JPS59184870A - Bit pattern generating device - Google Patents

Bit pattern generating device

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Publication number
JPS59184870A
JPS59184870A JP58059231A JP5923183A JPS59184870A JP S59184870 A JPS59184870 A JP S59184870A JP 58059231 A JP58059231 A JP 58059231A JP 5923183 A JP5923183 A JP 5923183A JP S59184870 A JPS59184870 A JP S59184870A
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JP
Japan
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pattern
data
address
storage means
bit
Prior art date
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Pending
Application number
JP58059231A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ikuo Kawaguchi
川口 郁夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/263Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers

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Abstract

PURPOSE:To improve a bit pattern generating speed by a simple constitution by updating a buffer memory in which a pattern data is stored, asynchronously from a bit pattern operating means. CONSTITUTION:A pattern data from an MT (magnetic tape) controller 131 is stored in a buffer memory 136 through an FIFO (first in first out) memory 147 and an FIFO address register 148. A CPU137 executes an access to the memory 136, decides whether its pattern ends generation and becomes unnecessary or not by basing on a present value of a Y axis, and stores its address in the register 148 in case said pattern is unnecessary. In case it is necessary to generate a pattern, the start point and the end point of a bit pattern are calculated, sent to a bit train converting part, and the bit pattern is outputted. The memory 136 is updated with a data of the memory 147 based on an address of the register 148 when the CPU137 does not use the memory 136.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、IC,LSI等の半導体製造に使用されるフ
第1・マスク上のキズや久けなどのパターン火陥の有無
を、設計データと比較・検査するためのマスク検f装置
に関するもので、設計データから自動的に蚕照ビットパ
ターンを発生する装置に関する。
Detailed Description of the Invention [Field of Application of the Invention] The present invention detects the presence or absence of pattern defects such as scratches and aging on the first mask used in the manufacture of semiconductors such as ICs and LSIs by using design data. The present invention relates to a mask inspection device for comparing and inspecting design data, and also relates to a device that automatically generates a bit pattern from design data.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

第1図は不発明の一対象であるマスク検査装置の概略構
成図である。本発明は、第1図申付号102で示したビ
ットパターン発生器に係るものであるが、本発明の理解
を容易にするために1、まずマスク検査装置の全体8説
明して−その中におけるビットパターン発生器の位置付
けを明らかにし、次に当該ビットパターン発生器の従来
技術とその問題点について説明する。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a mask inspection device, which is a subject of the invention. The present invention relates to the bit pattern generator shown in FIG. The position of the bit pattern generator in the following will be clarified, and then the conventional technology of the bit pattern generator and its problems will be explained.

第1図は設計データとの比較によりフォトマスクの欠陥
判別を行なうマスクパターン検査装置の概略ブロック図
で、ある。第1図において被検査マスク109上のパタ
ーンは、透過照明源118により対物レンズ108 ’
F通してCODリニャセ、ンサ105の上にパターン像
として与えられ、そのビデオ信号105aは2値化回路
106にて2値化される。今、このCCI)リニヤセン
サ105の走査幅(1ページ)に入るパターンが第2図
に示すようなものとしたとき、比較すべき参照信号も、
CODリニヤセンサ105の走査に同期してパターンの
ある所を「l」、背景をrOJといったような2値の時
系列ないわゆるJットパターンとして発生させなければ
ならない。そのため第1図に示されるように、臨出し速
度の低い磁気テープ100に書込まれた第2図のような
パターン設計データ100a (通常、記録容量を減ら
すため、第2図のパターンP1.P2・・・Pnの頂点
座標のみが書込まれている)を、一時バッファメモ!J
 101に格納し、その格納データを高速で読出しビッ
トパターン発生器102に入力する。前述したCODリ
ニヤセンサ1051こ同期したビット列パターンは、こ
のビットパターン発生器102でリアルタイムに生e、
すれる。そして2値化回路106の出力であるマスク検
出ビット列パターン106aと、ビットパターン発生器
102の出力である参照ビット列パターン102aは、
それぞれパターン切出回路107,103で切出され、
比較器104にて被検査マスク109のパターンの良否
が判定される。
FIG. 1 is a schematic block diagram of a mask pattern inspection apparatus for determining defects in a photomask by comparison with design data. In FIG. 1, the pattern on the mask 109 to be inspected is formed by the objective lens 108' by the transmitted illumination source 118.
The video signal 105a is provided as a pattern image on the COD linear sensor 105 through the F, and the video signal 105a is binarized by the binarization circuit 106. Now, assuming that the pattern that falls within the scanning width (one page) of this CCI) linear sensor 105 is as shown in FIG. 2, the reference signal to be compared is also
In synchronization with the scanning of the COD linear sensor 105, it is necessary to generate a so-called Jt pattern, which is a binary time series such that a certain part of the pattern is "l" and the background is rOJ. Therefore, as shown in FIG. 1, pattern design data 100a as shown in FIG. ...Only the vertex coordinates of Pn are written) as a temporary buffer memo! J
The stored data is read out at high speed and input to the bit pattern generator 102. The bit string pattern synchronized with the COD linear sensor 1051 described above is generated in real time by this bit pattern generator 102.
I can pass. The mask detection bit string pattern 106a that is the output of the binarization circuit 106 and the reference bit string pattern 102a that is the output of the bit pattern generator 102 are
are cut out by pattern cutting circuits 107 and 103, respectively,
A comparator 104 determines whether the pattern of the mask 109 to be inspected is good or bad.

なお第1図に8いて、110,111,112はそれぞ
れX軸移動ステージ、Ys移動ステージ、θ(回転)軸
移動ステージであり、それぞれXモータ113、Yモー
タ114及びθモータ115によって駆動され、被検査
マスク109の検査すべき位置が任意に設定される。ま
た116,117は、それぞれX軸移動ステージ110
及びY@移動ステージ111の移動量を測定するレーザ
測長器である。
In FIG. 1, 8, 110, 111, and 112 are an X-axis moving stage, a Ys moving stage, and a θ (rotation) axis moving stage, which are driven by an X motor 113, a Y motor 114, and a θ motor 115, respectively. The position of the mask 109 to be inspected is arbitrarily set. Further, 116 and 117 are respectively X-axis moving stages 110
and Y@ is a laser length measuring device that measures the amount of movement of the moving stage 111.

さてここで、磁気テープ100から供給されるパターン
設計データ100aは、第3図(a)に示すような、谷
ワードが16ビツトのデータ幅を持つワードP Wl 
−P Wsからなる5ワ一ド分のデータを1バタ一′ン
分としたデータフォーマットを有し、第3図(b) (
C)にそれぞれ示すような軸パターン、斜パターンに対
する頂点座標値XI 、X2 、Xa 、Yl 、Y2
 。
Now, the pattern design data 100a supplied from the magnetic tape 100 is a word PWl whose valley word has a data width of 16 bits as shown in FIG. 3(a).
It has a data format in which 5 words of data consisting of -P
Vertex coordinate values XI, X2, Xa, Yl, Y2 for the axis pattern and diagonal pattern as shown in C), respectively.
.

Ya、X軸に対する角度Aなどで構成されている。Ya, angle A with respect to the X axis, etc.

したがって、特に第3図(C)に示すような斜パターン
においてはY方向へのCOD IJニヤセンサ105の
走査移動に伴なって参照ビット列パターンの始点アドレ
スX52Bよびパターンの終点アドレスXeをその角度
人により算出する必要がある。
Therefore, especially in a diagonal pattern as shown in FIG. need to be calculated.

このような処理を従来では、第4図に示すようなハード
ウェア構成で実現していた。つまり、発生すべきパター
ンP1.P2・・・Pn各々に対する処理を、論理回路
基板1201.1202・・・120nのうちの1枚ず
つに割尚てて行なうもので、その基板1201は1、そ
のパターンP1のデータ(第3図(a))が入力される
と、そのパターンPlの発生が終了するまでそのパター
ンだけの処理を専業して実行し、Y軸に対する始点アド
レスXs 、終点アドレスXeの算出を行なう。
Conventionally, such processing has been realized using a hardware configuration as shown in FIG. In other words, the pattern P1 to be generated. The processing for each of P2...Pn is performed by assigning it to one of the logic circuit boards 1201, 1202... 120n. When (a)) is input, the processing for that pattern alone is executed exclusively until the generation of that pattern Pl is completed, and the start point address Xs and end point address Xe for the Y axis are calculated.

ビットパターン発生器102としての全機能は、この基
板1201と同一の基板1202 =・120ni C
CDリニヤセンサ10501走査中に発生が必要となる
パターンP1.P2・・・Pnの数だけ用意し、これら
を全て動作させることにより満足される。
All functions as the bit pattern generator 102 are performed by a substrate 1202 that is the same as this substrate 1201.
Pattern P1. which needs to be generated during scanning of CD linear sensor 10501. This can be satisfied by preparing as many as P2...Pn and operating them all.

この基板1枚当りには、担当する1ヶ分のバ′ターンデ
ータを格納するレジスタ121、斜パターンにおいてY
軸移動により、始点アドレスXs又は終点アドレスXe
の値を刀口算あるいは減算するための加減演算器122
および該アドレスXs。
Each board includes a register 121 for storing pattern data for one pattern, and a register 121 for storing pattern data for one pattern.
By moving the axis, the start point address Xs or the end point address Xe
Addition/subtraction operator 122 for calculating or subtracting the value of
and the address Xs.

Xeの間でビットパターンをCOD走査クロック105
bに同期して出力するためのタイミングゲート123で
概略構成されていた。このような構成は、考え方が単純
で理解しやすいメリットはあるが、反面、パターンデー
タ幅が16ビツ、トと大きいため、比較的論理回路規模
が大きくなり、基板寸法も大きくなる。し7!J)も、
LSIの集積度が上がり、パターンの微細化が蓬む中で
はCCDI走査邑り発生しなければならないパターン数
は増加する一方である。実際、第4図の従来方法での基
板枚数はこのパターン数に1対1のため、数百枚の規模
を必要としてきている。
COD scan clock 105 bit pattern between Xe
It was roughly composed of a timing gate 123 for outputting in synchronization with b. Although such a configuration has the advantage of being simple in concept and easy to understand, on the other hand, the pattern data width is as large as 16 bits, resulting in a relatively large logic circuit scale and a large board size. Shi7! J) also
As the degree of integration of LSIs increases and patterns become increasingly finer, the number of patterns that must be generated during CCDI scanning continues to increase. In fact, in the conventional method shown in FIG. 4, the number of substrates is one to one with the number of patterns, so several hundred substrates are required.

このことは、バー下つ至ア装置とじての規模を大きくす
るばかりでな゛く、データ転送時のスピードの制約や、
装置稼、動までの調整工数の大きさが容認されないもの
になっている。
This not only increases the scale of the equipment below the bar, but also imposes restrictions on speed during data transfer.
The amount of adjustment man-hours required to get the equipment up and running is unacceptable.

更には、1つの基板の持つ機能で担癌する1つのパター
ンだけを処理するため、CCD1走査中に他のパターン
の発生時には何も機能せずに遊んでいるといった極めて
実行効率の悪いものとなっていた。
Furthermore, since only one pattern that carries a tumor is processed using the function of one substrate, when another pattern is generated during one CCD scan, the execution efficiency is extremely low, as it idles without any function. was.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくシ、ビ
ットパターン発生速度を上げ、コンパクトで、低コスト
で実現でき、かつ調整工数のかからない、実行効率の高
いビットパターン発生装置を提供するにある。
An object of the present invention is to eliminate the drawbacks of the prior art described above, increase the bit pattern generation speed, and provide a bit pattern generation device that is compact, can be realized at low cost, and does not require adjustment man-hours, and has high execution efficiency. be.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は3つの記憶手段と4、演算手段及び変換手段、
即ち、パターンを規定するデータ8a数個畜える第1の
記憶手段と、該第1の記憶手段に蓄えられたパターンデ
ータを受け、そのパターンの発生が終了もしくはいずれ
不要となるか苦力)を判定し、その判゛定結果が終了も
しくは不要でなければそのパターンの発生点データと終
了点データを算出し、又終了もしくは不要であればその
パターンを賂網している第1の記憶手段のアドレスを出
力する演算手段と、該演算手段が出力したアドレスを記
憶する第2の記憶手段と、上記演算手段の判定結果によ
り上記第1の記憶手段のあいた所に入れるべき新たなデ
ータを記憶する第3の記憶手段と、上記演算手段lこよ
るパターンの発生点データと終了点データの算出結果に
基づいて、これを複数のビットに変換する変換手段とを
備え、上記演算手段が第1の記憶手段を利用していない
時、に第にの記憶手段と第3の記憶手段のデータを同時
に読み出し第2の記憶手段が記憶した第1の記憶手段の
所定のアドレスに上記第3の記憶手段のデータを゛入力
するように構成したごとを特徴とする。
The present invention comprises three storage means, four calculation means and a conversion means,
That is, a first storage means that stores several pieces of data 8a defining a pattern, receives the pattern data stored in the first storage means, and determines whether the generation of the pattern has ended or will eventually become unnecessary. If the determination result is completed or unnecessary, the generation point data and end point data of the pattern are calculated, and if the determination result is completed or unnecessary, the address of the first storage means storing the pattern is calculated. a second storage means for storing the address outputted by the calculation means; and a second storage means for storing new data to be input into the space in the first storage means based on the determination result of the calculation means. 3 storage means, and a conversion means for converting the data into a plurality of bits based on the calculation results of the generation point data and end point data of the pattern by the calculation means l, and the calculation means has a first storage means. When the means are not in use, the data in the first storage means and the third storage means are simultaneously read out and the data stored in the second storage means are stored at a predetermined address of the first storage means in the third storage means. It is characterized by being configured to input data.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下図面に示した実施例によって本発明の詳細な説明す
る。
The present invention will be explained in detail below with reference to embodiments shown in the drawings.

第5図に本発明によるビットパターン発生装置の概略構
成図を示す。本発明の1つの目的であるコンパクト化の
ため、マルチCPUモジー−ル方式で構成され、n個の
CPUモジ−−ルでCCDI走査期間中に発生すべきパ
ターンを分担して処理するものである。
FIG. 5 shows a schematic configuration diagram of a bit pattern generator according to the present invention. In order to achieve compactness, which is one of the purposes of the present invention, it is constructed using a multi-CPU module system, and the n CPU modules share and process patterns to be generated during the CCDI scanning period. .

磁気テープ100内のパターンデータ100aは、第1
図に示したバッファメモリ101等を含んたMTコント
ローラ131から出力され、パターンデータバス139
、コントロールバス1401Y(第1図におけるY@移
動ステージ111の位置座標値)バス141及びX(第
1図に2けるX軸移動ステージ110の位置座標値)バ
ス142を通じて、発生パターンデータが%CPUモジ
ュール132〜134fこ転送される。CPUモジ−−
ル132〜134は全て同一構成をとり、発生パターン
データを処理個数分格納するバッファメモ!J136と
、その格納データから発生パターンのビット列パターン
出力始点アドレスXsおよび終点アドレスXeを算出す
るU P U 137と、そのアドレスXs、Xeを用
いてCCDリニヤセンサ105の走査クロック105b
に同期してビット列パターンを出力するビット列変換部
1383よびバッファメモIJ 136内のパターンデ
ータの中で、パターン発生が終了し不要になったパター
ンデータを、次に発生処理すべき新しいデータと入れ換
えるべく、新データ受信とバッファメモリ同データ更新
作業を実行するデータ更新部135とから構成されてい
る。
The pattern data 100a in the magnetic tape 100 is the first
The pattern data bus 139 is output from the MT controller 131 including the buffer memory 101 shown in the figure.
, control bus 1401Y (Y@position coordinate value of the moving stage 111 in FIG. 1) bus 141 and X (position coordinate value of the X-axis moving stage 110 in FIG. Modules 132-134f are transferred. CPU module--
All of the files 132 to 134 have the same configuration, and buffer memory stores the number of generated pattern data to be processed. J136, UPU 137 that calculates the bit string pattern output start point address Xs and end point address Xe of the generated pattern from the stored data, and the scanning clock 105b of the CCD linear sensor 105 using the addresses Xs and Xe.
Among the pattern data in the bit string converter 1383 and buffer memory IJ 136 that outputs a bit string pattern in synchronization with the pattern generation, the pattern data that is no longer needed after pattern generation is replaced with new data to be generated and processed next. , and a data update unit 135 that receives new data and updates the same data in the buffer memory.

CPU 137には、稟3図(C)に示■斜パターンの
処理に必要となるtauA、 Co tA演算のため、
これを角度Aがある程度限定されることを第11用して
、予めこのtauA、C0tAの結果をテーブル参照で
引出して使う方法で行なえるようこの内容を−j”−’
)トシ”’C−書込んだROM (Read 0nly
 MemOry)8設けている。
The CPU 137 has tauA and CotA calculations required for processing the diagonal pattern shown in Figure 3 (C).
Taking into account the fact that the angle A is limited to a certain extent, the contents can be changed to -j"-'
) Toshi”'C-written ROM (Read 0nly
MemOry) 8 are provided.

MTコントローラ131からのパターンデータは、全く
同一構成のCPUモジュール132〜134にランダム
に分配されるが、いま、第3図(b) 。
The pattern data from the MT controller 131 is randomly distributed to the CPU modules 132 to 134 having exactly the same configuration, as shown in FIG. 3(b).

(C)に示すようにYiにてビットパターンを発生させ
るに必要なアドレスXs 、Xeの算出は、Yi−1の
COD IJニヤセンサの1走査線の間で処理を完了、
していなければならない。そのため、できるだけこの処
理ステップ数を減らすことにより1つのCPUモジュー
ルで扱えるパターン数が増え、CPUモジュールの数を
減らすことも可能となる。
As shown in (C), the calculation of the addresses Xs and Xe necessary to generate a bit pattern at Yi is completed within one scanning line of the COD IJ near sensor of Yi-1.
Must be. Therefore, by reducing the number of processing steps as much as possible, the number of patterns that can be handled by one CPU module increases, and the number of CPU modules can also be reduced.

このようにCODリニヤセンサの1走査時間中に多くの
パターンを処理するという制約条件の下で最も重要な要
件は、バッファメモリ136内の不要データをCP U
’ 137の負担を与えずに新しいデータと入れ換える
ということである。
Under the constraint of processing many patterns during one scanning time of the COD linear sensor, the most important requirement is to remove unnecessary data in the buffer memory 136 from the CPU.
' This means replacing the data with new data without incurring the burden of 137.

つまり、バッファメモリデータ更新のためのステップ数
をなくシ、シかもCPUの管理無しにバッファメモリ1
36内デー、夕の更新ができることが必要となる。
In other words, the number of steps for updating buffer memory data can be eliminated, and the buffer memory can be updated without CPU management.
It is necessary to be able to update on days and evenings within 36 days.

本発明の要点は、このような条件を満たす構成要素で構
成したCPUモジュールにより実現した点にみる。以下
、この要点であるバッファメモリデータ更新部135に
ついて詳述する。
The key point of the present invention is that it is realized by a CPU module composed of components that satisfy these conditions. Hereinafter, the buffer memory data update unit 135, which is the main point, will be explained in detail.

第6図において、MTコントローラ131から送られた
データは、先入れ先出しメモリ(一般的にF I F 
O: First Ih First Outと呼ばれ
ているため、以下FIFOと略して用いる)に格納し、
入力された順番に取出せるよう一時記憶される。いま、
これをF I F O−D 147とする。
In FIG. 6, data sent from the MT controller 131 is stored in a first-in first-out memory (generally F
O: First Ih First Out (hereinafter abbreviated as FIFO).
They are temporarily stored so that they can be retrieved in the order in which they were input. now,
This is referred to as F I F O-D 147.

バッファメモリ136は、格納されたデータを処理する
ため常に全て巡回的に繰返しアドレッシングすることを
表現するために、リンク状に表わしている。
The buffer memory 136 is shown in a link form to represent that it is always addressed in a circular manner to process the stored data.

このときCP U 137は、処理ポインタ56(この
ポインタは1つの概念である)を通じてパターンデー 
タをアクセスし、そのデータとY軸の現在値Yiを基に
して、そのパターンが発生を終了して不要になったかど
うかを判定し、もし不要になったデータであればそのパ
ターンデータが格納されているバッファメモリ136の
アドレスをデータとしてF I F O−A 148に
格納する。
At this time, the CPU 137 accesses the pattern data through the processing pointer 56 (this pointer is a concept).
Based on that data and the current Y-axis value Yi, it is determined whether the pattern has finished generating and is no longer needed, and if the data is no longer needed, the pattern data is stored. The address of the buffer memory 136 that is being stored is stored as data in the FIFO-A 148.

一方、もし丈だパターンの発生が必要なデータの場合に
は、ビットパターンの始点および終点アドレスXsおよ
びXeの算出処理を実行する。ビット列変換部138で
は、このアドレスXs、Xef用いてCCD走査クロッ
ク105bに同期してビットパターン102aを出力す
る。なおFIFO−A148に格納されたバッファメモ
リ136のアドレスデータは、バッファメモリ136の
一種の空き部屋の番号に相当するものである。
On the other hand, if the data requires the generation of a long pattern, calculation processing for the start point and end point addresses Xs and Xe of the bit pattern is executed. The bit string converter 138 uses these addresses Xs and Xef to output the bit pattern 102a in synchronization with the CCD scanning clock 105b. Note that the address data of the buffer memory 136 stored in the FIFO-A 148 corresponds to a kind of vacant room number of the buffer memory 136.

以上のようにして、バッファメモ’J136のデータ更
新のためのメモリアドレスと新゛データが、各/rFI
Fo−A148とFIFO−D147にi録されたこと
となる。そしてデータ更新時には、この両方のFIFO
を同時に出方することにより、F I F O−A 1
48のアドレスに指示された21バツフアメモリ136
0当該アドレスに、FIFO−D 147の新しいパタ
ーンデータがり、MAポインタ55を通じて書込まれる
ことが可能となるノテa5る。ココテ若干D M A 
(Direct MemoryAc Ce S Sの略
で、CPUの管理な゛しにメモリ間、或はその他の装置
間でデータをブロック転送することを意味する)につい
て触れる。
As described above, the memory address and new data for data update of buffer memo 'J136 are stored at each /rFI.
This means that it has been i-recorded in Fo-A 148 and FIFO-D 147. And when updating data, both FIFOs
By appearing at the same time, F I F O-A 1
21 buffer memory 136 directed to address 48
0 At this address, new pattern data of the FIFO-D 147 is stored, which can be written through the MA pointer 55. Kokote some DM A
(Abbreviation for Direct MemoryAcceSS, which means block transfer of data between memories or other devices without CPU management).

一般的に、CPU137の管理無しにデータを転送又は
受信するにはDMAという方法が行なわれているが、こ
れは主に、ある程度まと丈ったデータ(まとまったデー
タの量の大小は問わない)iDMAコントローラという
ものを使って送る方法で、メモリからのデータ転送であ
れはその先頭アドレスとデータ量をcpsが登録し、転
送が終了した力)否かをステータス信号を監視している
というやり方である。しかし、本発明の目的を達成する
ための構成においては、87図のパターン発生例で分か
るように、COD走査が上から下方に移動するにしたが
い、A→B−)Cとパターンの発生が開始されるが、そ
のパターン発生終了のタイミングはA −+ C−> 
Bの順になっている。いま第6図に示したCPUモジュ
ール132のバッファメモリ136および他の全てのC
PUモジュール133,134のバッファメモリが全て
一杯lこ埋められている場合を仮定するとき、次に発生
すべきパターンデータ、Qは、AやCが終了した時点で
、AlpててPを、又、Cを捨ててRと入れ換えを行な
わねばならない。このように、捨てなければならないタ
イミングや、その捨てるデータが格納サレテいるバッフ
ァメモリ136のアドレスは、いわば虫喰いの状態でバ
ッファメモリ136内のあちらこちらに発生し、才とめ
られないものとなる。この゛ような処理を扱おうとする
とき、従来のDMA方式ではCPUの管理案多く必要と
してしまう。
In general, a method called DMA is used to transfer or receive data without the control of the CPU 137, but this is mainly used to transfer or receive data of a certain size (the size of the data does not matter). ) This is a method of sending data using something called an iDMA controller, and when data is being transferred from memory, the CPS registers the start address and amount of data, and monitors the status signal to see if the transfer has been completed or not. It is. However, in the configuration for achieving the object of the present invention, as the COD scan moves from top to bottom, pattern generation starts from A→B-)C, as seen in the example of pattern generation in Figure 87. However, the timing at which the pattern generation ends is A −+ C−>
They are in the order of B. The buffer memory 136 of the CPU module 132 and all other CPU modules shown in FIG.
Assuming that the buffer memories of the PU modules 133 and 134 are all filled to capacity, the pattern data to be generated next, Q, is changed from Alp to P or , C must be discarded and replaced with R. In this way, the timing at which data must be discarded and the address of the buffer memory 136 where the data to be discarded are stored are scattered here and there in the buffer memory 136 in a so-called worm-eaten state, making it difficult to judge. When attempting to handle such processing, the conventional DMA system requires many CPU management plans.

つ該り、MTコントローラ131からのデータは、マル
チC’PUモジュール方式としているため、いつ、どれ
だけの童が送られてくるか分からず、更には、F I 
F O−A 148に登録されたデータの数(空き部屋
の数)以上のデータをPIFO−D 147に入力させ
ることができ′ないため、その管理をしなければならな
い。
However, since the data from the MT controller 131 is in a multi-CPU module format, it is difficult to know when and how many children will be sent.
Since it is not possible to input more data into the PIFO-D 147 than the number of data registered in the FO-A 148 (the number of vacant rooms), the data must be managed.

このことは、もし必要以上のデータを受入れてしまうと
、処理すべきデータをバッファメモリ136に誉込めな
いこととなり、CCD走査に同期して発生すべきパター
ンの処理が間に合わな(なることから、管埋が必要とな
ることを意味している。
This means that if more data than necessary is accepted, the data to be processed will not be stored in the buffer memory 136, and the processing of patterns that should be generated in synchronization with CCD scanning will not be completed in time. This means that a tube burial will be required.

加えて、一般的な1)MAコントローラと呼ばれている
ものは、データ転送のスタートアドレスとデータ童を登
録できるレジスタ類が1ブロック分のデータを扱うこと
を意図して構成されているため、これを無理に利用しよ
うとすると、全てのパターンが一斎に更新されるような
場合を考えて、CCD1走査中に発生すべきパターン数
、つまり数百個ものコントローラを必要としてしまうこ
ととなり非現実的となる。
In addition, in general 1) MA controllers, the registers that can register the data transfer start address and data register are configured with the intention of handling one block of data. If we try to use this forcefully, considering the case where all the patterns are updated at once, the number of patterns that should be generated during one CCD scan, that is, hundreds of controllers will be required, which is unrealistic. becomes.

以上のような従来のDMA方式の持つ問題点を、FIF
Oそ2つ組合わせて用いることにより完全に解決してい
る。つ談り、FIFOではデータの量に関係なく、格納
したデータを格納した順番にいつでも取出せることを利
用しているのである。外部に必要なハードウェアは、単
にF I F O−A I48に格納されたデータの数
を知ってそれ以上のデータがFIFO−jJ147に入
力されないよう制御するものだけがあれば良いこととな
る。
FIF solves the problems of the conventional DMA method as described above.
The problem is completely solved by using the two in combination. In other words, FIFO takes advantage of the fact that stored data can be retrieved at any time in the order in which it was stored, regardless of the amount of data. The only external hardware required is one that simply knows the number of data stored in the FIFO-A I48 and controls so that no more data than that is input to the FIFO-JJ147.

第6図及び第7図の例では、CCD走査がYiO時点で
、AとCのパターンデータが、今、新しいデータPとR
に更新されようとする直前の状態を表わしている。iI
’ I F O−A 148には不要になったパターン
A、Cのアドレス(0) 、 (2)が各々不要になっ
た順番に格納されており、F■F (J −D 147
には次に発生すべき順番にバーターンデータP、Rが格
納されている。
In the example of FIGS. 6 and 7, when the CCD scan is at the YiO point, the pattern data of A and C are now the new data P and R.
It represents the state just before it is about to be updated. iI
' IFO-A 148 stores the addresses (0) and (2) of patterns A and C that are no longer needed in the order in which they become unnecessary, and
bar turn data P and R are stored in the order in which they should be generated next.

以上の説明力)ら分るように、CPU137では、バツ
ファメモリデータ更新のために行なう作業としては、デ
ータ処理のために必ずメモリをアクセスするその過程で
、そのデータが不要であれば、今、アクセスしているそ
のアドレスをF I F O−A 148に送るといっ
た、更新のための特別なステップ数が必要でなくなって
いる。
As can be seen from the above explanation, the CPU 137 performs the work to update buffer memory data in the process of always accessing the memory for data processing. , sending that address being accessed to the FIFO-A 148 is no longer required.

本発明は、才゛さに、このようなデータの書替えを効率
良く実行できる蒙索により構成された点にあると考える
I believe that the present invention lies in its ingenuity in that it is constructed using a method that can efficiently rewrite such data.

第8図は検出されたパターン信号に同期して発生すべき
パターンの一例8説明している。今、第8図(a)のよ
うな、A、B、Cと1)、E、F 3よびL 、M。
FIG. 8 illustrates an example 8 of a pattern to be generated in synchronization with the detected pattern signal. Now, A, B, C and 1), E, F 3 and L, M as shown in Fig. 8(a).

Nの各々で合成されたM機影のパターンを、CCD走査
1ページ幅の中で、CODリニヤセンサ105に同期し
て発生することを考えたとき、発生すべきパターンは、
同図(f)に示すようなCCD走査クロック105bに
同期した同図(elに示すようなビットパターン発生器
総合出力102aのようなパターンとならなけれはなら
ない。すなわち、パターンの内側が1“、背景が′O“
となるようなビット列パターンである。但し、いま内側
が11“か、背景が10“かは大きな問題ではなく、ど
ちらでもよい表現上の問題であり、この逆でも良い。
When considering that the pattern of M machine images synthesized by each of N images is generated in synchronization with the COD linear sensor 105 within one page width of CCD scanning, the pattern to be generated is as follows.
The pattern must be similar to the bit pattern generator total output 102a shown in the same figure (el) synchronized with the CCD scanning clock 105b as shown in FIG. The background is 'O"
This is a bit string pattern such that However, it is not a big problem whether the inside is 11" or the background is 10"; it is a matter of expression, and the reverse is also possible.

第8図の例においては、第1番目のCPUモジュールが
同図(b)に示すようにパターンA、E及びFを受持ち
、第2番目のCP U、七ジュールが同図(C)に示す
ようにパターンC,D、L及びNを受持ち、第n着目の
CPUモジュールが同図(d)に示すようにパターンB
及びMを受持った例を示し、全てのCPUモジュールの
出力をワイヤードD)Lすれば、総合出力として同図(
e)のものが得られるものである。
In the example of Figure 8, the first CPU module handles patterns A, E, and F as shown in Figure (b), and the second CPU module, 7 Joules, handles patterns A, E, and F as shown in Figure (C). The n-th CPU module takes charge of patterns C, D, L, and N as shown in FIG.
and M. If the outputs of all CPU modules are wired (D)L, the total output will be (
e) is obtained.

第9図は第6図の詳細構成図である。図中、左上部のM
Tコントローラ131は、バッファメモリ101、F 
I F 0143、FIFOコントローラ145および
パターンデータを各CPUモジュール132〜134へ
転送するためのドライバ144から構成される。
FIG. 9 is a detailed configuration diagram of FIG. 6. In the figure, M at the upper left
The T controller 131 controls the buffer memory 101, F
It is composed of an IF 0143, a FIFO controller 145, and a driver 144 for transferring pattern data to each CPU module 132-134.

CPUモジュール132のデータ更新部135は、前記
ドライバ144からCPUモジュール外部バス130を
通じて送られてくるパターンデータを受けるデータレシ
ーバ146、そのデータを入力順に一時格納してお(F
IFO−D147、バッファメモリ136内で不要にな
ったデータが格納されているアドレスをデータとして一
時格納してE < F I F O−A 148 Hよ
びF I F O−D147F I F O−A 14
8内の格納データ数やLL′ii;’0− A 148
の出力データをアドレスとして新しくFi上’ 0− 
D 147のパターンデータをハツ?アメモリ136に
誓込才せる制御を行なう、F’IFOコントローラ14
9から構成されている。
The data update unit 135 of the CPU module 132 uses a data receiver 146 that receives pattern data sent from the driver 144 through the CPU module external bus 130, and temporarily stores the data in the order of input (F
The IFO-D 147 temporarily stores the address where unnecessary data is stored in the buffer memory 136 as data.
Number of stored data in 8 or LL'ii;'0-A 148
'0-' on Fi using the output data as the address
D Do you have pattern data for 147? F'IFO controller 14 that controls memory 136
It consists of 9.

これに対し、’CP U 137は、第9図の右上部に
表わした処理シーケンスのコンドローラド、右中央部の
A L U 158を中心としたデータ処理部とに分・
けられる。
On the other hand, the 'CPU 137 is divided into a data processing section centered on the processing sequence shown in the upper right part of FIG. 9, and the ALU 158 in the center right part.
I get kicked.

ます、シーケンス−コントローラは、インストラクショ
ンレジスタ150、マイクロブロクラムメモリ153の
エントリボイントヲ指示するマツピンクメモ1J151
、ステータス信号や各棟判定条件に従って10クラムシ
ーケンスを1frlJ11ii1するシーケンサ152
、各パターンに対する演算処理を実行させるブロクラム
を格納したマイクロプログラムメモリ1538よび実行
速度を上げるために用いられるバイブラインレジスタ1
54とから構成されたものである。
First, the sequence controller writes a pine pink memo 1J151 that instructs the entry point of the instruction register 150 and microblock memory 153.
, a sequencer 152 that generates a 10-crum sequence 1frlJ11ii1 according to the status signal and each building judgment condition.
, a microprogram memory 1538 that stores blocks for executing arithmetic processing for each pattern, and a vibe line register 1 used to increase execution speed.
54.

一方データ処理部は、算術および論理演算を実行するA
 L U 158 、その結果によりシーケンスの流れ
を変える信号をステータス173として発生しシーケン
サ152に渡すステータスコントローラ157、第3図
(C)に示したようにx、y@に対し斜めの長方形パタ
ーンのその角度に対するjanとcotデータをテーブ
ルとして得られるように設けた角度テーブル几OM 1
60 、ソフトウェアでは処理時間がかかり過ぎるため
設けた専用の乗算器159、演算処理過程などでワーキ
ングレジスタとして使う目的のバッファメモリ155、
パターンデータを格納しているバッファメモリ136と
バッファメモリ155ヲアクセスするためのメモリアド
レスコントローラ156、第8図に示したようなビット
パターンの始点アドレスXsと終点アドレスXeをCC
L)走査クロック105bに同期して発生させるビット
列f換部138へ送るXSL/ジスタXs R161、
Xe レジスタXekL162Xs、Xe f XS)
+1 、 XeRにセットしたことをビット列変換部1
38に知らせるレディ(Ready ) 174を発生
するF/F (フリップフロップ)163および2本の
内部データバスすなわちAバス164゜Bバス165へ
のデータ入力を制御する4つのゲー ト168,169
,170,171と、バッファメモリ136へのアドレ
ス入力@FIFO−h14Bからとメモリアドレスコン
トローラ156カらの2つの入力を切換えるケート16
7で構ti=れている。
On the other hand, the data processing section is an A that performs arithmetic and logical operations.
L U 158 , the status controller 157 generates a signal that changes the flow of the sequence as a status 173 and passes it to the sequencer 152 , as shown in FIG. Angle table OM 1 provided so that jan and cot data for angles can be obtained as a table
60, a dedicated multiplier 159 provided because it takes too much processing time in software, a buffer memory 155 for use as a working register during arithmetic processing, etc.;
A memory address controller 156 for accessing the buffer memory 136 storing pattern data and the buffer memory 155, CCs the start point address Xs and end point address Xe of the bit pattern as shown in FIG.
L) XSL/Jister Xs R161 generated in synchronization with the scanning clock 105b and sent to the bit string f conversion unit 138;
Xe register XekL162Xs, Xe f XS)
+1, set to XeR in bit string converter 1
F/F (flip-flop) 163 that generates a Ready signal 174 to signal 38 and four gates 168, 169 that control data input to two internal data buses, namely A bus 164 and B bus 165.
, 170, 171, and a gate 16 that switches between two inputs: the address input to the buffer memory 136 @FIFO-h14B and the memory address controller 156.
It is set in 7.

レーザ測長器117で読取られたY1!@座標位置は、
レーザゲージカウンタ182によりY@座標データとし
てゲート168%fiしてBバス165に入力される≦
その時のY@座標データをYcとするとき、そのデータ
YCをもと1ごバッファメモリ136の格納ゲージの甲
からパターンの発生が終了して不要となったデータを探
し、そのデータの存在するアドレスをに’ I FO−
A 148に書込んでおき、この畳込まれたデータの数
以内のパターンデータをFI上’ 0− D 147で
受信する。
Y1 read by laser length measuring device 117! @The coordinate position is
Gate 168%fi is input as Y@ coordinate data by laser gauge counter 182 to B bus 165≦
When the Y@ coordinate data at that time is Yc, based on that data YC, search for data that is no longer needed after pattern generation has finished from the storage gauge of the first buffer memory 136, and find the address where that data exists. ni' I FO-
A 148 is written, and pattern data within the number of convoluted data is received at '0-D 147 on the FI.

−その後、C1−’U137かバッファメモ’J136
を胱出してい・ないとき、F工FOコントローラ149
の制御により、FIFO−A148.FIFO−D14
7を同時に読出し、F I F O−A 148の出力
データをアドレスとしてF I F O−D 147 
+こ先に受信したパターンデータをノく”ンファメモI
J136に書込むのである。
-Then, C1-'U137 or Buffer Memo'J136
When the bladder is out or not, the FO controller 149
Under the control of FIFO-A148. FIFO-D14
7 at the same time and use the output data of FIFO-A 148 as an address to read FIFO-D 147.
+Receive the pattern data received earlier "EnfaMemo I"
It is written to J136.

なお、第3図(a) l (b)及び(C)は、それぞ
れ磁気テープ100からの1パタ一ン分のデータフォー
マット、X、Y軸に平行な軸ノ櫂、ターン、X軸をこ対
し角度Aを持った斜パターンである旨説明した。ここで
、第3図(C)のような斜/N11ターンζこ対しCC
D走査がY =Yiのときのビ゛ントノ々ターン始点ア
ドレスXsと終点アドレスXeの算出式を示すと、それ
は次の通りである。
In addition, FIGS. 3(a), 3(b) and 3(C) respectively show the data format for one pattern from the magnetic tape 100. It was explained that it is a diagonal pattern with an angle A to the other hand. Here, for diagonal/N11 turn ζ as shown in Fig.
The formula for calculating the bit number turn start point address Xs and end point address Xe when Y = Yi in the D scan is as follows.

YN = Yl +(Xt −Xa ) tanAl 
Y)Ya: Xe =X1±(Ya−Yl)tanA−
(Y−Ya)cotA第3図(b)のような軸パターン
ではYがYlとY2の間でXs = X1+’ Xe 
= X2で一定であるのに対し、同図(C)のような斜
パターンではYの値に対し各々Xs、Xeを前述した式
で算出しなければならない。ここで得られたXs、Xe
は第9図のビット列変換部138に送らねばならないた
め、第3図での処理は、実際にビット列パターンを出力
する1ステツプ前のYで行なわねばならない(Yi−1
)。
YN = Yl + (Xt - Xa) tanAl
Y) Ya: Xe =X1±(Ya-Yl)tanA-
(Y-Ya) cotA In the axis pattern as shown in Figure 3 (b), when Y is between Yl and Y2, Xs = X1+' Xe
= X2, whereas in the diagonal pattern as shown in FIG. 2C, Xs and Xe must be calculated for each value of Y using the above-mentioned formula. Xs, Xe obtained here
must be sent to the bit string converter 138 in FIG. 9, so the processing in FIG. 3 must be performed on Y one step before actually outputting the bit string pattern (Yi-1
).

第3図(a)のFLGは1ビツトで表現され、FLG=
1の時は同図(b)のような軸パターンを、又、FLG
=0のときは同図(C)のような斜パターンを示してい
る。
FLG in Fig. 3(a) is expressed by 1 bit, and FLG=
1, the axis pattern as shown in the same figure (b), and FLG
When =0, a diagonal pattern as shown in FIG.

第10図は第3図の(b) 、 (C)に対する実際処
理フローチャートである。この中で、斜パターンでは長
方形の各頂点を2ビツトで表わす処理を行なっている。
FIG. 10 is an actual processing flowchart for (b) and (C) in FIG. Among these, in the diagonal pattern, each vertex of the rectangle is represented by two bits.

又、YNはパターンデータ数を減らすためにデータとし
て送られないこととしているため処理の先頭で算出する
Furthermore, since YN is not sent as data in order to reduce the number of pattern data, it is calculated at the beginning of the process.

第11図は第9図に示したC P U 137のX58
161XeR162から送られてくるX5178.Xe
179 +もとにビット列パターン出力10加を発生す
るビット列変換部138の詳細構成図である。但し、F
/F163を通してのCP U 13.7とのハンドシ
ェーク回路は省いである。
Figure 11 shows the X58 of CPU 137 shown in Figure 9.
X5178.161 sent from XeR162. Xe
FIG. 179 is a detailed configuration diagram of a bit string conversion unit 138 that generates a bit string pattern output 10 addition to the original bit string pattern. However, F
The handshake circuit with CPU 13.7 through /F163 is omitted.

第11図において、CPU137で算出された10ビッ
ト幅のデータX5178.Xe179そ一時記憶するS
−レジスタ184およびE−レジスタ185が入力部に
設けられている。比較器(S)186aおよび比較器(
E)xs6bは、S−レジスタ184の上位6ビツトX
5H198とカウンタCLK209により動作する10
ビツトバイナリカウンタ197の上位6ビツ1− XC
NT2O8およびE−レジスタ185の上位6ビツトX
eH2O0と上記XCNT2,118を大小比較し、各
々XSH= XCNT2O2および)(6H) XCN
T2O3f) (!:き出力信号11“を出す。A N
 D 187は、S−レジスタ184の下位4ビツトX
5L199の各々にX5n=XCNT202でゲートを
与えるようにしたものであり、XSH:=:XCNTの
ときXSLはそのま* ’kc OM2B5の下位アド
レスAO〜A3の入力AL 204となるが、X8H4
XcNrではALは4ビツト全て′0“となる。
In FIG. 11, 10-bit width data X5178. Xe179 Temporarily memorized S
- register 184 and E-register 185 are provided at the input section. Comparator (S) 186a and comparator (
E) xs6b is the upper 6 bits of S-register 184
10 operated by 5H198 and counter CLK209
Upper 6 bits of bit binary counter 197 1-XC
Upper 6 bits of NT2O8 and E-register 185
Compare the size of eH2O0 and the above XCNT2,118, and find respectively XSH = XCNT2O2 and ) (6H) XCN
T2O3f) (!: Outputs output signal 11".A N
D 187 is the lower 4 bits of the S-register 184
5L199 is provided with a gate at X5n=XCNT202, and when XSH:=:XCNT, XSL remains as *'kc OM2B5 lower address AO to A3 input AL 204, but
In XcNr, all 4 bits of AL are '0'.

一方OR188は、E−レジスタ185の下位4ビツト
XeL201の各々にXeH>XCNT2O3でOR入
力を与えるようにしたものであり、Xen >XCNT
On the other hand, OR188 is configured to give an OR input to each of the lower 4 bits XeL201 of E-register 185 with XeH>XCNT2O3, and Xen>XCNT
.

時OR出出力力H205は4ビツト全て11“トナって
ROM 189の上位アドレスA4〜A70入力として
与えられる。これに対し、XeL≦XCNTで′はXe
L201はそのままO凡188を通り1.)j、OM上
位アドレス入力AHとしてA4〜A7に与えられる。
When the OR output output H205 is all 4 bits 11'', it is given as the upper address A4 to A70 input of the ROM 189.On the other hand, if XeL≦XCNT, ' is Xe
L201 continues through Obon 188 and 1. )j, OM is given to A4 to A7 as upper address input AH.

)(、OM 189は、アドレス入力8ビツト、出力1
6ビツトの構成とし、第13図に示すようなデータを予
め書込んだものである。なお第13図においては、全て
16進コードで表現されており、空欄は使用されない(
アクセスされない)部分である。ROM出力データ20
6は、0凡190を通ってRA M (1) 191お
よびRA M (2) 192に書込まれるようになっ
ている。これはRA M(1) 191にデータを書込
んでいるときはK A M (2) 192からデータ
を読出し、又、その逆が行なえるようにしているためで
ある。
) (, OM 189 has 8 bits of address input and 1 output
It has a 6-bit configuration, and data as shown in FIG. 13 is written in advance. In Figure 13, everything is expressed in hexadecimal codes, and blank spaces are not used (
(not accessed) part. ROM output data 20
6 is written to RAM (1) 191 and RAM (2) 192 through zero 190. This is because when writing data to RAM(1) 191, data can be read from KAM(2) 192, and vice versa.

RA M(1)191. RA M(2) 192の出
力は、レジスタ(1) 193、レジスタ(2) 19
4に一時蓄えられ、スイッチS3によりそのデータがC
CDI走査ごとに交互に切替えられてパラレル→シリア
ルシフトレジスタ195に入力される。ROM 189
の出力データは、そのまオビット列出カバターンを意味
しているため、シフトレジスタ195ヲシリアルに読出
すことにより出力バッファ196を介してビット列パタ
ーン出力102aが得られる。
RAM(1)191. The output of RAM (2) 192 is the register (1) 193, register (2) 19
4, and the data is temporarily stored in C by switch S3.
The signals are alternately switched for each CDI scan and input to the parallel to serial shift register 195. ROM 189
Since the output data directly represents the obit string output pattern, the bit string pattern output 102a is obtained via the output buffer 196 by serially reading out the shift register 195.

OR190はスィッチS2z通じてパターンの重ね書き
ができるよう設けられたものである。
OR190 is provided so that patterns can be overwritten through switch S2z.

カウンタ出力XCNT2O8は、実際にパターンを発生
するY座標Y=Yiの一つ前あY=Yi−1で、Y−Y
iでの発生パターンを作っておくため、RA M(1)
 191. RA M(2) 192のアドレスデータ
としても使われる。一方、Y=YiにおけるRAM読出
しは、CCDリニヤセンサ105に同期させるため、C
OD走査アドレスの上位6ビツト183゜をRAM(1
)191 、 kLAM(z) 192のアドレスとし
て入力できるようにし、各々、スイッチ84 、85で
XCN7208と切替えられる。
The counter output XCNT2O8 is Y=Yi-1, which is one point before the Y coordinate Y=Yi where the pattern is actually generated.
In order to create the occurrence pattern at i, RAM(1)
191. It is also used as address data for RAM(2) 192. On the other hand, RAM reading at Y=Yi is synchronized with the CCD linear sensor 105.
The upper 6 bits 183° of the OD scan address are stored in RAM (1
) 191 and kLAM(z) 192, and can be switched to XCN 7208 by switches 84 and 85, respectively.

第11図の動作原理を812図に示す。Xs、Xe、”
のデータはCCDI走査幅がいま1024ビツトを考え
ているため、各々10ビツト長である。そこで1024
−164ブロツク(6ビツト艮)に分けてみたとき、X
s、Xeともそのデ゛、−夕は64ブロツクの中のどこ
かに位置して3す、それが判定できれば第12図のバタ
7 ン(A)のXs、Xeの拡大図(第12図の最上部
参照)で示したようなビット列パターンを作ることが可
能となる。なお第12図のパターン(A)のX5L19
9は′B“、即ち)l、 OM 189への下位アドレ
ス人力ALはゝB“であり、またXer−20115“
、即ちROM189への上位ア、ドレス八Hは15“と
じた例である。更にこのとき、ブロック5と6は全て1
1“で埋められ、ブロックO〜3.8〜63が全て10
“で埋められれば第12図中央の(A)パターン出力が
得られる。このとき、各ブロック内のXs、Xeの谷々
″0“→11“、11“→″hO“の境界はXs、Xe
とも10ビツトのうち下位4ビツトで与えられるため、
この4ビツトのデータ′0“〜% p// < 16進
表示)でブロック内でXs。
The operating principle of FIG. 11 is shown in FIG. 812. Xs, Xe,”
Since the CCDI scanning width is currently considered to be 1024 bits, each data is 10 bits long. So 1024
- When divided into 164 blocks (6 bits),
Both s and Xe are located somewhere in the 64 blocks. It is possible to create a bit string pattern like the one shown in (see top of page). Note that X5L19 of pattern (A) in Figure 12
9 is 'B'', i.e. )l, the lower address AL to OM 189 is 'B'', and Xer-20115''
, that is, the upper address to the ROM 189, address 8H, is an example of 15''.Furthermore, at this time, blocks 5 and 6 are all 1.
1", blocks O~3.8~63 are all 10
If filled with ", the pattern output shown in the center of FIG. 12 (A) is obtained. At this time, the boundaries of the valleys of Xe
Both are given by the lower 4 bits of the 10 bits, so
This 4-bit data '0''~%p//<hexadecimal notation) is used as Xs in the block.

Xeがとり得るパターンを表わすと第13図となる。FIG. 13 shows the patterns that Xe can take.

ただし、第12図で示したように、XsとXeが同一ブ
ロック内に無く、隣同志もしくは間にいくつかブロック
が入る場合にはそのブロックを′1“で埋めることが必
要となる。これを実現しているのが第11図のOR18
8とA N D 187の機能である。
However, as shown in Fig. 12, if Xs and Xe are not in the same block and there are adjacent blocks or several blocks in between, it is necessary to fill that block with '1'. What is realized is OR18 in Figure 11.
8 and A N D 187.

すなわち、上記した処理はXsのあるブロックから始め
られれば良いため、X5H198がXsのブロックとし
てカウンタ197の上位6ビツト書込まれる。このとき
、XSH=XCNTのためXsのブロック内の更に詳細
な位置情報を持っているXsの下位4ビツトX5L19
9がROIシ189の下位アドレスALとしてそのまま
入力される。
That is, since the above-described processing only needs to be started from a certain block of Xs, X5H198 is written to the upper 6 bits of the counter 197 as a block of Xs. At this time, since XSH=XCNT, the lower 4 bits of Xs, which have more detailed positional information within the block of Xs,
9 is input as is as the lower address AL of the ROI block 189.

今、XeがXsと同一ブロック内にあれば比較器(B)
186bによりXeH>XCNTは出カサレナイタメ、
Xeの下位4ビツトもやはりi(、OM 189の上位
アドレスAHとしてそのまま入力される。したがってそ
の時のROM 189からの出カバターンは、AL 、
AI(で決められるhoΔ4アドレスのパターンが出力
される。
Now, if Xe is in the same block as Xs, comparator (B)
186b, XeH>XCNT is output,
The lower 4 bits of Xe are also input as is as the upper address AH of the OM 189. Therefore, the output pattern from the ROM 189 at that time is AL,
A pattern of hoΔ4 addresses determined by AI() is output.

一方、第12図の例ではXeH>XCNTのため、比M
a−CB)186b 及U Oli、 188 (1)
作用ニョリAHノ4ビットは全て11“となり、第13
図からは纂4ブロックの値としてX8L = B /り
:1らF2O3(16進表示)が得られ、その後カウン
タ197か増加し、Xeu=XcNrとなった時には比
W僑(E)186b カらXei+>XCNT 力出力
されないため、Xer、がその77AHデータとなる。
On the other hand, in the example of FIG. 12, since XeH>XCNT, the ratio M
a-CB) 186b and U Oli, 188 (1)
The 4 bits of the action AH are all 11", and the 13th
From the figure, we get X8L = B / ri: 1 as F2O3 (hexadecimal display) as the value of 4 blocks, and then the counter increases by 197, and when Xeu = XcNr, it becomes 186b. Since Xei+>XCNT is not output, Xer becomes the 77AH data.

一方、比較器(S)186aがらxsiie Xc N
 Tも出力されないため、Xsr、データはAND18
7で全て禁止され、ALは全て10“になる。
On the other hand, the comparator (S) 186a
Since T is also not output, Xsr and data are AND18
7, all are prohibited, and all ALs are 10".

今、第12図の例のようにXeL== 5とすれば第1
3図より纂7ブロツクの値として003F(16進表示
)が正確に得られることとなる。そしてブロック5.6
はALが全て%o“、 AHか全て′1′/c!:なる
ため、FFFF(16進表示)となり、11“で全て埋
められ第12図の(A)パターン出力が得らn、ること
となる。
Now, if we set XeL==5 as in the example in Figure 12, the first
From FIG. 3, 003F (in hexadecimal notation) can be accurately obtained as the value of the seventh block. and block 5.6
, AL is all %o", AH is all '1'/c!: Therefore, it becomes FFFF (hexadecimal display), and all are filled with 11", and the (A) pattern output in Figure 12 is obtained. That will happen.

同様にして第12図の(B)パターンについても処理を
行なえるが、(A)パターン@ RA M (t)19
1又はg A M (2) 192に書込んだ後、(1
3)パターンデータをそのまま書込むと(h’)パター
ンのXsのある第6ブロツクの先頭からX8Lの存在す
るビットまで′0“が書込まれてしまい、(A)パター
ンで書込んだゝ1“情報が書き変えられてしまうことと
なるため、これを防ぐため、第11−のスイッチS2を
通じてOR190にデータを戻し、先に書込んだ′1“
情報を消さないよう構成している。なお、CCD17を
査の先頭で、これから書込む凡A M(1) 191又
はRA M (2) 192の内容は全て10“にクリ
ヤする動作を行なっている。
Similarly, processing can be performed for pattern (B) in FIG. 12, but (A) pattern @ RAM (t) 19
1 or g A M (2) After writing in 192, (1
3) If the pattern data is written as is, '0' will be written from the beginning of the 6th block where Xs of the pattern (h') exists to the bit where X8L exists, and '1' written with the pattern (A) “Since the information will be rewritten, in order to prevent this, the data is returned to the OR190 through the 11th switch S2, and the previously written '1''
It is configured so that information is not deleted. At the beginning of scanning the CCD 17, the contents of the RAM (1) 191 or RAM (2) 192 to be written from now on are all cleared to 10''.

)L A M(1)191 、 k!JA M(2) 
192は各々16 X 64 =1024ビットの容量
を持ち、一方のRAMデータをシフトレジスタ195に
出力しながら他の1(IAMには次のCCDI走査に必
要なデータを書込んでいる。
) L A M (1) 191, k! JA M (2)
192 each have a capacity of 16 x 64 = 1024 bits, and while outputting one RAM data to the shift register 195, data necessary for the next CCDI scan is written to the other 1 (IAM).

以上のような構成で得られたlCPUモジュールのビッ
ト列パターン出力を他のCPUモジュールの出、力とワ
イヤードOHすることにより本実施例で述べたマスク検
査装置のビットパターン発生器としての出力か得られる
こととなる。
By wiring the bit string pattern output of the CPU module obtained with the above configuration with the output of another CPU module, the output as the bit pattern generator of the mask inspection device described in this embodiment can be obtained. That will happen.

マスク検査装置に2いては、高速で走査するC 、CD
 リニヤセンサに同期して、設計データをビット列パタ
ーンζこ変換して発生しなければならず、パターン発生
装置おして小型化するためには処理内容が複雑となるた
めCP ’Uによる演算処理が必要となる。この条件の
もとて高速化を図るにはCPU本来のパターン演算処理
ステップ数を減らすことはもちろん、周辺回路をできる
だけCPUの負担を軽減できるような構成とすることが
必要不可欠である。巷に本実施例のように、CCD1走
査時間内に1つのCPUモジュールで何個のパターンが
処理できるかということはそのままCPUモジュールの
必要側・数を決定することとなり、装−規模、装置コス
トに影響を与える。
In the mask inspection equipment, C and CD are scanned at high speed.
The design data must be generated by converting it into a bit string pattern in synchronization with the linear sensor, and in order to miniaturize the pattern generator, the processing content becomes complex, so arithmetic processing by the CPU 'U is required. . In order to increase the speed under these conditions, it is essential not only to reduce the number of pattern calculation processing steps inherent in the CPU, but also to configure the peripheral circuits so as to reduce the burden on the CPU as much as possible. In general, as in this embodiment, the number of patterns that can be processed by one CPU module within one CCD scanning time directly determines the required side and number of CPU modules, and the equipment size and equipment cost are determined. affect.

このような目的に関し、本実施例に3ける本発明の果す
役割は処理速度を速く、装置規模が小さな装置を芙現す
る上で重要なものである。
Regarding this purpose, the role played by the present invention in the third embodiment is important in realizing an apparatus with high processing speed and small scale.

〔発明の効果〕 本発明の採用により、従来のビットパターン発止方式を
こくらへ、ビットパターン・発生速度的5、 WV L
装置規模約8、装置コストは約3となり、又装置8勤才
での調整工数の低減が図られ、更には、CPU処理によ
るため、従来の/”%−ドウエアによる固定処理では不
可能でめつ1こパターンデータのフォーマット変更への
対処などが可能となり’、CCD足食に同期してリアル
タイムにビットパターンを発生でさる高機能なビットパ
ターン発生が6T vteとなった。
[Effects of the Invention] By adopting the present invention, the conventional bit pattern starting method is improved, and the bit pattern/generation speed is improved by 5.
The equipment size is approximately 8,000 yen, the equipment cost is approximately 3,000 yen, and the number of adjustment man-hours required for the equipment 8 years has been reduced.Furthermore, since it uses CPU processing, it is impossible to do it with the conventional /"%-doware fixed processing. It has become possible to deal with changes in the format of pattern data, and the 6T VTE has become a highly functional bit pattern generator that generates bit patterns in real time in synchronization with CCD foot movements.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の対象とすやマス、り検査装置の概略構
成図、第2図はe CD IJニヤセンサの走査パター
ン例、第3図(a) r (b)及び(C)はそれぞれ
設計データフォーマット ・軸パターン及び斜パターン
図、第4図は従来¥術によるビットパターン発生装置を
示すS成因、第5図は本発明によるビットパターン発生
装置の;政略構成図、第6図は本発明を構成する上で重
要7.1″要素とQるメモリデータ更新部を説明する概
念図、第7図は終了順序の異なるパターン別図、第8図
はCCDI走査期間中に発生すべきビットパターン出力
形式とパターン形状例を示す説明図、第9図は本発明の
具体的実施例であり第5図の中のCPUモジュール内部
詳絹ブロック構成図、第10図は軸又は斜パターンのX
s、Xeを算出するための処理フローチャート、aL、
1図は本発明の実施例において、Xs、Xeデータから
CCD走査クロックに同期してビット列パターンを発生
するビット列変換部の構成ブロック図、第12図は第1
1図の機能、動作を説明する説明図、第13図は第11
図中のビット列変換パターンを発生するR OM 18
9の変換パターンデータ図を示す。 102・・・ビットパターン発生器 105・・・CODリニヤセンサ 131・・・MTコントローラ 132〜134・・・CPUモジュール135・・・デ
ータ更新部 136・・・ノイツファメモリ 137 ・・・CPU 138・・・ビット列変換部 139・・・パターンデータバス 147 、148・・・FIFO 149・・・FIFOコントローラ
Fig. 1 is a schematic diagram of the subject of the present invention and a schematic diagram of the inspection device, Fig. 2 is an example of the scanning pattern of the CD IJ near sensor, and Fig. 3 (a), r (b), and (C) are respectively Design data format - Axis pattern and diagonal pattern diagrams; Figure 4 shows the S factor of a conventional bit pattern generator; Figure 5 is a schematic diagram of the bit pattern generator of the present invention; Figure 6 is a diagram of the present invention. A conceptual diagram explaining the memory data update unit, which is an important 7.1" element in constituting the invention, FIG. 7 is a diagram showing different patterns with different termination orders, and FIG. 8 is a diagram showing the bits that should be generated during the CCDI scanning period. An explanatory diagram showing a pattern output format and a pattern shape example, FIG. 9 is a specific embodiment of the present invention, and a detailed block diagram of the inside of the CPU module in FIG. 5, and FIG. 10 is an axial or diagonal pattern X
Processing flowchart for calculating s, Xe, aL,
Figure 1 is a block diagram of the configuration of a bit string converter that generates a bit string pattern from Xs and Xe data in synchronization with the CCD scanning clock in an embodiment of the present invention.
An explanatory diagram explaining the functions and operations in Figure 1, Figure 13 is the same as Figure 11.
ROM 18 that generates the bit string conversion pattern shown in the figure
9 shows a conversion pattern data diagram. 102...Bit pattern generator 105...COD linear sensor 131...MT controller 132-134...CPU module 135...Data update unit 136...Neutsfer memory 137...CPU 138...・Bit string converter 139...Pattern data bus 147, 148...FIFO 149...FIFO controller

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、パターンを規定するデータを複数個蓄える第1の記
憶手段と、該第1の記憶手段に蓄えられたパターンデー
タを受け、そのパターンの発生が終了もしくはいずれ不
要となるか否かを判定し、その判定結果が終了もしくは
不要でなければそのパターンの発生点データと終了点デ
ータ8算出し、又終了もしくは不要であればそのパター
ンを格納している゛第1の記憶手段のアドレスを出力す
る演算手段と、該演算手段が出力したアドレスを記憶す
る第2の記憶手段と、上記演算手段の判定結果により上
記第1の記憶手段のあいた所に入れるべき新たなデータ
を記憶する第3の記憶手段と、上記演算手段によるパタ
ーンの発生点データと終了点データの算出結果に基づい
て、これを複数のビットに変換する変換手段とを備え、
上記演算手段が第1の記憶手段を利用していない時に第
2の記憶手段と第3の記憶手段のデータを同時に読み出
し第2の記憶手段が記憶した第1の記憶手段の所定のア
ドレスに上記薬3の記憶手段のデータを入力するように
構成したこと8−%似とするビットパターン発生装置。
1. A first storage means for storing a plurality of data defining a pattern, and receiving the pattern data stored in the first storage means, and determining whether the generation of the pattern has ended or will become unnecessary at some point. , If the judgment result is that the pattern is finished or unnecessary, calculate the generation point data and ending point data 8 of the pattern, and if it is finished or unnecessary, output the address of the first storage means storing the pattern. a calculation means, a second storage means for storing the address outputted by the calculation means, and a third storage for storing new data to be stored in the space in the first storage means based on the determination result of the calculation means. and converting means for converting the data into a plurality of bits based on the calculation results of the pattern starting point data and ending point data by the calculating means,
When the arithmetic means is not using the first storage means, the data in the second storage means and the third storage means are simultaneously read out and the data stored in the second storage means are stored at a predetermined address in the first storage means. A bit pattern generator having an 8-% resemblance to that configured to input data of a storage means of medicine 3.
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