JPS59142410A - ハイトゲ−ジ - Google Patents

ハイトゲ−ジ

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JPS59142410A
JPS59142410A JP1666883A JP1666883A JPS59142410A JP S59142410 A JPS59142410 A JP S59142410A JP 1666883 A JP1666883 A JP 1666883A JP 1666883 A JP1666883 A JP 1666883A JP S59142410 A JPS59142410 A JP S59142410A
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JP
Japan
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displacement
slider
movable body
setting
touch signal
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JP1666883A
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JPH0242168B2 (ja
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Akihiko Shizuri
志津利 晃彦
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Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0242168B2 publication Critical patent/JPH0242168B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/08Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring diameters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/02Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B5/06Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B5/061Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness height gauges

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はハイ)f−ジに係り、さらに詳しくは、スクラ
イバに代えてタッチ信号グローブが用いられこのタッチ
信号fO−プと前記スライダとを協働させて高さ寸法の
みならず内外径をも測定する構造のハイl’−ジに関す
る。
ハイドデージは、高さ方向のみの寸法測定に用いられる
ことが最も通常であるが、ハイドゲージを利用して内径
(穴径)等を測定する方法も従来よシ知られている。内
径等を測定する従来の方法は、ハイドゲージのスライダ
に電気マイクロメータ等のアナ四グ表示式の変位量測定
器を取付け、この変位量測定器の測定子を被測定穴の上
部側に押し当てながらハイドゲージ全体を水平方向に移
動させ、このときの前記変位量測定器における最高値を
適宜手段により一旦記憶(ホールド)させておき、次い
で、スライダを被測定穴の下端側に所定量移動させた後
、被測定穴の下端側に前記測定子を押し当てなからハイ
l”−ジ全体を再び水平方向に移動させ、今度は最低値
を適宜手段によりホールドさせ、これらホールドされた
最高値、最低値、およびスライダの移動変位量を合算し
て被測定穴の内径を求めるというものであった。
しかしながら、このような方法にあってはハイトゲ0−
ジ全体を動かしながら前記変位量測定器における連続変
化するアナログ出力のうち最高値、最低値をホールドし
ようとするものであるところから測定値にばらつきが生
じやすいという測定精度上の問題を有していた。また、
最高値、最低値をホールドすることのできる変位量測定
器を用いなければならないところから電子装置の経済的
負担の太きいものであった。さらにまた、通常のハイ)
f−ジの使用方法である高さ方向の寸法測定と前述の如
く内径等の寸法測定とで、スライダに取付ける機器(タ
ッチ信号グローブ、アナログ表示式の変位量測定器)を
取換える必要があるために作業能率の低いものであった
本発明の目的は、高精度測定が可能であり、経済的負担
も少なく、さらに、高さ方向の寸法測定と同時に内外径
測定をも行なうことができて作業能率に優れたハイドゲ
ージを提供することにある。
本発明は、基台に立設された支柱に上下方向変位可能:
C支持されたスライダと、このスライダの上下方向(高
さ方向)変位量を検出する変位検出器と、前記スライダ
に取付けられた支持体と、この支持体に水平方向変位可
能に支持されるとともにタッチ信号グローブを保持する
可動体と、この可動体の水平方向変位量を予め決められ
た所定量に設定する変位量設定機構と、タッチ信号グロ
ーブの設定変位量と前記変位検出器で検出したスライダ
の変位量とから被測定物の内外径を算出する演算装置と
、を設け、高さ方向の寸法のみを測定するときは前記可
動体を前記スライダに対して何ら変位させない状態でス
ライダを上下動させて、すなわち通常のハイドゲージの
使用法に従って、タッチ信号グローブを被測定箇所に当
接させこのときの変位検出器によシ検出されるスライダ
の上下方向変位量から高さ方向の寸法を求め、また、例
えば内径を測定するときは、被測定穴等の1点に前記タ
ッチ信号グローブを当接させてこの点(第1点)の高さ
位置を測定した後、前記スライ〆を下降させてタッチ信
号グローブを再び前記被測定穴に当接させてこの点(第
2点)の高さ位置を測定し、次いで、前記被測短大内に
おいて前記変位量設定機構により前記可動体を水平方向
に沿って予め決められた所定量だけ変位させた後にさら
にスライダを下降させて前記被測定穴に当接させてこの
点(第3点)の高さ位置を測定し、これら第1〜3点の
相互位置関係から前記演算装置により前記被測定穴の内
径を算出させるようにして前記目的を達成しようとする
ものである。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1,2図には本発明によるハイドゲージの一実施例の
全体構成が示されている。図中、基台11は下方に開口
する空所12を有しておシ、マた、基台11には中空円
筒体状の支柱13が立設されている。
支柱13にはスライダ14が上下方向変位可能に支持さ
れており、このスライダ14は支柱13の外周に被嵌さ
れた筒状のスライダ本体15と、スライダ本体15に互
いに120度間隔で取付けられたローラホルダ16(第
3図参照)とを有している。これらローラホルダ16は
、ボルト17を介して前記スライダ本体15に取付けら
れ、これにより、支柱13に対して進退調整可能にされ
ている。ローラホルダ16にはローラ18が回転自在に
保持され、これらロー218を介してローラホルダ16
は支柱13の外周面に転勤自在に接している。また、前
記スライダ14にはカバー15Aが取付けられている。
前記支柱13の一側面には、上下方向に延びるスケール
19が固定されている。このスケール19は、支柱13
にボルト20(第1図参照)を介して固定されたスケー
ルホル〆21と、スケールホルダ21の縦溝22内に貼
設されたスケール板23とを有しており、前記スケール
板23にはμm間隔の目盛が刻設さtている。
また、前記スライダ14は、第3図に示されるように、
スライダ本体15側に回転自在に保持され且つスケール
ホルダ21の両側面21A、21Bに当接する一対のロ
ーラ25A、25Bを有している。これらのローラ25
A、25Bはスケールホルダ21を左右方向から挟持し
、スライダ14が支柱13の周方向に回転するのを阻止
している。
スライダ本体15には、第4図に示されるように、光電
式の目盛読取り機構31が取付けられている。この目盛
読取り機構31は、スケール板23に光を照射する発光
素子(図示せず)と、スケール板23から反射する光を
スリット板または透明な目盛板等よりなる移動スケール
(図示せず)を介して受光する受光素子(図示せず)と
を有している。ここにおいて、前記目盛読取り機構31
とスケール19とによりスライダ14の上下方向変位量
を検出する変位検出器32が構成されている。
前記支柱13の上端には、リング34が嵌合固定されて
いる(、第1,5図参照)。このリング34にはローラ
35A、35Bが各々回転自在に支持されている。また
、支柱13の下端には、第2図に示されるように端板3
6が取付けられ、支柱13の空所37内にはその中心に
上下に延びるガイドロッド38が配置されている。この
ガイドロッド38の上端はリング34に固定された板体
39に小ねじ41で固定されており、その下端は前記端
板36を貫通している。さらに、ガイドロッド38の下
端部には固定用のナツト42が螺合されるとともに、前
記リング34には蓋体43が着脱可能に取付けられてい
る。
前記空所37内はガイドロッド38に摺動自在に嵌合し
た筒状のバランスウェイト45が上下動自在に遊嵌され
ている(第1図参照)。このバランスウェイト45は、
ローラ35A、358に支持された紐状体46A、46
Bを介してスライダ14に連結されている。この紐状体
46A、46Bはたとえば薄肉の金属テープ等から構成
されている。
支柱13の近傍には支柱13の長手方向に沿って微動棒
47が支柱13と平行に並設されている。
この微動棒47は、スライダ本体15を上下動自在に貫
通し、上端部は板体39に上下動自在に保持され、下端
は基台11に上下動自在に保持されている。また、前記
スライダ14は、スライダ本体15に螺合された止めね
じ48により微動棒47の任意位置に固定可能とされて
いる。さらに、前記微動棒47の下端部は空所12内に
突出し、下端近傍にはリテーナ49が装着され、このリ
テーナ49と基台11の上部に取付けられたプツシ51
との間には、前記微動棒47を下方側に付勢するスプリ
ング52が介装されている。またプツシ51には止めね
じ53が螺合されており、この止めねじ53により微動
棒47は基台11側に固定可能とされている。また、微
動棒47の下端にはポール54が保持されている。
前記基台11にはスリーブ61が取付けられ、このスリ
ーブ61内にはスピンドル62が上下動可能に挿入され
、スピンドル62上端には前記スリーブ61の上端にね
じ込まれた操作摘み63がねじ止め固定され、また、ス
ピンドル62の下端にはゾール64が保持されている。
ここにおいて、前記スリーブ61、スピンドル62、操
作摘み63、および?−ル64により微動送り機構65
が構成されている。
前記微動送り機構65の?−ル64と微動棒47下端の
ポール54との間には、てこ機構66が介装されている
。このてこ機構66は、基台11に取付けられたホルダ
67に保持されたピン68と、ビン68を介してホルダ
67に回動自在に保持されたレバー69とを有している
。レバー69は両端がゾール54,64に当接し、レバ
ー69のゾール64への当接部までの長さはレバー69
のポール54への当接部までの長さより長く設定されて
いる。
前記基台11には、第2.6図に示されるように、底面
側にて開口するエアー噴出ロア1が3箇所に設けられて
いる。これらエアー噴出ロア1にはノ4イア″72、開
閉レバー73Aの操作で器間される開閉パルプ73、パ
イグア4を介してエアー供給用のホース75が接続され
ている。また、パイグア4とホース75とは、コネクタ
76および接続部77により着脱可能に接続されている
スライダ14の正面にはシャンクホルダ101が設けら
れ、このシャンクホルダ101に嵌入保持された後ねじ
102によυねじ止め固定されるシャンク103によっ
て、スライダ14には横移動装置104が取付けられて
いる。この横移動装置104は、正面側および上端面側
において開口し内部に空所110を有する角形?ツクス
状の支持体105を有しており、この支持体105の背
面から前記シャンク103が突設されている。支持体1
05の両側壁105A、105B間には丸棒状の2本の
レール106が互いに平行に水平方向に沿って渡設され
ている(第10図参照)。レール106はリニアベアリ
ング106Aを介して断面路コ字形(第9図参照)の可
動体107に摺動自在に貫通されており、これによシ前
記可動体107はレール106を介して支持体105に
水平方向変位可能に支持されている。また、両側壁10
5A。
105Bの下端には脚部110A、ll0Bが各々設け
られておシ、これら脚部110A、ll0Bの下端面は
極めて平滑に高精度加工されており、脚部110A、l
l0Bを定盤(図示せず)上に載置したときにはレール
106は正確に水平方向となるようになっている。
可動体107にはレール106と直交する方向(上下方
向)K沿って互いに平行に廻り止め棒108および位置
決め棒109が各々摺動自在に貫通され、これら棒10
8,109の上端部は可動体107の上端面より突出し
且つ連結ブロック111を介して互いに連結されている
。また、連結ブロック111には昇降摘み112が突設
されておシ、昇降摘み112を上下動させることにより
棒108,109は可動体107に支持された状態で上
下方向に移動されるようになっている。
これら棒108,109は可動体107の背面側にて開
口する切欠部113より可動体107の外部に露出され
ており、この露出部分において小板片状の係止片114
が被嵌され、係止片114と位置決め棒109とは互い
に固定されている。また、位置決め棒109には、長手
方向に沿って所定の範囲に亘シ位置決め刻み115が等
間隔で所定数刻設されるとともに、可動体107には水
平方向に沿って保持穴116が穿設されている。この保
持穴116内には位置決めが一ル117、位置決めボー
ル117を位置決め棒109側に付勢する圧縮コイルば
ね118、及びばね118を固定するねじ119が配置
されており、前記ばね118により位置決め?−ル11
7が位置決め刻み115内に嵌入されると位置決め棒1
09の上下動が停止するよう構成されている。ここにお
いて、位置決め刻み115および位置決めボール117
によυ選択手段120が構成されている。
係止片114には前記側壁105入側に向かって当接ピ
ン121が突設され、との当接ピン121の先端には硬
質ボール122が固着されている(第10図参照)。側
壁105Aの内周面は平滑な基準面105Cとされ、こ
の基準面105Cと可動体107との間には付勢手段と
しての引張コイルばね123が介装され、このばね12
3により可動体107は常に基準面105C側に付勢さ
れている。
帥記基準面105Cには基台ブロック124がねじ12
5によシ固定され、この基台ブロック124には第11
図にも示されるように、図中上端には断面り字形の第1
のブロックゲージ131が、−側面には第2.第3のブ
ロックゲージ132゜133が略階段状に固定されてい
る。これらブロックゲージ131〜133の可動体10
7側に臨む基準面(垂直方向基準面)によシ第1.第2
.第3゜第4の設定Th131A、131B、132A
、133Aが構成されている。これら設定面131A、
131B。
132A、133Aは略階段状に配置されるとともに、
水平方向に予め決められた間隔L1+”2+”L”4 
(第10図参照)を有している。また、これら設定面1
31A、131B、132A、133Aには、前記位置
決め刻み115および位置決めボール117にょシ可動
体107に対する高さ位置が決められた係止片114が
当接ピン121を介して選択的に当接可能とされている
。ここにおいて、前記設定面131A、131B 、1
32A、133Aと、付勢手段としての引張コイルばね
123と、係止片114と。
選択手段120と、によシ可動体107の水平方向変位
量を予め定められた所定量に設定する変位量設定機構1
41が構成されている。
入 前記支持体105の上端には天板142が空所11
0を閉塞するよう貼設され、この天板142には前記廻
シ止め棒108および位置決め棒109が遊挿通する長
孔143が穿設されている。また、支持体105の底板
105Dにも廻シ止め棒108および位置決め棒109
の下端部が遊挿通する長孔144が穿設されている。
前記可動体107の正面部は支持体105よりさらに正
面側に所定長だけ突出し、この正面部には取付ねじ14
5Aを介してジヨウ145が取付けられ、さらに、との
ジヨウ145を介してタッチ信号プローブ146が取付
けられるようになっている。このタッチ信号プローブ1
46は、先端の測定子146Aが被測定物に接触すると
内部の電気接点が開成または閉成されるよう構成されて
いる。また、可動体107の両側には水平方向に沿って
伸縮自在な蛇腹壁147が取付けられ、これら蛇腹壁1
47によシ可動体107の水平方向の変位位置にかかわ
らず支持体105の空所110が閉塞されて内部保護が
なされるよう構成されている。また、前記′可動体10
7上には、ピン148を介してスライド摘み149が固
定されるとともに、天板142にはピン148が遊挿通
される長孔150が前記長孔143と平行に穿設されて
おシ、スライド摘み149の操作にょシ前記ばね123
の付勢力に抗して可動体107をレール106に?Ej
って移動させ得るようになっている。
第12図には本実施例のデータ処理装置151が示され
ている。データ処理装置151はタッチ信号検出部15
2を有し、このタッチ信号検出部152は前記タッチ信
号グローブ146に接続され、タッチ信号プローブ14
6の先端の測定子146Aの被測定物への接触を感知し
て接触時に上下方向変位測定部153へと接触信号を送
るようになっている。前記上下方向変位測定部153は
前記変位検出器32に接続され、前記接触信号が導入さ
れると変位検出器32で検出されたスライダ14の上下
方向の変位量が演算装置154へと送られるようになっ
ている。また、上下方向変位測定部153には制御部1
55からの種々の指令が与えられるようになっている。
制御部155には高さ、内外径設定手段156、水平方
向変位量設定手段157、およびタッチ信号プローブ1
46の先端測定子146Aの半径(R)設定手段158
が各々接続され、これら各手段156〜158における
各設定操作が前記上下方向変位測定部153および前記
演算装置154へと伝達されるように寿っている。演算
装置154では、タッチ信号プルーブ146の設定変位
量(Ll〜L4等)と前記変位検出器32で検出したス
ライダ14の上下方向変位量とから被測定物の内外径が
算出され、あるいは高さ寸法の測定時には高さ寸法が算
出され。
これら測定結果は演算装置154に接続されたプリンタ
159等によ少記録され、あるいは図示しないCRTに
よシ表示されるようになっている。
次に、本実施例による測定操作につき第13゜14図を
も参照して説明する。
横移動装置104の可動体107の変位方向を正確に水
平方向に向けさせるには、移動装置104のスライダ1
4への取付向きを傾きの無いものとしなければならない
。そのため、横移動装置104を定盤上罠載置した状態
でシャンク103をスライダ14のシャンクホルダ10
1に保持させる。
これにより、脚部110A、llOHの下端面が高精度
仕上げされているところから、横移動装置104を正確
に位置決めしながらスライダ14に取付けることができ
る。ついで、横移動装置104の可動体107にジヨウ
145を介してタッチ信号プローブ146を取付けると
ともに、横移動装置104の可動体107の水平方向の
位置を確認しておく。ここでは可動体107は、係止片
114の当接ピン121が第4の設定面133Aに当接
して停止した位置であるとする(第10図参照)。
以上の操作により測定準備が完了する。以下、穴径測定
の操作につき説明する。本ハイドゲージ全体を定盤上に
て移動させるとともにスライダ14を昇降させて被測定
物としての被測定穴180(第13図参照)内の適宜位
置に測定子146Aを挿入する。ハイドゲージ全体の定
盤上の移動は、エアー噴出ロア1から噴出されるによシ
基台11と定盤との間に形成される薄い空気流層によっ
て円滑になされる。また、スライダ14の昇降は止めね
じ48を弛めた状態でスライダ14を高速送シしてもよ
いし、止めねじ48によシスライダ14を微動棒47に
クランプした後に微動送シ機構65の操作摘み63を操
作して前記てこ機構66を介して微動棒47を上下動さ
せ、これによシスライダ14を微動送りしてもよい。
測定子146Aを被測定穴180の適宜位置に挿入した
後は、エアー噴出ロア1からの空気噴出しを止めて基台
11を停止させたまま、スライダ14を上昇させて測定
子146Aを被測定穴180に一旦接触(接触時の測定
子146Aの中心点位置をA点とする。)させた後、ス
ライダ14を下降させて測定子146Aを再び被測定穴
180に接触させる(このときの測定子146Aの中心
点位置をB点とする。)。A点からB点までの変位量は
検出器32によシ検出され、測定部153にてAB点点
間寸法(Hlとする。)が計数され、この寸法H1は演
算装置153に送られてここで記憶される。
測定子146AをB点で接触させた後は基台11および
スライダ14を停止させたままでJJ定子146Aを水
平方向に予め設定された所定量(L1〜L4)だけ変位
させる。測定子146Aの水平方向変位は可動体107
をレール106に沿って移動させて行う。
可動体107は引張シコイルはね123にょジブロック
ゲージ131〜133側に常時付勢されている。昇降摘
み112を引上げると選択手段120における選択操作
が行なわれる。いま、位置決め刻み115に嵌入する位
置決めボール117の嵌入位置を1刻み分だけ移動させ
ると、第4の設定面133Aに当接してい九当接ピン1
21は第3の設定面132人に当接することとなシ、こ
のとき、可動体107は水平方向にLlだけ変位する。
したがって、測定子146Aは被測定穴180内におい
て水平方向にLlだけ変位する。また、この変位量L1
は前記水平方向変位量設定手段157により制御部15
5に設定しておく。
測定子146AがLlだけ変位したときの測定子146
Aの中心点をP点とし、次に、スライダ14を下降させ
ることによシこのP点から測定子146Aを下降させて
被測定穴180に測定子146Aを接触させる。接触時
の測定子146Aの中心点を0点とすれば、P点から0
点までの変位置は変位検出器32によシ検出され、PC
点間の寸法は測定部153にて求まる。このPC点間の
寸法をH2とする。
以上の操作によシ求められたHl v ” 2、および
既知のLlと、被測定穴180の内径(直径)Dとは次
式の関係を有している。ただし、raFiA T H1
0点を通る仮想円の半径を表わしている。
D=2(ra+R) 前式中の測定子146への半径Rを前記設定手段158
によシ制御部155に設定した後、高さ。
内外径設定手段156を操作すると、前式に従う演算が
演算装fl154にて行なわれ求める内径りが算出され
、その結果がプリンタ159等にて表示されることとな
る。
本ハイドゲージによシ外径寸法の測定を行う場合は、内
径寸法の測定を行う場合と同様に3点接触を行うが、具
体的には例えば次のような操作を行う。
第14図において被測定物としての被測定軸190近傍
の適宜位置から測定子146Aを下降させて被測定軸1
900周面上の1点(A点とする。)に接触させる。次
いで、横移動装@104の可動体107を変位させて測
定子146Aを例えばL2だけ水平方向に変位させ(図
中P点参照)、その後スライダ14を下降させて測定子
146Aを適当量下降させ(Q点参照)た後、測定子1
46AをL2だけ両速とは逆方向に変位させる。
このときの測定子146Aの位置をR点で示せば、R点
は第1の接触点であるA点の垂直下方側に位置すること
となる。
R点に至って測定子146Aを、スライダ14を上昇さ
せることによシ、上昇させて被測定軸190に接触させ
る。接触点をB点とすれば、AB点点間寸法H1は検出
器32によシ検出される。
可動体107を変位させて測定子をB点からLlだけ水
平変位させ(8点参照)た後、再びスライダ14を上昇
させて測定子146人を被測定軸190に接触させる(
0点参照)。SC点間の寸法H2は検出器32によシ検
出される。
被測定軸190の外径(直径)Dは次式により求まる。
ただし、rbはA 、B 、0点を通る仮想円の半径を
表わしている。
D=2(rb−R) 高さ、内外径設定手段156を操作して演算装置154
にてこの式に従う演算を行なわせれば求める外径りが算
出される。
また、高さ寸法の測定を目的とするときは、横移動装置
104の可動体107を何ら変位させることなくスライ
ダ14を昇降させれば、通常の高さ寸法測定法と同様に
して測定操作を行うことができる。
このような本実施例によれば次のような効果がある。
ハイドゲージ全体を移動(スライド)させながらスライ
ダに取付けたアナログ表示式の変位量測定器の最高、最
低値を求めなければならない従来構造と異なシ、本実施
例ではノ・イトゲージ全体を停止させたままスライダ1
4を昇降させてタッチ信号プローブ146の測定子14
6Aを被測定物に接触させるものである。したがって、
測定操作が容易であるとともに、測定値にばらつきが生
じにくく高精度測定が確保される。また、前述した従来
構造と異なり、変位量測定器での連続変化するアナログ
出力のうちから最高、最低値をホールドするという必要
がなく電子装置の経済的負担が小さい。
また、タッチ信号グローブ146を用いて通常のハイド
ゲージの使用法である高さ寸法の測定と、内外径の測定
と、の双方を行うことができる。したがってこの点から
も経済的負担が小さいとともに、タッチ信号プローブ1
46を伺ら交換することなく高さ寸法の測定から内外径
の測定へと、あるいは、内外径の測定から亮さ寸法の測
定へと、測定目的を必要に応じて自在に変化させること
ができ、作業能率を大幅に向上させることができる。
しかも、横移動装置104の構造は簡易であり、通常の
ハイドゲージのスライダに取付けることも容易である。
したがって、従来構造のハイドゲージに横移動装置10
4を付加することによシ従来構造のハイドゲージを利用
して容易に本実施例の構成を達成でき極めて便宜である
着た、横移動装置104においてはブロックゲージ13
1〜133を用いて可動体107の変位量を設定するも
のであるため、タッチ信号プローブi 46の水平方向
変位量を極めて正確なものとすることが容易で、この点
からも高精度測定を確保できる。
また、タッチ信号プ四−ブ146の水平方向変位は昇降
摘み112の引張シ、押し込み操作によシ容易、迅速に
行うことができる。
なお、実施にあたシ、タッチ信号グローブ146の水平
方向の変位量は測定操作する者が自ら確認するものとし
たが、この確認をよシ容易にするために、例えは、支持
体105の適宜位置に可動体107の変位方向に沿って
前記変位量を示す目盛板等を設けてもよい。あるいは、
前記係止片114の上下位置の変更に伴い作動されるマ
イクロスイッチ等を支持体105内に内蔵させて前記マ
イクロスイッチ等によシ係止片114の上下位置、別言
すればプローブ146の水平方向変位量が自動的に判断
されるものであってもよい。
また、前記実施例とは逆に、ブロックゲージ131〜1
33が可動体107側に備えられるとともに、係止片1
14が支持体105側に備えられる構造であってもよい
。さらに、ブロックゲージ131は直線状の段階状に積
み上げられるものに限らず1例えば螺旋状の段階状に積
み上げられるとともに係止片114がスライド式移動で
はなく回転式移動するものであってもよい。さらにまた
、係止片114に対してブロックゲージ131〜133
の方が移動するものであってもよい。
また、各設定面131A、131B、132A、133
Aは各々ブロックゲージ131.132.133の側面
よシ構成されたが、ブロックゲージ131〜133を利
用する場合に限らす、プローブ146の正確な位置決め
を行なうことのできるものであればよい。さらには、各
設定面131A、131B、132A。
133Aと係止片114との当接係止によシ前記位置決
めを行なうものにも限られず、例えばねじ送り機構等を
利用したものであってもよい。
上述のように本発明によれば、高精度測定が可能であシ
、経済的負担も少なく、さらK、高さ方向の寸法測定と
同時に内外径測定をも行なうことができて作業能庫に優
れたハイドゲージを提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るハイドゲージの一実施例の全体構
成を示す一部を省略し且つ上部を切欠いた正面図、第2
図は前記実施例の下部を切欠いた側面図、第3図は前記
実施例のスライダと支柱との配置関係を示す一部を省略
した平面図、第4図は前記実施例の目盛読取シ機構の概
略構成を示す正面図、第5図は前記支柱上部のリングと
板体との配置関係を示す断面図、第6図は前記実施例の
基台を示す底面図、第7図は前記実施例の横移動装置を
示す拡大正面図、第8図は第7図の正面図、第9図は第
7図のIX−IX線に従う矢視断面図、第10図は前記
横移動装置の背面側を示す一部を切欠いた拡大背面図、
第11図は前記横移動装置の内部構造を一部省略して示
す拡大斜視図、第12図は前記実施例のデータ処理装置
の構成を示すフ。 ロック図、第13図および第14図は各々本実施例によ
シ内径および外径測定を行う場合の測定子の移動状態を
示す拡大正面図である。 11・・・基台、13・・・支柱、14・・・スライダ
、31・・・目盛読取り機構、32・・・変位検出、器
、65・・・微動送シ機構、66・・・てこ機構、10
4・・・横移軸装f% 106・・・レール、107・
・・可動体、108・・・廻シ止め棒、109・・・位
置決め棒、114・・・係止片、120・・・選択手段
、121・・・当接ビン、123・・・引張シコイルは
ね、131.132,133・・・ブロックゲージ、1
31A、131B、132A、133A・・・設定面、
141・・・変位量設定機構、146・・・タッチ信号
プローブ、146A・・・測定子、151・・・データ
処理装置、152・・・タッチ信号検出部、153・・
・上下方向変位測定部、154・・・演算装置、155
・・・制御部、156・・・高さ、内外径設定手段。 157・・・水平方向変位蓄設定手段、158・・・測
定子の半径設定手段、180,190・・・被測定物。 代坤人 弁理士 木 下 實 三(ほか1名)第3図 第5図 37  34 43 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基台に立設された支柱に変位可能に支持されたス
    ライダと、このスライダの上下方向変位量を検出する変
    位検出器と、前記スライ〆に取付けられた支持体と、こ
    の支持体に水平方向変位可能に支持されるとともにタッ
    チ信号グローブを保持する可動体と、この可動体の水平
    方向変位量を予め決められた所定量に設定する変位量設
    定機構と、タッチ信号グローブの前記設定変位量と前記
    変位検出器で検出したスライダの上下方向変位量とから
    被測定物の内外径を算出する演算装置と、を具備するこ
    とを特徴とするノ・イトゲージ。 (2、特許請求の範囲第1項において、前記変位量設定
    機構は、前記支持体および可動体のいずれか一方に取付
    けられるとともに水平方向に予め決められた間隔を有す
    る複数の設定面と、前記可動体をこれら設定面側に付勢
    する付勢手段と、前記支持体および可動体のいずれか他
    方に取付けられるとともに前記付勢手段により前記複数
    の設定面のいずれにも当接可能な係止片と、この係止片
    を前記複数の設定面のいずれかに選択的に当接させる選
    択手段と、を具備することを特徴とする)・イトゲージ
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54136367A (en) * 1978-04-13 1979-10-23 Okuma Machinery Works Ltd Dimensions measuring method of work cylinder surface
JPS5513888A (en) * 1978-03-17 1980-01-31 Johde Fa Precise measuring device for cylindrical object

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JPS54136367A (en) * 1978-04-13 1979-10-23 Okuma Machinery Works Ltd Dimensions measuring method of work cylinder surface

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