JPS5913695B2 - 鉛の分析方法 - Google Patents

鉛の分析方法

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Publication number
JPS5913695B2
JPS5913695B2 JP9851076A JP9851076A JPS5913695B2 JP S5913695 B2 JPS5913695 B2 JP S5913695B2 JP 9851076 A JP9851076 A JP 9851076A JP 9851076 A JP9851076 A JP 9851076A JP S5913695 B2 JPS5913695 B2 JP S5913695B2
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JP
Japan
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lead
concentration
acid
analysis method
ppm
Prior art date
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Expired
Application number
JP9851076A
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English (en)
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JPS5323693A (en
Inventor
征治 上原子
義明 丸野
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は水道水、排水などの水溶液中に含まれる微量の
鉛を分析する方法、特にフレームレス原 3を子吸光分
析法に関する。
フレームレス原子吸光分析法による鉛の分析法は既に多
数発表されているが、いずれの方法においてもSb、Z
n、Ca、Mg、Hg、Fe、MnNi、Cu、Auな
どの陽イオンが鉛の測定に減 3■感干渉を与えるとい
われている。
これらの元素は塩化物で存在する場合に著しく、低濃度
においても干渉を示すことがいわれている。又硫酸ナト
リウム、硫酸リチウムも同様に減感干渉を示すことが報
告されている。しかし、現状ではこれらの共存物質の有
効な干5 渉抑制法はなく、従つて、標準添加法及び溶
媒抽出法などの前処理で共存物質を分離した後に鉛の測
定を行つていた。
このため操作が煩雑になり精度が低下するとともに、分
析に長時間を要するなとの問題があつた。0 本発明は
以上の点に鑑み、鉛に対する前記のような共存物質によ
る干渉を抑制し、短時間で精度よく分析できる方法を提
供するものである。
即ち本発明は試料溶液に酸及び第2錫イオンを添加しし
かる後フレームレス原子吸光分析法により試料5 中の
鉛濃度を測定することを特徴とする鉛の分析方法である
。以下、本発明をその実施例により説明する。
試料の一定容量を採取し、水酸化ナトリウム及び硝酸を
用いて中和した後、さらに濃硝酸1.00mlを添加す
る。次に塩化第2錫を20mI添加し、全体の容量を1
00mlにする。この溶液の一部、例えば10plを用
いてフレームレス原子吸光分析法により鉛濃度を定量す
る。ここでフレームレス原子吸光分析装置は、試料5
を原子化するためのカーボンフアーネスを有した原子化
部と、カーボンフアーネスヘ電流と雰囲気ガスを供給す
るための電流、ガス制御装置と、原子化部で発生した原
子の吸光度を測定するための光源部及び受光部からなる
J 上記の方法により、濃度20ppbの鉛の標準溶液
を次表に示す条件下で測定した結果を説明する。
第1図は試料に加える酸の種類及び濃度を変えた場合の
影響を調べた結果を示すもので、硝酸及び塩酸以外の酸
はその濃度が増すに従つて鉛の定量結果を示すチヤート
の読み値が低下している。
従つて用いる酸は硝酸又は塩酸が適しており、その濃度
は1.0N以下が好ましい。ここで酸を添加する目的は
、試料中に含まれる鉛を完全にイオン化し、偏析を防ぎ
、定量精度を向上させるためである。しかし、硝酸およ
び塩酸を除く硫酸、リン酸および過塩素酸の場合は、鉛
と化合物を形成し、濃度が高くTjるに従つて原子化効
率を低下させるため不適当であることがわかつた。
第2図及び第3図は、各種錫イオンを共存させた場合の
鉛に対する影響を示す。
これらの図から明らかなように、All3+,As3+
,Cd2+及びAg+を除いた他のイオンが5ppmあ
るいは100ppm以上共存すれば、鉛に対して減感干
渉を示し、これらのイオンが試料中に含まれる場合は鉛
の定量はできない。次に第4図及び第5図は塩化第2錫
を加えて第2錫イオンSn4+を100ppm添加した
本発明の方法による場合の各種陽イオンの影響を示す。
図から明らかなようにSn4+を100ppm加えた場
合は、Mg2+9Mn2+及びCu2+を除いた他のイ
オンが100ppm以下共存しても干渉を示さないこと
がわかる。第6図はSn4+を100ppm添加した場
合及び添加しない場合における硫酸ナトリウム又は硫酸
リチウムの影響を示す。
Sn4+の添加により、前記硫酸塩の許容濃度が向上す
ることがわかる。陰イオンF−,Ce−,Br−,NO
2一SCN−,BO,3−,CO32−,1一PO43
−,SO42−についても同様の検討をしたが、本発明
法と従来法との間に差が認められず全ての陰イオンは2
00ppmまでの範囲では全く影響がなかつた。
従つて本発明で干渉抑制剤として用いるSn4+は塩化
物以外に硝酸塩等他の塩を用いることもできるが、塩化
物が最も利用し易い。次に本発明で干渉抑制剤として用
いるSn4+の濃度による鉛に対する影響を第7図に示
す。
Sn4+の添加量は50ppmで充分であることがわか
る。Sn4+の添加は鉛単独の場合に比べて20%の感
度低下が認められるが、フレームレス原子吸光分析法に
おいては全く問題にTjらない程度のものである。第8
図はSn4+を100ppm添加した場合に、鉛濃度を
段階的に変化させて測定して得られたチヤートの読みを
グラフに表した検量線を示す。
鉛濃度が高くなるに従つて少し彎曲しているが充分使用
できるものである。以上の分析法に従つて、10回の測
定による繰り返し精度を調べた結果、標準偏差率は2.
99(f)であり、充分実用lがあるといえる。
以上のように本発明によれば、鉛の分析のために煩雑な
分離操作を必要とした試料についてもその必要がなく、
分析所要時間を短縮することができる。
又これらの操作による誤差がなくなるため分析精度の向
上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は鉛の測定に対する各種酸濃度の影響を示す図、
第2図及び第3図は各種陽イオン濃度の鉛に対する影響
を示す図、第4図及び第5図はSn4+を添加した場合
の各種陽イオン濃度の鉛に対する影響を示す図、第6図
はSn4+を添加した場合及び添加しない場合の鉛に対
するLi2SO,及びNa2sO4の影響を比較した図
、第7図は鉛に対するSn4+f)濃度の影響を示す図
、第8図は本発明法による検量線を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 試料溶液に塩酸又は硝酸と第2錫イオンとを添加し
    、しかる後フレームレス原子吸光分析法により前記試料
    中の鉛濃度を測定することを特徴とする鉛の分析方法。 2 試料溶液中の酸濃度が1.0N以下である特許請求
    の範囲第1項記載の鉛の分析方法。 3 第2錫イオン源が塩化第2錫であり、試料溶液中の
    塩化第2錫の濃度が50〜200ppmである特許請求
    の範囲第1項又は第2項記載の鉛の分析方法。
JP9851076A 1976-08-17 1976-08-17 鉛の分析方法 Expired JPS5913695B2 (ja)

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JPS5323693A JPS5323693A (en) 1978-03-04
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