JPS59182359A - 材料の非破壊検査に使用される検査設備または検査装置の機能を管理する装置 - Google Patents
材料の非破壊検査に使用される検査設備または検査装置の機能を管理する装置Info
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- JPS59182359A JPS59182359A JP59024202A JP2420284A JPS59182359A JP S59182359 A JPS59182359 A JP S59182359A JP 59024202 A JP59024202 A JP 59024202A JP 2420284 A JP2420284 A JP 2420284A JP S59182359 A JPS59182359 A JP S59182359A
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- G—PHYSICS
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
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- G01B7/10—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9073—Recording measured data
- G01N27/9086—Calibrating of recording device
-
- G—PHYSICS
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- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、超音波法、渦電流法捷たは漏洩磁束法によ多
材料を非破壊検査するために使用される検査設備または
検査装置の機能を管理する装置に関する。
材料を非破壊検査するために使用される検査設備または
検査装置の機能を管理する装置に関する。
この種の検査設備または検査装置の再検査は、現在は通
常、発光遮蔽信号または識別表示ランプのごとき目視可
能な機能を介してテスト・ヘッドを用いて行なわれてい
る。
常、発光遮蔽信号または識別表示ランプのごとき目視可
能な機能を介してテスト・ヘッドを用いて行なわれてい
る。
掩蔽状態で活動する機能は、長い時間と少なからぬ測定
装置の費用をかけない限シ再検査することは不可能であ
り、しか、も再検査担当者を高度に訓練することが必要
である。このため、検査設備または検査装置の定期的な
管理を規定通り実施することは不可能である。
装置の費用をかけない限シ再検査することは不可能であ
り、しか、も再検査担当者を高度に訓練することが必要
である。このため、検査設備または検査装置の定期的な
管理を規定通り実施することは不可能である。
本発明の目的は、費用と時間を大幅に減らし得るととも
に、再検査担当者に高度な技術を要求することなく、検
査設備または検査装置に容易に適用することができしか
も検査設備または検査装置で客観的かつ再現可能に包括
的な機能管理を行なうことができる検査設備または検査
装置の機能を管理する装置を提供することである。
に、再検査担当者に高度な技術を要求することなく、検
査設備または検査装置に容易に適用することができしか
も検査設備または検査装置で客観的かつ再現可能に包括
的な機能管理を行なうことができる検査設備または検査
装置の機能を管理する装置を提供することである。
上記の目的を達成するためになされたものである。
本発明の要旨は、ゾンデまたは検査ヘッドと接続して超
音波法、渦電流法または漏洩磁束法により材料を非破壊
検査するために使用される検査設備または検査装置の機
能を管理する装置であって、該装置がプログラミング可
能方中央管理ユニット１と、検査信号を作るユニット２
と、検査設備４の反応信号を受信するユニット３とより
成り、前記ユニット２が検査設備４を使用可能々状態に
するとともに、ゾンデまたは検査ヘッド６から検査設備
４に伝達される信号を発信するようにされていて、ユニ
ット２，３を検査設備４に接続することができ、しかし
てユニット２，３がすべて中央管理ユニッ）１と直接接
続されていて、中央管理４ニツト１がユ＝ツ）２．３と
連絡しているが、所定システム、例えば、ＩＥＥＥ・１
８８の如きＢＵＳシステム）ヲ経てユニット２，３と連
絡しており、反応＠号が中央管理ユニット１で評価をう
けたあと、接続された記録・表示装置５に伝達されるこ
とを特徴とする装置にある。
音波法、渦電流法または漏洩磁束法により材料を非破壊
検査するために使用される検査設備または検査装置の機
能を管理する装置であって、該装置がプログラミング可
能方中央管理ユニット１と、検査信号を作るユニット２
と、検査設備４の反応信号を受信するユニット３とより
成り、前記ユニット２が検査設備４を使用可能々状態に
するとともに、ゾンデまたは検査ヘッド６から検査設備
４に伝達される信号を発信するようにされていて、ユニ
ット２，３を検査設備４に接続することができ、しかし
てユニット２，３がすべて中央管理ユニッ）１と直接接
続されていて、中央管理４ニツト１がユ＝ツ）２．３と
連絡しているが、所定システム、例えば、ＩＥＥＥ・１
８８の如きＢＵＳシステム）ヲ経てユニット２，３と連
絡しており、反応＠号が中央管理ユニット１で評価をう
けたあと、接続された記録・表示装置５に伝達されるこ
とを特徴とする装置にある。
以下、本発明の実施例を図解した添付図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
中央管理ユニット１は、プログラム記憶装置とデーター
記憶装置を付設した自由にプログラミング可能なコンピ
ューターを備えていて、該コンピューターは検査設備ま
たは検査装置を再検査するに必要な工程をすべて制御す
るようになっている。
記憶装置を付設した自由にプログラミング可能なコンピ
ューターを備えていて、該コンピューターは検査設備ま
たは検査装置を再検査するに必要な工程をすべて制御す
るようになっている。
検査設備４を検査可能状態とするに必要なディジタル信
号はすべてユニツ）２ａで作られる。
号はすべてユニツ）２ａで作られる。
ユニツ）３ａは検査設備から到来したディジタル反応信
号またはアナログ反応信号を処理する。
号またはアナログ反応信号を処理する。
ユニツ）３ｂ内でテスト装置が検査設備または検査装置
４と同期をはかるようにされている。
４と同期をはかるようにされている。
採用された検査法にあった検査信号がユニット２ｂで検
査設備または検査装置４と同期状態となって中央制御ユ
ニット１からプログラム制御されながら発信される。た
とえば、超音波検査設備にあわせて、検査信号の振幅と
、周波数と、同期パルスに関する時間的な長さと、発生
頻度を変えることができる。
査設備または検査装置４と同期状態となって中央制御ユ
ニット１からプログラム制御されながら発信される。た
とえば、超音波検査設備にあわせて、検査信号の振幅と
、周波数と、同期パルスに関する時間的な長さと、発生
頻度を変えることができる。
検査設備または検査装置４の反応信号は中央管理ユニッ
ト１により評価される。結果はテスト装置のオペレータ
ーにより記録装置５に伝達される。
ト１により評価される。結果はテスト装置のオペレータ
ーにより記録装置５に伝達される。
評価基準は、一部、走査装置自身により調査される。た
とえば超音波検査設備のアナログ増幅装置のデーターを
求める場合、超音波検査へラド６の周波数スペクトルが
必要である。そのほか、超音波検査ヘッド６の高周波信
号がテスト装置により接続ターミナル７で取り出されて
ディジタル化されたうえ周波数スペクトルが調査される
。評価基準として、超音波検査装置のアナログ増幅器の
バンド幅に対する最小要求条件を前記周波数スペクトル
から引き出すようにされている。
とえば超音波検査設備のアナログ増幅装置のデーターを
求める場合、超音波検査へラド６の周波数スペクトルが
必要である。そのほか、超音波検査ヘッド６の高周波信
号がテスト装置により接続ターミナル７で取り出されて
ディジタル化されたうえ周波数スペクトルが調査される
。評価基準として、超音波検査装置のアナログ増幅器の
バンド幅に対する最小要求条件を前記周波数スペクトル
から引き出すようにされている。
図面は、本発明の実施例を図解したブロック線図である
。 ｌ・・・・・・中央管理ユニット、 ２ａ、２ｂ、３ａ、３ｂ−・−・−ユ＝ツ）、４・・・
・・・検査設備、 ５・・・・・・記録装置、６
・・・・・・超音波検査ヘッド、７・・・・・・接続タ
ーミナル。
。 ｌ・・・・・・中央管理ユニット、 ２ａ、２ｂ、３ａ、３ｂ−・−・−ユ＝ツ）、４・・・
・・・検査設備、 ５・・・・・・記録装置、６
・・・・・・超音波検査ヘッド、７・・・・・・接続タ
ーミナル。
Claims (1)
- ゾンデまたは検査ヘッドと接続して超音波法、渦電流法
または漏洩磁束法により材料を非破壊検査するために使
用される検査設備または検査装置の機能を管理する装置
であって、該装置がプログラミング可能な中央管理ユニ
ット１と、検査信号を作るユニット２と、検査設備４の
反応信号を受信するユニット３とよシ成シ、前記ユニッ
ト２が検査設備４を使用可能な状態にするとともに、ゾ
ンデまたは検査ヘッド６から検査設備４に伝達される信
号を発信するようにされていて、ユニツ）２．３を検査
設備４に接続することができ、しかしてユニット２，３
がすべて中央管理ユニット１と直接接続されていて、中
央管理ユニットｌがユニット２，３と連絡しているか、
所定システムを経てユニット２，３と連絡しておシ、反
応信号が中央管理ユニット１で評価をうけたあと、接続
された記録・表示装置５に伝達されることを特徴とする
装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3309881A DE3309881A1 (de) | 1983-03-16 | 1983-03-16 | Einrichtung zur funktionskontrolle von pruefungsanlagen und -geraeten |
| DE33098816 | 1983-03-16 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59182359A true JPS59182359A (ja) | 1984-10-17 |
Family
ID=6193945
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59024202A Pending JPS59182359A (ja) | 1983-03-16 | 1984-02-10 | 材料の非破壊検査に使用される検査設備または検査装置の機能を管理する装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59182359A (ja) |
| DE (1) | DE3309881A1 (ja) |
| FR (1) | FR2544082B1 (ja) |
| GB (1) | GB2137751B (ja) |
| IT (1) | IT1175319B (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8605280D0 (en) * | 1986-03-04 | 1986-04-09 | Atomic Energy Authority Uk | Magnetic particle inspection techniques |
| US5076276A (en) * | 1989-11-01 | 1991-12-31 | Olympus Optical Co., Ltd. | Ultrasound type treatment apparatus |
| GB9003569D0 (en) * | 1990-02-16 | 1990-04-11 | Rolls Royce Plc | A method and apparatus for testing the response of a stress wave sensor |
| WO2006103483A2 (en) * | 2005-04-01 | 2006-10-05 | Antal Gasparics | Magnetic imaging equipment for non-destructive testing of magnetic and/or electrically conductive materials |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2632680A1 (de) * | 1976-07-16 | 1978-01-19 | Deutsch Pruef Messgeraete | Verfahren zur automatischen einstellung und taktweisen rueckkopplung von messergebnissen auf die einstellung von pruefanlagen bei der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung |
| DE2632674B2 (de) * | 1976-07-16 | 1978-06-08 | Karl Deutsch Pruef- Und Messgeraetebau, 5600 Wuppertal | Elektronische Einrichtung zur taktweisen Erfassung, Aus- und Bewertung von Impulsen bei der zerstörungsfreien Ultraschall-Werkstoffprüfung |
| DE2753472A1 (de) * | 1977-11-28 | 1979-05-31 | Mannesmann Ag | Verfahren zur automatischen eigenueberwachung von zerstoerungsfreien pruefanlagen |
| US4233677A (en) * | 1978-02-21 | 1980-11-11 | Chevron Research Company | Automatic system and method for testing marine streamers of seismic exploration systems |
| US4495587A (en) * | 1981-12-08 | 1985-01-22 | Bethlehem Steel Corporation | Automatic nondestructive roll defect inspection system |
-
1983
- 1983-03-16 DE DE3309881A patent/DE3309881A1/de active Granted
-
1984
- 1984-02-08 IT IT19505/84A patent/IT1175319B/it active
- 1984-02-10 JP JP59024202A patent/JPS59182359A/ja active Pending
- 1984-03-01 FR FR8403216A patent/FR2544082B1/fr not_active Expired
- 1984-03-15 GB GB08406793A patent/GB2137751B/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| IT8419505A0 (it) | 1984-02-08 |
| FR2544082A1 (fr) | 1984-10-12 |
| GB2137751A (en) | 1984-10-10 |
| IT1175319B (it) | 1987-07-01 |
| FR2544082B1 (fr) | 1988-09-30 |
| DE3309881A1 (de) | 1984-09-20 |
| GB8406793D0 (en) | 1984-04-18 |
| DE3309881C2 (ja) | 1988-10-13 |
| GB2137751B (en) | 1987-02-04 |
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