JPS5915233B2 - Test method for switching equipment - Google Patents

Test method for switching equipment

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JPS5915233B2
JPS5915233B2 JP17084579A JP17084579A JPS5915233B2 JP S5915233 B2 JPS5915233 B2 JP S5915233B2 JP 17084579 A JP17084579 A JP 17084579A JP 17084579 A JP17084579 A JP 17084579A JP S5915233 B2 JPS5915233 B2 JP S5915233B2
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JP
Japan
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trunk
test
scanning device
row
test data
Prior art date
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Expired
Application number
JP17084579A
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Japanese (ja)
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JPS5693469A (en
Inventor
俊秀 小石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Expired legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q1/00Details of selecting apparatus or arrangements
    • H04Q1/18Electrical details
    • H04Q1/20Testing circuits or apparatus; Circuits or apparatus for detecting, indicating, or signalling faults or troubles
    • H04Q1/22Automatic arrangements

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は交換機における試験方法、特に電子交換機通話
路系装置架に実装される走査装置の機能試験方法の改良
に関す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an improved method for testing the functionality of a scanning device installed in an electronic switching equipment rack, particularly in a switching system.

電子交換機における加入者のフッキング状態は、加入者
回路あるいはトランクに在る各種リレーの動作状態を走
査装置により検出することにより、中央処理系に伝達さ
れる。
The hooking status of a subscriber in an electronic exchange is transmitted to the central processing system by detecting the operating status of various relays in the subscriber circuit or trunk using a scanning device.

1走査装置が担当する被走査点数は約2000乃至約4
000に及び、16あるいは32被走査点を1行とした
マトリックス状に配列される。
The number of scanned points handled by one scanning device is approximately 2000 to approximately 4.
000, and are arranged in a matrix with 16 or 32 scanned points in one row.

走査装置は中央処理系から指定された1行を選び該行に
含まれる全被走査点のリレー接点開閉状態を検出し、中
央処理系に伝達する。第1図はかかる走査装置の機能試
験を行う従来ある試験方法の一例を示す図である。
The scanning device selects one row specified by the central processing system, detects the open/closed state of the relay contacts of all scanned points included in the row, and transmits the detected state to the central processing system. FIG. 1 is a diagram showing an example of a conventional test method for functionally testing such a scanning device.

第1図においてトランク架TFに実装されているトラン
ク走査装置TSCNは、同じくトランク架TFに搭載さ
れるトランク類TRK内のリレーの動作状態を走査する
。トランク類TRKは被走査点16点毎に構成されるト
ランク行R。、R1・・・・・・、RN単位にトランク
走査装置TSCNにより走査される。トランク走査装置
TSCNは中央処理系からアドレスバスSPABを介し
て指定されるトランク行Rxの被走査点16点を同時に
走査し、各被走査点のリレー接点開閉状態を検出し、ア
ンサバスS PWBを介して中央処理系に伝達する。か
かるトランク走査装置TSCNの機能試験は従来試験装
置ST1により行われる。該試験装置ST3は試験対象
となるトランク走査装置TSCNに各トランク行R。、
R1・・・・・・、RNから種々の被走査点の動作状態
を入力し、走査の結果トランク走査装置TSCNから出
力されるデータを入力したデータと対比し、機能の正常
性を確認するものである。16点の被走査点に入力する
各種試験データは試験データ入力回路IDにおいてリレ
ー接点o乃至15により入力の都度設定され、長いケー
ブルCで結合された試験パッケージTPKGIをトラン
ク架TF上の試験対象トランク行Rxに搭載することに
より入力される。
In FIG. 1, the trunk scanning device TSCN mounted on the trunk frame TF scans the operating state of the relays in the trunks TRK also mounted on the trunk frame TF. The trunk type TRK is a trunk row R configured every 16 points to be scanned. , R1..., are scanned by the trunk scanning device TSCN in units of RN. The trunk scanning device TSCN simultaneously scans 16 scanned points of the trunk row Rx specified by the central processing system via the address bus SPAB, detects the open/closed state of the relay contact of each scanned point, and scans the relay contacts via the answer bus SPWB. and transmits it to the central processing system. Such a functional test of the trunk scanning device TSCN is conventionally performed by a test device ST1. The test device ST3 scans each trunk row R to the trunk scanning device TSCN to be tested. ,
R1..., inputs the operating status of various scanned points from RN, compares the data output from the trunk scanning device TSCN as a result of scanning with the input data, and confirms the normality of the function. It is. Various test data input to the 16 scanned points are set each time they are input using relay contacts o to 15 in the test data input circuit ID, and the test package TPKGI connected by a long cable C is connected to the test target trunk on the trunk rack TF It is input by mounting it on row Rx.

同時に試験装置ST1にある行指定回路RSからトラン
ク走査装置TSCNに、試験パッケージTPKGIを搭
載したトラスク行Rxに対応する行指定情報を入力し、
該トランク行Rxに入力されている試験データ入力回路
ID内のリレー接点o乃至15の開閉状態をトランク走
査装置TSCNに走査させる。更に検出結果は試験装置
ST、にある試験データ出力回路ODに受領し、試験デ
ータ入力回路IDに設定した試験データと比較回路CP
により比較し、両者が一致すれぱトランク走査装置TS
CNのトランク行Rxに対応する走査機能は正常と判断
する。以上の説明から明らかな如く、試験対象トランク
走査装置TSCNの全被走査点を網羅した走査機能を確
認するには、長いケーブルCの付いた試験パツケージT
PKG,をトランク架TFのトランク行R。
At the same time, the row designation information corresponding to the trask row Rx carrying the test package TPKGI is input from the row designation circuit RS in the test device ST1 to the trunk scanning device TSCN,
The trunk scanning device TSCN scans the open/closed states of relay contacts o to 15 in the test data input circuit ID input to the trunk row Rx. Furthermore, the detection result is received by the test data output circuit OD in the test device ST, and is compared with the test data set in the test data input circuit ID in the comparison circuit CP.
If the two match, the trunk scanning device TS
It is determined that the scanning function corresponding to the trunk row Rx of CN is normal. As is clear from the above explanation, in order to confirm the scanning function covering all scanned points of the trunk scanning device TSCN under test, it is necessary to use the test package T with the long cable C attached.
PKG, is the trunk row R of the trunk rack TF.

,R,,・・・・・・,RNに順次搭載を移して行く必
要があり、操作性も良くない。また試験パツケージTP
KGlは取扱便宜上複数のプロツクに分割されており、
プロツク配列を誤つてトランク行Rxに搭載すると、試
験結果を誤つて判断することとなり、注意を要する。更
に試験作業の合理化を企図して、予め複数のトランク行
Rxに試験データを設定してトランク走査装置TSCN
に連続走査させる方法も考えられるが、そのためには試
験データ入力回路1D1試験パツケージTPKGおよび
両者を結ぶケーブルCの規模も複数倍となり、事実上規
模は限定される。本発明の目的は、前述の如き従来ある
走査装置試験方法の欠点を改善し、操作性の向上、誤操
作の防止並びに試験作業合理化の可能性を付与するにあ
る。
It is necessary to sequentially transfer the installation to ,R,,...,RN, and the operability is not good. Also test package TP
KGl is divided into multiple blocks for convenience of handling.
If the wrong block arrangement is installed in the trunk row Rx, the test results will be judged incorrectly, so care must be taken. Furthermore, in order to streamline the test work, test data is set in advance in multiple trunk rows Rx, and the trunk scanning device TSCN
A method of continuous scanning may be considered, but this would require multiple times the scale of the test data input circuit 1D1 test package TPKG and the cable C connecting the two, which would effectively limit the scale. An object of the present invention is to improve the drawbacks of the conventional scanning device testing method as described above, and to provide the possibility of improving operability, preventing erroneous operations, and streamlining the testing work.

この目的は、電子交換機通話路系装置架に実装される走
査装置の機能試験において、前記通話路系装置架内被走
査装置部に試5験パツケージを搭載し、前記通話路系装
置架にある継電器1駆動用布線を介して該試験パツケー
ジに、走査装置に入力する試験データを設定することに
より達成される。
The purpose of this is to mount a test package on the scanned device section in the communication line equipment rack in a functional test of a scanning device mounted on the communication line equipment rack of an electronic exchange. This is achieved by setting the test package via the relay 1 driving wiring with test data which is input to the scanning device.

以下本発明の一実施例を第2図により説明する。第2図
において、試験対象は第1図同様トランク架TFに実装
されるトランク走査装置TSCNである。またトランク
架TFには、第1図において使用されなかつた同架TF
に布線済みの継電器駆動用布線Rcが示されている。継
電器駆動用布線Rcを経由して図示されぬ継電器駆動装
置が各種トランク類TRKのリレーを駆動する。一方第
2図における試験装置STlにも示された試験データ入
力回路1D1行指定回路RSl試1験データ出力回路0
Dおよび比較回路CP以外に、前記継電器駆動用布線R
cにリレー動作情報を印加する継電器制御回路RCCが
設けられる。また試験データ入力回路1Dにはトランク
行R。,Rl,・・・,RNから試験データを入力する
ためのリレー接点0乃至15は設けられず、試験時、ト
ランク架TFの所定のトランク行Rxに搭載する試験パ
ツケージTPKG2に内蔵されている。なお該試験パツ
ケージTPKG2は試験装置ST2とはケーブルその他
で結合されてはいない。今トランク架TFのトランク行
R。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. In FIG. 2, the test object is the trunk scanning device TSCN mounted on the trunk frame TF as in FIG. 1. In addition, the trunk rack TF includes the same trunk rack TF that was not used in Fig. 1.
The relay driving wiring Rc that has already been wired is shown in FIG. A relay driving device (not shown) drives the relays of various trunks TRK via the relay driving wiring Rc. On the other hand, test data input circuit 1D1 row designation circuit RSl test 1 test data output circuit 0 also shown in test device STl in FIG.
In addition to D and comparison circuit CP, the relay driving wiring R
A relay control circuit RCC is provided to apply relay operation information to c. Also, the trunk row R is connected to the test data input circuit 1D. , Rl, . . . , RN are not provided with relay contacts 0 to 15, but are built into the test package TPKG2 mounted on a predetermined trunk row Rx of the trunk rack TF during testing. Note that the test package TPKG2 is not connected to the test device ST2 by a cable or other means. Now trunk row R of trunk rack TF.

における被走査点16点から試験データを入力する。最
初に試験パツケージTRKG2をトランク架TFのトラ
ンク行R。に搭載する。次に試験データ入力回路IDに
入力すべき試験データを設定すると、試験データ入力回
路1Dは該試験データを継電器制御回路RCCに伝達す
る。継電器制御回路RCCは試験データを入力するトラ
ンク行位置(現在はトランク行R。)および試験データ
に基づきトランク架TFの継電器1駆動用布線Rcにリ
レー動作情報を送り、トランク行R。に搭載済みの試験
パツケージTPKG2内のリレー0乃至15を動作させ
、該リレー接点0乃至15の開閉状態をトランク行RO
の被走査点16点から入力させる。同時に試験装置ST
2の行指定回路RSからトランク走査装置TSCNに試
験パツケージTPKG2を搭載したトランク行R。に対
応する行選択情報を入力し、該トランク行R。の被走査
点16点に入力されている試験パツケージ内リレー接点
0乃至15の開閉状態をトランク走査装置TSCNに走
査させる。更に検出結果は試験装置ST2にある試験デ
ータ出力回路0Dに受領し、試験データ入力回路1Dに
設定した試験データと比較回路CPにより比較し、両者
が一致すればトランク走査装置TSCNのトランク行R
。に対する走査機能は正常と判断する。試験データは予
め定められた複数種類が順次設定され該トランク行R。
に対する走査機能試験が繰返される。トラヴク行R。か
ら試験データを入力した場合の試験が終了すれば、次に
試験パツケージTPKG2をトランク架TFのトランク
行R1に搭載し直し、同様の試験を実施する。以下同様
に試験パツケージTPKG2を最終トランク行RN迄移
行させて試験を完了すればトランク走査装置TSCNの
全走査機能は試験済みとなる。以上の説明から明らかな
如く、本実施例によれば試験対象トランク走査装置TS
−CNの被走査点から試験データを入力する試験パツケ
ージTPKG2は試験装置ST2とは独立で長いケーブ
ル等は一切付加されておらず、操作性も良好である。
Test data is input from 16 scanned points at . First, test package TRKG2 is moved to trunk row R of trunk rack TF. be installed on. Next, when test data to be input is set in the test data input circuit ID, the test data input circuit 1D transmits the test data to the relay control circuit RCC. The relay control circuit RCC sends relay operation information to the relay 1 driving wiring Rc of the trunk frame TF based on the trunk row position (currently trunk row R) where test data is input and the test data, and transmits relay operation information to the trunk row R. The relays 0 to 15 in the test package TPKG2 installed in
input from 16 scanned points. At the same time, test equipment ST
Trunk row R in which the test package TPKG2 is loaded from the row designation circuit RS of No. 2 to the trunk scanning device TSCN. Enter the row selection information corresponding to the trunk row R. The trunk scanning device TSCN scans the open/close states of the relay contacts 0 to 15 in the test package, which are input to the 16 scanned points. Furthermore, the detection result is received by the test data output circuit 0D in the test device ST2, and compared with the test data set in the test data input circuit 1D by the comparison circuit CP. If the two match, the trunk row R of the trunk scanning device TSCN is
. The scanning function is judged to be normal. A plurality of predetermined types of test data are sequentially set in the trunk row R.
The scanning function test is repeated. R for Travuk. When the test is completed when the test data is input from , the test package TPKG2 is then reloaded onto the trunk row R1 of the trunk rack TF, and the same test is performed. Similarly, if the test package TPKG2 is moved to the final trunk row RN and the test is completed, all scanning functions of the trunk scanning device TSCN have been tested. As is clear from the above description, according to this embodiment, the trunk scanning device TS to be tested
The test package TPKG2, which inputs test data from the scanned point of -CN, is independent from the test device ST2, does not include any long cables, and has good operability.

本試験パツケージTPKG2も取扱上複数のブ吟;′j
″:l神?中ど;;申工3;?意を払う必要は全くない
This test package TPKG2 also requires multiple handling procedures;'j
``:l God? Nakado; ; Shinko 3;? There's no need to pay any attention.

また試験パツケージTPKG2内のリレーを試験データ
に基づいて動作させる場合にも、トランク架TFに布線
済みの継電器駆動用布綿Rcを利用して行われるので、
トランク走査装置TSCNの内部のみに限定されぬ試験
が実施される。更に試験作業合理化のために予め複数の
トランク行Rxに試験データを設定して、トランク走査
装置TSCNに連続走査させる場合には、試験パツケー
ジTPKG2を所要数増設して複数トランク行Rxに総
て搭載するのみで可能となり、トランク架TFにある全
被走査点を連続走査することも不可能ではない。なお第
2図は本発明のあく迄一実施例にすぎず、例えば試験対
象走査装置はトランク用に限定されず、例えばラインリ
ンタ架に実装される加入者回路を走査するライン走査装
置の機能試験に適用しても、本発明の効果は変らない。
Also, when operating the relay in the test package TPKG2 based on the test data, this is done using the relay drive cloth Rc that has already been wired to the trunk rack TF.
Tests are performed that are not limited only to the interior of the trunk scanning device TSCN. Furthermore, in order to streamline the test work, if test data is set in advance in multiple trunk rows Rx and the trunk scanning device TSCN is to continuously scan it, the required number of test packages TPKG2 can be increased and all of the test packages TPKG2 can be installed in multiple trunk rows Rx. It is not impossible to continuously scan all scanned points on the trunk rack TF. It should be noted that FIG. 2 is only one embodiment of the present invention, and for example, the scanning device to be tested is not limited to trunk use, and can be used, for example, for functional testing of line scanning devices that scan subscriber circuits mounted on line printer racks. The effect of the present invention does not change even if it is applied to

以上、本発明によれば、電子交換機通話路系装置架に実
装される走査装置の機能試験の操作性が向上し、誤操作
も防止され、更に試験作業の合理化の可能性も付与しう
る試験方法が実現される。
As described above, according to the present invention, the operability of the functional test of the scanning device mounted on the equipment rack of the electronic switching system is improved, erroneous operations are prevented, and the test method can also provide the possibility of streamlining the test work. is realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来あるトランク走査装置の機能試験方法の一
例を示すプロツク図、第2図は本発明の一実施例におけ
るトランク走査装置の試験方法を示すプロツク図である
。 図において、TF・・・・・・トランク架、STl,S
T2・・・・・・試験装置、TSCN・・・・・・トラ
ンタ走査装置、RO,Rl,・・・,RN・・・・・・
トランク行、Rc・・・・・・継電器駆動用布線、ID
・・・・・・試験データ入力回路、0D・・・・・・試
験データ出力回路、RS・・・・・・行指定回路、CP
・・・・・・比較回路、RCO・・・・・継電器制御回
路、TPKGl,TPKG2・・・・・・試験パツケー
ジ。
FIG. 1 is a block diagram showing an example of a conventional function test method for a trunk scanning device, and FIG. 2 is a block diagram showing a method for testing a trunk scanning device according to an embodiment of the present invention. In the figure, TF... Trunk frame, STl, S
T2...Test equipment, TSCN...Tranta scanning device, RO, Rl,..., RN...
Trunk row, Rc...Relay drive wiring, ID
......Test data input circuit, 0D...Test data output circuit, RS...Row designation circuit, CP
... Comparison circuit, RCO ... Relay control circuit, TPKGl, TPKG2 ... Test package.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 電子交換機通話路系装置架に実装される走査装置の
機能試験において、前記通話路系装置架内被走査装置部
に試験パッケージを搭載し、前記通話路系装置架にある
継電器駆動用布線を介して該試験パッケージに、走査装
置に入力する試験データを設定することを特徴とする交
換機における試験方法。
1. In a functional test of a scanning device mounted on a rack of electronic switching equipment, a test package is mounted on the scanned device section in the equipment rack of the telecommunication equipment, and a wiring for driving a relay on the equipment rack of the telecommunication equipment is installed. A test method in an exchanger, characterized in that test data to be input to a scanning device is set in the test package via the test package.
JP17084579A 1979-12-27 1979-12-27 Test method for switching equipment Expired JPS5915233B2 (en)

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JPS5693469A JPS5693469A (en) 1981-07-29
JPS5915233B2 true JPS5915233B2 (en) 1984-04-07

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63182642U (en) * 1987-05-15 1988-11-24

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63182642U (en) * 1987-05-15 1988-11-24

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JPS5693469A (en) 1981-07-29

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