JPS5917153A - 超音波探傷方法 - Google Patents
超音波探傷方法Info
- Publication number
- JPS5917153A JPS5917153A JP57127059A JP12705982A JPS5917153A JP S5917153 A JPS5917153 A JP S5917153A JP 57127059 A JP57127059 A JP 57127059A JP 12705982 A JP12705982 A JP 12705982A JP S5917153 A JPS5917153 A JP S5917153A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- flaw detection
- step width
- scanning
- ultrasonic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
- G01N29/265—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the sensor relative to a stationary material
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、超音波探傷方法、特に１０〜１００／Ｌｍ程
度の超微小欠陥を探傷するに＋１冷した超音波探傷方法
に関するものである。
度の超微小欠陥を探傷するに＋１冷した超音波探傷方法
に関するものである。
近年、自動車及び原子力用材料、油井管あるいは腐食ガ
ス用大径管等、使用条件の１厳しい製品が増加し、品質
の均一性に対−する要求が強くなってきている。特に自
動車のボディ用薄鋼板の様な強加工性材料では、その品
質に影響を与える欠陥は１０μｍ以−ヒからと考えられ
ている。
ス用大径管等、使用条件の１厳しい製品が増加し、品質
の均一性に対−する要求が強くなってきている。特に自
動車のボディ用薄鋼板の様な強加工性材料では、その品
質に影響を与える欠陥は１０μｍ以−ヒからと考えられ
ている。
現在、上記した緑な超微小欠陥の検りは、スライム法（
試験材を酸などで溶かした後、遠心分離し、欠陥となる
介在物を集める方法）−やミクロ検査（試料断面の顕微
鏡観測）により行なわれているが、これらの方法は迅速
性に欠目ると共に、抜き取り検査である為歇的信頼性に
も乏しかった。
試験材を酸などで溶かした後、遠心分離し、欠陥となる
介在物を集める方法）−やミクロ検査（試料断面の顕微
鏡観測）により行なわれているが、これらの方法は迅速
性に欠目ると共に、抜き取り検査である為歇的信頼性に
も乏しかった。
そこで、非破壊検査により）、耐欠陥の探傷を行なうこ
とが望ましいが、現時点では分解能の関係で非破壊検査
での探傷が不可能でちった。
とが望ましいが、現時点では分解能の関係で非破壊検査
での探傷が不可能でちった。
また超音波探傷Ｖておいて、欠陥をｊ′浸も精度良く検
出する方法として二次平面欠陥表示（０スコープ法）が
あるが、このＯスコープ法で用（八られＣいる周波数領
域は通常１〜５ＭＨ２である為分解能カ悪く、かつＸ−
Ｙ走査幅も門単位である為、１０〜１００μｍ程度の超
微小欠陥を探傷Ｃることが出来なかった。加えて、従来
のＯスコープ法では、走査ステップ幅とデータ収集速度
を一致２！ケることが考慮されていなかったため、Ｘ方
向とＹ方向の分解能が一致せず正確な探傷が行なえない
という間顯点も併せもっていた。
出する方法として二次平面欠陥表示（０スコープ法）が
あるが、このＯスコープ法で用（八られＣいる周波数領
域は通常１〜５ＭＨ２である為分解能カ悪く、かつＸ−
Ｙ走査幅も門単位である為、１０〜１００μｍ程度の超
微小欠陥を探傷Ｃることが出来なかった。加えて、従来
のＯスコープ法では、走査ステップ幅とデータ収集速度
を一致２！ケることが考慮されていなかったため、Ｘ方
向とＹ方向の分解能が一致せず正確な探傷が行なえない
という間顯点も併せもっていた。
本発明は、上記間順点に鑑みて成されたものであり、１
０〜１００μｍ程度の超微小欠陥を高精度かつ迅速に探
侮り能な方法を提供せんとするものである。
０〜１００μｍ程度の超微小欠陥を高精度かつ迅速に探
侮り能な方法を提供せんとするものである。
ｔなわち、本発明は水中の試験材上で超音波水浸点収束
形探触子（以下単に探触子と云う）を走査さげながら試
験材上にしける探触子位置をＯＲ１画面上に表示し、探
傷直下ｖｃｔｌ、−ける異常部の存否を二次平面（０ス
コープ法）、又は任意断面にしける二次平面的Ｂスコー
プ法に表示する超音波探傷方法において、前記探触子が
送１ｇする超音波を、周波数を５０〜１００ ＭＨｚ、
ビーム径を０．３ｖａｎ 、ｌ′Ｊ、”Ｆとし、かつ予
め設定するゲート範囲をこの焦点深度と等しくすると共
に、探触子を０．２ ｖｅｍ臥Ｆのステップ幅で走査ざ
仕、この走査により得られたデータを前記ステップ幅と
同一の収集速度にて取込み、そしてこのうちの前記焦点
深度内のデー４のみを距離振幅補正し、欠陥の探傷を行
なうものである。
形探触子（以下単に探触子と云う）を走査さげながら試
験材上にしける探触子位置をＯＲ１画面上に表示し、探
傷直下ｖｃｔｌ、−ける異常部の存否を二次平面（０ス
コープ法）、又は任意断面にしける二次平面的Ｂスコー
プ法に表示する超音波探傷方法において、前記探触子が
送１ｇする超音波を、周波数を５０〜１００ ＭＨｚ、
ビーム径を０．３ｖａｎ 、ｌ′Ｊ、”Ｆとし、かつ予
め設定するゲート範囲をこの焦点深度と等しくすると共
に、探触子を０．２ ｖｅｍ臥Ｆのステップ幅で走査ざ
仕、この走査により得られたデータを前記ステップ幅と
同一の収集速度にて取込み、そしてこのうちの前記焦点
深度内のデー４のみを距離振幅補正し、欠陥の探傷を行
なうものである。
超音波ビームに分ける分解能は波長の８であるため、微
小欠陥を探傷するには超音波の周波数は、３０〜１００
ＭＵ２が好ましく、実験的にも該ｌ５ｉ（波数が適正
であることを確認した。又ビーム径も分解能の関係で０
．３ｍ以下がよいことがわかった。更にステップ幅とデ
ータ収集速度を何−にしたのは、仮にデータ収集速度が
ステップ幅よりも大きければ、ステップ幅の範囲内のも
のを確実に探傷できないからである。更に又、超音波ビ
ームの焦点深度とゲート範囲を同一にする理由１ｄ、二
次平面像の再現性を同上させるためである。
小欠陥を探傷するには超音波の周波数は、３０〜１００
ＭＵ２が好ましく、実験的にも該ｌ５ｉ（波数が適正
であることを確認した。又ビーム径も分解能の関係で０
．３ｍ以下がよいことがわかった。更にステップ幅とデ
ータ収集速度を何−にしたのは、仮にデータ収集速度が
ステップ幅よりも大きければ、ステップ幅の範囲内のも
のを確実に探傷できないからである。更に又、超音波ビ
ームの焦点深度とゲート範囲を同一にする理由１ｄ、二
次平面像の再現性を同上させるためである。
以下本発明を、図面に基づいて更に詳細に説明する。
第１図は本発明方法を実施するための装置の一例を示す
概略説明図であり、図中（１）は水中に浸漬せしめられ
た試験材、（２）は前記試験材（１）の上方にＭＵさせ
た探触子であって、この探触ソ（２）よりビーム径を０
．３四以下に絞った３０〜１００ ＭＨｚの高周波超音
波ビームが水を介して試験材（１）に入射され、かつ前
記探触子（２）は走査機コントローラ（３）により０．
２圃以下のステップ幅（、）でＸ−Ｙ走査される。なお
上記探触子（２）より照射される高周波ビームの焦点深
度は、試験材（１）の厚さにより予め設定したゲート範
囲と同一に設定されている。
概略説明図であり、図中（１）は水中に浸漬せしめられ
た試験材、（２）は前記試験材（１）の上方にＭＵさせ
た探触子であって、この探触ソ（２）よりビーム径を０
．３四以下に絞った３０〜１００ ＭＨｚの高周波超音
波ビームが水を介して試験材（１）に入射され、かつ前
記探触子（２）は走査機コントローラ（３）により０．
２圃以下のステップ幅（、）でＸ−Ｙ走査される。なお
上記探触子（２）より照射される高周波ビームの焦点深
度は、試験材（１）の厚さにより予め設定したゲート範
囲と同一に設定されている。
そして、上記探触子（２）の走査中超音波探傷器（４）
にて常時受信する反射エコーを、上記ステップ幅（−ト
同一の収集速度（ｂ）にてｔニコンピュータ−（５）に
取込み、ここで焦点深度内のデータのみが距離振幅補正
され、しかる後メインコンピューター（６）に転送され
、その欠陥の大きざによって適宜の倍率でグラフィック
ディスプレイ（７）上にＢ又Ｈａスコープにて表示され
る。なｆ、−１＋８）は試験材（１）上の探触子（２）
位置を表示するＯＲＴである。
にて常時受信する反射エコーを、上記ステップ幅（−ト
同一の収集速度（ｂ）にてｔニコンピュータ−（５）に
取込み、ここで焦点深度内のデータのみが距離振幅補正
され、しかる後メインコンピューター（６）に転送され
、その欠陥の大きざによって適宜の倍率でグラフィック
ディスプレイ（７）上にＢ又Ｈａスコープにて表示され
る。なｆ、−１＋８）は試験材（１）上の探触子（２）
位置を表示するＯＲＴである。
第１図に示すｌＩＲ成の探傷装置を７１１いて本発明方
法により、薄Ｉｌｌ板の探（易を行な一つだ結果、１［
３〜１００ ｐｍの範囲内の超微小欠陥の探傷が良好に
行なえた。なお、この場合の距離振幅補正を施した後の
欠陥の大きざの再現性は５０μｍの欠陥で±２気であつ
卒。
法により、薄Ｉｌｌ板の探（易を行な一つだ結果、１［
３〜１００ ｐｍの範囲内の超微小欠陥の探傷が良好に
行なえた。なお、この場合の距離振幅補正を施した後の
欠陥の大きざの再現性は５０μｍの欠陥で±２気であつ
卒。
以上述べた如く本発明は、水中の試験料上位で探触子を
走査させながら試験材−ＬＶｃ：ｌ＝−ける探触す位置
をＯＲ１画面上に示し、探傷直下に訃ける異常部の存否
を二次平面又は任意１仇面にｐける二次平面で表示す超
音波！ｐ傷方法において、前記探触子が送信する超音波
を、周波数を３０〜１００ＭＨｚ、ビーム径を０．３箇
以下とし、かつその焦点深度を予め設定したゲート範囲
と等しくすると共に、探触子を０．２ ｍ以下のステッ
プ幅で走査させ、′ この走査により得られたデータを
ｌ’ｌＴ Ｍｔニステップ幅と同一の収集速度でて取込
み、そしてこのうらの前記焦点深度内のデータのみを距
１）（Ｅ振幅補ＩＥ］２、欠陥の探傷を行なう為、１０
〜１００μｆｎ程度の超微小欠陥でも高精度かつ迅速に
探傷することができ、使用条件の厳しい製品の探傷に大
なる効果を有する発明である。
走査させながら試験材−ＬＶｃ：ｌ＝−ける探触す位置
をＯＲ１画面上に示し、探傷直下に訃ける異常部の存否
を二次平面又は任意１仇面にｐける二次平面で表示す超
音波！ｐ傷方法において、前記探触子が送信する超音波
を、周波数を３０〜１００ＭＨｚ、ビーム径を０．３箇
以下とし、かつその焦点深度を予め設定したゲート範囲
と等しくすると共に、探触子を０．２ ｍ以下のステッ
プ幅で走査させ、′ この走査により得られたデータを
ｌ’ｌＴ Ｍｔニステップ幅と同一の収集速度でて取込
み、そしてこのうらの前記焦点深度内のデータのみを距
１）（Ｅ振幅補ＩＥ］２、欠陥の探傷を行なう為、１０
〜１００μｆｎ程度の超微小欠陥でも高精度かつ迅速に
探傷することができ、使用条件の厳しい製品の探傷に大
なる効果を有する発明である。
なか本実施例でけ、−個の探触子を走査させて探（にす
るものについて説明したが、これに代えてアレイ型探触
子を用い、この探触子を順次スイツプー／グしてもよい
。またアレイ１個分について機（戒的にｘ−ｙ走査巧け
れば央に精密走査が可能となる。
るものについて説明したが、これに代えてアレイ型探触
子を用い、この探触子を順次スイツプー／グしてもよい
。またアレイ１個分について機（戒的にｘ−ｙ走査巧け
れば央に精密走査が可能となる。
第１図は本発明方法を実施するための装置の一例を承す
概略説明図、第２図は本発明のＸ−Ｙ走査の路程とデー
タの収集速度との関係を示す説明図である。 （１）は試験材、（２）は探触イー。 特許出願人 住友金属上業株式会社 第１図 ノ ｎす番１番＋１ →Ｘ
概略説明図、第２図は本発明のＸ−Ｙ走査の路程とデー
タの収集速度との関係を示す説明図である。 （１）は試験材、（２）は探触イー。 特許出願人 住友金属上業株式会社 第１図 ノ ｎす番１番＋１ →Ｘ
Claims (1)
- （１）、水中の試験材上位で探触子を走査させながら試
験材上に訃ける探触子位置をＯＲＴ画面上に示し、探傷
１μ下における異１蓄部の存否を二次平面又ｒよ任意断
面にしける二次平面的に表示する超音波探傷方法におい
て、探傷周波数を３０・〜１００ＭＨ２％探触子ビーム
径を０．３＋ｍ以Ｆとし、かつその焦点深度を予め設定
したゲート範囲と等しくすると共に、探触ｆを０．２四
μＦのステップ幅で走査させ、この走査により得られた
データを前記ステップ幅と同一の収集速度にて取込み、
欠陥の探傷を行なうことを特徴とする超音波探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57127059A JPS5917153A (ja) | 1982-07-21 | 1982-07-21 | 超音波探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57127059A JPS5917153A (ja) | 1982-07-21 | 1982-07-21 | 超音波探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5917153A true JPS5917153A (ja) | 1984-01-28 |
Family
ID=14950571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57127059A Pending JPS5917153A (ja) | 1982-07-21 | 1982-07-21 | 超音波探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5917153A (ja) |
-
1982
- 1982-07-21 JP JP57127059A patent/JPS5917153A/ja active Pending
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