JPS59190640A - 平膜試験器 - Google Patents
平膜試験器Info
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- JPS59190640A JPS59190640A JP6363483A JP6363483A JPS59190640A JP S59190640 A JPS59190640 A JP S59190640A JP 6363483 A JP6363483 A JP 6363483A JP 6363483 A JP6363483 A JP 6363483A JP S59190640 A JPS59190640 A JP S59190640A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/08—Investigating permeability, pore-volume, or surface area of porous materials
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、逆浸透膜および限外i濾過膜による液体の
分離膜において、ゲル分極を生せしめる溶液またはスラ
リー液の透過性能を試験するための平膜試験器に関する
ものである。
分離膜において、ゲル分極を生せしめる溶液またはスラ
リー液の透過性能を試験するための平膜試験器に関する
ものである。
従来、この種の試験器の方式は、回分式と連続式とに大
別されており、回分式のものは、例えば第1図の如く試
料膜1の近傍で回転する攪拌翼2を備えた筒状タンク3
中に原液4を入れ、流入口5より窒素ガスを注入加圧し
て試験をする。この装置では連続供給操作が無く、攪拌
の度合い、例えば攪拌翼の形、位置、および回転数等に
よって、溶液またはスラリーの濾過速度が変化するので
、安定したデータを得難いだけてなく、連続操作を必・
反とする実際の処理装置とは、片面供給方式が異なると
□共に、試験時間の経過C・こつれて供試液の濃度が変
化する欠点を有していた。
別されており、回分式のものは、例えば第1図の如く試
料膜1の近傍で回転する攪拌翼2を備えた筒状タンク3
中に原液4を入れ、流入口5より窒素ガスを注入加圧し
て試験をする。この装置では連続供給操作が無く、攪拌
の度合い、例えば攪拌翼の形、位置、および回転数等に
よって、溶液またはスラリーの濾過速度が変化するので
、安定したデータを得難いだけてなく、連続操作を必・
反とする実際の処理装置とは、片面供給方式が異なると
□共に、試験時間の経過C・こつれて供試液の濃度が変
化する欠点を有していた。
一方、従来の連続式平膜試験器例えば第2図の装置では
試料膜6を2枚の盤7,8間QこOリングを介して挾み
原液は入口11より入れ出口12より流出さぜるので、
この問題は逃れられるものの、両方共流路設定Qこ問題
がある。即ち通常Oリングだけで膜面をシールしている
ので、締め加減で、流路高さを規制することになり、操
作する人、Oリングの固さ、膜の固さ等によって流路高
さが変化し、この結果、ゲル層を形成するf4液系では
透水性能に大きく影響を与えていた。さらtこ、この場
合、第3図Fこ原液の流線を矢印で示したアヘ原液の流
路長さをどの液流に苅しても等しくとることが難かしく
、実際の処理装置内の流れとは異なり膜の各点における
特性が異なる懸念があり測定値の信頼性が低いか、細・
しの注意を払って測定せねばならないわずられしさがあ
った。
試料膜6を2枚の盤7,8間QこOリングを介して挾み
原液は入口11より入れ出口12より流出さぜるので、
この問題は逃れられるものの、両方共流路設定Qこ問題
がある。即ち通常Oリングだけで膜面をシールしている
ので、締め加減で、流路高さを規制することになり、操
作する人、Oリングの固さ、膜の固さ等によって流路高
さが変化し、この結果、ゲル層を形成するf4液系では
透水性能に大きく影響を与えていた。さらtこ、この場
合、第3図Fこ原液の流線を矢印で示したアヘ原液の流
路長さをどの液流に苅しても等しくとることが難かしく
、実際の処理装置内の流れとは異なり膜の各点における
特性が異なる懸念があり測定値の信頼性が低いか、細・
しの注意を払って測定せねばならないわずられしさがあ
った。
本発明者等は種々検討の結果本発明に到達した。即ち夫
々原液と濾過液との流通機構を有し、当接、緊締出来る
2枚の盤の間に、分離膜を挾持てきる分離膜試験器にお
いて、第一の盤は、流路として矩形の凹所とその相対す
る二辺にあって該凹所の深さの2倍以上の略一定深さを
有し夫々中央部に盤の反対側の面に連通した孔を有す、
るー、対の分配溝と該凹所及び溝と接することなくこれ
らを囲む0リング溝に嵌合されたOリングとを有し、第
二の盤は第一の盤と当接した時Q?−第一の盤の分配溝
と正確に対向し盤の反対側面に連通した孔を有する一対
の分配溝と第一の盤の0リング溝より外側に離れた位置
に設けたO IJソング溝嵌合されたO IJソング有
し、外側の0リングより大きい試料膜を挾持するよう?
こしたことを特徴とする平膜試験器。
々原液と濾過液との流通機構を有し、当接、緊締出来る
2枚の盤の間に、分離膜を挾持てきる分離膜試験器にお
いて、第一の盤は、流路として矩形の凹所とその相対す
る二辺にあって該凹所の深さの2倍以上の略一定深さを
有し夫々中央部に盤の反対側の面に連通した孔を有す、
るー、対の分配溝と該凹所及び溝と接することなくこれ
らを囲む0リング溝に嵌合されたOリングとを有し、第
二の盤は第一の盤と当接した時Q?−第一の盤の分配溝
と正確に対向し盤の反対側面に連通した孔を有する一対
の分配溝と第一の盤の0リング溝より外側に離れた位置
に設けたO IJソング溝嵌合されたO IJソング有
し、外側の0リングより大きい試料膜を挾持するよう?
こしたことを特徴とする平膜試験器。
かかる構造にすること(こよって原液の流路は第一の盤
の矩形の凹所とその相対する二辺に設けた深い分配溝に
よって深さ、長さが略々規制され、外側のOリングより
大きい試料膜を挾持させるので挾持面積が大きく試料膜
が殆んど押しつぶされず、矩形の凹所への分離膜の膨出
が少なく原流の流路の深さを浅くする懸念が少ない。精
密には挾持面積は約30 cd以上とすることによって
なお更試料膜の押しつぶれが無く試料膜、試験器による
ばらつきが少なくなる。
の矩形の凹所とその相対する二辺に設けた深い分配溝に
よって深さ、長さが略々規制され、外側のOリングより
大きい試料膜を挾持させるので挾持面積が大きく試料膜
が殆んど押しつぶされず、矩形の凹所への分離膜の膨出
が少なく原流の流路の深さを浅くする懸念が少ない。精
密には挾持面積は約30 cd以上とすることによって
なお更試料膜の押しつぶれが無く試料膜、試験器による
ばらつきが少なくなる。
又略々間じ厚み、同じ大きさの試料膜を継続的に試験す
るような場合は試料膜厚と略々同じ厚みのスペーサーを
両盤間の膜の挟持部以外の飼処に設けることによって両
盤の締付は強さシこよって流路の深さがd動することは
ない。
るような場合は試料膜厚と略々同じ厚みのスペーサーを
両盤間の膜の挟持部以外の飼処に設けることによって両
盤の締付は強さシこよって流路の深さがd動することは
ない。
この場合分配溝間の矩形部分の外側で内側Oリングの内
側の部分の試料膜と第一の盤との隙間は殆んどない。仮
に試料膜として若干薄いものがあった場合て′も0リン
グで液流が止められているため隙間はデッドスペースに
なり測定結果に影響は与えない”。より薄い試料膜の場
合には試料膜に布、多孔性フィルム等を重ねて厚みな略
々スペーサーの厚みシこ合せて使用すればよい。
側の部分の試料膜と第一の盤との隙間は殆んどない。仮
に試料膜として若干薄いものがあった場合て′も0リン
グで液流が止められているため隙間はデッドスペースに
なり測定結果に影響は与えない”。より薄い試料膜の場
合には試料膜に布、多孔性フィルム等を重ねて厚みな略
々スペーサーの厚みシこ合せて使用すればよい。
以上の如く本発明は従来装置の欠点を排除して、下記の
利点を有する。
利点を有する。
(1) 膜面上の流速を一定に規制できる。
(2) 膜面上のデッドスペースを極めて小さくとれ
(3) 有効膜面積を正確に規制し得て(4) 測
定データを簡単tこ実装置へ応用でき(5) 流体の
#縮eこよる濃度変化を小さくするため、流路の濃縮に
よる濃度変化を小さくするため、流路長さを極力短かく
出来る。
定データを簡単tこ実装置へ応用でき(5) 流体の
#縮eこよる濃度変化を小さくするため、流路の濃縮に
よる濃度変化を小さくするため、流路長さを極力短かく
出来る。
この発明を図示の実施例を参照し、以下に説明する。
第4図に示すようeこ、この発明の平膜試験器はスペー
サー28.28’で当接緊締出来る第1の盤13と第2
の盤14とを具えこれらは共に耐触性および耐圧性を有
するヌテンレヌ鋼やチタン合金又はアクリル樹脂等の1
ラスチノクス材料から成っており、これに加え流体シー
ルのためQこ0リング等の弾性体とボルト、ナンドの如
き締め貝及び必要に応し多孔値の金属・プラヌチノクス
・セラミック等から構成される。第1の盤13は第4図
の++) b)に示すように、その内面に原液流路を構
成するための矩形の凹所15とその411文1する二辺
にある流体を均一に分配させるための一対の溝部16.
16’と盤の反対側に貫通した原液導入口17あるいは
原液導出に18と原液流れをシールするためのOリンク
溝19とOリング30、締め具入2oを備えており、更
に矩形状の凹所15と内側01Jング溝19+こ挾まれ
た空所部分21と2つの盤を密着させ指定の流路高さを
維持させるのに必要な当接部22と」二、下板の位置決
めを正確にしかも迅速に行わしめる凹部23とがら成る
。また第2の盤は、第4図のCの如く透過液を合一させ
る溝24.24’と透過液を導出させる孔25.25’
と透過液を確実に集めるために必要なOリングの溝26
とOリング31と上、下板を密着させ指定の流路高さを
維持しかっ当接部22に対応して膜を支持するのに必要
な平面部と締め具入と両盤の位置を正確eこしかも迅速
tこ行わしめる凸部27望ましくはOリング溝26の外
側29は内側より低くしておくことからなる。これらの
図をこおいて空所部分21と当接部22の面はOIJン
グ溝をはさんで同一平面とし、実際の流路高さく h
e )は、矩形凹部15の深さくha)とスペーサー2
8.28′の高さくill])と試験に用いる膜厚(1
団])とから決められる。さらにスペーサー28.28
′の高さく 1+ b )は膜厚(hm)によって決め
ておくものでh b * b m −b c の式(こおいて押し付は高さく 1+ c )を通常5
〜10μとするのが最適である。
サー28.28’で当接緊締出来る第1の盤13と第2
の盤14とを具えこれらは共に耐触性および耐圧性を有
するヌテンレヌ鋼やチタン合金又はアクリル樹脂等の1
ラスチノクス材料から成っており、これに加え流体シー
ルのためQこ0リング等の弾性体とボルト、ナンドの如
き締め貝及び必要に応し多孔値の金属・プラヌチノクス
・セラミック等から構成される。第1の盤13は第4図
の++) b)に示すように、その内面に原液流路を構
成するための矩形の凹所15とその411文1する二辺
にある流体を均一に分配させるための一対の溝部16.
16’と盤の反対側に貫通した原液導入口17あるいは
原液導出に18と原液流れをシールするためのOリンク
溝19とOリング30、締め具入2oを備えており、更
に矩形状の凹所15と内側01Jング溝19+こ挾まれ
た空所部分21と2つの盤を密着させ指定の流路高さを
維持させるのに必要な当接部22と」二、下板の位置決
めを正確にしかも迅速に行わしめる凹部23とがら成る
。また第2の盤は、第4図のCの如く透過液を合一させ
る溝24.24’と透過液を導出させる孔25.25’
と透過液を確実に集めるために必要なOリングの溝26
とOリング31と上、下板を密着させ指定の流路高さを
維持しかっ当接部22に対応して膜を支持するのに必要
な平面部と締め具入と両盤の位置を正確eこしかも迅速
tこ行わしめる凸部27望ましくはOリング溝26の外
側29は内側より低くしておくことからなる。これらの
図をこおいて空所部分21と当接部22の面はOIJン
グ溝をはさんで同一平面とし、実際の流路高さく h
e )は、矩形凹部15の深さくha)とスペーサー2
8.28′の高さくill])と試験に用いる膜厚(1
団])とから決められる。さらにスペーサー28.28
′の高さく 1+ b )は膜厚(hm)によって決め
ておくものでh b * b m −b c の式(こおいて押し付は高さく 1+ c )を通常5
〜10μとするのが最適である。
以上のことから流路高さく h e )は次式によって
計算される。
計算される。
h e =h a +Il b =b mさらに、分配
溝間の距離(L)即ち流路長さは、極力短かい方が、濃
度変化の少ないデータが得られ易く、通常L=i〜5側
が望ましい。一方分配溝の長さくW)即ち流路幅は、原
液分配が均一にとれる範囲で極ノJ艮<した方が、P液
を・多く得られ、測定を容易Qこする。
溝間の距離(L)即ち流路長さは、極力短かい方が、濃
度変化の少ないデータが得られ易く、通常L=i〜5側
が望ましい。一方分配溝の長さくW)即ち流路幅は、原
液分配が均一にとれる範囲で極ノJ艮<した方が、P液
を・多く得られ、測定を容易Qこする。
なお、スペーサー28.28′を設けない場合は0リン
グ内側と同一平面としOIJング外側29も内側と同一
平面とする。約30 cd以上の面積で試料膜を挾持す
るよう周辺部の面積を大きくとることによってスペーサ
ーを設けなくとも試料膜のつぶれを少くする事が出来、
縦来装置より正確な測定が出来るので、試料膜の厚み変
動、大ぎさの変動か大きい場合tこ適しているが、常t
こ略々一定厚みの試料を測定する場合には上記の如くス
ペーサーを設けたものが試験者の個人差を著しく減少出
来て好都合である。
グ内側と同一平面としOIJング外側29も内側と同一
平面とする。約30 cd以上の面積で試料膜を挾持す
るよう周辺部の面積を大きくとることによってスペーサ
ーを設けなくとも試料膜のつぶれを少くする事が出来、
縦来装置より正確な測定が出来るので、試料膜の厚み変
動、大ぎさの変動か大きい場合tこ適しているが、常t
こ略々一定厚みの試料を測定する場合には上記の如くス
ペーサーを設けたものが試験者の個人差を著しく減少出
来て好都合である。
第1図は従゛来の回分式平膜試験器の縦断面説明図、第
2図は)従来の連続式平膜試験器の縦断面説明図、第3
図は第2図の装置の液の流れを示す説明図、第4図11
)は本発明の平膜試験器の組立を示すためのb) c)
図におけるA−A線断面略示図、第4図b)は第一の盤
(a)図の上盤)の平面略示図、第4図C)は第二の盤
(a)図の上・盤)の平面略示図である。 13は第一の盤 14は第二の盤 15は矩形の凹所 16.16′は分配溝 17は原液導入口 18は原液導出口 19は第一の盤のOリング溝 21は矩形の凹所15と内側Oリング溝19tこ挾まれ
た空所 24.24′は透過液を合一させる溝 25.25′は透過液を導出させる孔 26は第二の盤のOリング溝 28はスペーサーである。 特許出願人ダイセル化学工業株式会社
2図は)従来の連続式平膜試験器の縦断面説明図、第3
図は第2図の装置の液の流れを示す説明図、第4図11
)は本発明の平膜試験器の組立を示すためのb) c)
図におけるA−A線断面略示図、第4図b)は第一の盤
(a)図の上盤)の平面略示図、第4図C)は第二の盤
(a)図の上・盤)の平面略示図である。 13は第一の盤 14は第二の盤 15は矩形の凹所 16.16′は分配溝 17は原液導入口 18は原液導出口 19は第一の盤のOリング溝 21は矩形の凹所15と内側Oリング溝19tこ挾まれ
た空所 24.24′は透過液を合一させる溝 25.25′は透過液を導出させる孔 26は第二の盤のOリング溝 28はスペーサーである。 特許出願人ダイセル化学工業株式会社
Claims (3)
- (1) 夫々原液と濾過液との流通機構を有し、当接
、緊締出来る2枚の盤の間に、分離膜を挾持てきる分離
模試、験器tこ於いて第一の盤は、流路として矩形の凹
所とその相対する二辺に定 あって該凹所の深さの2倍以上の略−深さを有し夫々中
央部C・こ盤の反対側のitこ連通した孔を有する一対
の分配溝と該凹所及び溝と接することなくこれらを囲む
0リング溝に嵌合されたOりングとを有し、第二の盤は
、第一の盤と当接した時に第一の盤の分配溝と正確Vこ
対面し盤の反対側面に連通した孔を有する一対の分配溝
と第一の盤の0リング溝より外側(・こ離れた位置に設
けたOUング溝tこ嵌合されたOリングml有し、外側
の0リングより大ぎい試料膜を挾持するよう(こしたこ
とを特徴とする平膜試験器。 - (2) 第二の盤の第一の盤に対する面が分配溝及び
Oリング溝を除き試料膜を挾持する部分は約30d以上
の一つの平面である特許請求の範囲第1項記載の平膜試
験器。 - (3) 第二の盤の試料膜を挾持する部分以外の個処
tこ略々試料膜の厚みeこ相当するスペーサーを設けた
特許請求の範囲第1項及び第2項の平膜試験器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6363483A JPS59190640A (ja) | 1983-04-13 | 1983-04-13 | 平膜試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6363483A JPS59190640A (ja) | 1983-04-13 | 1983-04-13 | 平膜試験器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59190640A true JPS59190640A (ja) | 1984-10-29 |
JPH0252978B2 JPH0252978B2 (ja) | 1990-11-15 |
Family
ID=13234973
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6363483A Granted JPS59190640A (ja) | 1983-04-13 | 1983-04-13 | 平膜試験器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59190640A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6313201U (ja) * | 1986-07-11 | 1988-01-28 | ||
JPS63282632A (ja) * | 1987-05-14 | 1988-11-18 | Agency Of Ind Science & Technol | 半透膜性能試験用セル |
US4854157A (en) * | 1988-03-07 | 1989-08-08 | The Kendall Company | Device for measuring effective porosity |
JPH0237731U (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-13 | ||
US5131261A (en) * | 1988-08-26 | 1992-07-21 | The Dow Chemical Company | Permeation measurement device |
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