JPS59214319A - Delay device - Google Patents

Delay device

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JPS59214319A
JPS59214319A JP58084677A JP8467783A JPS59214319A JP S59214319 A JPS59214319 A JP S59214319A JP 58084677 A JP58084677 A JP 58084677A JP 8467783 A JP8467783 A JP 8467783A JP S59214319 A JPS59214319 A JP S59214319A
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JP
Japan
Prior art keywords
delay
circuit
amount
delay circuit
terminal
Prior art date
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Pending
Application number
JP58084677A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiaki Misono
御園 俊明
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Takeda Riken Industries Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS59214319A publication Critical patent/JPS59214319A/en
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a delay time which is affected by neither variation in ambient temperature nor variation in source voltage by providing the 2nd delay circuit which has the delay amount control signal characteristics as same as the 1st delay circuit, and detecting variation in the amount of delay and performing negative feedback control. CONSTITUTION:The 2nd delay circuit 16 which has the delay control characteristics as same as the 1st delay circuit 12 is provided. Further, the amount of delay of the 2nd delay circuit 16 is equalized to the amount of delay of the 1st delay circuit 12. Further, variation in the amount of delay of the 2nd delay circuit 16 is detected by a feedback control circuit 17, and the detection output obtained at the output terminal 18 of the feedback control circuit 17 is applied to the control terminal 19 of the 2nd delay circuit 16 to hold the amount of delay of the 2nd delay circuit 16 constant. When the 1st delay circuit 12 varies in the amount of delay with temperature, the 2nd delay circuit 16 also varies in the amount of delay at the time, but this is detected by the feedback control circuit 17 to feed a control signal back so that variation in the amount of delay is compensated.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明(は各種タイミング信号発生器など正確な相対
的遅延時間を持った信号を発生するために用いられる遅
延装置に関し、特に温度変動や、電源電圧変動などによ
ってその遅延量が影響しないようにしようとするもので
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION This invention relates to a delay device used for generating signals with accurate relative delay times such as various timing signal generators, and particularly relates to a delay device used for generating signals with accurate relative delay times, such as various timing signal generators. The aim is to ensure that the amount does not affect the amount.

〈従来技術〉 従来の遅延装置は第1図に示すように複数のケ゛−ト回
路11が直列に接続され、その一つのダート回路におい
て発生する遅延量の総和で所望の遅延量を得ていた。即
ち第1図の例では三つのダート回路が縦続に接続され、
一つのケゝ−ト回路11の遅延時間の3倍の遅延量を得
る場合の遅延装置である。このような従来の遅延装置に
おいては、周囲温度の変動やケ゛−ト回路に印加される
電源電圧の変動によってその遅延量が変化する欠点があ
った。
<Prior Art> In the conventional delay device, as shown in Fig. 1, a plurality of gate circuits 11 are connected in series, and the desired delay amount is obtained by the sum of the delay amounts occurring in one of the gate circuits. . In other words, in the example shown in Figure 1, three dart circuits are connected in cascade,
This is a delay device for obtaining a delay amount three times the delay time of one gate circuit 11. Such conventional delay devices have the disadvantage that the amount of delay changes with changes in ambient temperature and changes in the power supply voltage applied to the gate circuit.

〈発明の目的〉 この発明の目的は周囲温度の変動や電源電圧の変動に影
響されない遅延時間を得ることができる遅延装置を提供
することにある。
<Object of the Invention> An object of the invention is to provide a delay device that can obtain a delay time that is not affected by fluctuations in ambient temperature or power supply voltage.

〈発明の概要〉 この発明によれば遅延しだい信号が供給される第1遅延
回路と同一の遅延量・制御信号特性を持つ第2遅延回路
が設けられる。その第2遅延回路の怪延量の変動が帰還
制御回路により検出されると共に、その検出出力を第2
遅延回路の遅延量を制御する信号として負帰還して第2
遅延回路は常に一定の遅延量を得るように制御すると共
に、この帰還制御回路よシの制御信号を第1遅延回路の
遅延量を制御する制御信号として供給する。このように
して第2遅延回路は常に一定の遅延量になるように制御
され、第1遅延回路も同様にして同一遅延量に保持され
ることになる。
<Summary of the Invention> According to the present invention, a second delay circuit is provided which has the same delay amount and control signal characteristics as the first delay circuit to which a delayed signal is supplied. The feedback control circuit detects the fluctuation in delay of the second delay circuit, and transmits the detected output to the second delay circuit.
The second signal is negatively fed back as a signal to control the delay amount of the delay circuit.
The delay circuit is controlled so as to always obtain a constant delay amount, and a control signal from the feedback control circuit is supplied as a control signal for controlling the delay amount of the first delay circuit. In this way, the second delay circuit is controlled to always have a constant delay amount, and the first delay circuit is similarly maintained at the same delay amount.

〈実施例〉 次にこの発明による実施例を第2図以下の図面を参照し
て説明しよう。第2図においては第1遅延回路12が゛
n段縦続接続された場合であシ、その一端1は入力端子
13に接続され、他端は出力端子14に接続され、これ
ら入力端子13及び出力端子14間に所望の遅延量を得
るようにされる。
<Example> Next, an example according to the present invention will be described with reference to FIG. 2 and the following drawings. In FIG. 2, the first delay circuit 12 is connected in n stages in series, one end 1 is connected to the input terminal 13, the other end is connected to the output terminal 14, and these input terminals 13 and output A desired amount of delay is obtained between the terminals 14.

これら第1遅延回路]2は制御端子15にそれぞれ制御
信号を与えることによってその遅延量が制御されるもの
であって、これらの遅延回路12の遅延量は同一のもの
が用いられている。遅延回路12は例えば第3図に示す
ように、入力端子5]及び出力端子52間にゲート53
−抵抗素子53−ゲート55の直列回路が接続され、抵
抗素子54及びケゝ−ト55の接続点は可変容量ダイオ
ード56.を通じて制御端子15に接続されて構成され
る。抵抗素子54の抵抗値と、可変容量ダイオード56
の容量値とによシ遅延量が決シ、制御端子15に印加す
る制御信号によシ可変容量ダイオード56の容量値を変
化することができる。
The amount of delay of these first delay circuits 2 is controlled by applying a control signal to each control terminal 15, and the delay amount of these delay circuits 12 is the same. For example, as shown in FIG. 3, the delay circuit 12 has a gate 53 between the input terminal 5 and the output terminal 52.
A series circuit of resistance element 53 and gate 55 is connected, and the connection point between resistance element 54 and gate 55 is a variable capacitance diode 56. It is configured to be connected to the control terminal 15 through. The resistance value of the resistance element 54 and the variable capacitance diode 56
The amount of delay depends on the capacitance value of the variable capacitance diode 56, and the capacitance value of the variable capacitance diode 56 can be changed by a control signal applied to the control terminal 15.

この発明においては第1遅延回路12の遅延制御特性と
同一の遅延制御特性の第2遅延回路16が設けられる。
In the present invention, a second delay circuit 16 having the same delay control characteristics as the first delay circuit 12 is provided.

かつ第2遅延回路16の遅延量Tdは第1遅延回路12
の遅延量と同一に選定されている。更に第2遅延回路]
6における遅延量の変動が帰還制御回路17で検出され
、その帰還制御回路17の出力端子18に得られた検出
出力は第2遅延回路16の制御端子19に印加され、こ
の第2遅延回路16の遅延量は一定値に保持される。
And the delay amount Td of the second delay circuit 16 is the same as that of the first delay circuit 12.
is selected to be the same as the amount of delay. Furthermore, a second delay circuit]
6 is detected by the feedback control circuit 17, and the detection output obtained at the output terminal 18 of the feedback control circuit 17 is applied to the control terminal 19 of the second delay circuit 16. The amount of delay is maintained at a constant value.

これと共に出力端子18の検出出力を第1遅延回路12
の各制御端子15に制御信号として印加する。従って第
1遅延回路12は第2遅延回路16の遅延量と常に同一
の遅延量が得られる。この例においては第2遅延回路1
6の遅延量Tdの0倍の遅延量n Tdが端子13.1
4間に得られることになる。
At the same time, the detection output of the output terminal 18 is transferred to the first delay circuit 12.
is applied to each control terminal 15 as a control signal. Therefore, the first delay circuit 12 can always obtain the same delay amount as the second delay circuit 16. In this example, the second delay circuit 1
Delay amount n which is 0 times the delay amount Td of 6 is terminal 13.1
It will be obtained within 4 hours.

温度変動などによって第1遅延回路12の遅延量が変動
すると、その時は同時に第2遅延回路16の遅延量も変
動するが、これが帰還制御回路17によって検出されて
その遅延量の変動を補正するように制御信号が帰還制御
され、従って第1遅延回路12もその変動が補償される
ことになシ、常に一定の遅延量が得られる。
When the delay amount of the first delay circuit 12 fluctuates due to temperature fluctuations, the delay amount of the second delay circuit 16 also fluctuates at the same time, but this is detected by the feedback control circuit 17 and the variation in the delay amount is corrected. Since the control signal is feedback-controlled, the first delay circuit 12 is also compensated for its fluctuations, so that a constant amount of delay is always obtained.

次に第2遅延回路16に対する帰還制御回路17の具体
例を第4図を参照して説明する。クロック発生器21よ
りのクロック信号は分周回路22により実に分周され、
分周回路22はこの例においてはD型フリッゾフロップ
23.24の縦絖接就に、オア回路25を帰還回路とし
て接続した場合で、クロックによってD型フリップフロ
ッゾのデータ入力を取込むようにされている。D型フリ
ップフロップ23のQ出力は第2遅延回路16の入力側
に供給されると共に、D型フリ、プフロップ26のクロ
、り端子ckに供給される。
Next, a specific example of the feedback control circuit 17 for the second delay circuit 16 will be explained with reference to FIG. The clock signal from the clock generator 21 is actually frequency-divided by the frequency dividing circuit 22,
In this example, the frequency dividing circuit 22 is a case in which an OR circuit 25 is connected to the vertical terminals of D-type flip-flops 23 and 24 as a feedback circuit, and the data input of the D-type flip-flop is taken in by a clock. There is. The Q output of the D-type flip-flop 23 is supplied to the input side of the second delay circuit 16, and is also supplied to the black terminal ck of the D-type flip-flop 26.

D型フリップフロップ24のQ出力はフリップフロツプ
27のセット端子28に印加され、また第2遅延回路1
6の出力はフリップフロップ27のリセント端子29に
印加されている。
The Q output of the D-type flip-flop 24 is applied to the set terminal 28 of the flip-flop 27, and the second delay circuit 1
The output of 6 is applied to the recent terminal 29 of the flip-flop 27.

フリップフロップ27のQ出力端子31がD型フリップ
フロップ26のデータ端子りに印加されるOD型フリッ
プフロップ26のQ及び互出ノフはレベル変換回路32
のトランジスタ33のペース及びエミッタにそれぞれ印
加され、トラン・ジスタ33のコレクタは抵抗器34を
通じて電源端子35に接続され、エミ、りは抵抗器36
を通じて電源端子37に接続されている。トランジスタ
33のコレクタはダイオード38を通じて接地されると
共に、このコレクタは平滑回路39を通じて出力端子1
8に接続されている。この出力端子18は先に述べたよ
うに第1遅延回路12の制御端子15及び第2遅延回路
16の制御端子19に接続されている。
The Q output terminal 31 of the flip-flop 27 is applied to the data terminal of the D-type flip-flop 26.
The collector of the transistor 33 is connected to the power supply terminal 35 through the resistor 34, and the emitter and the emitter are connected to the resistor 36.
It is connected to the power supply terminal 37 through. The collector of the transistor 33 is grounded through a diode 38, and the collector is connected to the output terminal 1 through a smoothing circuit 39.
8 is connected. This output terminal 18 is connected to the control terminal 15 of the first delay circuit 12 and the control terminal 19 of the second delay circuit 16, as described above.

この帰還制御回路17の動作を第5図を参照して説明し
よう。クロック発生器21から第5図Aに示すような周
期T1の、例えば16+1秒のクロック信号が発生され
、とのクロック信号は分周回路22で分周され、D型り
リップフロッゾ23のQ出力より第5図Bに示すように
パルス幅がT1で周期が3T、のパルスに分周される。
The operation of this feedback control circuit 17 will be explained with reference to FIG. A clock signal of, for example, 16+1 seconds with a period T1 as shown in FIG. As shown in FIG. 5B, the frequency is divided into pulses with a pulse width of T1 and a period of 3T.

D型フリップフロップ24のQ出力はD型フリップフロ
ップ23のQ出力よシもクロックAの1周期Tまたけ遅
れた第5図Cに示すようなパルスが得られている。この
フリップフロップ23のQ出力パルスBは第2遅延回路
16に供給され、遅延時間Tdの遅延を受けて第5図り
に示すような・ぐルスとなる。列えは遅延時間Tdはク
ロックAの周期T1 と等しく選定されている。
The Q output of the D-type flip-flop 24 is delayed by one cycle T of the clock A, as compared to the Q output of the D-type flip-flop 23, as shown in FIG. 5C. The Q output pulse B of the flip-flop 23 is supplied to the second delay circuit 16, and is delayed by a delay time Td to become a signal as shown in the fifth diagram. The delay time Td is selected to be equal to the period T1 of the clock A.

しかし第5図りのパルスd1 として示すようにこの遅
延パルスdlがパルスCよりも進んでいる場合、即ち遅
延回路16よシの出力遅延パルスd。
However, as shown as pulse d1 in Figure 5, if this delayed pulse dl is ahead of pulse C, that is, the output delayed pulse d from the delay circuit 16.

の遅延量がT、  よりも小さくなった場合においては
、この遅延パルスd1の立上9によってフリップフロッ
プ27がリセットされ、その直後のパルスCによってフ
リップフロ、プ27がセットされる。従ってフリップ−
フロップ27の出力端子31の出力波形は第5図Eに示
すようにノクルスCの立上シによって制御されて立上っ
た状態になシ、この状態がその直後におけるパルスBに
よってフ’J ツゾフロッゾ26に取込まれ、この出力
が第5図Fの時点t1に示すように高レベルになるOフ
リップフロップ26はエミッタ結合論理回路、いわゆる
ECL回路であってその出力の振幅は小さく、これがレ
ベル変換回路32によってレベル変換される。例えば図
においては端子35.37にそれぞれ+15V 、−5
,2Vが印加されてお一す、トランジスタ330入力ペ
ースが高レベルになると、トランジスタ33のコレクタ
はトランジスタ33が導通する前の+15Vから、トラ
ンジスタ33が導通してダイオード38の降下電圧でち
る一〇、7vまで低下し、コレクタ電位は第5図Gに示
すように変化する。このコレクタ電位の変化が平滑回路
39によシ平滑され、従って出力端子18の出力は第5
図Hに示すように徐々に低下し、これが制御信号として
第2遅延回路16の制御端子19に与えられ、第2遅延
回路16の遅延量が増加する。
When the delay amount becomes smaller than T, the flip-flop 27 is reset by the rising edge 9 of this delay pulse d1, and the flip-flop 27 is set by the pulse C immediately thereafter. Therefore flip-
The output waveform of the output terminal 31 of the flop 27 is controlled by the rising edge of Noculus C as shown in FIG. The O flip-flop 26 is an emitter-coupled logic circuit, a so-called ECL circuit, and the amplitude of its output is small, and this output becomes high level as shown at time t1 in FIG. 5F. The level is converted by the circuit 32. For example, in the figure, +15V and -5V are applied to terminals 35 and 37, respectively.
, 2V is applied, and when the input voltage to the transistor 330 becomes high level, the collector of the transistor 33 changes from +15V before the transistor 33 conducts, to the voltage drop across the diode 38 as the transistor 33 conducts. , 7V, and the collector potential changes as shown in FIG. 5G. This change in collector potential is smoothed by the smoothing circuit 39, and therefore the output of the output terminal 18 is
As shown in FIG.

ように制御される。controlled as follows.

次に第2遅延回路]6の遅延量Tdが第5図りの・ぐル
スd2に示すようにパルスCに対して遅れ、つ址シ遅延
量Tdが規定の遅延量Tl よりも大きくなった場合は
フリップフロップ27はパルスCKよってセットされ、
第2遅延回路16の出力・ぐルスd2よリリセットされ
た状態の直後においてパルスBによってフリップフロッ
プ27の出力がフリップフロップ26に読取られる。つ
まり第5図の時点t2に示すように低レベルが読取られ
てフリップフロップ26の出力は第5図Fに示すように
低レベルとなる。従ってトランジスタ33が遮断されて
そのコレクタは“+15VKなシ、これが平滑回路39
によ)平滑されて端子18の出力は除徐((上昇し、制
御端子19にこれが印加され、第2遅延回路」6の遅延
量が減少するように作用する。このようにして遅延回路
16の遅延量Tdが所定の遅延t T 1  より減少
すると増加し、T1より増加すると減少するように、そ
の変動が帰還制御回路17で検出されると異に、その帰
還量が制御され、第2遅延回路16の遅延量Tdは一定
値T工に保持されることになる。
Next, when the delay amount Td of the second delay circuit [6] lags behind the pulse C as shown in d2 in the fifth diagram, and the delay amount Td becomes larger than the specified delay amount Tl. The flip-flop 27 is set by the pulse CK,
Immediately after the output signal d2 of the second delay circuit 16 is reset, the output of the flip-flop 27 is read by the flip-flop 26 by the pulse B. That is, a low level is read as shown at time t2 in FIG. 5, and the output of the flip-flop 26 becomes a low level as shown in FIG. 5F. Therefore, the transistor 33 is cut off and its collector is +15VK, which is the smoothing circuit 39.
The output of the terminal 18 is smoothed by the control terminal 19 and is applied to the control terminal 19, which acts to reduce the delay amount of the second delay circuit 6. When the variation is detected by the feedback control circuit 17, the feedback amount is controlled so that the delay amount Td of The delay amount Td of the delay circuit 16 is held at a constant value T.

変形例 この発明による遅延装置は例えば論理回路の縦続接続と
直列に接続されて、その論理回路の縦続接続の全体とし
ての遅延量を一定に保持するためにも用いられる。例え
ば第6図に示すように入力端子13と出力端子14との
間に例えば10段の論理回路41が縦続接続されると共
に、これと直列に第1遅延回路12が2段縦続的に挿入
される。
Modifications The delay device according to the invention can also be used, for example, by being connected in series with a cascade of logic circuits to keep the overall delay of the cascade of logic circuits constant. For example, as shown in FIG. 6, for example, 10 stages of logic circuits 41 are connected in cascade between the input terminal 13 and the output terminal 14, and two stages of first delay circuits 12 are inserted in series therewith. Ru.

一方第2遅延回路16に対して、論理回路41と対応し
てその整数分の1、例えば5段だけ論理回路42が縦統
的に直列に接続される。この論理回路42、第2遅延回
路16を含んだ遅延量が一定となるように制御する。即
ち第4図における分周回路22の出力は帰還制御回路1
7のフリップ70ツブの端子28に供給されると共に、
他の出力は論理回路42の一端に供給され、第2遅延回
路16の出力は帰還制御回路17のフリップフロップの
端子29に供給され、またこの分周回路22の出力は帰
還制御回路17中の第4図におけるD型フリップフロッ
プ26のクロック端子ckに供給される。この帰還制御
回路17の出力端子18よシの制御信号は第1遅延回路
12の制御端子15、第2遅延回路16の制御端子19
に供給される。
On the other hand, to the second delay circuit 16, one logic circuit 42 corresponding to the logic circuit 41 is vertically connected in series by an integer fraction of the logic circuit 41, for example, five stages. The delay amount including the logic circuit 42 and the second delay circuit 16 is controlled to be constant. That is, the output of the frequency divider circuit 22 in FIG.
7 is supplied to the terminal 28 of the flip 70 tube, and
The other output is supplied to one end of the logic circuit 42, the output of the second delay circuit 16 is supplied to the terminal 29 of the flip-flop of the feedback control circuit 17, and the output of this frequency dividing circuit 22 is supplied to the terminal 29 of the flip-flop in the feedback control circuit 17. It is supplied to the clock terminal ck of the D-type flip-flop 26 in FIG. The control signal from the output terminal 18 of this feedback control circuit 17 is transmitted to the control terminal 15 of the first delay circuit 12 and the control terminal 19 of the second delay circuit 16.
supplied to

この場合5段の論理回路42と第2遅延回路]6を含む
遅延量が常に一定になるように動作し、その第2遅延回
路16を制御する制御信号が第1遅延回路12の2段に
それぞれ制(財)信号として供給されている。論理回路
41と論理回路42とはその段数を同一とした場合は第
1遅延回路12と第2遅延回路16とを同数とし、また
この例のように整数n分の1、とのレリではΣにその論
理回路420段数を少くすれば、これに応じて第′1遅
延回路12を前記整数n倍、この例では2倍の数州いる
。論理回路41の縦続接続における遅延量の変動は、論
理回路42の段数が多い分だけ多くなシ、従ってとれに
対応して第1遅延回路12の段数も多くすればよい。一
般に論理回路41 、4.2は同一のものを使用しなく
ても同一製造会社のものを用いれば段数さえ同−或は整
数比関係に選定し、これに対応して第1遅延回路、第2
遅延回路も同一整数比としておけば端子13.14間の
遅延量を常に所望の値にほぼ制御することが可能となる
In this case, the 5-stage logic circuit 42 and the second delay circuit]6 operate so that the delay amount including the second delay circuit 16 is always constant, and the control signal for controlling the second delay circuit 16 is sent to the two stages of the first delay circuit 12. Each is supplied as a regulatory (goods) signal. When the logic circuits 41 and 42 have the same number of stages, the first delay circuit 12 and the second delay circuit 16 have the same number, and in the case of 1/n of an integer as in this example, Σ If the number of stages of the logic circuit 420 is reduced, the number of the '1st delay circuits 12 will be increased by n times the above-mentioned integer, which is twice as many in this example. The variation in the amount of delay in the cascade connection of the logic circuits 41 increases as the number of stages of the logic circuits 42 increases. Therefore, the number of stages of the first delay circuit 12 may be increased accordingly. In general, even if the logic circuits 41 and 4.2 are not the same, if they are made by the same manufacturer, the number of stages can be the same or have an integer ratio relationship. 2
If the delay circuits also have the same integer ratio, it becomes possible to always control the amount of delay between the terminals 13 and 14 to approximately the desired value.

またこの第6図においてはこのように論理回路42を縦
続接続しているが、結果的には第2遅延回路の遅延量の
変動を検出してこれを一定になるように制御しているこ
とになる。
In addition, although the logic circuits 42 are connected in cascade in this manner in FIG. 6, the result is that fluctuations in the delay amount of the second delay circuit are detected and controlled to be constant. become.

〈効果〉 以上述べたようにこの発明の遅延装置によれば、温度変
動や電源電圧の変動による遅延量の変動に影響されるこ
となく常に一定に保持することができ、従って各種タイ
ミング信号のような予め決められた相対的な遅延量とす
る場合、特にこれを高精度に得ることが可能となる。
<Effects> As described above, according to the delay device of the present invention, the delay amount can be kept constant without being affected by fluctuations in the amount of delay due to temperature fluctuations or fluctuations in power supply voltage. In particular, when using a predetermined relative amount of delay, it is possible to obtain this with high precision.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の遅延装置を示すプロ3.り図、第2図は
この発明による遅延装置の一例を示すブロック図、第3
図はその遅延回路12の具体例を示す接続図、第4図は
第2図中の帰還制御回路の具体クリを示す論理回路図、
第5図は第4図の動作の説明に供するだめの波形図、第
6図はこの発明による遅延装置の他の例を示すブロック
図である。 12:第1遅延回路、13:入力端子、14:出力端子
、16:第2遅延回路、17:帰還制御回路、15,1
9:制御端子、18:帰還制御回路の出力端子。
Figure 1 shows a conventional delay device. FIG. 2 is a block diagram showing an example of a delay device according to the present invention, and FIG.
The figure is a connection diagram showing a specific example of the delay circuit 12, and FIG. 4 is a logic circuit diagram showing a specific example of the feedback control circuit in FIG.
FIG. 5 is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. 4, and FIG. 6 is a block diagram showing another example of the delay device according to the present invention. 12: First delay circuit, 13: Input terminal, 14: Output terminal, 16: Second delay circuit, 17: Feedback control circuit, 15, 1
9: Control terminal, 18: Output terminal of feedback control circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (]、)  遅延量が制御信号に制御される第1遅延回
路と、その第1遅延回路と同一制御特性を持つ第2遅延
回路と、その第2遅延回路の遅延量の変動を検出してそ
の出力を、遅延量を制御する制御信号として上記第2遅
延回路に負帰還すると共にその制御信号を上記第1遅延
回路へ遅延量の制御信号として供給する帰還制御回路と
を具備する遅延装置。
(],) A first delay circuit whose delay amount is controlled by a control signal, a second delay circuit having the same control characteristics as the first delay circuit, and a variation in the delay amount of the second delay circuit is detected. A delay device comprising: a feedback control circuit that negatively feeds its output back to the second delay circuit as a control signal for controlling the amount of delay, and supplies the control signal to the first delay circuit as a control signal for the amount of delay.
JP58084677A 1983-05-13 1983-05-13 Delay device Pending JPS59214319A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6346011A (en) * 1986-08-13 1988-02-26 Hitachi Ltd Delaying circuit
JPH0478220A (en) * 1990-07-20 1992-03-12 Samsung Electron Co Ltd Signal delay circuit

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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