JPS5915195B2 - 大きな温度勾配を有する熱電装置 - Google Patents

大きな温度勾配を有する熱電装置

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JPS5915195B2
JPS5915195B2 JP51081461A JP8146176A JPS5915195B2 JP S5915195 B2 JPS5915195 B2 JP S5915195B2 JP 51081461 A JP51081461 A JP 51081461A JP 8146176 A JP8146176 A JP 8146176A JP S5915195 B2 JPS5915195 B2 JP S5915195B2
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thermoelectric
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、熱を電気エネルギに変換するためまたはそ
の逆に熱を電気的にポンピングするための改良された効
率を有する熱電装置に関する。
公知のように、熱電素子は、熱を変換する発電機として
用いた場合数パーセントの効率しか達成できない。また
、電気的熱ポンプとしての熱電素子の使用は、従米極く
特殊な用途に限られている。その理由は先ず第1に、今
日まで使用されるに到つている全べての熱電素子におい
て、その最大可能な効率を制限する材料の熱的および電
気的組合せが極めて悪いことによる。例えばドープされ
たSi7OGe,O結晶(発電機用)またはBi2Te
,(熱ポンプ用)のような今日知られている最良の熱電
材料においても、いわゆる性能指数(熱電率の2乗を熱
伝導率および導電率の比で割つた商)に平均動作温度を
乗じた値は、大体数値1を達成できるのが限度である。
そして、このことが、熱電素子で熱電素子で現在最良の
場合でもカルノ一効率の10ないし20%しか達成でき
ないことの主たる事由である。したがつて、熱電効果は
広汎な技術分野で応用できるようにするためには上記性
能指数の本質的な改善が必要とされる訳である。公知の
熱電材料を用いての改良に関して、現在の技術レベルで
は熱電効率の本質的な増大は達成できないように思われ
る。熱電装置に新規な物理的効果を利用し且つ適合させ
ることによつて成功が期待される。性能指数の改善には
、熱電材料の導電率を大きくすること、または熱電率を
大きくすることまたは熱伝導率を小さくすることによる
新規な物理的効果が寄与することができる。
導電率の増大は例えば非常に薄い半導体および絶縁層に
おいて波動力学的なトンネル効果により可能にされる。
また熱電率の高揚は特殊な条件下において温度勾配下で
フオノンを電子で「連行」すること(フオノンドラグ効
果)により実現され、そして熱伝導率の減少は格子にお
ける電子の非弾性散乱により達成される。本発明の課題
は、新規な物理的効果を利用および適用することにより
熱電素子の効率を改良することにある。
本発明によれば、上記の課題は、熱電素子の各要素脚に
おいて、熱電流が、電子の非弾性散乱の結果として固有
熱伝導率が減少される程に大きな温度勾配を有する少な
くとも1つの個所を介して流れることを特徴とする大き
な温度勾配を有する熱電装置によリ解決される。
固体においては、103度程度の最大温度差を用いるこ
とが可能であるので、上記の大きな温度勾配は固体にお
いて最小の距離における温度差を意味する。
従来の熱電発電機および熱ポンプにおいては103〜1
04度/C!nの温度勾配は殆んど達成できないが、本
発明による熱電装置は104度/C!!Lより大きな勾
配で動作することができる。格子イオンにおいて電子の
散乱を弾性的に行なう場合には大きな温度差でもほぼ通
常の温度依存特性に従つてのみ固有熱伝導率に影響を与
えることができるに過ぎない。1つの電子が平均して1
つの温度勾配下で2回衝突する間に吸収され且つ放出さ
れるような最大のエネルギ量が、大きくてもKθに等し
い限り、電子散乱は弾性散乱にとどまる。
ここでKはボルツマン定数であり、θはいわゆる特性温
度もしくはデバイの温度である。また、この場合にはビ
ーデマン・フランツ・ローレンツの法則も当嵌る。本発
明の教示によれば、θ/λより大きな温度勾配において
、温度勾配の方向における電子の散乱が平均的に非弾性
になる。
というのは本発明によれば電子はKθよりも大きなエネ
ルギ量を吸収または放出するからである。ここでλは電
子の平均自由走程である。格子イオンにおける電子の非
弾性散乱は実質的に、固有導電率に対し何ら影響するこ
とがない。しかしながらこの非弾性散乱は固有熱伝導率
には大きな影響を及ほし、固有熱伝導率は格子と電子と
の非弾性衝突で温度勾配に換算して5桁程度まで小さく
なる。この臨界温度勾配においては金属に関するビーデ
マン・フランツローレンツの法則は最早や当嵌らなくな
る。何故ならば、「熱」もしくは[冷」電子、即ち格子
と平衡状態にない電子が挙動を支配するからである。ほ
ぼ10000Kの温度では金属のθ/λの値は107〜
108度/(1771程度である。それよりも低い温度
では、平均自由走程λは大きくなり、そして固有熱伝導
率が小さくなる臨界温度勾配は、転移領域を考慮に入れ
ても、1桁または2桁以上小さくなる。臨界温度勾配に
ある材料は、いわば新しい熱電材料となり、その性能指
数は(極めて大きな温度勾配の影響下での)熱電率、殆
んど変らない導電率および小さくなつた固有熱伝導率に
よつて決定される。
この場合性能指数に平均温度を乗じた積は例えばニツケ
ル、鉄のような金属に対しても103より大きな値を取
ることができる。半導体および絶縁体の場合、臨界温度
勾配においては比較的大きな熱電率のために、105V
/鑞以上の電界強さが生じ、この結果、この材料の電気
抵抗は減少され得る。
特殊な状況下では高い温度でも、格子振動による電子の
ドラグが生じてこれにより例えば大きな温度勾配を有す
る薄い層の形態にあるこの材料の熱電率は大きくなる。
薄層の厚さが充分に小さい場合には単に波動力学的なト
ンネル効果に由るだけで層の横導電率の増大がもたらさ
れる。本発明によれば、大きな熱勾配は要素脚において
異なつた温度に設定された物体間の充分に小さな結合ま
たは接触個所に定常的に存在せしめることができる。
しかしながらまた、本発明によれば、大きな温度勾配は
要素脚に非定常的に存在せしめることもできる。
例えば、大きな非定常的温度勾配は強い電磁ビーム(例
えば導束された太陽光線)またはイオン化ビーム(例え
ば弱いβ放射)の表面吸収により発生することができる
。また、本発明によれば異なつた温度゜を受ける物体の
時間的または時間および空間的に可変の接触個所にも大
きな温度勾配を生ぜしめることができる。
本発明による熱電装置の全電気抵抗および全熱伝導抵抗
を、本質的に大きな温度勾配が存在する領域または層に
おける電気抵抗および熱伝導抵抗により決定するように
すれば、最適な条件が達成される。
これらの領域または層においてのみ、非平衡電子の正ま
たは負の減衰、したがつてまた固有熱伝導率の減少が生
ずるからである。時間的または時間および空間的に可変
の接触個所における大きな非線形温度勾配は2つの異な
つた温度を受ける物体の周期的接触により生ぜしめるこ
とができる。本発明によれば、2つの物体のうちの少な
くとも1つを回転対称形にすることができる。
本発明によれば、上記の時間的または時間的および空間
的に可変の接触個所は異なつた温度を受ける物体の転動
、振動または摩擦により生ぜしめることができる。
この場合には非定常的な熱接触であるにも拘らず、定常
的に電気接触が実現できる。本発明によれば2つの異な
つた温度を受ける物体のうちの1つをプラズマから構成
することができる。
本発明の別の実施形態においては、2つの異なつた温度
を受ける物体のうちの1つを良好な導電性の液体、例え
ば液相もしくは溶融金属、液相合金、溶融された化合物
または電解質溶液とすることができる。
本発明によれば2つの異なつた温度を受ける物体のうち
少なくとも1つを、金属、合金または金属質の導電性材
料から構成することができる。
本発明の別の実施形態によれば、異なつた温度を受ける
物体のうち少なくとも1つを単結晶または多結晶形態の
p導電型またはn導電型の元素半導体層から構成するこ
とができる。さらに本発明によれば、異なつた温度を受
ける物体の少なくとも1つを、一般に、例えば酸化物窒
化物、炭素化物、ホウ化物、カルコゲナイド、水素化物
、シリコーン、ハロゲン化物等々のような正または負の
熱起電力を有する耐熱性の化合物から成る層とすること
ができる。
このような層は電子が通過できる程薄くする(く1X1
06cm)ことができるので、高オームの半導体および
絶縁体さえも本発明の熱電装置に成功裡に利用すること
が可能である。本発明はまた、熱電装置を交流−エネル
ギ変換器の形態で直接エネルギ変換器として使用するこ
とを提案するものである。
交流−エネルギ変換器に印加される電流によつて、異な
つた温度を受ける物体間の接触部における吸収されたガ
ス層による電圧依存性のトンネル抵抗の影響を小さくす
ることができる。これにより、この主抵抗の熱電装置の
効率に対する好ましくない影響が減少?れる。実用に関
する種々な要件に対する適合化およびエネルギ変換の高
効率が達成されるために、本発明による熱電装置は熱、
核または太陽エネルギを利用する全ゆる大きさのプラン
トのための熱電発電機として使用できる。また、本発明
の装置は電動機と組合せて、全ゆる種類の駆動に適して
いる。
また、可逆冷却、可逆加熱および空気調制のための熱ポ
ンプとして有利に使用できる。
さらに、効率が高いために、本発明の熱電装置は超導電
体装置の熱電冷却のための熱ポンプとしても適している
本発明による熱電装置は、公知の仕方で直列にも並列に
も接続できる。
またカスケード形態の並直列の接続も可能である。以下
図面を参照し、本発明の実施例について詳細に説明する
実施例 1 第1図において、参照数字1は厚さ5×10−2?の鉄
製の箔を指し、この箔1は厚さ5×104鑞および幅1
×10−3CTILの中央ストリツプを有している。
この中央ストリツプには右側および左側から電子ビーム
によつてスリツト状の切欠きが形成されている。スリツ
トの幅は5×10″″6CTfLである。スリツト内の
介在空間は排気されている。スリツト端は中央部で7×
10→儂の間隔で対置している。ニツケル製の箔2は鉄
箔1と同じ幾何学的寸法を有している。このニツケル箔
にも鉄箔1と同様にしてスリツトが形成されている。接
触ブリツジ4によつて互いに電気接続されている鉄箔1
およびニツケル箔2はスリツトの上方においてTh=1
5000Kの温度に維持されている。スリツトの下方で
は鉄箔1およびニツケル箔2は温度TO=300はKに
冷却されている。Th−TO=1200度の温度差は箔
1および2のスリツト間に設けられた接続片において定
常的に降下する。その際に現われる定常温度勾配3は約
4.2×108でニツケルのそれはθNi=472約K
であV1そして平均自由走程長λFO=2.2X10−
6〔およびλNi=1.33X101鑞であるので鉄の
場合、比θ/λは約2.4×108CK/CT!lとな
り、ニツケルでは約3.5×10&′。K/Cmとなる
。したがつて、4.2×1081K/(:mの温度勾配
3では、鉄ならびにニツケルにおいて電子は2回の衝突
で平均的に、高い最大エネルギ量Kθを吸収し且つ放出
する。その結果電子の散乱は非弾性となり、箔1および
2における大きな温度勾配3の領域の固有熱伝導はほぼ
係数10″5だけ減少する。したがつて、この鉄・ニツ
ケル熱電素子における性能指数および温度の積は、熱電
率が約30μv程度に小さいも拘らず約103となる。
この装置の最大効率は、カルノ一の効率(80%)の約
94%したがつて75%となる。但し、これは放射およ
び伝導による全ての他の損失を無視できるものとした場
合である。斯くして、約36mVの熱起電力の結果とし
て、電子の流れ8が接点5および6ならびに負荷抵抗7
を介して熱電装置を流れる。負荷抵抗7は、0.01Ω
で約30mWの最大電力を取出す。実施例 2 第2図において、87.5%のニツケルおよび12.5
%のクロムの合金から形成された直径1.5×103(
177!のワイヤ1は2つのニツケル板9上に並置され
そして硬質ろう11で下側部を各ニツケル板9にろう付
けてされている。
各ニツケル板9は2C厚さで各々10cTnの長さおよ
び幅を有しておリ、したがつて合計約6600本のワイ
ヤが各ニツケル板上に並置して設けられ、ろう付けによ
り固着されている。2つのニツケル板9はその面の法線
に対して互いに900だけ角度変位されて固着されたワ
イヤ1が複数個の絞り交錯を形成するようにワイヤ側が
重ね合せられている。
高真空下における還元および加熱によつて、ワイヤ表面
は全べての吸収ガスを除去されそして、この圧力により
ワイヤ1間には1×10−5αの平均円直径を有する約
44×106の接触個所が形成される。純接触抵抗を維
持するために、ワイヤ1を有する2つのニツケル板9は
高真空中で充分に高い機械的圧力下に維持される。第2
図のニツケル板10も全く同様の仕方で、ワイヤ2を設
けられる。このワイヤ2は60%銅−40%ニツケルの
合金から造られて1.5×103CfLの直径を有する
。これらワイヤも前述のもとの類似に配列され、そして
平均直径1×105?の約44X106個の接触抵抗を
形成している。上側の板9および10は接触ブリツジ4
を介して互いに電気接続されTh=1100ジKの温度
に維持される。下側の板9および10は温度TO=30
00Kに保持される。各熱電素子脚1および2における
44X106個の接触抵抗を介し約2×1080KΔ勉
の温度勾配領域3を通つて熱電流が流れる。接点5およ
び6を介して電子流8はこの熱電装置および負荷抵抗7
を流れる。第2図の装置を1000個直列に電気接続し
た場合、総合電圧は40Vそして最大電力出力は2MW
(メガワツト)となる。200KWの電力を取出す際に
効率は約60(fl)となる。
実施例 3第3図において、参照数字1はp+型のシリ
コン単結晶板を指し、そして参照数字2はn+型のシリ
コン単結晶板を表わす。
円板1および2は、3インチの直径および5×102c
mの厚さを している。これらシリンコン単結晶円板は
、や り3インチの直径を有するモリブデン板9およ1
0の1側にバリヤを形成しないようにして付着されてい
る。シリコン円板1および2の露出側には、V字形の平
行なエツチング溝が設けられる。その場合2つの隣接す
るエツチング溝の谷間および頂点間の間隔はそれぞれ1
×10−3CTILである。2つのシリコン単結晶板1
および2と同様の仕方で、3インチ直径の2つのモリブ
デン円板4aおよび4bの1側にも、2つの隣接するエ
ツチング溝の谷間および頂点間の間隔が1X10−3二
となるようにV字形のエツチング溝が形成されている。
シリコン円板1およびモリブデン円板4aならびにシリ
コン円板2およびモリブデン円板4aは、エツチングさ
れた表面で90ブ回転して互いに圧力下で重ね合せられ
、その結果、シリコン円板のエツチング溝頂部およびモ
リプデン円板のエツチング溝頂部によつて各々約44X
106個の接触域が形成される。約1200℃で真空下
で短時間焼結することにより、これら接触領域には平均
直径2X10−5CTILの純接触抵抗部が形成される
。モリプデン板4aおよび4bはモリブデン・ブリツジ
4によつて相互に接続されている。電気接続5および6
を介して双方の外側のモリプデン板9および10(温度
TO=3000Kに保持されている)には直流電源12
から電子流8が装置を通つて流れる。円板1から4aな
らびに4bから2への電子遷移部において、ベルチエ効
果に由る熱が円板1および4bの非常に薄い層に吸収さ
れ、そしてこれら遷移領域には大きな温度勾配3が生じ
る。この熱電装置は1×105Ωの内部抵抗を有する。
104Aの最大冷却電流8において、温度勾配3を電流
8が通る際に吸収される熱出力は1KWである。
外部から熱供給がなければ、板4にはTcく20外Kの
冷温が達成される。本発明において特に興味があるのは
、大きな非定常的な温度勾配である。
この非定常的な温度勾配は1つの個所において比較的短
かい時間(〈102sec)しか存在し得ない。
しかしながらこの非定常的温度勾配は小面積または小さ
な接触個所に相関するものではない。第4図は大きな非
定常的温度勾配を有する本発明の装置の原理を示す。実
施例 4 第4図において、参照数字1は0.5CTIL直径の鉄
製のピンであり、2は同径のコバルト・ピンである。
2つのピン1および2は温度TO=300CKに保持さ
れている。
参照数字4は可動の接触ブリツジであつてタングステン
から造られ、19000Kの温度に維持されている。可
動の接触ブリツジ4は、端位置4および4′間では、1
00H2の周波数で垂直方向に振動する。位置4では鉄
ピン1ならびにコバルト・ピン2が接触ブリツジ4と協
働して各々1つの接触個所を形成する。装置は高真空下
に置かれそして注意深く加熱されて、それにより各接触
個所は平均1X103(11の直径を有する1つの接触
抵抗に相当する。このような接触個所は毎秒100回生
じ、その接続期間は1n1.secよりも小さい。鉄ピ
ン1およびコバルト・ピン2とブリツジ4との各接触開
始時には瞬間的に接触個所に全温度差Th−TO=16
00度が生ずる。この結果、平均自由走程の2〜3倍の
厚さの層に短時間この全温度差が加わる。これにより鉄
ピン1ならびにコバルト・ピン2さらには接触プリツジ
4に短時間大きな温度勾配3が生ずる。斯くして鉄ピン
1、コバルト・ピン2ならびに接触ブリツジ4は接触個
所において約1100にKの温度に達する。鉄およびコ
バルト間の熱起電力の結果として、100H2の脈動電
子流8が接点5および6を介して熱電装置の接触抵抗お
よび負荷抵抗7を通つて流れる。約72%のカルノ一効
率において、装置の最大効率は僅か約37%に過ぎない
。その理由は接触領域の接触抵抗の総和が大きな温度勾
配3を有する層の電気抵抗の総和よりも約102倍程大
きいからである。負荷抵抗7は最大数ミリワツトの電力
で脈動電子流8を吸収することができる。実施例 5 第5図は回転対称形を有する異なつた温度を受ける物体
間に大きな非定常温度勾配を有する本発明の別の実施例
を示す。
参照数字1は鉄から造られた2つの円筒体を指し、これ
ら円筒体のうちの1つは水冷13により温度TO=30
0のKに保持され、他方残9の円筒体1は温度Th=1
5000Kに加熱されている。
参照数字2は5×1020IfL厚さのニツケル層を被
覆された2つの鉄製円筒体を指す。これら円筒体は鉄円
筒体1と同じ温度ThおよびTOを有する。加熱円筒体
1および2は鉄円筒体4によつて橋絡されている。この
円筒体4は円筒体1および2間で熱い接触ブリツジ4と
しての働きをする。全べての円筒体12および4は5C
TfLの外径および50?の幅を有している。これら円
筒体は毎秒1回転の回転速度で高真空中で相互に転動す
る。円筒体1および2の走行面は、異なつた温度を受け
る円筒体1および2間の接触面にそれぞれ平均1×10
40fnの直径の平均約5×106個の接触面が生ずる
ように構成されている。
全べての接触抵抗の合成抵抗値は大きな温度勾配3を有
する全べての層の電気抵抗の和よりも10倍大きい。そ
れにも拘らず第5図の発電機の最大効率は65%程度で
ある。摺動接点5および6を介して負荷7に流れる電子
流8で、僅か40mVの電圧で最大約20KWの電力を
取出すことができる。実施例 6第6図は異なつた温度
にされる物体の1つがブラズマから構成されている本発
明の1実施例を略示するものである。
第6図において、参照数字9および10はプラチナ被覆
が設けられた銅の中空円筒体を指し、これら円筒体は軸
方向の水冷によつて温度TO=300円Kに保持されて
いる。円筒体9のプラチナ被覆24は数%のトリウムを
含みトリウムは1部表面に分散されて表面にThO2の
1×10−6藝厚さの層1を形成している。円筒体10
のプラチナ被覆25は数%のマグネシウムを含有してい
る、このマグネシウムも同様に部分的に表面に分散され
て厚さ2X10−6(1−JモV!のMgOの層2を形成
している。2つの円筒体9および10は1?の外径およ
び1mの幅を有する。
これら円筒体は毎秒2回転の速度で回転し、そしてそれ
らの表面が直かに接触しない程度に近接して並置されて
いる。幅広のノズル14から直接2つの層1および2の
接触線領域にエチレン一酸素炎4が吹つけられる。炎4
は約40000Kの温度にあるので、円筒体1および2
の表面の接触線の領域は1800筒Kに加熱される。こ
の装置の2X10−5Ωの電気抵抗は、実質的に円筒体
1および2間のプラズマ4を介しての遷移抵抗だけによ
つて形成される。摺動接点5および6の無負荷時電圧は
2Vであリ、そして負荷により最大50KWの電力を取
出すことができる。最大効率は50%以上である。第6
図の具体例の別の実施形態として、2つの円筒体9およ
び10を、層1および2が互いに直接電気接触を成すよ
うに摺接回転するよう近接並置しても良い。
この場合には、エチレン一酸素炎4の代リに、2つの層
の接触線領域は103W/01!12のエネルギ密度を
有する集束された太陽光線によつて21000Kに加熱
され、その結果層1および2に大きな非定常温度勾配3
が形成される。実施例 7第7図は、異なつた温度にさ
れる物体の1つが液体金属から形成される本発明の実施
形態を略示するものである。
図中、参照数字9は外径50c!nならびに壁厚、幅1
?のモリブデン製の中空円筒体を指す。この円筒体はそ
の外面に、厚さ1×104CTfLで固有電気抵抗0.
1Ωスを有するP型にドーブされたSiC層1を有して
いる。参照数字10は外径50CTnならびに壁厚およ
び幅1?のモリブデン製の中空円筒体を指す。この円筒
体はその外面に、1×10−4?厚さで0.1Ω礪の固
有電気抵抗を有するn型にドープされたSiC層を有し
ている。円筒体9および10は水冷13により温度TO
=3009Kに保持されている。これら円筒体は毎秒2
0回転の回転速度で回転する。2つの円筒体9および1
0はセラミツク製容器15内に入れられた液化銀の共通
の浴4内に保護ガス下で浸漬されている。
セラミツク容器15は、液化銀4が1600るKの温度
になるように集束された太陽光線によつて加熱される。
円筒体9および10は、回転中層1および2の約2CT
f12が銀浴2で湿潤される程度の深さで銀浴4内に浸
漬されている。層1および2はこの個所において大きな
温度勾配3で約1300こKまで加熱される。第7図に
示すような装置を合計400個、半円筒形の太陽光線反
射鏡の10m長の焦線上に載置して直列に接続する。こ
の装置においては第1の円筒体の接点5と最後の円筒体
10の接点6との間に200Vの無負荷電圧が得られ、
そして全内部抵抗は1×102Ωである。この熱電太陽
発電機の最大出力は1MWである。100KWの電力を
取出す場合の吸収太陽光線の変換効率は450t)であ
る。
太陽光線を受ける所望の面積はこの場合約10×40m
2である。実施例 8 第8図は、熱電熱ポンプとして構成された本発明の1実
施形態を略示している。
同図において参照数字9および10は外径15C7!L
および幅0.25?のタングステン・リングであり、こ
れらリングは外径13CfLを有するセラミツク管17
に被着されている。なお、リングはセラミツク管17に
対して良好な熱伝達を有している。タングステン・+リ
ング9の外面にはP導電性のシリコン層1が1×104
cm厚さで被着されており、このシリコン層の固有電気
抵抗は1×10−3Ω?である。
タングステン・リング10の外表面にも同じ固有抵抗の
n+導電型の等厚のシリコン層2が被着されている。相
互にろう付けされた合計100個のリング対9および1
0がセラミツク管17上に設けられてそれぞれ外径14
CT!L,幅0.25cTnセラミツク・リング18に
よリ電気的に隔離されている。セラミツク管17はその
長手軸を中心に毎秒5回転の回転速度で回転する。この
場合、各リング9および10は層1および2が各々1×
10−2cm2の面積で水銀と接触するように電気的に
絶縁されている水銀浴16内に浸漬される。これらの面
にはペルチエ効果に由つて大きな非定常温度勾配が生ず
る。水銀浴16は、水冷13によつて温度TO=300
浴Kに保持されているセラミツク容器15内に収容され
ている。最初のタングステンリンク9の水銀浴16およ
び最後のタングステンリング10の水銀浴16内には電
気接点5および6が設けられており、これら接点を介し
て装置は交流−エネルギ変換器形態に接続される。この
変換装置は調整可能な交流変圧器22が接続されている
3相50H2の交流の接続端子23を有する。電圧は塞
流線輪21および3相整流器20を介し、接点5および
6を経て脈動直流電圧として熱電装置に印加される。塞
流線輪21のインピーダンスは4Ωである。したがつて
これよりも20倍大きい交流回路の皮相インピーダンス
が(コンデンサ19により平滑された)熱電装置を流れ
る直流8を決定する。直流8は実質的に印加された電流
のように装置を流れ、これにより接触抵抗の影響はかな
v抑止される。400Vの交流電圧で、最大100Aの
電流が熱電装置を流れ、その場合外部から熱供給が無い
としてセラミツク管17は温度Tcく500Kに冷却さ
れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は大きな定常温度勾配を有する本発明による熱電
装置を原理的に示す図、第2図は発電機として構成され
た大きな定常温度勾配を有する熱電装置の実施形態を示
す図、第3図は熱ポンプとして構成された大きな定常温
度勾配を有する熱電装置の実施例を示す図、第4図は大
きな非定常温度勾配を有する本発明の熱電装置の原理構
成図、第5図は回転対称型に配設されて異なつた温度を
受ける物体間に大きな非定常温度勾配を有する発電機と
して構成された本発明による熱電装置の実施例を示し、
第6図はプラズマ接触ブリツジを使用して発電機と構成
された大きな非定常温度勾配を有する本発明の熱電装置
の実施例を示し、第7図は熱ポンプとして構成された大
きな非定常温度勾配を有する本発明の熱電装置の実施例
を示し、そして第8図は発電機として交流エネルギ変換
器形態に構成された大きな温度勾配を有する本発明の熱
電装置の実施例を示す。 1・・・・・・熱電P型材料、(p一脚)、2・・・・
・・n型材料(n一脚)、3・・・・・・大きな温度勾
配領域、4・・・・・・接触ブリツジ、5・・・・・・
P一脚への電気接続、6・・・・・・n一脚への電気接
続、7・・・・・・負荷抵抗、8・・・・・・電子流、
9,10・・・・・・金属中空円筒、11・・・1およ
び9間ならびに2および10間の硬質ろう付結合、12
・・・・・・直流電源、13・・・・・・水冷、14・
・・・・・炎ビーム用ノズル、15・・・・・・液体金
属のためのセラミツク容器、16・・・・・・水銀浴、
17・・・・・・セラミツク管、18・・・・・・セラ
ミツク・リング、19・・・・・・平滑コンデンサ、2
0・・・・・・整流器、21・・・・・・塞流線輪、2
2・・・・・・3相調整変圧器、23・・・・・・交流
端子、24,25・・・・・・プラチナ層。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 熱電素子の各要素脚において熱電流が、電子の非弾
    性散乱の結果として固有熱伝導率が減少される程に大き
    な温度勾配を有する少なくとも1つの個所を介して流れ
    ることを特徴とする大きな温度勾配を有する熱電装置。 2 温度勾配が10^4段/cmよりも大きい特許請求
    の範囲第1項記載の熱電装置。 3 要素脚における温度勾配が、異なつた温度に調整さ
    れている物体間の充分に小さな接続または接触個所に定
    常的に存在する特許請求の範囲第1項記載の熱電装置。 4 大きな温度勾配が要素脚に定常的には存在しない特
    許請求の範囲第1項記載の熱電装置。 5 大きな温度勾配が強い電磁放射またはイオン化放射
    の表面吸収の結果として現われる特許請求の範囲第1項
    ないし第4項のいずれかに記載の熱電装置。 6 大きな温度勾配が、異なつた温度を受ける物体の時
    間的にまたは時間−空間的に可変の接触個所に現れる特
    許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれかに記載の熱
    電装置。 7 前記時間的または時間−空間的に可変の領域が異な
    つた温度を受ける物体の周期的接触により生ぜしめられ
    る特許請求の範囲第1項ないし第6項のいずれかに記載
    の熱電装置。 8 異なつた温度を受ける物体の少なくとも1つが回電
    対称形をしている特許請求の範囲第1項ないし第7項の
    いずれかに記載の熱電装置。 9 前記時間的または時間および空間的に可変の接触個
    所が異なつた温度を受ける物体の回転、摺動または摩擦
    により順次生ぜしめられる特許請求の範囲第1項ないし
    第8項のいずれかに記載の熱電装置。 10 異なつた温度を受ける物体の1つがプラズマから
    成る特許請求の範囲第1項ないし第9項のいずれかに記
    載の熱電装置。 11 異なつた温度を受ける物体の1つが例えば液体ま
    たは溶融金属、液相金属合金、溶融化合物または電解質
    溶液のような良導電性の液体から成る特許請求の範囲第
    1項ないし第10項のいずれかに記載の熱電装置。 12 異なつた温度を受ける物体の少なくとも1つが金
    属、金属合金または金属質の導電性材料から成る特許請
    求の範囲第1項ないし第11項のいずれかに記載の熱電
    装置。 13 異なつた温度を受ける物体のうち少なくとも1つ
    が単結晶または多結晶形態にあるp導電型またはn導電
    型の元素半導体層または化合物半導体層から成る特許請
    求の範囲第1項ないし第12項のいずれかに記載の熱電
    装置。 14 異なつた温度を受ける物体の少なくとも1つが正
    または負の熱起電力を発生する耐熱性の化合物の層から
    構成される特許請求の範囲第1項ないし第13項のいず
    れかに記載の熱電装置。 15 対流−エネルギ変換器なる形態で直接エネルギ変
    換器として用いられる特許請求の範囲第1項ないし第1
    4項のいずれかに記載の熱電装置。
JP51081461A 1975-10-22 1976-07-08 大きな温度勾配を有する熱電装置 Expired JPS5915195B2 (ja)

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