JPS59178549A - Shift ring circuit - Google Patents

Shift ring circuit

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JPS59178549A
JPS59178549A JP58054154A JP5415483A JPS59178549A JP S59178549 A JPS59178549 A JP S59178549A JP 58054154 A JP58054154 A JP 58054154A JP 5415483 A JP5415483 A JP 5415483A JP S59178549 A JPS59178549 A JP S59178549A
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shift
ring circuit
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Abstract

PURPOSE:To enable using for log out in a module such as LSI etc. by forming a shift ring circuit connected only to a shift register latch to be logged out when executing log out. CONSTITUTION:When log out is performed by occurrence of an error, clock of a terminal C1 is stopped, a terminal S1 is set to 1, and clock A and clock B are applied from terminals A1 and B1 respectively. Accordingly, only the first shift ring circuit 12 is shifted out from a terminal So1. At this time, terminals A, B, S of shift register latches 5G, 5H etc. connected to the second shift ring circuit 15 are 0, and normal clock from a terminal C2 does not stop. Accordingly, these shift register latches 5G, 5H etc. continue normal operation. Thus, a shift ring circuit that is connected only to a shift register latche to be logged out when executing log out during system operation is formed.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、テスト性の向上を計った論理回路における
シフトリング回路に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a shift ring circuit in a logic circuit designed to improve testability.

近年、LSIC大規模集積回路)の集積度が著しく向上
するとともに、1つのテストされる単位の中に含まれる
論理の量が増えてぎたため、作業員によるテスト生成方
法では、テスト生成のための時間、およびコストが急激
に増加する。これに対処するため、従来は、論理回路中
の記憶保持子(ランチ)にシフト機能を付加し、このす
べてのラッチをシフトハスにより接続して、1つのシフ
トレジスタ(以下これをシフトリング回路と呼ぶ)を構
成する方法が一般に広く用いられている。
In recent years, as the degree of integration of LSIC (large-scale integrated circuits) has improved significantly, the amount of logic included in one unit to be tested has increased. Time and costs increase rapidly. To deal with this, conventionally, a shift function was added to the memory holder (lunch) in the logic circuit, and all the latches were connected by a shift hash to form one shift register (hereinafter referred to as a shift ring circuit). ) is generally widely used.

このように構成されている従来のシフトリング回路にお
いては、たとえばLSTのような1個のテスト対象の中
の多数の記憶保持子(ランチ)は、そのすべてがシフト
リング回路につながるため、シフトパスな介して各ラッ
チの値を外部に取り出したり−あるいは任意の値を各ラ
ンチにセットすることも可能で、これらの各ラッチは、
疑似人力/出力動子と見做すことができ、その全体が組
合せ回路化(ラッチを含まないゲートのみの回路)され
ることになり−いわゆる「Dアルゴリズム」等のCM)
 ((1mputer aided design )
プログラムによる自動的なテスト生成が可能となるもの
である。
In a conventional shift ring circuit configured in this way, a large number of memory holders (launches) in one test object such as an LST are all connected to the shift ring circuit, so there is no shift path. It is possible to retrieve the value of each latch externally through - or set an arbitrary value to each latch, and each latch
It can be regarded as a pseudo-human power/output driver, and the entire circuit will be made into a combinational circuit (a circuit with only gates and no latches) - commercials such as the so-called "D algorithm")
((1mputer aided design)
This enables automatic test generation by a program.

第1図は上述したシフト機能を有する従来のランチのブ
ロック図で、(1)は2T01セレクタで、シフトモー
ド端子「別が”1”の値のときには、シフトイン入力「
S IJが選択され、またシフトモード端子「剣が”O
”の値のときは入力rDJが選択されるようになされて
いる。(2) (31は、レベルセンシティブラッテで
、端子I′CLKlが”1”の値のときは、端子中月の
値がそのまま端子rDOJに出力さIJ1.また端子r
(、ILl(jが”O”の値のときは、”O”とブよる
直前の端子中qの値が保持されるようになされている。
FIG. 1 is a block diagram of a conventional launch having the above-mentioned shift function. (1) is the 2T01 selector, and when the shift mode terminal "other" has a value of "1", the shift-in input "
S IJ is selected, and the shift mode terminal “Sword is” O
When the value is "1", the input rDJ is selected. (2) (31 is a level sensitive bracket, and when the terminal I'CLKl is the value "1", the value of the terminal middle moon is selected. IJ1 is output as is to terminal rDOJ.Also, terminal r
(, ILl(When j is the value "O", the value of q in the terminal immediately before reading "O" is held.

次に、第2図は上述した第1図宅体のラッチケ1つのブ
ロックにまとめたシフトレジスタランチ(5)を示すも
ので、通常の動作時には、このシフトレジスタラッチ(
5)のシフトモード入力端子rsj、Aクロック入力端
子JAJ、Bクロック入力端子「川の6個の入力端子の
値は”0”に保持されるようになされている。なお、A
クロックおよびBクロックは一般に「シフトクo’yり
」と呼ばれ、シフト専用に使用されるクロックであるこ
とはいうまでもない。そして、このとき、データ入力端
子「川は第1のランチ(2)の端子中月に、また、通常
クロック入力端子[QはOFI、ゲート(4)を経て第
1のラッチ(2)の端子用LKJに、さらに第1のラッ
チ(2)の端子ID01は「Q」端子にそれぞれ1対1
でつながるようになされており、シフトレジスタラッチ
(5)は通常のランチの動作を行なうようになされてい
る。
Next, Fig. 2 shows the shift register latch (5) that is assembled into one block of the latch of the building in Fig. 1 mentioned above.During normal operation, this shift register latch (5)
5) Shift mode input terminal rsj, A clock input terminal JAJ, and B clock input terminal The values of the six input terminals are held at "0".
It goes without saying that the clock and B clock are generally called "shift clocks" and are used exclusively for shifting. At this time, the data input terminal ``Q'' is the terminal of the first latch (2), and the normal clock input terminal [Q is OFI, and the terminal of the first latch (2) is passed through the gate (4). In addition, the terminal ID01 of the first latch (2) is connected one-to-one to the “Q” terminal.
The shift register latch (5) performs a normal launch operation.

次に、シフトモードのときには、上記シフトモード端子
「S」の値は1”にセントされ、また通常クロック入力
端子「qはD”に保持されると共に一上記Aクロック端
子間、およびBクロック端子刊は順次付勢され、シフト
イン端子「S月の値がシフト端子I′sOIに伝達され
るように+Nt QKされており、その状態を第6図の
タイムチャートに示している。
Next, in the shift mode, the value of the shift mode terminal "S" is set to 1", and the normal clock input terminal "q" is held at D", and the value of the shift mode terminal "S" is set to 1", and the normal clock input terminal "q" is held at D", and the value of the shift mode terminal "S" is set to The terminals are sequentially energized and set to +Nt QK so that the value of the shift-in terminal "S" is transmitted to the shift terminal I'sOI, and this state is shown in the time chart of FIG.

次に、第4図はLSIのような1つの論理モジュール(
6)の中で、複数のシフトレジスクラッチ(5A)(5
B)(5C)および(5D)のシフト端子1’−8OJ
と、シフトイン端子「S月とをそれぞれ接続してシフ)
 IJソング路を構成した状態を示すブロック図で、シ
フトレジスクラッチ(5B)と、(5C)の間の破線は
、その間に図示していないが、多数のシフトレジスタラ
ッチが接続されでいることを示すものである。
Next, Figure 4 shows one logic module such as an LSI (
6), multiple shift register clutches (5A) (5
B) Shift terminal 1'-8OJ of (5C) and (5D)
and the shift-in terminal "S month" respectively.
In the block diagram showing the configuration of the IJ song path, the broken line between shift register latches (5B) and (5C) indicates that a large number of shift register latches are connected between them, although not shown. It shows.

以上のように構成された第4図のシフ) IJソング路
をシフトするには、まず−論理モジュールF6+の通常
クロック端子国利、および艮2」の値を0”に、また、
シフトモード端子「S月の値を1″に、さらに、シフト
イン端子[5IIJにシフトインデータをそれぞれセッ
トしたあと、端子「A1」と、端子「B月から、上述し
た第3図の場合と同様に、それぞれAクロック、および
Bクロックを印加すれば、シフトアウトデータは端子「
80月から順次出力されるわけである。
In order to shift the IJ song path in FIG.
After setting the shift mode terminal "S month value to 1" and setting the shift-in data to the shift-in terminal [5IIJ, change the terminal "A1" and the terminal "B month to 1", as in the case of Fig. 3 above. Similarly, if you apply the A clock and B clock, the shift-out data will be transferred to the terminal "
They will be output sequentially starting in August.

なお、上述したシフトインデータをテスト以外の別の用
途に使用することも可能で、たとえば。
Note that it is also possible to use the above-mentioned shift-in data for other purposes than testing, for example.

システム動作中にエラーが発生E、たとき、システムの
クロックを停止させ、サービスプロセッサがシフ)IJ
ソング路につながるシフトレジスタラッチの内容をシフ
トアウトしてエラー解析用のデータとしてこれを記録す
るいわゆる10グアウド」用に使用することもできるが
、このようにシフト1jング回路をテスト以外の用途に
用いると次のような問題が発生する。
When an error occurs during system operation, the system clock is stopped and the service processor is shifted.
It can also be used for what is called a 10-day shift circuit, in which the contents of the shift register latch connected to the song path are shifted out and recorded as data for error analysis. If used, the following problems will occur.

すなわち、上述し、た第4図のシフトリング回路で、シ
フト動作が行なわれるときは、通常クロックは停止され
(端子1’−C1J l’−C2Jを”0”に固定)、
各シフトレジスタラッチはシフトデータの通り道となる
。すなわち、シフトの実行中は、各シフトレジスクラッ
チの通常機能は完宅に停止するようになされている。し
かしながら、上述したシフトリング回路を「ログアウト
」に使用するような場合は、ログアウト中も成るシフト
レジスクラッチは、Iη常通り動作しなければならない
ことがある。たとえば、「ダイナミックRAM Jのリ
フレッシュ制(ill1回路がこれに相当し、上記第4
図に示すシフトレジスタラッチ(5e)(5D)が上述
したようなシフトL/ ’) スクラッチである場合に
は、このシフトレジスタラッチ(5C)(5f))は「
ログアウト」の実行中であっても通常通り島作しなけれ
ばならない。すなわち、これらのシフトレジスタラッチ
の端子用」へのクロック供給が停止してはならないし、
これらのシフトレジスタラッチがシフトデータの通路に
なってもいけない。したがって、上述したよ5なシフト
レジスタラッチを含む論理モジュールのシフトリング回
路は− 「ログアウト」のための「シフトハス」から取
除く必要があるが、第4図において−シフトレジスタラ
ッチC3C)C50)りItf Y シフトリング回路
から外してもよい。しかしながら−この場合のシフトリ
ング回路は、「ログアウト」に使用することが可能にな
っても、CADプログラムによる自動テスト生成が不可
能になる欠点がある。
That is, when a shift operation is performed in the shift ring circuit of FIG. 4 described above, the clock is normally stopped (terminals 1'-C1J l'-C2J are fixed at "0"),
Each shift register latch serves as a path for shift data. That is, during the execution of a shift, the normal functions of each shift register clutch are completely stopped. However, when the shift ring circuit described above is used for "logout", the shift register clutch may have to operate as usual even during logout. For example, "dynamic RAM J refresh system (the ill1 circuit corresponds to this, and the fourth
If the shift register latches (5e) (5D) shown in the figure are shift L/') scratches as described above, the shift register latches (5C) (5f)) are
You must continue to cultivate islands as usual even while logging out. In other words, the clock supply to the terminals of these shift register latches must not be stopped.
These shift register latches must not become a path for shift data. Therefore, the shift ring circuit of the logic module containing the above-mentioned shift register latch - which needs to be removed from the "shift hash" for "logout" - in Fig. 4 - shift register latch C3C)C50) Itf Y may be removed from the shift ring circuit. However - the shift ring circuit in this case has the disadvantage that even if it can be used for "logout", automatic test generation by a CAD program is not possible.

また−他の手段として、第4図に示すシフトレジスクラ
ッチ(5C)(5D)と、その他のシフトデータ、#− ・クラッチ(5A)(5B)とを別のグループに分け、
全く別個の2つのシフトリング回路にする方法で、シフ
トレジスタランチ(5C)(5D)& 含まない側のシ
フトリング回路はテスト用と、ログアウト用の両方に使
用し、シフトレジスタラッチ(5C)(5D)によって
構成されたシフトリング回路はテスト用にのみ使用する
ようにしたものであるが、このような場合には、2組の
シフトリング回路を必要とするため、論理モジュール(
6)の各端子「S1月rAIJ rB月円月およびl’
−8oilが2セツト必要となり、5ピンの増加となる
。そして、論理モジュール(6)がLSIの場合には、
ビンはきわめて貴重であり、ビンの増加は大きな負担と
なる欠点がある。
In addition, as another means, the shift register clutches (5C) (5D) shown in FIG. 4 and other shift data and clutches (5A) (5B) are divided into different groups
This is a method of creating two completely separate shift ring circuits, with the shift register launch (5C) (5D) & shift ring circuit not included being used for both testing and logout, and the shift register latch (5C) ( The shift ring circuit configured by the logic module (5D) is intended to be used only for testing purposes, but in such a case, two sets of shift ring circuits are required, so the logic module (
6) Each terminal "S1 month rAIJ rB month circle month and l'
- Two sets of 8 oil are required, resulting in an increase of 5 pins. And if the logic module (6) is an LSI,
Bottles are extremely valuable, and an increase in the number of bottles has the disadvantage of being a huge burden.

この発明は、かかる点に着目してなされたもので、モジ
ュールのビンの量乞多く増やすことなく一ログアウト用
にも使用することができるシフトリング回路を提供しよ
うとするものである。
The present invention has been made with attention to this point, and an object thereof is to provide a shift ring circuit that can be used for one logout without increasing the number of module bins too much.

すなわち、第5図はこの発明の一実施例を示すもので、
(11)はLSZのような1つの論理モジュールで、(
12)はログアウトのだめのシフトが行なわれてよい複
数のシフトレジスタラッチ(5E)(5F)等を接続し
て構成された紀1のシフトリング回路−(15)はログ
アウト中も正常に動作しなければならない複数のシフト
レジスクラッチ< 5G) (5H)等”x 接続して
構成された第2のシフトリング回路で、上記論理モジュ
ール(11)のシフトイン端子「S■1」ハ、上記第1
のシフトリング回路(12)のシフトイン端子「S月に
接続され、また、この第1のシフトリング回路(12)
のシフト端子[SO,lは第2のシフ) IJソング1
5)のシフトイン端子「S月に接続されるとともに、 
2TO1セレクタ(18)の一方の入力と1.cるよう
に’;il成されている。さらに、上記論理モジュー濱
11)の入力端子[巧はこの発明の特徴とするところの
もので、この入力端子1”I’Jにはテストモードか否
かを示す信号が入力され、また、テスト時には、この入
力端子「J″、lの値は”1”にセットさ)するように
なされており、これによってANDゲー) (19)、
(20)および(21)が開いてシフトモード端子「S
月、Aクロック端子n月、Bクロック端子印月の値が、
第2のシフトリング回路(15)を構成する各シフトレ
ジスクラッチ(5G) (5H)等に伝達されるように
なされている。また、上記2’l”01セレクタ(18
)においては、第2のシフトリング回路(15)の出力
が選択され、na 埋モシュ−JLy (11)(7)
端子「5O7J Vctii力される。
That is, FIG. 5 shows an embodiment of this invention.
(11) is one logic module like LSZ, and (
12) is the shift ring circuit of Era 1, which is configured by connecting multiple shift register latches (5E) (5F), etc., which may be shifted during logout. (15) must operate normally even during logout. A second shift ring circuit configured by connecting a plurality of shift register clutches < 5G) (5H), etc., which must be connected, the shift-in terminal "S1" of the logic module (11)
This first shift ring circuit (12) is connected to the shift-in terminal 'S' of the shift ring circuit (12), and this first shift ring circuit (12)
Shift terminal [SO, l is the second shift] IJ song 1
5) The shift-in terminal “S” is connected to the
One input of the 2TO1 selector (18) and 1. It is made like this. Further, the input terminal 1"I'J of the logic module 11) is a feature of the present invention, and a signal indicating whether or not it is in the test mode is input to the input terminal 1"I'J. Sometimes, the value of this input terminal "J", l is set to "1"), thereby creating an AND game) (19),
(20) and (21) open and shift mode terminal “S”
The values of month, A clock terminal n month, and B clock terminal mark month are
The signal is transmitted to each shift register clutch (5G) (5H), etc. that constitute the second shift ring circuit (15). In addition, the above 2'l”01 selector (18
), the output of the second shift ring circuit (15) is selected and na JLy (11) (7)
Terminal "5O7J Vctii is applied.

したがって、この場合には、上記第1のシフトリ7グ回
路(12)と、第2のシフトリング回路(15)とは互
いに接続されて1つのシフトリング回路になった状態で
rJb作する。
Therefore, in this case, the first shift ring circuit (12) and the second shift ring circuit (15) are connected to each other to form one shift ring circuit and perform rJb operation.

次に、イステムとして動作する場合の入力端子1月はO
”の値にセントされ−ANDゲー) (19)。
Next, when operating as a system, input terminal 1 is O.
” (19).

(20)および(21)が閉じて第2のシフトリング回
路(15)に属する各シフトレジスクラッチ(5G) 
(5H)の各端子rsJ 、 rAJ 、 「川の値は
0”になるとともに2TO1セレクタ(18)において
は、入力喘子口」が”O゛であることによって、紀1の
シフトリング回路(12)の出力が選択され、論理モジ
ュール(11)の端子rso月に出力される。
(20) and (21) are closed and each shift register clutch (5G) belongs to the second shift ring circuit (15)
(5H), each terminal rsJ, rAJ, "river value becomes 0", and in the 2TO1 selector (18), the input pane opening" is "O", so the shift ring circuit (12 ) is selected and output to the terminal rso of the logic module (11).

次に、エラーが発生して、ログアウトが行なわれるとき
は、端子℃月のクロックが停止されるとともに、端子中
相は1”にセットされ、端子「A1」とl−8月からそ
れぞれAクロックとBクロックとが印加されて、第1の
シフトリング回路(12)のみが端子「SOl」からシ
フトアウトされるように構成され、ている。このとぎ、
上記第2のシフトリング回路(15)に接続された各シ
フトレジスタランチ(5G)(5H)等の端子脚「川「
剣は”0”のままであシ、しかも端子田2」からの通常
クロックも停止しないため、これらのシフトレジスタラ
ッチ(5G) (5H)等は通常の動作を続けるわけで
ある。
Next, when an error occurs and logout is performed, the clock on the terminal C is stopped, the middle phase of the terminal is set to 1'', and the A clock is output from the terminals A1 and A, respectively. and B clock are applied, and only the first shift ring circuit (12) is configured to be shifted out from the terminal "SO1". This moment,
Terminal leg "river" of each shift register launch (5G) (5H) etc. connected to the second shift ring circuit (15)
Since the sword remains at "0" and the normal clock from terminal 2 does not stop, these shift register latches (5G) (5H), etc. continue to operate normally.

以上述べたように、この発明のシフトリング回路によれ
ばLSI等のモジュールにおいて、モジュールのピンの
量乞多く増やすことなく(1ピンのみ増加)、テスト時
には論理モジュール内のすべてのシフトレジスクラッチ
を互いに接続したシフトリング回路が形成され、また、
システム動作中のログアウト実行時には、ログアウトす
べぎシフトレジスタラッチのみを接続したシフトリング
回路が形成されるから、上述したようにCADプログラ
ムによる自動テスト生成はもちろん、この発明のシフト
リング回路は、ログアウト等の他の用途にも使用するこ
とができる優れた効果を有するものである。
As described above, according to the shift ring circuit of the present invention, all shift register clutches in a logic module can be used during testing without increasing the number of pins of the module (only 1 pin increases) in a module such as an LSI. A shift ring circuit connected to each other is formed, and
When a logout is executed during system operation, a shift ring circuit is formed in which only the logout shift register latch is connected. Therefore, as described above, the shift ring circuit of the present invention can be used not only for automatic test generation using a CAD program, but also for logout, etc. It has excellent effects and can be used for other purposes as well.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はシフト機能を有する従来のラッチな示すブロッ
ク図、第2図は複数のランチを1つのブロックにまとめ
たシフトレジスタラッチのブロック図、第3図はシフト
レジスクラッチ内でシフトが行なわれた場合のタイムチ
ャート、第4図はLSI等の1つの論理モジュール内の
シフトリング回路ケ示すブロック図−第5図はこの発明
の一実施例を示すブロック図である。 図面中、(5E)(5F)(5G)オ6よび(5H)は
シフトレジスタラッチ、(11)は論理モジュール、(
12〕は第1(Dシフ)IJンク回路% (15)は第
2のシフトリング回路、(18)はセレクタ、(19)
(20H21)はANDゲートで増る。なお、図中同一
符号は同一または相当部分を示す。 代理人  葛 野 信 − 第1図 第2図 シフトA>煩M手(SI) A70・ン7 (A) う・ン+26款力(0) 87口・ン7(B) きフト1セト量+(So) 第4図
Figure 1 is a block diagram of a conventional latch with a shift function, Figure 2 is a block diagram of a shift register latch that combines multiple launches into one block, and Figure 3 is a block diagram of a shift register latch that has a shift function. FIG. 4 is a block diagram showing a shift ring circuit in one logic module such as an LSI, and FIG. 5 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. In the drawing, (5E) (5F) (5G) O6 and (5H) are shift register latches, (11) is a logic module, (
12] is the first (D shift) IJ link circuit% (15) is the second shift ring circuit, (18) is the selector, (19)
(20H21) is increased by the AND gate. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or corresponding parts. Agent Makoto Kuzuno - Figure 1 Figure 2 Shift A > M hand (SI) A70・N7 (A) U・N + 26 power (0) 87 Kuchi・N7 (B) Amount of 1 set of Kift +(So) Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)論理モジュール内に、シフト機能を有する複数の
シフトレジスクラッチからなる第1のシフトリング回路
と、第2のシフ) IJソング路とを設けたものにおい
て、テスト時には論理モジュール内のすべてのシフトレ
ジスタラッチを互いに接続したシフトリング回路乞形成
し、またシステム動作中のログアウト実行時には、ログ
アウトすべきシフトレジスクラッチのみを接続したシフ
トjl 7 り回路を形成するセレクタを上記第1と第
2のシフトリング回路に挿入したことを特徴とするシフ
トリング回路。 (2+セレクタとして2TO1セレククを用いたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のシフ) IJソ
ング路。 (6)セレクタは、第1のシフトリング回路の出力と、
第2のシフトリング回路の出力とを入力し、テスト信号
がONのときには第2のシフトリング回路の出力を選択
し、テスト信号がOFFのときには第1のシフトリング
回路の出力を選択して、論理モジュールのシフトアウト
端子に出力するようにしたことを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のシフトリング回路。
[Scope of Claims] (1) In a logic module provided with a first shift ring circuit consisting of a plurality of shift register clutches having a shift function and a second shift I/J song path, during testing. A shift ring circuit is formed in which all shift register latches in the logic module are connected to each other, and when logout is executed during system operation, a selector is connected to form a shift ring circuit in which only shift register latches to be logged out are connected. A shift ring circuit characterized in that it is inserted into first and second shift ring circuits. (The shift according to claim 1, characterized in that a 2TO1 selector is used as the 2+ selector) IJ song path. (6) The selector receives the output of the first shift ring circuit,
inputting the output of the second shift ring circuit, selecting the output of the second shift ring circuit when the test signal is ON, selecting the output of the first shift ring circuit when the test signal is OFF, 2. The shift ring circuit according to claim 1, wherein the shift ring circuit is configured to output to a shift out terminal of a logic module.
JP58054154A 1983-03-30 1983-03-30 Shift ring circuit Granted JPS59178549A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58054154A JPS59178549A (en) 1983-03-30 1983-03-30 Shift ring circuit

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61117627A (en) * 1984-11-13 1986-06-05 Fujitsu Ltd Diagnostic circuit of logic circuit
JP2012208029A (en) * 2011-03-30 2012-10-25 Renesas Electronics Corp Scan flip-flop circuit, scan test circuit, and control method thereof

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JP2012208029A (en) * 2011-03-30 2012-10-25 Renesas Electronics Corp Scan flip-flop circuit, scan test circuit, and control method thereof

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