JPS59220603A - Surface inspecting apparatus - Google Patents

Surface inspecting apparatus

Info

Publication number
JPS59220603A
JPS59220603A JP58095247A JP9524783A JPS59220603A JP S59220603 A JPS59220603 A JP S59220603A JP 58095247 A JP58095247 A JP 58095247A JP 9524783 A JP9524783 A JP 9524783A JP S59220603 A JPS59220603 A JP S59220603A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coil
detection data
data
detectors
various detectors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58095247A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuji Ejima
江島 靖二
Koji Toshimitsu
利光 功二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58095247A priority Critical patent/JPS59220603A/en
Publication of JPS59220603A publication Critical patent/JPS59220603A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To accurately inspect the defect position of an object to be inspected, by storing detection data in the predetermined position of a memory part determined by a value based on the distance from a detector to measure the same in an operation processing part. CONSTITUTION:When a shearing system is operated and a coil E begins to advance, the inspection of the coil E is performed by various detectors D1-Dn. The detection data from the various detectors D1-Dn are inputted to a central processing apparatus A every when the coil E advances over a unit length (u) by the pulse signal from a pulse generator PG. The inputted detection data is stored in a slot through input circuits H1-Hn corresponding to the various detectors D1-Dn by the deviation of a pointer being the value obtained by dividing the distance from an input reference point S to the various detectors D1-Dn by the unit length (u) and read in a data editing part 12 on the basis of the indication of said slot. The data editing part 12 calculates the total number of defects K in the coil E which have passed on the basis of the read detection data.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、ラインを通過する被検査体の表面状態、形状
などを検査する表面検査装置の改良に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an improvement in a surface inspection apparatus for inspecting the surface condition, shape, etc. of an object to be inspected passing through a line.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

従来、ラインを通過するコイルを剪断するだめに、コイ
ルの表面状態や形状などが表面検査装置により測定され
ていた。この表面検査装置は、ライン上に各種検出器例
えばコイル表側および裏側検出器、厚み検出器などを設
け、これら検出器から得られるデータからコイルにおけ
る欠陥を検出し、かつ、このデータを記録していた。し
たがって、従来の表面検査装置は、コイルの底面状態、
形状などの測定およびその測定データの記録の機能しか
なく、各種検出器よシ得られたデータからは、その検出
器と剪断機との距離関係が把握できなかった。
Conventionally, before shearing a coil passing through a line, the surface condition and shape of the coil have been measured using a surface inspection device. This surface inspection device installs various detectors such as coil front and back side detectors, thickness detectors, etc. on the line, detects defects in the coil from the data obtained from these detectors, and records this data. Ta. Therefore, the conventional surface inspection device can check the bottom surface condition of the coil,
The function was only to measure the shape and record the measured data, and from the data obtained from the various detectors, it was not possible to grasp the distance relationship between the detector and the shearing machine.

このため、データを処理してコイル上の欠陥位置および
ラインからみた欠陥位置を正確に知ることができず、さ
らに、コイルを所定の位置で剪断するだめのライン制御
をリアルタイムに行なうことは不可能であった。
For this reason, it is not possible to process data to accurately determine the defect position on the coil and the defect position as seen from the line, and furthermore, it is impossible to control the line in real time to shear the coil at a predetermined position. Met.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上記実情に基づいてなされたもので、その目的
とするところは、各種検出器と剪断機との距離データを
得て、被検査体における欠陥等の位置を正確に検査でき
る表面検査装置を提供することにある。
The present invention has been made based on the above circumstances, and its purpose is to obtain distance data between various detectors and a shearing machine, and to accurately inspect the position of defects, etc. on an object to be inspected. Our goal is to provide the following.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、ライン上に所定の間隔を有して複数種鍍の検
出器を配置し、これらの検出器によって得たラインを通
過する被検査体の検出データを、これら検出器のうち基
準位置とした検出器と検出データを得た検出器との距離
に基づいた値によって定まる記憶部の所定の位置に記憶
し、この記憶された前記検出データに基づいて演算処理
部によシ前記被検査体の欠陥および形状を測定する表面
検査装置である。
In the present invention, a plurality of types of detectors are arranged at predetermined intervals on a line, and detection data of an object to be inspected passing through the line obtained by these detectors is transferred to a reference position among these detectors. The detected data is stored in a predetermined position of the storage unit determined by the distance between the detected detector and the detector that obtained the detected data. This is a surface inspection device that measures body defects and shapes.

実施例 以下、本発明の一実施例について第1図ないし第3図を
参照して説明する。第1図は本発明に係る表面検査装置
をコイルの剪断システムに適用した場合の全体構成図で
ある。コイルEが通過するライン上には、コイルEの表
面状態や形状などを測定する各種検出器DI、D  が
単位長U(例えば1m)の整数倍の間隔ごとに設置され
ている。ここで、第1図に示すt1〜t は基準位置と
する。これら検出器D1〜Dnは、例えばコイルEの表
側(すなわち第1図において上側)における欠陥に等を
検出するコイル表側検出器、コイル裏側検出器、氷検出
器、コイル幅検出計、コイル厚み検出計、ロールマーク
検出器、目視検査入力器等であシ、それぞれ測定の目的
や検出器D!〜Dnの機能に応じた所定の位置に配置さ
れる。剪断機SHは、得られたデータに基づいてコイル
Eを剪断するもので、各種検出器D1〜Dnと同様に検
出器Dnとの間隔が単位長Uの整数倍となる位置に設け
られている。
EXAMPLE Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3. FIG. 1 is an overall configuration diagram when the surface inspection device according to the present invention is applied to a coil shearing system. On the line through which the coil E passes, various detectors DI and D for measuring the surface condition and shape of the coil E are installed at intervals of integral multiples of the unit length U (for example, 1 m). Here, t1 to t shown in FIG. 1 are reference positions. These detectors D1 to Dn include, for example, a coil front side detector for detecting defects on the front side (i.e., the upper side in FIG. 1) of the coil E, a coil back side detector, an ice detector, a coil width detector, and a coil thickness detector. meter, roll mark detector, visual inspection input device, etc., each measuring purpose and detector D! ~Dn is placed at a predetermined position according to its function. The shearing machine SH shears the coil E based on the obtained data, and is provided at a position where the distance from the detector Dn is an integral multiple of the unit length U, similar to the various detectors D1 to Dn. .

中央処理装置Aは、各種検出器D1〜Dnからの検出デ
ータを演算処理して剪断機SHによるコイルEの剪断等
を決定する機能を有し、マン・マシンインターフェイス
Bはオペレータによる剪断システムの制御を行なわしめ
る機能を有し、まだ記録装置Cは得られた検出データを
記録する例えばタイプライタ等である。
The central processing unit A has the function of calculating the detection data from the various detectors D1 to Dn to determine the shearing of the coil E by the shearing machine SH, and the man-machine interface B allows the operator to control the shearing system. The recording device C is, for example, a typewriter, which records the detected data.

ココテ、中央処理装置A1マン・マシンインターフェイ
スBおよび記録装置Cにおける構成を第2図を参照して
説明する。なお、第2図においては説明の都合上検出器
はDl、Dnのみ示しである。入力回路■1〜Hnは、
各種検出器D1〜Dnからの検出データをコイルEの進
行に応じタヘルスを発生する/?ルスジェネレータPG
からのパルス信号(単位長進行信号)を受けてコイルE
が単位長U進むごとに取込むものである。
The configuration of the central processing unit A1, the man-machine interface B, and the recording device C will be explained with reference to FIG. In addition, in FIG. 2, only detectors Dl and Dn are shown for convenience of explanation. Input circuits ■1 to Hn are
Detection data from various detectors D1 to Dn is used to generate a signal depending on the progress of the coil E. Lux generator PG
Coil E receives a pulse signal (unit length progression signal) from
is taken every time the unit length U advances.

また、検出データの取込みは欠陥、異常検出時のみ単位
長進行信号に同期した割込み信号の発生によっても行な
われる。これら入力回路El〜Enによって取込まれた
検出データは、中央処理装置Aの記憶部Mに記憶される
。この記憶部Mには、ザイクリックなリスト構造をもつ
トラッキングリス)Lを有するもので、第3図に示す如
くの構成となっている。
Furthermore, the detection data is taken in by generating an interrupt signal synchronized with the unit length progress signal only when a defect or abnormality is detected. The detection data taken in by these input circuits El to En is stored in the storage section M of the central processing unit A. This storage section M has a tracking list (L) having a symmetrical list structure, and has a structure as shown in FIG.

このトラッキングリストLは、コイルの単位長における
各種検出器D1〜Dnからの検出データを1スロツトと
するもので、この1スロツトには、第3図に示す如く各
種検出器D1〜Dnからの検出データが格納される。つ
まシ、この記憶部Mは、ラインの最も上流の検出器Dl
を通過しつつあるコイルEのデータの格納スロット番号
をトラッキング・ポインタで指しこれを入力基準点Sと
して検出器D1から出力される検出データを順次格納し
ていく。また、記憶部Mは、ポインタの偏位を第1図に
示す各種検出器D2〜Dnと検出器り、  との距離t
2〜tnを単位長Uで除算した値(整数)とし、この値
で指定サレるスロットに各種検出器D2〜Dnからの検
出データを格納するものである。なお、第1図に示すt
shは検出器D1から剪断機S Hまでの距離であシ、
1jは基準位置Sから任意のコイルEの位置までの距離
、tmはコイルEの先端からコイルEの任意の位置まで
の距離である。
This tracking list L has one slot containing detection data from various detectors D1 to Dn for a unit length of the coil. Data is stored. This storage section M is stored in the most upstream detector Dl of the line.
The tracking pointer points to the storage slot number of the data of the coil E that is passing through, and this is used as the input reference point S to sequentially store the detection data output from the detector D1. The storage unit M also stores the deviation of the pointer at a distance t between various detectors D2 to Dn shown in FIG.
2 to tn divided by the unit length U (an integer), and the detection data from the various detectors D2 to Dn is stored in the slot designated by this value. Note that t shown in FIG.
sh is the distance from the detector D1 to the shearer SH;
1j is the distance from the reference position S to the arbitrary position of the coil E, and tm is the distance from the tip of the coil E to the arbitrary position of the coil E.

トラッキングポインタはコイルEが単位長U進行するご
とに1つ若いスロット番号を指す。なお、検出データの
削除は、ラインの最も下流における剪断機SKからコイ
ルEが単位長U通過したときに行なわれる。
The tracking pointer points to a slot number that is one smaller each time the coil E advances by a unit length U. Note that the detection data is deleted when the coil E passes the unit length U from the shearing machine SK at the most downstream position of the line.

データ表示処理部10は1スロツトにおける各種検出器
D1〜Dnの検出データに基づいて欠陥にの数やコイル
Eの形状を求めて、これを表示器1ノでlKJ’i−さ
せるものであって、予め設められたデータ表示位置Fで
トラッキングリストLからの検出データの読出しが行な
われる。また、データ編集部12は検出データを演算処
理し、通過したコイルEにおける欠陥にの総計、コイル
EO評童−ζ剪断の決定などを行なうもので、予め設め
られたデータ編集、伝送位置G(剪断機SHの位置)で
トラッキングリストLからの検出データの読出しが行な
われる。これらデータ表示処理部10およびデータ編集
部12の検出データの読出しは、読出し位置F。
The data display processing unit 10 determines the number of defects and the shape of the coil E based on the detection data of the various detectors D1 to Dn in one slot, and displays this on the display 1. , detection data is read from the tracking list L at a preset data display position F. In addition, the data editing section 12 performs arithmetic processing on the detected data and determines the total number of defects in the passed coil E, the coil EO evaluation - ζ shear, etc. Detected data is read from the tracking list L at (the position of the shearing machine SH). The detection data of the data display processing unit 10 and data editing unit 12 is read out at readout position F.

Gと入力基準点Sとの間のコイルEの長さを単位長Uで
除算しだ値(整数)をポインタの偏位として、読出すス
ロットを指定して行なわれる。
This is done by dividing the length of the coil E between G and the input reference point S by the unit length U and using the value (an integer) as the deviation of the pointer to specify the slot to be read.

伝送部13は、データ編集部12で得られた編集データ
を他の装置へ伝送させるものである。
The transmission section 13 transmits the edited data obtained by the data editing section 12 to other devices.

まだ入出力回路14はデータ編集部12で得られた剪断
の決定を剪断機SHへ送シ、この剪断が行なわれたこと
を示す信号をデータ編集部12へ入力させるものである
The input/output circuit 14 also sends the shear determination obtained by the data editing section 12 to the shearing machine SH, and inputs a signal to the data editing section 12 indicating that this shearing has been performed.

次に上記の如く構成された装置の動作について説明する
。剪断システムが動作し、コイルEが進行し始めると、
各種検出器D1〜DnによってコイルEの検査が行なわ
れる。そこで、各種検出器D1〜Dnからの検出データ
は、ノやルスジェネレータPGからのパルス信号によっ
てコイルEが単位長U進むごとに中央処理装置Aに入力
する。そうして、入力された各検出データは各種検出器
DI%Dnに対応する入力回路H1〜Hnを介して入力
基準点Sから各種検出器DI −Dnを単位長Uで除算
した値をポインタの偏差として、この偏差により指示さ
れるスロットに格納  。
Next, the operation of the apparatus configured as described above will be explained. Once the shear system is activated and coil E begins to advance,
The coil E is inspected by various detectors D1 to Dn. Therefore, detection data from the various detectors D1 to Dn is input to the central processing unit A every time the coil E advances by a unit length U by a pulse signal from the pulse generator PG. Then, each input detection data is transmitted from the input reference point S through the input circuits H1 to Hn corresponding to the various detectors DI%Dn to the pointer. Store it as a deviation in the slot directed by this deviation.

される。これによシトシラギンブリストLにおける検出
データは、コイルEの進行に伴なって検出データが格納
されることによシサイクリックに変わっていく。そこで
、データ表示位置Fと入力基準点SとのコイルEの長さ
を単位長Uで除算した値をポインタの偏差としてスロッ
トを指定し、検出データを読込みこの検出データに基づ
いて表示処理部10によシコイルEにおける欠陥の数な
どが求められ、表示器11で表示される。さらに、この
検出データが、データ編集、伝送位置Gと入力基準点S
とのコイルEの長さを単位長Uで除算した値をポインタ
の偏差としてそのスロットが指定されてデータ編集部1
2に読込まれる。このデータ編集部12は読込んだ検出
データに基づいて通過したコイルEにおける欠陥にの総
数などを求める。そして、この求められた編集データは
タイシライタ等によって印字、表示される。
be done. As a result, the detected data in the Cytosilagimbrist L changes cycyclically as the detected data is stored as the coil E advances. Therefore, the value obtained by dividing the length of the coil E between the data display position F and the input reference point S by the unit length U is specified as the pointer deviation, and the detected data is read and the display processing unit 10 The number of defects in the coil E is determined and displayed on the display 11. Furthermore, this detection data is used for data editing, transmission position G and input reference point S.
The value obtained by dividing the length of the coil E by the unit length U is specified as the deviation of the pointer, and the slot is specified and the data editing section 1
2. The data editing section 12 calculates the total number of defects in the coil E that has passed, based on the read detection data. The obtained editing data is then printed and displayed by a printer or the like.

しかして、この編集データおよび表示器11の表示デー
タに基づいてコイルEの評価、剪断の決定等がなされ、
剪断機SHによシコイルEの剪断が行なわれる。
Then, based on this edited data and the display data on the display 11, evaluation of the coil E, determination of shearing, etc. are performed.
Shearing of the coil E is performed by the shearing machine SH.

このように本装置においては、単位長Uおよびその整数
倍の間隔をおいて配置された各種検出器Dl−Dnから
の検出データを各踵検出器Dl−Dnまでの距離tl−
tnを単位長Uで除算した値をポインタの偏位としてト
ラッキングリストLのスロットに格納させるので、各種
検出器D2〜Dnの検出データは検出器り、からの距離
t1〜tnに対応したものとカシコイルEにおける欠陥
Kがラインからみてどの位置にあるかが正確に知ること
ができ為。
In this way, in this device, detection data from various detectors Dl-Dn arranged at intervals of the unit length U and an integral multiple thereof are transmitted to each heel detector Dl-Dn at a distance tl-Dn.
Since the value obtained by dividing tn by the unit length U is stored in the slot of the tracking list L as the pointer deviation, the detection data of the various detectors D2 to Dn correspond to the distances t1 to tn from the detectors. This is because it is possible to know exactly where the defect K in Kasi Coil E is located when viewed from the line.

さらに、多数の検出器からの検出データの処理が容易と
なり、検出器の追加も容易に行なえる。また、統一した
トラッキングリストに検出データを格納するので、複雑
な処理機能が可能となシ、その処理機能の追加も容易に
可能となる。そして、剪断システムにおける剪断等のり
アルタイムでの制御が可能となる。
Furthermore, detection data from a large number of detectors can be easily processed, and detectors can be easily added. Furthermore, since the detected data is stored in a unified tracking list, complex processing functions can be performed, and additional processing functions can be easily added. Then, real-time control of shearing, etc. in the shearing system becomes possible.

なお、本発明は上記一実施例に限定されるものではない
。たとえば、コイルEに対する詳細な検査を必要とする
検出器に対しては、単位長     ・を整数等分した
トラッキングリストを新たに設け、このトラッキングリ
ストに検出器からの検出データが単位長ぶん蓄積された
時点で、その検出データを読出し、処理を行なってその
結果をトラッキングリストLに格納してもよい。これに
よシ、コイルEの詳しい検査を行なうことができる。
Note that the present invention is not limited to the above embodiment. For example, for a detector that requires detailed inspection of coil E, a new tracking list is created by dividing the unit length . At that point, the detected data may be read out, processed, and the results stored in the tracking list L. This allows detailed inspection of the coil E.

また、本装置は、コイルEの検査だけではなく、例えば
板ガラスラインにおいて板ガラスの表面および内部の検
査や鉄鋼ラインにおいて鉄鋼の表面およびその形状の検
査等に応用してもよい。
Furthermore, this device may be applied not only to the inspection of the coil E, but also to the inspection of the surface and interior of a plate glass in a plate glass line, and the inspection of the surface and shape of steel in a steel line, for example.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、各種検出器を単位長およびその整数倍
の間隔で配置し、これら検出器からの検出データを被検
査体が単位長およびその整数倍進むごとに取込廿1、こ
の検出データを各種検出器の配置によって決まる偏位に
基づいてトラッキングリストに格納させるので、各種検
出器と剪断機の距離関係をもった検出データが得られ、
被検査体における欠陥等の位置を正確に検査できる表面
検査装置を提供することができる。
According to the present invention, various detectors are arranged at intervals of a unit length and an integral multiple thereof, and detection data from these detectors is captured every time the object to be inspected advances by a unit length and an integral multiple thereof. Since the data is stored in the tracking list based on the deviation determined by the arrangement of the various detectors, detection data with distance relationships between the various detectors and the shearing machine can be obtained.
It is possible to provide a surface inspection device that can accurately inspect the position of defects, etc. on an object to be inspected.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る一実施例の表面検査装置を剪断シ
ステムに適用した場合の全体構成図、第2図は本装置の
構成側図、第3図は本装置における記憶部の構成図であ
る。 ’J O・・・データ表示処理部、1ノ・・・表示器、
12・・・データ編集部、13・・・伝送部、14・・
・入出力回路、D1〜Dn・・・各種検出器、H1〜H
n、、。 入力回路、PG・・・パルスジェネレータ、M・・・記
憶部、L・・・トラッキングリスト、A・・・中央処理
装置s B・・・マン・マシン・インターフェイス、C
・・・記録装置、SH・・・剪断機、E・・・コイル。
FIG. 1 is an overall configuration diagram when a surface inspection device according to an embodiment of the present invention is applied to a shearing system, FIG. 2 is a side view of the configuration of this device, and FIG. 3 is a configuration diagram of a storage section in this device. It is. 'J O...Data display processing unit, 1...Display device,
12...Data editing section, 13...Transmission section, 14...
・Input/output circuit, D1-Dn...Various detectors, H1-H
n... Input circuit, PG...Pulse generator, M...Storage unit, L...Tracking list, A...Central processing unit B...Man-machine interface, C
...recording device, SH...shearing machine, E...coil.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] ラインを通過する被検査体上に予め定められた間隔ごと
に配置され、前記被検査体の欠陥および形状を検出する
複数種類の検出器と、これら検出器からの検出データを
前記被検査体が所定の長さ進むごとに取込む入力部と、
この入力部により取込んだ検出データを、前記複数の検
出器のうち基準位置とした検出器と前記検出デニタを得
た検出器との距離に基づいた値によって定まる位置に記
憶する記憶部と、この記憶部に記憶された前記検出デー
タに基づいて前記被検査体の欠陥および形状を得る演算
処理部とを具備したことを特徴とする表面検査装置。
A plurality of types of detectors are arranged at predetermined intervals on the object to be inspected passing through the line to detect defects and shapes of the object to be inspected, and the detection data from these detectors are transmitted to the object to be inspected. an input section that captures data every time it advances a predetermined length;
a storage unit that stores the detection data taken in by the input unit in a position determined by a value based on a distance between a detector set as a reference position among the plurality of detectors and a detector that obtained the detection data; A surface inspection apparatus comprising: an arithmetic processing section that obtains defects and shapes of the object to be inspected based on the detection data stored in the storage section.
JP58095247A 1983-05-30 1983-05-30 Surface inspecting apparatus Pending JPS59220603A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58095247A JPS59220603A (en) 1983-05-30 1983-05-30 Surface inspecting apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58095247A JPS59220603A (en) 1983-05-30 1983-05-30 Surface inspecting apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59220603A true JPS59220603A (en) 1984-12-12

Family

ID=14132421

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58095247A Pending JPS59220603A (en) 1983-05-30 1983-05-30 Surface inspecting apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59220603A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61213621A (en) * 1985-03-19 1986-09-22 Nippon Steel Corp Improving method for thickness measuring accuracy of corroded steel material
JPS61218936A (en) * 1985-03-25 1986-09-29 Takigawa Kogyo Kk Flaw detecting equipment for round bar

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61213621A (en) * 1985-03-19 1986-09-22 Nippon Steel Corp Improving method for thickness measuring accuracy of corroded steel material
JPH0371049B2 (en) * 1985-03-19 1991-11-11 Nippon Steel Corp
JPS61218936A (en) * 1985-03-25 1986-09-29 Takigawa Kogyo Kk Flaw detecting equipment for round bar

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4046536A (en) Monitoring and control of optical fiber diameters
US4845690A (en) Multiple screen ballistic chronograph
JPS59220603A (en) Surface inspecting apparatus
US20130274910A1 (en) Method for controlling a production facility by high-resolution location tracking of workpieces
JP2691243B2 (en) Process abnormality monitoring method and apparatus thereof
JPH05151282A (en) Clinical inspection system
JP2815978B2 (en) Radiation measurement device
JPH05157550A (en) Method and apparatus for measuring shape of steel plate
JPS60142837A (en) Working mistake generation forecasting method and apparatus
JP3035330B2 (en) Inspection method and inspection device for instrumental difference of flow meter
JPH09178470A (en) Surface roughness test evaluation method and device thereof
JP2577456B2 (en) Thickness measuring device
JPS59187274A (en) Master data setter for conduction tester in insulation of circuit board
JPS6385426A (en) Arithmetic unit for cutting quality testing device
JPH0989969A (en) Short-circuit part detecting system, short-circuit part detecting device, and method of detecting short-circuit part
JPS63313670A (en) Welding monitor device
JPS60161560A (en) Data processing device in automatic analyzing apparatus
SU1315818A1 (en) Method of calibration checking of liquid and gas meters
CN107228701B (en) weight checking method and device for dynamic weight checking scale
JPH049443B2 (en)
JPH06259245A (en) Instrument and method for measuring performance of program
JPH1029140A (en) Method of observing each machining process in production line and system therefor
JP2780378B2 (en) Adhesive application amount control device
JPH0495890A (en) Radiation monitor
JPH06144695A (en) Automatic sheet defect inspecting device