JPS59142410A

JPS59142410A - ハイトゲ−ジ

Info

Publication number: JPS59142410A
Application number: JP1666883A
Authority: JP
Inventors: Akihiko Shizuri; 志津利　晃彦
Original assignee: Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1983-02-02
Filing date: 1983-02-02
Publication date: 1984-08-15
Also published as: JPH0242168B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明はハイ）ｆ−ジに係り、さらに詳しくは、スクラ
イバに代えてタッチ信号グローブが用いられこのタッチ
信号ｆＯ−プと前記スライダとを協働させて高さ寸法の
みならず内外径をも測定する構造のハイｌ’−ジに関す
る。

ハイドデージは、高さ方向のみの寸法測定に用いられる
ことが最も通常であるが、ハイドゲージを利用して内径
（穴径）等を測定する方法も従来よシ知られている。内
径等を測定する従来の方法は、ハイドゲージのスライダ
に電気マイクロメータ等のアナ四グ表示式の変位量測定
器を取付け、この変位量測定器の測定子を被測定穴の上
部側に押し当てながらハイドゲージ全体を水平方向に移
動させ、このときの前記変位量測定器における最高値を
適宜手段により一旦記憶（ホールド）させておき、次い
で、スライダを被測定穴の下端側に所定量移動させた後
、被測定穴の下端側に前記測定子を押し当てなからハイ
ｌ”−ジ全体を再び水平方向に移動させ、今度は最低値
を適宜手段によりホールドさせ、これらホールドされた
最高値、最低値、およびスライダの移動変位量を合算し
て被測定穴の内径を求めるというものであった。

しかしながら、このような方法にあってはハイトゲ０−
ジ全体を動かしながら前記変位量測定器における連続変
化するアナログ出力のうち最高値、最低値をホールドし
ようとするものであるところから測定値にばらつきが生
じやすいという測定精度上の問題を有していた。また、
最高値、最低値をホールドすることのできる変位量測定
器を用いなければならないところから電子装置の経済的
負担の太きいものであった。さらにまた、通常のハイ）
ｆ−ジの使用方法である高さ方向の寸法測定と前述の如
く内径等の寸法測定とで、スライダに取付ける機器（タ
ッチ信号グローブ、アナログ表示式の変位量測定器）を
取換える必要があるために作業能率の低いものであった
。

本発明の目的は、高精度測定が可能であり、経済的負担
も少なく、さらに、高さ方向の寸法測定と同時に内外径
測定をも行なうことができて作業能率に優れたハイドゲ
ージを提供することにある。

本発明は、基台に立設された支柱に上下方向変位可能：
Ｃ支持されたスライダと、このスライダの上下方向（高
さ方向）変位量を検出する変位検出器と、前記スライダ
に取付けられた支持体と、この支持体に水平方向変位可
能に支持されるとともにタッチ信号グローブを保持する
可動体と、この可動体の水平方向変位量を予め決められ
た所定量に設定する変位量設定機構と、タッチ信号グロ
ーブの設定変位量と前記変位検出器で検出したスライダ
の変位量とから被測定物の内外径を算出する演算装置と
、を設け、高さ方向の寸法のみを測定するときは前記可
動体を前記スライダに対して何ら変位させない状態でス
ライダを上下動させて、すなわち通常のハイドゲージの
使用法に従って、タッチ信号グローブを被測定箇所に当
接させこのときの変位検出器によシ検出されるスライダ
の上下方向変位量から高さ方向の寸法を求め、また、例
えば内径を測定するときは、被測定穴等の１点に前記タ
ッチ信号グローブを当接させてこの点（第１点）の高さ
位置を測定した後、前記スライ〆を下降させてタッチ信
号グローブを再び前記被測定穴に当接させてこの点（第
２点）の高さ位置を測定し、次いで、前記被測短大内に
おいて前記変位量設定機構により前記可動体を水平方向
に沿って予め決められた所定量だけ変位させた後にさら
にスライダを下降させて前記被測定穴に当接させてこの
点（第３点）の高さ位置を測定し、これら第１〜３点の
相互位置関係から前記演算装置により前記被測定穴の内
径を算出させるようにして前記目的を達成しようとする
ものである。

以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１，２図には本発明によるハイドゲージの一実施例の
全体構成が示されている。図中、基台１１は下方に開口
する空所１２を有しておシ、マた、基台１１には中空円
筒体状の支柱１３が立設されている。

支柱１３にはスライダ１４が上下方向変位可能に支持さ
れており、このスライダ１４は支柱１３の外周に被嵌さ
れた筒状のスライダ本体１５と、スライダ本体１５に互
いに１２０度間隔で取付けられたローラホルダ１６（第
３図参照）とを有している。これらローラホルダ１６は
、ボルト１７を介して前記スライダ本体１５に取付けら
れ、これにより、支柱１３に対して進退調整可能にされ
ている。ローラホルダ１６にはローラ１８が回転自在に
保持され、これらロー２１８を介してローラホルダ１６
は支柱１３の外周面に転勤自在に接している。また、前
記スライダ１４にはカバー１５Ａが取付けられている。

前記支柱１３の一側面には、上下方向に延びるスケール
１９が固定されている。このスケール１９は、支柱１３
にボルト２０（第１図参照）を介して固定されたスケー
ルホル〆２１と、スケールホルダ２１の縦溝２２内に貼
設されたスケール板２３とを有しており、前記スケール
板２３にはμｍ間隔の目盛が刻設さｔている。

また、前記スライダ１４は、第３図に示されるように、
スライダ本体１５側に回転自在に保持され且つスケール
ホルダ２１の両側面２１Ａ、２１Ｂに当接する一対のロ
ーラ２５Ａ、２５Ｂを有している。これらのローラ２５
Ａ、２５Ｂはスケールホルダ２１を左右方向から挟持し
、スライダ１４が支柱１３の周方向に回転するのを阻止
している。

スライダ本体１５には、第４図に示されるように、光電
式の目盛読取り機構３１が取付けられている。この目盛
読取り機構３１は、スケール板２３に光を照射する発光
素子（図示せず）と、スケール板２３から反射する光を
スリット板または透明な目盛板等よりなる移動スケール
（図示せず）を介して受光する受光素子（図示せず）と
を有している。ここにおいて、前記目盛読取り機構３１
とスケール１９とによりスライダ１４の上下方向変位量
を検出する変位検出器３２が構成されている。

前記支柱１３の上端には、リング３４が嵌合固定されて
いる（、第１，５図参照）。このリング３４にはローラ
３５Ａ、３５Ｂが各々回転自在に支持されている。また
、支柱１３の下端には、第２図に示されるように端板３
６が取付けられ、支柱１３の空所３７内にはその中心に
上下に延びるガイドロッド３８が配置されている。この
ガイドロッド３８の上端はリング３４に固定された板体
３９に小ねじ４１で固定されており、その下端は前記端
板３６を貫通している。さらに、ガイドロッド３８の下
端部には固定用のナツト４２が螺合されるとともに、前
記リング３４には蓋体４３が着脱可能に取付けられてい
る。

前記空所３７内はガイドロッド３８に摺動自在に嵌合し
た筒状のバランスウェイト４５が上下動自在に遊嵌され
ている（第１図参照）。このバランスウェイト４５は、
ローラ３５Ａ、３５８に支持された紐状体４６Ａ、４６
Ｂを介してスライダ１４に連結されている。この紐状体
４６Ａ、４６Ｂはたとえば薄肉の金属テープ等から構成
されている。

支柱１３の近傍には支柱１３の長手方向に沿って微動棒
４７が支柱１３と平行に並設されている。

この微動棒４７は、スライダ本体１５を上下動自在に貫
通し、上端部は板体３９に上下動自在に保持され、下端
は基台１１に上下動自在に保持されている。また、前記
スライダ１４は、スライダ本体１５に螺合された止めね
じ４８により微動棒４７の任意位置に固定可能とされて
いる。さらに、前記微動棒４７の下端部は空所１２内に
突出し、下端近傍にはリテーナ４９が装着され、このリ
テーナ４９と基台１１の上部に取付けられたプツシ５１
との間には、前記微動棒４７を下方側に付勢するスプリ
ング５２が介装されている。またプツシ５１には止めね
じ５３が螺合されており、この止めねじ５３により微動
棒４７は基台１１側に固定可能とされている。また、微
動棒４７の下端にはポール５４が保持されている。

前記基台１１にはスリーブ６１が取付けられ、このスリ
ーブ６１内にはスピンドル６２が上下動可能に挿入され
、スピンドル６２上端には前記スリーブ６１の上端にね
じ込まれた操作摘み６３がねじ止め固定され、また、ス
ピンドル６２の下端にはゾール６４が保持されている。

ここにおいて、前記スリーブ６１、スピンドル６２、操
作摘み６３、および？−ル６４により微動送り機構６５
が構成されている。

前記微動送り機構６５の？−ル６４と微動棒４７下端の
ポール５４との間には、てこ機構６６が介装されている
。このてこ機構６６は、基台１１に取付けられたホルダ
６７に保持されたピン６８と、ビン６８を介してホルダ
６７に回動自在に保持されたレバー６９とを有している
。レバー６９は両端がゾール５４，６４に当接し、レバ
ー６９のゾール６４への当接部までの長さはレバー６９
のポール５４への当接部までの長さより長く設定されて
いる。

前記基台１１には、第２．６図に示されるように、底面
側にて開口するエアー噴出ロア１が３箇所に設けられて
いる。これらエアー噴出ロア１にはノ４イア″７２、開
閉レバー７３Ａの操作で器間される開閉パルプ７３、パ
イグア４を介してエアー供給用のホース７５が接続され
ている。また、パイグア４とホース７５とは、コネクタ
７６および接続部７７により着脱可能に接続されている
。

スライダ１４の正面にはシャンクホルダ１０１が設けら
れ、このシャンクホルダ１０１に嵌入保持された後ねじ
１０２によυねじ止め固定されるシャンク１０３によっ
て、スライダ１４には横移動装置１０４が取付けられて
いる。この横移動装置１０４は、正面側および上端面側
において開口し内部に空所１１０を有する角形？ツクス
状の支持体１０５を有しており、この支持体１０５の背
面から前記シャンク１０３が突設されている。支持体１
０５の両側壁１０５Ａ、１０５Ｂ間には丸棒状の２本の
レール１０６が互いに平行に水平方向に沿って渡設され
ている（第１０図参照）。レール１０６はリニアベアリ
ング１０６Ａを介して断面路コ字形（第９図参照）の可
動体１０７に摺動自在に貫通されており、これによシ前
記可動体１０７はレール１０６を介して支持体１０５に
水平方向変位可能に支持されている。また、両側壁１０
５Ａ。

１０５Ｂの下端には脚部１１０Ａ、ｌｌ０Ｂが各々設け
られておシ、これら脚部１１０Ａ、ｌｌ０Ｂの下端面は
極めて平滑に高精度加工されており、脚部１１０Ａ、ｌ
ｌ０Ｂを定盤（図示せず）上に載置したときにはレール
１０６は正確に水平方向となるようになっている。

可動体１０７にはレール１０６と直交する方向（上下方
向）Ｋ沿って互いに平行に廻り止め棒１０８および位置
決め棒１０９が各々摺動自在に貫通され、これら棒１０
８，１０９の上端部は可動体１０７の上端面より突出し
且つ連結ブロック１１１を介して互いに連結されている
。また、連結ブロック１１１には昇降摘み１１２が突設
されておシ、昇降摘み１１２を上下動させることにより
棒１０８，１０９は可動体１０７に支持された状態で上
下方向に移動されるようになっている。

これら棒１０８，１０９は可動体１０７の背面側にて開
口する切欠部１１３より可動体１０７の外部に露出され
ており、この露出部分において小板片状の係止片１１４
が被嵌され、係止片１１４と位置決め棒１０９とは互い
に固定されている。また、位置決め棒１０９には、長手
方向に沿って所定の範囲に亘シ位置決め刻み１１５が等
間隔で所定数刻設されるとともに、可動体１０７には水
平方向に沿って保持穴１１６が穿設されている。この保
持穴１１６内には位置決めが一ル１１７、位置決めボー
ル１１７を位置決め棒１０９側に付勢する圧縮コイルば
ね１１８、及びばね１１８を固定するねじ１１９が配置
されており、前記ばね１１８により位置決め？−ル１１
７が位置決め刻み１１５内に嵌入されると位置決め棒１
０９の上下動が停止するよう構成されている。ここにお
いて、位置決め刻み１１５および位置決めボール１１７
によυ選択手段１２０が構成されている。

係止片１１４には前記側壁１０５入側に向かって当接ピ
ン１２１が突設され、との当接ピン１２１の先端には硬
質ボール１２２が固着されている（第１０図参照）。側
壁１０５Ａの内周面は平滑な基準面１０５Ｃとされ、こ
の基準面１０５Ｃと可動体１０７との間には付勢手段と
しての引張コイルばね１２３が介装され、このばね１２
３により可動体１０７は常に基準面１０５Ｃ側に付勢さ
れている。

帥記基準面１０５Ｃには基台ブロック１２４がねじ１２
５によシ固定され、この基台ブロック１２４には第１１
図にも示されるように、図中上端には断面り字形の第１
のブロックゲージ１３１が、−側面には第２．第３のブ
ロックゲージ１３２゜１３３が略階段状に固定されてい
る。これらブロックゲージ１３１〜１３３の可動体１０
７側に臨む基準面（垂直方向基準面）によシ第１．第２
．第３゜第４の設定Ｔｈ１３１Ａ、１３１Ｂ、１３２Ａ
、１３３Ａが構成されている。これら設定面１３１Ａ、
１３１Ｂ。

１３２Ａ、１３３Ａは略階段状に配置されるとともに、
水平方向に予め決められた間隔Ｌ１＋”２＋”Ｌ”４　
（第１０図参照）を有している。また、これら設定面１
３１Ａ、１３１Ｂ、１３２Ａ、１３３Ａには、前記位置
決め刻み１１５および位置決めボール１１７にょシ可動
体１０７に対する高さ位置が決められた係止片１１４が
当接ピン１２１を介して選択的に当接可能とされている
。ここにおいて、前記設定面１３１Ａ、１３１Ｂ　、１
３２Ａ、１３３Ａと、付勢手段としての引張コイルばね
１２３と、係止片１１４と。

選択手段１２０と、によシ可動体１０７の水平方向変位
量を予め定められた所定量に設定する変位量設定機構１
４１が構成されている。

入　前記支持体１０５の上端には天板１４２が空所１１
０を閉塞するよう貼設され、この天板１４２には前記廻
シ止め棒１０８および位置決め棒１０９が遊挿通する長
孔１４３が穿設されている。また、支持体１０５の底板
１０５Ｄにも廻シ止め棒１０８および位置決め棒１０９
の下端部が遊挿通する長孔１４４が穿設されている。

前記可動体１０７の正面部は支持体１０５よりさらに正
面側に所定長だけ突出し、この正面部には取付ねじ１４
５Ａを介してジヨウ１４５が取付けられ、さらに、との
ジヨウ１４５を介してタッチ信号プローブ１４６が取付
けられるようになっている。このタッチ信号プローブ１
４６は、先端の測定子１４６Ａが被測定物に接触すると
内部の電気接点が開成または閉成されるよう構成されて
いる。また、可動体１０７の両側には水平方向に沿って
伸縮自在な蛇腹壁１４７が取付けられ、これら蛇腹壁１
４７によシ可動体１０７の水平方向の変位位置にかかわ
らず支持体１０５の空所１１０が閉塞されて内部保護が
なされるよう構成されている。また、前記′可動体１０
７上には、ピン１４８を介してスライド摘み１４９が固
定されるとともに、天板１４２にはピン１４８が遊挿通
される長孔１５０が前記長孔１４３と平行に穿設されて
おシ、スライド摘み１４９の操作にょシ前記ばね１２３
の付勢力に抗して可動体１０７をレール１０６に？Ｅｊ
って移動させ得るようになっている。

第１２図には本実施例のデータ処理装置１５１が示され
ている。データ処理装置１５１はタッチ信号検出部１５
２を有し、このタッチ信号検出部１５２は前記タッチ信
号グローブ１４６に接続され、タッチ信号プローブ１４
６の先端の測定子１４６Ａの被測定物への接触を感知し
て接触時に上下方向変位測定部１５３へと接触信号を送
るようになっている。前記上下方向変位測定部１５３は
前記変位検出器３２に接続され、前記接触信号が導入さ
れると変位検出器３２で検出されたスライダ１４の上下
方向の変位量が演算装置１５４へと送られるようになっ
ている。また、上下方向変位測定部１５３には制御部１
５５からの種々の指令が与えられるようになっている。

制御部１５５には高さ、内外径設定手段１５６、水平方
向変位量設定手段１５７、およびタッチ信号プローブ１
４６の先端測定子１４６Ａの半径（Ｒ）設定手段１５８
が各々接続され、これら各手段１５６〜１５８における
各設定操作が前記上下方向変位測定部１５３および前記
演算装置１５４へと伝達されるように寿っている。演算
装置１５４では、タッチ信号プルーブ１４６の設定変位
量（Ｌｌ〜Ｌ４等）と前記変位検出器３２で検出したス
ライダ１４の上下方向変位量とから被測定物の内外径が
算出され、あるいは高さ寸法の測定時には高さ寸法が算
出され。

これら測定結果は演算装置１５４に接続されたプリンタ
１５９等によ少記録され、あるいは図示しないＣＲＴに
よシ表示されるようになっている。

次に、本実施例による測定操作につき第１３゜１４図を
も参照して説明する。

横移動装置１０４の可動体１０７の変位方向を正確に水
平方向に向けさせるには、移動装置１０４のスライダ１
４への取付向きを傾きの無いものとしなければならない
。そのため、横移動装置１０４を定盤上罠載置した状態
でシャンク１０３をスライダ１４のシャンクホルダ１０
１に保持させる。

これにより、脚部１１０Ａ、ｌｌＯＨの下端面が高精度
仕上げされているところから、横移動装置１０４を正確
に位置決めしながらスライダ１４に取付けることができ
る。ついで、横移動装置１０４の可動体１０７にジヨウ
１４５を介してタッチ信号プローブ１４６を取付けると
ともに、横移動装置１０４の可動体１０７の水平方向の
位置を確認しておく。ここでは可動体１０７は、係止片
１１４の当接ピン１２１が第４の設定面１３３Ａに当接
して停止した位置であるとする（第１０図参照）。

以上の操作により測定準備が完了する。以下、穴径測定
の操作につき説明する。本ハイドゲージ全体を定盤上に
て移動させるとともにスライダ１４を昇降させて被測定
物としての被測定穴１８０（第１３図参照）内の適宜位
置に測定子１４６Ａを挿入する。ハイドゲージ全体の定
盤上の移動は、エアー噴出ロア１から噴出されるによシ
基台１１と定盤との間に形成される薄い空気流層によっ
て円滑になされる。また、スライダ１４の昇降は止めね
じ４８を弛めた状態でスライダ１４を高速送シしてもよ
いし、止めねじ４８によシスライダ１４を微動棒４７に
クランプした後に微動送シ機構６５の操作摘み６３を操
作して前記てこ機構６６を介して微動棒４７を上下動さ
せ、これによシスライダ１４を微動送りしてもよい。

測定子１４６Ａを被測定穴１８０の適宜位置に挿入した
後は、エアー噴出ロア１からの空気噴出しを止めて基台
１１を停止させたまま、スライダ１４を上昇させて測定
子１４６Ａを被測定穴１８０に一旦接触（接触時の測定
子１４６Ａの中心点位置をＡ点とする。）させた後、ス
ライダ１４を下降させて測定子１４６Ａを再び被測定穴
１８０に接触させる（このときの測定子１４６Ａの中心
点位置をＢ点とする。）。Ａ点からＢ点までの変位量は
検出器３２によシ検出され、測定部１５３にてＡＢ点点
間寸法（Ｈｌとする。）が計数され、この寸法Ｈ１は演
算装置１５３に送られてここで記憶される。

測定子１４６ＡをＢ点で接触させた後は基台１１および
スライダ１４を停止させたままでＪＪ定子１４６Ａを水
平方向に予め設定された所定量（Ｌ１〜Ｌ４）だけ変位
させる。測定子１４６Ａの水平方向変位は可動体１０７
をレール１０６に沿って移動させて行う。

可動体１０７は引張シコイルはね１２３にょジブロック
ゲージ１３１〜１３３側に常時付勢されている。昇降摘
み１１２を引上げると選択手段１２０における選択操作
が行なわれる。いま、位置決め刻み１１５に嵌入する位
置決めボール１１７の嵌入位置を１刻み分だけ移動させ
ると、第４の設定面１３３Ａに当接してい九当接ピン１
２１は第３の設定面１３２人に当接することとなシ、こ
のとき、可動体１０７は水平方向にＬｌだけ変位する。

したがって、測定子１４６Ａは被測定穴１８０内におい
て水平方向にＬｌだけ変位する。また、この変位量Ｌ１
は前記水平方向変位量設定手段１５７により制御部１５
５に設定しておく。

測定子１４６ＡがＬｌだけ変位したときの測定子１４６
Ａの中心点をＰ点とし、次に、スライダ１４を下降させ
ることによシこのＰ点から測定子１４６Ａを下降させて
被測定穴１８０に測定子１４６Ａを接触させる。接触時
の測定子１４６Ａの中心点を０点とすれば、Ｐ点から０
点までの変位置は変位検出器３２によシ検出され、ＰＣ
点間の寸法は測定部１５３にて求まる。このＰＣ点間の
寸法をＨ２とする。

以上の操作によシ求められたＨｌ　ｖ　”　２、および
既知のＬｌと、被測定穴１８０の内径（直径）Ｄとは次
式の関係を有している。ただし、ｒａＦｉＡ　Ｔ　Ｈ１
０点を通る仮想円の半径を表わしている。

Ｄ＝２（ｒａ＋Ｒ）前式中の測定子１４６への半径Ｒを前記設定手段１５８
によシ制御部１５５に設定した後、高さ。

内外径設定手段１５６を操作すると、前式に従う演算が
演算装ｆｌ１５４にて行なわれ求める内径りが算出され
、その結果がプリンタ１５９等にて表示されることとな
る。

本ハイドゲージによシ外径寸法の測定を行う場合は、内
径寸法の測定を行う場合と同様に３点接触を行うが、具
体的には例えば次のような操作を行う。

第１４図において被測定物としての被測定軸１９０近傍
の適宜位置から測定子１４６Ａを下降させて被測定軸１
９００周面上の１点（Ａ点とする。）に接触させる。次
いで、横移動装＠１０４の可動体１０７を変位させて測
定子１４６Ａを例えばＬ２だけ水平方向に変位させ（図
中Ｐ点参照）、その後スライダ１４を下降させて測定子
１４６Ａを適当量下降させ（Ｑ点参照）た後、測定子１
４６ＡをＬ２だけ両速とは逆方向に変位させる。

このときの測定子１４６Ａの位置をＲ点で示せば、Ｒ点
は第１の接触点であるＡ点の垂直下方側に位置すること
となる。

Ｒ点に至って測定子１４６Ａを、スライダ１４を上昇さ
せることによシ、上昇させて被測定軸１９０に接触させ
る。接触点をＢ点とすれば、ＡＢ点点間寸法Ｈ１は検出
器３２によシ検出される。

可動体１０７を変位させて測定子をＢ点からＬｌだけ水
平変位させ（８点参照）た後、再びスライダ１４を上昇
させて測定子１４６人を被測定軸１９０に接触させる（
０点参照）。ＳＣ点間の寸法Ｈ２は検出器３２によシ検
出される。

被測定軸１９０の外径（直径）Ｄは次式により求まる。

ただし、ｒｂはＡ　、Ｂ　、０点を通る仮想円の半径を
表わしている。

Ｄ＝２（ｒｂ−Ｒ）高さ、内外径設定手段１５６を操作して演算装置１５４
にてこの式に従う演算を行なわせれば求める外径りが算
出される。

また、高さ寸法の測定を目的とするときは、横移動装置
１０４の可動体１０７を何ら変位させることなくスライ
ダ１４を昇降させれば、通常の高さ寸法測定法と同様に
して測定操作を行うことができる。

このような本実施例によれば次のような効果がある。

ハイドゲージ全体を移動（スライド）させながらスライ
ダに取付けたアナログ表示式の変位量測定器の最高、最
低値を求めなければならない従来構造と異なシ、本実施
例ではノ・イトゲージ全体を停止させたままスライダ１
４を昇降させてタッチ信号プローブ１４６の測定子１４
６Ａを被測定物に接触させるものである。したがって、
測定操作が容易であるとともに、測定値にばらつきが生
じにくく高精度測定が確保される。また、前述した従来
構造と異なり、変位量測定器での連続変化するアナログ
出力のうちから最高、最低値をホールドするという必要
がなく電子装置の経済的負担が小さい。

また、タッチ信号グローブ１４６を用いて通常のハイド
ゲージの使用法である高さ寸法の測定と、内外径の測定
と、の双方を行うことができる。したがってこの点から
も経済的負担が小さいとともに、タッチ信号プローブ１
４６を伺ら交換することなく高さ寸法の測定から内外径
の測定へと、あるいは、内外径の測定から亮さ寸法の測
定へと、測定目的を必要に応じて自在に変化させること
ができ、作業能率を大幅に向上させることができる。

しかも、横移動装置１０４の構造は簡易であり、通常の
ハイドゲージのスライダに取付けることも容易である。

したがって、従来構造のハイドゲージに横移動装置１０
４を付加することによシ従来構造のハイドゲージを利用
して容易に本実施例の構成を達成でき極めて便宜である
。

着た、横移動装置１０４においてはブロックゲージ１３
１〜１３３を用いて可動体１０７の変位量を設定するも
のであるため、タッチ信号プローブｉ　４６の水平方向
変位量を極めて正確なものとすることが容易で、この点
からも高精度測定を確保できる。

また、タッチ信号プ四−ブ１４６の水平方向変位は昇降
摘み１１２の引張シ、押し込み操作によシ容易、迅速に
行うことができる。

なお、実施にあたシ、タッチ信号グローブ１４６の水平
方向の変位量は測定操作する者が自ら確認するものとし
たが、この確認をよシ容易にするために、例えは、支持
体１０５の適宜位置に可動体１０７の変位方向に沿って
前記変位量を示す目盛板等を設けてもよい。あるいは、
前記係止片１１４の上下位置の変更に伴い作動されるマ
イクロスイッチ等を支持体１０５内に内蔵させて前記マ
イクロスイッチ等によシ係止片１１４の上下位置、別言
すればプローブ１４６の水平方向変位量が自動的に判断
されるものであってもよい。

また、前記実施例とは逆に、ブロックゲージ１３１〜１
３３が可動体１０７側に備えられるとともに、係止片１
１４が支持体１０５側に備えられる構造であってもよい
。さらに、ブロックゲージ１３１は直線状の段階状に積
み上げられるものに限らず１例えば螺旋状の段階状に積
み上げられるとともに係止片１１４がスライド式移動で
はなく回転式移動するものであってもよい。さらにまた
、係止片１１４に対してブロックゲージ１３１〜１３３
の方が移動するものであってもよい。

また、各設定面１３１Ａ、１３１Ｂ、１３２Ａ、１３３
Ａは各々ブロックゲージ１３１．１３２．１３３の側面
よシ構成されたが、ブロックゲージ１３１〜１３３を利
用する場合に限らす、プローブ１４６の正確な位置決め
を行なうことのできるものであればよい。さらには、各
設定面１３１Ａ、１３１Ｂ、１３２Ａ。

１３３Ａと係止片１１４との当接係止によシ前記位置決
めを行なうものにも限られず、例えばねじ送り機構等を
利用したものであってもよい。

上述のように本発明によれば、高精度測定が可能であシ
、経済的負担も少なく、さらＫ、高さ方向の寸法測定と
同時に内外径測定をも行なうことができて作業能庫に優
れたハイドゲージを提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係るハイドゲージの一実施例の全体構
成を示す一部を省略し且つ上部を切欠いた正面図、第２
図は前記実施例の下部を切欠いた側面図、第３図は前記
実施例のスライダと支柱との配置関係を示す一部を省略
した平面図、第４図は前記実施例の目盛読取シ機構の概
略構成を示す正面図、第５図は前記支柱上部のリングと
板体との配置関係を示す断面図、第６図は前記実施例の
基台を示す底面図、第７図は前記実施例の横移動装置を
示す拡大正面図、第８図は第７図の正面図、第９図は第
７図のＩＸ−ＩＸ線に従う矢視断面図、第１０図は前記
横移動装置の背面側を示す一部を切欠いた拡大背面図、
第１１図は前記横移動装置の内部構造を一部省略して示
す拡大斜視図、第１２図は前記実施例のデータ処理装置
の構成を示すフ。ロック図、第１３図および第１４図は各々本実施例によ
シ内径および外径測定を行う場合の測定子の移動状態を
示す拡大正面図である。１１・・・基台、１３・・・支柱、１４・・・スライダ
、３１・・・目盛読取り機構、３２・・・変位検出、器
、６５・・・微動送シ機構、６６・・・てこ機構、１０
４・・・横移軸装ｆ％　１０６・・・レール、１０７・
・・可動体、１０８・・・廻シ止め棒、１０９・・・位
置決め棒、１１４・・・係止片、１２０・・・選択手段
、１２１・・・当接ビン、１２３・・・引張シコイルは
ね、１３１．１３２，１３３・・・ブロックゲージ、１
３１Ａ、１３１Ｂ、１３２Ａ、１３３Ａ・・・設定面、
１４１・・・変位量設定機構、１４６・・・タッチ信号
プローブ、１４６Ａ・・・測定子、１５１・・・データ
処理装置、１５２・・・タッチ信号検出部、１５３・・
・上下方向変位測定部、１５４・・・演算装置、１５５
・・・制御部、１５６・・・高さ、内外径設定手段。１５７・・・水平方向変位蓄設定手段、１５８・・・測
定子の半径設定手段、１８０，１９０・・・被測定物。代坤人　弁理士　木　下　實　三（ほか１名）第３図第５図３７　　３４　４３第６図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）基台に立設された支柱に変位可能に支持されたス
ライダと、このスライダの上下方向変位量を検出する変
位検出器と、前記スライ〆に取付けられた支持体と、こ
の支持体に水平方向変位可能に支持されるとともにタッ
チ信号グローブを保持する可動体と、この可動体の水平
方向変位量を予め決められた所定量に設定する変位量設
定機構と、タッチ信号グローブの前記設定変位量と前記
変位検出器で検出したスライダの上下方向変位量とから
被測定物の内外径を算出する演算装置と、を具備するこ
とを特徴とするノ・イトゲージ。（２、特許請求の範囲第１項において、前記変位量設定
機構は、前記支持体および可動体のいずれか一方に取付
けられるとともに水平方向に予め決められた間隔を有す
る複数の設定面と、前記可動体をこれら設定面側に付勢
する付勢手段と、前記支持体および可動体のいずれか他
方に取付けられるとともに前記付勢手段により前記複数
の設定面のいずれにも当接可能な係止片と、この係止片
を前記複数の設定面のいずれかに選択的に当接させる選
択手段と、を具備することを特徴とする）・イトゲージ
。