JPS59214757A - 探傷装置 - Google Patents

探傷装置

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JPS59214757A
JPS59214757A JP8946783A JP8946783A JPS59214757A JP S59214757 A JPS59214757 A JP S59214757A JP 8946783 A JP8946783 A JP 8946783A JP 8946783 A JP8946783 A JP 8946783A JP S59214757 A JPS59214757 A JP S59214757A
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JP
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JP8946783A
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Tetsuya Hirota
哲也 廣田
Tatsuo Hiroshima
龍夫 廣島
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
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    • G01N27/9046Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は金属材の表面疵探傷装置に関する。
金属材の表面疵探傷方法としては、種々の非破壊検査法
が実用化されており、存在が予想される欠陥に応じて一
棹あるいは複数種類の方法が適用されている。1+11
えば予想される欠陥の方向がある程度定まっている割れ
状欠陥の検出には主として漏洩磁束を検出する磁気探傷
法が適用され、その方向が無方向のピット状欠陥の検出
には渦流探傷法が適用されている。)前者の磁気探傷法
は、一般にq)鉄鋼拐料等の強磁性体の表面欠陥の検出
に優れている2、Q)割れが開口していない地きずのよ
うな欠陥でも検出できる。■欠陥の位置、表面上の長さ
の検出が可能である。等の長所を有している反面、内部
欠陥の検出が国益であるという短所も併せもっている。
また後者の渦流探傷法は、■探傷結果が直接的に電気的
出力として得られる。■非接触であるので試験速度が速
い。0表面欠陥の検出に適している。■欠陥、材質変化
、寸法変化等に対しても追従でき適用範囲が広い。■信
号と欠陥体積とが略比例関係になる。等の長所を有して
いるが、反面■材料形状が単純なものでないと適用しに
くい。■表面下の深い位置にある欠陥の検出ができない
。■試験対象以外の材料的因子の影響が雌性の因子とな
る場合が多い、N等の’A>rJIrも併せもっている
まだ、上記磁気探傷法では、欠陥と直角な方向に磁化し
た場合には有効であるが、欠陥と同方向に磁化した場合
には、欠陥部には磁極が生じないので、このような場合
には欠陥の探傷が不可能であった。しかし現在では下記
に示すように、□i数の磁場を利用する方法で欠陥の方
向に1y1係なく探1易出来るようになってきた。
例えば、第1図に示すように、棒鋼1のlll+方向欠
陥をa、周方向の欠陥をbとすれば、%lIl+jAを
用いて棒till1に輔辿電法による円周方向(融化ケ
、又電源Bを用いて棒鋼1に軸方向磁化をコイル法で行
わせしめ、これ冬夫々の磁化で欠陥a+l)を探傷する
方法、まだ第2図に示すように、管材1′が貫通する磁
化コイルE、Elと、管制御′を直住方向より磁化する
一対の磁化マグネツl−Fを夫々タンデム配置せしめ、
これら磁化コイルE、El及び磁化マグネツ)Fで軸方
向欠陥aと周方向欠陥すを連続的に探傷する方法等であ
る。
しかしながら金属材の表面に発生する疵は割れ状の欠陥
以外に穴状のピット疵と呼ばれるものもあり、通常磁気
探1昂ではピット疵を検出しか(tい事は良く知られて
いる。即ち、現在実用化されている探傷方法では、−1
重1’t4の探1易方法で全ての)l−1p類の疵を検
出することは至!I邪であった。
今、丸棒&j’lを例にとってみると、割れ状の欠陥は
磁気探傷法の一つである磁粉探傷法での検出能が良好で
あり、またビット状の疵は渦流採湯法での検出能が良好
であるだめ1.ifi!常は検査目的に応じて最良の探
傷方法を抹択し、使用しているのが現状である。このだ
め、疵の性状によっては、どちらか−棟ね1のみの探傷
では検出能が低下するため数a!項の探傷を併用しなけ
ればならないという問題点があった。
本願出願者らは、上記問題点を解消すべく特願昭57−
102600号にて、−回の探傷で欠陥の性状に影響さ
れることがなく、かつ良好なる検出能を有する金属材料
の表面疵探傷方法及びその装置を折子した。
これは、被検査材の表面に、これに沿う方向と被検査材
表[Yτiに対する垂直方向との二方向から同時に磁場
を与えることにより、被検査材表面付近に経時的にその
方向が変化する合成磁場を形成せしめ、表ad疵からの
漏洩磁場と、表面にh6起される渦電流の表面疵による
乱れに起因する磁場とによる合成磁場を測定し、この測
定値によって欠陥の情報をイ」る金属材料の表面疵探傷
方法及び装置であり、第3図に示すように、被検査材1
1表曲に沿う磁〃、“1を発生させる第1の磁場発生器
12と、被検を材11表面に直交する方向の(1任揚を
発生させる第2の磁場発生器13とから成る父流イlB
、揚発生装置14を用いて被検査材11表面に?1)う
第Jのf’B、J局(イ)と、該磁場に直交するような
1ノ(ξ(・;3査−1’4’l1表面に垂直な第2の
磁」A%(ロ)とを同1奇にネjσ恢有材1」に与えて
被検査材11表面付近に合成磁場を形成せしめるが、こ
の場合、例えば第4図に示すように周波数を01時間を
tとして第1の砒」易(イ)をsinωtで、また第2
の磁場(ロ)をCosωtで変化させて夫々与え、経時
的にその方向が変化する合成磁場、つまり回転磁場を形
成する。そうすると、表面疵が存在する場合には、合成
磁場の経時変化に伴い、被探傷1n1にイ芋在する表面
疵からの漏洩磁場と、被探傷面に誘起される渦電流の表
面疵による乱れに起因する磁場との合成磁場が現われ、
この合成磁場の垂直方向成分を被検査月11の被探傷面
に近接配置した磁;1)A検出器により被検査月11の
表面疵を探傷するものである。、合成磁場(は経時的に
その方向を変じるので、欠陥の向き、形状の如何に拘ら
ず、漏洩磁場と渦流乱れによる磁場の乱れが現れ、所要
の1g号処理を行うことにより各独欠陥が捉えられる。
。 このような装置においては、被検査材11の被探傷面に
直交する方向の磁束を発生させる第2の磁場発生器13
と、合成磁場の垂直方向成分を検出する磁場検出器とを
、1磁場を形成せしめられた被検査材11被探イ’tう
面と対向する位置に設ける必要がある。
第5図はこの探傷装置の一例を示し、被検査材11表面
付近に発生ずる合成磁場の検出を行わせる磁場検出器1
5を、第2のl1jt場発生?、rj13の被検査材1
1表面と対向する位置に取付&−)だものであるが、第
2の磁場発生器13(dコイルを巻回してVJjM、’
が増加しているために、被検査材11の隈探1脇1■の
走査においては磁、(々)検出器15の;、”a(ie
l<1能が悪化し、破倹査4号11表1iiiの全域に
亘る市1止かつ精密な探傷が行えないという不都合があ
つブヒ。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされプこものであり、被
検査材の被探傷面に垂直な方向に(−果を発生させる嵌
嚇発生器を1.ri検査イオの幅方向に延設せしめて中
空構造とし、該中る2部に、垂直方向1、ε(束を検出
する(1晟」易検出器を11う□11方向への往復、1
.4動「り能に設けることにより、高速かつ精密な探イ
1)を可能とした探イυ装Uイの提供を目的とする。
以下本発明を、その実が6例を示す図面に基いで詳述す
る。第6図は本発明装置の栓式図である。
本発明装置の原理は第3図及び第4図に示した特願昭5
7102600号と同様であり、OJr而四面形状の被
検査材11′の被探傷面に沿う方向の1)磁束を発生さ
せる第1の磁場発生器12と、被探傷+1riに岳直方
向の磁場を発生させる第2の磁場発生器13とからなる
交流歿1易発住装置14を用いて、被検査材11′の被
J’;i:I’jy而に沿う第1の磁場(イ)と、該磁
場(イ)に直焚するような被探傷面に垂直な第2の磁場
(ロ)どを同時に被1(す有材11′に与えて被探傷面
伺近に、経時的にその方向が変化する合成磁場を形成せ
しめ、このi’llテ変化に伴い、被検査材11被探傷
而上に存在する表面疵からの廂洩凪場と、被探傷面上に
誘起をれる渦電流の表tffii糺による乱れ例起因す
る磁場との合成磁場が現れるので、これを第2の磁場発
生器13内を被検査材11′の幅方向に移動可能となっ
たf1序場検出器15により検出し、この検出値を探傷
対象とする欠陥の捗91に対応させて信号処理すること
により被検査材の被探傷面における表面疵を捉えるもの
である。
第7図は本発明装置[イの一実施例を示す止面図、第8
図はその部分拡大図である。長手方向に搬送される断面
四角形状の被検査材11′の搬送域の両側方には被検査
材11′の被探傷面(上面)に沿う方向の磁束を発生さ
せる第1の磁場発生器12の(1,゛、’<トY11.
2a、+12aが配されている。第1の愚1ハ妃伺」汁
12は、この(1多小瘍12a、12aと、4女((片
有材11′の下方にその幅方向に延設された継鉄12b
とからなり、各fi14&12a、12at、J、(l
jj画支持板21、、21夫々により継鉄l2T)J−
をIi’7動可能に支持されている。各支持板21,2
]の下ゾ;Pには移動台22.22が夫々J17付けら
れており、各移動台22.22下面にナツト部材2:3
、23を夫々取付け、各ナツト部月23.23を、被検
査材11′の幅方向に渡されて両端部に逆ネジを有する
ネジ+t)b24の両端部のネジに夫々螺合させており
、ネジ1f)t+24の正逆回転により各1iG、l’
4Lji2a+]2aは継鉄12b上を被検査材11′
の1胃方向に摺動して被検査材11′に接近離隔する。
被検査材11′の被探傷面の上方にケ」1、破」”a’
?f5・k1ft1に垂直方向の磁束を発生さぜる5(
32の(li、l楊発生器13が設けられている。この
圃場発生器13は被検査材11′の幅方向に延びる中全
の長円形状をしたコイルボビン13aにコイル13bを
巻き付けた空心コイルを用いており、その両端部上面を
コの字状をした取伺部材31.31の下面に取付けてい
て、取付部材31、31上面を追従機構支持板32の下
面に取付けている。追従機(74支持板32の上方には
シリンダ支持板33が設けられており、その上面にシリ
ンダ34が取イ」けられている。シリンダ34は、その
ピストンロッド34aを下方としており、d亥ピストン
ロッド34a(rJニジリンダ支持板33をJqJ、p
ij、て、ピストンロッド34a先端に、前述した追従
機構支持板32の上面中央をユニバーサルジヨイント3
5を介して取(1けており、ピストンロッド34aに対
して追従機構支持板32が傾動自在となっている。追従
(幾イアす支持板32の被検査材搬送方向上下θ1わ側
部下面には、被検歪材11′上面を転接してその曲り等
に追R−するローラ(図示せず)が被検を材11′の幅
方向に渡されている。
追従機構支持板32の被検査材幅方向の一方の側部下面
にはL字状の取付具37にてモータ36が取付けられて
おり、その出力[1ftb36aを内側方に延設してい
る。該出力l111I36a先端にはカップリング38
にて線杆39が同軸に取付けられており、線杆39の両
端部を前述の数句部材31.31にベアリングにて回転
自在に支持していて、モータ36の正逆回転により線杆
39が正逆回転する。
線杆39は、検出器ホルダ用のケース41の上1+!1
1部を挿通し、該上側部に螺着しており、線杆39の正
逆転によりケース41が線杆39」二を被検イ[材11
′の幅方向に移動するようになっている。
第9図は第8図のIX−IX線におけるHJi而図面あ
る。ケース41の下側部は、前述の第2の11蛙榛)発
生器13のコイルボビン13aの中空部内にfX″LI
%、I。
しており、その上、下流側面にはコイルボビン13aの
上面を転接するガイドローラ42.42が11v付けら
れていて、ケース41の移動に(−1−ってガイドロー
ラ42.42はコイルボビン13a上を転接すると共に
、線杆39の回転に伴うケース41のねじれを抑制して
いる。ケース41の下端面は開口しておシ該下端開口よ
シ、その下側端部に磁場検出器15を取付けた検出器ホ
ルダ44の上端部がケース41内に摺動自在に挿入され
ている。そしてケース41内には検出器ホルダ44を下
方に付勢する押ばね43が介装されている。(磁場検出
器15はその検出面を下方(被検査材11側)に向けて
検出器ホルダ44の下端部に内嵌されておシ、検出器ホ
ルダ44下端部はシュー45にて覆われていて、検出器
15の探wJ面は被検査材11′の被探傷面にシュー4
5を介して接触するようになっている。
螺杆39のモータ3G取付UIU’;/周部とは反対イ
1ノ1jψiAi部は、他方の取付部材31にベアリン
グにて回転自在に支持されており、カップリング38を
介してポテンショメータ又は回転エンコーダを用いた位
II公1灸出)蓉46にフ吏結さゎ、でいる。位置検出
器46は、L字型の取(=J具37にて追従機構支持板
32に取付けられており、線杆39の正逆転回転により
移動する磁場検出器15の被検査材11′の幅方向位置
を検出する。
なお、47は磁場検出器15と信号処理装置等との信号
送受のためのリード線である。
第10図は本発明装置における信号処理装置のイア&成
の一例を示すブロック図である。第1の鼓そ用発生器1
2には、第1の発振器5]の出力がパワーアンプ53を
介して与えられており、また第2の磁場発生器13には
、第2の発振器52の出力がパワーアンプ54を介して
与えられている。第1の磁場発生器12は第1の発振器
51のJ号sintojにて被検査材11′の被検高面
に沿った1葭場を形成し、同様に第2の磁場発生器13
は第2の発振器52の出力Es1n((11t+9’)
にて被(灸査月11′の被4朶傷面に垂直な磁場を形成
する。この」μ合、各1j頓」〃。
の位相をψだけずらせているので、画bi1」4Aの合
成線j局の方向は、360屓に亘って経時的に回転変化
することになる。
ここで、被検査材11′の被検νう而に欠陥がイI在す
ると、この欠陥による漏洩磁場と、被探傷面に斡起され
る渦電流の乱れに起因する+a場との合成磁場が生じる
。磁場検出器15はこの合成磁場の垂直方向成分を検出
し、この検出値を増幅器55にて増幅した後に、第1の
同期検波器56及び第2の同期検波器57に出力してい
る。各同期検波器56.57には前述した第1.第2の
発振f!y51152の出力が夫々入力されており、各
同期検波器56.57にて11銭揚重火出205の検出
信号を、夫々用1.第2の発1Jr:i<?51、52
’7)発振出方に同期して検波し、各駒(砿11・A場
に対応した信号に弁別し、夫々の信号を111シ位1?
、j’I’lJfour回路58に出力する。
疵位置判断回路58にはli;jJ拐検出器15の被検
査材11′幅方向位fEは検出する位置検出層46の出
力が入力されており、この検出結果に基き、被検査材1
1′の被探傷面における病位置を特定し、マーキング信
号として出方する。
叙上のダII<’4i’f成された本発明装f6:eの
動作t」、次のとおりである。寸ず(;、没送される被
検査材11′の11・吊方向寸法に対応させて第1の4
a:’踊発生;i口2の熱極12a、12a間距+17
1#をネジ軸24の回転操作により変更する。一方ンリ
ンダ34のピストンロッド34aを退入させて第2のf
健場発生器13、磁場検出器15等を被検査材11′の
搬送域上方の退避位置とし、i/ヒ谷始発振器5152
を動作させて第1.第2の磁場発生器12.l’3を夫
々励罎しておく。
jν「かる状態にて被検査材11.’′?f:i殿送し
、霞IQτ在伺11′が本発明製置の探傷域に達したこ
とを、f’yUえは光71f’fii”c−用いグζ検
出器にて1(・ユ出すると、シリンダ34のピストンロ
ッド34aを)亀山させて、1i3iJ遍検出器15を
収納したtθミ出出水ホルダ44下線部におけるシュー
45を被検査材11′の彼七’#H面に当接させると共
に、モータ36を1へ3動して川;杆39を回転させる
。これにより検出器ホルダ“44を取付けだり°−ス4
1は、中空のコイルボビン13aの中空部を、岐1rミ
査材11′の幅方向に移動し、(6ミ出漸ボルダ44の
下端に取付けられ/こ7ユー45は被検奔イA’11’
の被探傷面上をttjil接移動して、(猷場検出滞1
5により被検査イ1’11’の被検1・75(f+i’
l’1厖に発生する合成磁場を検出して被検奔イ1の表
[111疵の探謂を行う。
磁場検出器15等を取付けたケース41が所定に移l(
のすると、モータ36は逆転してケース41を、移動し
て来た方向とは反対方向に移動させるようになっており
、従ってケース41は所定幅にて往榎移jQb[、、娘
送被検査月11′の被探傷面上をジグザグに移動する。
この移動幅は被検査材11’の幅寸法に対応させて設定
される。
ケース41の両側面にはガイドローラ42,4.2が夫
々数句げられ−C赴り、コイルボビン13a上面を転接
するので、ケース41の移動は円1/1才になされ、ま
た蝋杆39の回転によるケース41の共回りをもこのガ
イドローラ42.42にて抑制している。
さらに磁場発生器13の上、下流側方には、図示しない
ローラが追従機11゛q支持板32に数句けられていて
、岐倹査;It’ll’の被探傷面上を転接するように
なっており、また追従イタq構支持板32はユニバーザ
ルジヨイント35にて傾動自在になっているので、検出
器ホルダ44は被検査材11′の曲り等に追従でき、さ
らに検出器ボルダ44も押ばね43にて下方に旬勢され
ているので被探傷l′7i1における凹凸等に対して検
出器ホルダ44は追従し、破損する虞れがない。
なお、上述の実施例においては被検査材の上面全探傷す
る構成としたが、これに限らず被検4を月の下面、左、
右各イ(1す而を夫々探1ユ6する構成とし゛〔もよく
、さらには、全ての而を]朶俣さぜるべく47’J成し
てもよく、この場合にd被検査材の一凹の11・jij
送によりイ1シ検査(4の全ての面のJkiミI;6が
ii]能となる1、本発IJJ装置においては、第1.
第2の11.”ン鳴発生r;iv12+13の周波数の
位相をずらせているので合成磁場の方向は360度に亘
って回転する/ζめ欠陥の抽j、ii、角度に関係なく
漏む、磁男の生成する磁J:+iの乱れが得られるので
、欠陥のfttt’、Ei’jに13(1係なく探傷が
行える。
−まグζ、(厳、1.易険出器15はi↓2の1蒔楊発
生器13内を往復移動し、被検i¥:拐11′の搬送と
相俟って被J采1易而をジグザグに移動することに〕【
す、()Lン11.・□キ(R−面を高速にて走査でき
、蜂だ(粱傷’717匹の向上が図れることにより徐鶏
領域が広がり、さらに(は高速移動により信号検出I盛
度が高まる。
以上詳述したように本発明は、長手方向に搬送される被
検査材の幅方向両側に設けられ、被検を材の被探傷面に
沿う方向の磁場を発生させる第1の磁場発生器と、被探
傷面に対向して被検査材の幅方向に延設され、被探傷面
に対して垂直方向の磁場を発生させる中空の第2の磁場
発生器と、該磁場発生器の中空813に設けられ、前記
各磁場の、被探傷1111における表面疵からのi層成
磁場と、渦電流の表面疵による乱れに起因する磁場との
合成磁場を検出し、被検査材の幅方向への往復移動によ
り被探傷面を走をする磁場検出器とを備えたものである
ので、(1住場検出器による被検1易1mの走査は円滑
になされて、優、速かつ精密な探傷が可能となり、また
−回のIF潟により欠陥の性状に影91!!されること
がなく;+、9<i効率の探f↓ず、が可11ヒとなる
等本発明は優れた効果を奏する。
Z図面のrrtl単/c1況明 第1図及び第2図は(改粉探傷法の説明図、第3図及び
第4図は本発明装置の原理説明図、8P、5図は従来装
置の模式図、第6図は本発明装fべの模式図、第7図は
本発明装置の実JA例を示す正面図、第8図はその要部
拡大図、第9図はそのlX−1による断面図、第10図
は本発明装置における処理装置のブロック図である。
11.11’・・被検有材12・・第1の(:?、C場
発生a13・・第2の磁」易発生器15・・・11.(
揚検出H:÷24・・・送りネジ34・・・シリンダ3
6・・・モータ39・・・螺杵41・・・ケース42・
・・ガイドローラ44・・・探傷器ホルダ46・・・位
置検出器51.52・発振器56.57・・・同1tJ
i検波器58・・・紙位置判断1川路 特許出願人住友金属工業株式会社 代理人弁理士mJ!l!f琴失 策1図 家2図 ’$3[n 帆7図 v5gダ 第9図 第10図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、長手方向に搬送される被検査材の幅方向側$111
    に設けられ、被検査材の被探傷面に沿う方向に磁場を発
    生させる第1の磁場発生器と、被探傷面に対向して被検
    査材の幅方向に延設され、被探傷面に対して垂直方向に
    磁場を発生させる中墾の第2の磁場発生器と、第2の磁
    場発生器の中空部に設けられ、前記各磁場の、被探傷面
    における表面疵からの漏洩磁場と、渦電流の表面疵によ
    る乱れに起因する磁場との合成磁場を検出し、被険査材
    の幅方向への往復移Ilυノにより被探傷面を走査する
    磁場検出器と を備えたことを特徴とする探傷装置。
JP8946783A 1982-06-14 1983-05-20 探傷装置 Pending JPS59214757A (ja)

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JP8946783A JPS59214757A (ja) 1983-05-20 1983-05-20 探傷装置
US06/502,547 US4602212A (en) 1982-06-14 1983-06-09 Method and apparatus including a flux leakage and eddy current sensor for detecting surface flaws in metal products

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63221239A (ja) * 1987-03-10 1988-09-14 Sumitomo Metal Ind Ltd 漏洩磁束探傷方法
US6479992B2 (en) * 2000-07-12 2002-11-12 Nkk Corporation Leakage flux flaw detecting method and method for manufacturing hot rolled steel sheet using the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63221239A (ja) * 1987-03-10 1988-09-14 Sumitomo Metal Ind Ltd 漏洩磁束探傷方法
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