated.
It can be compared to a standard oscillator by 11'f.

一般には被測定温度レンジをT2〜T3としてかつT。Generally, the temperature range to be measured is T2 to T3 and T.

<T2<T3 <1丁 なる関係において」二輪データ
対をT2〜T3までとして算出しても良い。いずれにし
ても温度データTtを例えばT(,1+ Toz・・・
TI)1.lまで温度ピッチ△Tずつ増加してゆき算出
した結果をND、  、 N、え・・・NONと すれ
ば ROMテーブルのアドレスNo+には温度データT
DI が、アドレスNp2には温度データTD2が・・
・の如く格納されれば良い。このときROMテーブルの
基準アドレスN[)、が実施例の体温計の構成上大きな
値であるのでリードオンリメモリ4のメモリ容M−を節
約するために前記基準アドレスNDIから所定値NDO
≦MDIを差し引いてその値を小さくしこれを実質的な
基準アドレスNJIDとしている。
In the relationship: <T2<T3 <1, the two-wheel data pair may be calculated as T2 to T3. In any case, the temperature data Tt can be expressed as, for example, T(,1+Toz...
TI)1. If the temperature pitch is increased by △T until l and the calculated result is set as ND, , N, er...NON, the temperature data T is stored in address No. of the ROM table.
DI, temperature data TD2 is at address Np2...
It is sufficient if it is stored as follows. At this time, since the reference address N[) of the ROM table is a large value due to the configuration of the thermometer of the embodiment, in order to save the memory capacity M- of the read-only memory 4, a predetermined value NDO is set from the reference address NDI.
≦MDI is subtracted to make the value smaller, and this is used as the actual reference address NJID.

]二程110では、上述の如くして算出されたアドレス
データNDI  、 NI)□・・・NDNから所定値
NDOを差し引いた値Nゎl + NAD2.・・・N
ADNを求め、これを不揮発性メモリ4へのアドレス入
力とし、各対応する温度データTD、  、 TD2・
・・TDNをデータ入力として相関記憶させている。
] In the second step 110, the address data NDI, NI)□...NDN minus the predetermined value NDO calculated as described above, Nゎl+NAD2. ...N
ADN is determined, this is used as the address input to the nonvolatile memory 4, and each corresponding temperature data TD, , TD2.
...TDN is stored in correlation as data input.

第2図に示す一実施例の回路構成においては、l11j
記工程11Oで作成された温度テーブルを正しく読み出
しするためにカウンタ回路2の出力カウント値N2から
前記所定値No。が差し引かれる減算回路3を有する。
In the circuit configuration of the embodiment shown in FIG.
In order to correctly read the temperature table created in step 11O, the predetermined value No. is calculated from the output count value N2 of the counter circuit 2. It has a subtraction circuit 3 from which is subtracted.

このことを念頭において以下説明の便宜上再びROMテ
ーブルの基準アドレスはN20として述べる。
With this in mind, the reference address of the ROM table will be described as N20 again for convenience of explanation below.

原理的には他の複数の電子体温計について前記第7図に
示す手順に従いFROM上に温度テーブルを作成すれば
高精度なる電子体温計の単品が製造されることになる。
In principle, if temperature tables are created on the FROM according to the procedure shown in FIG. 7 for a plurality of other electronic thermometers, a single electronic thermometer with high accuracy can be manufactured.

しかしながらFROMのメモリ容量の節約、使用効率、
更には電子体温計の製造容易性を考えれば作成°された
温度テーブルが常に所定番地から始まりかつ所定の番地
で終る(同一規格内容である)ことが望ましい。この利
益を得るために実施例の他の電子体温計を製造する場合
には、以下に示す製造工程を有する。
However, the saving of FROM memory capacity, usage efficiency,
Furthermore, considering the ease of manufacturing electronic thermometers, it is desirable that the created temperature table always start from a predetermined address and end at a predetermined address (with the same standard content). When manufacturing another electronic thermometer according to the embodiment in order to obtain this advantage, the following manufacturing steps are used.

前記第7図の工程109において作成されるROMテー
ブルは基準サーミスタ使用の下←こ作成されるいわゆる
標準ROMテーブルであって、それ以後は、製造工程に
ある他の電子体温計に対して点線で示す如く単に工程1
10のみが実行される。つまり、標準ROMテーブルの
内容は電子体温計に一体に設けられた、あるいは別個に
設けら、れたところの不揮発性メモリに複製される。
The ROM table created in step 109 of FIG. 7 is a so-called standard ROM table created under the use of a reference thermistor, and after that, it is shown by the dotted line with respect to other electronic thermometers in the manufacturing process. Like simply step 1
Only 10 are executed. That is, the contents of the standard ROM table are copied to a non-volatile memory that is either integrated with the electronic thermometer or provided separately.

しかるに、他の電子体温計を構成するために現実に入手
可能なサーミスタRthはおろか基準抵抗体Rsでさえ
もその抵抗値にばらつきを有する。
However, not only the thermistor Rth that is actually available for constructing other electronic thermometers, but even the reference resistor Rs has variations in its resistance value.

前記(12)  (13)式によればこれが基準温度T
oにおけるカウント出力値N20を変化させる原因とな
り、またさらにサーミスタにあってはそのB定数にもば
らつきがあるためにこの温度勾配の特性のばらつきによ
り被測定温度レンジの最大値1丁におけるカウント値N
2エ も 変化してこれが温度テーブルの正しいアクセ
スを誤らせる原因ともなる。前述した如(ROMテーブ
ルの基準アドレスN20は基準温度T。におけるサーミ
スタ抵抗値Rthoと基準抵抗体の抵抗値Rsとの比に
依存するから、この比を一定に保てば基準温度T0を読
み出すことができる。この場合特にRs=Rthoであ
る必要は無いが、比RS / Rthoを一定に保つた
めには抵抗(I!Rsを調整して合わせ込むことができ
る。
According to equations (12) and (13) above, this is the reference temperature T
This causes a change in the count output value N20 at the maximum value of the measured temperature range due to variations in the characteristics of the temperature gradient, since there are variations in the B constant of the thermistor.
2D also changes, which can lead to incorrect access to the temperature table. As mentioned above (the reference address N20 of the ROM table is dependent on the ratio of the thermistor resistance value Rtho and the resistance value Rs of the reference resistor at the reference temperature T), if this ratio is kept constant, the reference temperature T0 can be read out. In this case, it is not necessary that Rs=Rtho, but in order to keep the ratio RS/Rtho constant, the resistance (I!Rs) can be adjusted to match.

この実施例は第7図に示す構成が利用される。This embodiment utilizes the configuration shown in FIG.

図において、恒温槽9は予め基準温度T0に設定されて
いる。データ処理装置8は温度測定装置7からの測定温
度出力T。を監視する。また同時に基準温度TOの状態
に置かれた電子温度計のカウンタ回路2からのカウント
値N2を監視する。そしてこれら監視したデータを基に
抵抗値調整装置10を制御し、発振器lに内蔵Sれた基
準抵抗体Rsの抵抗値を自動的に調整する構成となって
いる。この調整方法の具体的な手順を第8図のフローチ
ャー1・に従って説明すると、工程202においてデー
タ処理装置8は測定温度出力Tを入力する。工程203
では該入力温度Tが基準温度Toか否かの判別を行ない
、判別がNOであれば工程201に戻る。また判別がY
ESのときは工程?04に進み、カウンタ回路2からの
カウント値N2を入力する。工程205では該入力カウ
ント値N2が基準値N20か否かの判別を行う。
In the figure, the constant temperature bath 9 is set in advance to a reference temperature T0. The data processing device 8 receives the measured temperature output T from the temperature measuring device 7. to monitor. At the same time, the count value N2 from the counter circuit 2 of the electronic thermometer placed at the reference temperature TO is monitored. The resistance value adjusting device 10 is controlled based on these monitored data, and the resistance value of the reference resistor Rs built in the oscillator I is automatically adjusted. The specific steps of this adjustment method will be explained according to flowchart 1 in FIG. 8. In step 202, the data processing device 8 inputs the measured temperature output T. Step 203
Then, it is determined whether the input temperature T is the reference temperature To or not. If the determination is NO, the process returns to step 201. Also, the discrimination is Y
When it comes to ES, is it a process? 04, the count value N2 from the counter circuit 2 is input. In step 205, it is determined whether the input count value N2 is the reference value N20.

l′1別かNOであれが工程206に進み、基準抵抗R
sを調整し、入力カウント値N2が基準値N2’Oに接
近する方向に制御する。工程207は発振器1の動作が
新たな抵抗値で十分に安定するように、所定時間遅延す
る工程である。所定時間が経過すると工程202に戻っ
て」二連動作を繰り返す。また工程205において判別
がYESになると基準抵抗体Rsの調整を終了する。
If l'1 is different or NO, proceed to step 206 and set the reference resistance R.
s is adjusted so that the input count value N2 approaches the reference value N2'O. Step 207 is a step in which the operation of the oscillator 1 is delayed for a predetermined time so that the operation of the oscillator 1 is sufficiently stabilized at the new resistance value. When the predetermined time has elapsed, the process returns to step 202 and repeats the two consecutive operations. Further, if the determination becomes YES in step 205, the adjustment of the reference resistor Rs is completed.

このような抵抗比を一定とする他に、減算回路3の固定
入力NDOを制御、固定する方法がある。
In addition to keeping such a resistance ratio constant, there is a method of controlling and fixing the fixed input NDO of the subtraction circuit 3.

この場合は、第8図の工程203において判別がYES
であれば工程208に移行する。工程208ではカウン
タ回路2からの出力カウント値N2を入力する。工程2
09では減算値Noo  をN/IDO−N 2によっ
て算出する。ここでNAD(IIはり一ドオンリメモリ
4に格納された温度テーブルの基準アドレスであって、
そこには基準温度Toが書き込まれている。通常はNA
D(+< N 2であるから、l NADON2  I
の値をそのまま減算回路3の固定入力とすれば良い。ま
たNAoo > N 2のような状態が起これば減算回
路3を加算に切換える。このような切換えは予め加/減
算回路の構成を用意しておけば簡単に行える。また上述
NApOの値を設定、固定する方法には例えばレーザビ
ームスポットを制御して、減算回路3の入力レジスタ1
1を所定のパターンに焼き切る方法等がある。工程20
9は一度行うだけで繰り返す必要はない。
In this case, the determination in step 203 of FIG. 8 is YES.
If so, proceed to step 208. In step 208, the output count value N2 from the counter circuit 2 is input. Process 2
In 09, the subtraction value Noo is calculated by N/IDO-N2. Here, NAD (the reference address of the temperature table stored in the II beam only memory 4,
A reference temperature To is written there. Usually NA
D(+< N 2, so l NADON2 I
It is sufficient to use the value as it is as a fixed input to the subtraction circuit 3. Further, if a situation such as NAoo > N 2 occurs, the subtraction circuit 3 is switched to addition. Such switching can be easily performed if the configuration of the addition/subtraction circuit is prepared in advance. Further, as a method for setting and fixing the value of NApO mentioned above, for example, by controlling the laser beam spot, the input register 1 of the subtraction circuit 3
There are methods such as burning out 1 in a predetermined pattern. Step 20
Step 9 only needs to be done once and does not need to be repeated.

減算回路3の固定入力NDoを抵抗比が一定となるよう
に調整する技法は、サーミスタRthの温度−抵抗計数
(B定数)は一定の精度を有するが、基準温度における
抵抗値のばらつきによる抵抗比の誤差をも補正できるこ
とは明らかである。
The technique of adjusting the fixed input NDo of the subtraction circuit 3 so that the resistance ratio is constant is that the temperature-resistance coefficient (B constant) of the thermistor Rth has a certain accuracy, but the resistance ratio due to variations in the resistance value at the reference temperature It is clear that it is also possible to correct the error of .

またサーミスタのB定数については所望の測温精度を損
わない範囲内でこれを厳選することとする。従って以上
の点に鑑みれば、電子体温計の個々に特有なROMテー
ブルを作成するより例えif基準抵抗体の抵抗値Rsを
調整し、サーミスタのB定数を厳選することによって、
測温精度を損わずに、単一規格、内容の標準ROMテー
ブルを常に正しくアクセスするような電子体温計かむし
ろ容易に製造可能である。
Furthermore, the B constant of the thermistor is carefully selected within a range that does not impair the desired temperature measurement accuracy. Therefore, in view of the above points, rather than creating a ROM table specific to each electronic thermometer, for example, by adjusting the resistance value Rs of the IF reference resistor and carefully selecting the B constant of the thermistor,
It is rather easy to manufacture an electronic thermometer that always correctly accesses a standard ROM table with a single standard and content without compromising temperature measurement accuracy.

このようにして第3図に示された電子体温計は、所望の
測温精度を得る範囲内にB定数が厳選されたサーミスタ
Rthと、このサーミスタの基準温度T。における抵抗
値Rth、との比が一定で力1つ温度によって抵抗値が
ほとんど変化しなl/)基準抵抗体Rsと電子体温計の
特定のサンプルにつき前記所定の手順に従って作成した
標準ROMテーブルと同一規格、内容で複製されたRO
M又はFROMを有する。
In this way, the electronic thermometer shown in FIG. 3 has a thermistor Rth whose B constant is carefully selected within a range that provides the desired temperature measurement accuracy, and a reference temperature T of this thermistor. The ratio between the resistance value Rth and the resistance value Rth is constant and the resistance value hardly changes depending on the force and temperature l/) is the same as the standard ROM table created according to the predetermined procedure for the reference resistor Rs and the specific sample of the electronic thermometer. RO reproduced with standards and content
M or FROM.

発明の具体的効果 本発明は以上に説明したように構成されるため、基準温
度における測温抵抗体と基準抵抗体の抵抗比にばらつき
があっても、該ばらつきは補正され、温度データ格納部
の温度変換データを正しく利用できる。従って、基準抵
抗体もしくはAllll温体抗体準抵抗値の精度を厳選
する必薯がなく、それぞれの素子の選定に融通性が与え
られる。
Concrete Effects of the Invention Since the present invention is configured as described above, even if there is a variation in the resistance ratio between the temperature measuring resistor and the reference resistor at the reference temperature, the variation is corrected and the temperature data storage section temperature conversion data can be used correctly. Therefore, there is no need to carefully select the accuracy of the reference resistor or all warm body antibody quasi-resistance values, and flexibility is provided in selecting each element.

また、本発明により基準抵抗値の誤差は補正されるため
製品の歩留まりが向上する他、正しい温度を測定するこ
とができる。
Further, according to the present invention, errors in the reference resistance value are corrected, so the yield of products is improved, and the correct temperature can be measured.

また更に本発明によれば、抵抗比の誤差分は補正され、
基準アドレスが統一されるため、正しくカウント値(比
でもよい)温度変換テーブルを利用できる他、基準アド
レスをゼロ番地からスタートさせることにより、変換デ
ータを格納する温度データ格納部のメモリ容量を最少限
のものとすることができる。
Furthermore, according to the present invention, the error in the resistance ratio is corrected,
Since the reference address is unified, it is possible to use the correct count value (or ratio) temperature conversion table, and by starting the reference address from address zero, the memory capacity of the temperature data storage unit that stores conversion data can be minimized. It can be made into

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来のデジタル温度計の構成を示すブロック図
、 第2図は本発明に係る一実施例の電子体温計の構成を示
すブロック図、 第3図はサーミスタを用いた発振回路の回路図、 第4図は第2図のカウンタ回路を詳細に示すブロック図
、 第5図はROMテーブルの作成方法を示すプロ2〃図、 第6図はROMテーブルの作成手順を示すフローチャー
ト、 第7図は基準抵抗値を合せ込む方法を示すプロツク図、 第8図は基準抵抗値を合せ込む手順を示すフローチャー
トである。 ここで、■・・・発振器、2・・・カウンタ回路、3・
・・減算回路、4・・・リードオンリメモリ、5・・・
表示回路、6・・・温度センサ、7・・・温度測定装置
、8・・・データ処理装置、9・・・恒温槽、10・・
・抵抗値調整装置、11・・・入力レジスタである。
Figure 1 is a block diagram showing the configuration of a conventional digital thermometer, Figure 2 is a block diagram showing the configuration of an electronic thermometer according to an embodiment of the present invention, and Figure 3 is a circuit diagram of an oscillation circuit using a thermistor. , Fig. 4 is a block diagram showing the counter circuit in Fig. 2 in detail, Fig. 5 is a program diagram showing the method for creating a ROM table, Fig. 6 is a flowchart showing the procedure for creating a ROM table, and Fig. 7 8 is a block diagram showing a method for matching the reference resistance value, and FIG. 8 is a flowchart showing the procedure for matching the reference resistance value. Here, ■...oscillator, 2...counter circuit, 3...
...Subtraction circuit, 4...Read-only memory, 5...
Display circuit, 6... Temperature sensor, 7... Temperature measuring device, 8... Data processing device, 9... Constant temperature chamber, 10...
-Resistance value adjustment device, 11...input register.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)所定の温度抵抗係数を有する測温抵抗体と、該測
温抵抗体の基準温度における抵抗値に対する比がほぼ一
定の抵抗値を有し、温度によって抵抗値の変化しない基
準抵抗体とを発振器の発振周波数を決定する要素とする
発振器と、該発振器に前記測温抵抗体と基準抵抗体を交
互に接続したときの発振数の比から求まる値に設定値を
加算又は減算する加減算手段と、該加減算手段によって
求まる値をアドレスとし、該アドレスに前記値に相関す
る温度を固定した温度データ格納部とを備え、該加減算
手段によって求まる値を前記温度データ格納部の読出し
アドレスとすることを特徴とする電子温度計。
(1) A resistance temperature detector having a predetermined temperature resistance coefficient, and a reference resistor having a resistance value whose ratio to the resistance value at a reference temperature of the resistance temperature detector is almost constant, and whose resistance value does not change depending on temperature. an oscillator that determines the oscillation frequency of the oscillator, and an addition/subtraction means for adding or subtracting a set value to a value determined from the ratio of the number of oscillations when the temperature measuring resistor and the reference resistor are alternately connected to the oscillator. and a temperature data storage section in which a value determined by the addition/subtraction means is set as an address, and a temperature correlated to the value is fixed at the address, and the value determined by the addition/subtraction section is set as a read address of the temperature data storage section. An electronic thermometer featuring
(2)測温抵抗体と基準抵抗体との基準温度における抵
抗値比の設定値からのずれは加g3!、手段によって補
正されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
電子温度計。
(2) The deviation from the set value of the resistance value ratio of the resistance temperature detector and the reference resistor at the reference temperature is an additional g3! 2. The electronic thermometer according to claim 1, wherein the electronic thermometer is corrected by means.
(3)温度データ格納部は加減算手段によって求まる値
を温度に変換するテーブルを含み、該テーブルの基準ア
ドレスが基準温度における前記値によってアクセスされ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子温
度計。
(3) The temperature data storage section includes a table for converting the value determined by the addition/subtraction means into temperature, and the reference address of the table is accessed by the value at the reference temperature. electronic thermometer.
(4)抵抗値比が略1である特許請求の範囲第1項記載
の電子温度計。
(4) The electronic thermometer according to claim 1, wherein the resistance value ratio is approximately 1.
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