JPS59212834A - Photosensitive heat resistant material - Google Patents
Photosensitive heat resistant materialInfo
- Publication number
- JPS59212834A JPS59212834A JP8788083A JP8788083A JPS59212834A JP S59212834 A JPS59212834 A JP S59212834A JP 8788083 A JP8788083 A JP 8788083A JP 8788083 A JP8788083 A JP 8788083A JP S59212834 A JPS59212834 A JP S59212834A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unsatd
- general formula
- resistant material
- group
- formula
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/038—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Polymerisation Methods In General (AREA)
- Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)
- Macromonomer-Based Addition Polymer (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 本発明は新規な感光性耐熱材料に関する。[Detailed description of the invention] The present invention relates to a novel photosensitive heat-resistant material.
従来半導体工業において固体素子の絶縁層やパッシベー
ション層として、たとえば酸化ケイ素などの無機材料が
広く使用されている。Conventionally, inorganic materials such as silicon oxide have been widely used in the semiconductor industry as insulating layers and passivation layers of solid-state devices.
一方有機材料は無機材料に比較して低応力性、平滑性に
優れ、高純度であるなどの性質を保持しており、近年絶
縁層やパッシベーション層として使用する技術が開発さ
れ、一部の半導体素子に実用化されている。On the other hand, organic materials have properties such as low stress, excellent smoothness, and high purity compared to inorganic materials, and in recent years, technology for using them as insulating layers and passivation layers has been developed, and some semiconductors It has been put into practical use in devices.
有機材料を前記用途に用いるばあい、ダイボンディング
などの作業工程を経るため材料に熱安定性が要求され耐
熱性の有機材料を使用する必要がある。そのため通常、
耐熱性に優れたポリイミドが広く検討されている。When an organic material is used for the above-mentioned purpose, the material is required to have thermal stability because it undergoes work steps such as die bonding, and it is necessary to use a heat-resistant organic material. Therefore, usually
Polyimide, which has excellent heat resistance, is being widely studied.
ポリイミドを固体素子の絶縁層やパッシベーション層と
して利用するばあい、上下の導体層の導通部や外部リー
ド線との接続のためのスルホール孔など微細加工を施す
工程では一般にフォトレジストを使用するポリイミドの
化学エツチング処理が行なわれている。When polyimide is used as an insulating layer or passivation layer of a solid-state device, photoresist is generally used in the process of microfabrication, such as conductive parts between upper and lower conductor layers and through-holes for connection to external lead wires. Chemical etching treatment is performed.
たとえばポリイミド前駆体であるポリアミド酸を基板に
コーティングし、熱処理を行なってポリイミドに変換し
たのちそのポリイミド膜上にフォトレジストのレリーフ
パターンを形成させ、ヒドラジン系エツチング剤により
ポリイミド膜を選択的に化学エツチングしてレリーフパ
ターンをポリイミドに形成させている。For example, polyamic acid, which is a polyimide precursor, is coated on a substrate, heat treated to convert it to polyimide, a photoresist relief pattern is formed on the polyimide film, and the polyimide film is selectively chemically etched using a hydrazine-based etching agent. A relief pattern is formed on the polyimide.
しかし上記工程におけるポリイミドのパターン化には、
フォトレジストの塗布や剥離などの工程を必要とし、プ
ロセス工程が全体として非常に煩雑となる。したがって
微細加工工程の簡略化を図るため直接光で微細加工可能
な耐熱材料の開発が望まれていた。上記目的のためのひ
とつとしてポリアミド酸と重クロム酸塩とからなる感光
性耐熱材料が提案された(特公昭49−17374号公
報)。However, in the patterning of polyimide in the above process,
Processes such as photoresist coating and peeling are required, making the entire process extremely complicated. Therefore, in order to simplify the microfabrication process, it has been desired to develop a heat-resistant material that can be microfabricated using direct light. As one of the above objects, a photosensitive heat-resistant material comprising polyamic acid and dichromate was proposed (Japanese Patent Publication No. 17374/1982).
それによると前記材料を基板に塗布し乾燥後、通常の光
学手法を用いて露光処理し現像処理を経て熱処理を実施
することにより、ポリイミドのレリーフパターンをうる
ことが可能となる。しかし該材料は暗反応を伴うため保
存安定性に乏しく、重クロム酸塩を混合して感光性耐熱
材料として調製したらただちに使用しなければならず、
さらに重クロム酸塩がその硬化物中に残存するため該硬
化物が絶縁膜としての信頼性に劣るなどの欠点がある。According to this, a relief pattern of polyimide can be obtained by applying the material to a substrate, drying it, exposing it to light using a normal optical method, developing it, and then heat-treating it. However, this material has poor storage stability because it involves a dark reaction, and must be used immediately after being prepared as a photosensitive heat-resistant material by mixing dichromate.
Further, since the dichromate remains in the cured product, there is a drawback that the cured product has poor reliability as an insulating film.
また特開昭49−115541号公報には、たとえば一
般式:
(式中、Rは0H2−0HOOOOH20H2−,0H
2−0(OH3)OOOOH20H2−1α0H−OH
OOOOH20H2−などを示す)の構造式で示される
ピロメリット酸誘導体とジアミンとを反応させてえられ
る感光性耐熱材料が提案されている。しかし前記ピロメ
リット酸誘導体の合成プロセスは複雑であり、その精製
も困難であるためえられる感光性耐熱材料は高価格とな
るなどの欠点がある。Furthermore, JP-A-49-115541 describes, for example, the general formula: (wherein R is 0H2-0HOOOOH20H2-,0H
2-0(OH3)OOOOOH20H2-1α0H-OH
A photosensitive heat-resistant material has been proposed that is obtained by reacting a pyromellitic acid derivative represented by the structural formula (OOOOH20H2-, etc.) with a diamine. However, the synthesis process of the pyromellitic acid derivative is complicated and its purification is difficult, so the resulting photosensitive heat-resistant material has drawbacks such as being expensive.
さらに特開昭55−45746号公報には、ポリアミド
酸と、たとえばメタクリルグリシジルなどのような感光
基を有するモノエポキサイドと全反応させて感光性耐熱
材料かえられると記載されている。Furthermore, JP-A No. 55-45746 describes that a photosensitive heat-resistant material can be obtained by completely reacting a polyamic acid with a monoepoxide having a photosensitive group such as methacrylglycidyl.
しかしエビキサイドとカルボン酸との反応は反応促進剤
が必要であるなど非常に複雑であり、さらに該反応後の
保存安定性も極めてわるいなどの欠点がある。However, the reaction between eboxide and carboxylic acid is very complicated, such as requiring a reaction accelerator, and furthermore, there are drawbacks such as extremely poor storage stability after the reaction.
本発明者らは上記欠点を克服し、通常の露光手段により
レリーフパターンが形成される微細加工可能な感光性耐
熱材料を提供する目的で鋭意研究を重ねた結果、
(a)一般式(1):
(式中、R□は2価の有機J(、R2は少なくとも2個
の炭素原子を含有するテトラカルボン酸二無水物残基を
示す)で示されるポリアミド酸と、一般式(2):
(式中、R3は不飽和結合を有する1価の有機基を示す
)で示されるアジリジン化合物とを有機溶媒中で反応さ
せてなるポリイミド前駆体と、(b)一般式(3):
%式%(3)
(式中、R4は不飽和結合を少なくとも1個以上有する
1価の有機基を示し、又は−OH。The present inventors have conducted intensive research aimed at overcoming the above-mentioned drawbacks and providing a photosensitive heat-resistant material that can be microfabricated and in which a relief pattern is formed by ordinary exposure means. As a result, (a) General formula (1) : (wherein, R□ is a divalent organic J (R2 represents a tetracarboxylic dianhydride residue containing at least 2 carbon atoms) and a polyamic acid represented by the general formula (2): (In the formula, R3 represents a monovalent organic group having an unsaturated bond) A polyimide precursor obtained by reacting an aziridine compound represented by the following in an organic solvent, and (b) general formula (3): % formula %(3) (wherein R4 represents a monovalent organic group having at least one unsaturated bond, or -OH.
る不飽和誘導体と、
(c)一般式(4):
%式%(4)
(式中、R5は2価の有機基を示す)で示されるビスア
ジド化合物
とを混合してなる感光性耐熱材料が、直接光により微細
加工可能な材料として固体素子の絶縁層やパッシベーシ
ョン層に有用であることを見出し、本発明を完成した。and (c) a bisazide compound represented by general formula (4): % formula % (4) (in the formula, R5 represents a divalent organic group). However, the present invention was completed based on the discovery that the material is useful for insulating layers and passivation layers of solid-state devices as a material that can be microfabricated by direct light.
本発明はジアミン成分とテトラカルボン酸二無水物との
反応により生成したポリアミド酸中の側鎖ノカルボキシ
ル基と不飽和アジリジン化合物とを付加反応させること
により新たなアミ7基を生成せしめたのち、該アミ7基
に一般式(3)で示される不飽和誘導体を作用せしめさ
らに光架橋成分としてビスアジド化合物を添加すること
を特徴とした感光性耐熱材料である。In the present invention, a new amide 7 group is generated by an addition reaction between a side chain nocarboxyl group in a polyamic acid produced by a reaction between a diamine component and a tetracarboxylic dianhydride and an unsaturated aziridine compound. This photosensitive heat-resistant material is characterized in that an unsaturated derivative represented by the general formula (3) is applied to the amide 7 group, and a bisazide compound is further added as a photocrosslinking component.
本発明で用いられる一般式(1)で示されるポリアミド
酸はジアミンとテトラカルボン酸二無水物とを等モル同
士反応させてうろことができるが、その反応に用いられ
る有機溶媒は該ジアミンおよびテトラカルボン酸二無水
物に不活性であり、かつえられるポリアミド酸に対して
良溶媒のものが選ばれる。たとえばN、N−ジメチルア
セトアミド、N、N −ジメチルホルムアミド、N−メ
チル−2−ピロリドン、ジメチルスルホキシド、ヘキサ
メチルホスホアミド などが好適に用いられる。また前
記反応は8000以下の温度、好ましくは20°C〜室
温付近に保たれ2〜10時間行なわれるのが望ましい。The polyamic acid represented by the general formula (1) used in the present invention can be obtained by reacting equimolar amounts of diamine and tetracarboxylic dianhydride. One is selected that is inert to carboxylic dianhydrides and is a good solvent for the polyamic acid to be obtained. For example, N,N-dimethylacetamide, N,N-dimethylformamide, N-methyl-2-pyrrolidone, dimethylsulfoxide, hexamethylphosphoamide, and the like are preferably used. Further, the reaction is preferably maintained at a temperature of 8,000° C. or less, preferably from 20° C. to around room temperature, and is carried out for 2 to 10 hours.
本発明に用いられる一般式(1)で示されるポリアミド
酸を構成する成分の1つであるジアミンとしては、たと
えば4,4′−ジアミノジフェニールエーテル、4.4
’ −ジアミノジフェニルメタン、4.4’−ジアミノ
ジフェニルスルフィド、4.4’−ジアミノジフェニル
スルフォン、3.5’−ジアミノジフェニルスルフォン
、3.3’−ジアミノベンゾフェノン、4.4’−ジア
ミノベンゾフェノン、ベンジジン、0〜トリジン、p−
7エニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、1.5
−ジアミノナフタレン、4t4’−ジアミノシクロヘキ
シルメタン、キシリレンジアミン、ジアミノフェニルイ
ンデン、ヘキサメチレンジアミン、1.6−ジ(p−ア
ミノフェニル)テトラメチルジシロキサン、ビス(γ−
アミノプロピル)テトラメチルジシロキサン、4.41
−ジアミノスチルベンなどをあげることができ、それら
の1種または2種以上の混合物が本発明に用いられる。Examples of the diamine which is one of the components constituting the polyamic acid represented by the general formula (1) used in the present invention include 4,4'-diaminodiphenyl ether, 4.4
'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfide, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,5'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'-diaminobenzophenone, 4,4'-diaminobenzophenone, benzidine, 0~tolidine, p-
7 Enylene diamine, m-phenylene diamine, 1.5
-diaminonaphthalene, 4t4'-diaminocyclohexylmethane, xylylene diamine, diaminophenyl indene, hexamethylene diamine, 1,6-di(p-aminophenyl)tetramethyldisiloxane, bis(γ-
aminopropyl)tetramethyldisiloxane, 4.41
-diaminostilbene, etc., and one or a mixture of two or more thereof can be used in the present invention.
同様に他の1つの成分であるテトラカルボン酸二無水物
としては、たとえばピロメリット酸二無水物、2,2−
ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プ四バ>二酸t
a水物、ビス(314−ジカルボキシフェニル)ニーf
ルIm無水物、5+&t4,4’−ベンゾフェノンテト
ラカルボン酸二無水物、3.3’、4.4’−ビフェニ
ルテトラカルホ> m二無水物% 1121596−ナ
フタレンテトラカルボン酸二無水物、2,2−ヒス(ジ
カルボキシフェニル)へキサフルオロプロパンニets
水物、112.3.4−ブタンテトラカルボン酸二無水
物、1.2,6.4−シクロペンタンテトラカルボン酸
二無水物、5−(2,5−ジオキソテトラヒドロフリル
)−3−メチル−6−シクロヘキセン−1,2−ジカル
ボン酸二無水物などをあげることができ、それらの1種
または2種以上の混合物が本発明に用いられる。Similarly, the other component, tetracarboxylic dianhydride, includes, for example, pyromellitic dianhydride, 2,2-
Bis(3,4-dicarboxyphenyl)p4>diacid t
a hydrate, bis(314-dicarboxyphenyl)nee f
Im anhydride, 5+&t4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3.3',4.4'-biphenyltetracarpho>m dianhydride% 1121596-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2, 2-His(dicarboxyphenyl)hexafluoropropanni ets
hydrate, 112.3.4-butanetetracarboxylic dianhydride, 1.2,6.4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, 5-(2,5-dioxotetrahydrofuryl)-3-methyl Examples include -6-cyclohexene-1,2-dicarboxylic dianhydride, and one or a mixture of two or more thereof can be used in the present invention.
一般式(2)で示されるツジリジン化合物としては、た
とえば
宵
0
などをあげることができ、それらの1種または2種以上
の混合物が本発明に用いられる。Examples of the tujiridine compound represented by the general formula (2) include Yoi0, and one or a mixture of two or more thereof can be used in the present invention.
前記ポリアミド酸中の側鎖のカルボキシル基とアジリジ
ン化合物とを60°O以下、好ましくは20°c〜室温
の範囲内で2〜6時間反応させてポリイミド前駆体をう
るのが望ましい。It is desirable to obtain a polyimide precursor by reacting the carboxyl group of the side chain in the polyamic acid with the aziridine compound at a temperature of 60°C or less, preferably at a temperature of 20°C to room temperature for 2 to 6 hours.
その反応は速やかに進行するため塩類、塩基、酸化物、
過酸化物などの反応を促進させるような添加物を一切必
要とせず、本発明の感光性耐熱材料は保存安定性に極め
て優れている。The reaction proceeds quickly, so salts, bases, oxides,
The photosensitive heat-resistant material of the present invention has extremely excellent storage stability without requiring any additives such as peroxides that promote reactions.
前記反応ではアジリジン化合物をポリアミド酸中の側鎖
のカルボキシル基に対して0.2〜1.2当量、好まし
くは0.5〜1.0当量の範囲内で反応させるのがよい
。0.2当量未満であると露光による架橋反応が充分に
起こらないため、レリーフパターン形成能に劣る。また
1、2当風を超えると熱処理後の硬化物が熱安定性に劣
るようになる。In the reaction, the aziridine compound is preferably reacted in an amount of 0.2 to 1.2 equivalents, preferably 0.5 to 1.0 equivalents, relative to the side chain carboxyl group in the polyamic acid. If the amount is less than 0.2 equivalent, the crosslinking reaction upon exposure will not occur sufficiently, resulting in poor relief pattern forming ability. Moreover, if the air flow exceeds 1 or 2 blows, the cured product after heat treatment will be inferior in thermal stability.
前記反応によって新たな二級アミンが生成し、該アミン
と一般式(3)で示される不飽和誘導体とを混合するこ
とにより一般式(3)中のXが一〇HのときときはO−
Nの結合によって、同じ(−NQOのときは尿素結合に
よってポリイミド前駆体に不飽和基が導入される。A new secondary amine is generated by the above reaction, and by mixing the amine with the unsaturated derivative represented by the general formula (3), when X in the general formula (3) is 10H, O-
An unsaturated group is introduced into the polyimide precursor by the N bond, and in the case of the same (-NQO, the urea bond).
その結果感光基の数の増加に伴う露光による架橋効率の
上昇によって露光部と未露光部との溶解差が大きくなり
効果的に高解像度化が図れる。As a result, the crosslinking efficiency due to exposure increases as the number of photosensitive groups increases, and the difference in solubility between the exposed and unexposed areas increases, effectively achieving higher resolution.
本発明で用いられる一般式(3)で示される不飽和誘導
体としては、たとえばアクリル酸、メタクリル酸、ケイ
皮酸、シンナミリデン酢酸、α−シアノケイ皮酸、ビニ
ル酢酸、フェニルマレイミド酢酸アクリル酸グリシジル
、メタクリル酸グリシジル、ケイ皮酸グリシジル、フェ
ニルマレイミド酢酸グリシジルメタクロイルイソシアネ
ート、シンナモイルイソシアネート、ビニルイソシアネ
ート、了りルイソシアネート、イソプルベニルイソシア
ネート などをあげることができる。Examples of the unsaturated derivatives represented by the general formula (3) used in the present invention include acrylic acid, methacrylic acid, cinnamic acid, cinnamylideneacetic acid, α-cyanocinnamic acid, vinylacetic acid, phenylmaleimidoacetic acid, glycidyl acrylate, and methacrylic acid. Examples include glycidyl acid, glycidyl cinnamate, phenylmaleimide acetate glycidyl methacroyl isocyanate, cinnamoyl isocyanate, vinyl isocyanate, iris isocyanate, and isopurbenyl isocyanate.
上記不飽和誘導体はポリイミド前駆体に、アジリジン化
合物に対して0.2〜1.0当量添加し、室温で1〜2
時間反応させるのが好ましい。0.2当量未満では添加
効果が表われず、1.0当股全超えるとえられる硬化物
の熱安定性に劣る。The above unsaturated derivative is added to the polyimide precursor in an amount of 0.2 to 1.0 equivalents based on the aziridine compound, and 1 to 2
It is preferable to react for a period of time. If the amount is less than 0.2 equivalent, no effect will be exhibited, and if the amount exceeds 1.0 equivalent, the thermal stability of the cured product will be poor.
さらに感光性架橋剤である一般式(4)で示されるビス
アジド化合物をポリアミド酔に対して1〜50重量%の
範囲内で添加することにより、本発明の感光性耐熱材料
かえられる。1重量%未満では架橋効果が有効に表われ
ず、50重量部を超えるとえられる硬化物の熱安定性に
劣る。Furthermore, the photosensitive heat-resistant material of the present invention can be changed by adding a bisazide compound represented by general formula (4), which is a photosensitive crosslinking agent, in an amount of 1 to 50% by weight based on the polyamide. If it is less than 1% by weight, the crosslinking effect will not be effectively exhibited, and if it exceeds 50 parts by weight, the cured product will have poor thermal stability.
本発明で用いられるビスアジド化合物としては、たとえ
ば2,6−ジ(p−アジドベンザル)−4−メチルシク
ロヘキサノン、2,6−ジ(p−アジドベンザル)シク
ロヘキサノン、4.4’−ジアジドベンザルアセトン、
4.4’−ジアジドスチルベン、4.4’−ジアジドカ
ルコン、4.4’−ジアジドベンゾフェノン、2,8−
ジアジドアクリジン、4.4’−ジアジドジフェニルメ
タン、4.4’−ジアジドジフェニルアミンなどをあげ
ることができ、それらの1種または2種以上の混合物が
本発明に用いられる。Examples of the bisazide compound used in the present invention include 2,6-di(p-azidobenzal)-4-methylcyclohexanone, 2,6-di(p-azidobenzal)cyclohexanone, 4,4'-diazidobenzalacetone,
4.4'-Diazidostilbene, 4.4'-Diazidochalcone, 4.4'-Diazidobenzophenone, 2,8-
Examples include diazidoacridine, 4,4'-diazidodiphenylmethane, and 4,4'-diazidodiphenylamine, and one or a mixture of two or more of them can be used in the present invention.
本発明の感光性耐熱材料はそのまま露光しても鮮明なレ
リーフパターンをうろことができるが、光増感剤を樹脂
分に対して0.01〜10重量%添加することにより著
しい高感度化が可能である。そのような光増感剤として
は、たとえばシアノアクリジン、2−クロロ−1,8−
フタロイルナフタレン、アントラトロン、2′−ブロモ
−1,2−ベンゾアントラキノン、2′−クロロー1.
2−ベンズアントラキノン、1.2−ベンズアントラキ
ノン、1.8−ジニトロピレン、1−ニトロピレン、5
−ニトロアセナフテン、ミヒラーズヶトンなどをあげる
ことができ、それらの1種または2種以上の混合物が用
いられるがそれらに限定されるものではない。The photosensitive heat-resistant material of the present invention can form a clear relief pattern even when exposed as it is, but by adding 0.01 to 10% by weight of a photosensitizer to the resin content, a marked increase in sensitivity can be achieved. It is possible. Such photosensitizers include, for example, cyanoacridine, 2-chloro-1,8-
Phthaloylnaphthalene, anthrathrone, 2'-bromo-1,2-benzaanthraquinone, 2'-chloro1.
2-benzanthraquinone, 1,2-benzanthraquinone, 1,8-dinitropyrene, 1-nitropyrene, 5
-Nitroacenaphthene, Michler's Katone, etc., and one type or a mixture of two or more of them can be used, but the present invention is not limited thereto.
本発明の感光性耐熱材料をガラス板またはシリコンウェ
ハー上に回転塗布し、50〜9000でブレキュアーシ
たのち、所定のパターンを有するマスクを通して光また
は放射線を照射し、ついでN−メチル−2−ピロリドン
、N、N−ジメチルアセトアミド、N、N−ジメチルホ
ルムアミドなどの溶剤で現像することにより、未露光部
は洗い流されて端面のシャープなレリーフパターンかえ
られる。さらにそののち200〜400°0の熱処理を
行なうことにより、耐熱性、耐薬品性、電気的性質に優
れた良好なレリーフパターンを有する硬化物かえられる
。The photosensitive heat-resistant material of the present invention is spin-coated onto a glass plate or silicon wafer, bleached at 50 to 9,000 ℃, irradiated with light or radiation through a mask having a predetermined pattern, and then N-methyl-2-pyrrolidone, By developing with a solvent such as N,N-dimethylacetamide or N,N-dimethylformamide, the unexposed areas are washed away and a sharp relief pattern on the end face is changed. Further, by performing a heat treatment at 200 to 400 degrees, a cured product having a good relief pattern with excellent heat resistance, chemical resistance, and electrical properties can be obtained.
本発明の感光性耐熱材料は、室温、遮光下で数ケ月間安
定に保存できる。The photosensitive heat-resistant material of the present invention can be stably stored at room temperature and protected from light for several months.
また本発明の感光性耐熱材料は、半導体などの固体素子
の絶縁層やパッシベーション層の材料として、あるいは
磁気ヘッドの絶縁膜などの材料として有用なだけでなく
、プリント回路の半田レジスト、高耐熱性のフォトレジ
゛スト、す7トオ7材などの材料にもまた適用しうる。In addition, the photosensitive heat-resistant material of the present invention is not only useful as a material for insulating layers and passivation layers of solid-state devices such as semiconductors, or as a material for insulating films of magnetic heads, but also as a solder resist for printed circuits and as a highly heat-resistant material. It can also be applied to materials such as photoresists and other materials.
以下本発明を実施例に基づいてさらに詳しく説明するが
、本発明はかかる実施例のみに限定されるものではない
。The present invention will be described in more detail below based on Examples, but the present invention is not limited to these Examples.
参考例1〜6
第1表に示す各成分の配合量に従って、本発明に用いら
れるポリアミド酸を合成した。以下参考例1を代表させ
てその典型的な合成法について記述するが、参考例2〜
6についても同様に行なうことができる。Reference Examples 1 to 6 Polyamic acids used in the present invention were synthesized according to the blending amounts of each component shown in Table 1. A typical synthesis method will be described below using Reference Example 1 as a representative example, but Reference Examples 2 to
6 can be similarly performed.
攪拌機、温度計、チッ素導入管、塩化カルシウム管を備
えた100m1の4つロフラスコに4,4′−シアれ混
合した。その溶液を2580に保って3.5’、 4.
4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物3.2
29(0,01モル)を一度に加えたのち、前記温度で
4時間攪拌することにより高粘度のポリアミド酸かえら
れた。4,4'-shear mixing was carried out in a 100 ml four-hole flask equipped with a stirrer, a thermometer, a nitrogen inlet tube, and a calcium chloride tube. 3.5' keeping the solution at 2580; 4.
4'-benzophenone tetracarboxylic dianhydride 3.2
After adding 29 (0.01 mol) at once, the mixture was stirred at the above temperature for 4 hours to obtain a highly viscous polyamic acid.
第 1 表
実施例1
参考例1と同じ反応装置を使用し参考例1でえられたポ
リアミド酸に、2−(アジリジニル)エチルメ(0,0
16モル)を添加し60°0で4時間反応させたのち、
さらにグリシジルメタクリレート2.62(0,016
モル)を添加し60°Oで4時間反応を続けたついで該
反応混合物に2.6−ビス(p−アジド7エ二ル)−4
−メチルシクロヘキサノン0.74g(0,002モル
)を添加し室温で充分攪拌したのち、1μmのガラスフ
ィルターを用いて該反応混合物を加圧濾過することによ
り本発明の感光性耐熱材料をえた。Table 1 Example 1 2-(aziridinyl)ethylmethyl(0,0
After adding 16 mol) and reacting at 60°0 for 4 hours,
In addition, glycidyl methacrylate 2.62 (0,016
2,6-bis(p-azido7enyl)-4 was added to the reaction mixture and the reaction was continued for 4 hours at 60°O.
After adding 0.74 g (0,002 mol) of -methylcyclohexanone and stirring thoroughly at room temperature, the reaction mixture was filtered under pressure using a 1 μm glass filter to obtain the photosensitive heat-resistant material of the present invention.
該材料をガラス板上に塗布し、60°0で15分間加熱
乾燥させたのち、所定のホトマスクラ用いて該材料に紫
外線を10秒間照射した(超高圧水銀灯soow、距離
30cm)。The material was applied onto a glass plate and dried by heating at 60° 0 for 15 minutes, and then the material was irradiated with ultraviolet rays for 10 seconds using a predetermined photomask (super high pressure mercury lamp, distance 30 cm).
露光後NMPに60〜120秒間浸漬して現像すること
により良好なレリーフパターンかえられた。After exposure, a good relief pattern was obtained by immersing it in NMP for 60 to 120 seconds and developing it.
ついで100°0で15分、200°0で15分、チッ
素雰囲気下350°0で60分熱処理を行なったところ
、えられた硬化物にレリーフパターンの乱れは起こらな
かった。When heat treatment was then performed at 100°0 for 15 minutes, 200°0 for 15 minutes, and 350°0 for 60 minutes in a nitrogen atmosphere, no disturbance of the relief pattern occurred in the resulting cured product.
実施例2〜15
第2表に示す各成分の配合駁に従って、実施例1と同様
の操作を行なうことにより本発明の感光性耐熱材料をえ
た。Examples 2 to 15 Photosensitive heat-resistant materials of the present invention were obtained by carrying out the same operations as in Example 1 according to the composition of each component shown in Table 2.
該材料を実施例1と同様にして塗布、露光および現像を
行なったところいずれの場合も良好なレリーフパターン
をえた。When this material was coated, exposed and developed in the same manner as in Example 1, good relief patterns were obtained in all cases.
ついで実施例1と同じ条件の熱処理を行なったところい
ずれの硬化物もそのレリーフパターンにぼやけは生じな
かった。When heat treatment was then performed under the same conditions as in Example 1, no blurring of the relief pattern occurred in any of the cured products.
さらにえられた硬化物について、熱重量減少分析を行な
ったところ(チッ素雰囲気下、昇温速度50o1’り、
実施例14でえられた硬化物は690°C1実施例15
でえられた硬化物は670°0で分解を開始した以外は
全て400°O以下の温度では重it減少が認められな
かった。Furthermore, thermogravimetric loss analysis was performed on the obtained cured product (in a nitrogen atmosphere, at a heating rate of 50o1',
The cured product obtained in Example 14 was heated at 690°C1 Example 15
In all of the cured products obtained, no decrease in weight was observed at temperatures below 400°O, except that decomposition started at 670°O.
また実施例1〜15でえられたいずれの材料も室温、遮
光下で6ケ月間保存したのちも安定な)くターニング性
を保持しており保存安定性に優れていたO
手続補正書(自発)
l召羽?8 ポ 2)青 日
1 事件の表示 特願昭’5 B −87880号
2発明の名称 感光性耐熱材料
3 補正をする者
代表者片山仁へ部
5、補正の対象
(1)明細書の「発明の詳細な説明」のtR6、補正の
内容
(1)明m書10頁9行の「ツジリジン」を「アジリジ
ン」と補正する。In addition, all of the materials obtained in Examples 1 to 15 maintained stable turning properties even after being stored at room temperature and shielded from light for 6 months, and had excellent storage stability. ) l Shobu? 8 Po 2) Aoichi 1 Indication of the case Japanese Patent Application No. 5 B-87880 2 Name of the invention Photosensitive heat-resistant material 3 To representative Hitoshi Katayama of the person making the amendment Part 5, Subject of amendment (1) Description of the description tR6 of "Detailed Description of the Invention" Contents of Amendment (1) "Thujiridine" on page 10, line 9 of Memorandum M is corrected to "aziridine".
(2)同13頁下から2行の「ポリイミド前駆体に」を
削除する。(2) Delete "For polyimide precursor" from the bottom two lines of page 13.
以 上that's all
Claims (1)
炭素原子を含有するテトラカルボン酸二無水物残基を示
す)で示されるポリアミド酸と、一般式(2): (式中、R3は不飽和結合を有する1価の有機基を示す
)で示されるアジリジン化合物とを有機溶媒中で反応さ
せてなるポリイミド前駆体と、(b)一般式(8): %式%(8) (式中、R4は不飽和結合を少なくとも1個以上有する
1価の有機基を示し、Xは一0H1−O−0H2−OH
−OH2、−NOOのいずれかを示す)で示さ\1 れる不飽和誘導体と、 (Q)一般式(4): %式%(4) (式中、R5は2価の有機基を示す)で示されるビスア
ジド化合物 とを混合してなる感光性耐熱材料。 (2)前記アジリジン化合物をポリアミド酸中の側鎖の
カルボキシル基に対して0.2〜1.2当敏の範囲内で
配合する特許請求の範囲第(1)項記載の感光性耐熱材
料。 (8)前記不飽和誘導体をアジリジン化合物に対しく4
)前記ビスアジド化合物をポリアミド酸の1〜[Claims] (1) (a) General formula (1): (In the formula, R is a divalent organic group, and R2 is a tetracarboxylic dianhydride residue containing at least 2 carbon atoms. ) and an aziridine compound represented by general formula (2): (wherein R3 represents a monovalent organic group having an unsaturated bond) in an organic solvent. A polyimide precursor and (b) general formula (8): % formula % (8) (wherein R4 represents a monovalent organic group having at least one unsaturated bond, and X is 10H1-O- 0H2-OH
(represents either -OH2 or -NOO)) and (Q) general formula (4): % formula % (4) (in the formula, R5 represents a divalent organic group) A photosensitive heat-resistant material mixed with a bisazide compound represented by (2) The photosensitive heat-resistant material according to claim (1), wherein the aziridine compound is blended within a range of 0.2 to 1.2 molarity with respect to the side chain carboxyl group in the polyamic acid. (8) Adding the unsaturated derivative to the aziridine compound (4)
) The above bisazide compound is a polyamic acid.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8788083A JPS59212834A (en) | 1983-05-17 | 1983-05-17 | Photosensitive heat resistant material |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8788083A JPS59212834A (en) | 1983-05-17 | 1983-05-17 | Photosensitive heat resistant material |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59212834A true JPS59212834A (en) | 1984-12-01 |
JPH0159570B2 JPH0159570B2 (en) | 1989-12-18 |
Family
ID=13927177
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8788083A Granted JPS59212834A (en) | 1983-05-17 | 1983-05-17 | Photosensitive heat resistant material |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59212834A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6226825A (en) * | 1985-07-25 | 1987-02-04 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | Formation of flatening cover on substrate |
JPS62280736A (en) * | 1986-05-29 | 1987-12-05 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | Radiation sensitive resin composition |
-
1983
- 1983-05-17 JP JP8788083A patent/JPS59212834A/en active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6226825A (en) * | 1985-07-25 | 1987-02-04 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | Formation of flatening cover on substrate |
JPS62280736A (en) * | 1986-05-29 | 1987-12-05 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | Radiation sensitive resin composition |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0159570B2 (en) | 1989-12-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6159654A (en) | Negative photosensitive polymer composition of a thermosetting polymer precursor curable by cyclodehydration upon heating | |
JP2890213B2 (en) | Photosensitive polymer composition and pattern forming method | |
JPH08146608A (en) | Photosensitive resin composition and production of electronic device using the same | |
JPH07271034A (en) | Heat-resistant negative photoresist composition, photosensitive substrate and negative pattern forming method | |
JPH0159571B2 (en) | ||
JPS6026033A (en) | Photosensitive polyamide acid derivative and method of forming polyimide pattern on substrate therewith | |
EP0137655A2 (en) | Radiation-sensitive polymer composition | |
JPH0415226A (en) | Heat-resistant photosensitive hydroxyphenylated polymer | |
JPH0658534B2 (en) | Actinic radiation-sensitive polymer composition | |
JPS59212834A (en) | Photosensitive heat resistant material | |
JP3425343B2 (en) | Positive photosensitive polymer resin composition, pattern forming method using the same, and electronic component | |
JP3093055B2 (en) | Heat resistant negative photoresist composition, photosensitive substrate, and negative pattern forming method | |
JPH0895246A (en) | Heat resistant photoresist composition, photosensitive substrate and negative pattern forming method | |
JPS59212832A (en) | Photosensitive heat resistant material | |
JPS59212833A (en) | Photosensitive heat-resistant material | |
JPS621726A (en) | Photosensitive polyamic acid composition | |
JPH03115461A (en) | Photosensitive resin composition | |
JP2511651B2 (en) | How to form a pattern | |
JPH0153969B2 (en) | ||
JPH05224419A (en) | Forming method for polyimide fine pattern | |
JPS6121131A (en) | Photosensitive heat-resistant material | |
JPS62145240A (en) | Positive type photosensitive heat resistant material | |
JPH0337653A (en) | Chemical ray sensitive polymer composition | |
JPH07140663A (en) | Photosensitive resin composition, pattern forming method using he composition and production of electronic device by the method | |
JPH10158397A (en) | Polyimide precursor, its production, polyimide, its production and photosensitive resin composition |