JPS59212742A - Radiation fluoroscopic examination device - Google Patents

Radiation fluoroscopic examination device

Info

Publication number
JPS59212742A
JPS59212742A JP58087034A JP8703483A JPS59212742A JP S59212742 A JPS59212742 A JP S59212742A JP 58087034 A JP58087034 A JP 58087034A JP 8703483 A JP8703483 A JP 8703483A JP S59212742 A JPS59212742 A JP S59212742A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
calculation
memory
image
image memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58087034A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaji Fujii
正司 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58087034A priority Critical patent/JPS59212742A/en
Publication of JPS59212742A publication Critical patent/JPS59212742A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material

Abstract

PURPOSE:To examine the defective condition of an object to be examined over the whole body with the same accuracy, by performing integration for different numbers of times in accordance with the examining position of the object to be examined and collecting data by arranging them so that their S/N ratio is uniformized. CONSTITUTION:An arithmetic section 18 makes integrating calculation on a current image data of a TV for X-ray and the previously calculated data of the 1st picture image memory 22 for every picture element based on an operation command signal from a system controller 19. The calculation data are stored in the 1st picture image memory and, at the same time, the calculation data of the arithmetic section 18 are stored in an address corresponding to an examining position of the 2nd picture image memory 23, when the calculation is made for a prefixed times in accordance with the examining position of the object to be examined. By collecting data by uniformizing S/N ratios which are different from each other depending on the examining position of the object to be examined and performing level judgement, the defective condition of the object to be examined can be examined.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、放射線を用いて被検体の欠陥状態を検査する
放射線透視検査装置に係シ、特に被検体の検査エリアに
よって異なる画像データのSN比を画像処理によシ均一
にする放射線透視検査装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a radiographic inspection apparatus that uses radiation to inspect a defective state of a subject, and particularly relates to a radiographic inspection apparatus that uses radiation to inspect a defective state of a subject. This invention relates to a radiographic inspection apparatus that uses image processing to uniformize the image.

〔発明の技術的背景〕[Technical background of the invention]

一般に、放射線透視検査装置は、放射線(以下、放射線
をX線に特定して説明する)発生器から被検体にX線を
照射し、その被検体からの透視X線データをX線用テレ
ビジョン・システムで受けてビデオ信号つまり画像デー
タに変換した後、SN比改善のために画像メモリに逐次
格納されている前回ラインの画像データと今回ラインの
画像データとを対応する画素ごとに積分して再度画像メ
モリに格納すると言った画像処理を行ない、更にこの画
像処理データをレベル比較することによシ、被検体の欠
陥状態を検査するものである、。
In general, radiographic inspection equipment irradiates a subject with X-rays from a radiation (hereinafter, radiation is specifically explained as X-rays) generator, and transmits fluoroscopic X-ray data from the subject to an X-ray television. - After receiving it in the system and converting it into a video signal, that is, image data, the image data of the previous line and the image data of the current line, which are sequentially stored in the image memory, are integrated for each corresponding pixel in order to improve the S/N ratio. The defect state of the object is inspected by performing image processing such as storing it in the image memory again and then comparing the levels of this image processing data.

〔背景技術の問題点〕[Problems with background technology]

しかし、以上のような装置を用いて被検体を検査した場
合、次のような不具合が生ずる。例えば第1図に示すよ
うな被検体1の表面に同じ大永さの欠陥X、Y、Zが生
じている場合、上記装置によって得たSN比改善後のデ
ータは、第2図のようにシェージングを有し、かつX線
テレビジョン・システムの画面中央の欠陥信号Yが大き
く、画面周辺の欠陥信号X、Zが小さくなる。つま如、
画面中央では8N比が良く、画面周辺ではSN比が悪い
ものとなる。これは、X線発生器から照射されたX線の
透過量が被検体1の中央エリアはど大きいこと、X線用
テレビジョン・システムのX線用IIは中央部はど変換
効率が高いこと、レンジの収斂は中央部が少ないことな
どが要因として考えられている。
However, when a subject is examined using the above-described apparatus, the following problems occur. For example, if defects X, Y, and Z of the same length occur on the surface of the object 1 as shown in FIG. In an X-ray television system that has shading, the defect signal Y at the center of the screen is large, and the defect signals X and Z at the periphery of the screen are small. Tsuma-nyo,
The 8N ratio is good at the center of the screen, but the SN ratio is poor at the periphery of the screen. This is because the amount of X-rays transmitted from the X-ray generator is large in the central area of the subject 1, and the conversion efficiency of the X-ray television system II is high in the central area. , the convergence of ranges is thought to be due to the fact that there is little in the center.

従って、第2図Aの画像データからシェージングを取シ
除いた第2図Bの画像データを、スレッショルドレベル
Llでレベル比較シテ欠陥判定を行なうと第2図りのよ
うな欠陥X/ 、 Y’。
Therefore, when the image data in FIG. 2B, obtained by removing shading from the image data in FIG.

Z’が?ii、同様にスレッショルドレベルL2で比較
して欠陥判定を行なうと第2図Cのような欠陥Y′が得
られる。このこと1工、被検体1の表面に生じている欠
陥x、y 、zの大きさが全く同じであって・も、被検
体1の検査位置によシ、欠陥x’、y’、z’o大きさ
くΔ1+>Δtz)が異なってしまい、各検査位置相互
間で均一な欠陥検査精度が得られないという問題があっ
た。
Z'? ii. Similarly, if a defect is determined by comparing at the threshold level L2, a defect Y' as shown in FIG. 2C is obtained. This means that even if the sizes of the defects x, y, and z occurring on the surface of the object 1 are exactly the same, the defects x', y', and z may differ depending on the inspection position of the object 1. There is a problem in that the defect inspection accuracy is not uniform between the inspection positions because the defects are different in size (Δ1+>Δtz).

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上記実情にかんがみてなされたもので、被検体
の検査位置の相違にも拘らず均一なSN比で画像データ
を収集し得、よって被検体全体にわたって均一な検査精
度で欠陥状態を検査できる放射線透視検査装置を提供す
ることにある。
The present invention has been developed in view of the above-mentioned circumstances, and it is possible to collect image data with a uniform S/N ratio despite differences in the inspection position of the object, thereby inspecting defective states with uniform inspection accuracy over the entire object. The purpose of the present invention is to provide a radiographic inspection device that can perform the following tasks.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、演算指令信号に基づいて演算部がX線用テレ
ビジョン・システムの今回の画像データと演算ごとに記
憶されている第1の画像メモリの前回の演算データとを
画素ごと或いはラインごとに積分演算し、その演算デー
タを第1の画像メモリに記憶するとともに、被検体の検
査位置に応じて予め定めた演算回数になったとき、第2
の画像メモリの前記検査位置に対応するアドレスに前記
演算部の演算データを記憶し、被検体の検査位置によっ
て異なるSN比を均一にしてデータを収集し、レベル判
定を行なって被検体の欠陥状態を検査する放射線透視検
査装置である。
In the present invention, based on a calculation command signal, a calculation section calculates current image data of an X-ray television system and previous calculation data of a first image memory stored for each calculation pixel by pixel or line by line. The calculation data is stored in the first image memory, and when the number of calculations reaches a predetermined number according to the inspection position of the subject, the second
The calculation data of the calculation unit is stored in the address corresponding to the inspection position of the image memory of the object, the data is collected by uniformizing the S/N ratio that varies depending on the inspection position of the object, and the level is determined to determine the defect state of the object. This is a radiofluoroscopic inspection device that inspects.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

第3図は本発明に係る放射線透視検査装置の一実施例を
示す構成図である。同図において11および12はX線
発生器およびX線用テレビジョン・システムであって、
これらの間に被検体13が配6される。X線用テレビジ
ョン・システム12は、X線発生器11よシ被検体13
を経て入射される透視X線データを受けて画像データ(
ビデオ信号)に変換して出力するもので、具体的には透
視X線データを電子に変換し更に可視光像に変換するX
線用1.I 1.21、レンズ122およびこのレンズ
122を介して入力された可視光像を撮像して画像デー
タとして出力するテレビジョンカメラ123によって構
成されている。14はX線用テレビジョン・システム1
2よシ出力された画像データを増幅する増幅回路であっ
て、この回路14の増幅出力はA−Dコンバータ15お
よび同期分離回路16に送出される。この同期分離回路
16は、X線用テレビジョン・システム13から出力さ
れるスキャン信号を含む画像データから水平同期信号H
Dおよび垂直同期信号VDを分離して取シ出し、これら
の信号HD 、VDをメモリ・コントローラ17に送る
。一方、A−Dコンバータ15は、水平走査による水平
ライン方向の直列化されたデータのレベルを各画素ごと
に例えば8ビツトの256階調の数値に変換した後、演
算部18に送っている。19は装置各部に演算指令信号
を与えるシステムコントローラであって、ここから出力
された信号はメモリ・コントローラ17、演算部18、
メモリ指定部20および画像処理部21に供給される。
FIG. 3 is a configuration diagram showing an embodiment of a radiographic inspection apparatus according to the present invention. In the figure, 11 and 12 are an X-ray generator and an X-ray television system,
A subject 13 is placed 6 between them. The X-ray television system 12 has an X-ray generator 11 and a subject 13.
The image data (
Specifically, it converts fluoroscopic X-ray data into electrons and then converts them into visible light images.
For lines 1. I1.21, a lens 122, and a television camera 123 that captures a visible light image input through the lens 122 and outputs it as image data. 14 is an X-ray television system 1
The amplification circuit 14 amplifies the output image data, and the amplified output of this circuit 14 is sent to an A-D converter 15 and a synchronous separation circuit 16. This synchronization separation circuit 16 extracts a horizontal synchronization signal H from the image data including the scan signal output from the X-ray television system 13.
D and vertical synchronization signal VD are separated and sent to the memory controller 17. On the other hand, the A-D converter 15 converts the level of serialized data in the horizontal line direction by horizontal scanning into a numerical value of, for example, 8 bits and 256 gradations for each pixel, and then sends the converted data to the calculation unit 18. Reference numeral 19 denotes a system controller that provides calculation command signals to each part of the device, and the signals outputted from this are sent to the memory controller 17, the calculation section 18,
The data is supplied to the memory specifying section 20 and the image processing section 21.

つまシ、メモ1月コントローラ17は、システム・コン
トローラ19の指令のもとに、同期分離回路16からの
同期信号に基づいて第1の画像メモリ22に書込み指令
を与えて演算部18からの各ラインの画素ごとのデータ
を記憶する。演算部18はシステム・コントローラ19
からの積分指令に基づいて同一ラインの前回の特定画素
データとA−Dコンバータ15からの今回の該特定画素
データ(X線用テレビジョン・システムの画像データは
静止画像とする)とを加算などの積分処理を行なって、
それを再度画像メモリ22に書き込んでいく。メモリ指
定部20は、予め第4図に示す被検体13のエリ4アA
、B、Cごとに積分などの演算回数が設定され、システ
ム・コントローラ19の信号から演算回数を知多、演算
回数が設定回数どなったときにメモリ・コントローラ1
7ヘエリア範囲を定めた信号を送るものである。メモリ
・コントローラ17は、メモリ指定部20の出力に基づ
いてアドレス信号を出力して演算部18の演算結果のデ
ータを第2の画像メモリ23に取シ込むように制御する
Under the command of the system controller 19, the controller 17 gives a write command to the first image memory 22 based on the synchronization signal from the synchronization separation circuit 16, and reads each output from the calculation section 18. Stores data for each pixel of a line. The calculation unit 18 is a system controller 19
Adding the previous specific pixel data of the same line and the current specific pixel data from the A-D converter 15 (the image data of the X-ray television system is a still image) based on the integration command from Perform the integral process of
It is then written into the image memory 22 again. The memory specifying unit 20 specifies in advance the area 4A of the subject 13 shown in FIG.
The number of calculations such as integration is set for each of , B, and C. The number of calculations is determined from the signal from the system controller 19, and when the number of calculations reaches the set number, the memory controller 1
This is to send a signal specifying the area range to 7. The memory controller 17 outputs an address signal based on the output of the memory specifying section 20 and controls the data of the calculation result of the calculation section 18 to be input into the second image memory 23 .

この動作は、メモリ指定部20に設定された最大の回数
に達するまで演算が繰返えされる。従って、第2の画像
メモリ23には各エリアA。
This operation is repeated until the maximum number of times set in the memory specifying section 20 is reached. Therefore, each area A is stored in the second image memory 23.

B、Cごとに異なった演算回数のデータ、つまシ各エリ
アA、B、Cごとに異なる積分量によってSN比が均一
とされたデータが格納される。
Data with a different number of calculations for each area B and C, and data whose S/N ratio is made uniform by different integration amounts for each area A, B, and C are stored.

前1己画像処理部21は、第2の画像メモリ23のデー
タを読出してシェージング除去処理およびレベル比較を
行なって欠陥有無を判定し、図示していないが判定結果
に基づいて欠陥が有れば例えば被検体13を排除するな
どの信号を出力する。24はD−Aコンバータ1.z 
s ハ増IM回路であり、この増幅出力は図示していな
いが画像データとして表示部などに送られる。
The first image processing unit 21 reads data from the second image memory 23, performs shading removal processing and level comparison, and determines the presence or absence of a defect, and if there is a defect, based on the determination result (not shown). For example, a signal indicating that the subject 13 is to be excluded is output. 24 is a D-A converter 1. z
s C is an amplified IM circuit, and its amplified output is sent to a display section as image data (not shown).

次に、以上のように構成された装置の作用を説明する。Next, the operation of the device configured as above will be explained.

例えば円形状の被検体13が第4図のように内側から外
側に向ってエリアA、C。
For example, a circular object 13 is divided into areas A and C from the inside to the outside as shown in FIG.

Bに分けたと考えると、エリアAは第5図Aに示すよう
に半径rAの円形体であシ、エリア0は第5図Cのよう
に内径がr。1、外径がrc2を持つ環状体でアシ、エ
リアBは第5図Bのように内径がrB+ 、外径がrB
□を持った環状体となる。そこで、各エリアA、B、C
ごとに予めSN比の差を求め、各エリアA、B、Cの加
算演算回数を決め、メモリ指定部20へ各エリアA、B
、Cごとに設定する。このときのエリアA、B、Cの設
定は、中心からの距離と加算演算回数Nとを指定する。
Considering that it is divided into B, area A is a circular body with a radius rA as shown in FIG. 5A, and area 0 has an inner diameter r as shown in FIG. 5C. 1. An annular body with an outer diameter of rc2, area B has an inner diameter of rB+ and an outer diameter of rB as shown in Figure 5B.
It becomes a ring-shaped body with □. Therefore, each area A, B, C
The difference in SN ratio for each area is determined in advance, the number of addition operations for each area A, B, and C is determined, and the number of addition operations for each area A, B, and C is determined in advance.
, C. The settings for areas A, B, and C at this time specify the distance from the center and the number of addition operations N.

例えばエリアA :r A 。For example, area A:rA.

N1 、エリアB: rBl   rB、、、N2、エ
リアc:r、、   rct、Ns とする。
N1, area B: rBl rB, , N2, area c: r,, rct, Ns.

以上のようにしてメモリ指定部20へ所定の値を設定し
た後、システム・コントローラ19から各部17.18
.20等へ所要の指令を与える。今、N1=2、N、−
4、N、=3とし、システム・コントローラ19がら一
回目の演算指令が発せられると、演算部18は第1の画
像メ−E:す22のデータとA−Dコンバータ15の出
力データとを各ラインの各画素ごとに加算などの積分演
算を行ないながらメモリ・コントローラ17の制御に基
づいて第1の画像メモリ22へ記憶されていく。このと
き、実際は前回のデータがメモリ22内に存在しないの
で1.A−Dコンバータ15のデータが第1の画像メモ
リ22に順次記憶されていくことになる。
After setting a predetermined value in the memory specifying section 20 as described above, the system controller 19 sends a message to each section 17 and 18.
.. Give the necessary commands to 20 etc. Now, N1=2, N, -
4, N, = 3, and when the system controller 19 issues the first calculation command, the calculation unit 18 combines the data of the first image mail 22 and the output data of the A-D converter 15. The data is stored in the first image memory 22 under the control of the memory controller 17 while performing integral calculations such as addition for each pixel of each line. At this time, the previous data does not actually exist in the memory 22, so 1. The data from the A-D converter 15 is sequentially stored in the first image memory 22.

次に、システム・コントローラ19がら2回目の積分演
算指令が発せらゎる。これを受けてメモリ指定部2oは
エリアAの設定回数に達したと判断し、予め指定された
エリア範四の信号つまり中心からの距離rAに相応する
信号がメモリ・コントローラ17に送られる。ここで、
メモリ・コン)0−ラ17はメモリ指定部2゜からの信
号に基づいて第2の画像メモリ23へアドレス信号を送
る。一方、演算部18ば2回目の積分演算指令に基づい
て2回目の走査によるA−、−Dコンバータ15の出力
と1回目の走査によって得た第1の画像メモリ22のデ
ータとを同一ラインの特定画素ごとに順次加算などの積
分演算を行ないながら第1の画像メモリ22に書き込む
。第2の画像メモリ23はメモリ・コントローラ17か
ら指定されたアドレスのときのみ演算結果のデータを指
定アドレスを記憶していく。
Next, the system controller 19 issues a second integral calculation command. In response to this, the memory specifying unit 2o determines that the set number of times for area A has been reached, and sends a signal for a prespecified area range 4, that is, a signal corresponding to the distance rA from the center to the memory controller 17. here,
The memory controller 17 sends an address signal to the second image memory 23 based on the signal from the memory specifying section 2. On the other hand, the calculation unit 18 converts the output of the A-, -D converter 15 from the second scan and the data in the first image memory 22 obtained from the first scan on the same line based on the second integral calculation command. The data is written into the first image memory 22 while sequentially performing integral calculations such as addition for each specific pixel. The second image memory 23 stores calculation result data at the designated address only when the address is designated by the memory controller 17.

続いて、システム・コントローラ19かう3回目および
4回目の積分演算指令を発すると、3回目にあってはエ
リアCのデータが第2の画像メモリ23に取シ込まれ、
4回目のときはエリアBのデータが同様にして第2の画
像メモリ23に取)込まれることになる。これによって
、第2の画像メモリ23には各エリアA、B、C間でS
N比が均一となったデータが得られたことになる。従っ
て、画像処理部21においてシェージング除去後のデー
タは第6図Aのよう(Cなシ、これをあるシュレショル
ドレベルで比較し波形整形すると、例えば第1図のよう
な欠陥X、Y、Zをもった被検体の場合には第6図Bの
ように同一寸法の欠陥として取シ出すことができる。つ
まシ、欠陥x、y、zが同じ大きさの場合、第6図Bの
ようにΔtx−Δty−Δtzの幅をもった欠陥として
取や出せるものである。
Subsequently, when the system controller 19 issues the third and fourth integral calculation commands, the data of area C is imported into the second image memory 23 for the third time.
At the fourth time, the data of area B will be taken into the second image memory 23 in the same way. As a result, the second image memory 23 stores S between each area A, B, and C.
This means that data with a uniform N ratio has been obtained. Therefore, the data after shading removal in the image processing unit 21 is as shown in FIG. In the case of a specimen with defects, it can be extracted as a defect of the same size as shown in Figure 6B.If the pick, defect x, y, and z are the same size, the defect can be extracted as shown in Figure 6B. This can be detected as a defect with a width of Δtx - Δty - Δtz.

なお、本発明は、円形および環状体のエリアを指定した
が、第2の画併、メモリ23へ記憶するときのアドレス
指定を変えれば、任意のエリアについて加算演算回数を
変えて同メモリ23に記憶させることができる。また、
上記実施例ではA−Dコンバータ15でディジタル化し
て所要の処理を行なったが、第1および第2の画イ:5
テメモリ22.23に畜積管などのアナログメモリを使
用すれば、ディジタル変換せずにアナログ信号を用いて
所要の処理を行なうことができる。また、各エリアA、
B、Cごとの加算演算データは第2の画像メモリ23に
一旦記憶させたが、直接データ処理部21へ送って所定
の処理を行なってもよいものである。また、今回データ
と前回データとを画素ごとに加算などの積分演算を行な
ったが、−ラインごとに突合せ加原演算を行なってもよ
い。また、X線以外の放射線でもよいことは言うまでも
なり)。その他、本発明は上記実施例に限らず種々変形
して実施できる。
Note that in the present invention, circular and annular areas are designated, but by changing the address designation when storing in the memory 23 in addition to the second image, it is possible to change the number of addition operations for any area and store it in the same memory 23. It can be memorized. Also,
In the above embodiment, the A-D converter 15 digitizes the data and performs the necessary processing.
If an analog memory such as an accumulator is used as the memory 22 or 23, the required processing can be performed using analog signals without digital conversion. In addition, each area A,
Although the addition calculation data for each of B and C is temporarily stored in the second image memory 23, it may also be sent directly to the data processing section 21 for predetermined processing. Further, although an integral operation such as adding the current data and the previous data is performed for each pixel, a matching calculation may be performed for each -line. It goes without saying that radiation other than X-rays may also be used). In addition, the present invention is not limited to the above embodiments, and can be implemented with various modifications.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳Fj2したように本発明によれば、被検体の検査
位置に応じて異なる回数で積分を行なってSN比が均一
になるように揃べてデータを収集するようにしたので、
被検体の欠陥状態を全体にわたって同一の精度で検査で
き、従来のように検査位置によって欠陥を見逃すような
ことがなくなる放射線透視、検、査装置を折供できる。
As described above in detail Fj2, according to the present invention, data is collected by performing integration at different times depending on the inspection position of the subject and aligning them so that the S/N ratio is uniform.
It is possible to provide a radiographic, inspection, and inspection device that can inspect the entire defect state of the object with the same accuracy and eliminates the possibility of overlooking defects depending on the inspection position as in the past.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は被検体の欠陥状態を示す斜視図、第2図は従来
装置の不具合を説明する波形図、紀3図は本発明に係る
放射線透視検査装置の一実施例を示す構成図、第4図お
よび第5図(4)、(B)。 (e)は被検体を複数のエリアに分けた場合の図、第6
図は本装置による処理データを説明する波形図である。 11・・・X線発生器、12・・・X線用テレビジョン
・システム、13・・・被検体、16・・・同期分限回
路、17・・・メモリ・コントローラ、18−°・演m
 Hll 9・・・システム・コントローラ、20−メ
モリ指定部、21・・・画像処理部、22・・・泥1の
画像メモリ、23・・・第2の画像メモリ。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図
Fig. 1 is a perspective view showing a defective state of an object to be inspected; Fig. 2 is a waveform diagram illustrating a malfunction of a conventional device; Fig. 3 is a configuration diagram showing an embodiment of a radiographic inspection device according to the present invention; 4 and 5 (4), (B). (e) is a diagram when the subject is divided into multiple areas,
The figure is a waveform diagram illustrating data processed by this device. DESCRIPTION OF SYMBOLS 11... X-ray generator, 12... Television system for X-rays, 13... Subject, 16... Synchronous dividing circuit, 17... Memory controller, 18-°・performance m
Hll 9...System controller, 20-Memory specifying unit, 21...Image processing unit, 22...Mud 1 image memory, 23...Second image memory. Applicant's representative Patent attorney Takehiko Suzue Figure 1 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 放射線を被検体に照射し、その被検体から透過されてく
る透視放射線データを放射線用テレビジョン・システム
によってスキャンしながら画像データに変換して出力す
るデータ変換手段と、演石1指令信号を出力するシステ
ム・コントローラと、このシステム・コントローラノ演
算指令信号を受けて前記データ変換手段によって得た今
回の画像データと第1の画像メモリに記憶されている前
回の演算データとを対応する画素ごと或いは対応するラ
インごとに積分演算してその演算データを再朋第1の画
像メモリに記憶する演算部と、前記被検体の検査位置に
応じて演算回数および検査位置を表わす信号が設定サレ
、前記システム・コントローラからの演算指令に基づい
て定め設定された演算回数に達するごとに検査位置を表
わす信号を出力するメモリ指定部と、このメモリ指定部
からの出力信号に対応するアドレスに前記演算部の演算
データを記憶する第2の画像メモリとを備え、被検体の
検査位置によって異なる画像データの8N比を前記演算
回数によって均一にすることを特徴とする放射線透視検
査装置。
A data conversion means that irradiates a subject with radiation and converts the fluoroscopic radiation data transmitted from the subject into image data while scanning it with a radiation television system and outputs it, and outputs a 1-stone command signal. A system controller receives a calculation command signal and converts the current image data obtained by the data conversion means and the previous calculation data stored in the first image memory for each corresponding pixel or The system includes a calculation section that performs an integral calculation for each corresponding line and re-stores the calculation data in a first image memory, and a signal that represents the number of calculations and the examination position according to the examination position of the object. - A memory designation section that outputs a signal representing the inspection position every time a preset number of calculations is reached based on the calculation command from the controller, and a memory designation section that outputs a signal representing the inspection position based on the calculation command from the controller, and the calculation of the calculation section is sent to the address corresponding to the output signal from this memory designation section. a second image memory for storing data; and a radiographic fluoroscopic examination apparatus, characterized in that the 8N ratio of the image data, which varies depending on the examination position of the subject, is made uniform by the number of calculations.
JP58087034A 1983-05-18 1983-05-18 Radiation fluoroscopic examination device Pending JPS59212742A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58087034A JPS59212742A (en) 1983-05-18 1983-05-18 Radiation fluoroscopic examination device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58087034A JPS59212742A (en) 1983-05-18 1983-05-18 Radiation fluoroscopic examination device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59212742A true JPS59212742A (en) 1984-12-01

Family

ID=13903661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58087034A Pending JPS59212742A (en) 1983-05-18 1983-05-18 Radiation fluoroscopic examination device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59212742A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0375548A (en) * 1989-08-16 1991-03-29 Ratotsuku Syst Eng Kk Crystal-defect inspecting apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0375548A (en) * 1989-08-16 1991-03-29 Ratotsuku Syst Eng Kk Crystal-defect inspecting apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000030652A (en) Observation of sample and device thereof
JP2005287661A (en) Radiographic imaging apparatus
US6215900B1 (en) Image data processing for digital x-ray detectors
JPH07122902B2 (en) Cell position detector
JPH11146277A (en) X-ray diagnostic system
WO2021189490A1 (en) X-ray flat panel detector and image correction method therefor
JPS59212742A (en) Radiation fluoroscopic examination device
JPH1114553A (en) Method and apparatus for output of defect sample data in visual defect inspection device
JPH1144764A (en) X-ray solid plane detector and multi directional photofluorographic device
JP2000097881A (en) X-ray inspection device, image processor for x-ray inspection, and storage medium with image processing program for x-ray inspection stored
EP0599335A2 (en) Cylindrical container inner surface tester
JP2905232B2 (en) Optical inspection equipment for piping
JPH0411822B2 (en)
JPH03137548A (en) Radioscopic apparatus
JPH05272940A (en) Method and apparatus for inspecting pattern
JP2005167773A (en) Image processing method and device
JPH10201745A (en) X-ray photographing device
KR100282000B1 (en) Inspection system with dual vision window and dual vision window display method
JPH03261810A (en) Outer appearance inspection apparatus
KR100281876B1 (en) Inspection method and apparatus for TV screen
JP3494815B2 (en) Video imaging device
JP2729481B2 (en) Linear array sensor image failure detection device
JPH0244398B2 (en)
JPH06169908A (en) X-ray image diagnostic system
KR100278670B1 (en) Inspection method and apparatus for TV screen